KR100710125B1 - Ｉｑ 불일치 및 반송파 누설을 보상하는 송수신 회로 및 그제어 방법 - Google Patents

Ｉｑ 불일치 및 반송파 누설을 보상하는 송수신 회로 및 그제어 방법 Download PDF

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KR100710125B1 KR1020060017522A KR20060017522A KR100710125B1 KR 100710125 B1 KR100710125 B1 KR 100710125B1 KR 1020060017522 A KR1020060017522 A KR 1020060017522A KR 20060017522 A KR20060017522 A KR 20060017522A KR 100710125 B1 KR100710125 B1 KR 100710125B1
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박준배
이경호
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지씨티 세미컨덕터 인코포레이티드
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Abstract

본 발명은 IQ 불일치 및 반송파 누설을 보상하는 송수신 회로 및 그 제어 방법에 관한 발명으로써, 보다 구체적으로 복수의 국부 발진기를 사용하여 IQ 불일치 및 반송파 누설을 보상하는 송수신 회로 및 그 제어 방법에 관한 발명이다.
본 발명은 제 1 상향 IQ 믹서, 제 2 상향 IQ 믹서, 제 1 하향 IQ 믹서, 제 2 하향 IQ 믹서, 제 1 국부 발진기 및 제 2 국부 발진기를 포함하는 송수신 회로의 제어 방법에 있어서, 상기 제 1 상향 IQ 믹서의 출력에 포함된 Tx 반송파 누설이 상기 제 2 하향 IQ 믹서를 경유한 신호를 이용하여 Tx 반송파 누설을 측정하는 Tx 반송파 누설 측정 단계; 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서를 경유한 신호를 이용하여 Tx IQ 불일치를 측정하는 Tx IQ 불일치 측정 단계; 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서를 경유한 신호를 이용하여 Rx IQ 불일치를 측정하는 Rx IQ 불일치 측정 단계; 및 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서를 이용하여 TDD 방식의 송수신을 수행하는 정상 동작 단계를 포함하며, 상기 제 1 국부 발진기는 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서에 사용되는 제 1 IQ LO 신호를 생성하고, 상기 제 2 국부 발진기는 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서에 사용되는 제 2 IQ LO 신호를 생성하는 제어 방법을 제공한다.

Description

ＩＱ 불일치 및 반송파 누설을 보상하는 송수신 회로 및 그 제어 방법{tranceiver circuit for compensating IQ mismatch and carrier leakage and control method of the same}
도 1은 본 발명의 실시예에 의한 송수신 회로를 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 의한 송수신 회로의 제어 방법을 나타내는 순서도이다.
도 3 내지 5는 Tx 반송파 누설 측정 단계, Tx IQ 불일치 측정 단계 및 Rx IQ 불일치 측정 단계에 발생하는 신호들의 주파수 영역상의 위치를 나타내는 도면이다.
*도면의 주요 부분에 부호의 설명*
10, 11, 12, 13 IQ 믹서 20, 21 국부 발진기
30 IQ DAC 31 IQ ADC
32 IQ 필터 40 제어부
41 먹스 42 Tx 보상부
43 Rx IQ 불일치 보상부 44 Tx 반송파 누설 보상부
45 Tx IQ 불일치 보상부 50 전력 증폭기
51 저잡음 증폭기 52 듀플렉서
본 발명은 IQ 불일치 및 반송파 누설(carrier leakage)을 보상하는 송수신 회로 및 그 제어 방법에 관한 발명으로써, 보다 구체적으로 복수의 국부 발진기를 사용하여 IQ 불일치 및 반송파 누설을 보상하는 송수신 회로 및 그 제어 방법에 관한 발명이다.
IQ 믹서(mixer)를 사용하여 기저 대역 신호(base band signal, 이하 간략히 BB 신호라 함) 또는 중간 주파수 신호(intermediate frequency signal, 이하 간략히 IF 신호라 함)를 무선 주파수 신호(radio frequency signal, 이하 간략히 RF 신호라 함)로 변환하거나, RF 신호를 BB 신호 또는 IF 신호로 변환하는 기술은 무선 통신 분야에서 널리 사용되고 있다.
그러나, 실제의 IQ 믹서에는 반송파 누설(carrier leakage) 및 IQ 불일치(IQ imbalance)가 발생한다. 반송파 누설은 입력 신호와 국부 발진기에서 전달되는 IQ LO 신호의 곱이 IQ 믹서의 출력단으로 전달될 뿐만 아니라, IQ LO 신호 또한 IQ 믹서의 출력단으로 누설됨으로써 발생하는 현상이다. IQ 불일치는 국부 발진기에서 IQ 믹서에 전달되는 동위상 신호(in-phase signal) 및 직각 신호(quadrature signal)의 크기가 동일하지 아니하므로 발생하는 이득 불일치(gain imbalance) 및 동위상 신호 및 직각 신호가 상호 90°의 위상차를 가지지 못하므로 발생하는 위상 불일치(phase imbalance)를 포함하는 개념이다. 이러한 반송파 누설 및 IQ 불일치가 발생하는 경우, IQ 믹서의 출력에는 원하지 않는 잡음 성분이 존재하여 신호대 잡음 비(signal-to-noise ratio)를 저하시킨다는 문제점이 있다.
IQ 불일치를 보상하기 위한 종래 기술로서, "shahriar Emami"가 출원한 미국 특허 제5,949,821호(발명의 명칭 : Method and apparatus for correcting phase and gain imbalances between in-phase(I) and quadrature(Q) components of a received signal based on a determination of peak amplitudes) 및 "Johua L. Koslov"가 출원한 미국 특허 제6,044,112호(발명의 명칭 : Method and apparatus for correcting amplitude and phase imbalances in demodulators)에 개시된 기술이 있다. 이들 특허에는 무선을 통하여 전달된 수신 신호를 이용하여 Rx IQ 불일치를 측정하는 방법이 개시되어 있다. 그러나, 이 특허에 개시된 기술은 수신 신호를 이용하여 IQ 불일치를 측정하므로, IQ 불일치가 보상되기 이전에 수신되는 신호의 IQ 불일치는 보상될 수 없으며, 수신 신호에 포함된 무선 채널의 잡음에 의하여 측정된 IQ 불일치의 정확도가 떨어진다는 문제점이 있다.
IQ 불일치를 보상하기 위한 다른 종래 기술로서, "Tod Paulus"가 출원한 미국 공개 공보 제2005/0070236호(발명의 명칭 : Apparatus and method for deriving a digital image correction factor in a receiver)에 개시된 기술이 있다. 이 특 허에는 테스트 신호를 하향 IQ 믹서에 입력하여 Rx IQ 불일치를 측정하는 방법이 개시되어 있다. 그러나, 이 특허에 개시된 기술은 별도의 테스트 신호를 필요로 한다는 문제점이 있다.
반송파 누설 및 IQ 불일치를 보상하기 위한 종래 기술로서, "한국전자통신연구원"이 출원한 한국 공개 공보 제2005-0066953호(발명의 명칭 : 직류 오차/이득 불일치/위상 불일치 보상 장치 및 그를 이용한 보상 시스템)에 개시된 기술이 있다. 이 특허에는 반송파 누설, Tx IQ 불일치 및 Rx IQ 불일치를 보상할 수 있는 보상 시스템이 개시되어 있다. 그러나, 이 특허에 개시된 기술은 수신 신호를 이용하여 Rx IQ 불일치를 측정하므로, IQ 불일치가 보상되기 이전에 수신되는 신호의 IQ 불일치는 보상될 수 없으며, 수신 신호에 포함된 무선 채널의 잡음에 의하여 측정된 IQ 불일치의 정확도가 떨어진다는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 상기한 문제점들을 해결하기 위한 것으로서, Tx 반송파 누설, Tx IQ 불일치 및 Rx IQ 불일치를 보상할 수 있는 송수신 회로 및 그 제어 방법을 제공하는 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는 무선을 통하여 전달된 신호를 이용하여 Tx 반송파 누설, Tx IQ 불일치 및 Rx IQ 불일치를 측정하지 아니하고, 상향 믹서의 출력 신호를 하향 믹서에 입력하여, Tx 반송파 누설, Tx IQ 불일치 및 Rx IQ 불일치를 측정함으로써, 측정 과정을 단순화하고, 무선에서 발생하는 잡음으 로 인하여 측정 오차가 증가하는 문제점을 줄일 수 있는 송수신 회로 및 그 제어 방법을 제공하는 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 또 다른 기술적 과제는 TDD(time division duplex) 방식으로 동작하는 송수신 회로에 있어서, Tx 반송파 누설, Tx IQ 불일치 및 Rx IQ 불일치를 측정하는 기간과 정상 동작 기간의 국부 발진기의 부하 조건을 동일하게 함으로써, 국부 발진기의 부하 조건의 변화로 인한 Tx 반송파 누설, Tx IQ 불일치 및 Rx IQ 불일치의 변화를 방지할 수 있는 송수신 회로 및 그 제어 방법을 제공하는 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 또 다른 기술적 과제는 Tx 반송파 누설, Tx IQ 불일치 및 Rx IQ 불일치를 측정함에 있어서, 상향 IQ 믹서와 하향 IQ 믹서가 서로 다른 LO 주파수를 사용함으로써, Tx 반송파 누설, Tx IQ 불일치 및 Rx IQ 불일치의 측정의 정확도를 높일 수 있는 송수신 회로 및 그 제어 방법을 제공하는 것이다.
