KR100685561B1 - Ｘ선 ｃｔ 장치 및 촬상 방법 - Google Patents

Ｘ선 ｃｔ 장치 및 촬상 방법 Download PDF

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Abstract

X선의 조사 방향 또는 스캔 갠트리의 회전 방향에 의존하지 않고 피검체의 임의의 단면에 대한 화상 재구성을 단시간에 용이하게 하도록, X선 소스와, 피검체 를 거쳐서 X선 소스와 대향하도록 배치된 X선 검출기를 구비하고, X선 소스 및 X선 검출기 중 적어도 한쪽을 피검체의 주위에서 회전시키고, X선 소스로부터 피검체를 향해서 조사된 X선을 X선 검출기로 검출하는 X선 CT 장치의 촬상 방법으로서, X선 소스 및 X선 검출기 중 적어도 한쪽이 피검체의 주위를 회전함으로써 형성되는 면과 비 평행한 면에 피검체의 재구성면을 정의하는 단계(ST1 내지 ST3)와, X선 소스로부터 원추 형상의 X선을 방사하여 피검체를 스캔하는 단계(ST5)와, 정의된 재구성면을 기초로 하여 피검체의 단층상을 재구성하는 단계(ST6)를 포함한다.

Description

Ｘ선 ＣＴ 장치 및 촬상 방법{X-RAY CT APPARATUS AND IMAGING METHOD}
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 X선 CT 장치(1)를 개략적으로 도시하는 블록도,
도 2는 도 1에 도시한 X선 CT 장치(1)내의 입력 장치(33)를 개략적으로 도시하는 블록도,
도 3은 도 1에 도시한 X선 CT 장치(1)의 중앙 처리 장치(31)를 개략적으로 도시하는 블록도,
도 4는 도 1에 도시한 X선 CT 장치(1)의 동작을 설명하는 순서도,
도 5는 도 1에 도시한 X선 CT 장치(1)의 재구성면을 정의하는 단계의 일부를 개략적으로 도시하는 도면,
도 6은 도 1에 도시한 X선 CT 장치(1)의 스캔 조건 정의 단계의 일부를 개략적으로 도시하는 도면.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1 : X선 CT 장치 2 : 스캔 갠트리
3 : 조작 콘솔 4 : 촬상 테이블
21 : X선관 22 : 시준기
23 : 검출기 어레이 24 : 데이터 수집부
25 : X선 제어기 26 : 시준기 제어기
27 : 회전부 28 : 회전 제어기
31 : 중앙 처리 장치 33 : 표시 장치
34 : 기억 장치 35 : 재구성면 정의부
36 : 조작부
본 발명은 X선 CT 장치 및 촬상 방법에 관한 것이고, 보다 구체적으로는, 원추 형상의 X선을 조사하여 피검체를 스캔하는 X선 CT 장치 및 촬상 방법에 관한 것이다.
단층상(tomographic image)을 촬영하는 장치로서, 예컨대, 방사선으로서 X선을 조사하고, 피검체를 투과한 X선을 검출하고, 계산에 의해서 단층상을 생성하는 X선 CT(computed tomography) 장치가 알려져 있다.
X선 CT 장치는 X선관과, 피검체를 거쳐서 X선관과 대향하도록 배치된 X선 검출기 어레이로 이루어지는 스캔 갠트리(scan gantry)를 구비하고, X선관에서, 피검체를 향해서 조사된 X선을 X선 검출기 어레이에 의해 검출한다. X선 CT 장치는 스 캔 갠트리를 피검체의 주위에서 회전시켜 피검체를 스캔한다. 그 결과, 복수의 뷰에서 피검체의 투영 데이터가 획득된다. X선 CT 장치는 획득한 투영 데이터를 재구성하여, 피검체의 소정의 슬라이스 두께의 단층상을 생성한다.
