KR101915768B1 - 비전 카메라 시스템 - Google Patents

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KR101915768B1
KR101915768B1 KR1020170184027A KR20170184027A KR101915768B1 KR 101915768 B1 KR101915768 B1 KR 101915768B1 KR 1020170184027 A KR1020170184027 A KR 1020170184027A KR 20170184027 A KR20170184027 A KR 20170184027A KR 101915768 B1 KR101915768 B1 KR 101915768B1
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강병식
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주식회사 미라콤아이앤씨
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Abstract

본 발명의 일 실시예는 피검사체에 대한 검사를 진행하도록 벽체에 연결되도록 형성된 비전 카메라 시스템으로서, 상기 피검사체를 검사하는 적어도 하나의 비전 카메라를 포함하는 비전 카메라 모듈, 상기 벽체와 연결되어 상기 비전 카메라를 상기 벽체와 연결하도록 형성된 지지부 및 상기 비전 카메라 모듈과 상기 지지부의 사이에 배치된 연결부를 포함하는 비전 카메라 시스템을 개시한다.

Description

비전 카메라 시스템{Vision camera system}
본 발명은 비전 카메라 시스템에 관한 것으로 더 상세하게는 다양한 작업 공간에서의 피검사체에 대한 검사를 안정적이고 정밀하게 진행할 수 있는 비전 카메라 시스템에 관한 것이다.
기술 발전으로 인하여 기계, 전자 등의 다양한 기술을 이용한 제품이 개발되고 생산되고 있다.
기술의 발전으로 인하여 다양한 제품들은 점점 더 구조와 형태가 복잡해지고 있고, 이에 따라 이러한 제품들의 제조 공정 및 제조 장치도 더 정밀한 기술이 요구되고 있고 제조 기술 자체도 향상하고 있다.
또한, 하나의 제품들의 제조 공정은 하나의 공정이 아닌 복수의 공정을 포함하고, 각 단계별로 작업물에 대한 검사를 요한다. 또는 하나의 공정을 포함하는 제조 공정 중에도 작업의 도중 작업물에 대한 검사를 요하는 경우가 증가하고 있다.
그러나, 이러한 제조 공정 중의 작업물, 즉 피검사체에 대한 검사 공정은 원활하게 진행하기가 용이하지 않다. 특히 최종 작업을 완료하기 전 일 공정을 마치고 후속의 공정을 시작하려는 경우에 검사를 진행 시 다양한 작업 환경에서의 안정적이고 정밀한 검사를 진행하는 데 어려움이 있을 수 있다.
특히, 금속을 가공, 예를들면 단조 공정이나 프레스 공정등의 가혹한 환경에서의 피검사체에 대한 검사를 진행하는 경우 정밀하고 안정적 검사 특성을 향상하는데 한계가 있다.
본 발명은 다양한 작업 공간에서의 피검사체에 대한 검사를 안정적이고 정밀하게 진행할 수 비전 카메라 시스템을 제공할 수 있다.
본 발명의 일 실시예는 피검사체에 대한 검사를 진행하도록 벽체에 연결되도록 형성된 비전 카메라 시스템으로서, 상기 피검사체를 검사하는 적어도 하나의 비전 카메라를 포함하는 비전 카메라 모듈, 상기 벽체와 연결되어 상기 비전 카메라를 상기 벽체와 연결하도록 형성된 지지부 및 상기 비전 카메라 모듈과 상기 지지부의 사이에 배치된 연결부를 포함하는 비전 카메라 시스템을 개시한다.
본 실시예에 있어서 상기 지지부는 상기 벽체에 연결된 채 운동하도록 배치되고, 상기 지지부의 운동에 따라 상기 비전 카메라 모듈이 운동하도록 형성될 수 있다.
본 실시예에 있어서 상기 비전 카메라 모듈의 운동에 따라 상기 비전 카메라 모듈이 상기 피검사체를 향하는 방향이 변하도록 배치될 수 있다.
본 실시예에 있어서 상기 비전 카메라 모듈은 하나 이상의 비전 카메라 및 상기 비전 카메라를 수용하는 하우징을 포함할 수 있다.
본 발명에 관한 비전 카메라 시스템은 다양한 작업 공간에서의 피검사체에 대한 검사를 안정적이고 정밀하게 진행할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 관한 비전 카메라 시스템을 도시한 개략적인 도면이다.
도 2는 도 1과 다른 방향에서 본 발명의 일 실시예에 관한 비전 카메라 시스템을 도시한 개략적인 사시도이다.
도 3a 및 도 3b는 본 발명의 일 실시예에 관한 비전 카메라 시스템의 동작을 설명하는 개략적인 도면이다.
도 4는 도 1의 비전 카메라 시스템의 비전 카메라 모듈을 일 방향에서 본 측면도이다.
도 5는 도 4의 A 방향에서 본 평면도이다.
도 6은 도 4 및 도 5의 Ⅲ-Ⅲ선을 따라 절취한 단면도이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 관한 비전 카메라 모듈을 도시한 개략적인 측면도이다.
도 8은 도 7의 A방향으로 본 투시 평면도이다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 관한 비전 카메라 시스템을 도시한 개략적인 사시도이다.
도 10은 도 9의 비전 카메라 시스템의 비전 카메라 모듈을 도시한 개략적인 사시도이다.
도 11은 도 9 및 도 10의 C 방향에서 본 개략적인 측면도이다.
도 12는 도 10의 A 방향에서 본 평면도이다.
도 13은 도 10 내지 도 12의 ⅩⅡ-ⅩⅡ선을 따라 절취한 단면도이다.
도 14는 본 발명의 또 다른 실시예에 관한 비전 카메라 시스템을 적용한 예를 도시한 개략적인 도면이다.
이하 첨부된 도면들에 도시된 본 발명에 관한 실시예를 참조하여 본 발명의 구성 및 작용을 상세히 설명한다.
본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 본 발명의 효과 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 다양한 형태로 구현될 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명하기로 하며, 도면을 참조하여 설명할 때 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 도면부호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
이하의 실시예에서, 제1, 제2 등의 용어는 한정적인 의미가 아니라 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하는 목적으로 사용되었다.
이하의 실시예에서, 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
이하의 실시예에서, 포함하다 또는 가지다 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 또는 구성요소가 존재함을 의미하는 것이고, 하나 이상의 다른 특징들 또는 구성요소가 부가될 가능성을 미리 배제하는 것은 아니다.
도면에서는 설명의 편의를 위하여 구성 요소들이 그 크기가 과장 또는 축소될 수 있다. 예컨대, 도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 임의로 나타내었으므로, 본 발명이 반드시 도시된 바에 한정되지 않는다.
이하의 실시예에서, x축, y축 및 z축은 직교 좌표계 상의 세 축으로 한정되지 않고, 이를 포함하는 넓은 의미로 해석될 수 있다. 예를 들어, x축, y축 및 z축은 서로 직교할 수도 있지만, 서로 직교하지 않는 서로 다른 방향을 지칭할 수도 있다.
