KR101485425B1 - Cover-glass Analysis Apparatus - Google Patents

Cover-glass Analysis Apparatus Download PDF

Info

Publication number
KR101485425B1
KR101485425B1 KR1020130106282A KR20130106282A KR101485425B1 KR 101485425 B1 KR101485425 B1 KR 101485425B1 KR 1020130106282 A KR1020130106282 A KR 1020130106282A KR 20130106282 A KR20130106282 A KR 20130106282A KR 101485425 B1 KR101485425 B1 KR 101485425B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
cover glass
illumination
light
optical sensor
parallel
Prior art date
Application number
KR1020130106282A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
강정근
이창훈
Original Assignee
주식회사 엠티엠
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 엠티엠 filed Critical 주식회사 엠티엠
Priority to KR1020130106282A priority Critical patent/KR101485425B1/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101485425B1 publication Critical patent/KR101485425B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing

Abstract

The present invention relates to a cover glass analyzing device and, more specifically, to a cover glass analyzing device capable of more reliably detecting a fault by emitting light at various angles in regard to an automated test process of a cover glass for display by using lighting and camera determination. According to the present invention, the cover glass analyzing device includes a parallel transfer unit transferring the cover glass, an optical sensor fixed on an upper part of the parallel transfer unit and photographing the moving cover glass, and one or multiple rotary lights radiating light to the cover glass while rotating.

Description

커버 글라스 분석 장치{Cover-glass Analysis Apparatus}{Cover-glass Analysis Apparatus}

본 발명은 커버 글라스의 분석 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 조명 및 카메라 판정을 이용한 디스플레이용 커버 글라스의 자동화 검사 공정에 있어서, 다양한 각도로의 조명 조사가 가능하여 보다 신뢰성 높은 결함 검출이 가능한 커버 글라스 분석 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a cover glass analysis apparatus, and more particularly, to a cover glass analysis apparatus which can illuminate various angles in an automatic inspection process of a cover glass for display using illumination and camera judgment, To a glass analyzer.

LCD 디스플레이, OLED 디스플레이 등의 디스플레이 장치에는 해당 디스플레이를 보호하기 위한 커버 글라스가 장착된다. 일반적으로, 이러한 커버 글라스는 용융 제조공정을 거쳐 완성되는데 이렇게 완성된 커버 글라스는 검사 공정에 보내져서 미세한 상처나 이물 등의 결함의 유무에 대한 검사를 거치게 된다. 최근 소형의 디스플레이가 필수적으로 장착되는 스마트 폰이나 태블릿 피씨 등의 휴대용 디지털 기기에 대한 관심이 급증하였는데, 이러한 휴대용 디지털 기기의 폭발적인 보급으로 인하여 커버 글라스 검사 공정 및 장치에 대한 관심도 더욱 증가하고 있다. 특히 휴대용 디지털 기기의 경우 일반적인 사용 태양에 있어서, 사용자의 육안과 기기와의 거리가 매우 근접하게 되므로 커버 글라스의 결함 여부가 해당 기기의 품질에 직접적인 영향을 미치게 되므로 그 분석 공정은 더욱 중요하게 되었다.Display devices such as an LCD display and an OLED display are equipped with a cover glass for protecting the display. Generally, such a cover glass is completed through a melting process. The completed cover glass is sent to an inspection process, and is inspected for defects such as fine scratches and foreign matter. Recently, interest in portable digital devices such as smart phones and tablet PCs, in which small-sized displays are essentially installed, has surged, and due to the explosive spread of such portable digital devices, interest in the cover glass inspection process and devices is increasing. Particularly, in the case of a portable digital device, since the distance between the user's eyes and the device is very close to that of a user in general use, a defect in the cover glass directly affects the quality of the device.

이러한 커버 글라스의 분석 공정에 사용되는 장치는, 이송용 롤러 상에 수평으로 커버 글라스를 적재하고, 이송용 롤러로 커버 글라스를 수평으로 이동시키면서 커버 글라스에 광원을 조사하고, 그 통과 내지 반사되어 나오는 광을 이미지 센서, 즉 카메라로 감지하여 컴퓨터로 분석하는 것으로 커버 글라스의 결함을 자동으로 검출하는 방법이 이용되고 있다. 예를 들어, 대한민국 공개특허 제10-2007-0121820호, 미국 등록특허 제7551274호 등의 종래 기술에서는 이와 같은 방식의 분석 공정 및 장치가 개시되고 있다. 그러나 이러한 종래 기술은 분석 정확도가 떨어져 결함 검출에 한계가 있다는 문제점이 있으며 특히, 더 높은 분석 정확도가 요구되는 스마트 폰용 커버 글라스의 결함 판정에는 만족할 만한 결과를 보이지 못하고 있다.The apparatus used in this process of analyzing a cover glass is such that a cover glass is horizontally placed on a conveying roller and a cover glass is irradiated with a light source while horizontally moving the cover glass with a conveying roller, A method of automatically detecting defects in a cover glass is used by detecting light with an image sensor, i.e., a camera, and analyzing the light with a computer. For example, Korean Unexamined Patent Publication No. 10-2007-0121820 and U.S. Patent No. 7551274 disclose an analysis process and apparatus of this type. However, such conventional technology has a problem that there is a limit to the defect detection due to the low analytical accuracy, and in particular, the defective determination of the cover glass for a smartphone requiring higher analysis accuracy is not satisfactory.

