JP6801860B2 - Appearance inspection device for the object to be inspected - Google Patents
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Description
本発明は、被検査物の外観検査装置に関し、特に、錠剤等の小物品の表面に付着した異物や汚れ、欠損の有無を検査するための被検査物の外観検査装置に関するものである。 The present invention relates to an appearance inspection device for an inspected object, and more particularly to an appearance inspection device for an inspected object for inspecting the presence or absence of foreign matter, stains, and defects adhering to the surface of small articles such as tablets.
従来、錠剤等の小物品の表面に付着した異物や汚れ、欠損の有無を検査するために、撮影手段によって被検査物の外観を撮影し、得られた撮像画像の画像データの解析を行うことによって被検査物の良否を判定する被検査物の外観検査装置が汎用されている。 Conventionally, in order to inspect the surface of small articles such as tablets for foreign substances, stains, and defects, the appearance of the object to be inspected is photographed by an imaging means, and the image data of the obtained captured image is analyzed. A visual inspection device for an inspected object that determines the quality of the inspected object is widely used.
ところで、この種の被検査物の外観検査装置は、多数の被検査物の良否を短時間で判定することができるようにするために、一般に、移動中の被検査物の外観を撮影手段によって撮影するようにされている。 By the way, in order to be able to judge the quality of a large number of objects to be inspected in a short time, this kind of visual inspection device for an inspected object generally captures the appearance of a moving inspected object by means of photographing means. It is designed to shoot.
そして、被検査物の外観を撮影手段によって撮影するに当たっては、被検査物の外観を直接撮影するほか、直接撮影しにくい場合や被検査物の外観を同時に多方向から撮影することができるようにするため等の目的で、ミラーを介して間接的に撮影することも行われている(例えば、特許文献1〜2参照。)。
Then, when the appearance of the object to be inspected is photographed by the photographing means, in addition to directly photographing the appearance of the object to be inspected, it is possible to photograph the appearance of the object to be inspected from multiple directions at the same time when it is difficult to photograph the appearance directly. Indirect photography is also performed through a mirror for the purpose of performing the above (see, for example,
ところで、上記従来の被検査物の外観検査装置は、いずれも、通常の照明光の下で被検査物の外観を撮影手段によって撮影するようにしているため、色解析では分かりにくい小さな異物や欠損を検知しにくいという問題があった。 By the way, in all of the above-mentioned conventional appearance inspection devices for an inspected object, the appearance of the inspected object is photographed by an imaging means under normal illumination light, so that small foreign matter or defects that are difficult to understand by color analysis are taken. There was a problem that it was difficult to detect.
本発明は、上記従来の被検査物の外観検査装置の有する問題点に鑑み、小さな異物や欠損を効率よく検知することができる被検査物の外観検査装置を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide an appearance inspection device for an inspected object capable of efficiently detecting small foreign substances and defects in view of the problems of the conventional appearance inspection device for an inspected object.
上記目的を達成するため、本発明の被検査物の外観検査装置は、撮影手段によって移動中の被検査物の外観を撮影し、得られた撮像画像の画像データの解析を行うことによって被検査物の良否を判定する被検査物の外観検査装置において、被検査物を挟んで両側方に傾斜してハーフミラーを配置し、該ハーフミラーを透過するレーザー光照射手段から照射した線状の平行レーザー光を、被検査物を移動させながら被検査物に線状に照射するようにするとともに、平行レーザー光を照射した被検査物の両側面の外観を、ハーフミラーを介して、撮影手段によって定期的に撮影し、得られた撮像画像の画像データを用いて画像処理を行うことによって、被検査物の両側面の全体に平行レーザー光が照射された画像データを得るようにしたことを特徴とする。 In order to achieve the above object, the visual inspection apparatus for an object to be inspected of the present invention photographs the appearance of a moving object to be inspected by an imaging means and analyzes the image data of the obtained captured image to be inspected. In the visual inspection device for an object to be inspected for judging the quality of an object, half mirrors are arranged so as to be inclined to both sides of the object to be inspected, and linear parallelism irradiated from a laser beam irradiating means passing through the half mirror. The laser beam is linearly irradiated to the object to be inspected while moving the object to be inspected, and the appearance of both sides of the object to be inspected irradiated with the parallel laser beam is photographed by means of imaging through a half mirror. periodically shooting, by performing image processing using the image data of the captured image obtained, that was so that to obtain the image data is irradiated parallel laser beam on the entire side surfaces of the object to be inspected It is a feature.