상술한 목적을 달성하기 위한 기술적 수단으로서, 본 발명의 제 1 측면은 제 1 상향 IQ 믹서, 제 2 상향 IQ 믹서, 제 1 하향 IQ 믹서, 제 2 하향 IQ 믹서, 제 1 국부 발진기 및 제 2 국부 발진기를 포함하는 송수신 회로의 제어 방법에 있어서, 상기 제 1 상향 IQ 믹서의 출력에 포함된 Tx 반송파 누설이 상기 제 2 하향 IQ 믹서를 경유한 신호를 이용하여 Tx 반송파 누설을 측정하는 Tx 반송파 누설 측정 단계; 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서를 경유한 신호를 이용하여 Tx IQ 불일치를 측정하는 Tx IQ 불일치 측정 단계; 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서를 경유한 신호를 이용하여 Rx IQ 불일치를 측정하는 Rx IQ 불일치 측정 단계; 및 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서를 이용하여 TDD 방식의 송수신을 수행하는 정상 동작 단계를 포함하며, 상기 제 1 국부 발진기는 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서에 사용되는 제 1 IQ LO 신호를 생성하고, 상기 제 2 국부 발진기는 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서에 사용되는 제 2 IQ LO 신호를 생성하는 제어 방법을 제공한다.
본 발명의 제 2 측면은 제 1 상향 IQ 믹서, 제 1 하향 IQ 믹서, 제 2 하향 IQ 믹서, 제 1 국부 발진기 및 제 2 국부 발진기를 포함하는 송수신 회로의 제어 방법에 있어서, 상기 제 1 상향 IQ 믹서의 출력에 포함된 Tx 반송파 누설이 상기 제 2 하향 IQ 믹서를 경유한 신호를 이용하여 Tx 반송파 누설을 측정하는 Tx 반송파 누설 측정 단계; 및 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서를 이용하여 TDD 방식의 송수신을 수행하는 정상 동작 단계를 포함하며, 상기 제 1 국부 발진기는 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서에 사용되는 제 1 IQ LO 신호를 생성하고, 상기 제 2 국부 발진기는 상기 제 2 하향 IQ 믹서에 사용되는 제 2 IQ LO 신호를 생성하는 제어 방법을 제공한다.
본 발명의 제 3 측면은 제 1 상향 IQ 믹서, 제 1 하향 IQ 믹서, 제 2 하향 IQ 믹서, 제 1 국부 발진기 및 제 2 국부 발진기를 포함하는 송수신 회로의 제어 방법에 있어서, 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서를 경유한 신호를 이용하여 Tx IQ 불일치를 측정하는 Tx IQ 불일치 측정 단계; 및 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서를 이용하여 TDD 방식의 송수신을 수행하는 정상 동작 단계를 포함하며, 상기 제 1 국부 발진기는 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서에 사용되는 제 1 IQ LO 신호를 생성하고, 상기 제 2 국부 발진기는 상기 제 2 하향 IQ 믹서에 사용되는 제 2 IQ LO 신호를 생성하는 제어 방법을 제공한다.
본 발명의 제 4 측면은 제 1 상향 IQ 믹서, 제 2 상향 IQ 믹서, 제 1 하향 IQ 믹서, 제 1 국부 발진기 및 제 2 국부 발진기를 포함하는 송수신 회로의 제어 방법에 있어서, 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서를 경유한 신호를 이용하여 Rx IQ 불일치를 측정하는 Rx IQ 불일치 측정 단계; 및 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서를 이용하여 TDD 방식의 송수신을 수행하는 정상 동작 단계를 포함하며, 상기 제 1 국부 발진기는 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서에 사용되는 제 1 IQ LO 신호를 생성하고, 상기 제 2 국부 발진기는 상기 제 2 상향 IQ 믹서에 사용되는 제 2 IQ LO 신호를 생성하는 제어 방법을 제공한다.
본 발명의 제 1 내지 4 측면에 있어서, 바람직하게, 상기 Tx 반송파 누설 측정 단계 및 상기 Tx IQ 불일치 측정 단계에는 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하며, 상기 Rx IQ 불일치 측정 단계에는 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하며, 상기 정상 동작 단계 중 송신 기간에는 상기 제 1 상향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 1 하향 IQ 믹서, 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하며, 상기 정상 동작 단계 중 수신 기간에는 상기 제 1 하향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 1 상향 IQ 믹서, 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니한다. 또한, 상기 제 1 IQ LO 신호 및 상기 제 2 IQ LO 신호의 주파수는 서로 다르다.
본 발명의 제 5 측면은 제 1 상향 IQ 믹서, 제 2 상향 IQ 믹서, 제 1 하향 IQ 믹서, 제 2 하향 IQ 믹서, 제 1 국부 발진기 및 제 2 국부 발진기를 포함하는 송수신 회로에 있어서, 상기 제 1 상향 IQ 믹서의 출력은 상기 제 2 하향 IQ 믹서에 입력될 수 있으며, 상기 제 2 상향 IQ 믹서의 출력은 상기 제 1 하향 IQ 믹서에 입력될 수 있으며, 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서에서 사용되는 제 1 IQ LO 신호는 상기 제 1 국부 발진기에서 생성되며, 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서에서 사용되는 제 2 IQ LO 신호는 상기 제 2 국부 발진기에서 생성되는 송수신 회로를 제공한다.
본 발명의 제 5 측면에 있어서, 바람직하게, Tx 반송파 누설이 측정되는 기간에는 상기 제 1 상향 믹서 및 상기 제 2 하향 믹서는 동작하고, 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하며, Tx IQ 불일치가 측정되는 기간에는 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하며, Tx IQ 불일치가 측정되는 기간에는 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하며, 정상 동작 기간에는 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하며, 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서를 이용하여 TDD 방식의 송수신을 수행한다. 또한, 상기 제 1 IQ LO 신호 및 상기 제 2 IQ LO 신호의 주파수는 서로 다르다.
본 발명에 의한 송수신 회로 및 그 제어 방법에 있어서, 정상 동작 기간 중 송신 기간에는 제 1 상향 믹서는 동작하고, 제 1 하향 믹서는 동작하지 않으며 수신 기간에는 제 1 상향 믹서는 동작하지 않고, 제 1 하향 믹서는 동작한다.
제 1 상향 믹서의 반송파 누설이나 IQ 불일치를 측정하는 기간에는 정상 동작 기간 중 송신 기간과 마찬가지로 제 1 상향 믹서는 동작하며, 제 1 하향 믹서는 동작하지 않기 때문에, 정상 동작 기간에 동작하는 제 1 국부 발진기의 출력 부하가 측정 기간과 정상 동작 시에 대해 정확히 같으므로, 측정이 끝난 후에 정상 동작 기간에 측정 기간에 얻은 반송파 누설이나 IQ 불일치의 측정값의 변화가 없게 된다. 특히, 국부 발진기의 출력 부하가 변화하는 경우는 IQ 불일치 값이 변화하며, 따라서, 측정 기간과 정상 동작 기간에 있어서 국부 발진기의 출력 부하가 동일하도록 유지될 필요가 있다. 만일 측정과정이 제 1 상향 믹서와 제 1 하향 믹서가 동시에 켜진 경우에 이루어진다면, 정상 동작시에는 제 1 상향 믹서 혹은 제 1 하향 믹서만이 동작하기 때문에 제 1 국부 발진기가 보는 출력 부하의 값이 달라지는 것이다.
또한, 제 1 하향 믹서의 IQ 불일치를 측정하는 기간에는 정상 동작 기간 중 수신 기간과 마찬가지로 제 1 상향 믹서는 동작하지 아니하며, 제 1 하향 믹서는 동작하기 때문에, 정상 동작 기간에 동작하는 제 1 국부 발진기의 출력 부하가 측정 기간과 정상 동작 시에 대해 정확히 같으므로, 측정이 끝난 후에 정상 동작 기간에 측정 기간에 얻은 IQ 불일치의 측정값의 변화가 없게 된다.
