KR100870152B1 - Auto change device of probe unit - Google Patents

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김대환
박현상
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(주)유비프리시젼
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Abstract

An auto change apparatus of the probe unit for LCD test equipment is provided to omit the probe attach/detach process, and unit set-up process by rotating turret which includes various types of probes. A driving unit installed at one side of the LCD test equipment rotates the axis of rotation. A turret(213) is connected to the rotation axis of the driving unit. A rotation mean(210) fixes the turret to the LCD test equipment. A plurality of probe units is attached and set on the turret upper side of the rotating means in order to be contacted with the LCD panel fixed to the LCD test equipment, and in which the unit set-up is completed in the upper side of turret in attach, and which is installed and fixed in order to be mutually symmetrized around the axis of rotation of the driving source of the rotating means(220).

Description

ＬＣＤ 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치{AUTO CHANGE DEVICE OF PROBE UNIT}Automatic change device of probe unit for LCD inspection equipment {AUTO CHANGE DEVICE OF PROBE UNIT}

본 발명은 LCD 검사 장비에 관한 것으로서, 상세하게는 각기 다른 규격의 프로브 유니트를 축회전이 가능한 터릿에 실장 후 LCD 패널의 검사시 터릿(Turret)을 회전시켜 해당 프로브 유니트를 정위치에 위치시키도록 하는 LCD 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an LCD inspection equipment, and in particular, to mount a probe unit of different specifications in a turret capable of shaft rotation and to rotate the turret during inspection of the LCD panel to position the probe unit in place. It relates to an automatic change device of the probe unit for the LCD inspection equipment.

일반적으로, LCD 검사 장비는 LCD 패널이 불량품인지 양품인지를 육안상으로 용이하게 검사할 수 있도록 작업자가 위치한 지점까지 LCD 패널을 자동으로 이송시켜주고, 검사가 완료되면 검사결과에 따라 LCD 패널을 양품(good), 수리대상(repair), 폐기(reject)로 분류하여 카세트(cassette)에 구분 적치하여 주는 장치를 일컫는다.In general, the LCD inspection equipment automatically transfers the LCD panel to the point where the operator is located so that the LCD panel can be easily visually inspected whether the LCD panel is defective or good. It refers to a device that is classified as good, repair or reject and placed in a cassette.

도 1 및 도 2에 도시된 것과 같이, 일반적인 LCD 검사 장비는 본체(1)의 일측에 LCD 패널(100)의 검사를 수행하는 검사부(2)가 배치되고, 이 검사부(2)의 일측에 LCD 패널(100)을 공급 및 회수하는 로딩/언로딩부(7)가 배치된 구성으로 이루어진다.As shown in Figure 1 and 2, the general LCD inspection equipment is provided with an inspection unit 2 for performing the inspection of the LCD panel 100 on one side of the main body 1, the LCD on one side of the inspection unit (2) The loading / unloading unit 7 for supplying and recovering the panel 100 is disposed.

또한, LCD 검사 장비에는 LCD 패널(100)을 상기 로딩/언로딩부(7)에서 검사부(2)로, 검사부(2)에서 로딩/언로딩부(7)로 반송하여 주는 캐리어(9)가 좌/우로 이동이 가능하게 설치되어 있다.In addition, the LCD inspection equipment includes a carrier 9 which conveys the LCD panel 100 from the loading / unloading portion 7 to the inspection portion 2 and the inspection portion 2 from the loading / unloading portion 7. It is installed to move left / right.

상기 검사부(2)는 프로브 유니트(3) 및, LCD 패널(100)을 상기 프로브 유니트(3)에 콘택시킴과 더불어 광원을 제공하는 워크스테이지(4)(work stage)로 구성된다. 상기 워크스테이지(4)는 편광판(4a) 및 백라이트(4b)로 이루어지고, 이 워크스테이지(4)의 후방에는 워크스테이지(4)를 프로브 유니트(3)에 대해 정렬함과 더불어 프로브 유니트(3)에 접속시키는 XYZθ스테이지(5)가 설치된다.The inspection unit 2 is composed of a probe unit 3 and a work stage 4 which contacts the LCD panel 100 to the probe unit 3 and provides a light source. The work stage 4 is composed of a polarizing plate 4a and a backlight 4b, and at the rear of the work stage 4, the work stage 4 is aligned with the probe unit 3, and the probe unit 3 ) Is provided with an XYZθ stage (5).

