WO2016013833A1 - 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템 - Google Patents

재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템 Download PDF

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WO2016013833A1
WO2016013833A1 PCT/KR2015/007518 KR2015007518W WO2016013833A1 WO 2016013833 A1 WO2016013833 A1 WO 2016013833A1 KR 2015007518 W KR2015007518 W KR 2015007518W WO 2016013833 A1 WO2016013833 A1 WO 2016013833A1
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fabric
defect
cutting
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defect distribution
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PCT/KR2015/007518
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이규황
이호경
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주식회사 엘지화학
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    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
    • B65H26/00—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions, for web-advancing mechanisms
    • B65H26/02—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions, for web-advancing mechanisms responsive to presence of irregularities in running webs
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
    • B65H35/00—Delivering articles from cutting or line-perforating machines; Article or web delivery apparatus incorporating cutting or line-perforating devices, e.g. adhesive tape dispensers
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
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    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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    • B65H43/00—Use of control, checking, or safety devices, e.g. automatic devices comprising an element for sensing a variable
    • B65H43/04—Use of control, checking, or safety devices, e.g. automatic devices comprising an element for sensing a variable detecting, or responding to, presence of faulty articles

Definitions

  • the present invention relates to a method for producing a cutting product and a cutting system.
  • the product on the film (or sheet) is made in the form of a fabric of size larger than the size of the product to be actually used.
  • optical members such as a polarizing plate, retardation plate, etc. used for a display apparatus etc. are like this.
  • the polarizer supplier is a fabric having a length and width larger than the actual product used in manufacturing the polarizer in consideration of various factors such as the efficiency of the manufacturing process and fluctuations in demand for the product. Manufacture.
  • the fabric is manufactured in a band shape through a continuous process, and the fabric is fabricated and stored in a roll. Thereafter, the fabric wound on the roll is taken out and cut into unit products of a predetermined size.
  • a method of cutting so that a plurality of unit products can be obtained at the same time in one cutting process is used a lot.
  • a cutting frame equipped with a plurality of cutters is used.
  • the yield of the cut unit product varies depending on how the cutting is performed. Low cutting efficiency increases the amount of scrap that is discarded after cutting, ie waste, which ultimately increases the manufacturing cost of the product.
  • defects are considered for the quality (quality) of the fabric when cutting.
  • a fault is formed in a manufacturing process of a raw material, a winding process, etc.
  • the polarizing plate used for display apparatuses is manufactured through the process of (1) obtaining a polarizer, (2) laminating a polarizer protective layer, and (3) laminating a protective film or a release film. do.
  • a polyvinyl alcohol (PVA) film is mainly dyed and stretched and a polarizer is obtained.
  • PVA polyvinyl alcohol
  • TAC triacetyl cellulose
  • the polarizing plate may be wound on a roll in the process of proceeding each process, at least the product having the above (3) process is wound on the roll and stored.
  • handling property etc. are advantageous in the ease of storage, cutting process, etc. as well as the transportability to each process.
  • the defect of the original fabric is mainly generated in the stretching or winding process.
  • both ends of the fabric are fixed to the stretching apparatus, where defects may occur in the fixing portion.
  • a fault may arise in the edge part fixed to a roll.
  • periodic defects may occur at the site of contact with the roll due to the characteristics of the rotating roll. If defects are found in the cut unit product, the loss of the product is high.
  • the cutting of the fabric during the inspection process for inspecting the location (distribution) of the defect, the yield calculation process for calculating the yield of the unit product when the virtual cutting based on the inspected defect information, the yield calculation process On the basis of the calculated value, it is progressing through a cutting process for cutting to have a yield higher than a predetermined value (highest yield).
  • Republic of Korea Patent Publication No. 10-2008-0033863 Republic of Korea Patent No. 10-1179071, Republic of Korea Patent No. 10-1315102, etc. discloses a technology related to the above.
  • the yield is an area yield, which is calculated by dividing the total area of the unit product obtained after cutting by the total area of the fabric before cutting, and is usually expressed as a percentage (%).
  • the fabric may continue to change left and right while repeating the unwinding and winding after the defect inspection.
  • the present invention is to solve the problem to provide a production method and a cutting system of a cutting product that can continuously match the defect information of the initial fabric to the processed fabric through a number of processes.
  • an object of the present invention is to provide a method for producing a cutting product and a cutting system that can easily distinguish the left / right and the starting point / end point of each of the initial fabric and the processed fabric.
  • generating a defect distribution map of the fabric based on the defect information of the fabric (a); And (b) generating a plurality of defect distribution maps corresponding to respective regions of the cut fabric by dividing the defect distribution map of the fabric along the cut line of the fabric.
  • a defect distribution map can be generated based on the x-y coordinate of the defect with respect to the reference point.
  • each defect distribution map may be generated based on the x-y coordinate of the defect with respect to the changed reference point.
  • the fabric may be formed with one or more markings to distinguish the left and the right.
  • the marking portion may be formed along at least one end of the left end and the right end of the fabric along the longitudinal direction of the fabric.
  • the marking portion may include at least one of a printing portion formed by printing, a notch portion formed by a thickness step, and a drilling portion formed by perforation.
  • the marking portion may be formed continuously or discontinuously along the longitudinal direction of the fabric.
  • the marking portion may be formed on the fabric before step (b).
  • the step of generating a defect distribution map of the fabric based on the defect information of the fabric and when cutting the fabric into a plurality of strips along the cutting line, the defect distribution map of the fabric along the cutting line There is provided a method for producing a cut product comprising generating a defect distribution map of each strip by dividing.
  • the production method of the cut product may further include cutting the strip into a plurality of unit products based on the defect distribution map of the strip.
  • the fabric may be formed with one or more markings to distinguish the left and the right.
  • the marking portion may be formed along at least one end of the left end and the right end of the fabric along the longitudinal direction of the fabric.
  • the marking unit may be provided on one surface of the fabric to distinguish the starting point and the end point of the fabric.
  • the defect distribution map of the far-end may be generated based on the x-y coordinate of the defect with respect to the reference point.
  • a defect distribution map of each strip may be generated based on the x-y coordinate of the defect with respect to the modified reference point.
  • a cutting system including a mode for generating a defect distribution map of the fabric based on the defect information of the fabric, splitting the defect distribution map of the fabric along the cutting line of the fabric and storing each; Is provided.
  • the cutting system may further include a mode of forming a marking portion on at least one of the left side and the right side of the far end.
  • the cutting system may further include a stretching mode, a coating mode, and a slitting cutting mode.
  • the defect distribution map of the far-end may be generated based on the x-y coordinate of the defect with respect to the reference point.
  • each of the divided defect distribution maps may be generated based on the x-y coordinate of the defect with respect to the changed reference point.
  • the defect distribution map of the fabric may be generated based on the defect information of the initial fabric. In addition, it can be used continuously by matching the defect distribution map to the processed fabric or the final fabric.
  • the defect information of the initial fabric can be consistently matched to the fabric processed over a number of processes.
  • FIG. 1 is a plan view of a fabric associated with the present invention.
  • FIG. 2 is a plan view illustrating a fabric and a strip according to the present invention.
  • 3 is a plan view for explaining the far-end and defect distribution map associated with the present invention.
  • Figure 4 is a plan view for explaining the fabric and marking portion related to the present invention.
  • 5 and 6 are flow charts for explaining a method for producing a cutting product associated with an embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is a configuration diagram showing a cutting system related to an embodiment of the present invention.
  • each component member may be exaggerated or reduced. Can be.
  • FIG. 1 is a plan view of the fabric 10 according to the present invention
  • Figure 2 is a plan view for explaining the fabric 10 and strips (11, 12, 13) related to the present invention
  • Figure 3 is a fabric associated with the present invention It is a top view for demonstrating 10 and the fault distribution map 30.
  • FIG. 1 is a plan view of the fabric 10 according to the present invention
  • Figure 2 is a plan view for explaining the fabric 10 and strips (11, 12, 13) related to the present invention
  • Figure 3 is a fabric associated with the present invention It is a top view for demonstrating 10 and the fault distribution map 30.
  • the method for producing a cut product according to an embodiment of the present invention includes the step (a) of generating a defect distribution map of the fabric based on defect information of the fabric.