또한, 반송파 누설이나 IQ 불일치의 측정은 정상 동작 기간에 동작하는 믹서들 즉, 제 1 상향 믹서와 제 1 하향 믹서에 대하여 수행되어야 한다. 제 2 상향 믹서와 제 2 하향 믹서는 제 1 국부 발진기의 출력 부하의 변화 없이 정확한 측정하기 위한 보조 수단이므로, 제 2 상향 믹서와 제 2 하향 믹서의 반송파 누설이나 IQ 불일치는 측정 구조에서 중요하지 않으며, 이는 향후에 설명되어 진다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 그러나, 본 발명의 실시예들은 여러가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 상술하는 실시예들로 인하여 한정되는 식으로 해석되어서는 안된다. 본 발명의 실시예들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해 제공되는 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예에 의한 송수신 회로를 나타내는 도면이다. 비록, 도 1에는 시분할 이중화(time division duplex, 이하 간략히 TDD라 함) 방식에 의한 송수신 회로가 실시예로 표현되어 있으나, 이는 바람직한 실시예를 설명하기 위함이며, 본 발명에 의한 송수신 회로는 TDD 방식에 한정되는 것은 아니다.
도 1을 참조하면, 송수신 회로는 제 1 상향 IQ 믹서(10), 제 2 상향 IQ 믹서(11), 제 1 하향 IQ 믹서(12), 제 2 하향 IQ 믹서(13), 제 1 국부 발진기(20) 및 제 2 국부 발진기(21)를 포함한다. 또한, 송수신 회로는 IQ DAC(30), IQ ADC(31), IQ 필터(32), 제어부(40), 먹스(41), Tx 보상부(42), Rx IQ 불일치 보상부(43), 전력 증폭기(power amplifier, 50), 저잡음 증폭기(low noise amplifier, 51) 및 듀플렉서(52)를 더 포함할 수 있다.
제 1 상향 IQ 믹서(10) 및 제 2 상향 IQ 믹서(11)는 IQ DAC(30)에서 전달되는 신호를 입력받아 상향 변환(up-conversion)하여 출력하는 기능을 수행한다.
이들 중 제 1 상향 IQ 믹서(10)는 제 1 국부 발진기(20)에서 출력되는 제 1 동위상 신호(in-phase signal)(I1), 제 1 직각 신호(quadrature signal)(Q1)(이하, 동위상 신호 및 직각 신호를 간략히 IQ LO 신호라 함) 및 IQ DAC(30)에서 출력되는 신호를 입력받아, IQ DAC(30)에서 출력되는 신호와 제 1 IQ LO 신호(I1, Q1)를 곱한 상향 변환된 신호를 출력한다. 테스트 기간에 제 1 상향 IQ 믹서(10)의 출력은 제 2 하향 IQ 믹서(13)에 입력된다. 테스트 기간 중 Tx 반송파 누설 및 Tx IQ 불일치를 측정하는 기간에 제 1 상향 IQ 믹서(10)는 동작하며, Rx IQ 불일치 측정 기간에는 동작하지 아니한다. 테스트 기간 중 Tx 반송파 누설을 측정하는 기간에 IQ ADC(30)로부터 제 1 상향 IQ 믹서(10)에 입력되는 신호의 전력은 0에 해당한다. 정상 동작 기간에 제 1 상향 IQ 믹서(10)의 출력은 전력 증폭기(50)에 입력된다. 송수신 회로가 TDD 방식으로 동작하는 경우, 정상 동작 기간 중 송신 기간에 제 1 상향 IQ 믹서(10)는 동작하며, 정상 동작 기간 중 수신 기간에는 동작하지 아니한다.
이에 반하여, 제 2 상향 IQ 믹서(11)는 제 2 국부 발진기(21)에서 출력되는 제 2 IQ LO 신호(I2, Q2) 및 IQ DAC(30)에서 출력되는 신호를 입력받아, IQ DAC(30)에서 출력되는 신호와 제 2 IQ LO 신호(I2, Q2)를 곱한 상향 변환된 신호를 출력한다. 테스트 기간에 제 2 상향 IQ 믹서(11)의 출력은 제 1 하향 IQ 믹서(12)에 입력된다. 테스트 기간 중 Rx IQ 불일치를 측정하는 기간에 제 2 상향 IQ 믹서(11)는 동작하며, Tx 반송파 누설 및 Tx IQ 불일치를 측정하는 기간에는 동작하지 아니한다. 또한, 정상 동작 기간에는 제 2 상향 IQ 믹서(11)는 동작하지 아니한다.
제 1 하향 IQ 믹서(12) 및 제 2 하향 IQ 믹서(13)는 입력되는 신호를 하향 변환(down-conversion)하여 IQ 필터(32)로 전달하는 기능을 수행한다.
이들 중 제 1 하향 IQ 믹서(12)는 입력되는 신호와 제 1 국부 발진기(20)에서 출력되는 제 1 IQ LO 신호(I1, Q1)를 곱한 하향 변환된 신호를 출력한다. 테스트 기간에는 제 2 상향 IQ 믹서(11)의 출력이 제 1 하향 IQ 믹서(12)에 입력된다. 테스트 기간 중 Rx IQ 불일치를 측정하는 기간에 제 1 하향 IQ 믹서(12)는 동작하며, Tx 반송파 누설 및 Tx IQ 불일치를 측정하는 기간에는 동작하지 아니한다. 정상 동작 기간에는 저잡음 증폭기(51)의 출력이 제 1 하향 IQ 믹서(12)에 입력된다. 송수신 회로가 TDD 방식으로 동작하는 경우, 정상 동작 기간 중 수신 기간에 제 1 하향 IQ 믹서(12)는 동작하며, 정상 동작 기간 중 송신 기간에는 동작하지 아니한다.
이에 반하여, 이들 중 제 2 하향 IQ 믹서(13)는 입력되는 신호와 제 2 국부 발진기(21)에서 출력되는 제 2 IQ LO 신호(I2, Q2)를 곱한 하향 변환된 신호를 출 력한다. 테스트 기간에는 제 1 상향 IQ 믹서(10)의 출력이 제 2 하향 IQ 믹서(13)에 입력된다. 테스트 기간 중 Tx 반송파 누설 및 Tx IQ 불일치를 측정하는 기간에 제 2 하향 IQ 믹서(13)는 동작하며, Rx IQ 불일치 측정 기간에는 동작하지 아니한다. 또한, 정상 동작 기간에는 제 2 하향 IQ 믹서(13)는 동작하지 아니한다.
제 1 국부 발진기(20)는 제 1 상향 IQ 믹서(10) 및 제 1 하향 IQ 믹서(12)에 전달될 제 1 IQ LO 신호(I1, Q1)는 생성하는 기능을 수행하고, 제 2 국부 발진기(21)는 제 2 상향 IQ 믹서(11) 및 제 2 하향 IQ 믹서(13)에 전달될 제 2 IQ LO 신호(I2, Q2)는 생성하는 기능을 수행한다. 제 1 IQ LO 신호(I1, Q1) 및 제 2 IQ LO 신호(I2, Q2)의 주파수는 서로 다르다.
IQ DAC(30)는 Tx 보상부(42)에서 출력되는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하고, IQ ADC(31)는 IQ 필터(32)에서 출력되는 디지털 신호를 아날로그 신호로 변환하는 기능을 수행한다.
IQ 필터(32)는 제 1 및 2 하향 IQ 믹서(12, 13)과 IQ ADC(31) 사이에 위치하며, 저대역 통과 필터(low pass filter) 또는 대역 통과 필터(band pass filter)일 수 있다.
먹스(41)는 제어부(40)에서 전달되는 테스트 신호 및 안테나로 전달될 송신 RF 신호에 대응하는 송신 신호 중 어느 하나를 선택하여 출력하는 기능을 수행한다. 테스트 신호는 Tx IQ 불일치 및 Rx IQ 불일치 중 어느 하나를 측정하기 위한 테스트 신호이다. 송신 신호는 BB 신호 또는 IF 신호일 수 있다.
