KR102064695B1 - 불균일 평가 방법 및 불균일 평가 장치 - Google Patents

불균일 평가 방법 및 불균일 평가 장치 Download PDF

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Abstract

표시 패널의 다양한 용도나 사용 방법에 적합한 불균일의 정량 평가를 가능하게 하는 불균일 평가 방법을 제공한다. 표시 패널에 대한 시각 전달 함수 곡선을 표시 패널로부터의 거리별로 복수 상정한 경우에, 복수의 시각 전달 함수 곡선 V 중 표시 패널로부터의 거리가 가까운 근거리 함수 곡선 VS에 있어서의 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 증대되는 부분 αS와, 근거리 함수 곡선 VS에 있어서의 피크의 부분 PS와, 복수의 시각 전달 함수 곡선 V 중 표시 패널로부터의 거리가 먼 원거리 함수 곡선 VL에 있어서의 피크의 부분 PL과, 원거리 함수 곡선 VL에 있어서의 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 감소되는 부분 βL을 거의 통과하는 시각 주파수 특성을 갖는 필터에 의해, 표시 패널의 이차원 휘도 분포 데이터를 필터 처리하고, 필터 처리된 이차원 필터링 데이터에 기초하여 표시 패널의 휘도 불균일의 평가값을 산출한다.