본 발명은 상기 종래 기술들이 가지고 있던 문제점에 착안하여 이루어진 것으로, 커버 글라스의 분석에 있어 조명 조사 각도를 다양화하여 더욱 정확한 결함의 검출이 가능한 커버 글라스 분석 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.It is an object of the present invention to provide a cover glass analyzer capable of detecting defects more accurately by varying the illumination angle in the analysis of the cover glass.

또한 본 발명은, 커버 글라스의 분석에 있어 조명의 조사 파장을 다양화하여 더욱 정확한 결함의 검출이 가능한 커버 글라스 분석 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.Another object of the present invention is to provide a cover glass analyzer capable of detecting defects more accurately by diversifying irradiation wavelengths of illumination in the analysis of cover glasses.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은 컴퓨터 판정을 이용한, 디스플레이 장치용 커버 글라스의 자동 분석 장치에 있어서, 커버 글라스를 이송하는 평행 이송 수단; 평행 이송 수단의 위쪽에 고정되며 움직이는 커버 글라스를 촬영하는 광학 센서; 커버 글라스의 이송 방향을 가로축으로 그 수직 방향을 세로축으로 완성되는 평면(회전 평면)에서 회전하며 커버 글라스를 향해 광을 방사하는 하나 혹은 다수의 회전 가능한 조명; 및 적어도 평행 이송 수단, 광학 센서, 회전 가능한 조명 중 어느 하나를 제어하는 제어부;를 포함하고, 회전 가능한 조명은 선형으로 배열되며 가시광선 영역의 파장을 방출하는 다수의 RGB LED 및 역시 선형으로 배열되며 자외선 영역의 파장을 방출하는 다수의 UV LED를 포함하는 LED부, LED부의 광 방출 방향으로 형성되며 도파관 및 렌즈를 포함하고, LED부에서 방출된 광을 선형광으로 변형시켜 주는 도파부, 및 LED부의 후단에 형성되는 방열판;을 포함하는 것는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an apparatus for automatically analyzing a cover glass for a display device using computer judgment, comprising: parallel transfer means for transferring a cover glass; An optical sensor fixed on the upper side of the parallel conveying means and photographing a moving cover glass; One or a plurality of rotatable lights for emitting light toward the cover glass by rotating at a plane (rotation plane) in which the conveying direction of the cover glass is completed as a horizontal axis and the vertical direction is as a vertical axis; And a controller for controlling at least one of parallel transfer means, optical sensor, and rotatable illumination, wherein the rotatable illumination is arranged in a linear array and comprises a plurality of RGB LEDs and also linearly arranged to emit wavelengths in the visible light region An LED unit including a plurality of UV LEDs emitting a wavelength of an ultraviolet region, a waveguide formed in a light emitting direction of the LED unit and including a waveguide and a lens, a waveguide unit for converting light emitted from the LED unit into linear fluorescence, And a heat sink formed at a rear end of the heat sink.

또한 본 발명은 일 실시 예에 따라, 평행 이송 수단은 공기부상 컨베이어인 것을 특징으로 한다.According to an embodiment of the present invention, the parallel conveying means is an air floating conveyor.

또한 본 발명은 일 실시 예에 따라, 광학 센서는 라인 스캔 카메라인 것을 특징으로 한다.According to an embodiment of the present invention, the optical sensor is a line scan camera.

삭제delete

삭제delete

또한 본 발명은 일 실시 예에 따라, 회전 가능한 조명은 두 개 이상이며 회전 평면에 방사형으로 평행 이송 수단의 상단 및 하단에 분포되어 있고 회전시 각각의 회전각의 합이 360도 이하인 것을 특징으로 한다.According to an embodiment of the present invention, the rotatable light is distributed at the upper and lower ends of two or more conveying means which are radially parallel to the rotation plane, and the sum of the rotation angles at the time of rotation is 360 degrees or less .

또한 본 발명은 일 실시 예에 따라, 회전 가능한 조명은 네 개이며 회전시 각각의 회전각이 90도 이하인 것을 특징으로 한다.Further, according to an embodiment of the present invention, there are four rotatable lights, each of which has a rotation angle of 90 degrees or less when rotated.

본 발명의 커버 글라스 분석 장치는, 다양한 조명의 조사 각도에서 커버 글라스를 분석할 수 있어 결함 검출율을 크게 높일 수 있다.The cover glass analyzing apparatus of the present invention can analyze the cover glass at various illumination illumination angles, thereby greatly increasing the defect detection rate.

또한 본 발명의 커버 글라스 분석 장치는, 한번에 다양한 파장의 빛을 조사하여 커버 글라스를 분석하므로 결함 검출율을 크게 높일 수 있다.Further, the cover glass analyzing apparatus of the present invention can significantly increase the defect detection rate by analyzing the cover glass by irradiating light of various wavelengths at once.