일반적으로, X선 CT 장치의 재구성에 의해서, 스캔 갠트리의 회전 방향에 평행한 면, 또는 X선 소스로부터 조사되는 원추형 빔 등의 X선의 조사 방향과 평행한 면에서의 피검체의 단층상이 생성된다. 예컨대, 피검체의 머리부터 발끝까지를 연결하는 몸축 방향과 직교하는 면에서 단층상, 즉, 축 화상이 생성된다.
회전 방향 혹은 X선의 조사 방향과 다른 방향에서 단층상을 생성하기 위해서는, 예를 들어, 재구성에 의해 축 화상을 생성하고, 그 후, 영상 처리를 하여 다른 방향에서 단층상을 생성한다.
한편, 복수의 X선 검출기를 2차원적으로 배열한 X선 CT 장치가 알려져 있다. 복수의 X선 검출기는, 피검체에 대한 소정의 축을 따르는 방향으로 폭을 가지도록 배열되기 때문에, 복수행 X선 검출기 어레이라고 불린다.
복수행 X선 검출기 어레이를 이용한 단층상의 재구성 방법으로서는, 원추형 빔 재구성법이 알려져 있다(특허 문헌1 참조). 예를 들면, X선 소스는 원추형의 X선(이하, 원추형 빔이라고도 함)을 방사하면서, X선 CT 장치가, X선관 및 복수행 X선 검출기를 소정의 축 주위에서 회전시켜 피검체를 스캔한다. 그 결과, X선 검출기의 행이 소정의 축 방향에서 복수 존재하기 때문에, X선 검출기 행의 개수에 따라서, 1회의 스캔에 의해서 피검체의 단층상을 복수 개 얻을 수 있다.
원추형 빔 재구성법에 있어서도 부채꼴형 빔을 이용한 스캔에서와 같이, 회 전 방향 또는 검출기 행의 방향과 평행한 단층상이 재구성에 의해 생성된다.
(특허 문헌1) 일본 특허 공개 제 2002-336239호 공보
그러므로, 본 발명의 목적은 X선의 조사 방향, 스캔 갠트리의 회전 방향 또는 검출기 행의 방향 등에 의존하지 않고 피검체의 임의의 단층상을 용이하게 생성할 수 있는 X선 CT 장치 및 촬상 방법을 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 X선 CT 장치는 X선 소스와, 피검체를 거쳐서 X선 소스와 대향하도록 배치된 X선 검출기를 구비하고, X선 소스 및 X선 검출기 중 적어도 한쪽을 피검체의 주위에서 회전시켜, X선 소스로부터 피검체를 향해서 조사된 X선을 X선 검출기로 검출하는 X선 CT 장치로서, X선 소스 및 X선 검출기 중 적어도 한쪽이 피검체의 주위를 회전함으로써 형성되는 면과 비 평행한 면에 피검체 재구성면을 정의하는 정의 수단을 포함한다.
본 발명의 X선 CT 장치에 따라, 임의의 3차원 방향으로 미리 재구성면이 정의된다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 촬상 방법은 X선 소스와, 피검체를 거쳐서 X선 소스와 대향하도록 배치된 X선 검출기를 구비하고, X선 소스 및 X선 검출기 중 적어도 한쪽을 피검체의 주위에서 회전시키고, X선 소스로부터 피검체를 향해서 조사된 X선을 X선 검출기로 검출하는 X선 CT 장치의 촬상 방법으로서, X선 소스 및 X선 검출기 중 적어도 한쪽이 피검체의 주위를 회전함으로써 형성되는 면 과 비 평행한 면에 피검체의 재구성면을 정의하는 단계와, X선 소스로부터 원추 형상의 X선을 방사하여 피검체를 스캔하는 단계와, 정의된 재구성면을 기초로 하여 피검체의 단층상을 재구성하는 단계를 포함한다.
