KR101985209B1 - 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓 - Google Patents

동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓 Download PDF

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Abstract

동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓이 제공된다. 제공된 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓은 내측에 개구홀이 형성되고, 상기 개구홀의 인접한 타측에 가이드홈을 갖는 걸림몸체가 체결된 메인브라켓; 상기 개구홀에 체결되며, 검사를 위한 피검사 전자부품이 위치하는 베이스 공간을 제공하는 모듈적재유닛; 상기 메인브라켓의 전, 후방 상부에 슬라이딩 이동가능하게 설치되며, 외면에 가압돌부와 직선부로 이루어진 캠곡선이 형성되고, 내면에 상기 피검사 전자부품에 전원 및 전기신호를 인가하는 도전성핀과 탄성체가 연결되며, 일면에 상기 가이드홈에 삽입, 연결된 가이드핀이 마련된 한 쌍의 플로팅유닛; 상기 메인브라켓의 일측 상부에 슬라이딩 이동가능하게 설치되며, 상기 피검사 전자부품의 어느 한 면을 상기 모듈적재유닛 내에 가압, 고정하는 푸셔유닛; 상기 한 쌍의 플로팅유닛 중 어느 한 플로팅유닛의 상부에 체결되며, 상기 피검사 전자부품의 다른 한 면을 상기 모듈적재유닛 내에 가압, 고정하는 멀티푸셔부재 및 상기 푸셔유닛의 상부에 체결되며, 외부 동력을 전달받아 상기 푸셔유닛에 슬라이딩 이동을 위한 동력을 제공하고, 하부에 한 쌍의 가이드롤러가 구비되어 상기 캠곡선의 가압돌부 및 직선부와 면 접촉을 이루는 구동유닛을 포함하며, 정밀한 컨택동작과 피검사 전자부품이 검사를 위해 안정되게 정 위치로 안내될 수 있도록 한다.

Description

동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓{An electronic component test socket having a multi-pusher function in which a contact operation is performed in a direction perpendicular to the power transmission direction}
본 발명은 전자부품 테스트용 소켓에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 전자부품 테스트 소켓의 구조 개선을 통해 정밀한 컨택동작의 구현, 이미지센서의 교체작업 편의성 향상, 피검사 전자부품의 검사를 위한 안정된 정 위치 안내 및 전자부품과 도전성 핀 간에 정밀한 컨택동작이 구현될 수 있도록 한 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓에 관한 것이다.
사회가 발전함에 따라 태블릿 컴퓨터, 카메라 폰, PDA 및 스마트폰 등의 다양한 소형 멀티미디어 기기들이 개발되고 있으며, 이러한 소형 멀티미디어 기기에 적용되는 화상입력기기용 소형 카메라 모듈의 수요 또한 증가하고 있는 추세이다.
특히, 다양한 소형 멀티미디어 기기들 중 스마트폰은 다양한 기술이 하나로 집약된 대표적인 멀티미디어 기기로써, 소형화된 디자인을 선호하는 소비자의 수요 심리에 맞게 이에 적용되는 부품 모듈들 또한 작은 사이즈가 되도록 개발하는 추세에 있다.
이러한 부품들 중 카메라 모듈은 CCD 나 COMS의 이미지 센서 칩을 이용하여 제조하며, 그 동작관계를 살펴보면 이미지 센서 칩에 렌즈를 통하여 사물을 집광한 후, 광신호를 전기 신호로 변환하여 LCD 디스플레이 장치 등의 디스플레이 매체에 사물이 표시될 수 있도록 영상을 전달한다.
또한, 카메라 모듈은 각 부품의 조립이 완료된 후 OS(Open-Short)테스트, 칼라테스트 및 픽셀테스트 등 모듈의 이상 유무에 대한 검사과정을 거치게 되는데, 모듈의 성능 평가시에는 이미지 센서로부터의 신호를 받아 그 특성을 평가하기 때문에 실제로 카메라 모듈이 장착되는 전자부품과 동일한 작동신호 및 전원을 공급하여 카메라 모듈의 이상 유, 무를 확인한다.
이와 같은 검사는 카메라 모듈이 안착될 수 있는 테스트소켓을 마련하고, 이 테스트소켓 내부에 카메라 모듈을 안착시킨 후, 카메라 모듈의 전원 및 제어신호를 전달하기 위한 프로브핀들을 통전 가능한 상기 테스트소켓의 단자들과 접속하여 테스트를 진행한다.