어떤 실시예가 달리 구현 가능한 경우에 특정한 공정 순서는 설명되는 순서와 다르게 수행될 수도 있다. 예를 들어, 연속하여 설명되는 두 공정이 실질적으로 동시에 수행될 수도 있고, 설명되는 순서와 반대의 순서로 진행될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 관한 비전 카메라 시스템을 도시한 개략적인 도면이고, 도 2는 도 1과 다른 방향에서 본 발명의 일 실시예에 관한 비전 카메라 시스템을 도시한 개략적인 사시도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면 본 실시예의 비전 카메라 시스템(1000)은 비전 카메라 모듈(100), 지지부(1230) 및 연결부(1290)를 포함할 수 있다.
비전 카메라 모듈(100)을 통하여 본 실시예의 비전 카메라 시스템(1000)은 다양한 피검사체에 대한 검사를 진행하도록 형성될 수 있고, 구체적으로 검사 방향(B)으로 검사를 진행할 수 있다.
선택적 실시예로서 비전 카메라 시스템(1000)은 기계 부품 제조 공정, 구체적 예로서 단조 공정중의 피검사체에 대한 검사를 진행할 수 있다.
또한, 더 구체적인 예로서 비전 카메라 시스템(1000)은 고열의 공정, 예를들면 단조 공정중의 피검사체의 안착 여부 및 위치 정렬 여부에 대한 검사를 진행할 수 있다.
구체적으로 본 실시예의 비전 카메라 시스템(1000)은 벽체(SUF)에 연결된 채 검사 작업을 진행할 수 있고, 예를들면 검사 공간(WA)내의 작업물에 대한 검사를 진행할 수 있다.
선택적 실시예로서 벽체(SUF)의 일 영역에 개구부를 갖는 작업 공간(WA)이 형성될 수 있다.
선택적 실시예로서 벽체(SUF)의 바닥에는 바닥부(BP)가 더 배치될 수 있다.
비전 카메라 모듈(100)에 대한 더 구체적인 설명은 후술한다.
지지부(1230)는 본 실시예의 비전 카메라 모듈(100)을 벽체(SUF)에 연결할 수 있도록 형성될 수 있다.
구체적으로 지지부(1230)는 제1 영역(1231) 및 제2 영역(1232)을 포함할 수 있다.
지지부(1230)의 제1 영역(1231) 및 제2 영역(1232)는 서로 연결되어 있고, 제1 영역(1231)은 비전 카메라 모듈(100)에 연결될 수 있다.
선택적 실시예로서 제1 영역(1231)과 비전 카메라 모듈(100)의 사이에 연결부(1290)가 배치될 수 있고, 연결부(1290)를 통하여 비전 카메라 모듈(100)을 지지부(1230)의 제2 영역(1232)으로부터 분리하거나 제2 영역(1232)에 연결을 원하는 때에 자유롭게 할 수 있다.
지지부(1230)의 제2 영역(1232)은 벽체(SUF)에 연결될 수 있다. 선택적 실시예로서 벽체(SUF)의 일 면에 고정부(HS)가 배치될 수 있고, 고정부(HS)에 고정된 결합부(HUM)가 배치될 수 있다.
선택적 실시예로서 고정부(HS)는 서로 이격되도록 2개로 구비되고, 그 사이에 결합부(HUM)가 배치되어 고정부(HS)에 의하여 결합부(HUM)가 이탈하지 않고 소정의 위치를 유지할 수 있다.
선택적 실시예로서 고정부(HS)는 소정의 그루브 또는 홈을 가질 수 있고, 결합부(HUM)의 양단이 고정부(HS)의 소정의 그루브 또는 홈에 대응되도록 배치될 수 있다.
선택적 실시예로서 결합부(HUM)는 기둥 형태를 가질 수 있다. 또한, 결합부(HUM)는 일 예로서 회전체 형태를 가질 수 있다.
제2 영역(1232)은 이러한 결합부(HUM)에 연결될 수 있다. 선택적 실시예로서 제2 영역(1232)과 연결되도록 형성된 운동부(1250)를 포함할 수 있다.
운동부(1250)는 결합부(HUM)에 연결될 수 있는데, 구체적 예로서 운동부(1250)는 개구 영역을 갖고, 이러한 개구 영역에 결합부(HUM)가 대응될 수 있다. 운동부(1250)는 결합부(HUM)에 대응된 채 운동할 수 있고, 예를들면 회전 운동할 수 있다.
지지부(1230)의 제2 영역(1232)의 일단은 운동부(1250)와 연결될 수 있다. 이를 통하여 운동부(1250)의 운동에 따라 제2 영역(1232) 및 제1 영역(1231)이 운동할 수 있고, 이에 연결된 비전 카메라 모듈(100)도 운동할 수 있다.
선택적 실시예로서 제1 영역(1231), 제2 영역(1232)는 일체로 형성될 수 있고, 또한 서로 소정의 각도를 이루면서 굴곡진 형태를 가질 수 있는데, 예를들면 90도의 내각을 이룰 수 있다.
또한, 선택적 실시예로서 제1 영역(1231), 제2 영역(1232) 및 운동부(1250)은 일체로 형성될 수 있다.
본 실시예의 비전 카메라 시스템(1000)의 비전 카메라 모듈(100)은 지지부(1230)에 연결되어 최하면이 다른 부재와 이격된 채, 예를들면 지면이나 바닥부(BP)와 이격된 채 검사를 진행할 수 있고, 구체적으로 검사 방향(B)으로 검사를 진행할 수 있고, 예를들면 검사 방향(B)을 향하도록 배치된 하나 이상의 피검사체에 대한 검사를 진행할 수 있다.
이를 통하여 비전 카메라 모듈(100)을 통한 검사 시 진동이나 기타의 방해를 감소하거나 방지하여 정밀한 검사를 진행할 수 있다.
또한, 후술하는 바와 같이 비전 카메라 모듈(100)에서는 열이 발생할 수 있는데, 이러한 열을 하부의 빈 공간으로 용이하게 배출하여 비전 카메라 모듈(100)의 손상을 감소 또는 방지할 수 있다.
도 3a 및 도 3b는 본 발명의 일 실시예에 관한 비전 카메라 시스템의 동작을 설명하는 개략적인 도면이다.
도 3a를 참조하면 비전 카메라 모듈(100)을 통하여 검사 공간(WA)내의 작업물에 대한 검사를 진행하고, 구체적 예로서 검사 방향(B)으로 비전 카메라 모듈(100)이 향하도록 배치될 수 있다.
전술한 내용 또는 도 3a에도 도시한 것과 같이 비전 카메라 모듈(100)은 다른 부재, 지면 또는 바닥부(BP)와 이격될 뿐 아니라 검사 공간(WA)과도 상당한 간격을 갖고 용이하게 이격된 채 검사를 진행할 수 있다. 이를 통하여 검사 공간(WA)으로부터의 열의 전달 또는 이물로 인한 오염을 감소하거나 억제할 수 있다.
한편, 비전 카메라 모듈(100)을 통한 검사를 진행한 후에, 비전 카메라 모듈(100)의 수리나 확인, 또는 검사 공간(WA)내의 작업을 위해 비전 카메라 모듈(100)의 위치를 이동할 수 있고, 예를들면 도 3a에 도시한 것과 같이 회전 각도(a)만큼 회전 운동하여 도 3b에서와 같이 비전 카메라 모듈(100)이 검사 공간(WA)을 향하지 않도록 할 수 있다.