この場合において、前記ハーフミラーの外側に傾斜して第1のミラーを配置し、レーザー光照射手段から照射した平行レーザー光を、第1のミラーを介して、ハーフミラーを透過して被検査物に照射するようにすることができる。 In this case, the first mirror is arranged so as to be inclined outside the half mirror, and the parallel laser light emitted from the laser light irradiating means is transmitted through the half mirror through the first mirror to be inspected. Can be made to irradiate.
また、前記ハーフミラーに対向して第2のミラー及び該第2のミラーに対向して第3のミラーを傾斜して配置し、被検査物の両側面の外観を、ハーフミラー、第2のミラー及び第3のミラーを介して、撮影手段によって撮影するようにすることができる。 Further, the second mirror facing the half mirror and the third mirror facing the second mirror are arranged so as to be inclined so that the appearance of both side surfaces of the object to be inspected is the half mirror, the second mirror. The image can be taken by the photographing means through the mirror and the third mirror.
本発明の被検査物の外観検査装置によれば、被検査物を挟んで両側方に傾斜してハーフミラーを配置し、該ハーフミラーを透過するレーザー光照射手段から照射した平行レーザー光を被検査物に照射するようにするとともに、平行レーザー光を照射した被検査物の両側面の外観を、ハーフミラーを介して、撮影手段によって撮影するようにすることにより、平行レーザー光で照射した被検査物の両側面の外観を同時に撮影することができ、色解析では分かりにくい、被検査物である錠剤等の小物品の表面に付着した小さな異物や欠損(凹凸形状)を効率よく検知することができる。 According to the visual inspection apparatus for an object to be inspected of the present invention, a half mirror is arranged so as to be inclined to both sides of the object to be inspected, and a parallel laser beam emitted from a laser light irradiating means transmitted through the half mirror is applied. The subject irradiated with the parallel laser light was irradiated with the parallel laser light by irradiating the inspection object and photographing the appearance of both sides of the object to be irradiated with the parallel laser light by the photographing means through the half mirror. It is possible to photograph the appearance of both sides of the inspection object at the same time, and efficiently detect small foreign substances and defects (concavo-convex shape) adhering to the surface of small articles such as tablets, which are difficult to understand by color analysis. Can be done.
また、前記ハーフミラーの外側に傾斜して第1のミラーを配置し、レーザー光照射手段から照射した平行レーザー光を、第1のミラーを介して、ハーフミラーを透過して被検査物に照射するようにすることにより、レーザー光照射手段の配置位置を自由に設定することができる。 Further, the first mirror is arranged inclined to the outside of the half mirror, and the parallel laser light radiated from the laser light irradiating means is transmitted to the object to be inspected through the half mirror through the first mirror. By doing so, the arrangement position of the laser light irradiation means can be freely set.
また、前記ハーフミラーに対向して第2のミラー及び該第2のミラーに対向して第3のミラーを傾斜して配置し、被検査物の両側面の外観を、ハーフミラー、第2のミラー及び第3のミラーを介して、撮影手段によって撮影するようにすることにより、撮影手段の配置位置を自由に設定することができる。 Further, the second mirror facing the half mirror and the third mirror facing the second mirror are arranged so as to be inclined so that the appearance of both side surfaces of the object to be inspected can be changed to the half mirror and the second mirror. The arrangement position of the photographing means can be freely set by taking a picture by the photographing means through the mirror and the third mirror.
以下、本発明の被検査物の外観検査装置の実施の形態を、図面に基づいて説明する。 Hereinafter, embodiments of the visual inspection apparatus for the object to be inspected of the present invention will be described with reference to the drawings.
図1〜図3に、本発明の被検査物の外観検査装置の一実施例を示す。
この被検査物の外観検査装置は、撮影手段1によって被検査物Wの外観を撮影し、得られた撮像画像Pの画像データの解析を行うことによって被検査物Wの良否を判定するもので、被検査物Wを挟んで両側方に45°傾斜してハーフミラー31を配置し、このハーフミラー31を透過するレーザー光照射手段2から照射した平行レーザー光を被検査物Wに照射するようにするとともに、平行レーザー光を照射した被検査物Wの両側面の外観を、ハーフミラー31を介して、撮影手段1によって撮影するようにする。
1 to 3 show an embodiment of the visual inspection apparatus for an object to be inspected according to the present invention.