상기 로딩/언로딩부(7)에는 로더(미도시)로부터 반송된 LCD 패널을 소정 각도(예컨대 60도)로 기울여주는 서브테이블(8)이 설치된다.The loading / unloading unit 7 is provided with a subtable 8 for tilting the LCD panel conveyed from the loader (not shown) at a predetermined angle (for example, 60 degrees).

또한, 상기 검사부(2)의 전방에는 LCD 패널(100)의 육안 검사시 이상이 발견되었을 때 작업자가 이를 더욱 정밀히 확인하기 위한 현미경(6)이 상하 및 좌우로 이동이 가능하게 설치되어 있다.In addition, in the front of the inspection unit 2, when an abnormality is found during visual inspection of the LCD panel 100, the microscope 6 for allowing the operator to check this more precisely is installed to be able to move vertically and horizontally.

상기와 같은 종래의 LCD 검사 장비에서 이루어지는 검사 과정을 간략하게 설명하면 다음과 같다.Referring to the inspection process made in the conventional LCD inspection equipment as described above is as follows.

로딩/언로딩부(7)의 로더(미도시)로부터 서브테이블(8)에 LCD 패널(100)이 전달되고, 서브테이블(8)은 소정 각도로 기울어지면서 캐리어(9)에 LCD 패널(100)을 전달한다. 이어서, 캐리어(9)는 LCD 패널(100)을 검사부(2)로 반송한다. 검사부(2)에 테스트할 LCD 패널(100)이 위치되면, 후방에서 XYZθ스테이지(5)가 전진하여 캐리어(9)의 LCD 패널(100)을 진공 흡착하여 고정하고, 고정된 LCD 패널(100)의 패드(미도시)를 프로브 유니트(3)의 리드핀(미도시)에 접속시킨다.The LCD panel 100 is transferred from the loader (not shown) of the loading / unloading unit 7 to the subtable 8, and the subtable 8 is inclined at a predetermined angle to the carrier 9 with the LCD panel 100. ). Subsequently, the carrier 9 conveys the LCD panel 100 to the inspection unit 2. When the LCD panel 100 to be tested is positioned in the inspection unit 2, the XYZθ stage 5 is advanced from the rear to vacuum suction the LCD panel 100 of the carrier 9, and the fixed LCD panel 100 is fixed. Pads (not shown) are connected to lead pins (not shown) of the probe unit 3.

이와 같이 LCD 패널(100)과 프로브 유니트(3) 간의 전기적 접속이 이루어지면, 프로브 유니트(3)를 통해 소정의 영상 신호가 인가됨과 동시에, 백라이트(4b)의 조명이 외부의 영상신호 입력 장치인 패턴제너레이터(pattern generator)에 의해 다양한 패턴으로 바뀌게 되고, 작업자는 이 때 구현되는 패턴으로 패널의 불량을 판별하게 된다.When the electrical connection is made between the LCD panel 100 and the probe unit 3 as described above, a predetermined image signal is applied through the probe unit 3 and the illumination of the backlight 4b is an external image signal input device. The pattern generator is changed into various patterns by the pattern generator, and the operator determines the defect of the panel by the pattern implemented at this time.