도 1은 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라 모듈 검사용 자동소켓"을 나타낸 도면이다.
도 1을 참조하면, 대한민국등록특허 제10-1464223호는 상부에 카메라모듈이 안착되는 베이스플레이트를 구비하며, 측면에 회전축을 구비하고, 저면에 승하강 로드를 구비하는 고정몸체부(100); 상기 회전축에 연결되어 상기 회전축과 함께 회전하는 사이드플레이트(150); 및 상기 사이드플레이트에 승하강 가능하게 연결되며, 상기 베이스플레이트에 대응하여 상기 카메라모듈의 상부를 가압하도록 형성되는 가압블럭을 구비하는 회전몸체부(200)를 포함하여 구성된다.
그러나 종래 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라모듈 검사용 자동소켓"은 카메라 모듈의 전원 및 전기신호를 전달하기 위한 단자가 카메라 모듈의 상부 또는 하부에 형성되어 수직방향으로 컨택 동작하는 카메라모듈에는 사용 가능하였으나, 전원 또는 전기신호를 전달하기 위한 단자가 측면방향으로 형성된 카메라모듈에는 사용하지 못하는 문제점이 있었다.
이러한 종래 문제점을 해결하기 위해 피검사 전자부품의 측면에서 컨택 동작이 이루어지는 제품의 개발이 활발히 진행되고 있다.
상기 종래 측면 컨택동작이 이루어지는 테스트 소켓은 피검사 전자부품을 안착대의 내면에 밀착, 고정하는 수단이 상기 피검사 전자부품의 모서리 1점만을 가압하여 피검사 전자부품을 안착대 내에 고정하는 방식으로 이루어져 있다.
그러나 2점 모서리만을 가압하는 방식은 가압하는 힘이 어느 한 점에 치우쳐 상기 피검사 전자부품이 가압하는 힘에 의해 기울어지거나 들어 올려지는 문제가 발생하였으며, 이로 인해 피검사 전자부품이 정 위치에서 이탈하여 컨택동작 에러 발생 및 피검사 전자부품이 카메라 렌즈일 경우 렌즈의 포커싱 에러가 발생하는 문제점이 있었다.
또한, 종래 테스트 소켓은 피검사 전자부품을 테스트 위치로 유도하는 안착대가 피검사 전자부품을 유도하는 과정에서 피검사 전자부품의 2면만을 가이드함으로써, 피검사 전자부품을 테스트 위치에 놓는 과정이 안정되게 구현되지 못함은 물론, 피검사 전자부품의 위치 선정 과정에서 상기 피검사 전자부품이 튕기는 문제점이 있었다.
즉, 종래 테스트 소켓의 안착대는 피검사 전자부품을 안착대의 내면에 밀착, 고정하기 위한 수단의 일부가 피검사 전자부품 측으로 동작할 수 있도록 피검사 전자부품을 안내하는 그 상단 일부가 절개된 형태를 취하고 있기 때문에 그 절개된 부위만큼 피검사 전자부품을 가이드하지 못하기 때문이다.
또한, 종래 테스트 소켓은 이미지센서의 교체작업시 작업자에 따라 이미지 센서의 위치가 달라져 제품의 불량을 초래하는 문제점이 있었다.
즉, 종래 테스트소켓에 구비된 이미지센서는 그 위치가 정확히 구획되지 않은 상태에서 단순히 핀블럭 상에 놓게 되는데, 이때 작업자에 따라 이미지센서의 위치가 달라지며, 작업 미숙자는 상기 이미지센서를 정 위치에 놓지 못하였기 때문이다.
또한, 종래 테스트 소켓은 장기 사용으로 인한 일부 부품 교체시 탈착 분해가 번거로운 문제점이 있었다.
즉, 종래 테스트 소켓은 피검사 전자부품(렌즈)이 놓이는 핀블럭(미도시) 상에 상기 피검사 전자부품의 렌즈 포커싱 검사를 위한 이미지센서가 구비되는데, 상기 이미지센서는 소정기간 사용하면 주기적으로 교체해야 한다. 그러나 종래 테스트 소켓은 이미지센서 교체를 위해 그 주변의 다른 구성요소를 우선적으로 해체해야 했기 때문이다.