Tx 보상부(42)는 제어부(40)에서 전달되는 Tx 반송파 누설 제어 신호 및 Tx IQ 불일치 제어 신호에 따라, 먹스(41)에서 출력되는 신호의 Tx 반송파 누설 및 Tx IQ 불일치를 보상하는 기능을 수행한다. 바람직하게, Tx 반송파 누설을 측정하는 기간 및 Rx IQ 불일치를 측정하는 기간에는 Tx 보상부(42)는 보상을 수행하지 아니하고 먹스(41)에서 출력되는 신호를 그대로 IQ DAC(30)로 전달한다. 또한, Tx IQ 불일치를 측정하는 기간에는 Tx 보상부(42)는 먹스(41)에서 출력되는 신호의 Tx 반송파 누설만을 보상한 신호를 IQ DAC(30)로 전달한다. 또한, 정상 동작 기간에는 Tx 보상부(42)는 먹스(41)에서 출력되는 신호의 Tx 반송파 누설 및 Tx IQ 불일치를 보상한 신호를 IQ DAC(30)로 전달한다. Tx 보상부(42)는 Tx 반송파 누설을 보상하는 Tx 반송파 누설 보상부(44) 및 Tx IQ 불일치를 보상하는 Tx IQ 불일치 보상부(45)를 포함한다. Tx 반송파 누설 보상부(44)는 일례로 수학식 1과 같은 연산을 수행할 수 있으며, Tx IQ 불일치 보상부(45)는 일례로 아래의 수학식 2와 같은 연산을 수행한다.
LC_I = M_I + C1_I
LC_Q = M_Q + C1_Q
TMC_I = LC_I
TMC_Q = C2_AMP×(LC_Q - C2_PHS×LC_I)
상기 수학식에서, LC_I와 LC_Q는 Tx 반송파 누설 보상부(44)의 출력 신호 중 I 채널의 신호와 Q 채널의 신호를 각각 의미한다. 또한, M_I와 M_Q는 먹스(41)의 출력 신호 중 I 채널의 신호와 Q 채널의 신호를 각각 의미한다. 또한, C1_I와 C1_Q는 제어부(40)에서 출력되는 Tx 반송파 누설 제어 신호 중 I 채널의 신호와 Q 채널의 신호를 각각 의미한다. 또한, TMC_I와 TMC_Q는 Tx IQ 불일치 보상부(45)의 출력 신호 중 I 채널의 신호와 Q 채널의 신호를 각각 의미한다. 또한, C2_AMP와 C2_PHS는 제어부(40)에서 출력되는 Tx IQ 불일치 제어 신호 중 이득 오차에 대응하는 제어 신호와 위상 오차에 대응하는 제어 신호를 각각 의미한다. 즉, IQ 불일치로 인하여, 제 1 IQ 믹서(10)에서 IQ DAC(30)에서 출력되는 신호에 곱해지는 제 1 동위상 신호(I1)가 cosωt이고, 제 1 직각 신호(Q1)가 (1+α)sin(ωt+θ)
Figure 112006013160898-pat00001
(1+α){sinωt + sinθ×I1}이라 가정하면, C2_AMP는 1/(1+α)에 대응하는 제어 신호이며, C2_PHS는 sinθ에 대응하는 제어 신호이다.
Rx IQ 불일치 보상부(43)는 제어부(40)에서 전달되는 Rx IQ 불일치 제어 신호에 따라 입력되는 신호의 Rx IQ 불일치를 보상하는 기능을 수행한다. 바람직하게, Rx IQ 불일치 보상부(43)는 정상 동작 기간에만 동작한다. Rx IQ 불일치 보상부(43)는 일례로 아래의 수학식 3과 같은 연산을 수행한다.
RMC_I = DS_I
RMC_Q = C3_AMP×(DS_Q - C3_PHS×DS_I)
상기 수학식 3에서, RMC_I와 RMC_Q는 Rx IQ 불일치 보상부(43)의 출력 신호 중 I 채널의 신호와 Q 채널의 신호를 각각 의미한다. 또한, DS_I와 DS_Q는 IQ ADC(31)의 출력 신호 중 I 채널의 신호와 Q 채널의 신호를 각각 의미한다. 또한, C3_AMP와 C3_PHS는 제어부(40)에서 출력되는 Rx IQ 불일치 제어 신호 중 이득 오차에 대응하는 제어 신호와 위상 오차에 대응하는 신호를 각각 의미한다. 즉, IQ 불일치로 인하여, 제 3 IQ 믹서(12)로 입력되는 IQ 신호에 곱해지는 제 1 동위상 신호(I1)가 cosωt이고, 제 1 직각 신호(Q1)가 (1+β)sin(ωt+Φ)
Figure 112006013160898-pat00002
(1+β){sinωt + sinΦ×I1}이라 가정하면, C3_AMP는 1/(1+β)에 해당하는 제어 신호이며, C3_PHS는 sinΦ에 해당하는 제어 신호이다.
제어부(40)는 테스트 신호를 생성하여 생성된 테스트 신호를 먹스(41)에 전달하며, IQ ADC(31)에서 전달되는 신호를 이용하여 Tx 반송파 누설, Tx IQ 불일치 및 Rx IQ 불일치를 측정하며, 측정된 결과에 따라 Tx 반송파 누설 제어 신호, Tx IQ 불일치 제어 신호 및 Rx IQ 불일치 제어 신호를 형성하여 Tx 보상부(42) 및 Rx IQ 불일치 보상부(43)을 제어하는 기능을 수행한다.
전력 증폭기(50)는 제 1 상향 IQ 믹서(10)의 출력을 증폭하여 듀플렉서(52)에 전달하는 기능을 수행하며, 저잡음 증폭기(51)는 듀플렉서(52)에서 전달된 신호를 저잡음 증폭하여 제 1 하향 IQ 믹서(12)에 전달하는 기능을 수행한다.
듀플렉서(52)는 정상 동작 기간 중 송신 기간에는 제 1 상향 IQ 믹서(10)로부터 전력 증폭기(50)를 경유하여 전달되는 송신 RF 신호를 안테나로 전달하고, 정상 동작 기간 중 수신 기간에는 안테나에서 전달되는 수신 RF 신호를 저잡음 증폭 기(51)를 경유하여 제 1 하향 IQ 믹서(12)로 전달하는 기능을 수행한다.
도 2는 본 발명의 실시예에 의한 송수신 회로의 제어 방법을 나타내는 순서도이고, 도 3 내지 5는 Tx 반송파 누설 측정 단계, Tx IQ 불일치 측정 단계 및 Rx IQ 불일치 측정 단계에 발생하는 신호들의 주파수 영역상의 위치를 나타내는 도면이다.
도 1 내지 5를 참조하면, 송수신 회로의 제어 방법은 Tx 반송파 누설 측정 단계(S1), Tx IQ 불일치 측정 단계(S2), Rx IQ 불일치 측정 단계(S3) 및 정상 동작 단계(S4)를 포함한다.
Tx 반송파 누설 측정 단계(S1)에서, 제어부(40)는 제 1 상향 IQ 믹서(10)의 출력에 포함된 Tx 반송파 누설이 제 2 하향 IQ 믹서(13)를 경유한 신호를 이용하여 Tx 반송파 누설을 측정한다. 바람직하게, 제어부(40)는 제 1 상향 IQ 믹서(10)의 출력에 포함된 Tx 반송파 누설이 제 2 하향 IQ 믹서(13), IQ 필터(32) 및 IQ ADC(31)를 경유한 신호를 이용하여 Tx 반송파 누설을 측정한다.
이 단계에서, 제 1 상향 IQ 믹서(10) 및 제 2 하향 IQ 믹서(13)만이 동작하고, 제 2 상향 IQ 믹서(11) 및 제 1 하향 IQ 믹서(12)는 동작하지 아니한다. 따라서, 이 단계에서 제 1 국부 발진기(20)는 제 1 상향 IQ 믹서(10)에만 제 1 IQ LO 신호(I1, Q1)를 전달하면 된다. 따라서, 이 단계의 부하 조건은 정상 동작 단계(S4) 중 송신 기간의 제 1 국부 발진기(20)의 부하 조건과 동일하다. 즉, 정상 동작 단계(S4) 중 송신 기간과 Tx 반송파 누설 측정 단계(S1) 모두, 제 1 국부 발진 기(20)에서 생성된 제 1 IQ LO 신호(I1, Q1)는 제 1 상향 IQ 믹서(10)에만 전달되며, 따라서, 제 1 국부 발진기(20)의 부하 조건은 동일하다. 따라서, Tx 반송파 누설 측정 단계(S1)에서 측정된 Tx 반송파 누설 값과 정상 동작 단계(S4)에서의 Tx 반송파 누설 값은 상당히 동일하므로, Tx 반송파 누설이 보다 정확히 보상될 수 있다. 이에 반하여, 만일 제 1 상향 IQ 믹서(10) 및 제 1 하향 IQ 믹서(12)를 사용하여 Tx 반송파 누설을 측정하는 경우, 제 1 국부 발진기(20)에서 생성된 제 1 IQ LO 신호(I1, Q1)는 제 1 상향 IQ 믹서(10) 및 제 1 하향 믹서(12)에 전달된다. 이 경우, Tx 반송파 누설 측정 단계(S1)와 정상 동작 단계(S4)에서 제 1 국부 발진기(20)의 부하 조건이 서로 동일하지 아니하므로, Tx 반송파 누설의 값이 서로 동일성을 유지하지 아니하고, Tx 반송파 누설이 정확히 보상되지 아니한다는 문제점이 있다. 따라서, 제 1 상향 IQ 믹서(10), 제 1 하향 IQ 믹서(12) 및 제 1 국부 발진기(20)만을 사용하는 방식에 비하여, 본 발명의 실시예에 의한 송수신 회로 및 그 제어 방법은 제 2 상향 IQ 믹서(11), 제 2 하향 IQ 믹서(13) 및 제 2 국부 발진기(21)를 추가적으로 구비함으로써, 측정 시와 정상 동작 기간에서의 제 1 국부 발진기(20)의 부하 조건을 동일하게 유지하고, 이로 인하여 Tx 반송파 누설을 보다 정확히 보상할 수 있다는 장점이 있다.
