KR101855249B1 - 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓 - Google Patents

Abstract

수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓이 제공된다. 제공된 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓은 내측에 피검사 전자부품이 놓이는 안착대가 구비되며, 상기 안착대의 양측에 접속홀이 마련된 본체블록; 상기 안착대의 인접한 양측에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 상기 접속홀을 통해 피검사 전자부품의 양측으로 접근하여 전기신호를 인가할 수 있도록 일면에 상기 피검사 전자부품과 컨택 동작을 이루는 도전성 핀이 구비되고, 타측면에 상기 도전성 핀을 피검사 전자부품 측으로 안내하는 유도부재가 마련된 플로팅블록; 상기 본체블록의 상부에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 내측에 절개홈이 마련되고, 하부 양측에 상기 유도부재와 맞닿는 밀착롤러가 자유회전 가능하게 연결된 가압블록 및 상기 본체블록의 상부에 설치되며, 한 쌍의 플로팅블록 사이에서 컨택 동작을 위해 수평방향으로 이동하는 플로팅블록의 이동거리를 제한하는 멈춤블록으로 구성되어 제품 생산비용을 절감 및 제품의 내구성을 향상은 물론, 동작과정에서 구성요소 간의 마찰을 최소화하여 부품 마모로 인한 오동작을 최소화한다.

Description

수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓{Test socket for an electronic component having a horizontal side connection function}

본 발명은 전자부품용 테스트 소켓에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 전자부품용 테스트소켓의 구조 개선을 통해 구성요소 및 동작구조의 단순화를 통해 제품 생산비용을 절감 및 제품의 내구성 향상은 물론, 구성요소 간의 동작과정에서 마찰을 최소화하여 원활한 가압동작 및 동작과정에서 구성요소 간의 마찰로 인한 마모현상을 최소화할 수 있도록 한 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓에 관한 것이다.

사회가 발전함에 따라 테블릿 컴퓨터, 카메라 폰, PDA 및 스마트 폰 등의 다양한 소형 멀티미디어 기기들이 활발하게 출시되고 있으며, 이러한 소형 멀티미디어 기기에 적용되는 화상입력기기용 소형 카메라 모듈의 수요 또한 증가하고 있는 추세이다.

특히, 다양한 소형 멀티미디어 기기들 중 스마트 폰은 다양한 기술이 하나로 집약된 대표적인 멀티미디어 기기로써, 소형화된 디자인을 선호하는 소비자의 수요 심리에 맞게 이에 적용되는 부품 모듈들 또한 작은 사이즈가 되도록 개발하는 추세에 있다.

이러한 부품들 중 카메라 모듈은 CCD나 CMOS의 이미지 센서 칩을 이용하여 제조하며, 그 동작관계를 살펴보면 이미지 센서 칩에 렌즈를 통하여 사물을 집광한 후, 광 신호를 전기 신호로 변환하여 LCD 디스플레이 장치 등의 디스플레이 매체에 사물이 표시될수 있도록 영상을 전달한다.

또한, 카메라 모듈은 각 부품의 조립이 완료된 후 OS(Open-Short)테스트, 칼라테스트 및 픽셀테스트 등 모듈의 이상 유무에 대한 검사과정을 거치게 되는데, 모듈의 성능 평가 시에는 이미지 센서로부터의 신호를 받아 그 특성을 평가하기 때문에 실제로 카메라 모듈이 장착되는 전자부품과 동일한 작동신호 및 전원을 공급하여 카메라 모듈의 이상유무를 체크한다.

이와 같은 검사는 카메라 모듈이 안착될 수 있는 소켓을 마련하고, 이 소켓 내부에 카메라 모듈을 안착시킨 후, 카메라 모듈의 전원 및 제어신호를 전달 받기 위한 프로브핀들을 통전 가능한 상기 소켓의 단자들과 연결하여 테스트를 진행한다.

도 1은 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라 모듈 검사용 자동 소켓"을 나타낸 도면이다.

도 1을 참조하면, 대한민국등록특허 제10-1464223호는 상부에 카메라모듈이 안착되는 베이스플레이트를 구비하며, 측면에 회전축을 구비하고, 저면에 승하강 로드를 구비하는 고정몸체부(10); 상기 회전축에 연결되어 상기 회전축과 함께 회전하는 사이드플레이트(15); 및 상기 사이드플레이트에 승하강 가능하게 연결되며, 상기 베이스플레이트에 대응하여 상기 카메라모듈의 상부를 가압하도록 형성되는 가압블럭을 구비하는 회전몸체부(20);를 포함하여 구성된다.