본 발명의 촬상 방법에 따라, X선 소스 및 X선 검출기 중 적어도 한쪽이 피검체의 주위를 회전함으로써 형성되는 면과 비 평행한 면에 피검체의 재구성면을 정의한다.
다음으로, X선관에서, 원추 형상의 X선을 방사하여 피검체를 스캔한다.
다음으로, 정의된 재구성면을 기초로 하여 피검체의 단층상을 재구성한다.
본 발명의 X선 CT 장치에 따라, 피검체의 임의의 단층상을 용이하게 생성할 수 있다.
본 발명의 촬상 방법에 따라, 피검체의 임의의 단층상을 용이하게 생성할 수 있다.
본 발명의 다른 목적 및 유리한 점은 첨부 도면에 도시한 본 발명의 바람직한 실시예의 다음 설명을 참조하면 명확해질 것이다.
이하, 본 발명을 실시하기 위한 최선의 형태에 대하여 첨부 도면을 참조하여 설명한다.
도 1은 본 발명에 따른 X선 CT 장치(1)의 전체 구성을 도시하는 블록도이다. 도 1에 도시하는 바와 같이, X선 CT 장치(1)는 스캔 갠트리(2), 조작 콘솔(3) 및 촬상 테이블(크레이들(cradle))(4)을 포함한다.
스캔 갠트리(2)는 X선관(21), 시준기(22), 검출기 어레이(23), 데이터 수집부(24), X선 제어기(25) 및 시준기 제어기(26)를 포함한다. 촬상 테이블(4) 상의 어떤 위치에 피검체가 배치된다.
X선관(21)은 X선을 방사한다. X선관(21)에 의해 방사된 X선은 시준기(22)에 의해 원추형 빔으로 성형되고, 검출기 어레이(23)에 조사된다. 본 발명의 X선 소스의 일 실시예는 X선관(21)에 해당한다.
검출기 어레이(23)는 예를 들면 복수의 X선 검출 소자가 2차원적으로 배열된 복수행 검출기이다. 본 발명의 X선 검출기 어레이의 일 실시예는 검출기 어레이(23)에 해당한다.
검출기 어레이(23)는 전체로서, 반원통 요면 형상으로 만곡한 X선 입사면을 형성한다. 검출기 어레이(23)는 예를 들면 신틸레이터(scintillator)와 광 다이오드로 구성된다. 그러나, X선 검출기 어레이(23)는 이러한 구성에 국한되지 않고, 예를 들면, 카드뮴 텔루르(CdTe)를 이용한 반도체 X선 검출 소자 또는 Xe 가스를 이용하는 이온화 챔버 X선 검출 소자를 포함할 수 있다. 검출기 어레이(23)는 데이터 수집부(24)와 접속되어 있다.
데이터 수집부(24)는 검출기 어레이(23)의 각각의 X선 검출 소자에 의해 검출 데이터를 수집한다.
X선 제어기(25)는 X선관(21)으로부터의 X선의 조사를 제어한다.
시준기 제어기(26)는 시준기(22)를 제어한다.
X선관(21)과 X선 제어기(25)와의 접속 및 시준기(22)와 시준기 제어기(26)와의 접속은 도시가 생략되어 있다.
X선관(21), 시준기(22), 검출기 어레이(23), 데이터 수집부(24), X선 제어기(25) 및 시준기 제어기(26)는 스캔 갠트리(2)의 회전부(27)에 탑재되어 있다. 피검체는 회전부(27)의 중심에 위치하는 보어(bore)(29)내의 크레이들 상에 배치된다.
회전부(27)는 회전 제어기(28)에 의해 제어되어 회전된다. 회전부(27)는 X선관(21)에서 X선을 조사하고, 검출기 어레이(23)에서 피검체를 투과한 X선을 각 뷰마다 투영 정보로서 검출한다. 회전부(27)와 회전 제어기(28)의 접속은 도시를 생략한다.