선택적 실시예로서 검사 공간(WA)내에서 다양한 작업 공정이 진행될 수 있고, 예를들면 원재료에 대한 프레스 공정 또는 단조 공정을 진행할 수 있다. 이 때, 새로운 공정 시 필요한 기구물, 예를들면 새로운 금형을 설치 시에 비전 카메라 모듈(100)의 검사를 진행할 필요가 없고 비전 카메라 모듈(100)의 오염이나 손상을 방지하도록 비전 카메라 모듈(100)을 검사 공간(WA)을 향하지 않도록 회전 운동할 수 있다.
이를 통하여 비전 카메라 모듈(100)의 안정적인 사용으로 비전 카메라 모듈(100)의 수명을 향상하고 정밀한 특성 유지를 확보할 수 있다.
또한, 검사 공간(WA)내에서의 다양한 필요 작업을 비전 카메라 모듈(100)에 의한 방해를 받지 않고 진행하여 작업 공정의 전체적인 효율을 향상할 수 있다.
비전 카메라 모듈(100)에 대하여 구체적으로 설명하기로 한다.
도 4는 도 1의 비전 카메라 시스템의 비전 카메라 모듈을 일 방향에서 본 측면도이고, 도 5는 도 4의 A 방향에서 본 평면도이고, 도 6은 도 4 및 도 5의 Ⅲ-Ⅲ선을 따라 절취한 단면도이다.
구체적으로 도 4는 도 1, 도 2, 도 3a의 C방향에서 본 측면도일 수 있다.
도 4 내지 도 6을 참조하면, 본 실시예의 비전 카메라 모듈(100)은 하우징(110), 비전 카메라(120) 및 커버부(131)를 포함할 수 있다.
본 실시예의 비전 카메라 모듈(100)은 다양한 피검사체에 대한 검사를 진행하도록 형성될 수 있고, 구체적으로 검사 방향(B)으로 검사를 진행할 수 있고, 예를들면 검사 방향(B)을 향하도록 배치된 하나 이상의 피검사체에 대한 검사를 진행할 수 있다.
선택적 실시예로서 비전 카메라 모듈(100)은 기계 부품 제조 공정, 구체적 예로서 단조 공정중의 피검사체에 대한 검사를 진행할 수 있다.
또한, 더 구체적인 예로서 비전 카메라 모듈(100)은 고열의 공정, 예를들면 단조 공정중의 피검사체의 안착 여부 및 위치 정렬 여부에 대한 검사를 진행할 수 있다.
하우징(110)은 적어도 내부에 공간을 갖도록 배치될 수 있다. 구체적 예로서 하우징(110)은 덮개부(111), 바텀부(112) 및 측면부(113)를 포함할 수 있다.
덮개부(111)와 바텀부(112)는 서로 마주하도록 배치될 수 있고, 하우징(110)을 지면에 대하여 평행한 방향으로 배치 시 덮개부(111)는 지면을 기준으로 바텀부(112)보다 지면으로부터 멀리 떨어지도록 배치되고 바텀부(112)는 덮개부(111)보다 지면에 가깝게 배치될 수 있다.
덮개부(111) 및 바텀부(112)는 내구성이 높은 재질로 형성할 수 있고, 금속 재질로 형성할 수 있고, 다른 예로서 경도가 높은 수지 계열 재질로 형성할 수도 있다.
측면부(113)는 덮개부(111)와 바텀부(112)의 사이에 배치되어 덮개부(111)와 바텀부(112)를 연결할 수 있다.
선택적 실시예로서 측면부(113)는 적어도 덮개부(111)와 바텀부(112)의 사이에 양쪽에 서로 마주보도록 2개로 구비될 수 있다.
또한, 이러한 2개로 구비된 측면부(113)의 적어도 하나의 측면부(113)는 관통 영역(113A)을 포함할 수 있다.
비전 카메라(120)는 하우징(110)의 내부의 공간에 배치될 수 있다. 비전 카메라(120)는 전술한 대로 검사 방향(B)을 통하여 피검사체에 대한 검사를 진행하도록 형성될 수 있다.
선택적 실시예로서 비전 카메라(120)에 대응되는 광필터(125)를 더 포함할 수 있다. 구체적 예로서 광필터(125)는 중성 농도 필터(ND 필터: neutral density 필터)를 포함할 수 있다.
이를 통하여 비전 카메라(120)를 다양한 용도에 이용할 수 있고, 예를들면 고열로 작업을 진행하는 단조 공정 중의 일 단계에서 피검사체에 대한 검사를 진행 시 영상의 왜곡이나 변형을 감소하거나 방지하면서 정밀한 검사를 진행할 수 있다.
선택적 실시예로서 비전 카메라(120)는 하우징(110)의 덮개부(111) 및 바텀부(112)와 이격되도록 배치될 수 있다. 예를들면 지지부(미도시)를 통하여 비전 카메라(120)를 지지하면서, 지지부(미도시)만 덮개부(111) 또는 바텀부(112)와 연결되거나, 또는 측면부(113)와 연결될 수 있다.
선택적 실시예로서 비전 카메라(120)는 하우징(110)의 측면부(113)와 이격되도록 배치될 수 있다.
이를 통하여 비전 카메라(120)가 하우징(110)의 움직임이나 변동 시 영향을 받는 것을 감소하여 정밀한 비전 카메라(120)의 제어를 용이하게 하고, 또한 고온의 공정중에 비전 카메라 모듈(100)을 사용 시 하우징(110)이 받는 열이 비전 카메라(120)에 직접 전달되는 것을 감소하여 비전 카메라(120)의 오작동이나 불량을 감소하거나 방지할 수 있다.
커버부(131)는 하우징(110)에 연결되고 검사 방향(B)을 기준으로, 적어도 비전 카메라(120)를 향하도록 배치될 수 있다.
커버부(131)는 다양한 재질로 형성할 수 있는데, 적어도 비전 카메라(120)로의 광의 입사가 가능하도록 광투과성이 있는 재질로 형성할 수 있다. 구체적 예로서 커버부(131)는 내열성 및 광투과성이 있는 유리로 형성할 수 있고, 다른 예로서 플라스틱 재질로 형성할 수도 있다.
커버부(131)를 통하여 비전 카메라 모듈(100)을 이용한 검사 시 비전 카메라(120)의 오염, 손상 또는 열 전달을 감소하거나 방지할 수 있다. 구체적 예로서 비전 카메라 모듈(100)를 고열이 이용되는 단조 공정중에 직접적으로 사용 시 금속 용융 부산물 등이 비전 카메라 모듈(100)에도 튀어 비전 카메라 모듈(100)를 오염시킬 수 있는데, 본 실시예에서는 커버부(131)를 통하여 이러한 비전 카메라(120)의 오염을 방지할 수 있다.
또한, 커버부(131)는 고열 공정 중에서의 고열이 직접적으로 비전 카메라(120)에 전달되는 것을 차단하거나 감소하여 비전 카메라(120)가 열에 의하여 파손되거나 불량 동작하는 것을 감소하거나 방지할 수 있다.
선택적 실시예로서 커버부(131)는 교체 가능하도록 형성될 수 있고, 예를들면 커버부(131)의 전체를 일 방향으로 이동하여 하우징(110)으로부터 분리하고 다시 결합할 수 있도록 형성될 수 있다.
다른 예로서 커버부(131)의 일 영역, 즉 비전 카메라(120)가 피검사체를 검사하는 검사 방향(B)에 대응하는 곳에만 광투과 영역을 형성하고, 광투과 영역만 교체하도록 형성될 수도 있다.