Tx 반송파 누설 측정 단계(S1)에서, 바람직하게, IQ DAC(30)에서 출력되는 신호의 전력은 0이며, 제 1 IQ LO 신호(I1, Q1)의 주파수(ωLO1)는 제 2 IQ LO 신호(I2, Q2)의 주파수(ωLO2)는 서로 다르다. IQ DAC(30)에서 출력되는 신호, 제 1 상 향 IQ 믹서(10)에서 출력되는 신호, 및 제 2 하향 IQ 믹서(13)에서 출력되는 신호가 도 3의 (a), (b), 및 (c)에 각각 표현되어 있다. 제어부(40)에 전달되는 신호는 도 3의 (c)와 같이, 소정의 주파수(ωLO2-ωLO1)를 가지므로, 1/F 잡음이나 DC 오프셋에 의한 영향을 받지 아니하므로, 더욱 정확한 Tx 반송파 누설을 측정할 수 있다. 이에 반하여, 만일 제 1 상향 IQ 믹서(10), 제 1 하향 IQ 믹서(12) 및 이들에 제 1 IQ LO 신호(I1, Q1)를 공급하는 국부 발진기(20)만을 사용하여 Tx 반송파 누설을 측정하는 경우, 제어부(40)에 전달되는 Tx 반송파 누설의 주파수는 0의 값을 가지므로, Tx 반송파 누설을 1/F 잡음 및 DC 오프셋과 구분할 수 없으므로 Tx 반송파 누설을 정확히 측정할 수 없다. 따라서, 제 1 상향 IQ 믹서(10), 제 1 하향 IQ 믹서(12) 및 제 1 국부 발진기(20)만을 사용하는 방식에 비하여, 본 발명의 실시예에 의한 송수신 회로 및 그 제어 방법은 제 2 상향 IQ 믹서(11), 제 2 하향 IQ 믹서(13) 및 제 2 국부 발진기(21)를 추가적으로 구비함으로써, Tx 반송파 누설을 더욱 정확히 측정할 수 있다는 장점이 있다.
Tx 반송파 누설 측정 단계(S1)에서, 일례로 제어부(40)는 대역 통과 필터(미도시)를 사용하여, Tx 반송파 누설에 해당하는 ωLO1-ωLO2에 해당하는 신호만 통과시키고, 1/F 잡음 및 DC 오프셋의 영향은 제거한 후, Tx 반송파 누설의 값이 최소가 되도록 하는 Tx 반송파 누설 제어 신호를 구할 수 있다. 이때, Tx 반송파 누설 제어 신호를 변경시키면서 Tx 반송파 누설의 값을 측정함으로써, 최소의 Tx 반송파 누설 값에 대응하는 Tx 반송파 누설 제어 신호를 구하는 방식으로 Tx 반송파 누설 제어 신호를 구할 수도 있다.
Tx IQ 불일치 측정 단계(S2)에서, 제어부(40)는 제 1 상향 IQ 믹서(10) 및 제 2 하향 IQ 믹서(13)를 경유한 신호를 이용하여 Tx IQ 불일치를 측정한다. 바람직하게, 제어부(40)는 IQ DAC(30)에서 출력되는 신호가 제 1 상향 IQ 믹서(10), 제 2 하향 IQ 믹서(13), IQ 필터(32) 및 IQ ADC(31)를 경유한 신호를 이용하여 Tx IQ 불일치를 측정한다.
Tx IQ 불일치 측정 단계(S2)에서는, Tx 반송파 누설 측정 단계(S1)와 동일하게, 제 1 상향 IQ 믹서(10) 및 제 2 하향 IQ 믹서(13)만이 동작하고, 제 2 상향 IQ 믹서(11) 및 제 1 하향 IQ 믹서(12)는 동작하지 아니한다. 따라서, 이 단계(S2)에서 제 1 국부 발진기(20)는 제 1 상향 IQ 믹서(10)에만 제 1 IQ LO 신호(I1, Q1)를 전달하므로, 이 단계에서의 1 국부 발진기(20)의 부하 조건은 송신 기간의 제 1 국부 발진기(20)의 부하 조건과 동일하다. 따라서, Tx IQ 불일치 측정 단계(S2)와 정상 동작 단계(S4)에서 제 1 국부 발진기(20)의 부하 조건이 동일하지 아니한 제 1 상향 IQ 믹서(10), 제 1 하향 IQ 믹서(12) 및 제 1 국부 발진기(20)만을 사용하는 방식에 비하여, 본 발명의 실시예에 의한 송수신 회로 및 그 제어 방법은 Tx IQ 불일치를 더욱 정확히 측정할 수 있다는 장점이 있다.
바람직하게, Tx IQ 불일치 측정 단계(S2)에 IQ DAC(30)에서 출력되는 신호는 Tx 반송파 누설이 보상된 신호이다. 따라서, Tx IQ 불일치 측정시에 Tx 반송파 누설에 의한 영향을 제외할 수 있다. 물론 필터를 사용하여 Tx 반송파 누설에 의한 영향을 제외할 수도 있다.
바람직하게, Tx IQ 불일치 측정 단계(S2)에 IQ DAC(30)에서 출력되는 신호의 주파수는 소정 값을 가지고, IQ DAC(30)에서 출력되는 신호에 포함된 I 채널 신호의 전력 및 Q 채널 신호의 전력은 소정 값을 가진다. 또한, IQ 불일치가 없는 경우 제 1 상향 IQ 믹서(10)에서 출력되는 신호가 단측대파(single-sideband) 신호가 되도록, IQ DAC(30)에서 출력되는 신호에 포함된 I 채널 신호 및 Q 채널 신호는 상호 90도의 위상차를 가진다. 일례로, IQ DAC(30)에서 출력되는 신호에 포함된 I 채널 신호는 cosωBt이고, Q 채널의 신호는 -sinωBt이다.
바람직하게, 제 1 IQ LO 신호(I1, Q1)의 주파수(ωLO1)는 제 2 IQ LO 신호(I2, Q2)의 주파수(ωLO2)와 동일하지 아니하고, 제 2 IQ LO 신호(I2, Q2)의 주파수(ωLO2)보다 크거나 작다. 이와 같이, 본 발명의 실시예에 의한 송수신 회로 및 그 제어 방법은 제 2 상향 IQ 믹서(11), 제 2 하향 IQ 믹서(13) 및 제 2 국부 발진기(21)를 추가적으로 구비함으로써, Tx IQ 불일치를 측정함에 있어서 상향 변환 및 하향 변환시 사용하는 주파수를 달리할 수 있으며, 이로 인하여 Tx IQ 불일치에 의한 영향과 Rx IQ 불일치에 의한 영향을 구분할 수 있다. 따라서, 동일할 주파수를 사용하여 상향 변환 및 하향 변화하는 방식에 비하여, 본 발명의 실시예에 의한 송수신 회로 및 그 제어 방법은 Tx IQ 불일치를 더욱 정확하게 보상할 수 있다는 장점이 있다.