조작 콘솔(3)은 중앙 처리 장치(31), 입력 장치(32), 표시 장치(33) 및 기억 장치(34)를 포함한다.
중앙 처리 장치(31)는 예를 들면, 마이크로 프로세서 및 메모리로 구성된다. 이 중앙 처리 장치(31)는 기억 장치(34)에 저장된 프로그램에 따라 스캔 갠트리(2)의 동작을 제어한다. 또한, 중앙 처리 장치(31)는 피검체를 투과한 X선을 검출기 어레이(23)로 검출하여 획득되는 투영 데이터를 수집하는 기능과, 수집한 X선 투영 데이터를 기초로 하여 피검체의 단층상을 재구성하는 기능 중 적어도 하나를 갖는다.
중앙 처리 장치(31)에 의한 화상 재구성 처리에 있어서는 후술한다.
중앙 처리 장치(31)는 표시 장치(33) 및 입력 장치(32)와 접속되어 있다.
표시 장치(33)는 중앙 처리 장치(31)로부터 출력되는 단층 화상 정보 등의 정보를 표시한다.
입력 장치(32)는 사용자에 의해서 조작되고, 각종 지시나 정보를 중앙 처리 장치(31)에 제공한다.
사용자는 표시 장치(33) 및 입력 장치(32)를 사용하여 대화식으로 본 장치를 조작한다.
도 2는 입력 장치(32)의 구성의 일례를 개략적으로 도시하는 블록도이다.
입력 장치(32)는 재구성면 정의부(35)와, 조작부(36)를 포함한다. 입력 장치(32)는 사용자에 의해서 조작되고, 입력된 정보를 중앙 처리 장치(31)로 출력한다.
재구성면 정의부(35)는 예를 들면, 트랙볼과 키보드로 구성된다. 재구성면 정의부(35)는 표시 장치(33)에 표시된 커서를 트랙볼 등을 사용하여 이동시켜 재구성면을 선택하고, 사용자의 조작에 의해서 재구성면을 정의한다. 또한, 재구성면 정의부(35)는 예를 들면, 사용자의 키보드 조작에 의해서 재구성면을 생성하는 간격을 설정한다. 본 발명의 재구성면 정의 수단의 일 실시예는 재구성면 정의부(35)에 해당한다.
조작부(36)는 예를 들면, 키보드로 구성되다. 조작부(36)는 재구성면의 정의 뿐만 아니라 다른 파라미터의 설정도 한다. 또, 재구성면 정의부(35) 및 조작부(36)를 포함하는 트랙볼이나 키보드 등은 공유될 수 있다.
도 3은 중앙 처리 장치의 구성의 일례를 개략적으로 도시하는 블록도이다.
중앙 처리 장치(31)는 화상 재구성부(37)를 포함한다.
화상 재구성부(37)는, 예컨대, 프로그램 등으로 구성되어 있다. 화상 재구성부(37)는 데이터 수집부(24)에서 수집된 데이터를 (도시하지 않는) 데이터 수집 버퍼를 통해서 입력하고, 수집한 투영 데이터을 이용하여 화상을 재구성한다. 본 발명의 재구성 수단의 일 실시예는 화상 재구성부(37)에 해당한다.
다음으로, 본 발명에 따른 X선 CT 장치(1)의 동작을 첨부 도면을 참조하여 설명한다.
도 4는 본 발명의 X선 CT 장치(1)의 동작을 나타내는 순서도이다. 본 발명의 촬상 방법은 본 발명의 X선 CT 장치(1)를 이용하여 실행된다.
사용자는 먼저 입력 장치(32)를 이용하여 스카우트 촬영 범위 방향 및 범위를 규정하고, 규정된 범위를 기초로 하여 스카우트 촬영을 한다(ST1). 또, 스카우트 촬영은 적어도 2개의 방향에서 행하여진다. 본 실시예에서는, 예를 들면, 피검체의 시상면 및 관상면(sagittal and coronal planes)의 스카우트 화상이 생성된다.
