KR100776514B1 - 액정표시장치 및 그 제조방법 - Google Patents
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Abstract
Description
24, 54 : 채널
TFT는 게이트 라인(2)에 접속된 게이트 전극(6), 데이터 라인(4)에 접속된 소스 전극(8) 및 접촉홀(20)을 통해 화소 전극(22)에 접속된 드레인 전극(10)으로 이루어진다. 또한, TFT는 게이트 전극(6)에 공급되는 게이트 전압에 의해 소스 전극(8)과 드레인 전극(10) 간에 채널(24)을 형성하기 위한 반도체층(14, 16)을 구비한다. 채널(24)은 도 2에 도시된 바와 같이 일자형으로 데이터 라인(4)을 따라 길게 형성되어 전자 이동도가 높아진다. 여기서, 통상 채널(24)의 길이(L)는 5~6㎛ 정도이고, 채널(24)의 폭(W)은 25㎛이하 정도로 설정된다.
이러한 TFT는 게이트 라인(2)으로부터의 게이트 신호에 응답하여 데이터 라인(4)으로부터의 데이터 신호를 선택적으로 화소 전극(22)에 공급한다.
화소 전극(22)은 데이터 라인(4)과 게이트 라인(2)에 의해 분할된 셀 영역에 위치하며 광투과율이 높은 투명 전도성 물질로 이루어진다. 이 화소 전극(22)은 접촉홀(20)을 경유하여 공급되는 데이터 신호에 의해 상부기판(미도시)에 형성되는 공통 전극(미도시)과 전위차를 발생시킨다. 이 전위차에 의해 하부기판과 상부기판 사이에 위치하는 액정은 유전이방성에 의해 회전하게 되며 이에 따라, 액정은 광원으로부터 화소 전극(22)을 경유하여 공급되는 광이 상부기판 쪽으로 투과되게 함으로써 화상을 표시한다.
상기 반도체층은, 상기 게이트 절연막 상에 형성되는 활성층과; 상기 활성층 상에 형성되며 상기 채널과 대응하는 ‘ㄹ’자 형태의 홀이 형성되는 오믹접촉층을 구비한다.
채널(54)의 폭(W)은 50~100㎛ 이상 정도이며, 채널(54)의 길이(L)는 4~6㎛ 정도로 설정된다. 즉, 본 발명의 액정표시장치의 채널(54)은 ‘ㄹ’자 형상을 가짐에 따라 종래의 채널 길이(L)와 같거나 작게 형성되고 종래의 채널(54) 폭(W)보다는 25~27㎛ 이상 크게 형성되어 채널(54)의 폭(W)/채널(54)의 길이(L)가 종래보다 증가된다. 또한, 채널(54)의 폭(W)에 대응되게 게이트 전극(36)의 폭도 넓게 형성되므로 소스 전극(38)과 게이트 라인(32) 및 게이트 전극(36)의 중첩면적이 줄어든다.
이러한 TFT는 게이트 라인(32)으로부터의 게이트 신호에 응답하여 데이터 라인(34)으로부터의 데이터 신호를 선택적으로 화소 전극(52)에 공급한다.
화소 전극(52)은 데이터 라인(34)과 게이트 라인(32)에 의해 분할된 셀 영역에 위치하며 광투과율이 높은 투명 전도성 물질로 이루어진다. 이 화소 전극(52)은 접촉홀(50)을 경유하여 공급되는 데이터 신호에 의해 상부기판(미도시)에 형성되는 공통 전극(미도시)과 전위차를 발생시킨다. 이 전위차에 의해 하부기판과 상부기판 사이에 위치하는 액정은 유전이방성에 의해 회전하게 되며 이에 따라, 액정은 광원으로부터 화소 전극(52)을 경유하여 공급되는 광이 상부기판 쪽으로 투과되게 함으로써 화상을 표시한다.
이와 같이, 본 발명에 따른 액정표시장치는 채널(54)을 ‘ㄹ’자 형상으로 형성함으로써 채널(54)의 폭을 크게 형성시켜 주기 위해 게이트 전극(36)의 폭이 넓게 형성된다. 따라서, 본 발명의 액정표시장치는 폭이 넓은 게이트 전극(36)을 형성하기 위한 포토레지스트 패턴을 넓게 형성할 수 있게 됨으로써 포토레지스트 패턴의 균일성이 향상된다. 이에 따라, 본 발명의 액정표시장치는 게이트 전극(36)의 단선을 방지할 수 있다.
