KR100487755B1 - 굴절력측정방법 및 그 장치 - Google Patents

Abstract

측정광학계(1)의 측정광학로 도중에 패턴판(8)을 배치하고, 측정광원(5)의 측정광을 패턴판(8)을 개재하여 수광센서(9)에 수광시키고, 소프트 콘택트렌즈(TL)를 측정광로 도중에 배치했을 때, 수광센서(9)의 패턴광의 변화를 구함으로써, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 광학 특성값을 구하도록 한 측정방법에 있어서, 젖은 상태의 소프트 콘택트렌즈(TL)를 측정광로 도중에 배치하고, 측정광이 소프트 콘택트렌즈(TL)에서 산란하는 산란광을 수광센서(9)로 수광시켜, 산란광의 산란상태를 수광신호의 변화로부터 구하여, 수광센서(9)의 수광신호가 설정값 이하일 때의 광학 특성값을 구하는 소프트 콘택트렌즈의 광학특성 측정방법.

Description

굴절력 측정방법 및 그 장치{METHOD FOR MEASURING REFRACTIVE POWER AND APPARATUS THEREFOR}

본 발명은, 공기 중에서 소프트 콘택트렌즈의 광학 특성값을 정밀하게 측정할 수 있는 굴절력 측정방법 및 그 장치에 관한 것이다.

종래부터, 소프트 콘택트렌즈는, 하드 콘택트렌즈에 비해 부드러워서, 이 소프트 콘택트렌즈를 공기 중에서 렌즈받침대 플레이트에 유지시켜 측정을 행할 때에 그 형상이 자중에 의해 변형되기 쉽다.

또한, 그 콘택트렌즈에 다량의 수분이 함유되어 있어, 공기 중에 장시간 방치하면, 콘택트렌즈에 함유되어 있는 수분이 증발하기 때문에, 공기 중에서 소프트 콘택트렌즈의 광학특성을 렌즈미터로써 측정하면, 측정값에 오차가 생기기 쉽다. 이 때문에, 소프트 콘택트렌즈의 측정에는, 숙련과 측정의 신속함이 요구되고 있다.

그래서, 콘택트렌즈를 액속에 침적하고 소프트 콘택트렌즈의 형상을 유지하면서 그 광학 특성값을 측정하는 렌즈미터가 개발되고 있다.

이 것으로는, 소프트 콘택트렌즈의 형상을 유지하면서도 수분의 증발을 수반하지 않고 광학 특성값을 측정할 수 있으므로, 요령을 그다지 필요로 하지 않으며, 또, 신속함도 그다지 요구되지 않아 소프트 콘택트렌즈의 광학 특성값을 측정할 수 있다.

그러나, 액체 중에서 측정했을 때의 소프트 콘택트렌즈의 광학 특성값과 공기 중에서 측정했을 때의 소프트 콘택트렌즈의 광학 특성값은, 그 소프트 콘택트렌즈의 광학 특성값이 다르다. 즉, 액체 중에서 측정했을 때의 광학 특성값은, 소프트 콘택트렌즈의 굴절률과 액체의 굴절률의 차인 굴절률 차가 소프트 콘택트렌즈의 굴절률과 공기의 굴절률의 차인 굴절률 차보다도 작다. 이로 인해, 액체 중에서 측정했을 때의 소프트 콘택트렌즈의 광학 특성값이 공기 중에서 측정했을 때의 소프트 콘택트렌즈의 광학 특성값보다도 작게 얻어진다.

따라서, 액체 중에서 소프트 콘택트렌즈의 광학특성을 측정했을 때에는, 그 소프트 콘택트렌즈의 광학 특성값을 공기 중에서의 광학 특성값으로 환산해야 하며, 그 환산에 소프트 콘택트렌즈의 재질의 굴절률이 필요하다.

그런데, 소프트 콘택트렌즈의 재질의 굴절률은 일반적으로 아직 알려지지 않은 것이 많으므로, 액체 중에서 측정했을 때에는 그 소프트 콘택트렌즈의 광학 특성값으로부터 눈에 착용했을 때의 광학 특성값을 나타내는 공기 중에서의 광학 특성값으로의 환산을 정확하게 행할 수 없으며, 액체 중에서 측정한 소프트 콘택트렌즈의 광학 특성값을 환산하여 얻어진 환산 광학 특성값은 그 신뢰성이 낮다고 하는 문제점이 있다.

본 발명은, 상기의 사정을 감안하여 이루어진 것으로, 그 목적으로 하는 바는, 공기 중에서 소프트 콘택트렌즈의 광학 특성값을 정밀하게 측정할 수 있는 굴절력 측정방법 및 그 장치를 제공하는 데 있다.