중앙 처리 장치(31)는 규정된 조건을 기초로 하여 소정의 범위 및 방향에서 피검체를 스캔하도록 스캔 갠트리(2)를 제어한다. 이 때, 스캔 갠트리(2)는 회전하지 않고서 X선관(21) 및 검출기 어레이(23)를 일정한 위치에서 유지한 채 스캔을 행한다. 검출기 어레이(23)는 획득한 데이터를 데이터 수집부(24)을 거쳐서 중앙 처리 장치(31)로 출력한다. 중앙 처리 장치(31)는 획득한 데이터를 기초로 하여 스카우트 화상을 생성하고, 표시 장치(33)에 출력한다.
다음으로, 사용자는 표시 장치(33)에 표시된 피검체의 스카우트 화상을 관찰하고, 2장의 스카우트 화상을 이용하여 임의의 재구성면을 선택한다(ST2).
도 5(a)는 시상면(S) 상의 교차선(CL)에 대해 임의의 각도를 갖는 직선(SI)을 설정하는 단계를 개략적으로 도시하는 도면이고, 도 5(b)는 관상면(C) 상의 교차선(CI)에 대해 임의의 각도를 갖는 직선(SL)을 설정하는 단계를 개략적으로 도시하는 도면이고, 도 5(c)는 직선(SL)을 기초로 하여 재구성면(RP)을 선택하는 단계를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 5(a)에 도시하는 바와 같이, 우선, 사용자는 시상면(S)의 스카우트 화상에서, 시상면(S) 및 관상면(C)간의 교차선(CL)에서의 기준 위치(P)를 재구성면 정의부(35)의 조작에 의해 커서 등을 이용하여 정의한다. 다음으로, 사용자는 재구성면 정의부(35)를 조작하여, 그 기준 위치(P)를 지나는 직선(SL)을 교차선(CL)에 대해 소정의 각도가 되도록 스카우트 화상 및 피검체의 촬영 영역을 참조하여 정의한다. 사용자가 재구성면 정의부(35)의 설정 키 등을 누르는 것에 의해, 중앙 처리 장치(31)는 설정 내용을 기억 장치(34)에 저장한다.
다음으로, 도 5(b)에 도시하는 바와 같이, 사용자는 관상면(C)의 스카우트 화상에서도 마찬가지로, 재구성면 정의부(35)를 조작하여, 기준 위치(P)를 지나는 직선(SL)을 교차선(CL)에 대해 소정의 각도가 되도록 정의한다. 이 때, 중앙 처리 장치(31)는, 시상면(S)의 스카우트 화상에서 정의된 교차선(CL) 상의 기준 위치( P)를 관상면(C)의 스카우트 화상에 반영한다. 또, 사용자가 재구성면 정의부(35)의 설정 키 등을 누르는 것에 의해, 중앙 처리 장치(31)는 설정 내용을 기억 장치 (34)에 저장한다.
다음으로, 도 5(c)에 도시하는 바와 같이, 중앙 처리 장치(31)는 시상면(S) 및 관상면(C)의 스카우트 화상에서 정의된 직선(SL)에 의해 선택되는 재구성면 (RP)을 표시 장치(33)에 표시한다. 사용자는, 표시된 화상을 관찰 및 확인한다. 필요하면, 재구성면(RP)을 미세 조정하는 것도 가능하다. 사용자는 표시 장치(33)에 표시된 재구성면(RP)을 선택하는 2개의 직선을 재구성면 정의부(35)의 조작에 의해서 커서 등으로 이동하여 조정할 수 있다.
다음으로, 사용자는 재구성에 의해서 생성되는 화상의 범위 및 화상을 생성하는 간격 등을 정의한다(ST3).
도 6은 화상 범위 및 화상 생성 간격을 규정하는 단계의 일부를 모시적으로 도시하는 개략도이다.