커버부(131)의 오염이나 파손 등이 발생 시 커버부(131)를 용이하게 교체하여 비전 카메라(120)의 시야 확보를 균일하게 유지하여 비전 카메라 모듈(100)의 검사 특성을 향상할 수 있다. 또한, 다른 예로서 커버부(131)의 교체 없이 주기적인 오염물 제거 등의 작업을 진행할 수도 있다.
선택적 실시예로서, 커버부(131)와 대향하는 영역에 후방 커버(132)를 배치할 수 있고, 이러한 후방 커버(132)는 광투과가 가능하도록 형성할 수 있다. 이를 통하여 비전 카메라 모듈(100)의 후방에서 비전 카메라(120)의 안정적 배치 상태를 용이하게 확인할 수 있다.
다른 선택적 실시예로서 후방 커버(132)를 광투과가 되지 않는 재질로 형성할 수도 있다.
본 실시예의 비전 카메라 모듈(100)은 추가적으로 냉각부(151, 152)를 더 포함할 수 있다.
냉각부(151, 152)는 제1 냉각부(151) 및 제2 냉각부(152)를 포함할 수 있고, 비전 카메라 모듈(100)이 측면부(113)를 2개 구비한 경우 제1 냉각부(151) 및 제2 냉각부(152)는 각각의 측면부(113)의 관통 영역(113A)에 대응되도록 형성될 수 있다.
냉각부(151, 152)는 하우징(110)의 내부의 공간을 냉각하도록 형성될 수 있고, 선택적 실시예로서 방열팬을 구비할 수 있다.
냉각부(151, 152)는 하우징(110)의 내부의 공간을 냉각하여 고온 공정에서 피검사체에 대한 검사 시 비전 카메라(120)가 비정상적으로 열에 의하여 영향 받는 것을 감소하거나 방지할 수 있다.
선택적 실시예로서 냉각부(151, 152)는 서로 마주보도록 배치되고 추가적으로 비전 카메라(120)와 대응되어 중첩된 영역을 갖도록 배치될 수 있다.
본 실시예의 비전 카메라 모듈은 하우징의 내부의 공간에 비전 카메라가 배치될 수 있다. 비전 카메라를 하우징의 공간에 배치하여 비전 카메라 모듈을 이용하여 다양한 분야에서 피검사체에 대한 검사를 진행할 수 있고, 구체적 예로서 단조 공정 또는 금속 재료에 대한 프레스 공정 등 고열의 공정 중의 작업물에 대한 정렬 등의 검사를 용이하고 안전하게 진행할 수 있다.
이 때, 선택적 실시예로서 비전 카메라에 대응하도록 광필터, 예를들면 ND 필터를 추가하여 고열에서의 정밀한 검사를 효율적으로 진행할 수 있다.
선택적 실시예로서 비전 카메라를 덮개부 또는 바텀부와 직접적으로 접촉되지 않고 이격되도록 할 수 있고, 또한 측면부와 이격되도록 배치하여 비전 카메라의 안정적 구동 또는 열로부터의 손상을 감소할 수 있다.
또한, 하우징에 연결되고 검사 방향을 기준으로 비전 카메라를 향하도록 커버부를 배치하고 커버부가 광투과 재질을 갖도록 하여, 비전 카메라의 오염이나 손상을 용이하게 방지하거나 감소할 수 있다.
이를 통하여 비전 카메라 모듈을 통하여 피검사체에 대한 안정적이고 정밀한 검사를 진행할 수 있다.
도시하지 않았으나, 본 발명의 다른 실시예로서 비전 카메라 모듈이 전술한 도 4 내지 도 6의 하나의 비전 카메라 대신 복수의 비전 카메라를 포함할 수 있다. 예를들면 비전 카메라 모듈은 서로 이격되도록 배치되고 각각의 측면 방향으로 거리를 두고 인접하도록 배치된 제1 비전 카메라 및 제2 비전 카메라를 포함할 수도 있다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 관한 비전 카메라 모듈을 도시한 개략적인 측면도이고, 도 8은 도 7의 A방향으로 본 투시 평면도이다.
도 7 및 도 8을 참조하면, 본 실시예의 비전 카메라 모듈(200)은 하우징(210), 비전 카메라(220) 및 커버부(231)를 포함할 수 있다.
설명의 편의를 위하여 전술한 실시예와 상이한 점을 중심으로 설명하기로 한다.
하우징(210)은 덮개부(211), 바텀부(212) 및 측면부(213)를 포함할 수 있고, 하우징(210)의 덮개부(211), 바텀부(212)은 전술한 실시예의 하우징(110)과 동일하거나 유사하게 적용할 수 있는 바 구체적 설명은 생략하고, 측면부(213)에 대하여만 설명하기로 한다.
측면부(213)는 덮개부(211)와 바텀부(미도시)의 사이에 배치되어 덮개부(211)와 바텀부(212)를 연결할 수 있다.
선택적 실시예로서 측면부(213)는 적어도 덮개부(211)와 바텀부(212)의 사이에 양쪽에 서로 마주보도록 2개로 구비될 수 있다.
또한, 이러한 2개로 구비된 측면부(213)의 적어도 하나의 측면부(213)는 복수의 관통 영역(213A)을 포함할 수 있고, 예를들면 2개의 관통 영역(213A)을 포함할 수 있다. 그리고, 선택적 실시예로서 이러한 2개의 관통 영역(213A)은 간격(W)을 갖고 서로 이격되도록 형성될 수 있다.
또한, 선택적 실시예로서, 양쪽에 서로 대향하도록 배치된 2개의 측면부(213)의 각각은 모두 복수의 관통 영역(213A)을 포함할 수 있고, 예를들면 2개의 관통 영역(213A)을 포함할 수 있다.
비전 카메라(220)는 하우징(210)의 내부의 공간에 배치될 수 있다. 비전 카메라(220)는 검사 방향(B)을 통하여 피검사체에 대한 검사를 진행하도록 형성될 수 있다.
선택적 실시예로서 비전 카메라(220)에 대응되는 광필터(225)를 더 포함할 수 있다.
커버부(231)는 하우징에 연결되고 검사 방향(B)을 기준으로, 적어도 비전 카메라(220)를 향하도록 배치될 수 있다. 커버부(231)는 전술한 실시예에서 설명한 커버부(231)와 동일하거나 유사하게 적용할 수 있으므로 구체적인 설명은 생략한다.
선택적 실시예로서 후방 커버(232)를 더 포함할 수 있고, 이는 전술한 후방 커버(132)와 동일하거나 유사하게 적용할 수 있으므로 구체적인 설명은 생략한다.
냉각부(251, 252)는 제1 냉각부(251) 및 제2 냉각부(252)를 포함할 수 있고, 비전 카메라 모듈(200)이 측면부(213)를 2개 구비한 경우 제1 냉각부(251) 및 제2 냉각부(252)는 각각의 측면부(213)의 관통 영역(213A)에 대응되도록 형성될 수 있다.
구체적으로 제1 냉각부(251)는 제1 냉각부A(251A) 및 제1 냉각부B(251B)를 포함하고, 제1 냉각부A(251A) 및 제1 냉각부B(251B)는 간격(W)을 갖는 2개의 관통 영역(213A)에 대응되도록 배치될 수 있다.