대한민국등록특허 제10-1464223호
본 발명은 상술한 종래 문제점을 감안하여 안출한 것으로 그 목적은 전자부품 테스트 소켓의 구조 개선을 통해 피검사 전자부품과 도전성핀 간의 컨택 동작시 별도의 푸셔유닛과 멀티푸셔부재이 상기 피검사 전자부품을 모듈가이드 내에 안정적으로 가압, 고정하여 상기 모듈가이드 내에서 피검사 전자부품 위치를 안정적으로 고정하여 정밀한 컨택동작과 정확한 렌즈 포커싱 검사가 구현될 수 있도록 한 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓을 제공한다.
본 발명의 다른 목적은 이미지센서 교체시 핀블럭 상부에 구비된 가이드보스핀을 통해 상기 이미지센서를 정 위치로 안내하도록 함으로써, 이미지센서의 교체작업을 용이하게 수행함은 물론, 작업 숙련도에 관계없이 누구나 이미지센서를 정 위치에 장착하여 제품 불량을 최소화할 수 있도록 한 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓을 제공한다.
본 발명의 또 다른 목적은 피검사 전자부품이 놓이는 위치를 안내하는 모듈가이드의 구조 개선을 통해 상기 피검사 전자부품이 모듈가이드에 내부로 진입하는 과정에서 상기 모듈가이드가 피검사 전자부품의 양측면 및 전후방면과 면 접촉 상태에서 상기 피검사 전자부품의 안착 위치를 안내함으로써, 피검사 전자부품의 안착 동작을 안정적으로 구현할 수 있도록 한 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓을 제공한다.
본 발명의 또 다른 목적은 피검사 전자부품이 놓이는 모듈가이드의 수용홀 내면에 상기 피검사 전자부품이 안착되는 다수의 걸림편 형성하여 상기 피검사 전자부품의 수직방향 높이가 상시 도전성핀 과의 컨택 위치에 놓일 수 있도록 함으로써, 피검사 전자부품의 수직방향 위치 설정을 용이하게 수행함은 물론, 이를 통해 전자부품과 도전성핀 간에 정밀한 컨택동작이 구현될 수 있도록 한 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓을 제공한다.
본 발명의 다른 목적은 모듈가이드 내의 피검사 전자부품을 고정하기 위한 푸셔유닛의 구조 개선을 통해 상기 푸셔유닛이 상기 모듈가이드의 상방과 겹치지 않도록함으로써, 본 발명의 일부 구성요소(이미지센서) 교체시 상기 푸셔유닛의 해체 없이 단순히 모듈가이드만을 해체하여 용이하게 교체할 수 있도록 함으로써, 작업 편의성을 향상시킬 수 있도록 한 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓을 제공한다.
상기한 과제해결을 위한 본 발명의 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓은 내측에 개구홀이 형성된 메인브라켓; 상기 개구홀에 체결되며, 검사를 위한 피검사 전자부품이 위치하는 베이스 공간을 제공하는 모듈적재유닛; 상기 메인브라켓의 전, 후방 상부에 슬라이딩 이동가능하게 설치되며, 외면에 가압돌부와 직선부로 이루어진 캠곡선이 형성되고, 내면에 상기 피검사 전자부품에 전원 및 전기신호를 인가하는 도전성핀과 탄성체가 연결되는 한 쌍의 플로팅유닛; 상기 한 쌍의 플로팅유닛 중 어느 한 플로팅유닛의 상부에 체결되며, 상기 피검사 전자부품의 어느 한 면을 상기 모듈적재유닛 내에 가압, 고정하는 푸셔유닛; 상기 메인브라켓의 일측 상부에 슬라이딩 이동가능하게 설치되며, 상기 피검사 전자부품의 다른 한 면을 상기 모듈적재유닛 내에 가압, 고정하는 멀티푸셔부재; 및 상기 멀티푸셔부재의 상부에 체결되며, 외부 동력을 전달받아 상기 멀티푸셔부재에 슬라이딩 이동을 위한 동력을 제공하고, 하부에 한 쌍의 가이드롤러가 구비되어 상기 캠곡선의 가압돌부 및 직선부와 면 접촉을 이루는 구동유닛을 포함한다.