도 6에 도시한 개략도는 예를 들면, 도 5에 도시하는 관상면에서의 단층상과 실질적으로 동일한 단층상이다. 도 6에 도시하는 바와 같이, 사용자는 재구성면 정의부(35)를 사용하여 표시 장치(33) 상의 제 1 영역(R1)에서 화상을 생성하는 개시 위치(S1), 종료 위치(E1) 및 화상을 생성하는 간격(I1)을 규정한다. 또한, 스캔 속도, 생성하는 화상의 슬라이스 두께, 나선형 피치 등도 사용자에 의한 조작부(36)의 조작으로 규정될 수 있다.
또한, 한번의 스캔에 의해서 다른 화상 생성 간격을 정의할 수 있다. 이 때 사용자는 제 1 영역(R1)의 대한 규정을 따라, 재구성면 정의부(35)를 거쳐서 표시 장치(33)상에서 제 2 영역(R2)에서 마찬가지로 화상을 생성하는 개시 위치(S2), 종 료 위치(E2) 및 화상을 생성하는 간격(I2)을 규정한다.
제 1 영역(R1) 및 제 2 영역(R2)에서 화상 생성 간격(I1) 및 (I2)는 서로 다르게 규정된다. 또한, 제 1 영역(R1) 및 제 2 영역(R2)에서 정의되는 재구성면은 예를 들면, 비 평행하게 규정될 수 있다. 이 때, 사용자는 상술한 단계(ST2)를 실행함으로써, 제 2 영역(R2)에서 재구성면을 정의한다.
또한, 사용자는 조작부(36)를 거쳐서 제 1 영역(R1) 및 제 2 영역(R2)의 스캔 속도를 서로 다르게 규정할 수 있다. 이 때, 중앙 처리 장치(31)는 제 1 영역 (R1)에서의 종료 위치(E1)로부터 제 2 영역(R2)에서의 개시 위치(S2)까지의 영역에서 속도를 제어하여 선형 변화시킨다.
사용자가 표시 장치(33)에 표시된 화상을 관찰하면서 입력 장치(32)를 조작함으로써 설정이 되어, 중앙 처리 장치(31)를 거쳐서 기억 장치(34)에 저장된다.
본 발명의 재구성면 정의 단계의 일 실시예는 단계(ST1) 내지 단계(ST3)에 해당한다.
다음으로, 선택된 재구성면, 재구성 조건 및 스캔 조건을 확인하고, 필요하면, 단계(ST2)로부터 프로세스가 다시 이루어진다(ST4).
이와 다르게, 상술한 재구성면은 제 1 영역(R1) 및 제 2 영역(R2)에서 평행하게 정의되기 때문에, 사용자는 제 1 및 제 2 영역(R1, R2)에서 정의된 재구성면과 다른 방향의 재구성면을 선택할 수 있다.
일단 재구성면, 재구성 조건 및 스캔 조건이 설정되면, 중앙 처리 장치(31)는 화상 생성 간격 및 촬영 영역을 기초로 하여 나선형 피치와 같은 원추형 빔 스 캔 조건을 선택하고, 표시 장치(33)에 표시를 한다. 이들 스캔 조건은 기억 장치(34)에 저장된 프로그램 등에 의해 디폴트로서 미리 정의되어 있다. 사용자는 필요한 경우, 표시된 스캔 조건을 입력 장치(32)를 통해서 수정한다. 중앙 처리 장치(31)는 수정된 스캔 조건을 기억 장치(34)에 저장한다.
또한, 중앙 처리 장치(31)는 규정된 재구성면, 화상 생성 간격 및 슬라이스 두께를 기초로 하여 원추형 빔 재구성의 조건을 정의한다. 구체적으로, 중앙 처리 장치(31)는 소정의 프레임에서 검출된 검출기 어레이(23)의 어드레스 데이터를 재구성면의 소정의 영역에서의 재구성에 사용되도록 설정한다. 재구성 조건의 설정은 다음에 설명하는 단계(ST5) 후에 행할 수 있다.