도 1은, 본 발명에 따른 콘택트렌즈 광학특성 측정장치에서 일예로서의 렌즈미터(lens meter)의 광학계 및 이 처리회로의 블록도이다.

도 2는, 도 1의 패턴판의 평면도이다.

도 3은, 도 1의 수광센서와 개구의 패턴상(像)과의 관계를 나타낸 설명도이다.

도 4는, 본 발명에 따른 소프트 콘택트렌즈의 표면상태의 변화를 과장하여 나타낸 도면으로서, 도 4(a)는 소프트 콘택트렌즈가 다량의 액체에 의해 젖어있는 상태를 나타낸 도면, 도 4(b)는 소프트 콘택트렌즈가 적량의 액체에 의해 젖어 그 표면이 매끄러운 상태를 나타낸 도면, 도 4(c)는 소프트 콘택트렌즈가 말라서, 그 표면이 거칠어져 있는 상태를 나타낸 도면이다.

도 5는, 도 1의 수광센서와 측정시의 개구 패턴상의 관계를 나타낸 설명도이다.

도 6은, 도 1의 수광센서와 측정시의 다른 개구 패턴상과의 관계를 나타낸 설명도이다.

도 7(a)는 산란광이 있는 경우의 측정광속(光束)의 설명도, 도 7(b)는 도 7(a)의 측정광속에 의한 수광센서의 출력의 설명도이다.

도 8(a)는 산란광이 있는 경우의 측정광속의 설명도, 도 8(b)는 도 8(a)의 측정광속에 의한 수광센서의 출력의 설명도이다.

도 9(a)는 산란광이 있는 경우의 측정광속의 설명도, 도 9(b)는 도 9(a)의 측정광속에 의한 수광센서의 출력의 설명도이다.

도 10은, 도 7(b)∼도 7(c)의 수광센서의 출력을 겹쳐서 나타낸 설명도이다.

도 11은, 산란광 강도를 시간의 경과와 함께 나타낸 산란광 강도 특성선도이다.

도 12는, 본 발명의 실시예 2에 따른 안굴절력 측정장치(콘택트렌즈 광학특성 측정장치)의 사시도이다.

도 13은, 도 12의 좌측면도이다.

도 14는, 도 12의 안면고정장치의 사시도이다.

도 15는, 도 14의 턱받침대에 콘택트렌즈 측정용의 어태치먼트를 장착한 사시도이다.

도 16은, 도 15의 어태치먼트의 부분단면도이다.

도 17(a)는, 도 16의 A-A선을 따르는 단면도이다.

도 17(b)는, 소프트 콘택트렌즈의 면상에서의 링패턴 광속의 회전상태를 나타낸 설명도이다.

도 18은, 본 발명의 실시예 2에 따른 안굴절력 측정장치를 나타낸 광학계의 설명도이다.

도 19는, 도 18의 광학계에 의해 눈 안쪽에 결상되어 있는 패턴상의 상태를 나타낸 설명도이다.

도 20은, 도 18의 광학계의 수광소자에 결상된 패턴상과 피크위치의 관계를 나타낸 설명도이다.

도 22(A)∼(F)는, 도 18의 눈 안쪽에 결상된 패턴상을 임의로 기억시킨 예와 그 패턴상에 대응되는 피크위치의 관계를 나타낸 설명도이다.

도 22는, 편향부재의 변형예를 나타내고, 도 21(A)는 광속 무편향상태의 로터리 프리즘의 설명도, 도 21(B)는 광속 편향상태의 로터리 프리즘의 설명도이다.

도 23은, 도 18에 나타내 안굴절력 측정장치를 이용한 콘택트렌즈의 측정예를 나타낸 설명도이다.

도 24는, 본 발명의 실시예 3에 따른 콘택트렌즈의 굴절력 측정장치의 측면도이다.

도 25는, 도 24의 굴절력 측정장치의 광학계의 설명도이다.

도 26은, 제 4실시예의 구성을 나타낸 설명도이다.

도 27은, 소프트 콘택트렌즈의 광학특성의 시간경과에 따른 변화를 나타낸 그래프이다.

도 28은, 제 5실시예의 구성을 나타낸 설명도이다.

도 29는, 제 6실시예의 구성을 나타낸 설명도이다.

도 30은, 제 7실시예의 구성을 나타낸 설명도이다.

도 31은, CCD에 결상되는 소프트 콘택트렌즈를 나타낸 설명도이다.

