KR100801853B1 - 장척형 자기센서 - Google Patents

장척형 자기센서 Download PDF

Info

Publication number
KR100801853B1
KR100801853B1 KR1020067017215A KR20067017215A KR100801853B1 KR 100801853 B1 KR100801853 B1 KR 100801853B1 KR 1020067017215 A KR1020067017215 A KR 1020067017215A KR 20067017215 A KR20067017215 A KR 20067017215A KR 100801853 B1 KR100801853 B1 KR 100801853B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
magnet
magnets
magnetic sensor
magnetic
magnetoresistive element
Prior art date
Application number
KR1020067017215A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20060114371A (ko
Inventor
타모츠 미나미타니
코지 신무라
마사야 우에다
마사나가 니시카와
Original Assignee
가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 filed Critical 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼
Publication of KR20060114371A publication Critical patent/KR20060114371A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100801853B1 publication Critical patent/KR100801853B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/09Magnetoresistive devices
    • GPHYSICS
    • G07CHECKING-DEVICES
    • G07DHANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
    • G07D7/00Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency
    • G07D7/04Testing magnetic properties of the materials thereof, e.g. by detection of magnetic imprint

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Abstract

복수의 자기저항 소자(2b, 2c, 2d)의 감자부(magnetosensitive portion;20b, 20c, 20d)와 복수의 자석(5b, 5c, 5d)을 피검지물의 이동방향에 대해서 직교하는 거의 직선 형상으로 각각 배열함과 아울러, 자기저항 소자(2b, 2c, 2d)의 감자부를 형성한 면에 대해서 수직인 자속의 방향이, 인접하는 자석에서 서로 반대가 되도록 자석(5b, 5c, 5d)의 자극(磁極)의 방향을 번갈아 반전시킨다. 피검지물의 자성체(101cd)가 존재하면, 자석(5c)으로부터 자석(5d) 방향으로 감자부(20c, 20d)를 관통하는 자속의 강도가 변화하므로, 이 자성체(101cd)에 대해서도 자기저항 소자(2c, 2d)의 저항값 변화로 검출 가능해진다.
장척형 자기센서, 자기저항 소자, 감자부, 피검지물, 자성체