본 발명에 있어서, 상기 모듈적재유닛은, 상기 개구홀에 연결되며, 상단 네모서리부에 다수의 가이드보스핀이 돌출형성된 핀블럭; 상기 가이드보스핀의 안내에 따라 상기 핀블럭의 상부에 안착되며, 상기 피검사 전자부품의 렌즈 포커싱 검사를 수행하는 이미지센서; 및 상기 메인브라켓에 체결되며, 상단에 상기 피검사 전자부품이 검사를 위한 정 위치에 놓일 수 있도록 상기 피검사 전자부품의 양측면 및 전후방면과 맞닿아 상기 피검사 전자부품의 위치를 안내하는 위치안내틀이 형성되고, 내측에 상기 개구홀과 연통을 이루는 수용홀이 마련되며, 상기 수용홀의 내면에 상기 피검사 전자부품이 안착되는 다수의 걸림편이 형성되어 상기 피검사 전자부품(N)의 수직방향 높이를 상기 도전성핀과의 컨택 위치에 이르도록 안내하며, 측면에 상기 푸셔유닛과 플로팅유닛의 진, 출입을 위한 절개홀이 마련된 모듈가이드를 포함할 수 있다.
본 발명에 있어서, 상기 푸셔유닛은, 상기 한 쌍의 플로팅유닛 중 어느 한 플로팅유닛의 상단에 구비되어 상기 플로팅유닛의 도전성핀이 피검사 전자부품과 컨택시 상기 피검사 전자부품의 다른 한 면을 상기 모듈적재유닛 내에 가압, 고정하는 밀착편으로 구성될 수 있다.
본 발명에 있어서, 상기 멀티푸셔부재는, 상기 메인브라켓의 일측 상부에 슬라이딩 이동가능하게 설치되며, 상단에 가압편이 구비될 수 있다.
본 발명에 있어서, 상기 메인브라켓에는 상기 개구홀의 인접한 타측에 가이드홈을 갖는 걸림몸체가 체결되며, 상기 플로킹유닛에는 일면에 상기 가이드홈에 삽입, 연결되는 가이드핀이 구비될 수 있다.
본 발명에 의하면, 테스트 소켓의 구조 개선을 통해 피검사 전자부품 검사시 정밀한 컨택동작과 정확한 렌즈 포커싱 검사가 구현할 수 있는 효과가 있다.
또한, 일부 구성요소 교체시 그 구성요소의 장착 위치를 안내하도록 하여 교체작업의 편의성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
또한, 모듈가이드의 구조 개선을 통해 피검사 전자부품의 검사시 상기 피검사 전자부품을 검사를 위한 정 위치로 안내하도록 하여 전자부품과 도전성핀 간에 정밀한 컨택동작이 구현할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라 모듈 검사용 자동소켓"을 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓을 나타낸 사시도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓을 나타낸 분해사시도이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓을 나타낸 평면도이다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓 중 전자부품과 모듈적재유닛 간의 연결관계를 나타낸 분해사시도이다.
도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓의 동작상태를 나타낸 평면도이다
도 7은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓을 나타낸 요부단면도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓을 상세히 설명하기로 한다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓을 나타낸 사시도이고, 도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓을 나타낸 분해사시도이며, 도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓을 나타낸 평면도이다.
도 2 내지 도 4를 참조하면, 본 발명의 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓(100)은 메인브라켓(110), 상기 메인브라켓(110)에 체결된 모듈적재유닛(120), 상기 메인브라켓(110)의 전, 후방 상부에 슬라이딩 이동가능하게 설치된 한 쌍의 플로팅유닛(130), 상기 한 쌍의 플로팅유닛(130) 중 어느 한 플로팅유닛(130)의 상부에 체결된 푸셔유닛(140), 상기 메인브라켓(110)의 일측 상부에 슬라이딩 이동가능하게 설치된 멀티푸셔부재(150), 및 상기 멀티푸셔부재(150)의 상부에 체결된 구동유닛(160)을 포함하여 구성된다.
상기 메인브라켓(110)은, 본 발명의 기본틀 역할을 수행하는 구성수단이다.
상기 메인브라켓(110)은 판상체의 형상으로 그 내측에 개구홀(111)이 마련되고, 상기 개구홀(111)의 인접한 타측에 걸림몸체(113)가 체결되며, 상기 걸림몸체(113)의 전, 후방에는 가이드홈(115)이 마련된다.