도1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 커버 글라스 분석 장치의 전체 구성을 개념적으로 나타낸 블록도,
도2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 커버 글라스 분석 장치의 구조를 개략적으로 나타낸 구조도,
도3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 조명(300)의 회전 모습을 간략히 나타낸 개념도,
도4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 조명(300)이 평행 이송 장치(100)의 상단과 하단에 두 개로 구성된 경우의 작동 모습을 간략히 나타낸 개념도,
도5는 도3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 조명(300)이 평행 이송 장치(100)의 상단과 하단에 총 네 개로 구성된 경우의 작동 모습을 간략히 나타낸 개념도,
도6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 조명(300)을 나타낸 사시도,
도7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 조명(300)의 LED부(320)의 구조를 나타낸 사시도,
도8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 조명(300)의 구성을 나타낸 단면도이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram conceptually showing the entire configuration of a cover glass analysis apparatus according to an embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a schematic view illustrating a structure of a cover glass analysis apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG.
3 is a conceptual view schematically showing a rotation state of a light 300 according to an embodiment of the present invention,
FIG. 4 is a conceptual view briefly showing an operation of a case in which the illumination 300 according to the embodiment of the present invention is formed at the upper end and the lower end of the parallel transfer device 100,
FIG. 5 is a conceptual view schematically illustrating an operation of the illumination device 300 according to an embodiment of the present invention, when the illumination device 300 is composed of four upper and lower parts of the parallel transfer device 100,
Figure 6 is a perspective view of a light 300 according to an embodiment of the present invention,
7 is a perspective view illustrating the structure of the LED unit 320 of the illumination 300 according to an embodiment of the present invention,
8 is a cross-sectional view illustrating a configuration of an illumination 300 according to an embodiment of the present invention.

이하, 본 발명에 따른 실시 예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 커버 글라스 분석 장치의 구성을 개념적으로 나타낸 블록도이며 도2는 상기 커버 글라스 분석 장치의 제어부를 제외한 전체 구조를 간략히 나타낸 구조도이다. 평행 이송 수단(100)은 분석 대상인 커버 글라스(1)를 평행 방향(도2에서 화살표로 표시)으로 이송한다. 따라서 평행 이송 수단(100)으로는 예를 들어, 벨트 컨베이어나 롤러 컨베이어, 체인 컨베이어, 공기부상 컨베이어 등 산업 현장에서 널리 쓰이는 컨베이어 장치가 사용될 수 있다. 특히 공기부상 컨베이어를 사용할 경우, 물리적 마찰이 사라지므로 커버 글라스의 이송 중에 발생할 수 있는 긁힘을 예방할 수 있고 공기분사의 효과로 커버 글라스에 붙은 먼지 등의 오물을 제거할 수 있다는 장점을 가진다.
FIG. 1 is a block diagram conceptually showing the construction of a cover glass analyzer according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a schematic view showing the entire structure of the cover glass analyzer except the control part. The parallel conveying means 100 conveys the cover glass 1 to be analyzed in a parallel direction (indicated by an arrow in FIG. 2). Therefore, as the parallel conveying means 100, for example, a conveyor apparatus widely used in industrial fields such as a belt conveyor, a roller conveyor, a chain conveyor, an air floating conveyor, and the like can be used. Particularly, when the air floating conveyor is used, the physical friction is eliminated, so scratches that may occur during the transportation of the cover glass can be prevented, and dust and dirt adhering to the cover glass can be removed by the air spraying effect.

광학 센서(200)는 평행 이송 수단(100) 상에 고정된 상태로, 평행 이송 수단(100)의 특정 지점(조사부)을 촬영하는데, 이 때 커버 글라스(1)가 평행 이송 수단(100)에 의해 이송되면 광학 센서(200)는 커버 글라스(1)의 특정 지점을 순차적으로 촬영하게 된다. 여기서 조명(300)은 이송되는 커버 글라스(1)를 향해 특정 파장의 빛을 조사하게 되고 결국 광학 센서(200)는, 조명(300)에 의하여 커버 글라스(1)로부터 방출되는 회절광을 촬영하게 된다. 이 때 광학 센서(200)는 촬영된 영상을 제어부(400) 또는 실시 예에 따라 기타 영상 판독 수단(미도시)으로 전송하여 영상을 분석하도록 하며 제어부(400)나 영상 판독 수단은 영상에서의 이상 유무를 분석하여 최종적으로 커버 글라스(1)의 결함 여부를 판정하게 된다. 여기서 광학 센서(200)는 커버 글라스(1) 이송 방향에 직각 방향으로의 직선 부위를 감지하는 라인 스캔 카메라인 것이 바람직하다.
The optical sensor 200 photographs a specific point (irradiated portion) of the parallel transporting means 100 while being fixed on the parallel transporting means 100. At this time, the cover glass 1 is transported to the parallel transporting means 100 The optical sensor 200 sequentially photographs a specific point of the cover glass 1. Here, the illumination 300 irradiates light of a specific wavelength toward the transported cover glass 1, so that the optical sensor 200 photographs the diffracted light emitted from the cover glass 1 by the illumination 300 do. At this time, the optical sensor 200 transmits the photographed image to the control unit 400 or other image reading means (not shown) according to the embodiment to analyze the image, and the control unit 400 and the image reading means And finally determines whether or not the cover glass 1 is defective. Here, the optical sensor 200 is preferably a line scan camera that senses a straight line portion in a direction perpendicular to the conveying direction of the cover glass 1. [