한편, 상기의 프로브 유니트는 도 3에 도시된 바와 같이 직사각 형태의 베이스 플레이트(3-1)와, 베이스 플레이트(3-1)의 상면 일단에 등간격을 가지며 설치되는 프로브 블록(3-3)과, 프로브 블록(3-3)으로 신호를 전달하도록 이와 전기적으로 접속되고, 베이스 플레이트(3-1)의 상면에 설치되는 데이터 PCB(3-5)와, 얼라인을 확인하도록 베이스 플레이트(3-1)의 상면에 설치되는 얼라인 카메라(3-7)로 구성된다.Meanwhile, as illustrated in FIG. 3, the probe unit includes a rectangular base plate 3-1 and a probe block 3-3 installed at equal intervals on one end of the upper surface of the base plate 3-1. And a data PCB 3-5 electrically connected to the probe block 3-3 so as to transmit a signal to the probe block 3-3, and installed on an upper surface of the base plate 3-1, and the base plate 3 to check alignment. It consists of the alignment camera 3-7 provided in the upper surface of -1).

한편, 이러한 종래의 프로브 유니트는 LCD 패널의 규격에 따라 해당 패널과 대응되는 프로브 유니트를 LCD 검사 장비에 부착하여 사용하는 데, 프로브 유니트를 부착한 다음 유니트 셋-업이란 공정을 거친다.Meanwhile, the conventional probe unit uses a probe unit corresponding to the panel according to the specification of the LCD panel attached to the LCD inspection equipment, and attaches the probe unit and then goes through a unit set-up process.

그러나, 이러한 유니트 셋-업 공정은 LCD 패널의 패드와 프로브 유니트의 리드핀을 1:1로 맞추는 작업을 진행하기 때문에 그 작업 시간이 보통 수시간씩 소요되는 문제점이 있다.However, this unit set-up process has a problem in that the work time is usually several hours because the operation of matching the pad of the LCD panel and the lead pins of the probe unit 1: 1.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 각기 다른 규격의 프로브 유니트를 축회전이 가능한 터릿에 실장 후 LCD 패널의 검사시 터릿을 회전시켜 해당 프로브 유니트를 정위치에 위치시킴으로써 탈부착 공정과 유니트 셋-업이란 공정을 단축시킬 수 있도록 하는 LCD 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention is to solve the above problems, the probe unit of the different specifications are mounted on the turret capable of shaft rotation, and then rotating the turret during the inspection of the LCD panel by positioning the corresponding probe unit in the correct position and detachment process and unit The purpose of the set-up is to provide an automatic change device of the probe unit for the LCD inspection equipment which can shorten the process.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징은,Features of the present invention for achieving the above object,

LCD 검사 장비의 일측에 설치되어 회전이 가능한 회전 수단과; 상기 LCD 검사 장비에 고정된 LCD 패널과 접촉되도록 상기 회전 수단의 상면에 부착 설치되는 다수의 프로브 유니트로 이루어지는 것을 특징으로 한다.A rotation means installed at one side of the LCD inspection equipment and capable of rotating; And a plurality of probe units attached to an upper surface of the rotating means to contact the LCD panel fixed to the LCD inspection equipment.

여기에서, 상기 회전 수단은 회전축을 회전시키는 구동원과; 상기 구동원의 회전축에 결합되는 터릿; 및 상기 터릿을 상기 LCD 검사 장비에 고정시키는 고정 수단으로 이루어진다.Here, the rotating means includes a drive source for rotating the rotating shaft; A turret coupled to the rotating shaft of the drive source; And fixing means for fixing the turret to the LCD inspection equipment.

여기에서 또한, 상기 구동원은 회전 모터 또는 하모닉 드라이브이다.Here too, the drive source is a rotary motor or a harmonic drive.

여기에서 또, 상기 고정 수단은 상기 구동원이 고정 설치되는 고정판과; 저면 중앙부에 상기 고정판이 고정 설치되고, 일측이 상기 LCD 검사 장비에 고정되는 지지 다리로 이루어진다.Here, the fixing means includes a fixed plate to which the drive source is fixedly installed; The fixing plate is fixedly installed at the bottom center, and one side is formed of a support leg fixed to the LCD inspection equipment.