Description

장척형 자기센서{PROLONGED MAGNETIC SENSOR}
본 발명은 예를 들면 지폐 등에 인쇄되어 있는 자기 패턴을 검출하는 장척형 자기센서에 관한 것이다.
자성 잉크 등으로 소정 패턴이 인쇄된 지폐나 증권 등의 피검지물의 식별을 행하는 자기센서로서 특허문헌 1, 2가 개시되어 있다. 특허문헌 1에 개시되어 있는 장척형 자기센서의 구성을 도 8에 나타낸다. 도 8A는 커버를 떼어낸 상태에서 감자부(感磁部;magnetosensitive portion)측을 본 평면도이다. 이 예에서는 자기저항 소자(MR소자)(2a∼2e)에 각각 2개의 감자부(20a∼20e)를 구비하고 있다. 이들 자기저항 소자(2a∼2e)가 케이스(1)에 배열 고정되어 있다. 이러한 장척형 자기센서(200)의 길이방향에 대해서 직교방향으로 피검지물이 반송된다.
도 9는 상기 자기저항 소자의 하부의 구조 및 자기저항 소자에 대한 인가 자계의 모습을 나타내는 정면도이다. 단, 여기에서는 3개의 자기저항 소자(2b∼2d) 부분에 대해서만 나타내고 있다. 각 자기저항 소자(2b∼2d)의 하부에는 자기저항 소자(2b∼2d)에 대해서 수직방향으로 자계가 관통하도록 자석(5b∼5d)을 배치하고 있다.
도 9B는 이 장척형 자기센서 근방에 피검지물의 자성체(자성 잉크)(101c 101cd, 101d)가 도래했을 때의 모습을 나타내고 있다. 이들 자성체(101c, 101cd, 101d)는 순차 시간차를 가지고 도래한다. 이와 같이, 자석(5c, 5d)에 의한 자계 내에 자성체(101c, 101cd, 101d)가 개재하면, 이들 자성체 부분에 자속의 집중이 발생함과 아울러 감자부(20c, 20d)를 관통하는 자속밀도가 증대한다. 그 결과, 자기저항 소자의 저항값이 증대하고, 그것에 의해 자성체(101c, 101cd, 101d)의 유무가 검출된다.
그러나, 인접하는 2개의 감자부(20c, 20d)의 중앙부에 위치하는 자성체(101cd)를 향하는 자속의 대부분은 감자부(20c, 20d)를 통과하지 않고, 그 사이의 갭(Gh) 부분을 통과한다. 이 갭(Gh) 부분을 통과하는 자속밀도의 변화는 감자부(20c, 20d)에 의한 자기 저항 효과에 영향을 미치지 않기 때문에, 이 갭(Gh) 부근에서의 검출 레벨(검출 능력)은 저하한다. 도 8B는 이 장척형 자기센서의 길이방향의 위치에 대한 검출 레벨의 특성예를 나타내고 있다.
특허문헌 1: 일본국 특허 제2921262호 공보
특허문헌 2: 일본국 특허공개 2003-107142호 공보
그러나, 도 8B에 나타낸 바와 같은 검출 레벨의 저하 위치가 존재하는 장척형 자기센서는 피검지물의 전면에 걸쳐서 자성체 패턴의 검출을 요구받는 경우에는 부적당하였다. 그래서, 특허문헌 2에 개시되어 있는 바와 같이, 자기저항 소자의 감자부(感磁部;magnetosensitive portion)에 평행한 면 내에서 자석 및 자기저항 소자를 지그재그 형상으로 배치한 것도 있었다.
도 10은 그 장척형 자기센서의 구성을 나타내고 있다. 도 10A는 커버를 떼어낸 상태에서 감자부측을 본 평면도이다. 이 예에서는 자기저항 소자(2a∼2g)를, 그 감자부에 평행한 면 내에서 지그재그 형상이 되도록 케이스(1)에 배치하고 있다. 이러한 장척형 자기센서(200)의 길이방향에 대해서 직교방향으로 피검지물이 반송된다.
이와 같이, 복수의 자기저항 소자(2a∼2g)를 지그재그 형상으로 배치함으로써, 도 10B의 특성예에 나타내는 바와 같이 장척형 자기센서의 길이방향 전체에 걸쳐서 거의 일정한 검출 레벨을 확보할 수 있다.
그러나, 도 10에 나타낸 바와 같이, 자기저항 소자를 그 감자부에 평행한 면 내에서 지그재그 형상이 되도록 배치한 장척형 자기센서에 있어서는, 인접하는 2개의 자기저항 소자마다 피검지물의 이동방향으로 갭(Gv)만큼의 위치 어긋남이 발생한다. 그 때문에, Gv의 위치 어긋남에 상당하는 시간적인 어긋남을 보정하기 위한 신호 처리나 데이터 처리가 여분으로 필요해진다. 또한, 피검지물의 이동속도의 정밀도에 따라, 인접하는 자기저항 소자 사이에서 위치 어긋남 보정량에 오차가 발생하므로, 안정된 출력을 얻기 어렵다고 하는 문제가 있었다.
또한, 피검지물은 장척형 자기센서의 케이스와 반송 롤러 사이를 반송되지만, 도 10에 나타낸 라인(Lf, Lb)을 통과하는 동안에, 감자부와 피검지물과의 갭이 변동하면 검출 레벨이 변동한다고 하는 문제가 있었다. 그 때문에, 반송 롤러와 장척형 자기센서 사이의 적정한 갭 조정도 엄격하고 곤란한 것이 된다.
그래서, 본 발명의 목적은 길이방향의 위치 및 그것에 직교하는 방향(피검지물의 이동방향) 중 어느 하나에 대해서도 검출위치에 실질상의 갭을 형성하지 않고 상술한 문제를 해결한 장척형 자기센서를 제공하는 데 있다.
상기 목적을 달성하기 위해서, 장척형 자기센서를 다음과 같이 구성한다.