조명(300)은 하나 혹은 다수가 구비될 수 있으며 이송되는 커버 글라스(1)를 향해 그 분석을 위한 특정 파장의 빛을 발산한다. 여기서 특정 파장은 자외선 파장이나 가시광선 파장, 적외선 파장 등이 될 수 있다. 조명(300)은 평행 이송 수단(100)의 특정 지점(조사부)을 향해 빛을 발산하는데, 본 발명에서는 이 조명(300)이 조사부를 회전축으로 회전 가능하다는 것을 하나의 특징으로 한다. 여기서 광학 센서(200)로 라인 스캔 카메라를 사용할 경우에는, 조명(300) 역시 조사부를 향하여 이송 방향에 직각 방향으로의 직선형 광을 방출하는 것이 바람직하다.
One or more lights 300 may be provided and emit light of a specific wavelength for the analysis to the conveyed cover glass 1. Here, the specific wavelength may be an ultraviolet wavelength, a visible light wavelength, an infrared wavelength, or the like. The illumination 300 emits light toward a specific point (irradiating portion) of the parallel transporting means 100. In the present invention, the illumination 300 is capable of rotating the irradiating portion on the rotating shaft. In this case, when the line sensor is used as the optical sensor 200, it is preferable that the illumination unit 300 also emits linear light in a direction perpendicular to the transport direction toward the irradiation unit.

제어부(400)는 예를 들어, 적어도 마이크로 프로세서를 포함할 수 있으며, 다른 구성요소, 즉, 평행 이송 수단(100), 광학 센서(200), 조명(300)과 연결되며 이들 구성요소를 제어하는 역할을 한다. 상기 역할에는 예를 들어, 광학 센서의 영상 촬영 타이밍을 제어하거나 조명의 온, 오프(on, off) 내지 회전을 제어하는 역할을 포함할 수 있다. 추가적으로 광학 센서(200)에서 획득한 회절광 영상을 분석하여 결함 보유 여부를 판독하는 판독 기능을 보유할 수도 있다.
The control unit 400 may include at least a microprocessor and may be coupled to other components, such as the parallel transport means 100, the optical sensor 200, the illumination 300, It plays a role. The role may include, for example, controlling the imaging timing of the optical sensor or controlling the on, off, or turn of illumination. In addition, a diffraction optical image obtained by the optical sensor 200 may be analyzed to have a reading function for reading whether or not the defect is held.

도3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 조명(300)의 회전 모습을 간략히 나타낸 개념도인데, 본 도면을 토대로 본 발명에 따른 커버 글라스 분석 장치의 작동에 대해 설명한다.
FIG. 3 is a conceptual view briefly showing a rotation state of the illumination 300 according to an embodiment of the present invention, and the operation of the cover glass analysis apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings.

