KR100792068B1 - X선 이물질 검출 장치 - Google Patents
X선 이물질 검출 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100792068B1 KR100792068B1 KR1020067013710A KR20067013710A KR100792068B1 KR 100792068 B1 KR100792068 B1 KR 100792068B1 KR 1020067013710 A KR1020067013710 A KR 1020067013710A KR 20067013710 A KR20067013710 A KR 20067013710A KR 100792068 B1 KR100792068 B1 KR 100792068B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- foreign matter
- test piece
- detection device
- ray
- moving
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/12—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the material being a flowing fluid or a flowing granular solid
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/18—Investigating the presence of flaws defects or foreign matter
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/33—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
- G01N2223/3303—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts object fixed; source and detector move
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/618—Specific applications or type of materials food
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/628—Specific applications or type of materials tubes, pipes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/652—Specific applications or type of materials impurities, foreign matter, trace amounts
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
Claims (7)
- 반송 경로 내를 반송되는 피검사물에 소정의 검출 위치에서 X선을 조사하고, 상기 피검사물을 투과한 X선의 투과량에 기초하여 이물질 혼입의 유무를 검출하는 X선 이물질 검출장치(1, 40)로서,상기 반송 경로 밖에 있어서, 이물질 혼입의 검출감도를 확인하기 위한 테스트피스(21)가 유지되며, 상기 반송 경로 내를 이동하는 상기 피검사물의 이동 방향을 따라서 상기 검출 위치를 통과할 수 있도록 이동가능하게 설치된 테스트피스대(17, 49)와,상기 테스트피스대를 상기 이동 방향을 따라서 상기 피검사물과 실질적으로 동등한 속도로 이동시키는 이동수단(19, 43)을 가지는 것을 특징으로 하는 X선 이물질 검출 장치.
- 제1항에 있어서,상기 반송 경로는, 상기 피검사물이 이동하는 파이프(7)의 내부 공간에 설정되어 있으며,상기 테스트피스대(17, 49)는 상기 검사위치를 포함하는 상기 반송 경로의 소정 길이의 구간에 있어서 상기 이동수단(19, 43)에 의해 상기 피검사물의 이동 방향과 평행하게 이동되는 것을 특징으로 하는 X선 이물질 검출 장치.
- 제1항에 있어서,상기 반송 경로는, 반송 컨베이어에 실린 상기 피검사물이 이동하는 영역 또는 공간으로서 설정되어 있으며,상기 테스트피스대(17, 49)는 상기 검사 위치를 포함하는 상기 반송 경로의 소정 길이의 구간에 있어서 상기 이동수단(19, 43)에 의해 상기 피검사물의 이동 방향과 평행하게 이동되는 것을 특징으로 하는 X선 이물질 검출 장치.
- 제1항에 있어서,상기 이동 수단이 탄성체(19)인 것을 특징으로 하는 X선 이물질 검출 장치(1).
- 제1항에 있어서,상기 이동 수단이 모터(43)인 것을 특징으로 하는 X선 이물질 검출 장치(40).
- 제1항에 있어서,상기 이동 수단이 에어실린더인 것을 특징으로 하는 X선 이물질 검출 장치(1, 40).