This visual inspection device for the inspected object determines the quality of the inspected object W by photographing the appearance of the inspected object W by the photographing means 1 and analyzing the image data of the obtained captured image P. The
ところで、本実施例においては、ハーフミラー31の外側に45°傾斜して第1のミラー32を配置し、レーザー光照射手段2から照射した平行レーザー光を、第1のミラー32を介して、ハーフミラー31を透過して被検査物Wに照射するようにしている。
これにより、レーザー光照射手段2の配置位置を自由に設定することができ、本実施例においては、外観検査装置の下部に配置するようにしている。
By the way, in this embodiment, the
As a result, the arrangement position of the laser light irradiation means 2 can be freely set, and in this embodiment, the laser light irradiation means 2 is arranged at the lower part of the visual inspection apparatus.
また、ハーフミラー31に対向して第2のミラー33及びこの第2のミラー33に対向して第3のミラー34を45°傾斜して配置し、被検査物Wの両側面の外観を、ハーフミラー31、第2のミラー33及び第3のミラー34を介して、撮影手段1によって撮影するようにしている。
これにより、撮影手段1の配置位置を自由に設定することができ、本実施例においては、外観検査装置の下部に配置したレーザー光照射手段2の間に配置するようにしている。
Further, the
As a result, the arrangement position of the photographing means 1 can be freely set, and in this embodiment, it is arranged between the laser light irradiation means 2 arranged at the lower part of the visual inspection apparatus.
この場合において、撮影手段1には、CMOSカメラを好適に用いることができる。 In this case, a CMOS camera can be preferably used as the photographing means 1.
また、レーザー光照射手段2には、例えば、レンズを用いて平行レーザー光を発光させることができるLEDレーザーダイオードを用いることができる。
レーザー光照射手段2から照射する平行レーザー光は、好ましくは、細い線状(具体的には、幅1.0mm以下、好ましくは、0.8mm以下、より好ましくは、0.5mm以下。)の平行レーザー光となるようにする。
また、平行レーザー光は、被検査物Wの色調等に応じて、赤色、青色、緑色、紫色等から任意のものを選択することができる。
そして、被検査物Wの移動方向に対して直交する面内に平行レーザー光を照射するようにし、被検査物Wを移動させながら、平行レーザー光が照射されている被検査物Wを、撮影手段1によって、エンコーダ等を用いて定期的に撮影するようにする。
Further, as the laser light irradiating means 2, for example, an LED laser diode capable of emitting parallel laser light using a lens can be used.
The parallel laser light emitted from the laser light irradiating
Further, the parallel laser light can be selected from red, blue, green, purple and the like according to the color tone of the object W to be inspected.
Then, the parallel laser beam is irradiated in the plane orthogonal to the moving direction of the object W to be inspected, and while the object W to be inspected is moved, the object W to be irradiated with the parallel laser light is photographed. By
また、ハーフミラー31、第1のミラー32、第2のミラー33及び第3のミラー34には、誘電体多層膜ミラーを用いることが好ましい。
Further, it is preferable to use a dielectric multilayer mirror for the
また、被検査物Wは、被検査物Wの支持手段4によって支持され、支持手段4を移動手段(図示省略)によって移動させることで、移動中の被検査物Wの外観を撮影手段1によって撮影するようにされている。 Further, the object W to be inspected is supported by the supporting means 4 of the object W to be inspected, and by moving the supporting means 4 by the moving means (not shown), the appearance of the moving object W to be inspected is photographed by the photographing means 1. It is designed to be photographed.
ここで、支持手段4は、上方から被検査物Wを真空吸着することによって被検査物Wを支持するようにしているが、撮影手段1、レーザー光照射手段2等の配置位置を変更して、下方から被検査物Wを支持するようにすることもできる。 Here, the support means 4 supports the object W to be inspected by vacuum-adsorbing the object W to be inspected from above, but the arrangement positions of the photographing means 1, the laser light irradiating means 2, etc. are changed. It is also possible to support the object W to be inspected from below.
本実施例において、撮影手段1は、平行レーザー光を照射した被検査物Wの両側面の外観のそれぞれθ(約120°)の範囲を撮影することができる。
このため、被検査物Wの側面の外観の全周を撮影するために、この被検査物の外観検査装置と同じ装置を並設し、異なる角度(90°の方向)から平行レーザー光を照射した被検査物Wの両側面の外観のそれぞれθ(約120°)の範囲を撮影するようにする。
In this embodiment, the photographing means 1 can photograph a range of θ (about 120 °) of the appearance of both side surfaces of the object W to be inspected irradiated with the parallel laser light.