여기에서 또, 상기 LCD 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치는 상기 구동원의 회전 각도를 제어하여 상기 프로브 유니트를 상기 LCD 패널과 정위치에서 접촉시키는 제어 수단을 더 포함한다.Here, the automatic change device of the probe unit for the LCD inspection equipment further includes a control means for controlling the rotation angle of the drive source to contact the probe unit with the LCD panel in position.

여기에서 또, 상기 프로브 유니트는 양끝단에 각각 얼라인 카메라를 구비하다.Here, the probe unit is provided with an alignment camera at each end.

여기에서 또, 상기 프로브 유니트는 상기 터릿의 상면에서 부착시 유니트 셋-업을 완료한다.Here again, the probe unit completes unit set-up upon attachment from the top surface of the turret.

여기에서 또, 상기 프로브 유니트는 상기 구동원의 회전축을 중심으로 상호 대칭되도록 설치 고정된다.Here, the probe unit is fixedly installed so as to be symmetrical with respect to the rotation axis of the drive source.

상기와 같이 구성되는 본 발명인 LCD 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치에 따르면, 회전이 가능한 터릿 상면에 각기 다른 규격의 프로브 유니트를 설치하여 유니트 셋-업을 완료시키고, LCD 패널의 규격에 따라 터릿을 회전시켜 해당 규격의 프로브 유니트이 LCD 패널과 접촉되도록 함으로써 프로브 유니트의 탈부착 공정과 유니트 셋-업 공정을 단축시켜 검사 효율을 증대시킬 수 있는 이점이 있다.According to the automatic change device of the probe unit for LCD inspection equipment of the present invention configured as described above, by installing a probe unit of different specifications on the upper surface of the rotatable turret can complete the unit set-up, according to the specifications of the LCD panel By rotating the probe unit of the standard to be in contact with the LCD panel, there is an advantage that the inspection efficiency can be increased by shortening the detachment process and the unit set-up process of the probe unit.

이하, 본 발명에 따른 LCD 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치의 구성을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the configuration of the automatic change device of the probe unit for LCD inspection equipment according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

하기에서 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 것이다. 그리고 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라 질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.In the following description of the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known function or configuration may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description thereof will be omitted. In addition, terms to be described below are terms defined in consideration of functions in the present invention, which may vary according to intention or custom of a user or an operator. Therefore, the definition should be made based on the contents throughout the specification.

도 4는 본 발명에 따른 LCD 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치중 회전 수단의 구성을 나타낸 사시도이고, 도 5는 본 발명에 따른 LCD 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치중 회전 수단의 구성을 나타낸 분해 사시도이며, 도 6은 본 발명에 따른 LCD 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치가 LCD 검사 장비에 설치된 모습을 나타낸 측면도이며, 도 7은 본 발명에 따른 LCD 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치가 LCD 검사 장비에 설치된 모습을 나타낸 정면도이다.Figure 4 is a perspective view showing the configuration of the rotating means of the automatic change device of the probe unit for LCD inspection equipment according to the present invention, Figure 5 is a configuration of the rotating means of the automatic change device of the probe unit for LCD inspection equipment according to the present invention Figure 6 is an exploded perspective view showing, Figure 6 is a side view showing a state in which the automatic change device of the probe unit for LCD inspection equipment according to the present invention is installed in the LCD inspection equipment, Figure 7 is an automatic change of the probe unit for LCD inspection equipment according to the present invention Front view showing the device installed in the LCD inspection equipment.

도 4 내지 도 7을 참조하면, 본 발명에 따른 LCD 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치(200)는, 회전 수단(210)과, 프로브 유니트(220) 및 제어 수단(230)으로 구성된다.4 to 7, the automatic change device 200 of the probe unit for LCD inspection equipment according to the present invention includes a rotating means 210, a probe unit 220, and a control means 230.