재구성면, 재구성 조건 및 스캔 조건을 정의한 후에, 정의된 조건을 기초로 하여 피검체를 스캔한다(ST5).
중앙 처리 장치(31)는 기억 장치(34) 상의, 전술한 수정으로 보완된 프로그램을 기초로 하여 스캔 갠트리(2) 및 촬상 테이블(4)에 지령을 내린다. 그 결과, 스캔 갠트리(2)는 정의된 스캔 속도를 기초로 하여, 피검체를 스캔 시작 위치로부터 스캔 종료 위치까지 소정의 위치에서 스캔을 한다. 검출기 어레이(23)는 검출된 투영 데이터를 데이터 수집부(24)을 거쳐서 중앙 처리 장치(31)에 출력한다. 중앙 처리 장치(31)는 입력된 데이터를 기억 장치(34)에 저장한다. 본 발명의 스캔 단계의 일 실시예는 단계(ST5)에 해당한다.
다음으로, 중앙 처리 장치(31)는 단계(ST5)에서 획득된 투영 데이터와, 단계(ST2) 및 단계(ST3)에서 정의된 조건을 기초로 하여 재구성 처리를 한다(ST6).
중앙 처리 장치(31)는 기억 장치(34)에 저장된 기존의 원추형 빔 재구성과 같은 프로그램을 기초로 하여 재구성 처리를 한다. 중앙 처리 장치(31)는 선택된 재구성면에서의 단층상을 표시 장치(33)에 표시한다. 그 결과, 사용자는 미리 선택한 재구성면을 규정된 영역에서 관찰할 수 있다. 본 발명의 재구성 단계의 일 실시예는 단계(ST6)에 해당한다.
본 발명의 촬상 방법에 따라, 원추 형상의 X선을 이용한 피검체의 스캔 및 원추형 빔 재구성에 의해, 조사되는 X선의 조사 각도나 조사 방향, X선 검출기의 배열 방향 및 스캔 갠트리의 회전 방향에 의존하지 않고 재구성면을 3차원으로 자유롭게 정의할 수 있다.
또한, 복수 영역에서 재구성면을 생성하는 간격 등을 변경할 수 있기 때문에, 예를 들면, 속도를 변경하여 스캔할 수 있다. 또한, 스캔 전에 재구성면을 정의하기 때문에, 축 화상을 생성하지 않고도 임의의 면의 단층상을 얻을 수 있다. 또한, 각 영역마다 재구성면이 비 평행하게 되도록 정의할 수도 있다.
본 발명의 X선 CT 장치에 따라, 원추 형상의 X선을 이용한 피검체의 스캔 및 원추형 빔 재구성을 하는 것에 의해, 조사되는 X선의 조사 각도나 조사 방향, X선 검출기의 배열 방향 및 스캔 갠트리의 회전 방향에 의존하지 않고 재구성면을 3차원으로 자유롭게 정의할 수 있다.
또한, 스캔 전에, 스카우트 화상에 정의되는 직선의 각도를 각각 별도로 선택함으로써, 시각적으로 간편히 재구성면을 정의할 수 있다. 또한, 재구성면을 생성하는 간격 뿐만 아니라, 슬라이스 두께를 표시 화면에 규정하는 것도 가능하므 로, 화상의 중첩의 유무도 시각적으로 확인할 수 있다.
본 발명의 촬영 장치는 전술한 실시예에 국한되지 않는다.
예를 들면, 단계(ST3) 및 도 6에 도시한 제 1 영역 및 제 2 영역에 정의되는 재구성면은 평행할 수 있다. 이 때, 제 2 영역에서의 재구성면의 설정을 생략할 수도 있다. 또한, 시상면 및 관상면에서의 스카우트 화상을 촬영하지만, 스카우트 화상의 촬영면은 이에 국한되지 않는다.
