KR100863163B1 - 시트형상 제품의 결함 마킹방법 및 장치 - Google Patents
시트형상 제품의 결함 마킹방법 및 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100863163B1 KR100863163B1 KR1020020017989A KR20020017989A KR100863163B1 KR 100863163 B1 KR100863163 B1 KR 100863163B1 KR 1020020017989 A KR1020020017989 A KR 1020020017989A KR 20020017989 A KR20020017989 A KR 20020017989A KR 100863163 B1 KR100863163 B1 KR 100863163B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- marking
- sheet
- defect
- flaw
- shaped product
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2201/00—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
- G02F2201/58—Arrangements comprising a monitoring photodetector
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2203/00—Function characteristic
- G02F2203/69—Arrangements or methods for testing or calibrating a device
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Controlling Rewinding, Feeding, Winding, Or Abnormalities Of Webs (AREA)
Abstract
Description
Claims (8)
- 삭제
- 일정한 폭을 갖고, 폭방향에 수직인 길이방향으로 반송되는 시트형상 제품에 부분적인 결함이 검출될 때, 이 결함 부분을 명시하기 위한 마킹방법으로서,상기 결함부분을 명시하기 위해 마킹용 흠을 내고,상기 결함부분에 대하여, 폭방향의 양측에서 미리 정해진 범위의 근방의 위치에, 상기 마킹용 흠을 내는 것을 특징으로 하는 시트형상 제품의 결함 마킹방법.
- 제 2 항에 있어서,상기 폭방향의 양측에서 상기 마킹용 흠을 내는 위치가 미리 정해진 간격 이상 떨어져 있을 때, 중간에도 상기 마킹용 흠을 내는 것을 특징으로 하는 시트형상 제품의 결함 마킹방법.
- 일정한 폭을 갖고, 폭방향에 수직인 길이방향으로 반송되는 시트형상 제품의 부분적인 결함을 검출하면서, 검출된 결함 부분을 명시하기 위해 마킹용 흠을 내는 장치로서,결함의 검출위치에 대하여 시트형상 제품의 반송방향의 하류측에 배치되고, 검출되는 결함부분에 관하여, 폭방향의 미리 정해진 범위의 근방의 위치에서 상기 시트형상 제품의 표면에 마킹용 흠을 내도록 작동시키는 것이 가능한 마킹 수단과,상기 결함 부분의 검출시점에 근거하는 타이밍조정을 행하고, 시트형상 제품의 길이방향에 대하여, 상기 결함 부분의 전후에 걸치는 미리 정해진 범위에서 마킹수단을 작동시키고, 상기 결함 부분의 폭방향의 적어도 양측에 마킹용 흠을 내도록 제어하는 제어수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 시트형상 제품의 결함 마킹 장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 마킹수단은, 상기 시트형상 제품의 폭방향으로 미리 정해진 간격을 두고 배치되는 복수의 흠표시부재를 구비하고,상기 제어수단은, 상기 복수의 흠표시부재로부터, 상기 결함부분의 폭방향에서 미리 정해진 범위의 근방의 위치에 배치되는 흠표시부재를 선택하여 작동시키는 것을 특징으로 하는 시트형상 제품의 결함 마킹장치.
- 제 5 항에 있어서, 상기 결함부분의 검출은, 상기 시트형상 제품의 폭방향으로 미리 정해진 간격을 두고 배치되는 복수의 검출수단에 의해 행해지고,각 검출수단에 대하여 미리 정해진 개수의 상기 흠표시부재가 대응되며,상기 제어수단은, 각 검출수단으로부터의 결함검출결과에 의거하여, 각 검출수단마다, 대응되어 있는 상기 흠표시부재를 선택하여 작동시키는 것을 특징으로 하는 시트형상 제품의 결함 마킹장치.
- 제 6 항에 있어서,상기 흠표시부재의 하방에, 흠표시시에 시트제품을 지지하기 위한 지지재가 위치하고, 상기 흠표시부재와 상기 지지재와의 사이를 상기 시트형상 제품이 통과하는 것을 특징으로 하는 시트형상 제품의 결함 마킹장치.