(1)피검지물의 이동방향에 대해서 거의 직교하는 방향을 길이방향으로 하는 감자부를 표면 또는 표면 부근에 형성한 복수의 자기저항 소자와, 상기 자기저항 소자의 감자부에 대해서 자계를 인가하는 복수의 자석을 갖는 장척형 자기센서에 있어서, 복수의 자기저항 소자의 감자부와 복수의 자석을 피검지물의 이동방향에 대해서 직교하는 거의 직선 형상으로 각각 배열함과 아울러, 자기저항 소자의 감자부를 형성한 면에 대해서 거의 수직인 자속의 방향이, 인접하는 자석에서 서로 반대가 되도록 자석을 배치한다.
(2)(1)에 있어서, 자기저항 소자마다 각각 1개씩 자석을 배치한다.
(3)(1)에 있어서, 복수의 자석의 배열순의 적어도 2개의 자석 단위로 그 적어도 2개의 자석 모두에 걸쳐지도록 자기저항 소자를 배치한다.
(4)(1)에 있어서, 배치된 복수의 자석의 각각의 인접위치에서, 인접하는 자석에 걸쳐지도록 자기저항 소자를 배치한 것을 특징으로 하고 있다.
(5)(1)∼(4)에 있어서, 자기저항 소자의 배열방향을 따라 또한 자기저항 소자의 감자부에 평행한 면 내에서 자석이 지그재그 형상으로 배치되도록, 당해 자석을 배치하는 케이스 내에 프레임부를 형성한다.
<발명의 효과>
(1)각 자기저항 소자에 대해서 자계를 인가하는 자석의 자극(磁極)의 방향을, 인접하는 자기저항 소자에서 서로 반대가 되도록 배치한 것에 의해, 인접하는 2개의 자기저항 소자를 본 경우, 한쪽의 자기저항 소자의 하방에서 상방으로 나온 자력선은 인접하는 다른쪽의 자기저항 소자의 감자부를 상방에서 하방으로 들어가도록 자계가 분포한다. 따라서, 인접하는 2개의 자기저항 소자의 중간위치에 피검지물의 자성체가 도래했을 때에, 그 2개의 자기저항 소자의 감자부를 통과하는 자속밀도가 변화하므로, 그 자성체의 검출이 가능해진다. 게다가, 장척형 자기센서의 복수의 자기저항 소자의 위치가 직선 형상으로 배치되므로, 장척형 자기센서를 기기에 부착할 때에 피검지물의 반송을 행하는 롤러의 직경이나 그것과의 갭 조정이 용이해진다. 또한, 인접하는 자석의 자극이 이극(異極) 관계가 되어, 자석끼리가 흡인해서 반발하지 않으므로 케이스의 자석 수납부에의 수납이 용이해진다.
(2)상기 자석을 자기저항 소자마다 각각 1개씩 배치함으로써, 각 자기저항 소자의 감자부의 중앙부에서는 종래와 마찬가지로 감자부를 자속이 수직으로 관통하게 되어 감자부 중앙에서는 종래와 동일한 검출특성이 얻어진다.
(3)상기 자기저항 소자를, 복수의 자석 중 배치순의 적어도 2개의 자석 단위로 그 적어도 2개의 자석 모두에 걸쳐지도록 배치한 것에 의해, 자기저항 소자의 수에 대한 자석의 수가 많아져(적어도 2배가 되어) 피검지물 방향으로의 자력선의 입출위치(in/out positions)의 피치가 좁아지므로, 자기저항 소자의 감자부 단부에서의 출력저하의 보완능력이 높아지고, 또한 감자부의 중앙부에 있어서도 종래 구조에 가까운 출력특성이 얻어진다.
(4)상기 자기저항 소자를, 복수의 자석의 각각의 인접위치에서, 그 인접하는 자석에 걸쳐지도록 배치한 것에 의해, 서로 인접하는 2개의 자기저항 소자 사이에 각 자석의 중앙부가 위치하게 된다. 일반적으로, 자석의 중앙부는 단부 부근에 비해서 자속밀도가 높아 안정되어 있으므로, 자기저항 소자간의 검출 레벨의 저하를 보상할 수 있으며, 길이방향의 전체에 플랫(flat)한 검출 레벨 특성이 얻어진다. 또한, 인접하는 자석의 경계위치에 편차가 있더라도, 그 편차에 대한 검출 레벨의 변동이 적다.
(5)상기 자석을 자기저항 소자의 배열방향을 따라 자기저항 소자의 감자부에 평행한 면 내에서 지그재그 형상으로 배치되도록 케이스 내에 프레임부를 형성해 둠으로써, 자기저항 소자나 자석을 수납하는 케이스 구조를 설계하는 데 있어서, 케이스에 대한 자석의 위치결정을 정확하게 할 수 있으며, 그 부착 정밀도가 향상되어 특성이 일치한 장척형 자기센서를 안정되게 생산할 수 있다.
도 1은 제1의 실시형태에 따른 장척형 자기센서의 외관 사시도이다.
도 2는 상기 장척형 자기센서의 자기저항 소자에 대한 자석의 배치관계, 및 길이방향의 위치에 대한 검출 레벨 특성을 나타내는 도면이다.
도 3은 상기 장척형 자기센서의 자석에 의한 자속밀도 분포, 및 자성체의 존재에 의한 자속밀도의 변화의 예를 나타내는 도면이다.
도 4는 인접하는 자기저항 소자와 자석과의 배치관계가 다른 2가지 예를 나타내는 도면이다.
도 5는 제2의 실시형태에 따른 장척형 자기센서의, 자기저항 소자와 자석의 배치관계를 나타내는 도면이다.
도 6은 제3의 실시형태에 따른 장척형 자기센서의, 자기저항 소자와 자석의 배치관계를 나타내는 도면이다.
도 7은 제4의 실시형태에 따른 장척형 자기센서의, 케이스에 대한 자기저항 소자의 배치관계를 나타내는 도면이다.
도 8은 특허문헌 1에 개시되어 있는 장척형 자기센서의 구성을 나타내는 도면이다.
도 9는 상기 장척형 자기센서의 자속밀도 분포의 예를 나타내는 도면이다.
도 10은 특허문헌 2에 개시되어 있는 장척형 자기센서의 구성을 나타내는 도면이다.
<부호의 설명>
1 : 케이스 2 : 자기저항 소자
3 : 클로(claw)부 계합홈 4 : 커버
5 : 자석 6 : 단자 핀
10 : 프레임부 11 : 커버단자
20 : 감자부 100 : 피검지물