그러나 종래 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라모듈 검사용 자동 소켓"은 카메라 모듈의 전원 및 전기신호를 전달하기 위한 단자가 카메라 모듈의 상부 또는 하부에 형성되어 수직방향으로 컨택 동작하는 카메라 모듈에는 사용 가능하였으나, 전원 또는 전기신호를 전달하기 위한 단자가 측면방향으로 형성된 카메라 모듈에는 사용하지 못하는 문제점이 있었다.

또한, 이러한 종래 문제점을 개선하기 위한 테스트 소켓들은 구조가 복잡하여 높은 제품 생산비용이 소요됨은 물론, 복잡한 동작구조로 인해 제품의 내구성이 저하되는 구조적 문제점이 발생하였다.

대한민국등록특허 제10-1464223호

본 발명은 상술한 종래 문제점을 감안하여 안출한 것으로, 그 목적은 전자부품용 테스트소켓의 구조 개선을 통해 가압블록의 단순 동작에 의해 피검사 전자부품과 도전성 핀 간의 컨택 동작이 이루어지도록 함으로써, 구조 단순화를 통한 제품 생산비용을 절감 및 제품의 내구성을 향상시킬 수 있도록 한 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 제공한다.

본 발명의 다른 목적은 플로팅블록을 피검사 전자부품 측으로 가압하는 밀착롤러를 자유회전 가능하게 구성하여 유도부재의 돌출부위면 접촉시 회전운동하도록 함으로써, 상기 밀착롤러와 유도부재 간의 마찰을 최소화하여 원활한 가압동작 및 동작과정에서 구성요소 간의 마찰로 인한 마모현상을 최소화할 수 있도록 한 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 제공한다.

본 발명의 또 다른 목적은 피검사 전자부품과 도전성 핀 간의 컨택 동작 과정에서 상기 피검사 전자부품을 안착대 내부에 견고하게 밀착, 고정함으로써, 정확한 검사동작이 이루어질 수 있도록 한 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 제공한다.

상기한 과제해결을 위한 본 발명은 내측에 피검사 전자부품이 놓이는 안착대가 구비되며, 상기 안착대의 양측에 접속홀이 마련된 본체블록; 상기 안착대의 인접한 양측에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 상기 접속홀을 통해 피검사 전자부품의 양측으로 접근하여 전기신호를 인가할 수 있도록 일면에 상기 피검사 전자부품과 컨택 동작을 이루는 도전성 핀이 구비되고, 타측면에 상기 도전성 핀을 피검사 전자부품 측으로 안내하는 유도부재가 마련된 플로팅블록; 상기 본체블록의 상부에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 내측에 절개홈이 마련되고, 하부 양측에 상기 유도부재와 맞닿는 밀착롤러가 자유회전 가능하게 연결된 가압블록 및 상기 본체블록의 상부에 설치되며, 한 쌍의 플로팅블록 사이에서 컨택 동작을 위해 수평방향으로 이동하는 플로팅블록의 이동거리를 제한하는 멈춤블록으로 구성된다.

본 발명에 의하면, 상기 유도부재는, 상기 밀착롤러가 전, 후방향으로 이동하는 과정에서 상기 밀착롤러에 의해 가압될 수 있도록 상기 안착대의 반대방향으로 돌출된 돌출부로 구성될 수 있다.

본 발명에 의하면, 상기 본체블록과 플로팅블록 및 상기 본체블록과 가압블록 사이에는 상기 플로팅블록과 가압블록이 원활하게 동작할 수 있도록 안내하는 가이드블록이 더 설치되며,

상기 가이드블록은, 상기 본체블록에 설치된 가이드레일 및 상기 가이드레일에 슬라이딩 이동가능하게 결합된 이송부재를 포함하여 구성될 수 있다.

본 발명에 의하면, 상기 플로팅블록과 본체블록 사이에는 상기 플로팅블록이 피검사 전자부품과 멀어지도록 탄성력을 제공하는 탄성체가 개재될 수 있다.