기타, 본 발명의 요지를 이탈하지 않는 범위에서 여러가지의 변형이 가능하다. 본 발명은 상세한 설명에 정의된 특정 실시예에 국한되지 않고, 청구의 범위에 의해 정의된다.
X선의 조사 방향 또는 스캔 갠트리의 회전 방향에 의존하지 않고 피검체의 임의의 단면의 화상 재구성을 단시간에 용이하게 행할 수 있다.

Claims (10)

  1. X선 소스와, 피검체를 거쳐서 상기 X선 소스와 대향하도록 배치된 X선 검출기를 구비하고, 상기 X선 소스 및 상기 X선 검출기 중 적어도 한쪽을 상기 피검체 주위에서 회전시키고, 상기 X선 소스로부터 상기 피검체를 향해서 조사된 원추 형상의 X선을 상기 X 검출기로 검출하는 X선 CT 장치에 있어서,
    상기 X선 소스 및 상기 X선 검출기 중 적어도 한쪽이 상기 피검체의 주위를 회전함으로써 형성되는 면과 비 평행한 면에 상기 피검체에 대한 재구성면을 정의하는 정의 장치를 포함하는
    X선 CT 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 정의 장치는 상기 피검체의 머리부터 발끝까지를 연결하는 몸축 방향에 평행한 스카우트 화상을 이용하여, 임의의 재구성면을 정의하는
    X선 CT 장치.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 정의 장치는 인접하는 상기 재구성면간의 간격을 정의하는
    X선 CT 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 X선 검출기에 의해 검출된 투영 데이터을 이용하여, 상기 정의 장치에 의해 정의된 상기 재구성면에서 상기 피검체의 단층상을 원추형 빔 재구성하기 위한 재구성 장치를 더 포함하는
    X선 CT 장치.
  5. 제 2 항에 있어서,
    상기 정의 장치는 복수의 상기 스카우트 화상의 교차선 상에 기준 위치를 정의하고, 상기 기준 위치를 지나는 상기 재구성면을 정의하는
    X선 CT 장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 정의 장치는 각각의 상기 스카우트 화상에서 상기 기준 위치를 지나고 상기 교차선에 대해 임의의 각도를 갖는 직선을 정의하고, 상기 기준 위치에서 교차하는 2개의 상기 직선에 의해서 상기 재구성면을 정의하는
    X선 CT 장치.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 정의 장치는 상기 재구성면을 생성하는 개시 위치 및 종료 위치와, 상기 개시 위치와 상기 종료 위치 사이에서의 스캔 속도를 정의하는
    X선 CT 장치.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 정의 장치는 상기 개시 위치 및 상기 종료 위치에 의해 정해지는 상기 재구성면을 생성하는 영역을 복수 개 정의하는
    X선 CT 장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 정의 장치는 정의된 영역들간에 상기 재구성면을 비 평행하게 정의하는
    X선 CT 장치.
  10. X선 소스와, 피검체를 거쳐서 상기 X선 소스와 대향하도록 배치된 X선 검출기를 구비하고, 상기 X선 소스 및 상기 X선 검출기 중 적어도 한쪽을 상기 피검체의 주위에서 회전시키고, 상기 X선 소스로부터 상기 피검체를 향해서 조사된 X선을 상기 X선 검출기가 검출하는 X선 CT 장치의 촬상 방법으로서,
    상기 X선 소스 및 상기 X선 검출기 중 적어도 한쪽이 상기 피검체의 주위를 회전함으로써 형성되는 면과 비 평행한 면에 상기 피검체의 재구성면을 정의하는 단계와,
    상기 X선 소스로부터 원추 형상의 X선을 방사하며 상기 피검체를 스캔하는 단계와,
    정의된 상기 재구성면을 기초로 하여 상기 피검체의 단층상을 재구성하는 단계를 포함하는
    촬상 방법.
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