KR102423372B1 - 가이드 샤프트 검사 시스템 - Google Patents

가이드 샤프트 검사 시스템 Download PDF

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Abstract

본 발명은 가이드 샤프트 검사 시스템에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시 예에 따른 가이드 샤프트 검사 시스템은 가이드 샤프트의 단부에 가공 형성된 홀을 검사하는 단부 홀 검사 장치; 상기 단부 홀 검사 장치의 후 공정 구간에 위치되어, 가이드 샤프트의 길이 방향을 따라 형성된 메인 홈을 검사하는 메인 홈 검사 장치를 포함하되, 상기 메인 홈 검사 장치는, 가이드 샤프트를 지지하는 메인 홈 검사용 지지대; 및 메인 홈 검사 모듈을 포함하되, 상기 메인 홈 검사 모듈은, 길이 방향이 상기 메인 홈 검사용 지지대에 위치된 가이드 샤프트의 메인 홈과 정렬되는 메인 홈 검사 핀; 상기 메인 홈 검사 핀에 연결되어, 상기 메인 홈 검사 핀을 상기 메인 홈 검사용 지지대와의 거리가 변경되게 이동시키는 메인 홈 검사 구동부; 상기 메인 홈 검사 핀의 외측 둘레에 결합된 상태로 제공되는 돌출 부재; 및 기 설정 위치에 상기 돌출 부재가 위치되는지 여부를 검출하는 돌출부 검출 부재를 포함한다.

Description

가이드 샤프트 검사 시스템{Guide Shaft Inspection System}
본 발명은 가이드 샤프트 검사 시스템에 관한 것으로, 보다 상세히 복잡한 형상을 갖는 가이드 샤프트의 형상, 치수를 효과적으로 측정할 수 있는 가이드 샤프트 검사 시스템에 관한 것이다.
자동차에 있어 엔진이 동력을 전달하는 시스템은 복수의 부품들이 상호 조립된 복잡한 구조를 갖는다. 이와 같은 시스템을 구성하는 부품에는 가이드 샤프트가 포함된다. 가이드 샤프트는 기 설정 길이를 갖는 원통 형상을 가지되, 각각의 영역 별로 상이한 직경을 가지고, 일부 구간에는 나사산이 형성되고, 홀이 형성되는 등 복잡한 형상을 가지게 된다. 이와 같은 가이드 샤프트는 설계에 맞는 형상 및 각 부분의 치수가 요구되며, 설계와 맞지 않는 형상, 치수를 갖는 부분이 있으면, 동력을 전달하는 시스템 전체의 오작동, 파손 등을 야기할 수 있다. 이에 따라, 가이드 샤프트는 만들어진 후, 시스템의 조립에 사용되기에 앞서 형상, 치수의 검사가 반드시 요구된다. 그러나, 가이드 샤프트가 갖는 구조적 복잡성으로 인해, 이와 같은 검사는 많은 시간이 소요된다.
본 발명은 복잡한 형상을 갖는 가이드 샤프트의 형상, 치수를 효과적으로 측정할 수 있는 가이드 샤프트 검사 시스템을 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 일 측면에 따르면, 가이드 샤프트의 단부에 가공 형성된 홀을 검사하는 단부 홀 검사 장치; 상기 단부 홀 검사 장치의 후 공정 구간에 위치되어, 가이드 샤프트의 길이 방향을 따라 형성된 메인 홈을 검사하는 메인 홈 검사 장치를 포함하되, 상기 메인 홈 검사 장치는, 가이드 샤프트를 지지하는 메인 홈 검사용 지지대; 및 메인 홈 검사 모듈을 포함하되, 상기 메인 홈 검사 모듈은, 길이 방향이 상기 메인 홈 검사용 지지대에 위치된 가이드 샤프트의 메인 홈과 정렬되는 메인 홈 검사 핀; 상기 메인 홈 검사 핀에 연결되어, 상기 메인 홈 검사 핀을 상기 메인 홈 검사용 지지대와의 거리가 변경되게 이동시키는 메인 홈 검사 구동부; 상기 메인 홈 검사 핀의 외측 둘레에 결합된 상태로 제공되는 돌출 부재; 및 기 설정 위치에 상기 돌출 부재가 위치되는지 여부를 검출하는 돌출부 검출 부재를 포함할 수 있다.
또한, 상기 메인 홈 검사 장치의 후 공정 구간에 위치되어, 가이드 샤프트의 양측 단부의 외경을 검사하는 내외경 검사 장치를 더 포함하되, 상기 내외경 검사 장치는, 가이드 샤프트를 지지하는 내외경 검사용 지지대; 가이드 샤프트의 일측 단부에 길이 방향에 수직한 방향으로 관통된 메인 홀을 가압하는 메인 홀 가압 모듈을 포함한다.
또한, 상기 내외경 검사용 지지대에는 에어를 분사하는 분사홀이 형성되게 제공될 수 있다.
또한, 상기 내외경 검사 장치의 후 공정에 위치되어, 가이드 샤프트의 상기 메인 홈의 외측 단부의 내경을 검사하는 치수 검사 장치를 더 포함하되, 상기 치수 검사 장치는, 가이드 샤프트를 지지하는 치수 검사용 지지대; 적어도 일부 영역이 상기 메인 홈에 삽입되어, 상기 메인 홈의 외측 단부의 내경을 검사하는 내경 검사 모듈을 포함할 수 있다.
또한, 상기 내외경 검사 장치의 후 공정 구간에 위치되어, 가이드 샤프트에 있어 서로 상이한 3 영역의 외경을 동시에 측정하도록 제공되는 외경 검사 장치를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 의하면, 복잡한 형상을 갖는 가이드 샤프트의 형상, 치수를 효과적으로 측정할 수 있는 가이드 샤프트 검사 시스템이 제공될 수 있다.
도 1 및 도 2는 본 발명의 일 실시 예에 가이드 샤프트 검사 시스템의 검사 대상이 되는 가이드 샤프트를 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 가이드 샤프트 검사 시스템을 나타내는 도면이다.
도 4 및 도 5는 단부 홀 검사 장치를 나타내는 도면이다.
도 6 및 도 7은 메인 홈 검사 장치를 나타내는 도면이다.
도 8 및 도 9는 미세 홀 검사 장치를 나타내는 도면이다.
도 10 및 도 11은 내외경 검사 장치를 나태는 도면이다.
도 12는 내외경 검사용 지지대의 일측 단부의 종단면도이다.
도 13 및 도 14는 단차 검사 장치를 나타내는 도면이다.
도 15 및 도 16은 치수 검사 장치를 나타내는 도면이다.
도 17은 내경 검사 부재에 있어 치수 검사용 지지대와 인접한 방향의 단부를 나타내는 도면이다.