소스 및 드레인 전극(38, 40)의 패터닝시 게이트 전극(36)과 대응하는 부분의 오믹접촉층(46)도 함께 패터닝되어 활성층(44)을 노출시킴으로써 소스 및 드레인 전극(38, 40) 사이에 게이트 전극(36)과 대응하는 부분에 채널(54)이 형성된다. 채널(54)은 드레인 전극(40)과 소스 전극(38)의 형상에 의하여‘ㄹ’자 형상으로 형성된다.
또한, 본 발명에 따른 액정표시장치 및 그 제조방법은 게이트 전극과 데이터 라인과의 중첩되는 면적이 작아짐에 따라 기생 용량값(Cgs)이 작아지게 된다. 이에 따라, 플리커 및 잔상 등의 현상을 방지할 수 있어 고화질을 구현할 수 있다.
뿐만 아니라, 본 발명에 따른 액정표시장치 및 그 제조방법은 채널 폭(W)/채널 길이(L)의 값이 증가되어 TFT의 온 전류가 증가되고 스위칭 타임이 줄어든다. 이로 인해, 구동 전압에 의한 반응속도가 빨라져 대면적화에 적용될 수 있다.
나아가, 높은 온 전류와 구동 전압에 의한 빠른 반응속도를 요구하는 강유전성 액정(FLC) 모드에도 적용될 수 있다.
Claims (10)
- 기판 상에 형성된 게이트 라인 및 상기 게이트 라인에 연결된 게이트 전극과;상기 게이트 라인 및 상기 게이트 전극을 덮도록 상기 기판 상에 형성된 게이트 절연막과;상기 게이트 절연막 상에 형성된 반도체층과;상기 게이트 라인과 교차되게 형성된 데이터 라인과;상기 데이터 라인으로부터 돌출된 2개 이상의 돌출부를 갖는 소스 전극 및, 상기 소스 전극과 마주하고 소스 전극의 돌출부와 엇갈리도록 배치된 2개 이상의 돌출부를 갖는 드레인 전극과;상기 소스 및 드레인 전극을 덮도록 상기 게이트 절연막 상에 형성된 보호층과;상기 보호층 상에 형성된 화소 전극을 구비하고,상기 반도체층은 상기 소스 및 드레인 전극의 마주하는 면과 면 사이를 따라 형성된‘ㄹ’자의 채널을 가지며,상기‘ㄹ’자 전체는 상기 게이트 전극에 중첩되고,상기 데이터 라인 방향을 따르는 상기 채널의 길이(L)는 4㎛ 내지 6㎛이고,상기‘ㄹ’자 형태를 따르는 상기 채널의 폭(W)은 50㎛ 이상인 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 삭제
- 제 1 항에 있어서,상기 반도체층은,상기 게이트 절연막 상에 형성되는 활성층과;상기 활성층 상에 형성되며 상기 채널과 대응하는 ‘ㄹ’자 형태의 홀이 형성되는 오믹접촉층을 구비하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 삭제
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- 기판 상에 게이트 라인 및 상기 게이트 라인에 연결된 게이트 전극을 형성하는 단계와;상기 게이트 라인 및 상기 게이트 전극을 덮도록 상기 기판 상에 게이트 절연막을 형성하는 단계와;상기 게이트 절연막 상에 반도체층을 형성하는 단계와;상기 반도체층 상에 상기 게이트 라인과 교차되는 데이터 라인과, 상기 데이터 라인으로부터 돌출된 2개 이상의 돌출부를 갖는 소스 전극과, 상기 소스 전극에 마주하고 소스 전극의 돌출부와 엇갈리도록 배치된 2개 이상의 돌출부를 갖는 드레인 전극을 형성하는 단계와;상기 소스 및 드레인 전극의 마주하는 면과 면 사이의 상기 반도체층을 패터닝하여‘ㄹ’자의 채널을 형성하는 단계와;상기 소스 및 드레인 전극을 덮도록 상기 게이트 절연막 상에 보호층을 형성하는 단계와;상기 보호층 상에 화소 전극을 형성하는 단계를 포함하고,상기‘ㄹ’자 전체는 상기 게이트 전극에 중첩되고,상기 데이터 라인 방향을 따르는 상기 채널의 길이(L)는 4㎛ 내지 6㎛이고,상기‘ㄹ’자 형태를 따르는 상기 채널의 폭(W)은 50㎛ 이상인 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 제조방법.