한편, 상기 모듈적재유닛(120)은 피검사 전자부품(N)이 검사를 위한 정 위치에 놓일 수 있도록 안내하는 역할을 수행하는 구성수단이다.
상기 모듈적재유닛(120)은, 핀블럭(121), 이미지센서(124) 및 모듈가이드(129)를 포함하여 구성된다.
상기 핀블럭(121)은, 상기 메인브라켓(110)의 개구홀(111)에 삽입, 연결되어 상기 피검사 전자부품(N)이 위치하는 베이스공간을 제공하며, 상단 네 모서리부에 다수의 가이드보스핀(123)이 돌출형성된다.
상기 이미지센서(124)는, 상기 핀블럭(121)의 상부에 안착되며, 전기신호를 통해 상기 피검사 전자부품(N)의 렌즈 포커싱 검사를 수행한다.
이때, 상기 핀블럭(121)에 안착되는 이미지센서(124)는 그 네 모서리부위가 상기 가이드보스핀(123)의 안내에 따라 위치를 설정함으로써, 작업자의 작업숙련도에 관계없이 상기 이미지센서(124)를 용이하게 검사를 위한 정 위치에 놓을 수 있도록 한다.
상기 모듈가이드(129)는, 상기 메인브라켓(110)의 상부에 체결되며, 상단에 위치안내틀(125)이 마련된다.
상기 위치안내틀(125)은 상기 피검사 전자부품(N)이 검사를 위한 정 위치에 놓일 수 있도록 상기 피검사 전자부품(N)의 양측면 및 전후방면과 맞닿아 상기 피검사 전자부품(N)의 위치를 안내하는 역할을 수행한다.
또한, 상기 모듈가이드(129)는 그 내측에 상기 개구홀(111)과 연통을 이루는 수용홀(126)이 마련되며, 상기 수용홀(126)의 내면에 다수의 걸림편(127)이 형성된다.
상기 걸림편(127)은 상기 피검사 전자부품(N)의 수직방향 높이를 상기 도전성핀(134)과의 컨택 위치에 이르도록 안내하는 수단으로, 상기 걸림편(127)에 안착된 피검사 전자부품(N)은 상기 도전성핀(134)과 컨택이 가능한 높이가 된다.
또한, 상기 모듈가이드(129)는 그 측면에 상기 푸셔유닛(140)과 플로팅유닛(130)의 진, 출입을 위한 절개홀(128)이 마련된다.
한편, 상기 한 쌍의 플로팅유닛(130)은 상기 피검사 전자부품(N)에 검사를 위한 전기신호를 인가하기 위한 역할을 수행하는 구성수단이다.
상기 플로팅유닛(130)은, 상기 메인브라켓(110)의 전, 후방 상부에 슬라이딩 이동가능하게 설치되며, 외면에 가압돌부(131)와 직선부(132)로 이루어진 캠곡선(133)이 형성되고, 내면에 상기 피검사 전자부품(N)에 전원 및 전기신호를 인가하는 도전성핀(134)이 마련된다.
이때, 상기 도전성핀(134)은 상기 모듈가이드(129)의 절개홀(128)을 통해 상기 피검사 전자부품(N) 측으로 접근한다.
또한, 상기 도전성핀(134)의 인접한 일측에 상기 가이드홈(115)에 삽입, 연결된 가이드핀(136)이 마련되고, 상기 메인브라켓(110)의 걸림몸체(113)와 플로팅유닛(130) 사이에는 상기 플로팅유닛(130)에 상기 모듈적재유닛(120)이 위치한 반대방향으로 인장탄성력을 제공하는 탄성체(135)가 연결된다.
한편, 상기 푸셔유닛(140)은 검사 과정에서 상기 피검사 전자부품(N)의 어느 한 면을 상기 모듈적재유닛(120) 내에 가압, 고정하기 위한 역할을 수행하는 구성수단이다.
상기 푸셔유닛(140)은, 그 상단에 밀착편(141)이 구비된다. 상기 밀착편(141)은 상기 플로팅유닛(130)의 도전성핀(134)이 피검사 전자부품(N)과 컨택시 상기 피검사 전자부품(N)의 어느 한 외면을 상기 모듈적재유닛(120) 내부로 가압, 고정하여 피검사 전자부품(N)과 도전성핀(134) 간에 정밀한 컨택동작이 구현될 수 있도록 한다.