101 : 자성체(자성 잉크) 200 : 장척형 자기센서
제1의 실시형태에 따른 장척형 자기센서의 구성을 도 1∼도 4를 참조해서 설명한다.
도 1은 장척형 자기센서의 외관 사시도이고, 도 1A는 커버의 부착 도중의 상태, 도 1B는 부착 상태를 나타내고 있다. 합성수지제의 케이스(1)에는 그 상부에 자기저항 소자(2a, 2b, 2c, 2d…)를 부착하고 있다. 케이스(1)의 하부에는, 복수의 자기저항 소자(2a, 2b, 2c, 2d…)에 접속한 단자 핀(6)을 돌출시키고 있다. 케이스(1)의 양측부에는 길이방향을 따라 클로(claw)부 계합홈(3)을 형성하고 있다.
금속제의 커버(4)에는, 케이스의 클로부 계합홈(3)에 계합하는 커버 고정 클로부를 형성하고 있으며, 양자의 계합상태에서 길이방향으로 슬라이드시킴으로써, 도 1B에 나타내는 바와 같이 케이스(1)의 상부에 커버(4)를 덮는다. 피검지물(100)은 도면 중 화살표로 나타내는 바와 같이 장척형 자기센서(200)의 길이방향에 거의 직교하는 방향으로 반송된다.
또한, 커버(4)에는 회로기판에 대하여 전기적으로 어스 접속하기 위한 커버단자(11)를 형성하고 있다.
도 2A는 도 1에 나타낸 장척형 자기센서의 커버를 제거한 상태에서의 평면도이다. 도 2B는 감자부 형성면에 수직이며 또한 복수의 자기저항 소자와 복수의 자석 부분을 통과하는 면에서의 단면도이다. 단, 여기에서는 자기저항 소자(2a∼2e) 부분에 대해서만 나타내고 있다. 또한, 도 2B에서는 케이스(1)에 대해서도 도시를 생략하고 있다.
자기저항 소자(2a∼2e)의 하부에는 각각 자석(5a∼5e)을 배치하고 있다. 자기저항 소자(2a∼2e)에는 각각 감자부(20a∼20e)를 형성하고 있다. 도 1에 나타낸 피검지물(100)이 지폐 등의 낱장류인 경우, 그것이 장척형 자기센서(200)의 길이방 향에 대해서 엄밀하게 직교하는 방향으로 반송된다고는 할 수 없으나, 감자부(20a∼20e)는 피검지물의 이동방향에 대해서 거의 직교하는 방향을 길이방향으로 해서 자기저항 소자(2a∼2e)의 표면 또는 표면 부근에 형성하고 있다.
각 자석(5a∼5e)은 자기저항 소자(2a∼2e)의 각각을 자속이 수직으로 관통하도록 자극(N극과 S극)의 방향을 정하고 있으며, 또한 인접하는 자석의 자극의 방향이 서로 반대방향이 되도록 배치하고 있다. 즉, 자석(5a)은 자기저항 소자(2a)측을 N극으로 하고, 그것에 인접하는 자석(5b)은 자기저항 소자(2b)측을 S극으로 하고 있다. 또한 그것에 인접하는 자석(5c)은 자기저항 소자(2c)측을 N극으로 하고 있다. 이후 마찬가지로 인접하는 자석의 자극의 방향을 서로 반대방향이 되도록 배치하고 있다.
도 3은 도 2A에 나타낸 바와 같이 각 자석의 자극의 방향을 정한 것에 따른 자계의 분포의 예를 나타내고 있다. 도 3A에 나타내는 바와 같이, 자석(5c)의 N극으로부터 나온 자력선은 자기저항 소자(2c)의 감자부(20c)를 하방에서 상방으로 관통한다. 또한, 자석(5b, 5d)의 S극에 대해서 자기저항 소자(2b, 2d)의 감자부(20b, 20d)를 상방에서 하방으로 관통해서 자속이 들어간다. 또한 이와 함께 자석(5c)의 N극으로부터 나온 자속은 자력선이 루프를 그리도록 굴곡해서, 인접하는 자석(5b, 5d)의 S극으로 들어간다.
도 3B에 나타내는 바와 같이 자기저항 소자(2c, 2d), 감자부(20c, 20d)의 근방에 피검지물의 자성체(101c, 101cd, 101d)가 순차 시간차를 가지고 도래하면, 자석(5c)으로부터 자석(5d)을 향하고 있던 자속은 자성체(101cd)로 이끌려져서 자기 저항 소자(2c, 2d)의 감자부(20c, 20d)를 보다 수직에 가까운 방향으로 관통하며 또한 그 자속밀도가 증대한다. 그 결과, 자성체(101cd)의 존재가 자기저항 소자(2c, 2d)의 저항값 변화에 의해 검출 가능해진다. 또한, 자성체(101c)의 존재에 의해 자기저항 소자(2c)의 감자부(20c)를 관통하는 자속밀도가 증대하므로, 자기저항 소자(2c)의 저항값 변화에 의해 자성체(101c)의 도래를 검출할 수 있다. 마찬가지로, 자성체(101d)의 존재에 의해 자기저항 소자(2d)의 감자부(20d)를 관통하는 자속밀도가 증대하므로, 자기저항 소자(2d)의 저항값 변화에 의해 자성체(101d)의 도래를 검출할 수 있다.
도 2C는 이 장척형 자기센서의 길이방향의 위치에 대한 검출 레벨의 특성예를 나타내고 있다. 감자부에 평행한 평면에서 자기저항 소자를 봤을 때, 감자부가 존재하지 않는 위치에 대해서도 자성체의 검지가 가능해지므로, 이 도면에 나타내는 바와 같이, 장척형 자기센서의 길이방향의 어느 위치에 대해서도 검출 레벨이 저하하는 일이 없이 거의 일정한 검출 레벨이 얻어진다.
도 2 및 도 3에 나타낸 예에서는, 인접하는 자석 및 자기저항 소자 사이에 약간의 간극을 형성하였으나, 예를 들면 도 4A에 나타내는 바와 같이, 인접하는 자석끼리(5a, 5b, 5c)를 밀착시켜도 좋다. 또한 도 4B에 나타내는 바와 같이, 인접하는 자석(5a, 5b, 5c)끼리의 간격이 인접하는 자기저항 소자(2a, 2b, 2c)간의 간격과 달라도 되며, 자기저항 소자(2a, 2b, 2c)의 감자부(20a, 20b, 20c)간의 간격보다 넓어도 된다.