  • the production method of the cut product includes the step (b) of generating a plurality of defect distribution map corresponding to each area of the cut fabric by dividing the defect distribution map of the fabric along the cutting line of the fabric.
  • the "fabric" to be cut is a base material on a film (or sheet), which is included here as long as it has a relatively larger size than before cutting.
  • the type or laminated structure of the fabric 10 is not particularly limited.
  • the fabric 10 may be selected from, for example, an optical member, a protective member, or the like on a film (or sheet) applied to an electric or electronic product.
  • the fabric 10 may be selected from an optical member applied to a display device such as a TV or a monitor.
  • the fabric 10 includes a monolayer and / or a laminate.
  • the far end 10 may be selected from a polarizer.
  • the polarizing plate may have a laminated structure including a polarizer and a polarizer protective layer formed on the polarizer.
  • the polarizer may be selected from, for example, dyed and stretched polyvinyl alcohol (PVA) films and the like.
  • the polarizer protective layer may be selected from, for example, a triacetyl cellulose (TAC) film and the like, and may be attached to both surfaces of the polarizer through an adhesive.
  • the polarizing plate may have a laminated structure further including a protective film and / or a release film formed on the polarizer protective layer.
  • the fabric 10 may be taken out in a state of being wound on a roll, for example, in a strip shape.
  • the width X and the length Y of the fabric 10 are not limited.
  • the fabric 10 may have, for example, a width X of 40 mm to 2,500 mm and a length Y of 1,000 cm to 3,000 m.
  • the fabric 10 to be cut includes those in which defects (d, defects) exist and / or defects (d) do not exist.
  • Defect (d) is an undesirable defect as a product, which may be formed in the manufacturing process and / or winding process of the fabric (10).
  • the drawbacks include, for example, foreign matter, contamination, torsion, scratches and / or bubbles.
  • “foundation” may be used to mean one or more selected from “slitting foundation” and “unit cutting”.
  • the "slit cutting” means to cut the fabric 10 in the length (Y) direction to be cut into strip-shaped semi-finished products
  • the “unit cutting” is the length of the fabric 10 It means cutting to the unit product by cutting in the (Y) direction and the width (X) direction.
  • the strip-shaped semi-finished product obtained through the slitting cutting is referred to as 'strip'
  • the cutting product obtained through the unit cutting is referred to as 'single item' or 'unit product'.
  • the single piece is a single piece of end product having a length and width smaller than that of the fabric 10, which may have, for example, a rectangular shape.
  • the strips 11, 12 and 13 are strip-shaped semi-finished products having a width smaller than that of the fabric 10, which can be cut into single pieces through unit cutting. have.
  • FIG. 2 illustrates a state for slitting and cutting the fabric 10 into the first strip 11, the second strip 12, and the third strip 13.
  • each strip 11-13 may be cut along the cutting line 20 on the fabric 10.
  • the width X-Z of the cutting line 20 may be determined to be smaller than the width X of the fabric.
  • the width X-Z of the cutting line 20 may be substantially equal to the sum of the widths of the respective strips 11 to 13.
  • the cutting method is not particularly limited.
  • the cutting method may be any one capable of dividing the original fabric 10 into at least one piece of article and / or strips 11, 12, 13. Cutting may be carried out, for example, through a metal knife, a jet water knife and / or a light source, and the like, for example, a laser beam or the like.
  • area yield means calculated by dividing the total area of the cut product obtained after cutting by the total area of the fabric 10 before cutting. Area yield can be expressed as a percentage, as usual.
  • the cut product is then selected from a single piece and / or strip 11, 12, 13.
  • the total area of the foundation product is calculated as the area of one foundation product x the number of foundation products produced.
  • size may mean one or more selected from the width, length, area, and diagonal length of the fabric 10 or the cut product (single and / or strip).
  • FIG. 4 is a plan view illustrating a fabric and a marking part related to the present invention
  • FIGS. 5 and 6 are flowcharts illustrating a method of manufacturing a cutting product according to an embodiment of the present invention.
  • 4A is a plan view of the original fabric in the stretching process
  • FIG. 4B is a plan view of the original fabric in the coating process
  • FIG. 4C is a plan view of the original fabric in the slitting process.
  • the fabric marked defects in the coating process is slitting in the subsequent process is transferred to the cutting process.
  • a process of inferring defect information of the strip based on the defect information of the first fabric is required. Therefore, through a software approach such as a program, it is necessary to continuously infer the defect distribution map in the final fabric state in consideration of the work characteristics of the subsequent process based on the defect distribution map of the existing fabric.
  • a method of manufacturing a cut product includes generating a defect distribution map 30 of a fabric based on defect information of the fabric (S101) and cutting the fabric along the cutting line 20 of the fabric 10. Dividing the defect distribution map 30.
  • the defect d of the distal end 10 can be inspected by an inspector or a defect inspection device constituting a cutting system.
  • the defect d may be inspected by a defect inspection unit, and the defect inspection unit may include a defect inspection apparatus for inspecting the defect d by an automatic scanning method through an image.
  • the defect inspection unit 100 may further include a display unit. The defect information of the fabric 10 inspected by the defect inspection apparatus may be displayed on the screen through the display unit.
  • the determination information includes a position (distribution), a type, a size and / or a number of defects d, and in the case of a position (distribution) of the defects d, it may be displayed on the display unit in x-y coordinates.
  • the defect distribution map may be generated based on a rectangular coordinate system.
  • a defect distribution map may be generated based on the x-y coordinate of the defect with respect to the reference point.
  • each defect distribution map may be generated based on the x-y coordinate of the defect with respect to the changed reference point.
  • the inspection method, the marking method, etc. of the fault (d) are not specifically limited, These can be performed, for example by a conventional method. In this way, a defect distribution map of the fabric 10 is generated based on the determination information of the fabric. Generation of the defect distribution map of the far end 10 may be performed through the control unit 200 (see FIG. 7) constituting the cutting system.
  • controller 200 divides the defect distribution map 30 of the fabric 10 along the cutting line 20 of the fabric 10 and stores the divided defect distribution maps.
  • the segmented defect distribution map can be used continuously over subsequent processes (or subsequent modes).
  • the method for producing a cutting product is to produce a defect distribution map 30 of the fabric based on the defect information of the fabric (10) (S201) and the fabric along the cutting line (20) 10) cutting the defect distribution map 30 of the far end 10 along the cutting line 20 to generate the defect distribution map of each strip when cutting 10) into a plurality of strips 11 to 13. do.
  • the method for producing the cut product may further include cutting the strips 11 to 13 into a plurality of unit products by reflecting a defect distribution map of the strips 11 to 13. That is, the crystal distribution map 30 of the fabric may be continuously used until the process of cutting the final unit product, and a separate defect inspection step may be omitted for each process.
  • the fabric 10 may include a marking part 15. Specifically, at least one marking portion 15 may be formed on the fabric 10 to distinguish the left side and the right side.
  • the marking unit 15 may be provided to distinguish the direction of the fabric (10).
  • the marking part 15 is preferably provided to distinguish at least the left side and the right side of the fabric 10.
  • the marking unit 15 may be provided on one surface of the fabric 10 so as to distinguish the start point and the end point of the fabric.
  • the marking part 15 may be formed along a length (Y) direction of the fabric 10 at at least one of the left end DS and the right end OS of the fabric 10.
  • each end (OS) (DS) means the edge of the fabric 10, which may mean, for example, a width within 2cm from the end of the left or right of the fabric (10).
  • the width of the marking portion 15 is not limited.
  • the marking part 15 may have a width of 0.01 mm to 2 cm, 0.02 mm to 1.5 cm, 0.1 to 1 cm, or 0.5 mm to 0.5 cm.
  • the marking part 15 may be formed continuously or discontinuously along the length (Y) direction of the fabric (10). 3 shows an embodiment in which the marking part 15 is continuously formed in a straight line along the length (Y) direction of the fabric 10.
  • the marking part 15 may be formed in a relatively large area of the left and right of the fabric.
  • the marking unit 15 is not limited as long as it can be recognized by the naked eye and / or the identification device.
  • the marking portion 15 may include, for example, at least one of a printing portion formed by printing, a notch portion formed by a thickness step, and a drilling portion formed by perforation.
  • the printing unit may be provided by printing color material.