본 발명에 의하면, 상기 가이드블록과 가압블록 사이에는 피검사 전자부품과 도전성 핀 간의 컨택 동작시 상기 피검사 전자부품을 안착대의 내면에 밀착, 고정하기 위한 고정유닛이 더 구비되며, 상기 고정유닛은, 상기 가이드블록과 가압블록 사이에 결속된 고정편; 상기 고정편에 힌지회전 가능하게 연결되며, 상기 피검사 전자부품의 모서리를 안착대의 내면 측으로 가압하는 쐐기형 힌지회전구 및 상기 고정편과 힌지회전구 사이에 개재되어 상기 힌지회전구에 탄성력을 제공하는 탄성스프링으로 구성될 수 있다.

본 발명에 의하면, 전체적인 구조 단순화를 통해 제품 생산비용을 절감 및 제품의 내구성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

또한, 동작과정에서 구성요소 간의 마찰을 최소화하여 부품 마모로 인한 오동작을 최소화할 수 있는 효과가 있다.

또한, 테스트 과정에서 전자부품과 도전성 핀 간에 정확한 검사동작이 이루어질 수 있는 효과가 있다.

도 1은 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라 모듈 검사용 자동 소켓"을 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 나타낸 분해사시도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓 중 가압블록을 나타낸 저면사시도이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 나타낸 평면도이다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓의 컨택 동작을 나타낸 평면도이다.
도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓의 컨택 해제동작을 나타낸 평면도이다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 상세히 설명하기로 한다.

도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 나타낸 분해사시도이고, 도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓 중 가압블록을 나타낸 저면사시도이다.

도 2 및 도 3을 참조하면, 본 발명의 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓(100)은 본체블록(110)과, 상기 본체블록(110)에 수평방향 이동가능하게 설치된 플로팅블록(120)과 가압블록(130) 및 상기 본체블록(110)의 상부에 설치된 멈춤블록(140)을 포함하여 구성된다.

상기 본체블록(110)은 본 발명의 구성요소들 결속하기 위한 기본 틀 역할을 수행하는 구성수단이다.

상기 본체블록(110)은 그 내측에 피검사 전자부품(N)이 놓이는 안착대(111)가 구비되며, 상기 안착대(111)의 양측에 양방향으로 개구된 접속홀(113)이 마련된다.

한편, 상기 플로팅블록(120)은 상기 안착대(111)에 놓인 피검사 전자부품(N)에 테스트를 위한 전기신호를 인가하는 역할을 수행하는 구성수단이다.

상기 플로팅블록(120)은 상기 안착대(111)의 인접한 양측에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 일면에 상기 피검사 전자부품(N)과 컨택 동작을 이루는 도전성 핀(121)이 구비되며, 타측면에 상기 도전성핀(121)을 피검사 전자부품(N) 측으로 안내하는 유도부재(123)가 마련된다.

이에, 상기 도전성핀(121)은 상기 접속홀(113)을 통해 피검사 전자부품(N)의 양측으로 접근하여 피검사 전자부품(N)에 전기신호를 인가한다.

상기 플로팅블록(120)과 본체블록(110) 사이에는 탄성체(127)가 개재된다. 상기 탄성체(127)는 상기 플로팅블록(120)에 상기 피검사 전자부품(N)과 멀어지도록 탄성력을 제공한다.

한편, 상기 가압블록(130)은 상기 플로팅블록(120)이 피검사 전자부품(N) 측으로 이동하는데 필요한 동력을 제공하기 위한 역할을 수행하는 구성수단이다.

상기 가압블록(130)은 상기 본체블록(110)의 상부에서 상기 플로팅블록(120)과 직교되게 수평방향 이동가능하게 설치되며, 내측에 절개홈(131)이 마련되고, 하부 양측에 밀착롤러(133)가 자유회전 가능하게 연결된다.

상기 밀착롤러(133)는 상기 유도부재(123)와 맞닿게 된다. 또한, 상기 유도부재(123)는 상기 밀착롤러(133)가 전, 후방향으로 이동하는 과정에서 상기 밀착롤러(133)에 의해 가압될 수 있도록 상기 안착대(111)의 반대방향으로 돌출된 돌출부로 구성된다.

여기서, 상기 가압블록(130)의 수평방향 이동은 수평방향 구동력을 발생하는 수단에 의해 구현되며, 상기 수평방향 구동력을 발생하는 수단은 유, 공압 실린더와 같이 수평방향 왕복 동작을 하는 구성이면 어떠한 것이든 적용 가능하다.

또한, 상기 본체블록(110)과 플로팅블록(120) 및 상기 본체블록(110)과 가압블록(130) 사이에는 상기 플로팅블록(120)과 가압블록(130)이 원활하게 동작할 수 있도록 안내하기 위한 가이드블록(150)이 더 설치된다.