먼저, 회전 수단(210)은 LCD 검사 장비(1)의 일측에 설치 고정되고, 정역회전이 가능한 하모닉 드라이브(211)와, 판 형상으로 형성되되, 중앙부에 하모닉 드라이브(211)의 회전축(미도시)이 삽입 결합되도록 축홀(214)이 형성되어 회전축과 축결합되는 터릿(213)과, 터릿(213)을 LCD 검사 장비(1)에 고정시키는 고정수단(215)으로 이루어진다.First, the rotating means 210 is installed and fixed to one side of the LCD inspection equipment 1, the harmonic drive 211 and the forward and reverse rotation is formed in a plate shape, the central axis of the harmonic drive 211 (not shown) The shaft hole 214 is formed to be inserted and coupled to the turret 213 is axially coupled to the rotating shaft, and the fixing means 215 for fixing the turret 213 to the LCD inspection equipment (1).

여기에서, 고정 수단(215)은 하모닉 드라이브(211)가 고정 설치되는 고정판(215-1)과, "디귿자" 형태로 형성되어 저면 중앙부에 고정판(215-1)이 고정 설치되고, 양단이 LCD 검사 장비(1)에 고정되는 지지 다리(215-3)로 이루어진다. 이때, 고정 수단(215)의 지지 다리(215-3)의 형상은 어떠한 형태로도 변형이 가능하다.Here, the fixing means 215 is a fixed plate 215-1 to which the harmonic drive 211 is fixedly installed, and is formed in the form of a "digital shape" so that the fixing plate 215-1 is fixedly installed at the bottom center, and both ends of the LCD are fixed. It consists of a support leg 215-3 fixed to the inspection equipment 1. At this time, the shape of the support leg 215-3 of the fixing means 215 can be modified in any form.

여기에서 또한, 하모닉 드라이브(211)를 대신하여 정역 회전 모터를 사용할 수 있으며, 회전 모터의 경우 정밀한 위치 제어가 가능한 스텝 모터를 사용하는 것이 바람직하다.Here, it is also possible to use a forward and reverse rotation motor in place of the harmonic drive 211, it is preferable to use a step motor capable of precise position control in the case of the rotation motor.

또한, 프로브 유니트(220)는 LCD 검사 장비에 고정된 LCD 패널(100)과 접촉되도록 회전 수단(210)의 터릿(213)의 상면에 각각 부착 설치되는 데, 각기 다른 규격(예를 들면, 37인치, 42인치, 47인치, 52인치 등)을 가지며, 하모닉 드라이브(211)의 회전축(212)을 중심으로 상호 대칭(예를 들어, 4개가 설치되는 경우 각각 회전축을 중심으로 0°, 90°, 180°, 270°위치에 설치)되도록 설치 고정된다. 여기에서, 프로브 유니트(220)는 양끝단에 각각 얼라인 카메라(221)를 구비하고, 터릿(213)의 상면에서 부착시 유니트 셋-업을 완료한다.In addition, the probe unit 220 is attached to the upper surface of the turret 213 of the rotating means 210 to be in contact with the LCD panel 100 fixed to the LCD inspection equipment, respectively, different standards (for example, 37 Inches, 42 inches, 47 inches, 52 inches, etc.) and are symmetrical with respect to the rotation axis 212 of the harmonic drive 211 (for example, if four are installed, 0 ° and 90 ° respectively about the rotation axis). , 180 ° and 270 ° positions). Here, the probe unit 220 includes an alignment camera 221 at each end, and completes the unit set-up when attached to the upper surface of the turret 213.

또한, 제어 수단(230)은 하모닉 드라이브(211)의 회전 각도를 제어하여 해당 프로브 유니트를 LCD 패널과 정위치에서 접촉시킨다. 여기에서, 제어 수단(230)은 하모닉 드라이브의 동작을 제어하는 하모닉 드라이버를 포함하며, LCD 검사 장비에서 출력되는 제어 신호에 따라 하모닉 드라이버를 구동시켜 검사를 수행하는 규격의 해당 LCD 패널과 대응되는 프로브 유니트가 선택되도록 하모닉 드라이브(211)를 회전시킨다.In addition, the control means 230 controls the rotation angle of the harmonic drive 211 to bring the probe unit into contact with the LCD panel in the correct position. Here, the control means 230 includes a harmonic driver for controlling the operation of the harmonic drive, the probe corresponding to the corresponding LCD panel of the standard for performing the inspection by driving the harmonic driver according to the control signal output from the LCD inspection equipment The harmonic drive 211 is rotated so that the unit is selected.