다음으로, 제2의 실시형태에 따른 장척형 자기센서에 대해서 도 5를 참조하 여 설명한다. 도 5A에 나타내는 예에서는, 복수의 자석 중, 배치순의 2개의 자석 단위로, 그 2개의 자석에 걸쳐지도록 자기저항 소자를 배치하고 있다. 즉, 자석(5a-5b)에 걸쳐지도록 자기저항 소자(2ab)를 배치하고 있다. 또한 자석(5c-5d)에 걸쳐지도록 자기저항 소자(2cd)를 배치하고 있다.
이러한 구조에 의해, 자석(5a)으로부터 나온 자속은 그것에 인접하는 자석(5b)으로 들어간다. 이 자석(5a)으로부터 나온 자속은 감자부(20ab)의 좌측을 관통하고, 다시 우측을 관통해서 자석(5b)으로 들어간다. 마찬가지로 자석(5c)으로부터 나온 자속은 감자부(20cd)의 좌측을 관통하고, 다시 우측을 관통해서 자석(5d)으로 들어간다. 또한, 자석(5c)으로부터 나온 자속은 감자부(20cd)의 좌측을 관통하고, 감자부(20ab)의 우측을 관통해서 자석(5b)으로 들어간다.
따라서, 감자부에 평행한 평면에서 봤을 때, 감자부(20ab, 20cd) 등의 중앙부에 피검지물의 자성체가 존재하면, 각각의 감자부를 구비한 자기저항 소자의 저항값 변화에 의해 그 유무를 검출할 수 있다. 또한, 감자부(20ab와 20cd)의 중간위치 등, 감자부가 없는 위치에 자성체가 존재하는 경우는, 제1의 실시형태의 경우와 마찬가지로, 그 감자부(20ab, 20cd)를 구비하는 자기저항 소자(2ab, 2cd)의 쌍방의 저항값 변화에 의해 그 자성체의 유무를 검출할 수 있다.
도 5A의 예에서는 배치순의 2개의 자석 단위로, 그 2개의 자석에 걸쳐지도록 자기 저항소자를 배치하였으나, 그 외에 예를 들면 도 5B에 나타내는 바와 같이, 배치순의 3개의 자석 단위(5a, 5b, 5c)(5d, 5e, 5f)로, 그 3개의 모든 자석에 걸쳐지도록 자기저항 소자(20abc, 20def)를 배치하도록 해도 좋다. 마찬가지로 해서 4 개 이상의 자석을 단위로 해도 좋으며, 적어도 2개의 자석 단위로, 그 적어도 2개의 자석 모두에 걸쳐지도록 자기저항 소자를 배치하도록 해도 좋다.
다음으로 제3의 실시형태에 따른 장척형 자기센서에 대해서 도 6을 참조해서 설명한다.
이 예에서는, 복수의 자석의 각각의 인접 위치에서 그 인접하는 자석에 걸쳐지도록 자기저항 소자를 배치하고 있다. 이 예에서는, 자석(5a-5b)에 걸쳐지도록 자기저항 소자(2ab)를 배치하고 있다. 또한 자석(5b-5c)에 걸쳐지도록 자기 저항 소자(2bc)를 배치하고 있다. 그리고 서로 인접하는 자석의 자극이 서로 반대방향이 되도록 자석(5a, 5b, 5c)을 배치하고 있다.
이러한 구조에 따르면, 서로 인접하는 2개의 자기저항 소자의 감자부간의 갭 부분에 자석의 중앙부가 위치하게 된다. 도 6의 예에서는 자기저항 소자(2ab, 2cd)의 감자부(20ab-20bc)간의 갭(Gh) 부분에 자석(5b)의 중앙부가 위치한다. 자석의 중앙부는 단부 부근에 비해서 자속밀도가 높아 안정되어 있으므로, 인접하는 감자부간의 자속밀도가, 다른 영역에 비해서 높아지게 된다. 그 결과, 갭(Gh) 부분의 검출 레벨의 저하를 보상할 수 있으며, 길이방향의 전체에 플랫(flat)한 검출 레벨 특성이 얻어진다. 또한, 인접하는 자석의 경계위치에 편차가 있더라도, 갭(Gh) 부분의 자속밀도를 높게 유지할 수 있으므로, 그 편차에 대한 검출 레벨의 변동이 적다. 또한, 자석과 자석 사이의 특성에 대해서는 제2의 실시형태의 경우와 동일하다.
다음으로 제4의 실시형태에 따른 장척형 자기센서의 구성을 도 7을 참조해서 설명한다. 도 7은 장척형 자기센서의 각 자기저항 소자의 감자부에 평행한 면을 본 부분 평면도이다. 각 자기저항 소자(2a∼2c)는 도면 중 일점쇄선으로 나타내는 바와 같이 직선 형상으로 배치하고 있다. 자석(5a, 5b, 5c)은 각 자기저항 소자(2a, 2b, 2c)마다 각각 1개씩 배치하고 있다. 제1의 실시형태와 달리, 자기저항 소자(2a∼2c)의 배열방향을 따라 또한 자기저항 소자의 감자부(20a, 20b, 20c)에 평행한 면 내에서 지그재그 형상으로 배치되도록 케이스(1)의 바닥면에 프레임부(10)를 형성하고 있다. 따라서, 이 프레임부(10)는 지그재그 형상의 자석 수납부가 되며, 이 프레임부(10)에 자석을 순서대로 장착하는 것만으로, 케이스에 대한 각 자석의 위치를 용이하게 위치맞춤할 수 있다. 또한, 인접하는 자석끼리의 자극의 방향이 역관계이며, 각 자석은 도면 중 일점쇄선으로 나타내는 일직선상에 늘어서려고 하므로, 도면 중의 일점쇄선에 대한 직교방향의 위치결정도 자동적으로 이루어진다.
또한, 도 7은 케이스에 대한 자석의 배치를 제1의 실시형태에 적용한 예였으나, 마찬가지로 해서 제2∼제3의 각 실시형태에도 적용할 수 있다.
본 발명은 운동하는 판간 마찰의 진동의 흡수에 이용할 수 있다.