Description

불균일 평가 방법 및 불균일 평가 장치
본 발명은 표시 패널의 불균일을 정량적으로 평가 가능하게 하는 불균일 평가 방법 및 불균일 평가 장치에 관한 것이다.
액정 패널이나 유기 EL 패널 등의 표시 패널에서는, 제조상의 변동에 기인하여 불균일이 발생하고, 종래부터, 이 불균일의 정도를 정량적으로 평가하여, 양품/불량품의 판정이나 그레이딩을 행하고 싶다는 요구가 존재한다.
정량적인 평가를 간단하게 행하기 위해서는, 불균일의 진폭(콘트라스트)으로 평가하는 것이 생각되지만, 이와 같은 방법에서는, 진폭은 크지만 인간의 시각에서는 신경 쓰이지 않는(또는 보이지 않는) 불균일이 있는 표시 패널이 불량품으로 판정되거나, 혹은, 진폭은 작지만 인간의 시각에서는 신경쓰이는(또는 보이는) 불균일이 있는 표시 패널이 양품으로 판정되거나 하는 문제가 있다.
한편, 특허문헌 1에는, 표시 패널(디스플레이)의 휘도 분포 정보를 취득하고, 휘도 분포 정보와 배경 휘도의 차분으로부터 구한 휘도 변화량을 배경 휘도로 제산한 콘트라스트 화상을 생성하고, 콘트라스트 화상을 2차원 푸리에 변환하여 2차원 푸리에 스펙트럼을 구하고, 2차원 푸리에 스펙트럼에 인간의 시각 특성에 준한 시각 전달 함수(콘트라스트 감도 함수)를 승산하여 컨벌루션 파워 스펙트럼을 구하고, 컨벌루션 파워 스펙트럼을 2차원 푸리에 역변환하여 표시 패널의 휘도 불균일을 정량 평가하는 방법이 기재되고, 상기 함수에는, 배경 휘도 의존성 및 화면 사이즈 의존성을 고려하여 Barten의 식이 사용되고 있다.
일본 특허 공개 제2009-180583호 공보
그런데, 표시 패널의 크기나 시인 거리는, 그 용도나 사용 방법에 따라 변하기 때문에, 시각 전달 함수를 하나 사용하여 불균일의 정량 평가를 행해도, 다양한 용도나 사용 방법에 적합한 평가로는 되기 어렵다. 특허문헌 1에서는, 화면 사이즈 의존성이 Barten의 식 중의 계수로 고려되어 있지만, 이것은, 표시 패널의 화면 크기에 따라 상이한 시각 전달 함수(시각 주파수 특성)가 사용되는 것을 의미하고, 동 문헌에 기재된 평가 방법에 의해서는, 다양한 화면 사이즈를 포괄하여 적절하게 정량 평가를 행할 수 있는 것은 아니다.
본 발명은 상기의 사정을 감안하여 이루어진 것이며, 표시 패널의 다양한 용도나 사용 방법에 적합한 불균일의 정량 평가를 가능하게 하는 불균일 평가 방법 및 불균일 평가 장치를 제공하는 것을 과제로 하고 있다.
상기 과제를 해결하기 위해, 본 발명에 관한 불균일 평가 방법은, 표시 패널의 표시 화상을 촬상 수단에 의해 촬상하는 촬상 스텝과, 상기 촬상 수단에 의한 상기 표시 화상의 촬상 화상에 기초하여, 상기 표시 패널의 이차원 휘도 분포 데이터를 산출하는 휘도 분포 데이터 산출 스텝과, 상기 표시 패널에 대한 시각 전달 함수 곡선으로서 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 증대되어 피크에 도달하고 감소되는 것을, 상기 표시 패널로부터의 거리별로 복수 상정한 경우에, 상기 복수의 시각 전달 함수 곡선 중 상기 표시 패널로부터의 거리가 가까운 근거리 함수 곡선에 있어서의 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 증대되는 부분과, 상기 근거리 함수 곡선에 있어서의 피크의 부분과, 상기 복수의 시각 전달 함수 곡선 중 상기 표시 패널로부터의 거리가 먼 원거리 함수 곡선에 있어서의 피크의 부분과, 상기 원거리 함수 곡선에 있어서의 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 감소되는 부분을 거의 통과하는 시각 주파수 특성을 갖는 필터에 의해, 상기 이차원 휘도 분포 데이터를 필터 처리하는 필터 처리 스텝과, 상기 필터에 의해 필터 처리된 이차원 필터링 데이터에 기초하여, 상기 표시 패널의 휘도 불균일의 평가값을 산출하는 평가값 산출 스텝을 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에 관한 불균일 평가 장치는, 표시 패널의 표시 화상을 촬상하는 촬상 수단과, 상기 촬상 수단에 의한 상기 표시 화상의 촬상 화상에 기초하여, 상기 표시 패널의 이차원 휘도 분포 데이터를 산출하는 휘도 분포 데이터 산출 수단과, 상기 표시 패널에 대한 시각 전달 함수 곡선으로서 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 증대되어 피크에 도달하고 감소되는 것을, 상기 표시 패널로부터의 거리별로 복수 상정한 경우에, 상기 복수의 시각 전달 함수 곡선 중 상기 표시 패널로부터의 거리가 가까운 근거리 함수 곡선에 있어서의 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 증대되는 부분과, 상기 근거리 함수 곡선에 있어서의 피크의 부분과, 상기 복수의 시각 전달 함수 곡선 중 상기 표시 패널로부터의 거리가 먼 원거리 함수 곡선에 있어서의 피크의 부분과, 상기 원거리 함수 곡선에 있어서의 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 감소되는 부분을 거의 통과하는 시각 주파수 특성을 갖는 필터에 의해, 상기 이차원 휘도 분포 데이터를 필터 처리하는 필터 처리 수단과, 상기 필터에 의해 필터 처리된 이차원 필터링 데이터에 기초하여, 상기 표시 패널의 휘도 불균일의 평가값을 산출하는 평가값 산출 수단을 갖는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 관한 불균일 평가 방법 및 불균일 평가 장치의 어느 것에 있어서도, 상기 시각 전달 함수 곡선은,
Figure 112018084080496-pct00001
f : 공간 주파수(cycle/degree)
로 표시되는 것이 바람직하고, 상기 필터는, 로우 패스 필터와 하이 패스 필터의 캐스케이드 접속에 의해 구성되는 것이 바람직하다.