제2 냉각부(252)는 제1 냉각부(251)와 대향하도록 배치되고, 제2 냉각부A(252A) 및 제2 냉각부B(252B)를 포함하고, 간격(W)을 갖는 2개의 관통 영역(213A)에 대응되도록 배치될 수 있다.
냉각부(251, 252)는 제1 냉각부(251) 및 제2 냉각부(252)를 포함하고, 하우징(210)의 내부의 공간을 냉각시킬 수 있고, 이 때 제1 냉각부(251)가 서로 인접하도록 배치된 제1 냉각부A(251A) 및 제1 냉각부B(251B)를 포함하여 비전 카메라(220)의 근방의 공기를 용이하게 냉각할 수 있다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 관한 비전 카메라 시스템을 도시한 개략적인 사시도이다.
도 9를 참조하면 본 실시예의 비전 카메라 시스템(5000)은 비전 카메라 모듈(500), 지지부(5230) 및 연결부(5290)를 포함할 수 있다.
비전 카메라 모듈(500)을 통하여 본 실시예의 비전 카메라 시스템(5000)은 다양한 피검사체에 대한 검사를 진행하도록 형성될 수 있고, 구체적으로 검사 방향(B)으로 검사를 진행할 수 있다.
선택적 실시예로서 비전 카메라 시스템(5000)은 기계 부품 제조 공정, 구체적 예로서 단조 공정중의 피검사체에 대한 검사를 진행할 수 있다.
또한, 더 구체적인 예로서 비전 카메라 시스템(5000)은 고열의 공정, 예를들면 단조 공정중의 피검사체의 안착 여부 및 위치 정렬 여부에 대한 검사를 진행할 수 있다.
구체적으로 본 실시예의 비전 카메라 시스템(5000)은 벽체(미도시)에 연결된 채 검사 작업을 진행할 수 있고, 예를들면 검사 공간(미도시)내의 작업물에 대한 검사를 진행할 수 있다.
구체적으로, 검사 공간을 갖는 벽체에 대한 내용은 도시하지 않았다. 이에 대한 내용은 전술한 실시예인 도 1 내지 도 3b에 도시하면서 설명한 것과 같으므로 구체적 설명은 생략한다.
비전 카메라 모듈(500)에 대한 더 구체적인 설명은 후술한다.
지지부(5230)는 본 실시예의 비전 카메라 모듈(500)을 벽체(미도시)에 연결할 수 있도록 형성될 수 있다.
구체적으로 지지부(5230)는 제1 영역(5231) 및 제2 영역(5232)을 포함할 수 있다.
지지부(5230)의 제1 영역(5231) 및 제2 영역(5232)는 서로 연결되어 있고, 제1 영역(5231)은 비전 카메라 모듈(500)에 연결될 수 있다.
선택적 실시예로서 제1 영역(5231)과 비전 카메라 모듈(500)의 사이에 연결부(5290)가 배치될 수 있고, 연결부(5290)를 통하여 비전 카메라 모듈(500)을 지지부(5230)의 제2 영역(5232)으로부터 분리하거나 제2 영역(5232)에 연결을 원하는 때에 자유롭게 할 수 있다.
지지부(5230)의 제2 영역(5232)은 벽체(미도시)에 연결될 수 있다. 선택적 실시예로서 전술한 도 1 내지 도 3b에 도시한 것과 같이 벽체(미도시)의 일 면에 고정부(미도시)가 배치될 수 있고, 고정부(미도시)에 고정된 결합부(미도시)가 배치될 수 있다.
선택적 실시예로서 고정부(미도시)는 서로 이격되도록 2개로 구비되고, 그 사이에 결합부(미도시)가 배치되어 고정부(미도시)에 의하여 결합부(미도시)가 이탈하지 않고 소정의 위치를 유지할 수 있다.
선택적 실시예로서 고정부(미도시)는 소정의 그루브 또는 홈을 가질 수 있고, 결합부(미도시)의 양단이 고정부(미도시)의 그루브 또는 홈에 대응되도록 배치될 수 있다.
고정부, 결합부에 대한 기타 구체적인 설명은 전술한 실시예에서 설명한 바와 같으므로 생략한다.
제2 영역(5232)은 이러한 결합부(미도시)에 연결될 수 있다. 선택적 실시예로서 제2 영역(5232)과 연결되도록 형성된 운동부(5250)를 포함할 수 있다.
운동부(5250)는 결합부(미도시)에 연결될 수 있는데, 구체적 예로서 운동부(5250)는 개구 영역을 갖고, 이러한 개구 영역에 결합부(미도시)가 대응될 수 있다. 운동부(5250)는 결합부(미도시)에 대응된 채 운동할 수 있고, 예를들면 회전 운동할 수 있다.
선택적 실시예로서 운동부(5250)는 개구 영역을 중심으로 절개될 수 있도록 분리부를 포함할 수 있다.
지지부(5230)의 제2 영역(5232)의 일단은 운동부(5250)와 연결될 수 있다. 이를 통하여 운동부(5250)의 운동에 따라 제2 영역(5232) 및 제1 영역(5231)이 운동할 수 있고, 이에 연결된 비전 카메라 모듈(500)도 운동할 수 있다.
선택적 실시예로서 제1 영역(5231), 제2 영역(5232)는 일체로 형성될 수 있고, 또한 서로 소정의 각도를 이루면서 굴곡진 형태를 가질 수 있는데, 예를들면 90도의 내각을 이룰 수 있다.
또한, 선택적 실시예로서 제1 영역(5231), 제2 영역(5232) 및 운동부(5250)은 일체로 형성될 수 있다.
본 실시예의 비전 카메라 시스템(5000)의 비전 카메라 모듈(500)은 지지부(5230)에 연결되어 최하면이 다른 부재와 이격된 채, 예를들면 지면이나 바닥부(BP)와 이격된 채 검사를 진행할 수 있고, 구체적으로 검사 방향(B)으로 검사를 진행할 수 있고, 예를들면 검사 방향(B)을 향하도록 배치된 하나 이상의 피검사체에 대한 검사를 진행할 수 있다.
이를 통하여 비전 카메라 모듈(500)을 통한 검사 시 진동이나 기타의 방해를 감소하거나 방지하여 정밀한 검사를 진행할 수 있다.
또한, 후술하는 바와 같이 비전 카메라 모듈(500)에서는 열이 발생할 수 있는데, 이러한 열을 하부의 빈 공간으로 용이하게 배출하여 비전 카메라 모듈(500)의 손상을 감소 또는 방지할 수 있다.
구체적 예시로서 비전 카메라 모듈(500)을 통하여 검사 공간내의 작업물에 대한 검사를 진행하고, 구체적 예로서 검사 방향(B)으로 비전 카메라 모듈(500)이 향하도록 배치될 수 있다.
한편, 비전 카메라 모듈(500)을 통한 검사를 진행한 후에, 비전 카메라 모듈(500)의 수리나 확인, 또는 검사 공간내의 작업을 위해 비전 카메라 모듈(500)의 위치를 이동할 수 있고, 예를들면 회전 운동하여 비전 카메라 모듈(500)이 검사 공간을 향하지 않도록 할 수 있다.
이는 전술한 실시예에서의 도 3a 및 도 3b에서의 내용과 동일하므로 구체적인 설명은 생략한다.
비전 카메라 모듈(500)에 대하여 구체적으로 설명하기로 한다.