도 18 내지 도 20은 외경 검사 장치를 나타내는 도면이다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 상세히 설명할 것이다. 그러나 본 발명의 기술적 사상은 여기서 설명되는 실시 예에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시 예는 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되는 것이다.
본 명세서에서, 어떤 구성요소가 다른 구성요소 상에 있다고 언급되는 경우에 그것은 다른 구성요소 상에 직접 형성될 수 있거나 또는 그들 사이에 제 3의 구성요소가 개재될 수도 있다는 것을 의미한다. 또한, 도면들에 있어서, 막 및 영역들의 두께는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다.
또한, 본 명세서의 다양한 실시 예 들에서 제1, 제2, 제3 등의 용어가 다양한 구성요소들을 기술하기 위해서 사용되었지만, 이들 구성요소들이 이 같은 용어들에 의해서 한정되어서는 안 된다. 이들 용어들은 단지 어느 구성요소를 다른 구성요소와 구별시키기 위해서 사용되었을 뿐이다. 따라서, 어느 한 실시 예에 제 1 구성요소로 언급된 것이 다른 실시 예에서는 제 2 구성요소로 언급될 수도 있다. 여기에 설명되고 예시되는 각 실시 예는 그것의 상보적인 실시 예도 포함한다. 또한, 본 명세서에서 '및/또는'은 전후에 나열한 구성요소들 중 적어도 하나를 포함하는 의미로 사용되었다.
명세서에서 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한 복수의 표현을 포함한다. 또한, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 구성요소 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징이나 숫자, 단계, 구성요소 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 배제하는 것으로 이해되어서는 안 된다. 또한, 본 명세서에서 "연결"은 복수의 구성 요소를 간접적으로 연결하는 것, 및 직접적으로 연결하는 것을 모두 포함하는 의미로 사용된다.
또한, 하기에서 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 것이다.
도 1 및 도 2는 본 발명의 일 실시 예에 가이드 샤프트 검사 시스템의 검사 대상이 되는 가이드 샤프트를 나타내는 도면이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 가이드 샤프트(G.S)는 개략적인 형상이 원기둥을 가지고, 길이 방향을 따른 영역별로 상이한 외경을 갖도록 가공되어 제공된다. 구체적으로, 가이드 샤프트(G.S)의 일단에 형성된 제1 구간(S1)의 외경에 비해 제1 구간(S1)과 연결된 제2 구간(S2)의 외경이 크게 형성된다. 또한, 가이드 샤프트(G.S)의 타단에 위치한 제4 구간(S4)에는 길이 방향에 수직한 방향으로 관통된 메인 홀(M.H)이 형성된다. 또한, 제4 구간(S4)에는 길이 방향에 나란한 방향의 절개를 통한 평탄면(S.S)이 형성된다. 제4 구간(S4)에 인접하고 중앙 방향에 위치된 제3 구간(S3)은 제4 구간(S4)보다 외경이 작게 형성된다. 제2 구간(S2)과 제3 구간(S3) 사이에는 나사산이 형성된다.
또한, 가이드 샤프트(G.S)는 길이 방향에 따른 내측 중앙에 형성되고, 길이 방향 일단에서 타단을 향해 들어간 메인 홈(도 4의 A.H)이 형성된다. 메인 홈(A.H)은 제1 구간(S1)에서 제4 구간(S4) 방향으로 들어가게 형성되고, 제1 구간(S1)에서 제3 구간(S3) 및 제4 구간(S4)의 일부 영역에 걸쳐 형성될 수 있다.
또한, 가이드 샤프트(G.S)는 외측 둘레에 길이 방향에 교차하는 방향으로 형성되고, 메인 홈(A.H)에 연결되거나 외측면 양측을 관통하도록 형성된 복수의 홀이 형성되도록 제공된다. 홀은, 제1 구간(S1), 제3 구간(S3, E.H)에 각각 형성될 수 있다. 또한, 나사산이 형성된 구간에는 직경이 보다 작은 미세 홀이 형성될 수 있다. 이와 같은 가이드 샤프트(G.S)는 자동차에 있어, 엔진의 동력을 전달하는 시스템의 조립 부품으로 제공된다. 이에 따라, 가이드 샤프트(G.S)는 각 부분의 형상, 치수가 설계 값에 부합하도록 가공된 후 사용되어야 한다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 가이드 샤프트 검사 시스템을 나타내는 도면이다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 가이드 샤프트 검사 시스템(1)은 가이드 샤프트 적재부(2), 단부 홀 검사 장치(4), 메인 홈 검사 장치(5), 미세 홀 검사 장치(6), 내외경 검사 장치(7), 단차 검사 장치(8), 치수 검사 장치(9), 외경 검사 장치(10)를 포함한다.
가이드 샤프트 검사 시스템(1)은 검사 대상물인 가이드 샤프트(G.S)의 형상, 치수를 검사한다. 이하 가이드 샤프트 검사 시스템(1)에 있어, 가이드 샤프트 적재부(2)가 위치되는 방향을 후방이라 하고, 가이드 샤프트 적재부(2)에 대해 단부 홀 검사 장치(4)가 위치되는 방향을 전방이라 한다. 또한, 수평면 상에서 전후 방향에 대해 수직한 방향을 좌우 방향이라 한다. 또한, 검사를 위해 가이드 샤프트(G.S)가 이동될 때, 가이드 샤프트(G.S)가 이동되는 방향에 위치되는 것을 후 공정 구간이라 한다.
가이드 샤프트 적재부(2)는 후단부에 위치되어, 가이드 샤프트(G.S)가 적재되는 공간을 제공한다. 일 예로, 가이드 샤프트 적재부(2)에는 트레이가 위치되고, 가이드 샤프트(G.S)는 트레이에 위치되는 방식으로 적재될 수 있다. 가이드 샤프트 적재부(2)는 투입측 적재부(2a) 및 반출측 적재부(2b)를 포함한다. 투입측 적재부(2a) 및 반출측 적재부(2b)는 좌우 방향으로 배열된다. 도 3에는 투입측 적재부(2a)가 우측에 위치되고, 반출측 적재부(2b)가 좌측에 위치되는 경우가 예시되었다. 투입측 적재부(2a)는 검사가 이루어질 가이드 샤프트(G.S)가 위치되는 공간으로 제공된다. 반출측 적재부(2b)는 검사가 이루어진 가이드 샤프트(G.S)가 위치되는 공간으로 제공된다. 투입측 적재부(2a)의 일측에는 투입용 아암(3a)이 위치되어, 투입측 적재부(2a)에 위치된 가이드 샤프트(G.S)를 픽업하여 전방으로 투입한다. 반출측 적재부(2b)의 일측에는 반출용 아암(3b)이 위치되어, 검사가 완료된 가이드 샤프트(G.S)를 픽업하여 반출측 적재부(2b)에 위치시킨다. 반출용 아암(3b)은 검사 결과에 따라 불량이 없는 가이드 샤프트(G.S)와 불량이 있는 가이드 샤프트(G.S)를 반출측 적재부(2b)에서 서로 구획된 영역에 적재되게 할 수 있다. 또한, 단부 홀 검사 장치(4), 메인 홈 검사 장치(5), 미세 홀 검사 장치(6), 내외경 검사 장치(7), 단차 검사 장치(8), 치수 검사 장치(9), 외경 검사 장치(10) 사이에는 가이드 샤프트(G.S)를 전달하기 위한 이송 아암이 위치될 수 있다.