Claims (5)

  1. 피검지물의 이동방향에 대해서 직교하는 방향을 길이방향으로 하는 감자부(感磁部;magnetosensitive portion)를 표면에 형성한 복수의 자기저항 소자와, 상기 자기저항 소자의 감자부에 대해서 자계를 인가하는 복수의 자석을 갖는 장척형 자기센서로서,
    상기 복수의 자기저항 소자의 감자부와 상기 복수의 자석을 피검지물의 이동방향에 대해서 직교하는 직선 형상으로 각각 배열함과 아울러, 상기 자기저항 소자의 감자부를 형성한 면에 대해서 수직인 자속의 방향이, 인접하는 자석에서 서로 반대가 되도록 상기 자석을 배치한 것을 특징으로 하는 장척형 자기센서.
  2. 제1항에 있어서, 상기 자석은 상기 자기저항 소자마다 각각 1개씩 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 장척형 자기센서.
  3. 제1항에 있어서, 상기 복수의 자석은 2개 이상의 자석을 단위로 하여 배열되며, 상기 복수의 자기저항 소자 각각은 상기 2개 이상의 자석을 모두 걸치도록 배치되는 것을 특징으로 하는 장척형 자기센서.
  4. 제1항에 있어서, 상기 자기저항 소자는 배치된 복수의 상기 자석의 각각의 인접위치에서, 상기 인접하는 자석에 걸쳐지도록 배치되어 있는 것을 특징으로 하 는 장척형 자기센서.
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 자기저항 소자와 상기 자석을 수납하는 케이스를 구비하고, 상기 자기저항 소자의 배열방향을 따라, 또한 상기 자기저항 소자의 감자부에 평행한 면 내에서 지그재그 형상으로 상기 자석이 배치되도록 상기 케이스 내에 프레임부가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 장척형 자기센서.
KR1020067017215A 2004-02-27 2005-02-23 장척형 자기센서 KR100801853B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004054767 2004-02-27
JPJP-P-2004-00054767 2004-02-27