한편, 상기 멀티푸셔부재(150)는 메인브라켓(110)의 일측 상부에 슬라이딩 가능하게 설치되며, 상기 피검사 전자부품(N)의 다른 한 면을 상기 모듈적재유닛(120) 내에 가압, 고정하기 위한 역할을 수행한다.
상기 멀티푸셔부재(150)는 상단에 가압편(152)이 구비된다. 상기 가압편(152)은 피검사 전자부품(N)과 컨택시 상기 피검사 전자부품(N)의 다른 한 면을 상기 모듈적재유닛(120) 내에 가압, 고정하여 피검사 전자부품(N)과 도전성핀(134) 간에 컨택 동작시 상기 피검사 전자부품(N)을 검사를 위한 정 위치에 견고하게 고정되도록 한다.
한편, 상기 구동유닛(160)은 상기 멀티푸셔부재(150)의 상부에 체결되며, 외부 동력을 전달받아 상기 멀티푸셔부재(150)에 슬라이딩 이동을 위한 동력을 제공하기 위한 역할을 수행한다.
상기 구동유닛(160)은 그 하부에 한 쌍의 가이드롤러(161)가 구비된다.
이에, 상기 구동유닛(160)은 그 동작과정에서 상기 가이드롤러(161)가 상기 캠곡선의 가압돌부(131) 및 직선부(132)와 면 접촉하며, 상기 가이드롤러(161)가 상기 가압돌부(131)와 면 접촉시 상기 플로팅유닛(130)을 상기 피검사 전자부품(N) 측으로 가압하는 동작과정을 수행한다.
상기와 같은 구성수단으로 이루어진 본 발명의 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓은 정밀한 컨택동작의 구현, 이미지센서의 교체작업 편의성 향상, 피검사 전자부품의 검사를 위한 안정된 정 위치 안내 및 전자부품과 도전성 핀 간에 정밀한 컨택동작이 구현될 수 있도록 한 것으로, 이에 따른 동작관계 및 작용효과를 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓 중 전자부품과 모듈적재유닛 간의 연결관계를 나타낸 분해사시도이고, 도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓의 동작상태를 나타낸 평면도이며, 도 7은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓을 나타낸 요부단면도이다.
도 5 내지 도 7을 참조하면, 본 발명의 전자부품 테스트 소켓(100)은 도 5에 도시된 바와 같이 모듈가이드(129)의 수용홀(126)에 피검사 전자부품(N)을 삽입한다.
별도의 그립퍼장치를 이용하여 상기 피검사 전자부품(N)을 수용홀(126)을 통해 모듈가이드(129)에 삽입하면, 상기 피검사 전자부품(N)은 그 양측 외면 및 전,후방 외면이 상기 모듈가이드(129)의 위치안내틀(125)과 맞닿은 상태로 상기 모듈가이드(129) 내부로 삽입된다.
이에, 상기 피검사 전자부품(N)은 상기 위치안내틀(125)을 통해 검사를 위한 정 위치로 안전하게 진입할 수 있게 된다.
이후, 상기 수용홀(126)로 진입한 피검사 전자부품(N)은 다수의 걸림편(127)에 안착된다. 이때, 상기 피검사 전자부품(N)의 수직방향 높이는 상기 도전성핀(134)과의 컨택위치가 된다.
이에, 본 발명은 피검사 전자부품(N)의 수직방향 높이를 상기 걸림편(127)을 통해 용이하게 설정할 수 있도록 한다.
이후, 상기 구동유닛(160)에 외부 동력이 공급되어 상기 피검사 전자부품(N) 측으로 슬라이딩 이동하면, 상기 구동유닛(160)의 가이드롤러(161)는 상기 플로팅유닛(130)의 캠곡선(133) 중 가압돌부(131)를 가압하여 상기 한 쌍의 플로팅유닛(130)이 피검사 전자부품(N) 측으로 슬라이딩 이동한다.
이때, 상기 도전성핀(134)은 모듈가이드(129)의 절개홀(128)을 통해 피검사 전자부품(N) 측으로 이동하여 상기 피검사 전자부품(N)과 컨택동작을 수행함으로써, 상기 피검사 전자부품(N)에 검사를 위한 전기신호를 인가한다.