  • the notch is not limited as long as it has a thickness step, which may be selected from an oscillation processing portion formed by pressing or a half cutting portion formed by half-cutting.
  • the perforations may be formed discontinuously.
  • the marking part 15 may be formed before the defect inspection of the fabric 10 or after the defect inspection of the fabric 10 is performed. In one embodiment, the marking unit 15 may be formed after the defect inspection of the fabric (10). In addition, the marking portion 15 may be formed on the fabric before step (b) described above.
  • the marking portion 15 improves at least cutting productivity of the fabric 10.
  • the fabric 10 may be changed left and right while repeating the unwinding and winding after the defect inspection is made.
  • the marking unit 15 may distinguish the direction of the fabric 10 even when the left and right sides are changed by repetition of unwinding and winding.
  • the marking portion 15 when the marking portion 15 is formed at the right end OS of the fabric 10, the surface on which the marking portion 15 is formed is a divided surface (front surface), The side on which the marking portion 15 is formed is the right side. The upper side is the starting point of the fabric 10 based on the divided surface. Therefore, the marking part 15 may distinguish the starting point and the end point of the fabric 10 as well as the left / right sides of the fabric 10.
  • the marking unit 15 may be an index for determining the position and direction of the defect distribution map of each strip in which the defect distribution map 30 of the fabric and the defect distribution map 30 of the fabric are divided.
  • the defect distribution map of the far end may be generated based on the x-y coordinate of the defect with respect to the reference point, and the defect distribution map of each strip may be generated based on the x-y coordinate of the defect with respect to the changed reference point.
  • the defect distribution map of the far end may be generated based on the x-y coordinate of the defect based on the E point.
  • a defect distribution map of each strip 25 and 26 may be generated based on the x-y coordinate of the defect based on the changed reference point D.
  • the marking unit 15 may be usefully used to distinguish the defect distribution direction in, for example, a subsequent process such as a cutting process.
  • a subsequent process such as a cutting process.
  • the defects d formed in the fabric 10 are irregular and have different distributions in the entire region of the fabric 10.
  • the defect distribution direction of the fabric 10 may be easily distinguished by the marking unit 15 so that the inspected defect information and the defect distribution direction of the actual fabric 10 may be matched 1: 1. Accordingly, productivity of the cutting product may be improved by the marking part 15.
  • FIG. 7 is a configuration diagram showing a cutting system related to an embodiment of the present invention.
  • the cutting system includes a mode for generating a defect distribution map of the fabric based on defect information of the fabric, and dividing and storing the defect distribution map of the fabric along the cutting line of the fabric.
  • the cutting system may further include a mode of forming a marking portion on at least one of the left side and the right side of the fabric.
  • the cutting system may further include a stretching mode, a coating mode, and a slitting cutting mode.
  • the cutting system includes a control unit 200 for performing each mode.
  • the cutting system may include a product information input unit 110, a far-end information input unit 120, and a cutting unit 300.
  • Product information is input to the product information input unit 110 and stored.
  • the information of the product includes the size of each product.
  • the product information input unit 110 stores and stores sizes for each of the five strip products.
  • the fabric information input unit 120 is input to the fabric information for the fabric (10).
  • the fabric information input unit 120 includes, as fabric information, for example, a production cost of the fabric 10, a price of the fabric 10, and / or an up date (and / or a production date, etc.) of the fabric 10. Can be stored.
  • the production cost includes at least the manufacturing cost of the fabric (10).
  • at least the fabrication cost of the fabric 10 may be input and stored in the fabric information input unit 120.
  • the cutting information input unit 120 may be input to the cutting cost expected to be generated in the cutting of the fabric (10).
  • the fabric information input unit 120 may input, for example, the fabric size of the fabric 10 as fabric information. In detail, at least one selected from the width X and the length Y of the fabric 10 may be input to the fabric information input unit 120.
  • the stock information input unit 120 may be additionally inputted the date and the production date of the fabric 10 and / or the like.
  • the controller 200 may include an area yield calculator.
  • the area yield calculation unit calculates the number of strips 11, 12, 13 and the widths of the strips 11, 12, 13 to maximize the area yield when the fabric 10 is virtually cut.
  • the area yield calculator may calculate the number of strips and the width of the strip to maximize the area yield based on the information of the product information input unit 110 and / or the far-end information input unit 120.
  • the cutting unit 300 may cut the fabric 10 in a cutting form having a maximum area yield based on the result calculated by the area yield calculating unit.
  • the cutting part 300 may have a width (number of lines) and / or a width of the strips 11, 12 and 13 calculated by the area yield calculator.
  • the fabric 10 can be cut.
  • the cutting system may include a defect information storage unit 400 and the good value calculation unit 500.
  • the defect information storage unit 400 is inputted and stored the defect information of the far-end (10).
  • the defect information may include, for example, a distribution (position) of the defect (d) and / or the kind of the defect (d) existing in the far-end 10.
  • the defect information may be inspected by a defect inspection apparatus (not shown) and input to the defect information storage unit 400.
  • the defect information may be displayed on the x-y coordinates through a monitor (not shown).
  • the yield calculation unit 500 calculates an area yield according to the yield ratio, that is, the distribution of the defects d, based on the distribution of defects d stored in the defect information storage unit 400.
  • the yield calculation unit 500 calculates a yield ratio in consideration of such a cut shape and a defect (d) distribution when a cutting shape having a maximum area yield is calculated in the area yield calculation unit.
  • the cutting unit 300 may cut the fabric 10 in an array of strips having the highest yield ratio.
  • control unit 200 is provided to generate a defect distribution map of the far-end based on the x-y coordinate of the defect with respect to the reference point.
  • controller 200 may be configured to generate respective defect distribution maps divided based on the x-y coordinates of the defect with respect to the changed reference point.
  • the cutting system may include a defect inspection unit.
  • the cutting system may include a cutting portion for cutting the fabric 10 along the cutting line (20).
  • the cutting system generates a defect distribution map of the fabric based on the defect information of the fabric, and when the fabric is cut into a plurality of strips along the cutting line, the defect distribution of the fabric along the cutting line By dividing the map, a mode for generating a defect distribution map of each strip is included.
  • the cutting system may cut the fabric 10 by dividing the direction of the fabric 10 based on the marking part 15. That is, the left and right sides of the fabric 10 may be divided and cut through the marking unit 15.
  • the cutting system may also cut the fabric 10 or each strip based on the crystal distribution map 30 of the fabric and the defect distribution map of each strip. That is, it can be cut so as to have the maximum area yield based on the defect information of the fabric 10. More specifically, the cutting system may calculate the maximum area yield based on defect information inspected through the defect inspection. In addition, the cutting system may match the defect information inspected with the defect distribution map of the actual fabric 10 and the direction of the defect distribution map of each strip through the marking unit 15. Thereafter, the cutting system may cut the fabric to have the maximum area yield according to the calculated result.
  • the aforementioned cutting part may be provided to perform the cutting as described above.
  • the cutting part cuts out the original fabric 10 from a roll, for example, so that it may have maximum area yield.
  • the cutting portion includes at least a cutting device.
  • the cutting device may include, for example, support means for supporting the fabric 10 and cutting means for cutting the fabric 10.
  • the support means may comprise one or more selected from, for example, a transfer conveyor, a transfer roll, a support plate, and the like.
  • the cutting means may have a structure including one or more selected from, for example, a metal knife, a jet water knife and a light source (laser beam irradiator, etc.).
  • the cutting part 300 includes a first cutting part which slits the fabric 10 in the longitudinal direction to obtain a plurality of strips 11, 12, 13.
  • the cutting part 300 may include a second cutting part which cuts the obtained strips 11, 12, 13 in the width direction to obtain a single product.
  • the defect distribution map of the fabric may be generated based on the defect information of the original fabric, and the defect information of the initial fabric may be continuously used by matching the defect distribution map to the processed fabric or the final fabric.

Landscapes

  • Treatment Of Fiber Materials (AREA)

Abstract

본 발명은 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템에 관한 것으로, 본 발명의 일 측면에 따르면, 원단의 결점 정보에 기초한 원단의 결점 분포 지도를 생성하는 단계 및 원단의 재단선을 따라 원단의 결점 분포 지도를 분할함으로써 재단된 원단의 각각의 영역에 대응하는 복수 개의 결점 분포 지도를 생성하는 단계를 포함하는 재단 제품의 생산방법이 제공된다.

