KR100681903B1 - 광정보 재생장치, 광정보 기록재생장치, 광정보 처리장치의회절효율 측정방법 - Google Patents

광정보 재생장치, 광정보 기록재생장치, 광정보 처리장치의회절효율 측정방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 광정보 재생장치, 광정보 기록재생장치, 광정보 처리장치의 회절효율 측정방법에 관한 것으로, 본 발명에 따른 광정보 처리장치의 회절효율 측정방법은 광정보 저장매체에 입사되기 전 상기 광의 광량을 감지하고, 광정보 저장매체를 통과한 광의 광량을 감지하여 광의 회절효율을 측정하도록 함으로써 보다 신속하게 정확한 회절효율의 측정이 가능하고, 또한 측정된 회절효율을 광정보 재생시 가능한 한 신속하게 반영하도록 함으로써 광정보 재생효율을 보다 향상시키도록 하는 효과가 있다.

Description

광정보 재생장치, 광정보 기록재생장치, 광정보 처리장치의 회절효율 측정방법{Optical information reconstructing apparatus, optical information recoding/reconstructing apparatus, method of measuring diffraction efficiency for optical information processing apparatus}
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 광정보 재생장치를 도시한 구성도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 광정보 기록재생장치를 도시한 구성도이다. 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 광정보 처리장치에서 수학식 1을 이용한 회절효율 측정방법을 도시한 순서도이다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 광정보 처리장치에서 수학식 2를 이용한 회절효율 측정방법을 도시한 순서도이다.
**도면 중 주요 부분에 대한 부호의 설명**
100...광원
110...각도조절미러
120...액추에이터
130...제 1광량 감지기
150...제 2광량 감지기
본 발명은 광정보 재생장치, 광정보 기록재생장치, 광정보 처리장치의 회절효을 측정방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 홀로그래픽 광정보의 처리를 위한 기준광의 회절효율을 측정할 수 있도록 한 회절효율의 측정이 가능한 광정보 재생장치, 광정보 기록재생장치, 광정보 처리장치의 회절효율 측정방법에 관한 것이다.
홀로그래픽 광정보 처리장치는 광변조(optical modulation) 된 신호광(signal beam)과 이 신호광과 교차(intersection)하여 저장매체에 간섭무늬를 만드는 기준광(reference beam)을 저장매체에 조사하여 데이터를 저장한다. 그리고 광정보의 재생은 기준광만을 저장매체의 간섭무늬에 입사시켜 이때 간섭무늬에서 발생한 광의 회절에 의하여 저장매체에 입력된 광정보를 재생한다.
그리고 홀로그래픽 광 처리장치는 기준광을 하나의 광점(beam spot)에 다른 각도로 조사하여 다중으로 데이터를 저장할 수 있다. 그리고 다중 입력된 데이터는 재생시 기준광 만을 다른 각도로 조사하여 다중으로 재생할 수 있다. 이때 출력되는 신호광의 회절효율이 우수할수록 광정보의 재생효율이 우수하다. 따라서 광의 각도 다중화시 최적 회절효율을 발휘할 수 있도록 하는 것이 바람직하다.
홀로그래픽 광 처리장치의 선행한 기술로는 한국공개특허 "공개번호 2000- 20835"가 있다. 상기 특허와 함께 알려진 종래의 기술들에서 광의 회절효율을 측정하기 위해서는 광정보의 재생시 재생된 신호광을 CCD(Charge-Coupled Device) 또는 CMOS(Complimentary Metal Oxide Semiconductor)와 같은 광 검출기에서 검출하고, 광정보 검출기의 모든 픽셀에서 검출된 광량을 합한 후 복잡한 연산처리과정을 거쳐 회절효율을 측정하는 방법을 사용한다.
이와 같은 종래의 회절효율을 측정방법은 광정보 검출기의 모든 픽셀의 광량을 합하고, 또한 복잡한 연산과정을 거치기 때문에 신호처리를 병행하여야 하는 DSP(Digital Signal Processor)에 부하가 많이 걸리는 문제점이 있다. 또한 상기와 같은 종래의 방법은 광의 회절효율을 실시간으로 처리하지 못하므로 최적 회절상태에서 광정보를 검출하기 재생하지 못하기 때문에 광정보의 재생효율이 떨어지는 문제점이 있다.
