KR100830635B1 - 기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판 검사장치 - Google Patents
기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판 검사장치 Download PDFInfo
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Description
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- 상부에 인쇄회로기판을 검사하기 위한 프로브핀이 장착되어 있고, 각종 조작을 위한 다수의 버튼 및 표시부가 구비되어 있는 몸체;상기 몸체에 결합되어 있는 수직프레임과 상기 수직프레임 상부에 결합되어 있는 수평프레임;상기 프로브핀 후방에서 상기 몸체와 상기 수평프레임을 연결하는 가이드봉;상기 가이드봉을 따라 상하 슬라이드이동하고, 그 하부에 인쇄회로기판을 가압하는 가압핀이 장착되어 있는 가압판;상기 가이드봉과 일정거리 이격되어 상기 몸체와 상기 수평프레임을 연결하고 상기 가압판이 외주연에 접촉된 상태로 승하강하는 지지봉과, 상기 가압판의 후방측 테두리에 결합되어 있고, 상기 지지봉의 외주연을 좌우방향 기준으로 1/2 이상 밀착수용하는 수용홈이 형성되어 있는 브라켓을 포함하여 이루어져, 상기 가이드봉을 따라 상하로 슬라이드이동되는 가압판의 기울어짐을 방지하는 기울어짐방지수단;상기 가압판의 좌우측 표면에 각각 결합되어 가압판의 휘어짐을 방지하는 보강리브;를 포함하여 이루어진 기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판 검사장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 브라켓의 수용홈을 형성하는 내벽은 마찰계수가 작은 MC 나일론계열 재질로 이루어진 것을 특징으로 하는 기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판 검사장치.
- 제 5 항에 있어서,상기 브라켓은 상기 가압판의 후단 양측에 각각 결합되어 있고,상기 지지봉은 일정범위 내에서 전후좌우로 이동고정 가능한 것을 특징으로 하는 기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판 검사장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060090092A KR100830635B1 (ko) | 2006-09-18 | 2006-09-18 | 기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판 검사장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060090092A KR100830635B1 (ko) | 2006-09-18 | 2006-09-18 | 기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판 검사장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080025518A KR20080025518A (ko) | 2008-03-21 |
KR100830635B1 true KR100830635B1 (ko) | 2008-05-20 |
Family
ID=39413312
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060090092A KR100830635B1 (ko) | 2006-09-18 | 2006-09-18 | 기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판 검사장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100830635B1 (ko) |
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KR20080025518A (ko) | 2008-03-21 |
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