도 4 및 도 5는 단부 홀 검사 장치를 나타내는 도면이다.
도 4 및 도 5를 참조하면, 단부 홀 검사 장치(4)는 단부 홀 검사용 지지대(400), 제1 단부 홀 검사 모듈(410), 제2 단부 홀 검사 모듈(420) 및 단부 홀 검사용 고정 부재(430)를 포함한다.
단부 홀 검사 장치(4)는 가이드 샤프트 적재부(2)의 전방 및 후 공정 구간에 위치되어, 가이드 샤프트(G.S)의 단부에 가공 형성된 홀을 검사한다.
단부 홀 검사용 지지대(400)는 가이드 샤프트(G.S)를 지지한다. 단부 홀 검사용 지지대(400)는 길이 방향에 수직한 폭 방향의 중앙 영역에 아래쪽으로 들어간 홈이 형성되어, 가이드 샤프트(G.S)가 위치되게 제공될 수 있다.
제1 단부 홀 검사 모듈(410)은 가이드 샤프트(G.S)의 일측 단부에 형성된 홀을 검사한다. 제1 단부 홀 검사 모듈(410)은 가이드 샤프트(G.S)의 제3 구간(S3)에 형성된 홀(E.H)를 검사한다. 제1 단부 홀 검사 모듈(410)은 제1 검사핀(411) 및 제1 검사핀 구동부(412)를 포함한다.
제1 검사핀(411)은 가이드 샤프트(G.S)의 일측 단부에 형성된 홀에 대응되는 형상을 갖도록 제공된다. 제1 검사핀(411)은 길이 방향이 상하 방향을 향하도록 제공된다.
제1 검사핀 구동부(412)는 제1 검사핀(411)의 상단부에 연결되어, 제1 검사핀(411)의 위치를 이동시키도록 제공된다. 이에 따라, 제1 검사핀 구동부(412)가 제1 검사핀(411)을 가이드 샤프트(G.S)의 일측 단부에 형성된 홀에 삽입되게 구동하여, 제1 검사핀(411)의 위치를 검출하는 방식으로 가이드 샤프트(G.S)의 일측 단부에 홀이 형성되었는지 유무, 홀 사이즈가 설계 값을 만족하는지 여부를 판단한다.
제2 단부 홀 검사 모듈(420)은 가이드 샤프트(G.S)의 타측 단부에 형성된 홀을 검사한다. 제2 단부 홀 검사 모듈(420)은 가이드 샤프트(G.S)의 제1 구간(S1)에 형성된 홀을 검사한다. 제2 단부 홀 검사 모듈(420)은 제2 검사핀(421) 및 제2 검사핀 구동부(422)를 포함한다.
제2 검사핀(421)은 가이드 샤프트(G.S)의 타측 단부에 형성된 홀에 대응되는 형상을 갖도록 제공된다.
제2 검사핀 구동부(422)는 제2 검사핀(421)의 후단부에 연결되어, 제2 검사핀(421)의 위치를 이동시키도록 제공된다. 이에 따라, 제2 검사핀 구동부(422)가 제2 검사핀(421)을 가이드 샤프트(G.S)의 일측 단부에 형성된 홀에 삽입되게 구동하여, 제2 검사핀(421)의 위치를 검출하는 방식으로 가이드 샤프트(G.S)의 타측 단부에 홀이 형성되었는지 유무, 홀 사이즈가 설계 값을 만족하는지 여부를 판단한다.
단부 홀 검사용 고정 부재(430)는 단부 홀 검사용 지지대(400)를 향해 이동 가능하게 제공되어, 가이드 샤프트(G.S)를 가압 고정한다. 단부 홀 검사용 고정 부재(430)는 상하 방향에 대해 경사진 방향으로 단부 홀 검사용 지지대(400)를 향해 이동 가능하게 제공될 수 있다.
도 6 및 도 7은 메인 홈 검사 장치를 나타내는 도면이다.
도 6 및 도 7을 참조하면, 메인 홈 검사 장치(5)는 메인 홈 검사용 지지대(500), 메인 홈 검사 모듈(510) 및 메인 홈 검사용 고정 부재(520)를 포함한다.
메인 홈 검사 장치(5)는 가이드 샤프트(G.S)의 길이 방향을 따라 형성된 메인 홈(A.H)을 검사한다. 메인 홈 검사 장치(5)는 단부 홀 검사 장치(4)의 전방, 후 공정 구간에 위치될 수 있다.
메인 홈 검사용 지지대(500)는 가이드 샤프트(G.S)를 지지한다. 메인 홈 검사용 지지대(500)는 길이 방향에 수직한 폭 방향의 중앙 영역에 아래쪽으로 들어간 홈이 형성되어, 가이드 샤프트(G.S)가 위치되게 제공될 수 있다.
메인 홈 검사 모듈(510)은 일부 영역이 메인 홈(A.H)에 삽입되어, 메인 홈(A.H)을 검사한다. 메인 홈 검사 모듈(510)은 메인 홈 검사 핀(511), 돌출 부재(512), 메인 홈 검사 구동부(513) 및 돌출부 검출 부재(514)를 포함한다.
메인 홈 검사 핀(511)은 길이 방향이 메인 홈 검사용 지지대(500)에 위치된 가이드 샤프트(G.S)의 메인 홈(A.H)과 정렬되게 위치되고, 메인 홈 검사용 지지대(500)를 향하는 영역이 메인 홈(A.H)과 대응되는 형상을 갖도록 제공된다.
돌출 부재(512)는 메인 홈 검사 핀(511)의 외측 둘레에 결합된 상태로 제공된다. 일 예로, 돌출 부재(512)는 원판 형상으로 제공되어 중심 영역에 메인 홈 검사 핀(511)이 삽입 결합될 수 있다.
메인 홈 검사 구동부(513)는 메인 홈 검사 핀(511)에 연결되어, 메인 홈 검사 핀(511)을 메인 홈 검사용 지지대(500)와의 거리가 변경되게 이동시킨다. 메인 홈 검사 핀(511)은 메인 홈 검사 구동부(513)에 대해 슬라이딩 가능하게 제공된다.