도 4의 (a), (b), 및 (c)에는 IQ DAC(30)에서 출력되는 신호, 제 1 상향 IQ 믹서(10)에서 출력되는 신호, 및 제 2 하향 IQ 믹서(13)에서 출력되는 신호가 각각 도시되어 있다. 도 4의 (a)에는 테스트 신호(T1)가 표현되어 있다. 테스트 신호 중 I 채널 신호는 cosωBt이고, Q 채널 신호는 -sinωBt이다. 도 4의 (b)에는 제 1 상향 IQ 믹서(10)를 통과한 후의 테스트 신호(T1)와 테스트 신호(T1)의 제 1 상향 IQ 믹서(10)의 IQ 불일치에 의한 이미지 신호(IS1)가 표현되어 있다. 테스트 신호 중 I 채널 신호 및 Q 채널 신호는 상호 90도의 위상 차이를 가지므로, 원칙적으로 제 1 상향 IQ 믹서(10)를 통과한 신호는 테스트 신호 (T1)만을 포함하여야 하나, 실질적인 제 1 상향 IQ 믹서(10)는 IQ 불일치가 존재하므로 제 1 상향 IQ 믹서(10)를 통과한 신호는 원치않는 잡음 성분인 IS1을 추가적으로 포함한다. 도 4의 (c)에는 제 2 하향 IQ 믹서(13)를 통과한 후의 테스트 신호(T1), 제 1 상향 IQ 믹서(10)에 의한 이미지 신호(IS1), 테스트 신호(T1)의 제 2 하향 IQ 믹서(13)의 IQ 불일치에 의한 이미지 신호(IS2) 및 IS1의 제 2 하향 IQ 믹서(13)의 IQ 불일치에 의한 이미지 신호(IS3)가 표현되어 있다. 하향 IQ 믹서는 원래 이미지 신호를 구분할 수 있는 특성이 있으므로, IQ 불일치가 발생하지 아니하는 경우에 하향 IQ 믹서에서 출력되는 신호에 소정의 연산을 수행하여 이미지 성분을 완전히 제거할 수 있다. 그러나, IQ 불일치가 발생하는 경우에는 하향 IQ 믹서에서 출력되는 신호에 소정의 연산을 수행한 후에도 도 4의 (c)의 IS2 및 IS3와 같이 이미지 신호가 남게 된다. Tx IQ 불일치 측정 단계(S2)에서 측정하고자 하는 값은 Tx IQ 불일치에 관련된 값이므로, 테스트 신호(T1)의 제1 상향 IQ 믹서(10)에 의한 이미지 신호인 IS1이 관심의 대상에 해당하는 신호이다. 따라서, 저대역 통과 필터인 IQ 필터(32)를 사용 하면 IS1과 IS1의 제 2 하향 IQ 믹서(13)에 의한 이미지 신호인 IS3를 구할 수 있다. IS1 및 IS3는 제어부(40)에서 검출되며, 제어부(40)는 IS1이 최소화되도록 Tx IQ 불일치를 제거하는 작업을 수행한다. 또는 제어부(40)는 IS1 및 IS2가 최소화되도록 Tx IQ 불일치를 제거하는 작업을 수행할 수도 있다. 일례로, 제어부(40)는 Tx IQ 불일치 보상부(45)로 전달되는 Tx IQ 불일치 제어신호를 변화시키면서 IS1을 측정하여, IS1이 최소가 되는 Tx IQ 불일치 제어신호를 구할 수 있다.
도 4의 (c)에서 보듯이 테스트 신호(T1)의 제 2 하향 IQ 믹서(13)의 이미지(IS2)는 음의 주파수에 존재하게 되는 데, 이는 제 1 상향 IQ 믹서(10)의 Tx IQ 불일치에 해당하는 신호 성분인 IS1과 구별이 쉽고, 따라서 제 2 하향 IQ 믹서의 IQ 불일치는 Tx IQ 불일치 측정과정에 아무런 영향을 끼치지 않게 된다. 따라서, 제 1 상향 IQ 믹서(10)의 Tx IQ 불일치를 보정하기 위해 제 2 하향 IQ 믹서(13)의 IQ 불일치가 작을 필요는 전혀 없는 것이다.
Rx IQ 불일치 측정 단계(S3)에서, 제어부(40)는 제 2 상향 IQ 믹서(11) 및 제 1 하향 IQ 믹서(12)를 경유한 신호를 이용하여 Rx IQ 불일치를 측정한다. 바람직하게, 제어부(40)는 IQ DAC(30)에서 출력되는 신호가 제 2 상향 IQ 믹서(11), 제 1 하향 IQ 믹서(12), IQ 필터(32) 및 IQ ADC(31)를 경유한 신호를 이용하여 Rx IQ 불일치를 측정한다.
Rx IQ 불일치 측정 단계(S3)에서, 제 2 상향 IQ 믹서(11) 및 제 1 하향 IQ 믹서(12)만이 동작하고, 제 1 상향 IQ 믹서(10) 및 제 2 하향 IQ 믹서(13)는 동작하지 아니한다. 따라서, 이 단계(S3)에서 제 1 국부 발진기(20)는 제 1 하향 IQ 믹 서(12)에만 제 1 IQ LO 신호(I1, Q1)를 전달하므로, 이 단계에서의 1 국부 발진기(20)의 부하 조건은 정상 동작 기간 중 수신 기간의 제 1 국부 발진기(20)의 부하 조건과 동일하다. 따라서, Rx IQ 불일치 측정 단계(S3)와 정상 동작 단계(S4)에서 제 1 국부 발진기(20)의 부하 조건이 동일하지 아니한 제 1 상향 IQ 믹서(10), 제 1 하향 IQ 믹서(12) 및 제 1 국부 발진기(20)만을 사용하는 방식에 비하여, 본 발명의 실시예에 의한 송수신 회로 및 그 제어 방법은 Rx IQ 불일치를 더욱 정확히 보상할 수 있다는 장점이 있다.
바람직하게, Rx IQ 불일치 측정 단계(S3)에 IQ DAC(30)에서 출력되는 테스트 신호의 주파수는 소정 값을 가지고, IQ DAC(30)에서 출력되는 테스트 신호에 포함된 I 채널 신호의 전력 및 Q 채널 신호의 전력은 소정 값을 가진다. 또한, IQ 불일치가 없는 경우 제 2 상향 IQ 믹서(11)에서 출력되는 신호가 단측대파(single-sideband) 신호가 되도록, IQ DAC(30)에서 출력되는 신호에 포함된 I 채널 신호 및 Q 채널 신호는 상호 90도의 위상차를 가진다. 일례로, IQ DAC(30)에서 출력되는 신호에 포함된 I 채널 신호는 cosωBt이고, Q 채널의 신호는 sinωBt이다.
바람직하게, 제 1 IQ LO 신호(I1, Q1)의 주파수(ωLO1)는 제 2 IQ LO 신호(I2, Q2)의 주파수(ωLO2)와 동일하지 아니하고, 제 2 IQ LO 신호(I2, Q2)의 주파수(ωLO2)보다 크거나 작다. 이와 같이, 본 발명의 실시예에 의한 송수신 회로 및 그 제어 방법은 제 2 상향 IQ 믹서(11), 제 2 하향 IQ 믹서(13) 및 제 2 국부 발진기(21)를 추가적으로 구비함으로써, Rx IQ 불일치를 측정함에 있어서 상향 변환 및 하향 변환시 사용하는 주파수를 달리할 수 있으며, 이로 인하여 Rx IQ 불일치에 의한 영향과 Tx IQ 불일치에 의한 영향을 구분할 수 있다. 따라서, 동일한 주파수를 사용하여 상향 변환 및 하향 변화하는 방식에 비하여, 본 발명의 실시예에 의한 송수신 회로 및 그 제어 방법은 Rx IQ 불일치를 더욱 정확하게 보상할 수 있다는 장점이 있다.
도 5의 (a), (b), 및 (c)에는 IQ DAC(30)에서 출력되는 신호, 제 2 상향 IQ 믹서(11)에서 출력되는 신호, 및 제 1 하향 IQ 믹서(12)에서 출력되는 신호가 각각 도시되어 있다. 도 5의 (a)에는 테스트 신호(T1)가 표현되어 있다. 테스트 신호 중 I 채널 신호는 cosωBt이고, Q 채널 신호는 sinωBt이다. 도 5의 (b)에는 제 2 상향 IQ 믹서(11)를 통과한 후의 테스트 신호(T1)와 테스트 신호(T1)의 제 2 상향 IQ 믹서(11)의 IQ 불일치에 의한 이미지 신호(IS1)가 표현되어 있다. 테스트 신호 중 I 채널 신호 및 Q 채널 신호는 상호 90도의 위상 차이를 가지므로, 원칙적으로 제 2 상향 IQ 믹서(11)를 통과한 신호는 테스트 신호 (T1)만을 포함하여야 하나, 실질적인 제 2 상향 IQ 믹서(11)는 IQ 불일치가 존재하므로 제 2 상향 IQ 믹서(11)를 통과한 신호는 원치않는 잡음 성분인 IS1을 추가적으로 포함한다. 도 5의 (c)에는 제 1 하향 IQ 믹서(12)를 통과한 후의 테스트 신호(T1), 제 2 상향 IQ 믹서(11)에 의한 이미지 신호(IS1), 테스트 신호(T1)의 제 1 하향 IQ 믹서(12)의 IQ 불일치에 의한 이미지 신호(IS2) 및 IS1의 제 1 하향 IQ 믹서(12)의 IQ 불일치에 의한 이미지 신호(IS3)가 표현되어 있다. 하향 IQ 믹서는 원래 이미지 신호를 구분할 수 있는 특성이 있으므로, IQ 불일치가 발생하지 아니하는 경우에 하향 IQ 믹서에서 출력되는 신호에 소정의 연산을 수행하여 이미지 성분을 완전히 제거할 수 있다. 그러나, IQ 불일치가 발생하는 경우에는 하향 IQ 믹서에서 출력되는 신호에 소정의 연산을 수행한 후에도 도 5의 (c)의 IS2 및 IS3와 같이 이미지 신호가 남게 된다. Rx IQ 불일치 측정 단계(S3)에서 측정하고자 하는 값은 Rx IQ 불일치에 관련된 값이므로, 테스트 신호(T1)의 제1 하향 IQ 믹서(12)에 의한 이미지 신호인 IS2가 관심의 대상에 해당하는 신호이다. 따라서, 저대역 통과 필터인 IQ 필터(32)를 사용하면 T1과 T1의 제 1 하향 IQ 믹서(12)에 의한 이미지 신호인 IS2를 구할 수 있다. T1 및 IS2는 제어부(40)에서 검출되며, 제어부(40)는 IS2가 최소화되도록 Rx IQ 불일치를 제거하는 작업을 수행한다. 일례로, 제어부(40)는 T1과 IS2를 입력받아 선행 문헌인 미국 특허 제5,949,821호 또는 미국 특허 제6,044,112호에 표현된 방식과 같은 방식으로 Rx IQ 불일치를 측정할 수 있다.