- 제 4 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 마킹수단에 대하여 시트형상 제품의 반송방향의 하류측에 배치되는, 상기 시트형상 제품 표면의 부착물을 제거하기 위한 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 시트형상 제품의 결함 마킹장치.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2001-00104672 | 2001-04-03 | ||
JP2001104672A JP4343456B2 (ja) | 2001-04-03 | 2001-04-03 | シート状製品の欠陥マーキング方法および装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20020079417A KR20020079417A (ko) | 2002-10-19 |
KR100863163B1 true KR100863163B1 (ko) | 2008-10-13 |
Family
ID=18957496
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020020017989A KR100863163B1 (ko) | 2001-04-03 | 2002-04-02 | 시트형상 제품의 결함 마킹방법 및 장치 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4343456B2 (ko) |
KR (1) | KR100863163B1 (ko) |
TW (1) | TW555970B (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101167391B1 (ko) | 2010-02-26 | 2012-07-19 | 현대제철 주식회사 | 형강재의 표면 결함 검사장치 |
WO2016013833A1 (ko) * | 2014-07-22 | 2016-01-28 | 주식회사 엘지화학 | 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템 |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006337630A (ja) * | 2005-06-01 | 2006-12-14 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 積層光学フィルムの製造方法 |
JP2009244064A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 偏光フィルムの検査方法 |
CN101368974B (zh) * | 2008-09-28 | 2011-11-30 | 张德丰 | 可将缺陷信息打印在工件上的方法 |
JP5569791B2 (ja) * | 2010-04-14 | 2014-08-13 | 住友化学株式会社 | 光学フィルム作製用原反フィルム、および光学フィルムの製造方法 |
CN104884218A (zh) | 2012-12-28 | 2015-09-02 | 三菱丽阳株式会社 | 光学物品、用于制造光学物品的模具和模具的制造方法 |
CN104175759B (zh) * | 2014-08-21 | 2015-11-25 | 昆山龙腾光电有限公司 | 一种标记笔及其制造方法 |
CN106796184B (zh) * | 2014-10-10 | 2019-11-19 | 住友化学株式会社 | 隔膜及隔膜卷料的制造方法、隔膜卷料及其制造装置 |
KR101898835B1 (ko) * | 2015-04-09 | 2018-09-13 | 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 | 적층 광학 필름의 결함 검사 방법, 광학 필름의 결함 검사 방법 및 적층 광학 필름의 제조 방법 |
JP6661997B2 (ja) * | 2015-11-26 | 2020-03-11 | デクセリアルズ株式会社 | 異方性導電フィルム |
CN106290384B (zh) * | 2016-10-21 | 2018-11-23 | 江苏理工学院 | 无刷直流电机控制线路板在线检测识别方法 |
KR102475056B1 (ko) | 2017-03-03 | 2022-12-06 | 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 | 결함 마킹 방법 및 결함 마킹 장치, 원반의 제조 방법 및 원반, 그리고 시트의 제조 방법 및 시트 |
JP6991721B2 (ja) | 2017-03-03 | 2022-01-12 | 住友化学株式会社 | マーキング装置、欠陥検査システム及びフィルム製造方法 |
JP6978842B2 (ja) | 2017-03-03 | 2021-12-08 | 住友化学株式会社 | マーキング装置、欠陥検査システム及びフィルム製造方法 |
JP6934733B2 (ja) | 2017-03-03 | 2021-09-15 | 住友化学株式会社 | マーキング装置、欠陥検査システム及びフィルム製造方法 |
CN113468350A (zh) * | 2020-03-31 | 2021-10-01 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种图像标注方法、装置及*** |
JP7216385B1 (ja) | 2022-07-27 | 2023-02-01 | 株式会社浅野研究所 | シート加熱成形システム |
CN116730056B (zh) * | 2023-08-15 | 2023-10-27 | 江苏铭丰电子材料科技有限公司 | 一种可测缺陷的铜箔收卷装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11179425A (ja) * | 1997-12-22 | 1999-07-06 | Kawasaki Steel Corp | 欠陥マーキングシステムとそのマーキング位置補正方法 |
JP2000051941A (ja) * | 1998-08-06 | 2000-02-22 | Nkk Corp | 薄鋼板への欠陥マーキング方法 |