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20060114371A KR20060114371A (ko) 2006-11-06
KR100801853B1 true KR100801853B1 (ko) 2008-02-11

Family

ID=34908808

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020067017215A KR100801853B1 (ko) 2004-02-27 2005-02-23 장척형 자기센서

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7157905B1 (ko)
EP (1) EP1701176B1 (ko)
JP (1) JP3879777B2 (ko)
KR (1) KR100801853B1 (ko)
CN (1) CN1922504B (ko)
WO (1) WO2005083457A1 (ko)

Families Citing this family (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10852367B2 (en) 2007-05-30 2020-12-01 Infineon Technologies Ag Magnetic-field sensor with a back-bias magnet
DE102007025000B3 (de) * 2007-05-30 2008-12-11 Infineon Technologies Ag Magnetfeldsensor
US10338158B2 (en) 2007-05-30 2019-07-02 Infineon Technologies Ag Bias magnetic field sensor
US8587297B2 (en) 2007-12-04 2013-11-19 Infineon Technologies Ag Integrated circuit including sensor having injection molded magnetic material
DE102007061826A1 (de) * 2007-12-20 2009-06-25 Giesecke & Devrient Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen des Vorhandenseins von magnetischen Merkmalen auf einem Wertdokument
US8610430B2 (en) 2008-05-30 2013-12-17 Infineon Technologies Ag Bias field generation for a magneto sensor
US20110187359A1 (en) * 2008-05-30 2011-08-04 Tobias Werth Bias field generation for a magneto sensor
US8174256B2 (en) * 2008-05-30 2012-05-08 Infineon Technologies Ag Methods and systems for magnetic field sensing
US8058870B2 (en) 2008-05-30 2011-11-15 Infineon Technologies Ag Methods and systems for magnetic sensing
DE102008033579B4 (de) * 2008-07-17 2015-03-12 Meas Deutschland Gmbh Messvorrichtung zum Messen magnetischer Eigenschaften
DE102008061507A1 (de) * 2008-12-10 2010-06-17 Giesecke & Devrient Gmbh Magnetsensor zur Prüfung von Wertdokumenten
JP2010243287A (ja) * 2009-04-03 2010-10-28 Tokai Rika Co Ltd 車両のシフト位置検出装置
DE102010025170B4 (de) * 2010-06-25 2013-02-28 Meas Deutschland Gmbh Vorrichtung zum Erzeugen eines Sensorsignals und Verfahren zur Bestimmung der Position eines Gebers
JP5494591B2 (ja) * 2010-09-28 2014-05-14 株式会社村田製作所 長尺型磁気センサ
CN102435961B (zh) * 2010-09-28 2014-10-08 株式会社村田制作所 长型磁传感器
US20120229128A1 (en) * 2011-03-10 2012-09-13 Armin Satz Magnetic Field Sensor
WO2012137544A1 (ja) * 2011-04-01 2012-10-11 株式会社村田製作所 磁気センサ
WO2012137543A1 (ja) * 2011-04-01 2012-10-11 株式会社村田製作所 磁気センサ
DE102011110138A1 (de) 2011-08-15 2013-02-21 Meas Deutschland Gmbh Messvorrichtung zum Messen magnetischer Eigenschaften der Umgebung der Messvorrichtung
WO2013150896A1 (ja) * 2012-04-04 2013-10-10 株式会社村田製作所 磁気検出装置および紙幣識別装置
CN103512588B (zh) * 2012-06-29 2016-06-08 北京嘉岳同乐极电子有限公司 长磁传感器及制造方法
CN103839321B (zh) * 2012-11-23 2018-05-15 北京嘉岳同乐极电子有限公司 一种长尺寸检测磁传感器及其制作方法
DE102013000016A1 (de) 2013-01-02 2014-07-03 Meas Deutschland Gmbh Messvorrichtung zum Messen magnetischer Eigenschaften der Umgebung der Messvorrichtung
CN105122316B (zh) 2013-04-05 2018-01-30 三菱电机株式会社 图像读取装置
JP6359858B2 (ja) * 2014-04-04 2018-07-18 キヤノン電子株式会社 磁界検出装置および磁気識別装置
JP6300908B2 (ja) * 2014-05-13 2018-03-28 三菱電機株式会社 磁気センサ装置
US20170153125A1 (en) * 2014-06-18 2017-06-01 Mitsubishi Electric Corporation Magnetic sensor device and method for producing same
US9030778B1 (en) * 2014-07-23 2015-05-12 Singular Technology Co., Ltd. Magnetic head housing with protection sheet bent to cover transducer and bottom-mounted control circuit board
CN106537166B (zh) * 2014-07-25 2019-12-10 三菱电机株式会社 磁性传感器装置
WO2016052613A1 (ja) * 2014-10-03 2016-04-07 三菱電機株式会社 画像読取装置
DE102015002219A1 (de) * 2015-02-24 2016-08-25 Meas Deutschland Gmbh Vormagnetisierungsmagnet und Messvorrichtung zum Messen magnetischer Eigenschaften der Umgebung der Messvorrichtung sowie Verfahren zur Vormagnetisierung magnetischer Materialien auf einem Messobjekt
CN105701904B (zh) * 2015-12-29 2018-03-30 威海华菱光电股份有限公司 磁图像传感器
JP6934708B2 (ja) * 2016-07-20 2021-09-15 メレキシス テクノロジーズ エス エーMelexis Technologies SA 変位検出装置
WO2018116783A1 (ja) * 2016-12-21 2018-06-28 株式会社村田製作所 磁気センサ
WO2018139123A1 (ja) * 2017-01-25 2018-08-02 三菱電機株式会社 筐体及び磁気センサ装置
WO2018199068A1 (ja) * 2017-04-25 2018-11-01 コニカミノルタ株式会社 磁気センサー
KR102312972B1 (ko) * 2017-05-10 2021-10-15 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 엘리베이터의 엘리베이터 칸 위치 검출 장치
JP2021036199A (ja) * 2017-10-06 2021-03-04 株式会社村田製作所 磁気センサ及び電流センサ
JP7059080B2 (ja) * 2018-04-09 2022-04-25 キヤノン電子株式会社 磁気識別装置
JP1636667S (ko) * 2018-08-21 2019-07-22
CN115667965A (zh) * 2020-03-30 2023-01-31 三菱电机株式会社 磁传感器装置
JP2023097943A (ja) * 2021-12-28 2023-07-10 グローリー株式会社 磁気特徴検出装置及び紙葉類識別装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6139592A (ja) 1984-07-31 1986-02-25 Japan Servo Co Ltd 磁気エンコ−ダ
US5180903A (en) 1989-03-24 1993-01-19 Murata Mfg. Co., Ltd. Magnetic detecting unit having aligned sensors
JPH05332703A (ja) * 1992-06-04 1993-12-14 Murata Mfg Co Ltd 長尺型磁気センサ
US5289122A (en) 1991-06-17 1994-02-22 Murata Mfg. Co., Ltd. Magnetic sensor for detecting coarse and fine magnetic patterns
US5896030A (en) 1996-10-09 1999-04-20 Honeywell Inc. Magnetic sensor with components attached to transparent plate for laser trimming during calibration