먼저 커버 글라스 분석 장치의 작동에 있어, 커버 글라스(1)는 평행 이송 수단(100)에 의하여 지속적으로 이동하며 광학 센서(200)는 조사부를 향하여 고정된 채 제어부(400)의 제어에 따라 이송되는 커버 글라스(1)를 향하여 그 특정 부위를 특정의 속도, 예를 들어, 초당 25장 정도로 촬영하게 된다. 조명(300)은 이 때 조사부를 기준으로 커버 글라스(1)의 이송 방향을 가로축으로 그 수직 방향을 세로축으로 완성되는 평면(회전 평면)에서 회전을 하며 다각도로 조사부를 비춘다. 이 때 만약 조명(300)이 초당 90도의 각도로 회전을 하고 광학 센서(200)는 초당 25장의 영상을 촬영한다면, 90도 범위에서 각도를 달리하는 총 25개의 회절광 영상을 1초에 획득할 수 있게 된다. 이 때 커버 글라스(1)의 이송 속도를 충분히 낮춘다면 사실상 커버 글라스(1)의 특정 동일 부위에 대한 25개 각도의 회절광 영상을 1초에 획득할 수 있게 되는 것이다. 이렇게 본 발명에서는 조명(300)이 빠른 속도로 회전하면서 광학 센서(200)로 회절광을 획득하므로 동일 부위에 대한 다양한 조사 각도의 회절광을 획득하여 이를 제어부(400) 내지 판독 컴퓨터가 분석하는 것으로 결함의 검출율을 높일 수 있다. 즉 결함의 종류 및 그 형태에 따라 분석용 광의 특정 조사 각도에서는 검출이 되지 않는 경우가 있는데, 본 발명에서와 같이 다양한 조사 각도에서 분석용 광을 조사하고 이에 대한 회절광을 분석한다면 결함의 검출율이 크게 높아질 수 있다. 여기서 회절광을 이용한 투명 소재의 결함 검출 방법은 종래 기술에 따를 것이며 본 발명의 특징으로는 볼 수 없다 할 것이므로 이 부분에 대한 자세한 설명은 생략한다.
First, in the operation of the cover glass analysis apparatus, the cover glass 1 is continuously moved by the parallel conveying means 100, and the optical sensor 200 is conveyed under the control of the control unit 400 while being fixed toward the irradiation unit The specific region is photographed toward the cover glass 1 at a specific speed, for example, about 25 frames per second. At this time, the illumination 300 rotates in a plane (rotation plane) where the vertical direction of the vertical direction is the axis of abscissa about the conveying direction of the cover glass 1 with respect to the irradiation part, and illuminates the irradiation part in multiple angles. At this time, if the illumination 300 rotates at an angle of 90 degrees per second and the optical sensor 200 captures 25 images per second, a total of 25 diffracted light images having different angles in a range of 90 degrees are acquired in one second . At this time, if the conveying speed of the cover glass 1 is sufficiently lowered, it is possible to obtain a diffracted light image of 25 angles with respect to a specific same portion of the cover glass 1 in one second. In the present invention, since the illumination 300 obtains the diffracted light by the optical sensor 200 while rotating at a high speed, the control unit 400 or the readout computer analyzes the diffracted light with various irradiation angles to the same part The defect detection rate can be increased. That is, depending on the kind of the defect and the type thereof, the detection light can not be detected at a specific irradiation angle of the analyzing light. If the analyzing light is irradiated at various irradiation angles as in the present invention and the diffraction light is analyzed, Can be greatly increased. Here, a method of detecting defects in a transparent material using diffracted light will be in accordance with the prior art and can not be seen as a feature of the present invention, so a detailed description thereof will be omitted.

상기와 같은 방법으로 커버 글라스(1)가 조사부에 진입하는 시점부터 모두 통과하여 조사부로부터 이탈하는 시점까지 조명 조사 및 촬영, 분석 과정을 거치는 것으로 하나의 커버 글라스(1)의 결함 여부 분석이 종료되며 이와 같은 과정이 연속적, 자동적으로 진행되면서 신속하고 높은 검출율로 커버 글라스를 분석할 수 있다. 여기서 조명(300)의 회전 각도에 대한 제한은 없다고 볼 것이며, 다만 조명(300) 회전시 광학 센서(200)에 의해 조명을 조사할 수 없는 부위(조명이 광학 센서를 가리거나 광학 센서가 조명을 가리게 되는 위치)를 제외하고는 360도 전 각도에 걸친 회전 및 조명 조사가 가능하다고 볼 것이나 평행 이송 수단(100)에 의하여 조명(300)의 회전이 어려워질 수 있으므로 도면상 점선으로 표시된 반구를 따라 180도 이내의 범위에서 회전하는 것이 바람직하다고 할 것이다.
By analyzing the illumination, the photographing and the analysis from the time when the cover glass 1 enters the irradiating unit to the time when the cover glass 1 passes through the irradiating unit and is separated from the irradiating unit, the analysis of the defect of one cover glass 1 is terminated As the process progresses continuously and automatically, the cover glass can be analyzed quickly and with high detection rate. It will be appreciated that there is no restriction on the angle of rotation of the illumination 300, but only in areas where the illumination can not be illuminated by the optical sensor 200 during illumination 300 rotation It is possible to rotate and illuminate all angles 360 degrees except for the position where the light 300 is shaded. However, since the illumination 300 may be difficult to rotate by the parallel transfer means 100, It is preferable to rotate within a range of 180 degrees or less.

도4는 본 발명의 또 다른 실시 예에 따른 커버 글라스 분석 장치의 작동 모습을 간략히 나타낸 개념도이다. 본 실시 예는 조명(300)이 평행 이송 장치(100)의 상단과 하단에 두 개로 구성된 경우의 작동 모습인데, 하단의 조명(300) 역시 상단의 조명(300)과 같이 최대 180도까지 고속으로 회전하며 조사부에 분석광을 조사한다. 이 때 광학 센서(200)가 고속으로 조사부를 촬영한다면 한 번의 촬영으로 두 개 각도에 대한 회절광 영상을 획득할 수 있게 되고, 두 개의 조명(300)이 동시에 최대 180도 범위로 회전하며 촬영한다면 광학 센서(200)는 결국 360도 범위에서의 회절광 영상을 획득할 수 있게 되며, 이러한 넓은 각도에 대한 분석을 통하여 더욱 정확도 높은 결함 검출이 가능해질 수 있다. 여기서 상기와 같이 평행 이송 장치(100)의 하단에서도 조명(300)의 광 조사가 가능하기 위해서는 도면에서 볼 수 있듯이 평행 이송 장치(100)는 조사부 부근에서 개구부(O)를 구비함이 바람직하다.
4 is a conceptual view briefly showing an operation of a cover glass analysis apparatus according to another embodiment of the present invention. The illumination 300 in the lower stage is also operated at a high speed up to 180 degrees as in the illumination 300 in the upper part. In this embodiment, the illumination 300 is composed of two pieces at the upper and lower ends of the parallel transfer device 100, And irradiates the analysis part with the irradiation part. At this time, if the optical sensor 200 photographs the irradiated portion at a high speed, it is possible to acquire the diffracted light image for two angles in one shot, and if the two illuminations 300 simultaneously rotate at a maximum range of 180 degrees The optical sensor 200 can eventually obtain a diffracted light image in a range of 360 degrees, and more accurate defect detection can be performed by analyzing the wide angle. In order to illuminate the illumination 300 at the lower end of the parallel transfer device 100 as described above, it is preferable that the parallel transfer device 100 has the opening O in the vicinity of the irradiation part, as shown in the figure.