본 발명에 관한 불균일 평가 방법 및 불균일 평가 장치에 따르면, 표시 패널에 대한 시각 전달 함수 곡선으로서 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 증대되어 피크에 도달하고 감소되는 것을, 표시 패널로부터의 거리별로 복수 상정한 경우에, 복수의 시각 전달 함수 곡선 중 표시 패널로부터의 거리가 가까운 근거리 함수 곡선에 있어서의 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 증대되는 부분과, 근거리 함수 곡선에 있어서의 피크의 부분과, 복수의 시각 전달 함수 곡선 중 표시 패널로부터의 거리가 먼 원거리 함수 곡선에 있어서의 피크의 부분과, 원거리 함수 곡선에 있어서의 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 감소되는 부분을 거의 통과하는 시각 주파수 특성을 갖는 필터를 사용하여 필터 처리를 행함으로써, 표시 패널을 어떤 거리 범위 내에서 시인한 경우의 인간의 시각 특성에 맞춘 불균일의 평가값을 산출할 수 있어, 표시 패널의 다양한 용도나 사용 방법에 적합한 불균일의 정량 평가가 가능해진다.
또한, 시각 전달 함수 곡선이
Figure 112018084080496-pct00002
f : 공간 주파수(cycle/degree)
로 표시되는 경우에는, 표시 패널의 불균일 평가에서 중요한 저콘트라스트에서의 평가값을 신뢰성이 높은 것으로 할 수 있고(또한, 콘트라스트가 높은 불균일은 평가값을 구할 것도 없이 용이하게 불량으로 판정할 수 있음), 필터가 로우 패스 필터와 하이 패스 필터의 캐스케이드 접속에 의해 구성되는 경우에는, 탭수를 저감시켜 평가에 요하는 계산량을 적게 할 수 있다.
본 발명에 따르면, 표시 패널의 다양한 용도나 사용 방법에 적합한 불균일의 정량 평가가 가능해진다.
도 1은 발명을 실시하기 위한 형태에 관한 불균일 평가 장치를 도시하는 설명도이다.
도 2는 도 1의 불균일 평가 장치에 의한 불균일 평가 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 3은 도 1의 불균일 평가 장치의 얼라인먼트 패턴을 도시하는 설명도이다.
도 4는 도 1의 불균일 평가 장치의 테스트 패턴을 도시하는 설명도이다.
도 5는 도 1의 불균일 평가 장치의 필터 특성을 도시하는 설명도이다.
도 6은 도 5의 필터 특성을 구성하는 로우 패스 필터 및 하이 패스 필터의 특성을 도시하는 설명도이다.
도 7은 도 5의 필터 특성을 구성하는 로우 패스 필터 및 하이 패스 필터의 처리를 도시하는 블록도이다.
도 8은 도 1의 표시 패널의 이차원 휘도 분포 데이터의 예를 나타내는 설명도이다.
도 9는 도 8의 이차원 휘도 분포 데이터를 이차원 필터링 데이터로 변환한 예를 도시하는 설명도이다.
본 발명을 실시하기 위한 형태에 대하여, 도면을 사용하여 설명한다.
도 1은 본 형태에 관한 불균일 평가 장치를 도시한다. 이 불균일 평가 장치(1)는 유기 EL 패널인 표시 패널(2)의 불균일을 정량적으로 평가하는 것이며, 제어부(3), 연산부(4) 및 기억부(5)를 갖는 컴퓨터(6)와, 표시 패널(2)에 소정의 패턴을 표시시키는 패턴 발생 장치(7)와, CCD 등의 고체 촬상 소자를 갖는 카메라 본체(8) 및 포커스 링(9)을 갖는 렌즈(10)를 포함하는 카메라(11)를 구비한다.
도 2에 도시한 바와 같이, 불균일 평가 장치(1)가 표시 패널(2)의 불균일을 평가할 때에는, 먼저, 표시 패널(2)을 카메라(11)의 전방의 소정 위치에 렌즈(10)와 정면으로 대향하도록 세트하고(스텝 1(도 2에 있어서 「S. 1」이라 기재. 이하 마찬가지임)), 포커스 링(9)을 돌려 카메라(11)의 포커스를 표시 패널(2)에 맞춘다(스텝 2).
다음에, 제어부(3)가 패턴 발생 장치(7)에 얼라인먼트 패턴 표시 신호(RGB 신호)를 송출시켜, 도 3에 도시한 얼라인먼트 패턴 PA를 표시 패널(2)에 표시시킨다(스텝 3). 얼라인먼트 패턴 PA는, 표시 패널(2) 상에서 기지의 위치에 있는 특정한 픽셀이 백색(그레이)을 나타냄으로써, 사각 형상의 도트 D가 종횡으로 배열된 것이다. 제어부(3)는 그 얼라인먼트 패턴 PA가 표시된 표시 패널(2)을 카메라(11)에 의해 촬상하고(스텝 4), 카메라(11)의 촬상면 상에 있어서의 얼라인먼트 패턴 PA의 상의 위치를 검출하고(표시 패널(2) 상의 상기 특정한 픽셀이 카메라(11)의 어느 촬상 소자에 대응하는지를 파악하고), 연산부(4)에 의해 표시 패널(2)의 픽셀과 카메라(11)의 촬상 소자의 대응 관계(얼라인먼트)를 구하고, 그 결과를 기억부(5)에 기억시킨다(스텝 5).
계속해서, 제어부(3)는 패턴 발생 장치(7)에 테스트 패턴 표시 신호(RGB 신호)를 송출시켜, 도 4에 도시한 테스트 패턴 PT를 표시 패널(2)에 표시시킨다(스텝 6). 테스트 패턴 PT는, 표시 패널(2)의 전체 픽셀이 소정의 계조로 백색(그레이)을 나타내는 래스터 패턴이다. 제어부(3)는 그 테스트 패턴 PT가 표시된 표시 패널(2)을 카메라(11)에 의해 촬상함과 함께(스텝 7), 연산부(4)에 의해, 예를 들어 일본 특허 공개 제2016-4037호 공보에 기재된 방법에 의해 표시 패널(2)의 픽셀마다의 휘도를 구하고, 이것에 의해 얻어진 표시 패널(2)의 이차원 휘도 분포 데이터를 기억부(5)에 기억시킨다(스텝 8).
이 이차원 휘도 분포 데이터에 대하여, 제어부(3)는 JND 인덱스값으로 변환한다(스텝 9). JND(Just-Noticeable Difference)란, 주어진 관찰 조건 하에서, 평균적 인간 관찰자가 정확히 식별 가능한 주어진 타깃의 (최소의) 휘도차이며, JND 인덱스값이란, 0.05cd/㎡를 인덱스 1로 하여, 다음 인덱스와의 휘도차가 정확히 JND로 되도록 1부터 1023까지 배열한 휘도값이다.