Description

재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템
본 발명은 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템에 관한 것이다.
본 출원은 2014년 7월 22일자 한국 특허 출원 제10-2014-0092629호와 2014년 10월 16일자 한국 특허 출원 제10-2014-0139778호 및 2015년 7월 20일자 한국 특허 출원 제10-2015-0102557호에 기초한 우선권의 이익을 주장하며, 해당 한국 특허 출원의 문헌들에 개시된 모든 내용은 본 명세서의 일부로서 포함된다.
일반적으로, 필름(또는 시트) 상의 제품은 실제 사용될 제품의 크기보다 큰 크기의 원단 형태로 제조된다. 예를 들어, 디스플레이 장치 등에 사용되는 편광판이나 위상차판 등과 같은 광학 부재 등이 그러하다. 구체적인 예를 들어, 편광판 공급자(제조업자)는 제조공정의 효율성 측면과 제품에 대한 수요 변동 등의 다양한 요인들을 고려하여, 편광판의 제조 시에 실제 사용될 제품보다 큰 크기의 길이와 폭을 가지는 원단으로 제조하고 있다.
또한, 원단은, 대부분의 경우 연속적인 공정을 통해 띠 형상으로 제조되며, 제조된 원단은 롤(roll)에 권취(winding)되어 보관된다. 이후, 롤에 권취된 원단은 인출된 다음, 소정 크기의 단위 제품으로 재단된다.
일반적으로, 원단을 재단함에 있어서는, 1회의 재단 공정으로 복수 개의 단위 제품이 동시에 얻어질 수 있도록 재단하는 방법이 많이 사용되고 있다. 예를 들어, 복수의 커터가 장착된 재단 프레임을 이용한다. 이때, 재단을 어떠한 방식으로 진행하는가에 따라 재단된 단위 제품의 수율이 달라진다. 낮은 재단 효율성은 재단 후 버려지는 스크랩(scrap), 즉 폐기물의 양을 증가시키며, 이는 궁극적으로 제품의 제조비용을 상승시키는 원인이 된다.
또한, 원단의 종류에 따라 제품으로 바람직하지 못한 결점(defect)이 존재할 수 있다. 이 경우, 원단의 재단 시에는 양질의 품질화(양품화)를 위해 결점이 고려된다. 일반적으로, 결점은 원단의 제조 공정이나 권취 공정 등에서 형성된다.
예를 들어, TV 등의 디스플레이 장치에 사용되는 편광판은, (1)편광자를 얻는 공정, (2)편광자 보호층을 적층하는 공정, 및 (3)보호 필름이나 이형 필름을 적층하는 공정을 통해 제조된다. 편광자를 얻는 공정에서는 주로 폴리비닐알코올(PVA) 필름을 염색 및 연신하여 편광자를 얻는다. 편광자 보호층을 적층하는 공정에서는 상기 편광자의 양면에 접착제를 통해 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름을 부착하여 편광자 보호층을 적층한다. 이때, 편광판은 각 공정을 진행하는 과정에서 롤에 권취될 수 있으며, 적어도 상기 (3)공정을 진행한 제품은 롤에 권취되어 보관된다. 이와 같이 롤에 권취하는 경우, 각 공정으로의 운반성은 물론, 보관의 용이성 및 재단 공정 등에서 취급성 등이 유리하다.
원단의 결점은 상기 연신이나 권취 공정에서 주로 발생된다. 예를 들어, 연신 공정에서는 원단의 양측 단부를 연신 장치에 고정하고 있는데, 이때 상기 고정 부위에 결점이 발생할 수 있다. 권취 공정의 경우에는 롤에 고정하는 단부 부위에 결점이 발생할 수 있다. 또한, 권취 공정의 경우, 롤에 흠집이 존재하는 경우, 회전하는 롤의 특성상 롤과 접촉되는 부위에 주기적인 결점(periodic defect)이 발생할 수 있다. 재단된 단위 제품에 결점이 확인되는 경우, 제품의 손실이 커진다.
이에 따라, 결점을 가지는 원단을 재단함에 있어서는 재단에 앞서 결점 검사가 이루어지며, 재단된 단위 제품에 결점이 포함되지 않도록 결점을 피하여 재단한다. 또한, 상기한 바와 같이 재단된 단위 제품의 수율이 고려된다.
일반적으로, 원단의 재단은, 결점의 위치(분포)를 검사하는 검사 과정, 상기 검사된 결점 정보에 기초하여 가상으로 재단할 때의 단위 제품의 수율을 산출하는 수율 산출 과정, 상기 수율 산출 과정에서 계산 값을 바탕으로 소정치 이상의 수율(최고 수율)을 갖도록 재단하는 재단 과정을 통해 진행되고 있다.
예를 들어, 대한민국 공개특허 제10-2008-0033863호, 대한민국 등록특허 제10-1179071호, 및 대한민국 등록특허 제10-1315102호 등에는 위와 관련한 기술이 개시되어 있다.
위와 같이 원단을 재단함에 있어서는 결점을 피하여 재단하되, 최고의 수율을 고려하여 재단한다. 이때, 수율은 면적 수율로서, 이는 재단 후에 얻어지는 단위 제품의 총면적을 재단 전 원단의 총면적으로 나누어 산출하며, 통상 백분율(%)로 나타낸다.
그러나 종래 기술에 따른 재단 방법은, 예를 들어 다음과 같은 문제점이 지적된다.
최근, 대부분의 원단은 매우 큰 폭으로 제조되고 있다. 이 또한 원단 제조공정의 효율성 측면과 제품에 대한 수요 변동 등의 요인들을 고려한 것이다. 이러한 큰 폭을 가지는 원단에 대해서는 원단의 길이 방향으로 재단하는 슬리팅(slitting) 재단이 필요할 수 있다. 그러나 종래 기술에 따른 재단 방법은 최대의 면적 수율을 위한 단위 제품의 재단에 국한되고, 슬리팅 재단은 고려하지 않고 있다. 이에 따라, 최대의 재단 효율성을 고려한 방법으로 보기 어렵다.
또한, 원단은 결점 검사가 이루어진 후에 풀림과 감김을 반복하면서 좌측과 우측이 계속해서 바뀔 수 있다. 이 경우, 재단 공정 등의 후속 공정에서 검사된 결점 정보와 실제 원단의 매칭(matching)이 어려워 재단 제품의 생산성 등이 떨어지는 문제점이 있다.
본 발명은 초기 원단의 결점정보를 여러 공정에 걸쳐 가공된 원단에 지속적으로 매칭시킬 수 있는 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템을 제공하는 것을 해결하고자 하는 과제로 한다.
또한, 본 발명은 초기 원단 및 가공된 각각의 원단의 좌/우 및 시작점/끝점을 용이하게 구분할 수 있는 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템을 제공하는 것을 해결하고자 하는 과제로 한다.
상기한 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 일 측면에 따르면, 원단의 결점 정보에 기초한 원단의 결점 분포 지도를 생성하는 단계 (a); 및 원단의 재단선을 따라 원단의 결점 분포 지도를 분할함으로써 재단된 원단의 각각의 영역에 대응하는 복수 개의 결점 분포 지도를 생성하는 단계 (b)를 포함하는 재단 제품의 생산방법이 제공된다.
또한, 단계 (a)에서, 결점 분포 지도는, 기준점에 대한 결점의 x-y좌표에 기초하여 생성될 수 있다.
또한, 단계 (b)에서, 각각의 결점 분포 지도는 변경된 기준점에 대한 결점의 x-y좌표에 기초하여 생성될 수 있다.
또한, 원단에는 좌측과 우측을 구분할 수 있는 하나 이상의 마킹부가 형성될 수 있다.
또한, 마킹부는 원단의 좌측 단부 및 우측 단부 중 적어도 하나의 단부에 원단의 길이방향을 따라 형성될 수 있다.
또한, 마킹부는 인쇄에 의해 형성된 인쇄부, 두께 단차에 의해 형성된 노치부, 및 천공에 의해 형성된 천공부 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
또한, 마킹부는 원단의 길이방향을 따라 연속적 또는 불연속적으로 형성될 수 있다.
또한, 마킹부는 단계 (b) 이전에 원단에 형성될 수 있다.