- 제5항에 있어서,상기 피검사체의 이동 속도가 임의로 설정가능하며, 제어부가 피검사체의 이동 속도를 검출하고, 이것에 기초하여 상기 모터(43)를 구동제어하며, 상기 피검사체의 이동 속도에 따라서 상기 테스트피스대(17, 49)의 이동 속도를 설정하는 것을 특징으로 하는 X선 이물질 검출 장치(1, 40).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020067013710A KR100792068B1 (ko) | 2004-06-24 | 2005-06-22 | X선 이물질 검출 장치 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2004-00186682 | 2004-06-24 | ||
KR1020067013710A KR100792068B1 (ko) | 2004-06-24 | 2005-06-22 | X선 이물질 검출 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070017106A KR20070017106A (ko) | 2007-02-08 |
KR100792068B1 true KR100792068B1 (ko) | 2008-01-04 |
Family
ID=41343685
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020067013710A KR100792068B1 (ko) | 2004-06-24 | 2005-06-22 | X선 이물질 검출 장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100792068B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20190133354A (ko) * | 2018-05-23 | 2019-12-03 | (주)자비스 | 관로 이송 구조의 엑스레이 검사 장치 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101947373B1 (ko) * | 2017-06-19 | 2019-04-29 | (주)자비스 | 엑스레이 흡수 특성에 의한 성분 분석 시스템 및 그에 의한 성분 분석 방법 |
KR102000173B1 (ko) * | 2019-04-08 | 2019-07-15 | (주) 신대양 | 준설토 정화용 실시간 분석장치 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0357946A (ja) * | 1989-07-27 | 1991-03-13 | Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd | 食品中の異物検査装置 |
JP2003315286A (ja) * | 2002-04-24 | 2003-11-06 | Yamato Scale Co Ltd | X線異物検出装置 |
JP2004125715A (ja) * | 2002-10-07 | 2004-04-22 | Yamato Scale Co Ltd | X線異物検査装置の感度校正方法及び感度校正装置 |
-
2005
- 2005-06-22 KR KR1020067013710A patent/KR100792068B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0357946A (ja) * | 1989-07-27 | 1991-03-13 | Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd | 食品中の異物検査装置 |
JP2003315286A (ja) * | 2002-04-24 | 2003-11-06 | Yamato Scale Co Ltd | X線異物検出装置 |
JP2004125715A (ja) * | 2002-10-07 | 2004-04-22 | Yamato Scale Co Ltd | X線異物検査装置の感度校正方法及び感度校正装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20190133354A (ko) * | 2018-05-23 | 2019-12-03 | (주)자비스 | 관로 이송 구조의 엑스레이 검사 장치 |
KR102124876B1 (ko) * | 2018-05-23 | 2020-06-19 | (주)자비스 | 관로 이송 구조의 엑스레이 검사 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20070017106A (ko) | 2007-02-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4588707B2 (ja) | X線異物検出装置 | |
JP6301303B2 (ja) | 移動する製品を検査するための装置、特に移動する反物をx線で検査する装置 | |
EP1977215B1 (en) | Contaminant analyzer for fuel | |
MY146449A (en) | Apparatus and method for quick imaging and inspecting moving target | |
KR100792068B1 (ko) | X선 이물질 검출 장치 | |
JP2007003485A (ja) | 封入物検査方法及びその装置 | |
US5138644A (en) | Method and apparatus for measuring the wall thickness of insulated pipe | |
JP5954284B2 (ja) | 表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法 | |
JP2008286791A (ja) | 表面欠陥検査方法及び装置 | |
KR20150134033A (ko) | 소형 제품의 연속 검사를 위한 엑스레이 검사 장치 | |
JP2591171B2 (ja) | 食品中の異物検査装置 | |
JP3977366B2 (ja) | X線異物検出装置 | |
KR101776052B1 (ko) | 관로 이송 구조의 식음료의 이물질 탐지 장치 | |
JP7136718B2 (ja) | 物品検査装置 | |
JP2012198074A (ja) | X線異物検査装置 | |
JP2019015008A (ja) | 異物除去装置 | |
JP3979872B2 (ja) | X線異物検出装置 | |
KR20080106154A (ko) | 중력을 이용한 엑스레이 이물 검사 방법(무동력검사방법) | |
JP2005292095A (ja) | 金属検出装置の自動感度チェック装置 | |
KR20160105753A (ko) | 소형 제품의 연속 검사를 위한 엑스레이 검사 장치 | |
JP6975100B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP4050255B2 (ja) | X線異物検出装置 | |
JP4050254B2 (ja) | X線異物検出装置及び感度補正方法 | |
KR102124876B1 (ko) | 관로 이송 구조의 엑스레이 검사 장치 | |
CN218822158U (zh) | 一种检测设备 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121130 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131218 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141205 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151201 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161129 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181129 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20191127 Year of fee payment: 13 |