그리고, JND 인덱스값의 이차원 데이터에 대하여, 제어부(3)는 2차원 디지털 필터에 의해 필터 처리를 행하고, 그 결과를 기억부(5)에 기억시킨다(스텝 10). 여기에서 사용하는 필터는, 도 5에 도시한 바와 같이, 표시 패널에 대한 시각 전달 함수 곡선으로서 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 증대되어 피크에 도달하고 감소되는 것을, 표시 패널로부터의 거리별로 복수 상정한 경우에, 복수의 시각 전달 함수 곡선 V 중 표시 패널로부터의 거리가 가까운 근거리 함수 곡선 VS에 있어서의 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 증대되는 부분 αS와, 근거리 함수 곡선에 있어서의 피크의 부분 PS와, 복수의 시각 전달 함수 곡선 V 중 표시 패널로부터의 거리가 먼 원거리 함수 곡선 VL에 있어서의 피크의 부분 PL과, 원거리 함수 곡선에 있어서의 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 감소되는 부분 βL을 거의 통과하는 시각 주파수 특성을 갖고(도 5의 굵은 선 참조), 시각 전달 함수 곡선은, 다음 식으로 표시된다.
Figure 112018084080496-pct00003
f : 공간 주파수(cycle/degree)
또한, 필터는, 도 6에 도시한 특성을 갖는 로우 패스 필터(LPF)와 하이 패스 필터(HPF)가 캐스케이드 접속되어 구성되고, 하이 패스 필터는, 도 7에 도시한 바와 같이, N분의 1배의 다운 샘플링, 로우 패스 필터 및 N배의 업 샘플링의 조합에 의해 구성된다.
그런데, JND 인덱스값의 이차원 데이터를 필터 처리하면, 필터는 직류의 게인이 0으로 되어 있기 때문에, 출력은 0을 중심으로 하여 플러스/마이너스로 변동된 값으로 되며, 이 출력이 표시 패널(2)의 각 부의 불균일의 농도를 나타낸다. 예를 들어 도 8에 도시한 이차원 휘도 분포 데이터를 JND 인덱스값으로 변환한 후에 필터 처리를 행하면, 도 9에 도시한 이차원 필터링 데이터가 얻어진다. 제어부(3)는 연산부(4)에 의해, 이 이차원 필터링 데이터를 연산 처리하여 하나의 평가값(불균일량)을 산출하지만, 여기에서는, 다음 식에 의해, 전체의 RMS값(실효값)을 계산하고(스텝 11), 그것과 미리 정해진 역치의 대소를 비교하여, 표시 패널(2)이 양품인지 불량품인지를 판단한다(스텝 12).
Figure 112018084080496-pct00004
본 형태에 관한 불균일 평가 장치(1)에 의한 불균일 평가 방법에서는, 표시 패널에 대한 시각 전달 함수 곡선으로서 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 증대되어 피크에 도달하고 감소되는 것을, 표시 패널로부터의 거리별로 복수 상정한 경우에, 복수의 시각 전달 함수 곡선 V 중 표시 패널로부터의 거리가 가까운 근거리 함수 곡선 VS에 있어서의 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 증대되는 부분 αS와, 근거리 함수 곡선 VS에 있어서의 피크의 부분 PS와, 복수의 시각 전달 함수 곡선 V 중 표시 패널로부터의 거리가 먼 원거리 함수 곡선 VL에 있어서의 피크의 부분 PL과, 원거리 함수 곡선 VL에 있어서의 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 감소되는 부분 βL을 거의 통과하는 시각 주파수 특성을 갖는 필터를 사용하여 필터 처리를 행함으로써, 표시 패널을 어떤 거리 범위 내에서 시인한 경우의 인간의 시각 특성에 맞춘 불균일의 평가값을 산출할 수 있어, 표시 패널의 다양한 용도나 사용 방법에 적합한 불균일의 정량 평가가 가능해진다.
또한, 시각 전달 함수 곡선이
Figure 112018084080496-pct00005
f : 공간 주파수(cycle/degree)
로 표시되기 때문에, 표시 패널의 불균일 평가에서 중요한 저콘트라스트에서의 평가값을 신뢰성이 높은 것으로 할 수 있고, 필터가 로우 패스 필터와 하이 패스 필터의 캐스케이드 접속에 의해 구성되기 때문에, 탭수를 저감시켜 평가에 요하는 계산량을 적게 할 수 있다. 특히, 본 형태에서는, 하이 패스 필터가 N분의 1배의 다운 샘플링, 로우 패스 필터 및 N배의 업 샘플링의 조합에 의해 구성되어 있으므로, 계산량을 대략 1/N2까지 저감시킬 수 있다.
이상, 본 발명을 실시하기 위한 형태에 대하여 예시하였지만, 본 발명의 실시 형태는 상술한 것에 한정되지 않고, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 적절히 변경하거나 해도 된다.
예를 들어, 표시 패널은 유기 EL 패널에 한정되지 않고, 액정 패널이나 플라즈마 디스플레이(PDP), 혹은, 투영형의 프로젝터 등이어도 된다.
또한, RGB 모두를 점등시킨 백색(그레이)의 래스터 패턴에 대한 불균일을 평가하는 것이 아니라, R만을 점등시킨 적색의 래스터 패턴, G만을 점등시킨 녹색의 래스터 패턴 혹은 B만을 점등시킨 청색의 래스터 패턴에 대한 불균일, 또는, 래스터 패턴 이외의 표시 화상에 대한 불균일을 평가해도 된다.
1 : 불균일 평가 장치
2 : 표시 패널
3 : 제어부
4 : 연산부
5 : 기억부
6 : 컴퓨터(휘도 분포 데이터 산출 수단, 필터 처리 수단, 평가값 산출 수단)
7 : 패턴 발생 장치
8 : 카메라 본체
9 : 포커스 링
10 : 렌즈
11 : 카메라(촬상 수단)
PA : 얼라인먼트 패턴
PT : 테스트 패턴
V : 시각 전달 함수 곡선
VS : 근거리 함수 곡선
αS : 근거리 함수 곡선에 있어서의 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 증대되는 부분
VL : 원거리 함수 곡선
βL : 원거리 함수 곡선에 있어서의 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 감소되는 부분