돌출부 검출 부재(514)는 기 설정 위치에 돌출 부재(512)가 위치되는지 여부를 검출하도록 제공된다. 돌출부 검출 부재(514)는 메인 홈 검사 구동부(513)에 연결되도록 제공되어, 메인 홈 검사 핀(511)과 함께 이동되도록 제공된다. 이에 따라, 메인 홈 검사 구동부(513)가 구동되어, 메인 홈 검사 구동부(513) 및 메인 홈 검사 핀(511)이 메인 홈 검사용 지지대(500)로 이동하면, 메인 홈 검사 핀(511)은 일부가 메인 홈(A.H)에 삽입된다. 메인 홈(A.H)의 깊이가 설계에 맞게 가공된 상태이면, 돌출부 검출 부재(514)의 검사 위치에 돌출 부재(512)가 위치된 상태가 되어, 돌출부 검출 부재(514)는 돌출 부재(512)를 검출한다. 반면, 메인 홈(A.H)의 깊이가 설계 값보다 작거나, 직경이 작은 경우 메인 홈 검사 핀(511)은 메인 홈 검사 구동부(513)에 대해 메인 홈 검사용 지지대(500)의 반대 방향으로 슬라이딩 된다. 이 경우, 돌출 부재(512)가 돌출부 검출 부재(514)에서 검출되지 않게 되어, 메인 홈(A.H)의 가공 상태 이상을 판정하게 된다.
메인 홈 검사용 고정 부재(520)는 메인 홈 검사용 지지대(500)를 향해 이동 가능하게 제공되어, 가이드 샤프트(G.S)를 가압 고정한다. 메인 홈 검사용 고정 부재(520)는 상하 방향에 대해 경사진 방향으로 메인 홈 검사용 지지대(500)를 향해 이동 가능하게 제공될 수 있다.
도 8 및 도 9는 미세 홀 검사 장치를 나타내는 도면이다.
도 8 및 도 9를 참조하면, 미세 홀 검사 장치(6)는 미세 홀 검사용 지지대(600), 미세 홀 검사 모듈(610) 및 미세 홀 검사용 고정 부재(620)를 포함한다.
미세 홀 검사 장치(6)는 가이드 샤프트(G.S)에 가공 형성된 미세 홀을 검사한다. 미세 홀 검사 장치(6)는 메인 홈 검사 장치(5)의 전방, 후 공정 구간에 위치될 수 있다.
미세 홀 검사용 지지대(600)는 가이드 샤프트(G.S)를 지지한다. 미세 홀 검사용 지지대(600)는 길이 방향에 수직한 폭 방향의 중앙 영역에 아래쪽으로 들어간 홈이 형성되어, 가이드 샤프트(G.S)가 위치되게 제공될 수 있다.
미세 홀 검사 모듈(610)은 가이드 샤프트(G.S)에 형성된 미세 홀을 검사한다. 미세 홀 검사 모듈(610)은 미세 홀 검사핀(611) 및 미세 홀 검사핀 구동부(612)를 포함한다.
미세 홀 검사핀(611)은 가이드 샤프트(G.S)에 형성된 미세 홀에 대응되는 형상을 갖도록 제공된다. 미세 홀 검사핀(611)은 길이 방향이 상하 방향을 향하도록 제공될 수 있다.
미세 홀 검사핀 구동부(612)는 미세 홀 검사핀(611)에 연결되어, 미세 홀 검사핀(611)의 위치를 이동시키도록 제공된다. 이에 따라, 미세 홀 검사핀 구동부(612)가 미세 홀 검사핀(611)을 가이드 샤프트(G.S)에 형성된 미세 홀에 삽입되게 구동하여, 미세 홀 검사핀(611)의 위치를 검출하는 방식으로 가이드 샤프트(G.S)에 미세 홀이 형성되었는지 유무, 미세 홀 사이즈가 설계 값을 만족하는지 여부를 판단한다.
미세 홀 검사용 고정 부재(620)는 미세 홀 검사용 지지대(600)를 향해 이동 가능하게 제공되어, 가이드 샤프트(G.S)를 가압 고정한다. 미세 홀 검사용 고정 부재(620)는 상하 방향에 대해 경사진 방향으로 미세 홀 검사용 지지대(600)를 향해 이동 가능하게 제공될 수 있다.
도 10 및 도 11은 내외경 검사 장치를 나태는 도면이다.
도 10 및 도 11을 참조하면, 내외경 검사 장치(7)는 내외경 검사용 지지대(700), 메인 홀 가압 모듈(710), 보조 고정 모듈(720)을 포함한다.
내외경 검사 장치(7)는 가이드 샤프트(G.S)의 양측 단부의 외경을 검사한다. 내외경 검사 장치(7)는 제1 구간(S1), 제4 구간(S4)의 외경을 검사할 수 있다. 또한, 내외경 검사 장치(7)는 가이드 샤프트(G.S)의 일측 단부에 형성된 메인 홀(M.H)의 내경을 검사한다. 내외경 검사 장치(7)는 미세 홀 검사 장치(6)의 전방, 후 공정 구간에 위치될 수 있다.
내외경 검사용 지지대(700)는 가이드 샤프트(G.S)를 지지한다. 내외경 검사용 지지대(700)는 길이 방향에 수직한 폭 방향의 중앙 영역에 아래쪽으로 들어간 홈이 형성되어, 가이드 샤프트(G.S)가 위치되게 제공될 수 있다.
메인 홀 가압 모듈(710)은 메인 홀(M.H)을 가압하여, 가이드 샤프트(G.S)가 고정되게 한다. 메인 홀 가압 모듈(710)은 메인 홀 가압 부재(711) 및 메인 홀 가압 구동부(712)를 포함한다.
메인 홀 가압 부재(711)는 길이 방향이 상하 방향을 향하도록 제공된다. 메인 홀 가압 부재(711)의 하단부는 테이퍼지게 제공되거나, 라운드지게 제공되어 적어도 일부 구간의 외측 둘레가 가이드 샤프트(G.S)의 일측 단부에 형성된 메인 홀(M.H)의 내경에 대응되게 제공된다.
메인 홀 가압 구동부(712)는 메인 홀 가압 부재(711)의 상부에 연결되어, 메인 홀 가압 부재(711)의 위치를 이동시키도록 제공된다. 이에 따라, 메인 홀 가압 구동부(712)가 메인 홀 가압 부재(711)를 메인 홀(M.H)과 상하로 정렬된 상태가 되도록 한 후 아래쪽으로 이동시키면 메인 홀 가압 부재(711)의 하단부가 메인 홀(M.H)에 삽입되면서 가이드 샤프트(G.S)를 가압 고정시킨다. 또한, 메인 홀 가압 모듈(710)은 메인 홀 가압 부재(711)가 메인 홀(M.H)을 향해 삽입된 깊이를 통해, 메인 홀(M.H)의 내경을 검출하여, 메인 홀(M.H)의 내경이 설계 값을 만족하는지 여부를 판단할 수 있다.