이하, 본 발명에 따른 LCD 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치의 작용을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the operation of the automatic change device of the probe unit for LCD inspection equipment according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

먼저, 제어 수단(230)은 검사를 수행하고자 하는 규격의 해당 LCD 패널과 대 응되는 프로브 유니트가 선택되도록 하모닉 드라이브(211)를 회전시켜 프로브 유니트를 검사 위치에 위치시킨다.First, the control means 230 rotates the harmonic drive 211 so that the probe unit corresponding to the corresponding LCD panel of the standard to be tested is selected to position the probe unit at the inspection position.

이러한 상태에서 종래와 동일하게 검사부에 테스트할 LCD 패널이 위치되면, LCD 검사 장비(1)가 LCD 패널(100)을 진공 흡착하여 고정하고, 고정된 LCD 패널(100)의 패드(미도시)를 프로브 유니트(200)의 리드핀(미도시)에 접속시킨다.In this state, when the LCD panel to be tested is positioned in the same manner as in the related art, the LCD inspection equipment 1 vacuum-adsorbs the LCD panel 100 and fixes the pads (not shown) of the fixed LCD panel 100. It is connected to the lead pin (not shown) of the probe unit 200.

한편, 다른 규격의 LCD 패널을 검사하고자 하는 경우 제어 수단(230)은 다시 검사를 수행하고자 하는 규격의 해당 LCD 패널과 대응되는 프로브 유니트가 선택되도록 하모닉 드라이브(211)를 회전시켜 해당 규격과 대응하는 프로브 유니트를 검사 위치에 위치시킨다.On the other hand, if you want to inspect the LCD panel of another standard, the control means 230 rotates the harmonic drive 211 so that the probe unit corresponding to the LCD panel of the standard to be tested again to select the corresponding Place the probe unit in the test position.

따라서, 각기 다른 규격의 프로브 유니트를 터릿에 유니트 셋-업을 완료하여 설치한 후 LCD 패널의 규격에 따라 터릿을 회전시켜 해당 규격에 대응되는 프로브 유니트를 검사 위치로 이동시킴으로써 공정을 단축하여 검사 시간을 단축시킬 수 있고, 검사 효율을 증대시킬 수 있다.Therefore, after the probe unit of different specifications is completed and installed in the turret, the turret can be rotated according to the specifications of the LCD panel and the probe unit corresponding to the corresponding standard can be moved to the inspection position to shorten the process time. Can be shortened and inspection efficiency can be increased.

본 발명은 다양하게 변형될 수 있고 여러 가지 형태를 취할 수 있으며 상기 발명의 상세한 설명에서는 그에 따른 특별한 실시 예에 대해서만 기술하였다. 하지만 본 발명은 상세한 설명에서 언급되는 특별한 형태로 한정되는 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 오히려 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 발명의 정신과 범위 내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.As those skilled in the art would realize, the described embodiments may be modified in various ways, all without departing from the spirit or scope of the present invention. It is to be understood, however, that the present invention is not limited to the specific forms referred to in the description, but rather includes all modifications, equivalents, and substitutions within the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. Should be.