Claims (6)

  1. 표시 패널의 표시 화상을 촬상 수단에 의해 촬상하는 촬상 스텝과,
    상기 촬상 수단에 의한 상기 표시 화상의 촬상 화상에 기초하여, 상기 표시 패널의 이차원 휘도 분포 데이터를 산출하는 휘도 분포 데이터 산출 스텝과,
    상기 표시 패널에 대한 시각 전달 함수 곡선으로서 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 증대되어 피크에 도달하고 감소되는 것을, 상기 표시 패널로부터의 거리별로 복수 상정한 경우에, 상기 복수의 시각 전달 함수 곡선 중 상기 표시 패널로부터의 거리가 가까운 근거리 함수 곡선에 있어서의 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 증대되는 부분과, 상기 근거리 함수 곡선에 있어서의 피크의 부분과, 상기 복수의 시각 전달 함수 곡선 중 상기 표시 패널로부터의 거리가 먼 원거리 함수 곡선에 있어서의 피크의 부분과, 상기 원거리 함수 곡선에 있어서의 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 감소되는 부분을 통과하는 시각 주파수 특성을 갖는 필터에 의해, 상기 이차원 휘도 분포 데이터를 필터 처리하는 필터 처리 스텝과,
    상기 필터에 의해 필터 처리된 이차원 필터링 데이터에 기초하여, 상기 표시 패널의 휘도 불균일의 평가값을 산출하는 평가값 산출 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 불균일 평가 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 시각 전달 함수 곡선이,
    Figure 112018084080496-pct00006