보조 고정 모듈(720)을 내외경 검사용 지지대(700)를 기준으로 메인 홀 가압 모듈(710)의 반대 방향에 위치되어, 가이드 샤프트(G.S)의 타측 단부를 가압 고정시킨다. 보조 고정 모듈(720)은 보조 고정 부재(721)는 보조 고정 구동부(722)를 포함한다.
보조 고정 부재(721)의 일측 단부는 하단이 기 설정 면적을 갖는 평면으로 제공된다. 보조 고정 부재(721)는 일측 단부에서 평면 방향으로 연장되게 제공될 수 있다.
보조 고정 구동부(722)는 보조 고정 모듈(720)의 타측 단부에 연결되어, 보조 고정 모듈(720)을 상하 방향으로 제공되는 축을 기준으로 회전시키고, 또한 상하 방향으로 이동시키도록 제공된다. 이에 따라, 보조 고정 구동부(722)가 보조 고정 모듈(720)의 일측 단부가 내외경 검사용 지지대(700)와 상하로 정렬되게 보조 고정 모듈(720)을 회전시킨 후, 아래쪽으로 하강 시키면, 보조 고정 부재(721)의 일측 단부는 가이드 샤프트(G.S)의 타측 단부를 가압 고정시킨다.
도 12는 내외경 검사용 지지대의 일측 단부의 종단면도이다.
도 12를 참조하면, 내외경 검사용 지지대(700)에는 분사홀(701)이 형성된다. 분사홀(701)은 폭 방향의 중앙 영역에 형성된 홈의 하단부에 형성된다. 분사홀(701)은 홈의 하단부에 있어 폭 방향 양측에 형성될 수 있다. 또한 분사홀(701)은 내외경 검사용 지지대(700)의 길이 방향 양측 단부에 각각 제공되어, 총 4개가 제공될 수 있다.
분사홀(701)은 가이드 샤프트(G.S)가 위치된 공간으로 에어를 분사하게 제공된다. 내외경 검사용 지지대(700)에 형성된 홈과 가이드 샤프트(G.S) 사이에 형성되는 간극은 가이드 샤프트(G.S)의 외경의 치수에 따라 달라지게 제공된다. 또한, 내외경 검사용 지지대(700)에 형성된 홈과 가이드 샤프트(G.S) 사이에 형성되는 간극이 커지면 분사홀(701)을 통해 분사되는 공기가 배출되는 양이 증가한다. 이에 따라, 분사홀(701)을 통해 공급되어 배출되는 공기의 양을 측정하여 가이드 샤프트(G.S)의 단부의 외경의 치수를 검출할 수 있다. 이 때, 분사홀(701)을 통해 배출되는 공기는 내외경 검사용 지지대(700)의 길이 방향 양측 단부가 각각 개별적으로 조절 및 검출되게 제공되어, 가이드 샤프트(G.S)의 단부의 외경의 치수는 길이 방향 양단이 각각 개별적으로 검출될 수 있다. 또한, 분사홀(701)을 통해 배출되는 공기는 4개의 분사홀(701)이 각각 개별적으로 조절 및 검출되게 제공되어, 가이드 샤프트(G.S)의 단부의 외경의 치수는 길이 방향 양단이 개별적으로 검출되면서, 좌우 양측의 외경 형상이 검출될 수 있다. 또한, 내외경 검사용 지지대(700)에 형성된 홈과 가이드 샤프트(G.S) 사이에 형성되는 간극이 커지면 분사홀(701)을 통해 분사되는 공기를 분사하는 압력이 감소할 수 있다. 이에 따라, 분사홀(701)을 통해 공급되어 배출하는 압력을 측정하여 가이드 샤프트(G.S)의 단부의 외경의 치수를 검출할 수 있다. 이 때, 분사홀(701)을 통해 배출되는 공기의 압력은 내외경 검사용 지지대(700)의 길이 방향 양측 단부가 각각 개별적으로 조절 및 검출되게 제공되어, 가이드 샤프트(G.S)의 단부의 외경의 치수는 길이 방향 양단이 각각 개별적으로 검출될 수 있다. 또한, 분사홀(701)을 통해 배출되는 공기이 압력은 4개의 분사홀(701)이 각각 개별적으로 조절 및 검출되게 제공되어, 가이드 샤프트(G.S)의 단부의 외경의 치수는 길이 방향 양단이 개별적으로 검출되면서, 좌우 양측의 외경 형상이 검출될 수 있다.
도 13 및 도 14는 단차 검사 장치를 나타내는 도면이다.
도 13 및 도 14를 참조하면, 단차 검사 장치(8)는 단차 검사용 지지대(800) 및 단차 검사 모듈(810a, 810b)을 포함한다.
단차 검사 장치(8)는 가이드 샤프트(G.S)의 길이 방향 단부의 단차를 검사한다. 단차 검사 장치(8)는 내외경 검사 장치(7)의 좌우 방향 일측, 후 공정 구간에 위치될 수 있다. 내외경 검사 장치(7)와 단차 검사 장치(8) 사이에는 좌우 방향으로 이송 모듈(3c)이 위치되어, 가이드 샤프트(G.S)를 내외경 검사 장치(7)에서 단차 검사 장치(8)로 이송할 수 있다.
단차 검사용 지지대(800)는 가이드 샤프트(G.S)를 지지한다. 단차 검사용 지지대(800)는 그 길이 방향에 수직한 폭 방향의 중앙 영역에 아래쪽으로 들어간 홈이 형성되어, 가이드 샤프트(G.S)가 위치되게 제공될 수 있다.
단차 검사 모듈(810a, 810b)은 단차 검사용 지지대(800)에 위치된 가이드 샤프트(G.S)의 길이 방향 단부의 단차를 검사한다. 단차 검사 모듈(810a, 810b)은 단차 검사용 지지대(800)를 기준으로 양측에 각각 제공되는 제1 단차 검사 모듈(810a) 및 제2 단차 검사 모듈(810b)을 포함하도록 제공되어, 각각 가이드 샤프트(G.S)의 길이 방향 단부의 단차를 검사하도록 제공될 수 있다. 단차 검사 모듈(810a, 810b)은 단차 검출 부재(811) 및 단차 검출 구동부(812)를 포함한다.
단차 검출 부재(811)는 길이 방향이 단차 검사용 지지대(800)의 길이 방향을 향하도록 제공되어, 단차 검사용 지지대(800)의 길이 방향 일측에 위치된다. 단차 검출 부재(811)는 단차 검사용 지지대(800)와 인접한 영역이 그 길이 방향을 따라 이동 가능하게 제공될 수 있다.