이 목적을 달성하기 위해, 청구항 1의 발명은, 소프트 콘택트렌즈의 광학 특성값을 구하도록 한 굴절력 측정방법에 있어서,

젖은 상태의 상기 소프트 콘택트렌즈를 공기 중에, 또 측정광로 도중에 배치했을 때, 상기 소프트 콘택트렌즈에서 산란하는 산란광을 수광하는 수광소자로써 수광시켜, 상기 산란광의 산란상태를 산란광을 수광하는 상기 수광소자로부터 출력되는 수광신호의 변화로부터 구함과 동시에, 이 수광신호가 소정 조건을 만족하였을 때 상기 광학 특성값을 구하는 것을 특징으로 한다.

청구항 7의 발명은, 소프트 콘택트렌즈의 광학 특성값을 구하도록 한 굴절력 측정장치에 있어서,

젖은 상태의 상기 소프트 콘택트렌즈를 공기 중에, 또 측정광로 도중에 배치했을 때, 상기 소프트 콘택트렌즈에서 산란하는 산란광을 수광하는 수광소자와, 이 수광소자로부터 출력되는 수광신호가 소정 조건을 만족하였을 때 상기 광학 특성값을 구하는 연산수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.

청구항 12의 발명은, 광원으로부터 수광소자까지의 측정광로 도중에 패턴광 형성수단을 배치하고, 상기 광원으로부터의 측정광을 상기 패턴광 형성수단에 의해 패턴광으로써 상기 수광소자에 수광시키도록 한 측정광학계와,

상기 측정광로 도중에 소프트 콘택트렌즈를 배치했을 때, 상기 수광소자에서 수광되는 패턴광의 변화를 상기 수광소자로부터 출력되는 수광신호의 변화로부터 구함으로써, 상기 측정광로 도중에 배치된 소프트 콘택트렌즈의 광학 특성값을 구하는 연산제어회로를 구비하는 굴절력 측정장치에 있어서,

상기 측정광이 소프트 콘택트렌즈를 투과할 때에 생기는 산란광을 수광하여 산란광 수광신호를 출력하는 산란광 수광부가 상기 수광소자와는 별도로 설치되어 있음과 동시에,

상기 연산제어회로는, 젖은 상태의 상기 소프트 콘택트렌즈가 상기 렌즈받침대에 놓여져 측정이 개시된 때부터의 상기 산란광 수광신호가 설정값 이하일 때의 상기 수광신호로부터 상기 광학 특성값을 구하는 것을 특징으로 한다.

청구항 13의 발명은, 렌즈받침대에 세트되고, 또 액체에 젖은 소프트 콘택트렌즈에 측정광을 투영하는 측정광학계와, 상기 소프트 콘택트렌즈를 투과한 측정광을 수광하는 수광수단을 갖는 수광광학계와, 상기 수광수단의 출력신호에 의거하여 소프트 콘택트렌즈의 광학특성을 소정 시간마다 연산해가는 연산수단을 구비한 굴절력 측정장치에 있어서,

상기 연산수단이 연산한 광학특성의 시계열로부터, 액체에 젖은 소프트 콘택트렌즈의 정확한 광학특성을 판정하는 판정수단을 설치한 것을 특징으로 한다.

청구항 14의 발명은, 렌즈받침대에 세트되고, 또 액체에 젖은 소프트 콘택트렌즈에 측정광을 투영하는 측정광학계와, 상기 소프트 콘택트렌즈를 투과한 측정광을 수광하는 수광수단을 갖는 수광광학계와, 상기 수광수단의 출력신호에 의거하여 소프트 콘택트렌즈의 광학특성을 소정 시간마다 연산해가는 연산수단을 구비한 굴절력 측정장치에 있어서,

상기 연산수단에 의해 연산된 광학특성을 시계열로 기억해가는 기억수단과,

이 기억수단에 기억된 시계열의 광학특성으로부터, 액체에 젖은 소프트 콘택트렌즈의 정확한 광학특성을 판정하는 판정수단을 설치하는 것을 특징으로 한다.

이하, 본 발명의 실시예 1를 도면에 의거하여 설명한다.

(구성)

도 1에 있어서, 1은 굴절력 측정장치의 일예로서의 렌즈미터의 측정광학계이다. 이 측정광학계(1)는 측정광 투영광학계(2)와 수광광학계(3) 사이에는 렌즈받침대(4)이 배치되어 있다.