- 삭제
- 제 6 항에 있어서,상기 반도체층은,상기 게이트 절연막 상에 활성층 및;상기 활성층 상에 상기 채널과 대응하는 ‘ㄹ’자 형태의 홀을 갖는 오믹접촉층을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 제조방법.
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Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100475108B1 (ko) * | 2001-12-22 | 2005-03-10 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치 및 그 제조 방법 |
US7858451B2 (en) * | 2005-02-03 | 2010-12-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electronic device, semiconductor device and manufacturing method thereof |
CN100461432C (zh) * | 2006-11-03 | 2009-02-11 | 北京京东方光电科技有限公司 | 一种薄膜晶体管沟道结构 |
CN100592181C (zh) * | 2007-05-30 | 2010-02-24 | 北京京东方光电科技有限公司 | 一种可修复的像素结构 |
KR102326555B1 (ko) * | 2015-04-29 | 2021-11-17 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시장치 |
CN110098259A (zh) * | 2019-04-10 | 2019-08-06 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 非晶硅薄膜晶体管及其制作方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6451663A (en) * | 1987-08-24 | 1989-02-27 | Seiko Epson Corp | Thin film transistor |
JPH0224631A (ja) * | 1988-07-13 | 1990-01-26 | Seikosha Co Ltd | 薄膜トランジスタアレイ |
JPH0258030A (ja) * | 1988-08-24 | 1990-02-27 | Hitachi Ltd | 液晶表示装置 |
JPH09251171A (ja) * | 1996-03-15 | 1997-09-22 | Toshiba Electron Eng Corp | 液晶表示装置およびその製造方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2585167B1 (fr) * | 1985-07-19 | 1993-05-07 | Gen Electric | Structures conductrices redondantes pour affichages a cristaux liquides commandes par des transistors a effet de champ en couche mince |
ATE135496T1 (de) * | 1990-03-27 | 1996-03-15 | Canon Kk | Dünnschicht-halbleiterbauelement |
EP0449585B1 (en) * | 1990-03-27 | 1996-09-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Thin film semiconductor device |
JPH0864824A (ja) * | 1994-08-24 | 1996-03-08 | Toshiba Corp | 薄膜トランジスタおよびその製造方法 |
US5777703A (en) * | 1994-09-30 | 1998-07-07 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Active matrix type liquid crystal display apparatus with a projection part in the drain line |
US5789791A (en) * | 1996-08-27 | 1998-08-04 | National Semiconductor Corporation | Multi-finger MOS transistor with reduced gate resistance |
KR100439944B1 (ko) * | 1998-12-10 | 2004-11-03 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 박막트랜지스터형광감지센서,센서박막트랜지스터와그제조방법 |
JP2001051294A (ja) * | 1999-08-05 | 2001-02-23 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 高精細tft液晶表示装置 |
WO2001017029A1 (en) * | 1999-08-31 | 2001-03-08 | E Ink Corporation | Transistor for an electronically driven display |
-
2000
- 2000-12-30 KR KR1020000087051A patent/KR100776514B1/ko active IP Right Grant
-
2001
- 2001-06-29 US US09/893,976 patent/US7053408B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6451663A (en) * | 1987-08-24 | 1989-02-27 | Seiko Epson Corp | Thin film transistor |
JPH0224631A (ja) * | 1988-07-13 | 1990-01-26 | Seikosha Co Ltd | 薄膜トランジスタアレイ |
JPH0258030A (ja) * | 1988-08-24 | 1990-02-27 | Hitachi Ltd | 液晶表示装置 |
JPH09251171A (ja) * | 1996-03-15 | 1997-09-22 | Toshiba Electron Eng Corp | 液晶表示装置およびその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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