단차 검출 구동부(812)는 단차 검출 부재(811)와 연결되어, 단차 검출 부재(811)를 단차 검사용 지지대(800) 사이와의 거리가 변경되게 이동시킨다. 단차 검출 구동부(812)에는 단차 검출 부재(811)가 복수 연결될 수 있다. 복수의 단차 검출 부재(811)는 단차 검사용 지지대(800)의 폭 방향으로 배열되게 위치되어, 단차 검사용 지지대(800)에 위치된 가이드 샤프트(G.S)의 상이한 영역과 서로 마주보게 제공될 수 있다. 이에 따라, 단차 검출 구동부(812)에 의해 단차 검출 부재(811)가 단차 검사용 지지대(800) 방향으로 이동하면, 단차 검출 부재(811)는 가이드 샤프트(G.S)의 길이 방향 단부와 접하게 된다. 그리고 단차 검출 부재(811)에 있어 단차 검사용 지지대(800)와 인접한 영역은 단차 검사용 지지대(800)의 반대 방향으로 이동하게 되고, 이동 거리는 가이드 샤프트(G.S)에 형성된 단차의 치수에 따라 달라진다. 이에 따라, 단차 검사 모듈(810a, 810b)은 단차 검사용 지지대(800)의 이동 거리를 통해 가이드 샤프트(G.S)에 형성된 단차의 치수를 검출한다. 단차 검사 모듈(810a, 810b)은 제1 단차 검사 모듈(810a)에서 검출된 단차 및 제2 단차 검사 모듈(810b)에서 검출된 단차를 통해, 가이드 샤프트(G.S)에서 기 설정된 구간 사이의 길이를 측정할 수 있다. 예를 들어, 단차 검사 모듈(810a, 810b)은 가이드 샤프트(G.S)의 길이, 제1 구간(S1)이 위치하는 일단에서 타측 단부에 위치된 평탄면(S.S)까지의 길이 등을 측정할 수 있다.
도 15 및 도 16은 치수 검사 장치를 나타내는 도면이다.
도 15 및 도 16을 참조하면, 치수 검사 장치(9)는 치수 검사용 지지대(900), 면 폭 검사 모듈(910) 및 내경 검사 모듈(920)을 나타내는 도면이다.
치수 검사 장치(9)는 가이드 샤프트(G.S)의 메인 홈(A.H)의 외측 단부의 내경을 검사한다. 또한, 치수 검사 장치(9)는 가이드 샤프트(G.S)에 있어 메인 홀(M.H)이 형성된 영역의 면 폭(즉, 평탄면(S.S)과 평탄면(S.S)의 반대 방향 외측면 사이의 폭)을 측정한다. 치수 검사 장치(9)는 단차 검사 장치(8)의 후방, 후 공정 구간에 위치될 수 있다.
치수 검사용 지지대(900)는 가이드 샤프트(G.S)를 지지한다. 치수 검사용 지지대(900)는 길이 방향에 수직한 폭 방향의 중앙 영역에 아래쪽으로 들어간 홈이 형성되어, 가이드 샤프트(G.S)가 위치되게 제공될 수 있다.
면 폭 검사 모듈(910)은 메인 홀(M.H)이 형성된 영역의 면 폭을 검사한다. 면 폭 검사 모듈(910)은 면 폭 검출 부재(911) 및 면 폭 검출 구동부(912)를 포함한다.
면 폭 검출 부재(911)는 길이 방향이 상하 방향을 향하도록 제공된다. 면 폭 검출 부재(911)는 그 하단부가 길이 방향을 따라 이동 가능하게 제공될 수 있다.
면 폭 검출 구동부(912)는 면 폭 검출 부재(911)의 상부에 연결되어, 면 폭 검출 부재(911)의 위치를 이동시키도록 제공된다. 이에 따라, 면 폭 검출 구동부(912)가 면 폭 검출 부재(911)를 평탄면(S.S)과 상하로 정렬된 상태가 되도록 한 후 아래쪽으로 이동시키면 면 폭 검출 부재(911)의 하단부가 평탄면(S.S)과 접하는 상태가 된다. 그리고, 면 폭 검출 부재(911)의 하단부는 위쪽 방향으로 이동하게 되고, 이동 거리는 면 폭의 치수에 따라 달라진다. 이에 따라, 면 폭 검사 모듈(910)은 면 폭 검출 부재(911)의 하단부의 이동 거리를 통해 면 폭의 치수를 검출한다.
내경 검사 모듈(920)은 적어도 일부 영역이 가이드 샤프트(G.S)에 있어 메인 홈(A.H)에 삽입되어, 메인 홈(A.H)의 외측 단부의 내경을 검사한다. 내경 검사 모듈(920)은 내경 검사 부재(921) 및 내경 검사 구동부(925)를 포함한다.
도 17은 내경 검사 부재에 있어 치수 검사용 지지대와 인접한 방향의 단부를 나타내는 도면이다.
도 17을 참조하면, 내경 검사 부재(921)는 길이 방향이 치수 검사용 지지대(900)에 위치된 가이드 샤프트(G.S)의 메인 홈(A.H)과 정렬되게 위치된다. 내경 검사 부재(921)에 있어 치수 검사용 지지대(900)와 인접한 방향의 단부는 테이퍼지게 제공되거나, 라운드지게 제공되어 적어도 일부 구간의 외측 둘레가 메인 홈(A.H)의 외측 단부의 내경에 대응되게 제공된다. 내경 검사 부재(921)에 있어 치수 검사용 지지대(900)와 인접한 방향의 단부의 외측 둘레에는 적어도 하나 이상의 돌출볼(922)이 위치된다. 돌출볼(922)은 내경 검사 부재(921)의 길이 방향 중심축에 대해 서로 마주보는 방향에 쌍을 이루도록 위치될 수 있다. 돌출볼(922)은 외력이 작용하면 내경 검사 부재(921)의 길이 방향 중심축을 향해 들어 가도록 제공된다.
내경 검사 구동부(925)는 내경 검사 부재(921)에 연결되어, 내경 검사 부재(921)를 치수 검사용 지지대(900)와의 거리가 변경되게 이동시킨다.
이에 따라, 내경 검사 구동부(925)가 내경 검사 부재(921)를 치수 검사용 지지대(900) 방향으로 이동시키면, 내경 검사 부재(921)에 있어 치수 검사용 지지대(900)와 인접한 방향의 단부는 메인 홈(A.H)의 외측 단부로 삽입된다. 이 후, 내경 검사 모듈(920)은 돌출볼(922)이 내경 검사 부재(921)의 길이 방향 중심축을 향해 들어간 거리를 통해 메인 홈(A.H)의 외측 단부의 내경을 검출한다.
도 18 내지 도 20은 외경 검사 장치를 나타내는 도면이다.
도 18 내지 도 20을 참조하면, 외경 검사 장치(10)는 외경 검사용 지지대(1000), 제1 지지 모듈(1100), 제2 지지 모듈(1110), 제1 외경 검출 모듈(1120) 및 제2 외경 검출 모듈(1130)을 포함한다.