또한, 본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 원단의 결점 정보에 기초한 원단의 결점 분포 지도를 생성하는 단계 및 재단선을 따라 원단을 복수 개의 스트립으로 재단하는 경우, 재단선을 따라 원단의 결점 분포 지도를 분할함으로써 각각의 스트립의 결점 분포 지도를 생성하는 단계를 포함하는 재단 제품의 생산방법이 제공된다.
또한, 재단 제품의 생산방법은, 해당 스트립의 결점 분포 지도에 기초하여, 상기 스트립을 복수 개의 단위 제품으로 재단하는 단계를 추가로 포함할 수 있다.
또한, 원단에는 좌측과 우측을 구분할 수 있는 하나 이상의 마킹부가 형성될 수 있다.
또한, 마킹부는 원단의 좌측 단부 및 우측 단부 중 적어도 하나의 단부에 원단의 길이방향을 따라 형성될 수 있다.
또한, 마킹부는 원단의 시작점과 끝점을 구분할 수 있도록 원단의 일면에 마련될 수 있다.
또한, 원단의 결점 분포 지도는, 기준점에 대한 결점의 x-y좌표에 기초하여 생성될 수 있다.
또한, 각각의 스트립의 결점 분포 지도는 변경된 기준점에 대한 결점의 x-y좌표에 기초하여 생성될 수 있다.
또한, 본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 원단의 결점 정보에 기초한 원단의 결점 분포 지도를 생성하고, 원단의 재단선을 따라 원단의 결점 분포 지도를 분할하여 각각 저장하는 모드를 포함하는 재단 시스템이 제공된다.
또한, 재단 시스템은, 원단의 좌측 및 우측 중 적어도 한 측에 마킹부를 형성하는 모드를 추가로 포함할 수 있다.
또한, 재단 시스템은, 연신 모드, 코팅 모드, 및 슬리팅 재단 모드를 추가로 포함할 수 있다.
또한, 원단의 결점 분포 지도는, 기준점에 대한 결점의 x-y좌표에 기초하여 생성될 수 있다.
또한, 분할된 각각의 결점 분포 지도는 변경된 기준점에 대한 결점의 x-y좌표에 기초하여 생성될 수 있다.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명에 따르면, 개선된 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템을 제공할 수 있다.
초기 원단의 결점정보를 기초로 원단의 결점 분포 지도를 생성할 수 있다. 또한, 가공된 원단 또는 최종 원단에 상기 결점 분포 지도를 매칭시킴으로써 지속적으로 사용할 수 있다.
또한, 원단의 결점 분포 지도를 분할함으로써 각각의 스트립의 결점 분포 지도를 생성할 수 있다. 따라서, 초기 원단의 결점정보를 여러 공정에 걸쳐 가공된 원단에 지속적으로 매칭시킬 수 있다.
또한, 가공된 원단 또는 최종 원단의 좌/우 및 시작점/끝점을 용이하게 구분할 수 있다.
도 1은 본 발명과 관련된 원단의 평면도이다.
도 2는 본 발명과 관련된 원단 및 스트립을 설명하기 위한 평면도이다.
도 3은 본 발명과 관련된 원단 및 결점 분포 지도를 설명하기 위한 평면도이다.
도 4는 본 발명과 관련된 원단 및 마킹부를 설명하기 위한 평면도이다.
도 5 및 도 6은 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법을 설명하기 위한 플로우 차트들이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 시스템을 나타내는 구성도이다.
이하, 본 발명의 일 실시예에 따른 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템을 첨부된 도면을 참고하여 상세히 설명한다.
또한, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 대응되는 구성요소는 동일 또는 유사한 참조번호를 부여하고 이에 대한 중복 설명은 생략하기로 하며, 설명의 편의를 위하여 도시된 각 구성 부재의 크기 및 형상은 과장되거나 축소될 수 있다.
도 1은 본 발명과 관련된 원단(10)의 평면도이고, 도 2는 본 발명과 관련된 원단(10) 및 스트립(11, 12, 13)을 설명하기 위한 평면도이며, 도 3은 본 발명과 관련된 원단(10) 및 결점 분포 지도(30)를 설명하기 위한 평면도이다.
본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 재품의 생산방법은, 원단의 결점 정보에 기초한 원단의 결점 분포 지도를 생성하는 단계 (a)를 포함한다.
또한, 재단 제품의 생산방법은, 원단의 재단선을 따라 원단의 결점 분포 지도를 분할함으로써 재단된 원단의 각각의 영역에 대응하는 복수 개의 결점 분포 지도를 생성하는 단계 (b)를 포함한다.
본 문서에서, 재단의 대상이 되는 "원단"은 필름(또는 시트) 상의 모재로서, 이는 재단 전보다 상대적으로 큰 크기를 가지는 것이면 여기에 포함한다. 또한, 본 발명에서, 원단(10)의 종류나 적층 구조는 특별히 제한되지 않는다. 원단(10)은, 예를 들어 전기, 전자 제품 등에 적용되는 필름(또는 시트) 상의 광학 부재나 보호 부재 등으로부터 선택될 수 있다. 상기 원단(10)은, 보다 구체적인 예를 들어 TV나 모니터 등과 같은 디스플레이 장치 등에 적용되는 광학 부재로부터 선택될 수 있다. 또한, 원단(10)은 단층체 및/또는 적층체를 포함한다.
하나의 예시에서, 원단(10)은 편광판으로부터 선택될 수 있다. 이때, 상기 편광판은 편광자와, 상기 편광자 상에 형성된 편광자 보호층을 포함하는 적층 구조를 가질 수 있다. 상기 편광자는, 예를 들어 폴리비닐알코올(PVA) 필름 등을 염색 및 연신한 것으로부터 선택될 수 있다. 상기 편광자 보호층은, 예를 들어 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름 등으로부터 선택되어, 상기 편광자의 양면에 접착제를 통해 부착될 수 있다. 아울러, 상기 편광판은 편광자 보호층 상에 형성된 보호 필름 및/또는 이형 필름을 더 포함하는 적층 구조를 가질 수 있다.
원단(10)은, 예를 들어 띠 형상으로서, 롤에 권취된 상태에서 인출될 수 있다. 원단(10)의 폭(X)과 길이(Y)는 제한되지 않는다. 원단(10)은, 예를 들어 40 ㎜ 내지 2,500 ㎜의 폭(X)과, 1,000 ㎝ 내지 3,000 m의 길이(Y)를 가질 수 있다.
또한, 본 발명에서, 재단의 대상이 되는 원단(10)은 결점(d, defect)이 존재하는 것, 및/또는 결점(d)이 존재하지 않는 것을 포함한다. 결점(d)은 제품으로 바람직하지 못한 불량점으로서, 이는 원단(10)의 제조 공정 및/또는 권취 공정 등에서 형성된 것일 수 있다. 결점은, 예를 들어 이물질, 오염, 비틀림, 스크래치 및/또는 기포 등을 예로 들 수 있다.
첨부된 도면에서, "*"은 결점(d)을 나타낸다. 원단(10)에는 위와 같은 결점(d)이 1종류 또는 서로 다른 2종류 이상이 존재할 수 있으나, 도면에서는 결점(d)의 종류를 고려하지 않고 "*"로 나타내었다.
한편, 본 문서에서, "재단"은 "슬리팅 재단" 및 "단위 재단" 중에서 선택된 하나 이상을 의미로 사용될 수 있다. 또한, 본 발명에서, 상기 "슬리팅 재단"은 원단(10)을 길이(Y) 방향으로 길게 재단하여 띠 형상의 반제품으로 재단하는 것을 의미하여, 상기 "단위 재단"은 원단(10)을 길이(Y) 방향 및 폭(X) 방향으로 재단하여 단위 제품으로 재단하는 것을 의미한다. 이때, 본 발명에서는, 상기 슬리팅 재단을 통해 얻어진 띠 형상의 반제품을 '스트립(strip)'이라 하고, 상기 단위 재단을 통해 얻어진 재단 제품을 '단품' 또는 '단위 제품'이라 한다.