도5는 본 발명의 또 다른 실시 예로서, 총 네 개의 조명(300)을 구비한 커버 글라스 분석 장치의 작동 모습을 개략적으로 나타낸 것이다. 회전 평면을 평행 이송 수단(100) 및 그 수직 방향을 축으로 4등분한 4개 사분면 각각에서 90도 이내의 범위에서 고속으로 회전하는 총 네 개의 조명(300)이 동일 부위인 조사부에 광을 조사한다. 이 때 광학 센서(200)가 역시 고속으로, 예를 들어 초당 25장의 속도로 조사부를 촬영하게 되면 사실상 동일 부위에 대한 초당 100개의 각도의 회절광 영상을 획득할 수 있게 된다. 결국 구비되는 조명(300)의 수가 증가할수록 커버 글라스(1)에 대한 분석은 더욱 고속으로, 더욱 넓은 각도에서 정밀하게 실시할 수 있게 된다.
FIG. 5 schematically illustrates operation of a cover glass analysis apparatus having a total of four lights 300, according to another embodiment of the present invention. A total of four lights 300 rotating at a high speed within a range of 90 degrees in each of four quadrants divided into quadrants by the parallel conveying means 100 and the vertical direction of the rotation plane are irradiated do. At this time, if the optical sensor 200 captures the irradiating portion at a high speed, for example, at a rate of 25 sheets per second, it is possible to obtain a diffracted light image of 100 angles per second for the same region. As the number of the illuminations 300 provided increases, the analysis of the cover glass 1 can be performed at a higher speed and at a wider angle with precision.

도6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 조명(300)의 구조를 나타낸 것이다. 조명은(300) 도면상 화살표로 표시한 방향으로 분석광을 방출하며, 도파부(310) 및 LED부(320), 방열부(330)로 구성될 수 있다. 도파부(310)에는 도파관 및 렌즈 등의 구성을 구비하고 있으며 LED부(320)에서 방출되는 광을 모아 선형으로 분석광의 조사가 가능하도록 한다. LED부(320)는 분석광을 발생시키는 광원의 역할을 하며 방열부(330)는 LED부(320)에서 발생하는 열을 효율적으로 방출하는 역할을 하는 방열판이 될 수 있다.Figure 6 illustrates the structure of illumination 300 in accordance with one embodiment of the present invention. The illumination unit 300 emits the analysis light in the direction indicated by the arrow in the drawing and may include the waveguide unit 310, the LED unit 320, and the heat dissipation unit 330. The waveguide 310 has a waveguide and a lens, and collects the light emitted from the LED 320 so that the analyzing light can be linearly irradiated. The LED unit 320 serves as a light source for generating the analysis light and the heat dissipation unit 330 may be a heat dissipation plate for efficiently emitting heat generated from the LED unit 320.

본 발명의 또 다른 실시 예에 따라, 조명(300)은 RGB LED 및 UV LED로 구성될 수 있다. 즉 도7은 조명(300)의 LED부(320)를 나타낸 것으로 다수의 RGB LED(321)와 다수의 UV LED(322)로 구성되어 있는 것을 볼 수 있다. 본 실시 예에 따르면 조명(300)은 R, G, B 파장은 물론, UV 파장으로도 분석광을 방출한다. 이렇게 다양한 주파수의 분석광을 커버 글라스(1)에 조사하는 것으로 특정 주파수의 회절광에서는 검출되지 않을 결함까지 검출할 가능성을 높일 수 있다.
In accordance with another embodiment of the present invention, the illumination 300 may comprise an RGB LED and a UV LED. That is, FIG. 7 shows the LED unit 320 of the illumination 300, which is composed of a plurality of RGB LEDs 321 and a plurality of UV LEDs 322. According to the present embodiment, the illumination 300 emits the analytical light not only at the R, G, and B wavelengths but also at the UV wavelengths. By irradiating the cover glass 1 with the analysis light of various frequencies as described above, it is possible to increase the possibility of detecting defects that are not detected in the diffraction light of a specific frequency.