그림 5(b)와 (c)에서 보듯이 테스트 신호(T1)의 제 2 상향 IQ 믹서(11)에 의한 이미지(IS1)는 양의 주파수에 존재하게 되는데, 이는 제 1 하향 IQ 믹서(12)의 Rx IQ 불일치에 해당하는 신호 성분인 IS2와 구별이 쉽고, 따라서 제 2 상향 IQ 믹서(11)의 IQ 불일치는 Rx IQ 불일치 측정 과정에 아무런 영향을 끼치지 않게 된다. 따라서, 제 1 하향 IQ 믹서(12)의 IQ 불일치를 보정하기 위해 제 2 상향 IQ 믹서(11)의 IQ 불일치가 작을 필요는 전혀 없는 것이다.
정상 동작 단계(S4)에서, 제 1 상향 IQ 믹서(10) 및 제 1 하향 IQ 믹서(12)가 이용되어 TDD 방식의 송수신이 수행된다. 바람직하게, 정상 동작 단계(S4) 중 송신 기간에는, 제 1 상향 IQ 믹서(10)는 IQ DAC(30)에서 전달되는 신호를 송신 RF 신호로 변환하여 전력 증폭기(50) 및 듀플렉서(52)를 경유하여 안테나로 전달하고, 나머지 IQ 믹서(11, 12, 13)는 동작하지 아니한다. 또한, 정상 동작 단계(S4) 중 수신 기간에는, 제 1 하향 IQ 믹서(12)는 안테나로부터 듀플렉서(52) 및 저잡음 증폭기(51)을 경유하여 전달된 수신 RF 신호를 BB 또는 IF의 신호로 변환하여 IQ 필터(32)를 경유하여 IQ ADC(31)로 전달하고, 나머지 IQ 믹서(10, 11, 13)는 동작하지 아니한다.
정상 동작 단계(S4)에는, 먹스(41)는 송신 신호와 테스트 신호 중 송신 신호를 출력하며, 먹스(41)에서 출력되는 신호는 Tx 보상부(42)에 의하여 Tx 반송파 누설 및 IQ 불일치가 보상되고, IQ DAC(30)에 의하여 디지털 변환되어 제 1 상향 IQ 먹스(10)로 전달된다. 또한, IQ ADC(31)로 입력되는 수신 신호는 디지털로 변환된 후, Rx IQ 불일치 보상부(43)에 의하여 Rx IQ 불일치가 보상되어 출력된다.
본 발명에 의한 송수신 회로 및 그 제어 방법은 Tx 반송파 누설, Tx IQ 불일치 및 Rx IQ 불일치를 보상할 수 있다는 장점이 있다.
또한, 본 발명에 의한 송수신 회로 및 그 제어 방법은 무선을 통하여 전달된 신호를 이용하여 Tx 반송파 누설, Tx IQ 불일치 및 Rx IQ 불일치를 측정하지 아니하고, 상향 믹서의 출력 신호를 하향 믹서에 입력하여, Tx 반송파 누설, Tx IQ 불일치 및 Rx IQ 불일치를 측정함으로써, 측정 과정을 단순화하고 무선에 의한 잡음 으로 인하여 측정 오차가 증가하는 문제점을 줄일 수 있다는 장점이 있다.
또한, 본 발명에 의한 송수신 회로 및 그 제어 방법은 Tx 반송파 누설, Tx IQ 불일치 및 Rx IQ 불일치를 측정하는 기간과 정상 동작 기간의 국부 발진기의 부하 조건을 동일하게 함으로써, 국부 발진기의 부하 조건의 변화로 인한 Tx 반송파 누설, Tx IQ 불일치 및 Rx IQ 불일치의 변화를 방지할 수 있다는 장점이 있다.
또한, 본 발명에 의한 송수신 회로 및 그 제어 방법은 Tx 반송파 누설, Tx IQ 불일치 및 Rx IQ 불일치를 측정함에 있어서, 상향 IQ 믹서와 하향 IQ 믹서가 서로 다른 IQ LO 주파수를 사용함으로써, Tx 반송파 누설, Tx IQ 불일치 및 Rx IQ 불일치의 측정의 정확도를 높일 수 있다는 장점이 있다.

Claims (27)

  1. 제 1 상향 IQ 믹서, 제 2 상향 IQ 믹서, 제 1 하향 IQ 믹서, 제 2 하향 IQ 믹서, 제 1 국부 발진기 및 제 2 국부 발진기를 포함하는 송수신 회로의 제어 방법에 있어서,
    상기 제 1 상향 IQ 믹서의 출력에 포함된 Tx 반송파 누설이 상기 제 2 하향 IQ 믹서를 경유한 신호를 이용하여 Tx 반송파 누설을 측정하는 Tx 반송파 누설 측정 단계;
    상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서를 경유한 신호를 이용하여 Tx IQ 불일치를 측정하는 Tx IQ 불일치 측정 단계;
    상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서를 경유한 신호를 이용하여 Rx IQ 불일치를 측정하는 Rx IQ 불일치 측정 단계; 및
    상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서를 이용하여 TDD 방식의 송수신을 수행하는 정상 동작 단계를 포함하며,
    상기 제 1 국부 발진기는 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서에 사용되는 제 1 IQ LO 신호를 생성하고, 상기 제 2 국부 발진기는 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서에 사용되는 제 2 IQ LO 신호를 생성하는 제어 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 Tx 반송파 누설 측정 단계 및 상기 Tx IQ 불일치 측정 단계에는 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하며,
    상기 Rx IQ 불일치 측정 단계에는 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하며,
    상기 정상 동작 단계 중 송신 기간에는 상기 제 1 상향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 1 하향 IQ 믹서, 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하며,
    상기 정상 동작 단계 중 수신 기간에는 상기 제 1 하향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 1 상향 IQ 믹서, 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하는 제어 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 IQ LO 신호 및 상기 제 2 IQ LO 신호의 주파수는 서로 다른 제어 방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 Tx 반송파 누설 측정 단계에서 상기 제 1 상향 IQ 믹서에 입력되는 신호의 전력은 실질적으로 0의 값을 가지며,
    상기 Tx IQ 불일치 측정 단계에서 상기 제 1 상향 IQ 믹서에 입력되는 신호는 소정의 주파수를 가지고, 상기 제 1 상향 IQ 믹서에 입력되는 신호 중 I 채널의 신호 및 Q 채널의 신호는 소정의 전력을 가지며,
    상기 Rx IQ 불일치 측정 단계에서 상기 제 2 상향 IQ 믹서에 입력되는 신호는 소정의 주파수를 가지고, 상기 제 2 상향 IQ 믹서에 입력되는 신호 중 I 채널의 신호 및 Q 채널의 신호는 소정의 전력을 가지는 제어 방법.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 Tx IQ 불일치 측정 단계에서 상기 제 1 상향 IQ 믹서에 입력되는 신호 중 I 채널의 신호 및 Q 채널의 신호는 상호 90도의 위상차를 가지는 제어 방법.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 Rx IQ 불일치 측정 단계에서 상기 제 2 상향 IQ 믹서에 입력되는 신호 중 I 채널의 신호 및 Q 채널의 신호는 상호 90도의 위상차를 가지는 제어 방법.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 Tx IQ 불일치 측정 단계에서 상기 제 1 상향 IQ 믹서에 입력되는 신호는 Tx 반송파 누설이 보상된 신호이며,
    상기 정상 동작 단계에서 상기 제 1 상향 IQ 믹서에 입력되는 신호는 Tx 반송파 누설 및 Tx IQ 불일치가 보상된 신호이며, 상기 제 1 하향 IQ 믹서에서 출력 된 신호는 디지털 변환된 후 Rx IQ 불일치가 보상되는 제어 방법.