도 10은 도 9의 비전 카메라 시스템의 비전 카메라 모듈을 도시한 개략적인 사시도이고, 도 11은 도 9 및 도 10의 C 방향에서 본 개략적인 측면도이고, 도 12는 도 10의 A 방향에서 본 평면도이고, 도 13은 도 10 내지 도 12의 ⅩⅡ-ⅩⅡ선을 따라 절취한 단면도이다.
도 10 내지 도 13을 참조하면 본 실시예의 비전 카메라 모듈(500)은 하우징(510), 비전 카메라(520), 커버부(531) 및 비전 카메라 지지 부재(560)를 포함할 수 있다.
본 실시예의 비전 카메라 모듈(500)은 다양한 피검사체에 대한 검사를 진행하도록 형성될 수 있고, 구체적으로 검사 방향(B)으로 검사를 진행할 수 있고, 예를들면 검사 방향(B)을 향하도록 배치된 하나 이상의 피검사체에 대한 검사를 진행할 수 있다.
선택적 실시예로서 비전 카메라 모듈(500)은 기계 부품 제조 공정, 구체적 예로서 단조 공정중의 피검사체에 대한 검사를 진행할 수 있다.
또한, 더 구체적인 예로서 비전 카메라 모듈(500)은 고열의 공정, 예를들면 단조 공정중의 피검사체의 안착 여부 및 위치 정렬 여부에 대한 검사를 진행할 수 있다.
하우징(510)은 적어도 내부에 공간을 갖도록 배치될 수 있다. 구체적 예로서 하우징(510)은 덮개부(511), 바텀부(512) 및 측면부(513)를 포함할 수 있다.
덮개부(511)와 바텀부(512)는 서로 마주하도록 배치될 수 있고, 하우징(510)을 지면에 대하여 평행한 방향으로 배치 시 덮개부(511)는 지면을 기준으로 바텀부(512)보다 지면으로부터 멀리 떨어지도록 배치되고 바텀부(512)는 덮개부(511)보다 지면에 가깝게 배치될 수 있다.
덮개부(511) 및 바텀부(512)는 내구성이 높은 재질로 형성할 수 있고, 금속 재질로 형성할 수 있고, 다른 예로서 경도가 높은 수지 계열 재질로 형성할 수도 있다.
바텀부(512)는 하나 이상의 개구(512A)를 포함할 수 있고, 냉각부(551)를 설명하면서 후술하기로 한다.
측면부(513)는 덮개부(511)와 바텀부(512)의 사이에 배치되어 덮개부(511)와 바텀부(512)를 연결할 수 있다.
선택적 실시예로서 측면부(513)는 적어도 덮개부(511)와 바텀부(512)의 사이에 양쪽에 서로 마주보도록 2개로 구비될 수 있다.
또한, 이러한 2개로 구비된 측면부(513)의 적어도 하나의 측면부(513)는 복수의 관통 영역(513A)을 포함할 수 있고, 예를들면 2개의 관통 영역(513A)을 포함할 수 있다. 그리고, 선택적 실시예로서 이러한 2개의 관통 영역(513A)은 간격을 갖고 서로 이격되도록 형성될 수 있다.
또한, 선택적 실시예로서, 양쪽에 서로 대향하도록 배치된 2개의 측면부(513)의 각각은 모두 복수의 관통 영역(513A)을 포함할 수 있고, 예를들면 2개의 관통 영역(513A)을 포함할 수 있다.
비전 카메라(520)는 하우징(510)의 내부의 공간에 배치될 수 있다. 비전 카메라(520)는 전술한 대로 검사 방향(B)을 통하여 피검사체에 대한 검사를 진행하도록 형성될 수 있다.
선택적 실시예로서 비전 카메라(520)에 대응되는 광필터(525)를 더 포함할 수 있다. 구체적 예로서 광필터(525)는 중성 농도 필터(ND 필터: neutral density 필터)를 포함할 수 있다.
이를 통하여 비전 카메라(520)를 다양한 용도에 이용할 수 있고, 예를들면 고열로 작업을 진행하는 단조 공정 중의 일 단계에서 피검사체에 대한 검사를 진행 시 영상의 왜곡이나 변형을 감소하거나 방지하면서 정밀한 검사를 진행할 수 있다.
선택적 실시예로서 비전 카메라(520)는 하우징(510)의 덮개부(511) 및 바텀부(512)와 이격되도록 배치될 수 있다. 또한, 비전 카메라(520)는 측면부(513)와도 이격되도록 배치될 수 있다.
이를 통하여 비전 카메라(520)가 하우징(510)의 움직임이나 변동 시 영향을 받는 것을 감소하여 정밀한 비전 카메라(520)의 제어를 용이하게 하고, 또한 고온의 공정중에 비전 카메라 모듈(500)을 사용 시 하우징(510)이 받는 열이 비전 카메라(520)에 직접 전달되는 것을 감소하여 비전 카메라(520)의 오작동이나 불량을 감소하거나 방지할 수 있다.
비전 카메라 지지 부재(560)가 하우징(510)의 내부에 배치되어 하우징(510)의 일면을 지지하면서 비전 카메라(520)를 지지할 수 있다.
선택적 실시예로서 비전 카메라 지지 부재(560)는 하우징(510)의 덮개부(511) 및 바텀부(512)의 사이에 배치되어 덮개부(511) 및 바텀부(512)를 양쪽에서 지지할 수 있도록 길게 연장된 형태를 가질 수 있다.
다른 선택적 실시예로서 비전 카메라 지지 부재(560)는 하우징(510)의 양쪽의 측면부(513)의 사이에 배치되어 양쪽의 측면부(513)를 지지할 수 있도록 길게 연장된 형태를 가질 수 있다.
선택적 실시예로서 비전 카메라 지지 부재(560)와 비전 카메라(520)의 사이에 비전 카메라 연결 부재(570)가 더 배치될 수 있다. 비전 카메라 연결 부재(570)를 통하여 비전 카메라(520)를 비전 카메라 지지 부재(560)와 연결된 채 이동 및 회전 운동하도록 할 수 있고, 이를 통하여 비전 카메라(520)를 하우징(510)에 대하여 원하는 방향 및 위치로 정밀한 정렬을 용이하게 할 수 있다.
예를들면 비전 카메라 연결 부재(570)는 비전 카메라 지지 부재(560)가 관통하도록 홈을 구비할 수 있고, 비전 카메라 지지 부재(560)를 중심으로 회전하거나 상하 이동할 수 있다.
커버부(531)는 하우징(510)에 연결되고 검사 방향(B)을 기준으로, 적어도 비전 카메라(520)를 향하도록 배치될 수 있다.
커버부(531)는 다양한 재질로 형성할 수 있는데, 적어도 비전 카메라(520)로의 광의 입사가 가능하도록 광투과성이 있는 재질로 형성할 수 있다. 구체적 예로서 커버부(531)는 내열성 및 광투과성이 있는 유리로 형성할 수 있고, 다른 예로서 플라스틱 재질로 형성할 수도 있다.