외경 검사 장치(10)는 가이드 샤프트(G.S)에 있어 서로 상이한 3 영역의 외경을 동시에 측정하도록 제공된다.
외경 검사용 지지대(1000)는 가이드 샤프트(G.S)를 지지한다. 외경 검사용 지지대(1000)는 길이 방향에 수직한 폭 방향의 중앙 영역에 아래쪽으로 들어간 홈이 형성되어, 가이드 샤프트(G.S)가 위치되게 제공될 수 있다. 외경 검사용 지지대(1000)는 상하로 승강 가능하게 제공된다.
제1 지지 모듈(1100)은 제1 지지 부재(1101) 및 제1 회전 구동부(1102)를 포함한다.
제1 지지 부재(1101)는 길이 방향이 상승된 상태의 외경 검사용 지지대(1000)에 위치된 가이드 샤프트(G.S)의 메인 홈(A.H)과 정렬되게 위치된다. 제1 지지 부재(1101)에 있어 외경 검사용 지지대(1000)와 인접한 방향의 단부는 테이퍼지게 제공되거나, 라운드지게 제공되어 적어도 일부 구간의 외측 둘레가 메인 홈(A.H)의 외측 단부의 내경에 대응되게 제공된다.
제1 회전 구동부(1102)는 제1 지지 부재(1101)에 연결되어, 제1 지지 부재(1101)를 치수 검사용 지지대(900)와의 거리가 변경되게 이동시키고, 제1 지지 부재(1101)의 길이 방향 중심축에 대해 회전시킨다.
제2 지지 모듈(1110)은 외경 검사용 지지대(1000)을 기준으로 제1 지지 모듈(1100)의 반대 방향에 위치된다. 제2 지지 모듈(1110)은 제2 지지 부재(1111) 및 제2 회전 구동부(1112)를 포함한다.
제2 지지 부재(1111)는 길이 방향이 상승된 상태의 외경 검사용 지지대(1000)에 위치된 가이드 샤프트(G.S)의 일단과 정렬되게 위치된다. 제2 지지 부재(1111)에 있어 외경 검사용 지지대(1000)와 인접한 방향의 단부는 가이드 샤프트(G.S)의 일단의 적어도 일부 영역과 대응되는 형상으로 제공되어, 가이드 샤프트(G.S)의 일단을 파지 가능하게 제공된다.
제2 회전 구동부(1112)는 제2 지지 부재(1111)에 연결되어, 제2 지지 부재(1111)를 치수 검사용 지지대(900)와의 거리가 변경되게 이동시키고, 제2 지지 부재(1111)의 길이 방향 중심축에 대해 회전시킨다.
이에 따라, 제1 지지 부재(1101) 및 제2 지지 부재(1111)가 상승된 외경 검사용 지지대(1000)에 위치된 가이드 샤프트(G.S)로 이동하여 가이드 샤프트(G.S)와 고정된 후, 외경 검사용 지지대(1000)가 하강하면, 가이드 샤프트(G.S)는 제1 지지 부재(1101) 및 제2 지지 부재(1111)의 회전에 의해 함께 회전 가능한 상태가 된다.
제1 외경 검출 모듈(1120)은 가이드 샤프트(G.S)의 길이 방향에 따른 적어도 하나의 구간의 외경을 검출한다. 제1 외경 검출 모듈(1120)은 제2 구간(S2)의 외경을 검출할 수 있다. 제1 외경 검출 모듈(1120)은 제1 외경 검출 부재(1121) 및 제1 외경 검출 구동부(1122)를 포함한다.
제1 외경 검출 부재(1121)는 길이 방향이 외경 검사용 지지대(1000)의 길이 방향과 직교하도록 제공되어, 상승된 상태의 외경 검사용 지지대(1000)에 위치된 가이드 샤프트(G.S)에 대응되는 높이를 갖는다. 제1 외경 검출 부재(1121)는 외경 검사용 지지대(1000)에 위치된 가이드 샤프트(G.S)의 제2 구간(S2)과 마주보게 제공될 수 있다. 제1 외경 검출 부재(1121)는 외경 검사용 지지대(1000)와 인접한 영역이 그 길이 방향을 따라 이동 가능하게 제공될 수 있다.
제1 외경 검출 구동부(1122)는 제1 외경 검출 부재(1121)와 연결되어, 제1 외경 검출 부재(1121)를 외경 검사용 지지대(1000) 사이와의 거리가 변경되게 이동시킨다. 이에 따라, 제1 외경 검출 구동부(1122)에 의해 제1 외경 검출 부재(1121)가 가이드 샤프트(G.S) 방향으로 이동하면, 제1 외경 검출 부재(1121)는 가이드 샤프트(G.S)의 외경과 접하게 된다. 그리고 제1 외경 검출 부재(1121)에 있어 외경 검사용 지지대(1000)와 인접한 영역은 외경 검사용 지지대(1000)의 반대 방향으로 이동하게 되고, 이동 거리는 가이드 샤프트(G.S)의 외경의 치수에 따라 달라진다. 이에 따라, 제1 외경 검출 모듈(1120)은 제1 외경 검출 부재(1121)의 이동 거리를 통해 가이드 샤프트(G.S)의 외경을 검출한다.
제2 외경 검출 모듈(1130)은 가이드 샤프트(G.S)의 길이 방향에 따른 적어도 하나의 구간의 외경을 검출한다. 제2 외경 검출 모듈(1130)은 가이드 샤프트(G.S)의 제1 구간(S1), 제4 구간(S4)의 외경을 각각 검출할 수 있다. 제2 외경 검출 모듈(1130)은 외경 검사용 지지대(1000)를 기준으로 제1 외경 검출 모듈(1120)의 반대 방향에 위치된다. 제2 외경 검출 모듈(1130)은 제2 외경 검출 부재(1131) 및 제2 외경 검출 구동부(1132)를 포함한다.
제2 외경 검출 부재(1131)는 길이 방향이 외경 검사용 지지대(1000)의 길이 방향과 직교하도록 제공되어, 상승된 상태의 외경 검사용 지지대(1000)에 위치된 가이드 샤프트(G.S)에 대응되는 높이를 갖는다. 제2 외경 검출 부재(1131)는 외경 검사용 지지대(1000)와 인접한 영역이 그 길이 방향을 따라 이동 가능하게 제공될 수 있다.