도 1 및 도 2는 일반적인 엘씨디 테스트 장치의 구성을 나타낸 도면,1 and 2 is a view showing the configuration of a typical LCD test apparatus,

도 3은 종래의 프로브 유니트의 구성을 나타낸 도면,3 is a view showing the configuration of a conventional probe unit,

도 4는 본 발명에 따른 LCD 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치중 회전 수단의 구성을 나타낸 사시도,Figure 4 is a perspective view showing the configuration of the rotating means of the automatic change device of the probe unit for LCD inspection equipment according to the present invention,

도 5는 본 발명에 따른 LCD 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치중 회전 수단의 구성을 나타낸 분해 사시도,5 is an exploded perspective view showing the configuration of the rotating means of the automatic change device of the probe unit for LCD inspection equipment according to the present invention;

도 6은 본 발명에 따른 LCD 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치가 LCD 검사 장비에 설치된 모습을 나타낸 측면도,6 is a side view showing a state in which the automatic change device of the probe unit for LCD inspection equipment according to the present invention is installed in the LCD inspection equipment,

도 7은 본 발명에 따른 LCD 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치가 LCD 검사 장비에 설치된 모습을 나타낸 정면도.7 is a front view showing a state in which the automatic change device of the probe unit for LCD inspection equipment according to the present invention is installed on the LCD inspection equipment.

<도면의 주요 부분에 관한 부호의 설명><Explanation of symbols on main parts of the drawings>

100 : LCD 패널 210 : 회전 수단100: LCD panel 210: rotation means

211 : 하모닉 드라이브 213 : 터릿211: harmonic drive 213: turret

220 : 프로브 유니트 230 : 제어 수단220: probe unit 230: control means

Claims (8)

LCD 검사 장비의 일측에 설치되어 회전이 가능하도록 회전축을 회전시키는 구동원과, 상기 구동원의 회전축에 결합되는 터릿과, 상기 터릿을 상기 LCD 검사 장비에 고정시키는 고정 수단으로 이루어지는 회전 수단과;A rotation means installed on one side of the LCD inspection equipment and configured to include a driving source for rotating the rotating shaft to be rotatable, a turret coupled to the rotating shaft of the driving source, and fixing means for fixing the turret to the LCD inspection equipment; 상기 LCD 검사 장비에 고정된 LCD 패널과 접촉되도록 상기 회전 수단의 터릿 상면에 부착 설치되되, 상기 터릿의 상면에서 부착시 유니트 셋-업이 완료되고, 회전 수단의 구동원의 회전축을 중심으로 상호 대칭되도록 설치 고정되는 다수의 프로브 유니트; 및It is attached to the upper surface of the turret of the rotating means to contact the LCD panel fixed to the LCD inspection equipment, the unit set-up is completed when attached from the upper surface of the turret, so as to be symmetrical with respect to the rotation axis of the drive source of the rotating means A plurality of probe units fixed to the installation; And 상기 구동원의 회전 각도를 제어하여 상기 프로브 유니트를 상기 LCD 패널과 정위치에서 접촉시키는 제어 수단으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 LCD 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치.And a control means for controlling the rotational angle of the drive source to bring the probe unit into contact with the LCD panel in the correct position. 삭제delete 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 구동원은,The drive source, 회전 모터 또는 하모닉 드라이브인 것을 특징으로 하는 LCD 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치.Automatic change device of probe unit for LCD inspection equipment, characterized in that it is a rotary motor or harmonic drive. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 고정 수단은,The fixing means, 상기 구동원이 고정 설치되는 고정판과;A fixed plate to which the drive source is fixedly installed; 저면 중앙부에 상기 고정판이 고정 설치되고, 일측이 상기 LCD 검사 장비에 고정되는 지지 다리로 이루어지는 것을 특징으로 하는 LCD 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치.The fixing plate is fixed to the central portion of the bottom, the automatic change device of the probe unit for LCD inspection equipment, characterized in that the one side is made of a support leg fixed to the LCD inspection equipment. 삭제delete 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 프로브 유니트는,The probe unit, 양끝단에 각각 얼라인 카메라를 구비하는 것을 특징으로 하는 LCD 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치.Automatic change device of the probe unit for LCD inspection equipment, characterized in that each end is provided with an alignment camera. 삭제delete 삭제delete
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