도8은 일 실시 예에 따른 조명(300)의 구조를 단면도로 나타낸 것이다. 도파부(310)는 LED부(320)의 광방출 방향으로 형성되며 하나 혹은 다수의 도파관(312) 내지 하나 혹은 다수의 렌즈(311)를 구비할 수 있다. 상기 조명(300)은 선형의 광을 방출하는 것이 바람직하므로 도파부(310)는 LED부(320)에서 방출된 광을 렌즈(311)와 도파관(312)을 통하여 선형의 직선 빔으로 모아주는 역할을 한다. LED부(320)에서는 상당량의 열이 발생할 것으로 예상할 수 있으므로 후면에 방열부(330), 즉 방열판을 구성하여 열을 방출할 수 있도록 하는 것이 바람직하다.
8 is a cross-sectional view of the structure of illumination 300 according to one embodiment. The waveguide 310 is formed in the light emitting direction of the LED 320 and may include one or a plurality of waveguides 312 to one or a plurality of lenses 311. Since the illumination unit 300 preferably emits linear light, the waveguide unit 310 collects the light emitted from the LED unit 320 into a linear beam through the lens 311 and the waveguide 312 . Since it is expected that a considerable amount of heat will be generated in the LED unit 320, it is preferable to form the heat dissipating unit 330, that is, the heat dissipating plate on the back surface to emit heat.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 커버 글라스 분석 장치는, 회전 가능한 조명을 구비하여 빠른 속도로 회전하며 다양한 조사각에 따른 회절광을 분석할 수 있게 하므로, 결함의 검출율을 높일 수 있다. 특히 두 개 이상의 조명을 구비할 경우, 360도에 가까운 조사각에서의 회절광을 촬영할 수 있어 결함 검출율을 크게 높일 수 있고 실시 예에 따라 조명의 개수를 늘리는 것으로 분석 시간 역시 크게 단축할 수 있다는 장점을 가진다.INDUSTRIAL APPLICABILITY As described above, the apparatus for analyzing a cover glass according to the present invention is capable of rotating at a high speed with a rotatable illumination and analyzing diffracted light according to various irradiation angles, thereby increasing the detection rate of defects. Particularly, when two or more lights are provided, diffraction light at an irradiation angle close to 360 degrees can be photographed, so that the defect detection rate can be greatly increased, and the number of illumination can be increased according to the embodiment, .

1: 커버 글라스 100: 평행 이송 수단
200: 광학 센서 300: 조명
310: 도파부 311: 렌즈
312: 도파관 320: LED부
321: RGB LED 322: UV LED
330: 방열부 400: 제어부1: cover glass 100: parallel feeding means
200: optical sensor 300: illumination
310: waveguide unit 311: lens
312: waveguide 320: LED part
321: RGB LED 322: UV LED
330: heat dissipation unit 400:

Claims (7)

컴퓨터 판정을 이용한, 디스플레이 장치용 커버 글라스의 자동 분석 장치에 있어서,
커버 글라스를 이송하는 평행 이송 수단;
평행 이송 수단의 위쪽에 고정되며 움직이는 커버 글라스를 촬영하는 광학 센서;
커버 글라스의 이송 방향을 가로축으로 그 수직 방향을 세로축으로 완성되는 평면(회전 평면)에서 회전하며 커버 글라스를 향해 광을 방사하는 하나 혹은 다수의 회전 가능한 조명; 및
적어도 평행 이송 수단, 광학 센서, 회전 가능한 조명 중 어느 하나를 제어하는 제어부;를 포함하고,
회전 가능한 조명은 선형으로 배열되며 가시광선 영역의 파장을 방출하는 다수의 RGB LED 및 역시 선형으로 배열되며 자외선 영역의 파장을 방출하는 다수의 UV LED를 포함하는 LED부, LED부의 광 방출 방향으로 형성되며 도파관 및 렌즈를 포함하고, LED부에서 방출된 광을 선형광으로 변형시켜 주는 도파부, 및 LED부의 후단에 형성되는 방열판;을 포함하는 것을 특징으로 하는 커버 글라스 분석 장치.An apparatus for automatically analyzing a cover glass for a display device using computer judgment,
A parallel conveying means for conveying the cover glass;
An optical sensor fixed on the upper side of the parallel conveying means and photographing a moving cover glass;
One or a plurality of rotatable lights for emitting light toward the cover glass by rotating at a plane (rotation plane) in which the conveying direction of the cover glass is completed as a horizontal axis and the vertical direction is as a vertical axis; And
And a control unit for controlling at least one of parallel transport means, optical sensor and rotatable illumination,
The rotatable illumination includes a plurality of RGB LEDs arranged linearly and emitting wavelengths in a visible light region, an LED portion including a plurality of UV LEDs arranged in a linear array and emitting a wavelength of an ultraviolet region, A waveguide including a waveguide and a lens, a waveguide unit for deforming the light emitted from the LED unit into linear fluorescent light, and a heat sink formed at a rear end of the LED unit. 제1항에 있어서, 평행 이송 수단은 공기부상 컨베이어인 것을 특징으로 하는 커버 글라스 분석 장치.The apparatus for analyzing a cover glass according to claim 1, wherein the parallel conveying means is an air floating conveyor. 제1항에 있어서, 광학 센서는 라인 스캔 카메라인 것을 특징으로 하는 커버 글라스 분석 장치.The apparatus of claim 1, wherein the optical sensor is a line scan camera. 삭제delete 삭제delete 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 회전 가능한 조명은 두 개 이상이며 회전 평면에 방사형으로 평행 이송 수단의 상단 및 하단에 분포되어 있고 회전시 각각의 회전각의 합이 360도 이하인 것을 특징으로 하는 커버 글라스 분석 장치.4. The apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the rotatable illumination is distributed at the upper and lower ends of two or more conveying means which are radially parallel to the rotation plane, and the sum of the respective rotation angles at the time of rotation is 360 degrees or less Wherein the cover glass analyzing apparatus is characterized in that the cover glass analyzing apparatus comprises: 제6항에 있어서, 회전 가능한 조명은 네 개이며 회전시 각각의 회전각이 90도 이하인 것을 특징으로 하는 커버 글라스 분석 장치.7. The cover glass analyzer according to claim 6, wherein the number of rotatable lights is four and the rotation angle of each of the rotatable lights is not more than 90 degrees.
KR1020130106282A 2013-09-04 2013-09-04 Cover-glass Analysis Apparatus KR101485425B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130106282A KR101485425B1 (en) 2013-09-04 2013-09-04 Cover-glass Analysis Apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130106282A KR101485425B1 (en) 2013-09-04 2013-09-04 Cover-glass Analysis Apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101485425B1 true KR101485425B1 (en) 2015-01-22