상기 단품은 원단(10)보다 작은 길이와 폭을 가지는 낱장의 최종 제품으로서, 이는 예를 들어 사각형의 형상을 가질 수 있다. 또한, 도 2를 참조하면, 본 발명에서, 상기 스트립(11)(12)(13)은 원단(10)보다 폭이 작은 띠 형상의 반제품으로서, 이는 단위 재단을 통해 낱장의 단품으로 재단될 수 있다. 참고로, 도 2는 원단(10)을 슬리팅 재단하여 제1 스트립(11), 제2 스트립(12) 및 제3 스트립(13)으로 분할하기 위한 상태를 나타낸다. 또한, 각각의 스트립(11 내지 13)은 원단(10) 상의 재단선(20)을 따라 재단될 수 있다. 상기 재단선(20)의 폭(X-Z)은 원단의 폭(X)보다 작게 결정될 수 있다. 또한, 상기 재단선(20)의 폭(X-Z)은 각각의 스트립(11 내지 13)의 폭의 합과 실질적으로 동일할 수 있다.
본 발명에서, 재단 방법은 특별히 제한되지 않는다. 재단 방법은 원단(10)을 적어도 하나 이상의 단품 및/또는 스트립(11)(12)(13)으로 분할 수 있는 것이면 좋다. 재단은, 예를 들어 금속 나이프, 제트 워터 나이프 및/또는 광원 등을 통해 진행될 수 있으며, 상기 광원은 레이저 빔 등을 예로 들 수 있다.
본 문서에서, "면적 수율"은 재단 후에 얻어지는 재단 제품의 총면적을 재단 전 원단(10)의 총면적으로 나누어 산출된 것을 의미한다. 면적 수율은, 통상과 같이 백분율(%)로 나타내어질 수 있다. 이때, 상기 재단 제품은 단품 및/또는 스트립(11)(12)(13)으로부터 선택된다. 그리고 상기 '재단 제품의 총면적'은 재단 제품 1개의 면적 x 생산된 재단 제품의 개수로 계산된다.
또한, 본 문서에서, "크기"는 원단(10)이나 재단 제품(단품 및/또는 스트립)의 폭, 길이, 면적, 및 대각선 길이 중에서 선택된 하나 이상을 의미할 수 있다.
도 4는 본 발명과 관련된 원단 및 마킹부를 설명하기 위한 평면도이고, 도 5 및 도 6은 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법을 설명하기 위한 플로우 차트들이다. 도 4의 (a)는 연신 공정에서의 원단의 평면도이고, 도 4의 (b)는 코팅 공정에서의 원단의 평면도이며, 도 4의 (c)는 슬리팅 공정에서의 원단의 평면도이다.
특히, 코팅 공정에서 결점이 표시된 원단은 후속 공정에서 슬리팅이 되어 재단 공정으로 전달된다. 이때 슬리팅이 된 각각의 스트립에 대해서는 별도의 결점 검사가 이루어지지 않기 때문에, 최초 원단의 결점 정보를 기초로 해당 스트립의 결점 정보를 유추하는 과정이 요구된다. 따라서, 프로그램과 같은 소프트웨어적 접근을 통해, 기존 원단의 결점 분포 지도를 기반으로 후속 공정의 작업 특성을 고려하여, 최종 원단 상태에서의 결점 분포 지도를 지속적으로 유추할 필요가 있다.
본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법은 원단의 결점 정보에 기초한 원단의 결점 분포 지도(30)를 생성하는 단계(S101) 및 원단(10)의 재단선(20)을 따라 원단의 결점 분포 지도(30)를 분할하는 단계를 포함한다.
원단(10)의 결점(d)은 검사자 또는 재단 시스템을 구성하는 결점 검사 장치에 의해 검사될 수 있다. 일 실시예에서, 결점(d)은 결점 검사부에 의해 검사될 수 있으며, 상기 결점 검사부는 화상을 통한 자동 스캐닝(scanning) 방식으로 결점(d)을 검사하는 결점 검사 장치를 포함할 수 있다. 또한, 결점 검사부(100)는 디스플레이부를 추가로 포함할 수 있다. 결점 검사 장치에서 검사된 원단(10)의 결점 정보는 디스플레이부를 통해 화면상으로 표시될 수 있다.
상기 결정 정보는 결점(d)의 위치(분포), 종류, 크기 및/또는 개수 등을 포함하며, 결점(d)의 위치(분포)의 경우에는 x-y 좌표로 디스플레이부에 표시될 수 있다.
예를 들어, 결점 분포 지도는, 직교 좌표계를 기준으로 생성될 수 있다. 단계 (a)에서, 결점 분포 지도는, 기준점에 대한 결점의 x-y좌표에 기초하여 생성될 수 있다. 또한, 단계 (b)에서, 각각의 결점 분포 지도는 변경된 기준점에 대한 결점의 x-y좌표에 기초하여 생성될 수 있다.
결점(d)의 검사 방법 및 표시 방법 등은 특별히 제한되지 않으며, 이들은 예를 들어 통상적인 방법으로 수행할 수 있다. 이와 같이, 원단의 결정정보에 기초하여 원단(10)의 결점 분포 지도가 생성된다. 상기 원단(10)의 결점 분포 지도의 생성은 재단 시스템을 구성하는 제어부(200, 도 7 참조)를 통해 수행될 수 있다.
또한, 상기 제어부(200)는 원단(10)의 재단선(20)을 따라 원단(10)의 결점 분포 지도(30)를 분할하고, 분할된 각각의 결점 분포 지도를 저장한다. 이와 같이, 분할된 결점 분포 지도는 후속 공정(또는 후속 모드)에 걸쳐 지속적으로 사용될 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법은 원단(10)의 결점 정보에 기초한 원단의 결점 분포 지도(30)를 생성하는 단계(S201) 및 재단선(20)을 따라 원단(10)을 복수 개의 스트립(11 내지 13)으로 재단하는 경우, 재단선(20)을 따라 원단(10)의 결점 분포 지도(30)를 분할함으로써 각각의 스트립의 결점 분포 지도를 생성하는 단계를 포함한다.
또한, 상기 재단 제품의 생산방법은 스트립(11 내지 13)의 결점 분포 지도를 반영하여, 스트립(11 내지 13)을 복수 개의 단위 제품으로 재단하는 단계를 추가로 포함할 수 있다. 즉, 원단의 결정 분포 지도(30)는 최종 단위 제품을 재단하는 공정까지 지속적으로 사용될 수 있으며, 각각의 공정별로 별도의 결점 검사 단계가 생략될 수 있다.
상기 원단(10)은 마킹부(15, marking part)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 원단(10)에는 좌측과 우측을 구분할 수 있는 하나 이상의 마킹부(15)가 형성될 수 있다. 본 문서에서, 마킹부(15)는 원단(10)의 방향을 구분할 수 있도록 마련될 수 있다. 마킹부(15)는, 구체적으로 원단(10)의 적어도 좌측과 우측을 구분할 수 있도록 마련되는 것이 바람직하다. 또한, 마킹부(15)는 원단의 시작점과 끝점을 구분할 수 있도록 원단(10)의 일면에 마련될 수 있다.
상기 마킹부(15)는 원단(10)의 좌측 단부(DS) 및 우측 단부(OS) 중 적어도 하나의 단부에 원단(10)의 길이(Y) 방향을 따라 형성될 수 있다. 여기서, 각 단부(OS)(DS)는 원단(10)의 가장자리를 의미하며, 이는 예를 들어 원단(10)의 좌측이나 우측의 끝단에서부터 2cm 이내의 폭을 의미할 수 있다. 이때, 마킹부(15)의 폭은 제한되지 않는다. 예를 들어, 마킹부(15)는 0.01mm 내지 2cm, 0.02mm 내지 1.5cm, 0.1 내지 1cm, 또는 0.5mm 내지 0.5cm의 폭을 가질 수 있다. 또한, 마킹부(15)는 원단(10)의 길이(Y) 방향을 따라 연속적 또는 불연속적으로 형성될 수 있다. 도 3에는 마킹부(15)가 원단(10)의 길이(Y) 방향을 따라 일직선상으로 연속적으로 형성된 실시예가 도시되어 있다. 또한, 상기 마킹부(15)는 원단의 좌측과 우측 중 결점이 상대적으로 많은 영역에 형성될 수 있다.