상기 가이드블록(150)은 상기 본체블록(110)에 가이드레일(151)이 설치되고, 상기 가이드레일(151)에 이송부재(153)가 슬라이딩 이동가능하게 결합된다. 이에, 상기 플로팅블록(120)과 가압블록(130)은 상기 이송부재(153)에 체결된다.

상기 멈춤블록(140)은 상기 피검사 전자부품(N) 측으로 접근하는 플로팅블록(120)의 이동거리를 제한하기 위한 역할을 수행하는 구성수단이다.

상기 멈춤블록(140)은 상기 본체블록(110)의 상부에 설치되며, 한 쌍의 플로팅블록(120) 사이에서 컨택 동작을 위해 수평방향으로 이동하는 플로팅블록의 이동거리를 제한한다.

한편, 상기 가이드블록(150)과 가압블록(130) 사이에는 피검사 전자부품(N)과 도전성 핀(121) 간의 컨택 동작시 상기 피검사 전자부품(N)을 안착대(111)의 내면에 밀착, 고정하기 위한 고정유닛(160)이 더 구비된다.

상기 고정유닛(160)은 상기 가이드블록(150)과 가압블록(130) 사이에 고정편(161)이 결속되고, 상기 고정편(161)에 쐐기형 힌지회전구(163)가 힌지회전가능하게 연결되며, 상기 고정편(161)과 힌지회전구(163) 사이에 상기 쐐기형 힌지회전구(163)에 탄성력을 제공하기 위한 탄성스프링(165)이 개재된다.

이에, 컨택 동작시 상기 피검사 전자부품(N)의 모서리를 상기 쐐기형 힌지회전구(163)가 안착대(111)의 내면 측으로 가압하여 피검사 전자부품(N)과 전도성 핀(121) 간에 정확한 컨택 동작이 이루어질 수 있도록 한다.

상기와 같은 결합구성으로 이루어진 본 발명의 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓은 구조 단순화를 통한 제품 생산비용을 절감 및 제품의 내구성을 향상은 물론, 구성요소 간에 발생할 수 있는 마모현상을 최소화할 수 있도록 한 것으로, 이에 따른 동작관계 및 작용효과를 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.

도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 나타낸 평면도이고, 도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓의 컨택 동작을 나타낸 평면도이며, 도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓의 컨택 해제동작을 나타낸 평면도이다.

도 4 내지 도 6을 참조하면, 상기 안착대(111)에 피검사 전자부품(N)을 놓은 후, 상기 가압블록(130)을 후방으로 슬라이딩 이동한다.

이때, 상기 가압블록(130)은 상기 본체블록(110)과 가압블록(130) 사이에 설치된 가이드블록(150)에 의해 원활하게 슬라이딩 이동한다.

또한, 상기 고정유닛(160)은 가압블록(130)과 함께 전자부품(N) 측으로 이동하여 상기 쐐기형 힌지회전구(163)의 단부가 상기 안착대(111)에 놓인 피검사 전자부품(N)의 모서리를 안착대(111)의 내면 측으로 가압, 고정한다.

이에, 상기 고정유닛(160)은 상기 피검사 전자부품(N)과 도전성 핀(121) 간의 컨택 동작이 정확하게 이루어질 수 있도록 한다.

이후, 상기 가압블록(130)을 후방으로 슬라이딩 이동하면, 상기 가압블록(130)의 밀착롤러(133)는 플로팅블록(120)에 마련된 유도부재(123)를 가압하여 상기 플로팅블록(120)이 전자부품(N) 측으로 이동한다.

이때, 상기 플로팅블록(120)은 상기 본체블록(110)과 플로팅블록(120) 사이에 설치된 가이드블록(150)에 의해 원활하게 슬라이딩 이동한다.

이후, 상기 플로팅블록(120)이 전자부품(N) 측으로 이동하면, 상기 도전성 핀(121)은 안착대(111)의 접속홀(113)을 통해 피검사 전자부품(N)의 양측으로 접근하여 전자부품(N)과 컨택 동작이 이루어진다.

이때, 상기 멈춤블록(140)은 상기 전자부품(N)과 도전성 핀(121) 간에 정확한 컨택 동작이 이루어졌을 때 상기 플로팅블록(120)이 더는 전자부품(N) 측으로 이동하지 못하도록 이동거리를 제한한다. 이에, 상기 멈춤블록(140)은 전자부품(N)과 도전성 핀(121) 간의 컨택 동작 과정에서 전자부품(N) 측으로 과도한 힘이 전달되는 것을 미연에 방지함은 물론, 테스트 과정에서 전자부품(N)의 파손을 방지한다.