Therefore, in order to photograph the entire circumference of the side surface of the object W to be inspected, the same device as the visual inspection device of the object to be inspected is installed side by side, and parallel laser light is irradiated from different angles (direction of 90 °). The range of θ (about 120 °) of the appearance of both side surfaces of the object to be inspected W is photographed.
ここで、撮影手段1によって撮影することによって得られた平行レーザー光を照射した被検査物Wの両側面の外観の個々の撮像画像は、被検査物Wの移動方向に対して直交する面内に照射された細い線状の平行レーザー光によって線状に照らされたものである。
そして、この撮像画像は、被検査物Wを移動させながら、平行レーザー光が照射されている被検査物Wを、撮影手段1によって、エンコーダ等を用いて定期的に撮影するようにしているので、このようにして得られた多数の撮像画像の画像データを、例えば、重ね合わせるように画像処理を行うことによって、被検査物Wの両側面の全体に平行レーザー光が照射された画像データを得るようにし、この画像データを用いて解析を行うことによって被検査物Wの良否等を判定するようにする。
Here, the individual captured images of the appearance of both side surfaces of the object to be inspected W irradiated with the parallel laser beam obtained by photographing by the
Then, in this captured image, while moving the object W to be inspected, the object W to be inspected to be irradiated with the parallel laser light is periodically photographed by the photographing means 1 using an encoder or the like. By performing image processing so as to superimpose the image data of a large number of captured images obtained in this manner, for example, the image data in which the entire side surface of the object W to be inspected is irradiated with parallel laser light can be obtained. The quality of the object W to be inspected is judged by performing an analysis using this image data.
なお、必要に応じて、被検査物Wの上下面の外観を他の被検査物Wの外観を撮影手段1によって撮影するようにすることもできる。 If necessary, the appearance of the upper and lower surfaces of the object to be inspected W may be photographed by the photographing means 1 for the appearance of another object to be inspected W.
この被検査物の外観検査装置によれば、被検査物Wを挟んで両側方に傾斜してハーフミラー31を配置し、このハーフミラー31を透過するレーザー光照射手段2から照射した平行レーザー光を被検査物Wに照射するようにするとともに、平行レーザー光を照射した被検査物Wの両側面の外観を、ハーフミラー31を介して、撮影手段1によって撮影するようにすることにより、平行レーザー光で照射した被検査物Wの両側面の外観を同時に撮影することができ、色解析では分かりにくい、被検査物Wである錠剤等の小物品の表面に付着した小さな異物や欠損(凹凸形状)を効率よく検知することができる。
According to the visual inspection apparatus for the object to be inspected, the
以上、本発明の被検査物の外観検査装置について、その実施例に基づいて説明したが、本発明は上記実施例に記載した構成に限定されるものではなく、各実施例に記載した構成を適宜組み合わせる等、その趣旨を逸脱しない範囲において適宜その構成を変更することができるものである。 The appearance inspection device for an object to be inspected of the present invention has been described above based on the examples thereof, but the present invention is not limited to the configurations described in the above examples, and the configurations described in the respective examples are used. The configuration can be changed as appropriate without departing from the purpose, such as by combining them as appropriate.
本発明の被検査物の外観検査装置は、小さな異物や欠損を効率よく検知することができるという特性を有していることから、錠剤等の小物品を検査対象とする被検査物の外観検査の用途に好適に用いることができる。 Since the visual inspection apparatus for an object to be inspected of the present invention has a characteristic of being able to efficiently detect small foreign substances and defects, the visual inspection of an inspected object for inspection of small articles such as tablets Can be suitably used for the above-mentioned applications.
1 撮影手段
2 レーザー光照射手段
31 ハーフミラー
32 第1のミラー
33 第2のミラー
34 第3のミラー
4 支持手段
P 撮像画像
W 被検査物
1 Imaging means 2 Laser light irradiation means 31
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JP2000161937A (en) * | 1998-11-25 | 2000-06-16 | Tsubakimoto Chain Co | Surface inspection device for cylindrical object |
JP2003254726A (en) * | 2002-02-28 | 2003-09-10 | Shibuya Kogyo Co Ltd | Device for visual inspection of semi-conductor element |
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JP2015127689A (en) * | 2013-11-29 | 2015-07-09 | 上野精機株式会社 | Appearance inspection device |
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