  8. 제 1 상향 IQ 믹서, 제 1 하향 IQ 믹서, 제 2 하향 IQ 믹서, 제 1 국부 발진기 및 제 2 국부 발진기를 포함하는 송수신 회로의 제어 방법에 있어서,
    상기 제 1 상향 IQ 믹서의 출력에 포함된 Tx 반송파 누설이 상기 제 2 하향 IQ 믹서를 경유한 신호를 이용하여 Tx 반송파 누설을 측정하는 Tx 반송파 누설 측정 단계; 및
    상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서를 이용하여 TDD 방식의 송수신을 수행하는 정상 동작 단계를 포함하며,
    상기 제 1 국부 발진기는 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서에 사용되는 제 1 IQ LO 신호를 생성하고, 상기 제 2 국부 발진기는 상기 제 2 하향 IQ 믹서에 사용되는 제 2 IQ LO 신호를 생성하는 제어 방법.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 Tx 반송파 누설 측정 단계에서, 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 1 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하며,
    상기 정상 동작 단계 중 송신 기간에는 상기 제 1 상향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 1 하향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하며,
    상기 정상 동작 단계 중 수신 기간에는 상기 제 1 하향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하는 제어 방 법.
  10. 제 8 항에 있어서,
    상기 제 1 IQ LO 신호 및 상기 제 2 IQ LO 신호의 주파수는 서로 다른 제어 방법.
  11. 제 1 상향 IQ 믹서, 제 1 하향 IQ 믹서, 제 2 하향 IQ 믹서, 제 1 국부 발진기 및 제 2 국부 발진기를 포함하는 송수신 회로의 제어 방법에 있어서,
    상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서를 경유한 신호를 이용하여 Tx IQ 불일치를 측정하는 Tx IQ 불일치 측정 단계; 및
    상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서를 이용하여 TDD 방식의 송수신을 수행하는 정상 동작 단계를 포함하며,
    상기 제 1 국부 발진기는 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서에 사용되는 제 1 IQ LO 신호를 생성하고, 상기 제 2 국부 발진기는 상기 제 2 하향 IQ 믹서에 사용되는 제 2 IQ LO 신호를 생성하는 제어 방법.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 Tx IQ 불일치 측정 단계에서, 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 1 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하며,
    상기 정상 동작 단계 중 송신 기간에는 상기 제 1 상향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 1 하향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하며,
    상기 정상 동작 단계 중 수신 기간에는 상기 제 1 하향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하는 제어 방법.
  13. 제 11 항에 있어서,
    상기 제 1 IQ LO 신호 및 상기 제 2 IQ LO 신호의 주파수는 서로 다른 제어 방법.
  14. 제 1 상향 IQ 믹서, 제 2 상향 IQ 믹서, 제 1 하향 IQ 믹서, 제 1 국부 발진기 및 제 2 국부 발진기를 포함하는 송수신 회로의 제어 방법에 있어서,
    상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서를 경유한 신호를 이용하여 Rx IQ 불일치를 측정하는 Rx IQ 불일치 측정 단계; 및
    상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서를 이용하여 TDD 방식의 송수신을 수행하는 정상 동작 단계를 포함하며,
    상기 제 1 국부 발진기는 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서에 사용되는 제 1 IQ LO 신호를 생성하고, 상기 제 2 국부 발진기는 상기 제 2 상향 IQ 믹서에 사용되는 제 2 IQ LO 신호를 생성하는 제어 방법.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 Rx IQ 불일치 측정 단계에서, 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 1 상향 IQ 믹서는 동작하지 아니하며,
    상기 정상 동작 단계 중 송신 기간에는 상기 제 1 상향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 1 하향 IQ 믹서 및 제 2 상향 IQ 믹서는 동작하지 아니하며,
    상기 정상 동작 단계 중 수신 기간에는 상기 제 1 하향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 제 2 상향 IQ 믹서는 동작하지 아니하는 제어 방법.
  16. 제 14 항에 있어서,
    상기 제 1 IQ LO 신호 및 상기 제 2 IQ LO 신호의 주파수는 서로 다른 제어 방법.
  17. 제 1 상향 IQ 믹서, 제 2 상향 IQ 믹서, 제 1 하향 IQ 믹서, 제 2 하향 IQ 믹서, 제 1 국부 발진기 및 제 2 국부 발진기를 포함하는 송수신 회로에 있어서,
    상기 제 1 상향 IQ 믹서의 출력은 상기 제 2 하향 IQ 믹서에 입력될 수 있으며,
    상기 제 2 상향 IQ 믹서의 출력은 상기 제 1 하향 IQ 믹서에 입력될 수 있으며,
    상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서에서 사용되는 제 1 IQ LO 신호는 상기 제 1 국부 발진기에서 생성되며,
    상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서에서 사용되는 제 2 IQ LO 신호는 상기 제 2 국부 발진기에서 생성되는 송수신 회로.
  18. 제 17 항에 있어서,
    그 출력이 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 상향 IQ 믹서에 입력되는 IQ DAC;
    상기 제 1 하향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서의 출력이 입력되는 IQ 필터; 및
    상기 IQ 필터의 출력이 입력되는 IQ ADC를 더 포함하는 송수신 회로.
  19. 제 18 항에 있어서,
    상기 제 1 상향 IQ 믹서의 출력을 입력받는 전력 증폭기;
    그 출력이 상기 제 1 하향 IQ 믹서에 입력되는 저잡음 증폭기; 및
    안테나와 RF 신호를 주고 받으며, 상기 전력 증폭기로부터 출력되는 송신 RF 신호를 입력받으며, 상기 저잡음 증폭기로 수신 RF 신호를 출력하는 듀플렉서를 더 포함하는 송수신 회로.
  20. 제 19 항에 있어서,
    상기 송신 RF에 신호에 대응하는 송신 신호 및 테스트 신호 중 어느 하나를 선택하여 출력하는 먹스;
    상기 먹스의 출력을 입력받으며, Tx 반송파 누설 제어 신호 및 Tx IQ 불일치 제어 신호에 따라 입력받은 신호의 Tx 반송파 누설 및 Tx IQ 불일치를 보상하여 상기 IQ DAC로 출력하는 Tx 보상부;
    상기 IQ ADC의 출력을 입력받으며, Rx IQ 불일치 제어 신호에 따라 입력받은 신호의 Rx IQ 불일치를 보상하는 Rx IQ 불일치 보상부; 및
    상기 테스트 신호를 생성하며, 상기 IQ ADC의 출력을 이용하여 Tx 반송파 누설, Tx IQ 불일치 및 Rx IQ 불일치를 측정하며, Tx 반송파 누설 제어 신호, Tx IQ 불일치 제어 신호 및 Rx IQ 불일치 제어 신호를 형성하는 제어부를 더 포함하는 송수신 회로.
  21. 제 17 내지 20 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 1 IQ LO 신호 및 상기 제 2 IQ LO 신호의 주파수는 서로 다른 송수신 회로.
  22. 제 17 내지 20 항 중 어느 한 항에 있어서,
    Tx 반송파 누설이 측정되는 기간에는 상기 제 1 상향 믹서 및 상기 제 2 하향 믹서는 동작하고, 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하는 송수신 회로.
  23. 제 22 항에 있어서,
    상기 Tx 반송파 누설이 측정되는 기간에는 상기 제 1 상향 믹서에 입력되는 신호의 전력이 0인 송수신 회로.
  24. 제 17 내지 20 항 중 어느 한 항에 있어서,
    Tx IQ 불일치가 측정되는 기간에는 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하는 송수신 회로.
  25. 제 24 항에 있어서,
    상기 Tx IQ 불일치가 측정되는 기간에는 상기 제 1 상향 믹서에 입력되는 신호는 Tx 반송파 누설이 보상된 신호인 송수신 회로.
  26. 제 17 내지 20 항 중 어느 한 항에 있어서,
    Tx IQ 불일치가 측정되는 기간에는 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서는 동작하고, 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하는 송수신 회로.
  27. 제 17 내지 20 항 중 어느 한 항에 있어서,
    정상 동작 기간에는 상기 제 2 상향 IQ 믹서 및 상기 제 2 하향 IQ 믹서는 동작하지 아니하며, 상기 제 1 상향 IQ 믹서 및 상기 제 1 하향 IQ 믹서를 이용하여 TDD 방식의 송수신을 수행하는 송수신 회로.
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