커버부(531)를 통하여 비전 카메라 모듈(500)을 이용한 검사 시 비전 카메라(520)의 오염, 손상 또는 열 전달을 감소하거나 방지할 수 있다. 구체적 예로서 비전 카메라 모듈(500)를 고열이 이용되는 단조 공정중에 직접적으로 사용 시 금속 용융 부산물 등이 비전 카메라 모듈(500)에도 튀어 비전 카메라 모듈(500)를 오염시킬 수 있는데, 본 실시예에서는 커버부(531)를 통하여 이러한 비전 카메라(520)의 오염을 방지할 수 있다.
또한, 커버부(531)는 고열 공정 중에서의 고열이 직접적으로 비전 카메라(520)에 전달되는 것을 차단하거나 감소하여 비전 카메라(520)가 열에 의하여 파손되거나 불량 동작하는 것을 감소하거나 방지할 수 있다.
선택적 실시예로서 커버부(531)는 교체 가능하도록 형성될 수 있고, 예를들면 커버부(531)의 전체를 일 방향으로 이동하여 하우징(510)으로부터 분리하고 다시 결합할 수 있도록 형성될 수 있다.
다른 예로서 커버부(531)의 일 영역, 즉 비전 카메라(520)가 피검사체를 검사하는 검사 방향(B)에 대응하는 곳에만 광투과 영역을 형성하고, 광투과 영역만 교체하도록 형성될 수도 있다.
커버부(531)의 오염이나 파손 등이 발생 시 커버부(531)를 용이하게 교체하여 비전 카메라(520)의 시야 확보를 균일하게 유지하여 비전 카메라 모듈(500)의 검사 특성을 향상할 수 있다. 또한, 다른 예로서 커버부(531)의 교체 없이 주기적인 오염물 제거 등의 작업을 진행할 수도 있다.
선택적 실시예로서, 커버부(531)와 대향하는 영역에 후방 커버(532)를 배치할 수 있고, 이러한 후방 커버(532)는 광투과가 가능하도록 형성할 수 있다. 이를 통하여 비전 카메라 모듈(500)의 후방에서 비전 카메라(520)의 안정적 배치 상태를 용이하게 확인할 수 있다.
다른 선택적 실시예로서 후방 커버(532)를 광투과가 되지 않는 재질로 형성할 수도 있다.
본 실시예의 비전 카메라 모듈(500)은 추가적으로 냉각부(551, 552)를 더 포함할 수 있다.
냉각부(551, 552)는 제1 냉각부(551) 및 제2 냉각부(552)를 포함할 수 있고, 냉각부(551, 552)는 하우징(510)의 내부의 공간을 냉각하도록 형성될 수 있고, 선택적 실시예로서 방열팬을 구비할 수 있다.
냉각부(551, 552)는 제1 냉각부(551) 및 제2 냉각부(552)를 포함할 수 있고, 비전 카메라 모듈(500)이 측면부(513)를 2개 구비한 경우 제1 냉각부(551) 및 제2 냉각부(552)는 각각의 측면부(513)의 관통 영역(513A)에 대응되도록 형성될 수 있다.
구체적으로 제1 냉각부(551)는 제1 냉각부A(551A) 및 제1 냉각부B(551B)를 포함하고, 제1 냉각부A(551A) 및 제1 냉각부B(551B)는 간격을 갖는 2개의 관통 영역(513A)에 대응되도록 배치될 수 있다.
제2 냉각부(552)는 제1 냉각부(551)와 대향하도록 배치되고, 제2 냉각부A(552A) 및 제2 냉각부B(552B)를 포함하고, 간격(W)을 갖는 2개의 관통 영역(513A)에 대응되도록 배치될 수 있다.
냉각부(551, 552)는 제1 냉각부(551) 및 제2 냉각부(552)를 포함하고, 하우징(510)의 내부의 공간을 냉각시킬 수 있고, 이 때 제1 냉각부(551)가 서로 인접하도록 배치된 제1 냉각부A(551A) 및 제1 냉각부B(551B)를 포함하여 비전 카메라(520)의 근방의 공기를 용이하게 냉각할 수 있다.
냉각부(551)는 각각 단자부(PV) 및 연장부(EX)를 포함할 수 있다. 예를들면 제1 냉각부(551)의 제1 냉각부A(551A) 및 제1 냉각부B(551B)는 각각 팬을 포함하는 본체에 전기적 신호 또는 전력을 인가하는 단자부(PV) 및 단자부(PV)로부터 본체에 연결되는 연장부(EX)를 포함할 수 있다.
냉각부(551)의 원활한 배치와 취급을 위하여 단자부(PV)는 바텀부(512)의 하부, 구체적으로 바텀부(512)의 영역 중 덮개부(511)를 향하는 면의 반대면을 향하도록 배치될 수 있다. 연장부(EX)는 냉각부(551)의 팬을 포함하는 본체의 영역으로부터 연장되어 측면부(513)의 외면에 대응되도록 배치되고 단자부(PV)에 연결되도록 바텀부(512)의 개구(512A)를 통과하도록 형성될 수 있다.
냉각부(551, 552)는 하우징(510)의 내부의 공간을 냉각하여 고온 공정에서 피검사체에 대한 검사 시 비전 카메라(520)가 비정상적으로 열에 의하여 영향 받는 것을 감소하거나 방지할 수 있다.
선택적 실시예로서 냉각부(551, 552)는 서로 마주보도록 배치되고 추가적으로 비전 카메라(520)와 대응되어 중첩된 영역을 갖도록 배치될 수 있다.
본 실시예의 비전 카메라 모듈은 하우징의 내부의 공간에 비전 카메라가 배치될 수 있다. 비전 카메라를 하우징의 공간에 배치하여 비전 카메라 모듈을 이용하여 다양한 분야에서 피검사체에 대한 검사를 진행할 수 있고, 구체적 예로서 단조 공정 또는 금속 재료에 대한 프레스 공정 등 고열의 공정 중의 작업물에 대한 정렬 등의 검사를 용이하고 안전하게 진행할 수 있다.
이 때, 선택적 실시예로서 비전 카메라에 대응하도록 광필터, 예를들면 ND 필터를 추가하여 고열에서의 정밀한 검사를 효율적으로 진행할 수 있다.
선택적 실시예로서 비전 카메라를 덮개부 또는 바텀부와 직접적으로 접촉되지 않고 이격되도록 할 수 있고, 또한 측면부와 이격되도록 배치하여 비전 카메라의 안정적 구동 또는 열로부터의 손상을 감소할 수 있다.
또한, 하우징에 연결되고 검사 방향을 기준으로 비전 카메라를 향하도록 커버부를 배치하고 커버부가 광투과 재질을 갖도록 하여, 비전 카메라의 오염이나 손상을 용이하게 방지하거나 감소할 수 있다.
이를 통하여 비전 카메라 모듈을 통하여 피검사체에 대한 안정적이고 정밀한 검사를 진행할 수 있다.
도 14는 본 발명의 또 다른 실시예에 관한 비전 카메라 시스템을 적용한 예를 도시한 개략적인 도면이다.
도 14를 참조하면, 본 실시예는 공정 작업 시스템(6000)을 도시하고 있고, 비전 카메라 모듈(6100)이 검사 공간(WA)에 대한 검사를 진행하도록 배치된 것을 도시하고 있다.
본 실시예의 비전 카메라 모듈(6100)은 전술한 실시예에서 설명한 바와 같다. 또한, 벽체(SUF), 검사 공간(WA)등에 대한 설명을 포함하여 전술한 실시예에서 설명한 동일한 참조 부호들의 부재에 대한 설명은 생략한다.