JP2001071283A (ja) * | 1999-09-06 | 2001-03-21 | Nkk Corp | マーキング装置 |
-
2001
- 2001-04-03 JP JP2001104672A patent/JP4343456B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-04-02 TW TW091106617A patent/TW555970B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-04-02 KR KR1020020017989A patent/KR100863163B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11179425A (ja) * | 1997-12-22 | 1999-07-06 | Kawasaki Steel Corp | 欠陥マーキングシステムとそのマーキング位置補正方法 |
JP2000051941A (ja) * | 1998-08-06 | 2000-02-22 | Nkk Corp | 薄鋼板への欠陥マーキング方法 |
JP2001071283A (ja) * | 1999-09-06 | 2001-03-21 | Nkk Corp | マーキング装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101167391B1 (ko) | 2010-02-26 | 2012-07-19 | 현대제철 주식회사 | 형강재의 표면 결함 검사장치 |
WO2016013833A1 (ko) * | 2014-07-22 | 2016-01-28 | 주식회사 엘지화학 | 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20020079417A (ko) | 2002-10-19 |
JP2002303580A (ja) | 2002-10-18 |
JP4343456B2 (ja) | 2009-10-14 |
TW555970B (en) | 2003-10-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100863163B1 (ko) | 시트형상 제품의 결함 마킹방법 및 장치 | |
JP2006194721A (ja) | 欠陥マーキング装置 | |
JP4503689B1 (ja) | 液晶表示素子の連続製造方法及び装置 | |
TWI776852B (zh) | 線上測量玻璃板光學特性的系統及相關聯方法 | |
TW201833536A (zh) | 線上檢測玻璃板上/中之小瑕疵的系統及相關聯方法 | |
JP5415709B2 (ja) | 偏光フィルムの仕分けシステム | |
JP2001305070A (ja) | シート状製品の欠陥マーキング方法および装置 | |
JP6033041B2 (ja) | 光学ガラス母材の自動品質検査装置及び光学ガラス母材の自動品質検査方法 | |
CN110036281B (zh) | 玻璃板的检查方法及其制造方法以及玻璃板的检查装置 | |
US8911838B2 (en) | Optical film material roll and method for manufacturing image display device using thereof | |
JP2009244064A (ja) | 偏光フィルムの検査方法 | |
JP2009244064A5 (ko) | ||
KR20130061121A (ko) | 유리 표면에 표면 품질을 결정하는 장치 및 방법 | |
JP2006337630A (ja) | 積層光学フィルムの製造方法 | |
TW200307117A (en) | Method for inspecting polarizing film and apparatus for the method | |
CN108535273B (zh) | 缺陷检查***、膜制造装置及方法、印刷装置及方法 | |
US8540543B2 (en) | Method for continuously manufacturing liquid crystal display panel and inspection method | |
JP2002148198A (ja) | シート状製品の欠陥マーキング装置 | |
KR102476511B1 (ko) | 마킹 장치, 결함 검사 시스템 및 필름 제조 방법 | |
JP2007108125A (ja) | 透明体シート状物の異物欠陥の検査装置およびその方法 | |
KR102478804B1 (ko) | 마킹 장치, 결함 검사 시스템 및 필름 제조 방법 | |
JP5569791B2 (ja) | 光学フィルム作製用原反フィルム、および光学フィルムの製造方法 | |
KR20210150413A (ko) | 검사 장치, 검사 방법 및 필름의 제조 방법 | |
KR102447149B1 (ko) | 마킹 장치, 결함 검사 시스템 및 필름 제조 방법 | |
KR20190085467A (ko) | 광학 표시 패널의 연속 검사 방법 및 연속 검사 장치, 그리고 광학 표시 패널의 연속 제조 방법 및 연속 제조 시스템 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120828 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130903 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140901 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150828 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160826 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170823 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190826 Year of fee payment: 12 |