이 과정에서, 상기 푸셔유닛(140)의 밀착편(141)과 멀티푸셔부재(150)의 가압편(152)은 상기 절개홀(128)을 통해 피검사 전자부품(N) 측으로 이동하여 상기 피검사 전자부품(N)의 어느 한 외면과 다른 한 면을 포함하여 피검사 전자부품(N)의 외면 중 총 2면을 모듈적재유닛(120)의 모듈가이드(129) 내부로 가압, 고정하여 정밀한 컨택동작과 정확한 렌즈 포커싱 검사가 구현될 수 있도록 한다.
이후, 상기 구동유닛(160)이 피검사 전자부품(N)이 위치한 반대 방향으로 슬라이딩 이동하면, 상기 구동유닛(160)의 가이드롤러(161)는 상기 플로팅유닛(130)의 캠곡선(133) 중 직선부(132)와 맞닿게되며, 상기 한 쌍의 플로팅유닛(130)은 탄성체(135)의 탄성력에 의해 상기 피검사 전자부품(N)이 위치한 방향과 반대 방향으로 슬라이딩 이동한다.
이때, 상기 플로팅유닛(130)의 슬라이딩 이동은 가이드홈(115)과 가이드핀(136)의 삽입, 연결 동작에 의해 안내되어 더욱 안정적인 슬라이딩 이동을 구현할 수 있게 된다.
이후, 상기 구동유닛(160)과 플로팅유닛(130)이 피검사 전자부품(N)이 위치한 반대방향으로 슬라이딩 이동하면, 상기 푸셔유닛(140)의 밀착편(141)과 멀티푸셔부재의 가압편(152)은 상기 피검사 전자부품(N)이 위치한 반대방향으로 슬라이딩 이동하여 피검사 전자부품(N)을 모듈가이드(129)에서 빼낼 수 있도록 상기 피검사 전자부품(N)의 가압, 고정상태를 해제한다.
이에, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓은 피검사 전자부품과 도전성핀 간의 컨택 동작시 별도의 푸셔유닛과 멀티푸셔부재이 상기 피검사 전자부품을 모듈가이드 내에 안정적으로 가압, 고정하여 정밀한 컨택동작과 정확한 렌즈 포커싱 검사가 구현될 수 있도록 함은 물론, 이미지센서의 교체작업을 용이하게 수행하고, 모듈적재유닛의 구조개선을 통해 피검사 전자부품이 검사를 위한 정 위치에 안정되게 놓일 수 있도록 한다.
110 : 메인브라켓 111 : 개구홀
113 : 걸림몸체 115 : 가이드홈
120 : 모듈적재유닛 121 : 핀블럭
123 : 가이드보스핀 124 : 이미지센서
125 : 위치안내틀 126 : 수용홀
127 : 걸림편 128 : 절개홀
129 : 모듈가이드 130 : 플로팅유닛
131 : 가압돌부 132 : 직선부
133 : 캠곡선 134 : 도전성핀
135 : 탄성체 136 : 가이드핀
140 : 푸셔유닛 141 : 밀착편
150 : 멀티푸셔부재 152 : 가압편
160 : 구동유닛 161 : 가이드롤러

Claims (5)

  1. 내측에 개구홀이 형성된 메인브라켓;
    상기 개구홀에 체결되며, 검사를 위한 피검사 전자부품이 위치하는 베이스 공간을 제공하는 모듈적재유닛;
    상기 메인브라켓의 전, 후방 상부에 슬라이딩 이동가능하게 설치되며, 외면에 가압돌부와 직선부로 이루어진 캠곡선이 형성되고, 내면에 상기 피검사 전자부품에 전원 및 전기신호를 인가하는 도전성핀과 탄성체가 연결되는 한 쌍의 플로팅유닛;
    상기 한 쌍의 플로팅유닛 중 어느 한 플로팅유닛의 상부에 체결되며, 상기 피검사 전자부품의 어느 한 면을 상기 모듈적재유닛 내에 가압, 고정하는 푸셔유닛;
    상기 메인브라켓의 일측 상부에 슬라이딩 이동가능하게 설치되며, 상기 피검사 전자부품의 다른 한 면을 상기 모듈적재유닛 내에 가압, 고정하는 멀티푸셔부재; 및
    상기 멀티푸셔부재의 상부에 체결되며, 외부 동력을 전달받아 상기 멀티푸셔부재에 슬라이딩 이동을 위한 동력을 제공하고, 하부에 한 쌍의 가이드롤러가 구비되어 상기 캠곡선의 가압돌부 및 직선부와 면 접촉을 이루는 구동유닛을 포함하며,
    상기 모듈적재유닛은,
    상기 개구홀에 연결되며, 상단 네모서리부에 다수의 가이드보스핀이 돌출형성된 핀블럭;
    상기 가이드보스핀의 안내에 따라 상기 핀블럭의 상부에 안착되며, 상기 피검사 전자부품의 렌즈 포커싱 검사를 수행하는 이미지센서 및