제2 외경 검출 구동부(1132)는 제2 외경 검출 부재(1131)와 연결되어, 제2 외경 검출 부재(1131)를 외경 검사용 지지대(1000) 사이와의 거리가 변경되게 이동시킨다. 제2 외경 검출 구동부(1132)에는 제2 외경 검출 부재(1131)가 복수 연결될 수 있다. 복수의 제2 외경 검출 부재(1131)는 외경 검사용 지지대(1000)의 길이 방향으로 배열되게 위치된다. 복수의 제2 외경 검출 부재(1131)는 각각 상승된 상태의 외경 검사용 지지대(1000)에 위치된 가이드 샤프트(G.S)의 제1 구간(S1), 제4 구간(S4)과 마주보게 위치될 수 있다. 이에 따라, 제2 외경 검출 구동부(1132)에 의해 제2 외경 검출 부재(1131)가 가이드 샤프트(G.S) 방향으로 이동하면, 제2 외경 검출 부재(1131)는 가이드 샤프트(G.S)의 외경과 접하게 된다. 그리고 제2 외경 검출 부재(1131)에 있어 외경 검사용 지지대(1000)와 인접한 영역은 외경 검사용 지지대(1000)의 반대 방향으로 이동하게 되고, 이동 거리는 가이드 샤프트(G.S)의 외경의 치수에 따라 달라진다. 이에 따라, 제2 외경 검출 모듈(1130)은 제2 외경 검출 부재(1131)의 이동 거리를 통해 가이드 샤프트(G.S)의 외경을 검출한다.
이에 따라, 제1 외경 검출 부재(1121) 및 제2 외경 검출 부재(1131)가 가이드 샤프트(G.S)와 접하도록 이동한 상태에서, 제1 지지 모듈(1100) 및 제2 지지 모듈(1110)은 가이드 샤프트(G.S)를 회전시키고, 제1 외경 검출 모듈(1120) 및 제2 외경 검출 모듈(1130)은 회전되는 가이드 샤프트(G.S)의 외경을 검출하게 된다.
또한, 제1 외경 검출 구동부(1122)는 기 설정 구간에서 제1 외경 검출 부재(1121)를 외경 검사용 지지대(1000)의 길이 방향을 따라 이동시킬 수 있다. 이에 따라, 내외경 검사 장치(7)에서 설계 값을 만족하지 못하는 것으로 측정된 경우, 제1 외경 검출 모듈(1120)은 제1 외경 검출 부재(1121)을 외경 검사용 지지대(1000)의 길이 방향을 따라 이동이동 시키면서, 가이드 샤프트(G.S)에 있어 길이 방향을 따른 일정 폭에 대해 외경을 검사할 수 있다. 그리고, 제1 외경 검출 모듈(1120)은 그 검사 결과를 내외경 검사 장치(7)에서의 외경 검사 결과와 대비시켜, 외경의 형상 또는 치수 오류가 일정 폭 전체에서 발생하였는지 혹은 일부 영역에서 발생하였는지 여부를 검출할 수 있다.
또한, 제2 외경 검출 구동부(1132)는 기 설정 구간에서 제2 외경 검출 부재(1131)를 외경 검사용 지지대(1000)의 길이 방향을 따라 이동시킬 수 있다. 이에 따라, 내외경 검사 장치(7)에서 설계 값을 만족하지 못하는 것으로 측정된 경우, 제2 외경 검출 모듈(1130)은 제2 외경 검출 부재(1131)을 외경 검사용 지지대(1000)의 길이 방향을 따라 이동이동 시키면서, 가이드 샤프트(G.S)에 있어 길이 방향을 따른 일정 폭에 대해 외경을 검사할 수 있다. 그리고, 제2 외경 검출 모듈(1130)은 그 검사 결과를 내외경 검사 장치(7)에서의 외경 검사 결과와 대비시켜, 외경의 형상 또는 치수 오류가 일정 폭 전체에서 발생하였는지 혹은 일부 영역에서 발생하였는지 여부를 검출할 수 있다.
이상, 본 발명을 바람직한 실시 예를 사용하여 상세히 설명하였으나, 본 발명의 범위는 특정 실시 예에 한정되는 것은 아니며, 첨부된 특허청구범위에 의하여 해석되어야 할 것이다. 또한, 이 기술분야에서 통상의 지식을 습득한 자라면, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않으면서도 많은 수정과 변형이 가능함을 이해하여야 할 것이다.
2: 가이드 샤프트 적재부 4: 단부 홀 검사 장치
5: 메인 홈 검사 장치 6: 미세 홀 검사 장치
7: 내외경 검사 장치 8: 단차 검사 장치
9: 치수 검사 장치 10: 외경 검사 장치

Claims (5)

  1. 가이드 샤프트의 단부에 가공 형성된 홀을 검사하는 단부 홀 검사 장치;
    상기 단부 홀 검사 장치의 후 공정 구간에 위치되어, 가이드 샤프트의 길이 방향을 따라 형성된 메인 홈을 검사하는 메인 홈 검사 장치를 포함하되,
    상기 메인 홈 검사 장치는,
    가이드 샤프트를 지지하는 메인 홈 검사용 지지대; 및
    메인 홈 검사 모듈을 포함하되,
    상기 메인 홈 검사 모듈은,
    길이 방향이 상기 메인 홈 검사용 지지대에 위치된 가이드 샤프트의 메인 홈과 정렬되는 메인 홈 검사 핀;
    상기 메인 홈 검사 핀에 연결되어, 상기 메인 홈 검사 핀을 상기 메인 홈 검사용 지지대와의 거리가 변경되게 이동시키는 메인 홈 검사 구동부;
    상기 메인 홈 검사 핀의 외측 둘레에 결합된 상태로 제공되는 돌출 부재; 및
    기 설정 위치에 상기 돌출 부재가 위치되는지 여부를 검출하는 돌출부 검출 부재를 포함하는 가이드 샤프트 검사 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 메인 홈 검사 장치의 후 공정 구간에 위치되어, 가이드 샤프트의 양측 단부의 외경을 검사하는 내외경 검사 장치를 더 포함하되,
    상기 내외경 검사 장치는,
    가이드 샤프트를 지지하는 내외경 검사용 지지대;
    가이드 샤프트의 일측 단부에 길이 방향에 수직한 방향으로 관통된 메인 홀을 가압하는 메인 홀 가압 모듈을 포함하는 가이드 샤프트 검사 시스템.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 내외경 검사용 지지대에는 에어를 분사하는 분사홀이 형성되게 제공되는 가이드 샤프트 검사 시스템.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 내외경 검사 장치의 후 공정에 위치되어, 가이드 샤프트의 상기 메인 홈의 외측 단부의 내경을 검사하는 치수 검사 장치를 더 포함하되,
    상기 치수 검사 장치는,
    가이드 샤프트를 지지하는 치수 검사용 지지대;
    적어도 일부 영역이 상기 메인 홈에 삽입되어, 상기 메인 홈의 외측 단부의 내경을 검사하는 내경 검사 모듈을 포함하는 가이드 샤프트 검사 시스템.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 내외경 검사 장치의 후 공정 구간에 위치되어, 가이드 샤프트에 있어 서로 상이한 3 영역의 외경을 동시에 측정하도록 제공되는 외경 검사 장치를 더 포함하는 가이드 샤프트 검사 시스템.

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