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS576962Y2 (ko) * 1974-07-26 1982-02-09
JPS5821158A (ja) * 1981-07-30 1983-02-07 Denki Onkyo Co Ltd 多チヤネル磁気センサ
US5157245A (en) * 1988-06-29 1992-10-20 Murata Mfg. Co., Ltd. Magnetic sensor
JPH02154178A (ja) * 1988-12-06 1990-06-13 Murata Mfg Co Ltd 磁気センサ用センサケースの製造方法
NL8900750A (nl) * 1989-03-28 1990-10-16 Philips Nv Inrichting voor het meten van een relatieve verplaatsing.
DE19506104A1 (de) * 1994-03-25 1995-09-28 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Magnetisches Meßsystem
JPH07297464A (ja) 1994-04-28 1995-11-10 Murata Mfg Co Ltd 差動型磁気抵抗効果素子
US6690159B2 (en) * 2000-09-28 2004-02-10 Eldec Corporation Position indicating system
JP3651433B2 (ja) * 2001-09-28 2005-05-25 株式会社村田製作所 磁気センサ

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6139592A (ja) 1984-07-31 1986-02-25 Japan Servo Co Ltd 磁気エンコ−ダ
US5180903A (en) 1989-03-24 1993-01-19 Murata Mfg. Co., Ltd. Magnetic detecting unit having aligned sensors
US5289122A (en) 1991-06-17 1994-02-22 Murata Mfg. Co., Ltd. Magnetic sensor for detecting coarse and fine magnetic patterns
JPH05332703A (ja) * 1992-06-04 1993-12-14 Murata Mfg Co Ltd 長尺型磁気センサ
US5896030A (en) 1996-10-09 1999-04-20 Honeywell Inc. Magnetic sensor with components attached to transparent plate for laser trimming during calibration

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2005083457A1 (ja) 2007-11-22
KR20060114371A (ko) 2006-11-06
EP1701176A1 (en) 2006-09-13
US20060279280A1 (en) 2006-12-14
WO2005083457A1 (ja) 2005-09-09
CN1922504B (zh) 2010-04-07
EP1701176B1 (en) 2014-06-11
CN1922504A (zh) 2007-02-28
JP3879777B2 (ja) 2007-02-14
EP1701176A4 (en) 2007-12-19
US7157905B1 (en) 2007-01-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100801853B1 (ko) 장척형 자기센서
US9557352B2 (en) Current detection structure
KR20130032379A (ko) 자성체 검출 장치
KR100782363B1 (ko) 전류검출 코일 및 전류검출방법
DE112015002893B4 (de) Magnetische Sensor-Einheit und Verfahren zur Herstellung derselben
US20220229093A1 (en) Current detection device
US5180903A (en) Magnetic detecting unit having aligned sensors
JP2013044705A (ja) 電流検出装置
JP2017090342A (ja) 磁気検出装置
JP2705532B2 (ja) コネクタ
JP7489498B2 (ja) 電流検出装置
US4674008A (en) Display element attachment holder
JP2005300228A (ja) 長尺型磁気センサ
JP4608912B2 (ja) 長尺型磁気センサ
CN110892279B (zh) 磁传感器装置
JP2005249468A (ja) 長尺型磁気センサ
JP6396794B2 (ja) 磁気ラインセンサにおける磁石の位置決め方法及び位置決め装置
JP6789711B2 (ja) 磁気識別装置
KR102613727B1 (ko) 전류 변환기
JPS6220482B2 (ko)
JP2010199128A (ja) プリント基板支持筐体及びガイド部材
CN115698730A (zh) 电流检测装置
KR101183637B1 (ko) 자화된 스트립들 또는 쓰레드들을 스캐닝하는 모듈식 자기 헤드, 모듈식 하프-코어 엘리먼트 및 전기 절연성 지지부
US4095203A (en) Arrangement for obtaining an electrical signal proportional to a distance
WO2011064653A1 (ja) センサ装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130104

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140103

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150105

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170120

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180119

Year of fee payment: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20200116

Year of fee payment: 13