상기 마킹부(15)는 육안 및/또는 식별 장치 등에 의해 인식이 가능한 것이면 제한되지 않는다. 마킹부(15)는, 예를 들어 인쇄에 의해 형성된 인쇄부, 두께 단차에 의해 형성된 노치(notch)부, 및 천공에 의해 형성된 천공부 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 인쇄부는 색상 물질의 인쇄에 의해 마련될 수 있다. 또한, 상기 노치부는 두께 단차를 가지는 것이면 제한되지 않으며, 이는 가압에 의해 형성된 오시 처리부나 하프 커팅(half- cutting)하여 형성된 하프 커팅부 등으로부터 선택될 수 있다. 또한, 상기 천공부는 불연속적으로 형성될 수 있다.
상기 마킹부(15)는 원단(10)의 결점 검사 전에 형성되거나, 원단(10)의 결점 검사가 이루어진 후에 형성될 수 있다. 일 실시예로, 마킹부(15)는 원단(10)의 결점 검사가 이루어진 후에 형성될 수 있다. 또한, 마킹부(15)는 전술한 단계 (b) 이전에 원단에 형성될 수 있다.
상기 마킹부(15)는 원단(10)의 적어도 재단 생산성 등을 개선한다. 앞서 언급한 바와 같이, 일반적으로 원단(10)은 결점 검사가 이루어진 후에 풀림과 감김을 반복하면서 좌측과 우측이 계속해서 바뀔 수 있다. 이때, 마킹부(15)는 풀림과 감김의 반복에 의해 좌측과 우측이 바뀌는 경우에도 원단(10)의 방향을 구분할 수 있게 한다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 예를 들어 원단(10)의 우측 단부(OS)에 마킹부(15)를 형성한 경우, 마킹부(15)가 형성된 면이 구분 면(정면)이 되고, 상기 구분 면에서 마킹부(15)가 형성된 쪽이 우측이 된다. 그리고 상기 구분 면을 기준으로 위쪽이 원단(10)의 시작점이 된다. 따라서 마킹부(15)에 의해 원단(10)의 좌/우측은 물론, 원단(10)의 시작점과 끝점을 구분할 수 있다. 또한, 상기 마킹부(15)는 원단의 결점 분포 지도(30)와 원단의 결점 분포 지도(30)가 분할된 각각의 스트립의 결점 분포 지도의 위치 및 방향을 판단하는 지표가 될 수 있다.
또한, 원단의 결점 분포 지도는, 기준점에 대한 결점의 x-y좌표에 기초하여 생성될 수 있고, 각각의 스트립의 결점 분포 지도는 변경된 기준점에 대한 결점의 x-y좌표에 기초하여 생성될 수 있다. 예를 들어, 도 4를 참조하면, 원단의 결점 분포 지도는 E점을 기준으로 결점의 x-y좌표에 기초하여 생성될 수 있다. 또한, 도 4의 (c)를 참조하면, 각각의 스트립(25, 26)의 결점 분포 지도는, 변경된 기준점 D를 기준으로 결점의 x-y좌표에 기초하여 생성될 수 있다.
또한, 상기 마킹부(15)는, 예를 들어 재단 공정 등의 후속 공정에서 결점 분포 방향을 구분하는 데에 유용하게 사용될 수 있다. 도 3을 참조하면, 일반적으로 원단(10)에 형성된 결점(d)은 불규칙하고, 원단(10)의 전체 영역에서 분포도가 다르다. 이러한 원단(10)이 풀림과 감김을 반복한 경우, 재단 공정 이전에 검사된 원단(10)의 결점 분포 방향을 구분하기 어려워, 검사된 결점 정보와 실제 원단(10)의 결점 분포 방향을 매칭(matching)하기 어렵다. 이 경우, 상기 마킹부(15)에 의해 원단(10)의 결점 분포 방향이 쉽게 구분되어, 검사된 결점 정보와 실제 원단(10)의 결점 분포 방향이 1:1 매칭될 수 있다. 이에 따라, 상기 마킹부(15)에 의해 재단 제품의 생산성이 개선될 수 있다.
도 7은 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 시스템을 나타내는 구성도이다.
본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 시스템은 원단의 결점 정보에 기초한 원단의 결점 분포 지도를 생성하고, 원단의 재단선을 따라 원단의 결점 분포 지도를 분할하여 각각 저장하는 모드를 포함한다. 또한, 재단 시스템은 원단의 좌측 및 우측 중 적어도 한 측에 마킹부를 형성하는 모드를 추가로 포함할 수 있다. 또한, 재단 시스템은 연신 모드, 코팅 모드, 및 슬리팅 재단 모드를 추가로 포함할 수 있다.
또한, 재단 시스템은 각각의 모드를 수행하기 위한 제어부(200)를 포함한다.
도 7을 참조하면, 재단 시스템은, 제품 정보 입력부(110)와 원단 정보 입력부(120) 및 재단부(300)를 포함할 수 있다.
상기 제품 정보 입력부(110)에는 제품의 정보가 입력되어 저장된다. 이때, 상기 제품의 정보는 각 제품의 크기를 포함한다. 예를 들어, 원단(10)을 임의의 n개의 제품으로 재단 시, 상기 재단되는 n개의 각 제품에 대한 크기가 제품 정보 입력부(110)에 입력된다. 일례를 들어, 상기 재단되는 제품으로서, 크기(면적 또는 인치)가 서로 다른 5개의 스트립 제품이 있을 때, 상기 제품 정보 입력부(110)에는 상기 5개의 각 스트립 제품에 대한 크기가 입력되어 저장된다.
상기 원단 정보 입력부(120)에는 원단(10)에 대한 원단 정보가 입력된다. 원단 정보 입력부(120)에는 원단 정보로서, 예를 들어 원단(10)의 생산비용, 원단(10)의 가격 및/또는 원단(10)의 제고날짜(및/또는 생산날짜 등) 등이 입력되어 저장될 수 있다. 이때, 상기 생산비용은, 앞서 언급한 바와 같이 적어도 원단(10)의 제조비용을 포함한다. 구체적으로, 상기 원단 정보 입력부(120)에는 적어도 원단(10)의 제조비용이 입력되어 저장될 수 있다. 경우에 따라서, 상기 원단 정보 입력부(120)에는 원단(10)의 재단에서 발생될 수 있는 재단 예상 비용이 입력될 수 있다. 원단 정보 입력부(120)에는 원단 정보로서, 예를 들어 원단(10)의 크기가 입력될 수 있다. 구체적으로, 원단 정보 입력부(120)에는 당해 원단(10)의 폭(X) 및 길이(Y) 중에서 선택된 하나 이상이 입력될 수 있다. 아울러, 원단 정보 입력부(120)에는 원단(10)의 제고날짜 및/또는 생산날짜 등이 추가로 입력될 수 있다.
또한, 제어부(200)는 면적 수율 산출부를 포함할 수 있다. 면적 수율 산출부는 원단(10)을 가상 재단 시, 면적 수율을 최대로 하는 스트립(11)(12)(13)의 개수 및 스트립(11)(12)(13)의 폭을 산출한다. 하나의 예시에서, 면적 수율 산출부는 제품 정보 입력부(110) 및/또는 원단 정보 입력부(120)의 정보에 기초하여, 면적 수율을 최대로 하는 스트립의 개수 및 스트립의 폭을 산출할 수 있다.
재단부(300)는 면적 수율 산출부에서 산출된 결과에 기초하여, 최대의 면적 수율을 가지는 재단 형태로 원단(10)을 재단할 수 있다. 예를 들어, 상기 재단부(300)는 면적 수율 산출부에서 산출된 스트립(11)(12)(13)의 개수(줄 수) 및/또는 스트립(11)(12)(13)의 폭으로 원단(10)을 재단할 수 있다.
또한, 재단 시스템은 결점 정보 저장부(400) 및 양품 산출부(500)를 포함할 수 있다.
상기 결점 정보 저장부(400)에는 원단(10)의 결점 정보가 입력되어 저장된다. 상기 결점 정보는 원단(10)에 존재하는 결점(d)의 분포(위치) 및/또는 결점(d)의 종류 등을 예로 들 수 있다. 상기 결점 정보는, 예를 들어 결점 검사 장치(도시하지 않음)에 의해 검사되어 결점 정보 저장부(400)에 입력될 수 있다. 또한, 상기 결점 정보는 모니터(도시하지 않음)을 통해 x-y 좌표 상으로 표시될 수 있다.