본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 광정보를 재생하기 위하여 광정보 저장매체에 입사되는 기준광의 입사 전 광량과 광정보 저장매체를 통과한 광량을 검출하여 비교함으로써 회절효율을 측정할 수 있도록 한 광정보 재생장치를 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 다른 목적은 광정보를 재생하기 위하여 광정보 저장매체에 입사되는 기준광의 입사 전 광량과 광정보 저장매체를 통과한 광의 광량을 검출하여 비교함으로써 회절효율을 측정할 수 있도록 한 광정보 기록재생장치를 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 다른 목적은 광정보를 처리하기 위하여 광정보 저장매체에 입사되는 광의 입사 전 광량과 광정보 저장매체를 통과한 광량을 검출하여 비교하도록 한 광정보 처리장치의 회절효율 측정방법을 제공하기 위한 것이다.
전술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광정보 재생장치는 광원, 상기 광원으로부터 주사된 광을 광정보 저장매체로 안내하는 광학계 상기 광학계 상에 위치하여 상기 광의 광량을 감지하는 제 1 광량 감지기, 상기 광정보 저장매체를 통과한 상기 광의 광량을 감지하는 제 2 광량 감지기, 상기 제 1 광량 감지기와 상기 제 2 광량 감지기에서 감지된 상기 광의 광량을 비교하여 상기 광의 회절효율을 연산하는 연산부, 상기 광정보 저장매체를 통과한 광에 의하여 재생된 광정보를 검출하는 광정보 검출기를 구비한다.
상기 제 1광량 감지기는 상기 광이 투과하고, 상기 광의 일부가 반사되도록 한 투과판과, 상기 투과판에서 반사된 상기 광을 감지하는 포토다이오드를 포함할 수 있다.
상기 제 2광량 감지기는 상기 광정보 저장매체를 통과한 상기 광을 감지하는 포토다이오드를 포함할 수 있다.
상기 제 2광량 감지기에서 감지하는 상기 광은 상기 광정보 저장매체로 입사된 광의 영차수 광(zero order beam)일 수 있다.
상기 광학계에는 상기 연산부에서 연산된 결과에 따라 상기 광의 입사 각도를 조절하는 각도조절미러를 포함할 수 있다.
전술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광정보 기록재생장치는 광원, 상기 광원으로부터 제공된 광을 분할하는 빔스플리터, 상기 빔스플리터로부터 분리된 하나의 광에 데이터를 로딩하여 광정보 저장매체에 입사하는 신호광 광학계, 상기 편광 빔스플리터로부터 분리된 다른 하나의 광을 상기 광정보 저장매체로 안내하는 기준광 광학계, 상기 기준광 광학계 상에 위치하여 상기 광의 광량을 감지하는 제 1 광량 감지기, 상기 광정보 저장매체를 통과한 상기 광의 광량을 감지하는 제 2 광량 감지기, 상기 제 1 광량 감지기와 상기 제 2 광량 감지기에서 감지된 상기 광의 광량을 비교하여 상기 광의 회절효율을 연산하는 연산부, 상기 광정보 저장매체를 통과한 광에 의하여 재생된 광정보를 검출하는 광정보 검출기를 구비한다.
상기 광원과 상기 빔스플리터 사이에는 제 3광량 감지기가 위치하고, 상기 연산부는 상기 제 2광량 감지기에서 감지된 광량에 상기 빔스플리터의 투과율(transmissivity)을 반영(reflecting)하여 상기 제 3광량 감지기에서 감지된 광량을 비교하여 연산할 수 있다.
상기 빔스플리터의 투과율은 상기 제 1광량 감지기와 상기 제 3광량 감지기에서 감지된 광의 광량을 비교하여 얻을 수 있다.
상기 제 1광량 감지기와 상기 제 3광량 감지기는 각각이 상기 광이 투과하고, 상기 광의 일부가 반사되도록 한 투과판과, 상기 투과판에서 반사된 상기 광을 감지하는 포토다이오드를 포함할 수 있다.
상기 제 2광량 감지기는 포토다이오드일 수 있고, 상기 제 2광량 감지기는 상기 광정보 저장매체를 통과한 상기 광의 영차수 광(zero order beam)을 감지할 수 있다.
상기 기준광 광학계에는 상기 연산부에서 연산된 회절효율에 따라 상기 광의 입사 각도를 조절하는 각도조절미러가 구비할 수 있다.
전술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광정보 처리장치의 회절효율 측정방법은 광을 광정보가 저장된 광정보 저장매체 측으로 입사하는 단계, 상기 광정보 저장매체에 입사되기 전 상기 광의 광량을 감지하는 단계, 상기 광정보 저장매체를 통과하여 광정보 검출기로 진행하는 재생광의 회절위치와 다른 위치로 회절된 광의 광량의 감지하는 단계, 상기 광정보 저장매체에 입사되기 전 감지된 상기 광의 광량과 상기 광정보 저장매체를 통과한 상기 다른 위치로 회절된 광의 광량을 비교하여 상기 광정보 저장매체에서의 상기 광의 회절효율을 측정하는 단계를 구비한다.
상기 다른 위치로 회절된 광은 상기 광정보 저장매체로 입사되는 광의 영차수 광일 수 있다. 상기 회절효율이 설정된 회절효율보다 떨어지면 상기 광이 상기 광정보 저장매체로 입사되는 각도를 변경할 수 있다.상기 설정된 회절효율은 이전에 측정된 다른 재생광의 회절효율일 수 있다.
이하에서는 전술한 바와 같이 구성된 본 발명의 실시예에 따른 광정보 재생 장치와 광정보 기록재생장치 그리고 광정보 처리장치의 회절효율 측정방법에 대하여 설명한다. 그리고 이하의 실시예의 설명에서 각각의 구성요소의 명칭은 당업계에서 다른 명칭으로 호칭 될 수 있다. 그러나 이들의 기능적 유사성 및 동일성이 있다면 변형된 실시예를 채용하더라도 균등한 구성으로 불 수 있다. 또한 각각의 구성요소에 부가된 부호는 설명의 편의를 위하여 기재된다. 그러나 이들 부호가 기재된 도면상의 도시 내용이 각각의 구성요소를 도면내의 범위로 한정하지는 않는다. 마찬가지로 도면상의 구성을 일부 변형한 실시예가 채용되더라도 기능적 유사성 및 동일성이 있다면 균등한 구성으로 볼 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 광정보 재생장치를 도시하고 있다. 도 1에 도시된 바와 같이 광정보 재생장치는 기록된 광정보를 재생하기 위한 것으로, 기록된 광정보는 홀로그래픽 간섭무늬일 수 있다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광정보 재생장치는 광원(100)을 구비한다. 광원(100)은 광정보의 재생을 위하여 소정 파장의 레이저 광(이하 기준광"reference beam"이라고 한다)을 발생시킨다.
광원(100)에서 발진한 기준광(b1)은 광학계(reproducing optical system; 101)를 거친다. 광학계(101)는 각도조절미러(110)와 렌즈(미부호)를 구비한다. 각도조절미러(110)에는 각도조절미러(110)를 동작시키는 액추에이터(120)가 결합된다. 각도조절미러(110)는 갈바노 미러(Galvano mirror)가 채용될 수 있는데. 이 경우 액추에이터(120)는 피에조 소자(piezo device)가 될 수 있다.
광학계(101)를 거친 기준광(b1)은 광정보가 저장된 투명한 광정보 저장매체(optical data storage medium; 140)에 입사된다. 이 광정보 저장매체(140)는 기준광(b1)이 입사되었을 때 기준광(b1)의 강도에 따라서 굴절률, 유전율, 반사율 등의 광학적 특성이 변하는 재료로 만들어진다.
그리고 광정보 저장매체(140)는 광이 투과하는 투명한 재질로 제조된다. 광정보 저장매체(140)의 다음에는 광정보 저장매체(140)를 통과한 기준광(b1)에 의하여 재생된 광정보를 검출하는 광정보 검출기(160)가 구비된다. 광정보 검출기(160)는 CCD(Charge-Coupled Device) 또는 CMOS(Complimentary Metal Oxide Semiconductor)가 채용될 수 있다.
한편, 광정보 저장매체(140)와 각도조절미러(110) 사이에는 각도조절미러(110)에서 반사되어 광정보 저장매체(140)로 진행하는 기준광(b1)의 광량(beam intensity)을 감지하는 제 1광량 감지기(130)가 설치된다. 제 1광량 감지기(130)는 광학계(optical system)를 진행하는 기준광(b1)의 대부분이 투과하고, 일부가 반사되도록 하는 투과판(131)을 포함한다.
투과판(131)은 기준광(b1)의 대략 99%를 투과시키고, 1% 정도를 반사시킨다. 그리고 제 1광량 감지기(130)는 투과판(131)과 함께 투과판(131)에서 반사된 1%의 광을 감지하는 포토다이오드(132)를 구비한다. 한편 광량 감지를 위하여 해당 광의 전체 광량을 감지할 필요는 없다. 후술하는 제 2광량 감지기(150)와의 비교값으로 광량의 변화를 감지하기 때문에 감지되는 광량은 감지 신호를 발생시킬 정도면 충분하다.
그리고 광정보 저장매체(140)를 통과한 광(b2)의 광량을 감지하는 제 2광량 감지기(150)가 구비된다. 제 2광량 감지기(150)는 포토다이오드(150)로 구비될 수 있다. 제 2광량 감지기(150)는 광정보 저장매체(140)를 통과한 광(b2)의 영차수 광(zero order beam; b2)을 감지한다. 따라서 광량의 변화에 의한 광정보 저장매체(140)에서의 광 투과율이 구해질 수 있는데. 이 광 투과율이 광정보 저장매체(140)의 회절효율이 된다. 즉 회절효율은 광정보 저장매체(140)에서 회절된 재생광으로 측정하지 않더라도 영차수 광(b2)을 감지함으로써 간접적인 측정이 가능하다.
따라서 광정보 재생장치는 제 1광량 감지기(130)와 제 2광량 감지기(150)에서 감지된 광의 광량을 비교하여 광의 회절효율을 연산하여 구하는 연산부(170)를 구비한다. 그리고 연산부(170)의 측정결과에 따라 각도조절미러(110)의 반사각도를 조절하는 제어부(180)를 구비한다. 연산부(170)는 아래의 수학식 1과 같은 연산으로 광의 회절효율을 연산한다.
Figure 112005075156171-pat00001
η은 회절효율을 나타낸다. 그리고 Id는 제 2광량 감지기(150)에서 감지된 광량 값을 나타내고, I0는 제 1광량 감지기(130)에서 감지된 광량 값을 나타낸다. 따라서 제 1광량 감지기(130)에서 감지된 감지 값과 제 2광량 감지기(150)에서 감지된 감지 값의 비교 값으로 회절효율이 백분율로 측정된다.
다음으로 본 발명의 실시예에 따른 광정보 기록재생장치에 대한 실시예를 설 명하기로 한다. 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 광정보 기록재생장치를 도시한 구성도이다.
도 2에 도시된 바와 같이 본 발명의 실시예에 따른 광정보 기록재생장치는 광원(200)을 구비한다. 광원(200)은 소정파장의 광(b3)을 발진시킨다. 그리고 광원(200)으로부터 발진한 광(b3)을 분할하는 빔스플리터(210)가 광원(200)으로부터 발진한 광의 경로 상에 위치한다. 빔스플리터(210)는 광(b3)을 편광 분할하는 편광 빔스플리터일 수 있다.
그리고 빔스플리터(210)로부터 분리된 하나의 광(이하 "신호광"이라고 한다)에 데이터를 로딩하여 광정보 저장매체(250)에 입사하는 신호광 광학계(미부호)를 구비한다. 신호광 광학계는 빔스플리터(210)로부터 분할된 신호광에 소정의 광정보를 공간 광변조기(SLM; Spatial Light Modulator ; 270)로 로딩된다. 그리고 공간 광변조기(270)와 광정보 저장매체(250) 사이에는 푸리에 변환렌즈와 같은 렌즈계(미부호)가 구비된다. 여기서 광정보 저장매체(250)에 기록된 광정보는 홀로그래픽 간섭무늬일 수 있다. 광정보 저장매체(250)는 이미 언급한 바와 같이 투명한 재질로 마련된다. 이에 대한 보다 상세한 설명은 전술한 광정보 재생장치의 경우를 참조한다.
계속해서 광정보 기록재생장치는 빔스플리터(210)로부터 분리된 광(이하 "기준광(reference beam)"이라고 한다)을 광정보 저장매체(250)로 안내되는 기준광 광학계(미부호)를 구비한다. 기준광 광학계는 기준광(b2)을 광정보 저장매체(250)로 안내하는 각도조절미러(220)를 구비한다. 그리고 광정보 저장매체(250) 다음에는 광정보 저장매체(250)로부터 회절되어 재생된 재생광을 검출하는 광정보 검출기(280)가 구비된다.
한편, 기준광 광학계의 광경로 중 각도조절미러(220)와 광정보 저장매체(250) 사이에는 제 1광량 감지기(240)가 설치된다. 그리고 광정보 저장매체(250)를 투과한 기준광의 영차수 광(b2)을 감지하는 제 2광량 감지기(260)가 설치되고, 광원(200)과 빔스플리터(210) 사이의 광경로 상에는 제 3광량 감지기(290)가 설치된다.
제 1광량 감지기(240)는 각도조절미러(220)에서 반사되어 광정보 저장매체(250)로 진행하는 광의 광량을 감지하도록 기준광(b2)의 대부분이 투과하는 투과판(241)과 이 투과판(241)에서 일부 반사된 광을 감지하는 포토다이오드(242)를 포함한다.
그리고 제 2광량 감지기(260)는 광정보 저장매체(250)를 통과한 기준광(b2)을 감지하는 포토다이오드로 될 수 있다. 계속해서 제 3광량 감지기(290)는 광원(200)에서 출사된 광(b3)의 대부분을 투과시키고 일부를 반사시키는 투과판(291)과 이 투과판(291)에서 일부 반사된 광을 감지하는 포토다이오드(292)를 포함한다.
그리고 광정보 기록재생장치는 제 1광량 감지기(240)와 제 2광량 감지기(260) 그리고 제 3광량 감지기(290)에서 감지된 광의 광량을 비교하여 광의 회절효율을 연산하는 연산부(300)를 구비하고, 이 연산부(300)의 측정결과에 따라 제 2광량 감지기(260) 전에 위치한 각도조절미러(220)의 반사각도를 조절하도록 하는 제어부(310)를 구비한다. 여기서 연산부(300)는 아래의 수학식 2와 같은 연산으로 광 의 회절효율을 측정한다.
Figure 112005075156171-pat00002
η 은 회절효율을 나타낸다. 그리고 Id는 제 2광량 감지기(260)에서 감지된 광량 값을 나타내고, I0는 제 3광량 감지기(290)에서 감지된 광량 값을 나타낸다. 그리고 a는 빔스플리터(210)로부터 분할된 기준광의 투과율을 나타낸다, 즉 a는 제 1광량 감지기(240)에서 감지한 광의 세기 "I1"과 제 3광량 감지기(290)에서 감지한 광의 세기 "I0"의 비교 값이다.
따라서 회절효율은 제 1광량 감지기(240)에서 감지된 광량에 빔스플리터(210)의 투과율(transmissivity)을 반영(reflecting)하여 제 3광량 감지기(290)에서 감지된 광량을 비교하도록 함으로써 최종적으로 백분율로 얻을 수 있다.
한편, 본 발명의 실시예에 따른 광정보 기록재생장치는 전술한 다른 실시예인 광정보 재생장치에서 적용한 수학식 1을 사용하여 회절효율을 측정할 수 도 있다. 이때에는 제 1광량 감지기(240)과 제 2광량 감지기(260)만을 활용하여 실시할 수 있다.
이하에서는 본 발명의 실시예에 따른 광정보 처리장치의 회절효율 측정방법에 대한 실시예를 도면을 참조하여 설명하기로 한다. 본 실시예에서 광정보 처리장 치는 전술한 광정보 재생장치 또는 광정보 기록재생장치 중의 어느 하나 일 수 있다. 따라서 이하의 회절효율 측정방법에서 비록 수학식 1과 수학식 2로 구분하여 실시예를 설명하지만 이러한 실시예의 설명은 본 발명의 기술적 사상의 이해를 돕기 위한 것이지 본 발명의 기술적 사상을 한정하기 위한 것이 아님을 유의하여야 한다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 광정보 처리장치에서 수학식 1을 이용한 회절효율 측정방법을 도시한 순서도이다.
도 1과 도 3에 도시된 바와 같이 전술한 수학식 1에 따른 회절효율 측정방법은 광을 광정보가 저장된 광정보 저장매체(140) 측으로 입사한다. 광정보 저장매체(140)에는 광정보가 회절격자 형태로 기록되어 있다. 그리고 광정보 저장매체(140)에 입사되기 전의 광량을 제 1광량 감지기(130)로 감지한다. 다음으로 광정보 저장매체(140)를 통과하여 광정보 검출기(160)로 진행하는 재생광의 회절위치와 다른 위치로 회절된 광의 광량을 제 2광량 감지기(150)로 감지한다(S100). 이때 다른 위치는 광정보 저장매체(140)로 입사되는 기준광의 영차수 광(b2)일 수 있다.
제 1광량 감지기(130)와 제 2광량 감지기(150)에서 광의 세기가 감지되면 연산부(170)는 수학식 1에 따라 회절효율을 연산한다(S110). 그리고 이때 얻어진 회절효율에 대한 값은 제어부(180)로 전달된다.
제어부(180)는 감지된 회절효율과 이전에 연산되어 입력된 회절효율을 비교한다(S120). 이전에 연산된 회절효율은 최적 상태로 미리 설정된 것일 수 있고, 또는 이전에 연산된 회절효율 중 우수한 회절효율일 수 있다.
계속해서 제어부(180)는 연산된 회절효율 결과가 이전에 연산되어 입력된 회절효율 보다 감소하였는지 여부를 판단한다(S130). 이때 회절효율이 감소하였다면 제어부(180)는 각도조절미러(110)의 반사각도를 조절하도록 액추에이터(120)에 조절신호를 전송한다(S140). 각도 조절신호는 제어부(180)에 미리 설정되어 입력된 다양한 각도에 대한 동작 신호일 수 있다.
각도가 조절되면 다시 제 1광량 감지기(130)와 제 2광량 감지기(150)에서 광의 회절효율을 감지하고, 이후 계속해서 전술한 과정을 반복하여 최적의 회절효율을 발생시키는 각도를 찾는다. 한편, 회절효율이 최적 상태가 되는 각도, 즉 이전에 연산되어 입력된 회절효율 보다 감소하지 않은 위치를 찾게 되면 회절효율의 측정을 중지하고, 광정보를 광정보 검출기(160)로 검출한다. 즉 회전효율이 최적이라고 판단되는 때에 광정보 검출기(160)가 동작하여 최적 상태의 회절효율에 대한 재생광을 검출하도록 한다(S150).
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 광정보 처리장치에서 수학식 2를 이용한 회절효율 측정방법을 도시한 순서도이다. 도 4의 실시예의 경우는 광원인 레이저에서 발진하는 광의 세기가 시간에 따라 변화가 발생하였을 경우 이를 감안하여 회절효율을 측정하기 위한 것이다.
도 2와 도 4에 도시된 바와 같이 전술한 수학식 2에 따른 회절효율 측정방법은 광을 빔스플리터(210) 에 입사한다. 그러면 광은 빔스플리터(210)에서 분할되어 진행한다. 이때 광이 빔스플리터(210)로 입사되기 전에 제 3광량 감지기(290)를 사용하여 광의 세기를 감지하여 측정한다.
빔스플리터(210)에서 분할된 광 중 각도조절미러(220)로 진행하는 광(이하 "기준광(b1)"이라고 한다)은 각도조절미러(220)에서 반사되어 광정보가 저장된 광정보 저장매체(250) 측으로 진행한다.
그리고 광정보 저장매체(250)에 입사되기 전 기준광(b1)의 광량을 제 1광량 감지기(240)로 감지한다(S200). 다음으로 광정보 저장매체(250)를 통과하여 광정보 검출기(280)로 진행하는 재생광의 회절위치와 다른 위치로 회절된 광(b2)의 광량을 제 2광량 감지기(260)로 감지한다. 이 다른 위치는 광정보 저장매체(250)로 입사되는 기준광의 영차수 광일 수 있다(S210).
제 1광량 감지기(240)와 제 2광량 감지기(260) 그리고 제 3광량 감지기(290)에서 광의 세기가 감지되면 연산부(300)는 수학식 2에 따라 회절효율을 연산한다(ㄴ220). 그리고 이때 얻어진 회절효율에 대한 값은 제어부(310)로 전달된다. 제어부(310)는 감지된 회절효율과 이전에 연산되어 입력된 회절효율을 비교한다(S230).
그리고 제어부(310)는 연산된 회절효율 결과가 이전에 연산되어 입력된 회절효율 값보다 감소하였는지 여부를 판단하고(S250), 회절효율이 감소하였다면 제어부(310)는 각도조절미러(220)의 반사각도를 조절하도록 각도조절미러(220)에 조절신호를 전송한다. 각도조절신호는 제어부(310)에 미리 설정되어 입력된 다양한 각도에 대한 동작 신호일 수 있다(S240).
각도가 조절되면 다시 제 1광량 감지기(240)와 제 2광량 감지기(260) 그리고 제 3광량 감지기(290)에서 광의 회절효율을 감지하고, 이후 계속해서 전술한 과정을 반복하여 최적의 회절효율을 발생시키는 각도를 찾는다. 그리고 회절효율이 최 적 상태가 되는 각도를 찾게 되면 광정보 검출을 광정보 검출기(280)로 진행한다(S260).
전술한 바와 같은 본 발명의 실시예에 따른 광정보 재생장치, 광정보 기록재생장치 그리고 광정보 처리장치의 회절효율 측정방법에서 다른 부가적인 기능을 가진 구성요소가 추가되거나. 또는 다른 구성요소로 교체하여 실시할 수 있을 것이다. 그러나 변형된 다른 실시예가 본 발명의 필수구성요소를 포함하고, 광정보 저장매체를 통과한 광과 광정보 저장매체를 통과하기 전 광의 세기를 감지하여 회절효율을 측정하도록 한 것이라면 모두 본 발명의 기술적 범주에 포함된다고 보아야 한다.
이상과 같은 본 발명에 따른 광정보 재생장치, 광정보 기록재생장치 그리고 광정보 처리장치의 회절효율 측정방법은 광정보를 재생하기 위하여 광정보 저장매체에 입사되는 기준광의 입사 전 광량과 광정보 저장매체를 통과한 광량을 검출하여 비교하여 광의 회절효율을 측정함으로써 보다 신속하고, 정확한 회절효율의 측정이 가능하고, 또한 측정된 회절효율을 광정보 재생시 가능한 한 신속하게 반영하도록 함으로써 광정보 재생효율을 보다 향상시키도록 하는 효과가 있다.

Claims (16)

  1. 광원;
    상기 광원으로부터 주사된 광을 광정보 저장매체로 안내하는 광학계;
    상기 광학계 상에 위치하여 상기 광의 광량을 감지하는 제 1 광량 감지기;
    상기 광정보 저장매체를 통과한 상기 광의 광량을 감지하는 제 2 광량 감지기;
    상기 제 1 광량 감지기와 상기 제 2 광량 감지기에서 감지된 상기 광의 광량을 비교하여 상기 광의 회절효율을 연산하는 연산부;
    상기 광정보 저장매체를 통과한 광에 의하여 재생된 광정보를 검출하는 광정보 검출기를 구비한 것을 특징으로 하는 광정보 재생장치.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 제 1광량 감지기는 상기 광이 투과하고, 상기 광의 일부가 반사되도록 한 투과판과, 상기 투과판에서 반사된 상기 광을 감지하는 포토다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 광정보 재생장치.
  3. 제 1항에 있어서, 상기 제 2광량 감지기는 상기 광정보 저장매체를 통과한 상기 광을 감지하는 포토다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 광정보 재생장 치.
  4. 제 1항에 있어서, 상기 제 2광량 감지기에서 감지하는 상기 광은 상기 광정보 저장매체로 입사된 광의 영차수 광(zero order beam)인 것을 특징으로 하는 광정보 재생장치.
  5. 제 1항에 있어서, 상기 광학계에는 상기 연산부에서 연산된 결과에 따라 상기 광의 입사 각도를 조절하는 각도조절미러를 포함하는 것을 특징으로 하는 광정보 재생장치.
  6. 광원;
    상기 광원으로부터 제공된 광을 분할하는 빔스플리터;
    상기 빔스플리터로부터 분리된 하나의 광에 데이터를 로딩하여 광정보 저장매체에 입사하는 신호광 광학계;
    상기 편광 빔스플리터로부터 분리된 다른 하나의 광을 상기 광정보 저장매체로 안내하는 기준광 광학계;
    상기 기준광 광학계 상에 위치하여 상기 광의 광량을 감지하는 제 1 광량 감지기;
    상기 광정보 저장매체를 통과한 상기 광의 광량을 감지하는 제 2 광량 감지기;
    상기 제 1 광량 감지기와 상기 제 2 광량 감지기에서 감지된 상기 광의 광량을 비교하여 상기 광의 회절효율을 연산하는 연산부;
    상기 광정보 저장매체를 통과한 광에 의하여 재생된 광정보를 검출하는 광정보 검출기를 구비한 것을 특징으로 하는 광정보 기록재생장치.
  7. 제 6항에 있어서, 상기 광원과 상기 빔스플리터 사이에는 제 3광량 감지기가 위치하고, 상기 연산부는 상기 제 2광량 감지기에서 감지된 광량에 상기 빔스플리터의 투과율(transmissivity)을 반영(reflecting)하여 상기 제 3광량 감지기에서 감지된 광량을 비교하여 연산하는 것을 특징으로 하는 광정보 기록재생장치.
  8. 제 7항에 있어서, 상기 빔스플리터의 투과율은 상기 제 1광량 감지기와 상기 제 3광량 감지기에서 감지된 광의 광량을 비교하여 얻는 것을 특징으로 하는 광정보 기록재생장치.
  9. 제 8항에 있어서, 상기 제 1광량 감지기와 상기 제 3광량 감지기는 각각이 상기 광이 투과하고, 상기 광의 일부가 반사되도록 한 투과판과, 상기 투과판에서 반사된 상기 광을 감지하는 포토다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 광정보 기록재생장치.
  10. 제 6항에 있어서, 상기 제 2광량 감지기는 포토다이오드인 것을 특징으로 하는 광정보 기록재생장치.
  11. 제 6항에 있어서, 상기 제 2광량 감지기는 상기 광정보 저장매체를 통과한 상기 광의 영차수 광(zero order beam)을 감지하는 것을 특징으로 하는 광정보 기록재생장치.
  12. 제 6항에 있어서, 상기 기준광 광학계에는 상기 연산부에서 연산된 회절효율에 따라 상기 광의 입사 각도를 조절하는 각도조절미러가 구비된 것을 특징으로 하는 광정보 기록재생장치.
  13. 광을 광정보가 저장된 광정보 저장매체 측으로 입사하는 단계;
    상기 광정보 저장매체에 입사되기 전 상기 광의 광량을 감지하는 단계;
    상기 광정보 저장매체를 통과하여 광정보 검출기로 진행하는 재생광의 회절위치와 다른 위치로 회절된 광의 광량의 감지하는 단계;
    상기 광정보 저장매체에 입사되기 전 감지된 상기 광의 광량과 상기 광정보 저장매체를 통과한 상기 다른 위치로 회절된 광의 광량을 비교하여 상기 광정보 저장매체에서의 상기 광의 회절효율을 측정하는 단계로 된 것을 특징으로 하는 광정보 처리장치의 회절효율 측정방법.
  14. 제 13항에 있어서, 상기 다른 위치로 회절된 광은 상기 광정보 저장매체로 입사되는 광의 영차수 광인 것을 특징으로 하는 광정보 처리장치의 회절효율 측정방법.
  15. 제 13항에 있어서, 상기 회절효율이 설정된 회절효율보다 떨어지면 상기 광이 상기 광정보 저장매체로 입사되는 각도를 변경하는 것을 특징으로 하는 광정보 처리장치의 회절효율 측정방법.
  16. 제 15항에 있어서, 상기 설정된 회절효율은 이전에 측정된 다른 재생광의 회절효율인 것을 특징으로 하는 광정보 처리장치의 회절효율 측정방법.
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