    상기 메인브라켓에 체결되며, 상단에 상기 피검사 전자부품이 검사를 위한 정 위치에 놓일 수 있도록 상기 피검사 전자부품의 양측면 및 전후방면과 맞닿아 상기 피검사 전자부품의 위치를 안내하는 위치안내틀이 형성되고, 내측에 상기 개구홀과 연통을 이루는 수용홀이 마련되며, 상기 수용홀의 내면에 상기 피검사 전자부품이 안착되는 다수의 걸림편이 형성되어 상기 피검사 전자부품(N)의 수직방향 높이를 상기 도전성핀과의 컨택 위치에 이르도록 안내하며, 측면에 상기 푸셔유닛과 플로팅유닛의 진, 출입을 위한 절개홀이 마련된 모듈가이드를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서,
    상기 푸셔유닛은,
    상기 한 쌍의 플로팅유닛 중 어느 한 플로팅유닛의 상단에 구비되어 상기 플로팅유닛의 도전성핀이 피검사 전자부품과 컨택시 상기 피검사 전자부품의 다른 한 면을 상기 모듈적재유닛 내에 가압, 고정하는 밀착편으로 구성된 것을 특징으로 하는 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔 기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 멀티푸셔부재는,
    상기 메인브라켓의 일측 상부에 슬라이딩 이동가능하게 설치되며, 상단에 가압편이 구비된 것을 특징으로 하는 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 메인브라켓에는 상기 개구홀의 인접한 타측에 가이드홈을 갖는 걸림몸체가 체결되며,
    상기 플로팅유닛에는 일면에 상기 가이드홈에 삽입, 연결되는 가이드핀이 마련되는 것을 특징으로 하는 동력전달방향과 직각 방향으로 컨택 동작이 이루어지는 멀티 푸셔기능을 갖는 전자부품 테스트 소켓.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102497496B1 (ko) * 2022-11-14 2023-02-08 투스템 주식회사 사이드 블록과 플로팅이 일체로 구성되는 모듈 테스트용 소켓

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101464223B1 (ko) 2014-08-20 2014-11-25 프라임텍 주식회사 카메라 모듈 검사용 자동 소켓
KR101584970B1 (ko) * 2015-05-06 2016-01-14 (주) 네스텍코리아 전자부품 테스트용 소켓
KR101673375B1 (ko) * 2015-07-07 2016-11-09 디플러스(주) 모듈 테스트 소켓
KR101776797B1 (ko) * 2017-05-19 2017-09-12 신승무 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓
KR101804866B1 (ko) * 2016-09-27 2017-12-06 (주) 네스텍코리아 양방향 고정 기능을 갖는 카메라모듈 조립용 그립퍼장치

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101464223B1 (ko) 2014-08-20 2014-11-25 프라임텍 주식회사 카메라 모듈 검사용 자동 소켓
KR101584970B1 (ko) * 2015-05-06 2016-01-14 (주) 네스텍코리아 전자부품 테스트용 소켓
KR101673375B1 (ko) * 2015-07-07 2016-11-09 디플러스(주) 모듈 테스트 소켓
KR101804866B1 (ko) * 2016-09-27 2017-12-06 (주) 네스텍코리아 양방향 고정 기능을 갖는 카메라모듈 조립용 그립퍼장치
KR101776797B1 (ko) * 2017-05-19 2017-09-12 신승무 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102497496B1 (ko) * 2022-11-14 2023-02-08 투스템 주식회사 사이드 블록과 플로팅이 일체로 구성되는 모듈 테스트용 소켓

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