Family

ID=52592345

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130106282A KR101485425B1 (en) 2013-09-04 2013-09-04 Cover-glass Analysis Apparatus

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101485425B1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111337516A (en) * 2018-12-19 2020-06-26 英泰克普拉斯有限公司 Glass cover plate inspection device
KR102386098B1 (en) * 2021-10-27 2022-04-14 (주)메티스 Inspection apparatus of glass transmissivity using optical lens

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20060081053A (en) * 2005-01-06 2006-07-12 엘지전자 주식회사 Glass transfering apparatus for display panel and inspection system using the same
JP4157037B2 (en) * 2001-09-21 2008-09-24 オリンパス株式会社 Defect inspection equipment
JP2011003634A (en) * 2009-06-17 2011-01-06 Toppan Printing Co Ltd Device for conveying substrate and device for inspecting substrate

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4157037B2 (en) * 2001-09-21 2008-09-24 オリンパス株式会社 Defect inspection equipment
KR20060081053A (en) * 2005-01-06 2006-07-12 엘지전자 주식회사 Glass transfering apparatus for display panel and inspection system using the same
JP2011003634A (en) * 2009-06-17 2011-01-06 Toppan Printing Co Ltd Device for conveying substrate and device for inspecting substrate

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111337516A (en) * 2018-12-19 2020-06-26 英泰克普拉斯有限公司 Glass cover plate inspection device
KR20200076078A (en) * 2018-12-19 2020-06-29 (주) 인텍플러스 Apparatus for inspecting cover glass
KR102199313B1 (en) 2018-12-19 2021-01-06 (주) 인텍플러스 Apparatus for inspecting cover glass
KR102386098B1 (en) * 2021-10-27 2022-04-14 (주)메티스 Inspection apparatus of glass transmissivity using optical lens

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100996335B1 (en) Apparatus and methods for inspecting a composite structure for inconsistencies
JP6912824B2 (en) Optical inspection equipment
KR101174081B1 (en) Plane substrate auto-test system and the method thereof
US8426223B2 (en) Wafer edge inspection
JP5806808B2 (en) Imaging optical inspection device
TWI524064B (en) An optical inspection apparatus for multi-defect detection
WO2016121878A1 (en) Optical appearance inspection device and optical appearance inspection system using same
US7719672B2 (en) Macro inspection apparatus and microscopic inspection method
US20110310244A1 (en) System and method for detecting a defect of a substrate
TWI633295B (en) Apparatus for surface feature detection and inspection of an article
JP2007256106A (en) Display panel inspection device and display panel inspection method using the same
US20110090333A1 (en) High speed optical inspection system with adaptive focusing
US20120044346A1 (en) Apparatus and method for inspecting internal defect of substrate
US20200378899A1 (en) Glass processing apparatus and methods
JP7183155B2 (en) Defect inspection method and apparatus on transparent substrate
JP2007147433A (en) Flaw inspection method of ceramic plate and flaw inspection device therefor
KR102108724B1 (en) inspection system using infrared light and visible light
JP2013534312A (en) Apparatus and method for three-dimensional inspection of wafer saw marks
US7869021B2 (en) Multiple surface inspection system and method
KR101485425B1 (en) Cover-glass Analysis Apparatus
JP6801860B2 (en) Appearance inspection device for the object to be inspected
KR102008224B1 (en) Inspecting system being capable of inspecting curved surface
KR102633672B1 (en) Methods and apparatus for detecting surface defects on glass sheets
US20100295939A1 (en) Table gauge
KR20190042179A (en) Cover-glass analyzing apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee