KR100552655B1 - 반도체 기억 소자의 파워 업 회로 및 그 보상 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (22)
- 반도체 기억 소자에 있어서,외부 전원 전압을 분압시키는 분압부;상기 외부 전원 전압을 이용하여 소정 기간 동안 상기 분압부로부터 출력되는 전압을 제어할 수 있는 제어 신호를 발생시키기 위한 지연제어부; 및상기 제어 신호를 이용하여 소정 기간 지연된 파워 업 신호를 발생시킬 수 있는 신호발생부를 포함하는 파워 업 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 지연제어부는,인가되는 상기 외부 전원 전압이 안정화될 때까지 외부 전원 전압의 기울기를 이용하여 제어용 전압을 발생시키는 제어전압발생부; 및상기 제어전압발생부에서 발생된 제어전압에 제어되어 스위칭되는 제1 스위칭부를 포함하는 파워 업 회로.
- 제2항에 있어서, 상기 제어전압발생부는,제1 노드;일측은 상기 외부 전원 전압단에 연결되고, 타측은 상기 제1 노드에 연결되는 커패시터; 및일측은 상기 제1 노드에 연결되고, 타측은 접지 전압단에 연결되는 저항을 포함하는 파워 업 회로.
- 제3항에 있어서, 상기 분압부는,일측에 상기 외부 전원 전압을, 타측에 접지전압을 인가받아 저항비에 따라 외부 전원 전압을 분압하여 출력하기 위한 직렬연결된 제1 및 제2 저항을 포함하는 파워 업 회로.
- 제4항에 있어서, 상기 제1 스위칭부는,상기 제1 노드에 인가되는 전위에 제어되어 상기 분압부로부터 출력되는 전압을 제어할 수 있는 모스 트랜지스터를 포함하는 파워 업 회로.
- 제5항에 있어서, 상기 신호발생부는,제2 노드;상기 분압부로부터 출력되는 전압에 제어되고, 일측은 상기 제2 노드에, 타측은 접지전압단에 연결되는 제2 스위칭부; 및일측은 상기 외부 전원 전압단에, 타측은 상기 제2 노드에 연결되는 저항을 포함하는 파워 업 회로.
- 제6항에 있어서, 상기 신호발생부 내 저항은,모스 타입 저항인 파워 업 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 지연제어부는,인가되는 상기 외부 전원 전압이 안정화될 때까지 외부 전원 전압의 기울기를 이용하여 제어용 전압을 발생시키는 제어전압발생부; 및상기 제어용 전압에 제어되어 외부 전원 전압을 상기 분압부에 공급하기 위한 제1 스위칭부를 포함하는 파워 업 회로.
- 제8항에 있어서, 상기 분압부는,제1 노드; 및일측에 상기 외부 전원 전압을, 타측에 접지전압을 인가받아 저항비에 따라 외부 전원 전압을 분압하여 상기 제1 노드로 출력하기 위한 직렬연결된 제1 및 제2 저항을 포함하는 파워 업 회로.
- 제9항에 있어서, 상기 지연제어부는,상기 분압부 내 제2 저항에 걸리는 제2 저항 전압에 제어되면서 상기 외부 전원 전압을 상기 제1 노드에 공급하기 위한 전원보상부를 더 포함하는 파워 업 회로.
- 제10항에 있어서, 상기 제어전압발생부는,제2 노드;일측은 상기 외부 전원 전압단에 연결되고, 타측은 상기 제2 노드에 연결되는 커패시터; 및일측은 상기 제2 노드에 연결되고, 타측은 접지 전압단에 연결되는 저항을 포함하는 파워 업 회로.
- 제11항에 있어서, 상기 제1 스위칭부는,상기 제2 노드에 인가되는 전위에 제어되어 상기 외부 전원 전압을 상기 분압부로공급하기 위한 모스 트랜지스터를 포함하는 파워 업 회로.
- 제12항에 있어서, 상기 신호발생부는,제3 노드;상기 분압부로부터 출력되는 전압에 제어되고, 일측은 상기 제3 노드에, 타측은 접지전압단에 연결되는 제2 스위칭부; 및일측은 상기 외부 전원 전압단에, 타측은 상기 제3 노드에 연결되는 저항을 포함하는 파워 업 회로.
- 제13항에 있어서, 상기 신호발생부 내 저항은,모스 타입 저항인 파워 업 회로.
- 제10항에 있어서, 상기 지연제어부는,상기 제어용 전압에 제어되어 상기 분압부로부터 출력되는 전압을 제어할 수 있는 제2 스위칭부를 더 포함하는 파워 업 회로.
- 제15항에 있어서, 상기 제어전압발생부는,제2 노드;일측은 상기 외부 전원 전압단에 연결되고, 타측은 상기 제2 노드에 연결되는 커패시터; 및일측은 상기 제2 노드에 연결되고, 타측은 접지 전압단에 연결되는 저항을 포함하는 파워 업 회로.
- 제16항에 있어서, 상기 제1 스위칭부는,상기 제2 노드에 인가되는 전위에 제어되어 상기 외부 전원 전압을 상기 분압부로공급하기 위한 모스 트랜지스터인 파워 업 회로.
- 제17항에 있어서, 상기 신호발생부는,제3 노드;상기 분압부로부터 출력되는 전압에 제어되고, 일측은 상기 제3 노드에, 타측은 접지전압단에 연결되는 제3 스위칭부; 및일측은 상기 외부 전원 전압단에, 타측은 상기 제3 노드에 연결되는 저항을 포함하는 파워 업 회로.
- 제18항에 있어서, 상기 신호발생부 내 저항은,모스 타입 저항인 파워 업 회로.
- 반도체 기억 소자에 있어서,외부 전원 전압을 분압하여 분압 전압을 출력하는 분압 단계;인가되는 상기 외부 전원 전압이 안정화될 때까지 외부 전원 전압의 기울기를 이용하여 제어용 전압을 발생시키는 제어전압발생단계; 및상기 제어용 전압에 제어되어 상기 분압 전압의 출력을 방지하기 위한 출력 방지 신호를 발생시키는 방지신호발생단계를 포함하는 파워 업 보상 방법.
- 반도체 기억 소자에 있어서,인가되는 외부 전원 전압이 안정화될 때까지 외부 전원 전압의 기울기를 이용하여 제어용 전압을 발생시키는 제어전압발생단계;상기 제어용 전압에 제어되어 상기 외부 전원 전압의 공급을 스위칭하는 스위칭단계; 및상기 스위칭단계의 동작에 따라 공급된 상기 외부 전원 전압을 분압하여 분압 전압을 출력하는 분압 단계를 포함하는 파워 업 보상 방법.
- 제21항에 있어서,상기 제어용 전압에 제어되어 상기 분압 전압의 출력을 방지하기 위한 출력 방지 신호를 발생시키는 방지신호발생단계를 더 포함하는 파워 업 보상 방법.
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US20070236262A1 (en) * | 2006-04-10 | 2007-10-11 | Stmicroelectronics, Inc. | Low voltage output circuit |
KR100937948B1 (ko) * | 2008-06-04 | 2010-01-21 | 주식회사 하이닉스반도체 | 파워 업 신호 생성회로와 생성 방법 |
JP2010147979A (ja) * | 2008-12-22 | 2010-07-01 | Elpida Memory Inc | 半導体装置およびパワーオンリセット回路の調整方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09270686A (ja) * | 1996-02-01 | 1997-10-14 | Fujitsu Ltd | パワーオン・リセット回路 |
KR19980069158A (ko) * | 1997-02-27 | 1998-10-26 | 김광호 | 파워 온 리셋 회로 |
KR20000003605A (ko) * | 1998-06-29 | 2000-01-15 | 김영환 | 파워-업 감지장치 |
KR20030027198A (ko) * | 2001-09-14 | 2003-04-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 파워-업 발생회로 |
JP2003304146A (ja) | 2002-04-08 | 2003-10-24 | Oki Electric Ind Co Ltd | パワーオンリセット回路 |
KR20040008796A (ko) * | 2002-07-19 | 2004-01-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | 파워 업 회로 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4717840A (en) * | 1986-03-14 | 1988-01-05 | Western Digital Corporation | Voltage level sensing power-up reset circuit |
US5420820A (en) * | 1994-05-31 | 1995-05-30 | Texas Instruments Incorporated | RAS input disable circuit |
US5642272A (en) * | 1994-10-21 | 1997-06-24 | Texas Instruments Incorporated | Apparatus and method for device power-up using counter-enabled drivers |
JPH08180678A (ja) * | 1994-12-27 | 1996-07-12 | Hitachi Ltd | ダイナミック型ram |
KR100363108B1 (ko) * | 1998-12-30 | 2003-02-20 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리장치와 그 장치의 리프레쉬주기 조절방법 |
US5917255A (en) * | 1998-01-20 | 1999-06-29 | Vlsi Technology, Inc. | Power-on-reset circuit having reduced size charging capacitor |
KR100408723B1 (ko) * | 2001-12-21 | 2003-12-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자의 파워-업 신호 발생장치 |
KR100476927B1 (ko) * | 2002-07-18 | 2005-03-16 | 삼성전자주식회사 | 파워-온 리셋 회로 및 파워-온 리셋 방법 |
KR100583097B1 (ko) * | 2002-12-31 | 2006-05-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 파워 업 검출 장치 |
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09270686A (ja) * | 1996-02-01 | 1997-10-14 | Fujitsu Ltd | パワーオン・リセット回路 |
KR19980069158A (ko) * | 1997-02-27 | 1998-10-26 | 김광호 | 파워 온 리셋 회로 |
KR20000003605A (ko) * | 1998-06-29 | 2000-01-15 | 김영환 | 파워-업 감지장치 |
KR20030027198A (ko) * | 2001-09-14 | 2003-04-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 파워-업 발생회로 |
JP2003304146A (ja) | 2002-04-08 | 2003-10-24 | Oki Electric Ind Co Ltd | パワーオンリセット回路 |
KR20040008796A (ko) * | 2002-07-19 | 2004-01-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | 파워 업 회로 |
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