상기 양품 산출부(500)는 결점 정보 저장부(400)에 저장된 결점(d) 분포에 기초하여 양품화율, 즉 결점(d)의 분포에 따른 면적 수율을 산출한다. 상기 양품 산출부(500)는 면적 수율 산출부에서 최대의 면적 수율을 가지는 재단 형태가 산출되면, 이러한 재단 형태와 결점(d) 분포를 고려하여 양품화율을 산출한다. 또한, 재단부(300)에서는 최고의 양품화율을 갖는 스트립의 배열로 원단(10)을 재단할 수 있다.
또한, 제어부(200)는 기준점에 대한 결점의 x-y좌표에 기초하여 원단의 결점 분포 지도를 생성하도록 마련된다. 또한, 제어부(200)는 변경된 기준점에 대한 결점의 x-y좌표에 기초하여 분할된 각각의 결점 분포 지도를 생성하도록 마련된다.
전술한 바와 같이, 재단 시스템은 결점 검사부를 포함할 수 있다. 또한, 상기 재단 시스템은 재단선(20)을 따라 원단(10)을 재단하기 위한 재단부를 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 시스템은 원단의 결점 정보에 기초한 원단의 결점 분포 지도를 생성하고, 재단선을 따라 원단을 복수 개의 스트립으로 재단하는 경우, 재단선을 따라 원단의 결점 분포 지도를 분할함으로써, 각각의 스트립의 결점 분포 지도를 생성하는 모드를 포함한다.
상기 재단 시스템은 원단(10)을 재단함에 있어서, 상기 마킹부(15)에 기초하여, 원단(10)의 방향을 구분하여 재단할 수 있다. 즉, 마킹부(15)를 통해 원단(10)의 좌측과 우측을 구분하여 재단할 수 있다. 또한, 상기 재단 시스템은 원단의 결정 분포 지도(30) 및 각각의 스트립의 결점 분포 지도에 기초하여 원단(10) 또는 각각의 스트립을 재단할 수 있다. 즉, 원단(10)의 결점 정보에 기초하여 최대의 면적 수율을 갖도록 재단할 수 있다. 보다 구체적으로, 상기 재단 시스템은 상기 결점 검사를 통해 검사된 결점 정보에 기초하여 최대의 면적 수율을 산출할 수 있다. 또한, 상기 재단 시스템은, 검사된 결점 정보와 실제 원단(10)의 결점 분포 지도 및 각각의 스트립의 결점 분포 지도의 방향을 마킹부(15)를 통해 1:1 매칭시킬 수 있다. 이후, 재단 시스템은 산출된 결과에 따라 최대의 면적 수율을 갖도록 원단을 재단할 수 있다.
전술한 재단부는 위와 같은 재단을 수행하도록 마련될 수 있다. 재단부는, 예를 들어 원단(10)을 롤(roll)로부터 인출하여 최대의 면적 수율을 갖도록 재단한다. 재단부는 적어도 재단 장치를 포함한다. 상기 재단 장치는, 예를 들어 원단(10)을 지지하는 지지 수단과, 원단(10)을 재단하는 재단 수단을 포함할 수 있다. 상기 지지 수단은, 예를 들어 이송 컨베이어, 이송 롤(roll), 및 지지 플레이트 등으로부터 선택된 하나 이상을 포함할 수 있다. 상기 재단 수단은, 예를 들어 금속 나이프, 제트 워터 나이프 및 광원(레이저 빔 조사기 등) 등으로부터 선택된 하나 이상을 포함하는 구조를 가질 수 있다. 상기 재단부(300)는 원단(10)을 길이 방향으로 슬리팅 재단하여 복수의 스트립(11)(12)(13)을 얻는 제1 재단부를 포함한다. 아울러, 상기 재단부(300)는, 상기 얻어진 복수의 스트립(11)(12)(13)을 폭 방향으로 재단하여 단품을 얻는 제2 재단부를 포함할 수 있다.
위에서 설명된 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대한 통상의 지식을 가지는 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 하기의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.
초기 원단의 결점정보를 기초로 원단의 결점 분포 지도를 생성할 수 있고, 가공된 원단 또는 최종 원단에 상기 결점 분포 지도를 매칭시킴으로써 초기 원단의 결점정보를 지속적으로 사용할 수 있다.

Claims (20)

  1. (a)원단의 결점 정보에 기초한 원단의 결점 분포 지도를 생성하는 단계; 및
    (b)원단의 재단선을 따라 원단의 결점 분포 지도를 분할함으로써 재단된 원단의 각각의 영역에 대응하는 복수 개의 결점 분포 지도를 생성하는 단계를 포함하는 재단 제품의 생산방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    단계 (a)에서, 결점 분포 지도는, 기준점에 대한 결점의 x-y좌표에 기초하여 생성되는 재단 제품의 생산방법.
  3. 제 2 항에 있어서,
    단계 (b)에서, 각각의 결점 분포 지도는 변경된 기준점에 대한 결점의 x-y좌표에 기초하여 생성되는 재단 제품의 생산방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    원단에는 좌측과 우측을 구분할 수 있는 하나 이상의 마킹부가 형성된 재단 제품의 생산방법.
  5. 제 4 항에 있어서,
    마킹부는 원단의 좌측 단부 및 우측 단부 중 적어도 하나의 단부에 원단의 길이방향을 따라 형성된 재단 제품의 생산방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    마킹부는 인쇄에 의해 형성된 인쇄부, 두께 단차에 의해 형성된 노치부, 및 천공에 의해 형성된 천공부 중 적어도 하나를 포함하는 재단 제품의 생산방법.
  7. 제 5 항에 있어서,
    마킹부는 원단의 길이방향을 따라 연속적 또는 불연속적으로 형성된 것을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법.
  8. 제 4 항에 있어서,
    마킹부는 단계 (b) 이전에 원단에 형성되는 재단 제품의 생산방법.
  9. 원단의 결점 정보에 기초한 원단의 결점 분포 지도를 생성하는 단계; 및
    재단선을 따라 원단을 복수 개의 스트립으로 재단하는 경우, 재단선을 따라 원단의 결점 분포 지도를 분할함으로써 각각의 스트립의 결점 분포 지도를 생성하는 단계를 포함하는 재단 제품의 생산방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    해당 스트립의 결점 분포 지도에 기초하여, 상기 스트립을 복수 개의 단위 제품으로 재단하는 단계를 추가로 포함하는 재단 제품의 생산방법.
  11. 제 9 항에 있어서,
    원단에는 좌측과 우측을 구분할 수 있는 하나 이상의 마킹부가 형성된 재단 제품의 생산방법.
  12. 제 11 항에 있어서,
    마킹부는 원단의 좌측 단부 및 우측 단부 중 적어도 하나의 단부에 원단의 길이방향을 따라 형성된 재단 제품의 생산방법.
  13. 제 11 항에 있어서,
    마킹부는 원단의 시작점과 끝점을 구분할 수 있도록 원단의 일면에 마련되는 재단 제품의 생산방법.
  14. 제 9 항에 있어서,
    원단의 결점 분포 지도는, 기준점에 대한 결점의 x-y좌표에 기초하여 생성되는 재단 제품의 생산방법.
  15. 제 14 항에 있어서,
    각각의 스트립의 결점 분포 지도는 변경된 기준점에 대한 결점의 x-y좌표에 기초하여 생성되는 재단 제품의 생산방법.
  16. 원단의 결점 정보에 기초한 원단의 결점 분포 지도를 생성하고, 원단의 재단선을 따라 원단의 결점 분포 지도를 분할하여 각각 저장하는 모드를 포함하는 재단 시스템.
  17. 제 16 항에 있어서,
    원단의 좌측 및 우측 중 적어도 한 측에 마킹부를 형성하는 모드를 추가로 포함하는 재단 시스템.
  18. 제 16 항에 있어서,
    연신 모드, 코팅 모드, 및 슬리팅 재단 모드를 추가로 포함하는 재단 시스템.
  19. 제 16 항에 있어서,
    원단의 결점 분포 지도는, 기준점에 대한 결점의 x-y좌표에 기초하여 생성되는 재단 시스템.
  20. 제 19 항에 있어서,
    분할된 각각의 결점 분포 지도는 변경된 기준점에 대한 결점의 x-y좌표에 기초하여 생성되는 재단 시스템.
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