공정 작업 시스템(6000)은 하나의 제품을 만들기 위한 하나의 작업 공정 단계를 포함할 수 있고, 예를들면 단조 공정 또는 프레스 공정을 진행하는 스테이지부를 포함하고, 스테이지부는 검사 공간(WA)내에 포함될 수 있다. 검사를 위하여 검사 공간(WA)은 별도의 검사를 위한 영역일 수도 있고, 단조 공정 또는 프레스 공정 등의 작업을 위한 공간의 일부일 수 있다.
제1 이송부(RA1), 예를들면 로봇암이 피검사체에 대한 검사 공간(WA)내의 스테이지부에 대한 이송을 진행할 수 있고, 피검사체가 검사 공간(WA)내의 스테이지부에 놓이면 비전 카메라 모듈(6100)은 피검사체를 검사한 후에 스테이지부에서의 작업 공정, 예를들면 단조 공정 또는 프레스 공정을 진행할 수 있다.
이 때, 비전 카메라 모듈(6100)은 피검사체를 검사하여 피검사체가 스테이지부에 정확하게 배치되고 정렬되어 단조 공정 또는 프레스 공정을 진행할 수 있는 상태인지를 검사하고, 정상 상태이면 단조 공정 또는 프레스 공정을 진행하도록 신호를 발생할 수 있고, 그렇지 않은 경우에는 단조 공정 또는 프레스 공정을 진행을 하지 않도록 신호를 발생할 수 있다.
정상 상태로서, 단조 공정 또는 프레스 공정을 진행한 후의 작업물은 제2 이송부(RA2), 예를들면 로봇암이 후속의 작업 공간으로 이송될 수 있다.
선택적 실시예로서 제어 확인부(MVT)를 더 포함할 수 있다. 제어 확인부(MVT)는 비전 카메라 모듈(6100)를 통한 검사 과정 또는 결과를 용이하게 확인할 수 있도록 디스플레이부를 포함할 수 있고, 또는 소리 발생부를 포함하여 알람 또는 정상 신호를 발생할 수 있다.
기타 제어 확인부(MVT)는 제1 이송부(RA1)를 통한 피검사체에 대한 스테이지부에 대한 이송 진행, 스테이지부에서의 작업 및 제2 이송부를 통한 후속의 작업 공간으로 이송 등의 작업을 전체적으로 제어하거나 확인하도록 형성될 수 있다.
선택적 실시예로서 피검사체에 대한 작업의 전에 적재 단계에서 검사를 진행하는 제1 검사 영역(V1) 및 피검사체에 대한 작업을 진행한 후의 적재 단계에서의 검사를 진행할 수 있는 제2 검사 영역(V2)을 포함할 수 있다.
본 실시예는 이를 통하여 비전 카메라 모듈의 효율적인 운영과 다양한 용도로의 사용을 용이하게 할 수 있다.
이와 같이 본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 다른 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.
실시예에서 설명하는 특정 실행들은 일 실시 예들로서, 어떠한 방법으로도 실시 예의 범위를 한정하는 것은 아니다. 또한, "필수적인", "중요하게" 등과 같이 구체적인 언급이 없다면 본 발명의 적용을 위하여 반드시 필요한 구성 요소가 아닐 수 있다.
실시예의 명세서(특히 특허청구범위에서)에서 "상기"의 용어 및 이와 유사한 지시 용어의 사용은 단수 및 복수 모두에 해당하는 것일 수 있다. 또한, 실시 예에서 범위(range)를 기재한 경우 상기 범위에 속하는 개별적인 값을 적용한 발명을 포함하는 것으로서(이에 반하는 기재가 없다면), 상세한 설명에 상기 범위를 구성하는 각 개별적인 값을 기재한 것과 같다. 마지막으로, 실시 예에 따른 방법을 구성하는 단계들에 대하여 명백하게 순서를 기재하거나 반하는 기재가 없다면, 상기 단계들은 적당한 순서로 행해질 수 있다. 반드시 상기 단계들의 기재 순서에 따라 실시 예들이 한정되는 것은 아니다. 실시 예에서 모든 예들 또는 예시적인 용어(예들 들어, 등등)의 사용은 단순히 실시 예를 상세히 설명하기 위한 것으로서 특허청구범위에 의해 한정되지 않는 이상 상기 예들 또는 예시적인 용어로 인해 실시 예의 범위가 한정되는 것은 아니다. 또한, 당업자는 다양한 수정, 조합 및 변경이 부가된 특허청구범위 또는 그 균등물의 범주 내에서 설계 조건 및 팩터에 따라 구성될 수 있음을 알 수 있다.
100, 200, 500, 5100: 비전 카메라 모듈
1000, 5000: 비전 카메라 시스템
1230, 5230: 지지부
1290, 5290: 연결부

Claims (4)

  1. 피검사체에 대한 검사를 진행하도록 벽체에 연결되도록 형성된 비전 카메라 시스템으로서,
    상기 피검사체를 검사하는 적어도 하나의 비전 카메라를 포함하는 비전 카메라 모듈;
    상기 벽체와 연결되어 상기 비전 카메라를 상기 벽체와 연결하도록 형성된 지지부; 및
    상기 비전 카메라 모듈과 상기 지지부의 사이에 배치된 연결부를 포함하고,
    상기 벽체는 적어도 상기 피검사체에 대한 검사를 진행하는 동안 이동 또는 운동을 하지 않도록 형성되고,
    상기 지지부는 제1 영역 및 제2 영역을 포함하고,
    상기 제1 영역은 상기 비전 카메라 모듈과 인접하고 일 방향으로 연장되고,
    상기 제2 영역은 상기 제1 영역과 연결되고 상기 일 방향의 연장된 일 방향과 교차하는 일 방향으로 연장되고 상기 제1 영역과 각을 이루도록 형성되고,
    상기 제1 영역과 상기 제2 영역은 일체로 동시에 운동하도록 형성되고,
    상기 제2 영역은 상기 벽체에 연결된 채 상기 벽체에 대하여 각 운동하도록 형성되고, 상기 제2 영역의 각 운동에 따라 상기 제1 영역 및 상기 비전 카메라 모듈도 함께 운동하여 상기 비전 카메라 모듈이 향하는 방향이 변하도록 형성되고,
    상기 벽체의 일 면에 상기 피검사체가 배치되는 작업 공간과 연결되도록 형성된 하나 이상의 개구부를 포함하고,
    상기 지지부는 상기 개구부가 위치한 상기 벽체의 일면에 연결되고,
    상기 제2 영역이 상기 벽체에 대하여 각 운동함에 따라 상기 비전 카메라 모듈은 상기 개구부를 향하는 방향 및 상기 개구부와의 거리가 제어되는 것을 포함하는 비전 카메라 시스템.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 지지부는 상기 벽체에 연결된 채 운동하도록 배치되고,
    상기 지지부의 운동에 따라 상기 비전 카메라 모듈이 운동하도록 형성된 비전 카메라 시스템.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 비전 카메라 모듈의 운동에 따라 상기 비전 카메라 모듈이 상기 피검사체를 향하는 방향이 변하도록 배치되는 비전 카메라 시스템.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 비전 카메라 모듈은 하나 이상의 비전 카메라 및 상기 비전 카메라를 수용하는 하우징을 포함하는 비전 카메라 시스템.
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