    f : 공간 주파수(cycle/degree)
    로 표시되는 것을 특징으로 하는 불균일 평가 방법.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 필터가, 로우 패스 필터와 하이 패스 필터의 캐스케이드 접속에 의해 구성되는 것을 특징으로 하는 불균일 평가 방법.
  4. 표시 패널의 표시 화상을 촬상하는 촬상 수단과,
    상기 촬상 수단에 의한 상기 표시 화상의 촬상 화상에 기초하여, 상기 표시 패널의 이차원 휘도 분포 데이터를 산출하는 휘도 분포 데이터 산출 수단과,
    상기 표시 패널에 대한 시각 전달 함수 곡선으로서 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 증대되어 피크에 도달하고 감소되는 것을, 상기 표시 패널로부터의 거리별로 복수 상정한 경우에, 상기 복수의 시각 전달 함수 곡선 중 상기 표시 패널로부터의 거리가 가까운 근거리 함수 곡선에 있어서의 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 증대되는 부분과, 상기 근거리 함수 곡선에 있어서의 피크의 부분과, 상기 복수의 시각 전달 함수 곡선 중 상기 표시 패널로부터의 거리가 먼 원거리 함수 곡선에 있어서의 피크의 부분과, 상기 원거리 함수 곡선에 있어서의 공간 주파수의 증대에 수반하여 인식 감도가 감소되는 부분을 통과하는 시각 주파수 특성을 갖는 필터에 의해, 상기 이차원 휘도 분포 데이터를 필터 처리하는 필터 처리 수단과,
    상기 필터에 의해 필터 처리된 이차원 필터링 데이터에 기초하여, 상기 표시 패널의 휘도 불균일의 평가값을 산출하는 평가값 산출 수단을 갖는 것을 특징으로 하는 불균일 평가 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 시각 전달 함수 곡선이,
    Figure 112018084080496-pct00007

    f : 공간 주파수(cycle/degree)
    로 표시되는 것을 특징으로 하는 불균일 평가 장치.
  6. 제4항 또는 제5항에 있어서,
    상기 필터가, 로우 패스 필터와 하이 패스 필터의 캐스케이드 접속에 의해 구성되는 것을 특징으로 하는 불균일 평가 장치.
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020086409A (ja) * 2018-11-30 2020-06-04 株式会社イクス ムラ補正データ生成方法及びムラ補正データ生成システム
CN109920356B (zh) * 2019-04-30 2022-07-01 北京京东方显示技术有限公司 一种用于评估黑矩阵的阈值曲线的拟合方法、黑矩阵的评估方法
WO2024123603A1 (en) * 2022-12-05 2024-06-13 Google Llc Verification of head-mounted display performance

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009180583A (ja) 2008-01-30 2009-08-13 Fujifilm Corp ディスプレイの輝度ムラ評価方法および装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09153136A (ja) 1995-11-30 1997-06-10 Konica Corp 画像評価方法及び画像評価装置
CN1791231A (zh) * 2004-12-17 2006-06-21 上海永新彩色显像管股份有限公司 彩色显示器件白场均匀性测试方法及***
JP2008241407A (ja) * 2007-03-27 2008-10-09 Mitsubishi Electric Corp 欠陥検出方法及び欠陥検出装置
US20100013750A1 (en) * 2008-07-18 2010-01-21 Sharp Laboratories Of America, Inc. Correction of visible mura distortions in displays using filtered mura reduction and backlight control
JP4681033B2 (ja) * 2008-07-31 2011-05-11 株式会社イクス 画像補正データ生成システム、画像データ生成方法及び画像補正回路
US20110012908A1 (en) * 2009-07-20 2011-01-20 Sharp Laboratories Of America, Inc. System for compensation of differential aging mura of displays
JP6213812B2 (ja) * 2012-07-31 2017-10-18 Tianma Japan株式会社 立体画像表示装置及び立体画像処理方法
US8989488B2 (en) * 2013-01-12 2015-03-24 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd Method for establishing an evaluation standard parameter and method for evaluating the quality of a display image
WO2014136561A1 (ja) * 2013-03-04 2014-09-12 ソニー株式会社 むら検査システム、むら検査方法およびむら検査プログラム

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009180583A (ja) 2008-01-30 2009-08-13 Fujifilm Corp ディスプレイの輝度ムラ評価方法および装置

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