도 6을 참조하면, 상기 가압블록(130)을 전방으로 슬라이딩 이동하면, 상기 가압블록(130)의 밀착롤러(133)는 유도부재(123)가 형성된 구간에서 이탈하여 상기 가압블록(130)이 더 이상 플로팅블록(120)을 가압하지 않는 상태가 된다.

이에, 상기 플로팅블록(120)은 상기 플로팅블록(120)과 본체블록(110) 사이에 개재된 탄성체(127)의 탄성력에 의해 초기 위치로 복귀한다.

이러한 동작과정을 구현하는 본 발명은 전체적인 구조 단순화를 통해 제품 생산비용을 절감 및 제품의 내구성을 향상은 물론, 동작과정에서 구성요소 간의 마찰을 최소화하여 부품 마모로 인한 오동작을 최소화하며, 테스트 과정에서 전자부품과 도전성 핀 간에 정확한 검사동작이 이루어질 수 있도록 한다.

110 : 본체블록 111 : 안착대
113 : 접속홀 120 : 플로팅블록
121 : 도전성핀 123 : 유도부재
127 : 탄성체 130 : 가압블록
131 : 절개홈 133 : 밀착롤러
140 : 멈춤블록 150 : 가이드블록
151 : 가이드레일 153 : 이송부재
160 : 고정유닛 161 : 고정편
163 : 쐐기형 힌지회전구 165 : 탄성스프링

Claims (5)

1. 내측에 피검사 전자부품이 놓이는 안착대가 구비되며, 상기 안착대의 양측에 접속홀이 마련된 본체블록;
   상기 안착대의 인접한 양측에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 일면에 도전성핀이 구비되어 상기 접속홀을 통해 피검사 전자부품의 양측으로 접근하여 상기 피검사 전자부품과 컨택 동작을 이루는 도전성 핀이 구비되고, 타측면에 상기 도전성 핀을 피검사 전자부품 측으로 안내하는 유도부재가 마련된 플로팅블록;
   상기 본체블록의 상부에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 내측에 절개홈이 마련되고, 하부 양측에 상기 유도부재와 맞닿는 밀착롤러가 자유회전 가능하게 연결된 가압블록; 및
   상기 본체블록과 플로팅블록 및 상기 본체블록과 가압블록 사이에는 상기 플로팅블록과 가압블록이 원활하게 동작할 수 있도록 안내하는 가이드블록을 포함하되, 상기 가이드블록은, 상기 본체블록에 설치된 가이드레일 및 상기 가이드레일에 슬라이딩 이동가능하게 결합된 이송부재를 포함하는 것을 특징으로 하며,
   상기 가이드블록과 가압블록 사이에는 피검사 전자부품과 도전성 핀 간의 컨택 동작시 상기 피검사 전자부품을 안착대의 내면에 밀착, 고정하기 위한 고정유닛이 더 구비되며,
   상기 고정유닛은,
   상기 가이드블록과 가압블록 사이에 결속된 고정편;
   상기 고정편에 힌지회전 가능하게 연결되며, 상기 피검사 전자부품의 모서리를 안착대의 내면 측으로 가압하는 쐐기형 힌지회전구; 및
   상기 고정편과 힌지회전구 사이에 개재되어 상기 힌지회전구에 탄성력을 제공하는 탄성스프링으로 구성된 것을 특징으로 하는 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓.
2. 제1항에 있어서,
   상기 유도부재는,
   상기 밀착롤러가 전, 후방향으로 이동하는 과정에서 상기 밀착롤러에 의해 가압될 수 있도록 상기 안착대의 반대방향으로 돌출된 돌출부로 구성된 것을 특징으로 하는 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓.
3. 제1항에 있어서,
   상기 본체블록의 상부에 설치되며, 한 쌍의 플로팅블록 사이에서 컨택 동작을 위해 수평방향으로 이동하는 플로팅블록의 이동거리를 제한하는 멈춤블록을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓.
4. 제1항에 있어서,
   상기 플로팅블록과 본체블록 사이에는 상기 플로팅블록이 피검사 전자부품과 멀어지도록 탄성력을 제공하는 탄성체가 개재된 것을 특징으로 하는 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓.
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