측정광 투영광학계(2)는, 측정광원(5), 핀홀판(6), 콜리메이트 렌즈(7)를 갖는다. 또, 수광광학계(3)는, 패턴판(패턴수광 형성수단)(8) 및 에리어CCD 등의 수광센서(9)를 갖는다. 이 패턴판(8)에는 도 2에 나타낸 바와 같이 4개의 개구패턴(8a)이 형성되어 있다. 또, 수광소자인 수광센서(9)(수광신호)는, 전면(全面)이 측정신호 수광부 및 산란광 수광부가 된다. 도면에서, O는 광학계의 측정광축이다.

수광센서(9)의 출력신호(수광신호)는, 연산제어회로(연산제어수단:연산수단) (10)에 입력되도록 되어 있다. 즉, 수광센서(9)의 중앙부 측의 출력신호는 측정신호로서 연산제어회로(10)에 입력되고, 수광센서(9)의 주변부의 출력신호는 산란광 측정신호로서 연산제어회로(10)에 입력된다.

이 연산제어회로(10)에는, 측정모드 절환용 스위치(S1,S2)로부터의 ON신호가 입력되도록 되어 있다. 스위치(S1)는 소프트 콘택트렌즈의 공기 중에서의 광학특성을 측정하는 모드로 렌즈미터를 설정하는 역할을 수행한다. 스위치(S2)는 그 렌즈미터를 소프트 콘택트렌즈 이외의 피검(被檢)렌즈, 가령, 하드 콘택트렌즈의 측정모드, 안경렌즈의 측정모드로 설정하는 역할을 수행한다.

또, 연산제어회로(10)에는, 모니터 텔레비전이나 액정표시기 등의 표시장치(표시수단)(11), 및, 메모리(M)가 접속되어 있다. 연산제어회로(10)는, 단시간(短時間)마다 반복하여 소프트 콘택트렌즈(TL)의 S, C, A를 구해가는 것으로, 이 구한 S, C, A를 표시장치(11)에 표시시켜 가고, 그 측정마다 표시장치(11)에 표시된 S, C, A값을 갱신해간다.

(작용)

다음에, 이러한 구성의 렌즈미터의 연산제어회로(10)의 기능을 작용과 함께 설명한다.

도시하지 않은 전원을 투입하면, 연산제어회로(10)가 동작함과 동시에, 연산제어회로(10)에 의해 측정광 투영광학계(2)의 측정광원(5)이 점등된다. 이 측정광원(5)으로부터의 측정광(조명광)은, 핀홀판(6)의 핀홀(6a)을 투과한 후, 콜리메이터 렌즈(7)로 입사하여, 콜리메이터 렌즈(7)에 의해 평행한 측정광속(평행광속)으로 되어 렌즈받침대(4)측으로 투영된다.

여기서, 렌즈받침대(4)에 피검렌즈가 놓여 있지 않을 때에는, 평행한 측정광속이 굴절되지 않으면 패턴판(8)의 4개의 개구패턴(8a)은 도 3에 나타낸 바와 같이 그대로 수광센서(9)에 개구패턴(8a')으로서 투영된다. 이 때 수광센서(9)로부터의 신호가 연산제어회로(10)에 입력되고, 연산제어회로(10)는 이 때의 개구패턴(8a')의 좌표를 광학특성 연산을 위한 패턴기준 데이터로서 메모리(M)에 기억되어 있다.

또, 렌즈받침대(4)에 피검렌즈가 놓여wu 있을 때에는, 평행한 측정광속이 피검렌즈를 투과하여 굴절했을 때, 이 굴절된 측정광속에 의해 패턴판(8)의 4개의 개구패턴(8a)이 확대 또는 축소된 개구 패턴상으로서 수광센서(9)에 투영된다.

한편, 스위치(S1)를 ON시키면 연산제어회로(10)는, 소프트 콘택트렌즈의 공기 중에서의 광학 특성값을 측정하는 모드로 렌즈미터를 설정한다. 또, 스위치(S2)를 ON시키면 연산제어회로(10)는, 렌즈미터를 소프트 콘택트렌즈 이외의 피검렌즈, 가령, 하드 콘택트렌즈의 측정모드, 안경렌즈의 측정모드로 설정한다.

<소프트 콘택트렌즈의 측정>

여기서는, 소프트 콘택트렌즈를 측정할 경우에 대해서 설명하는데, 먼저 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면형상에 대해서 설명한다.

(1)소프트 콘택트렌즈의 표면상태의 변화

소프트 콘택트렌즈(TL)를 렌즈받침대(4)상에 올려놓고, 소프트 콘택트렌즈 (TL)의 광학특성의 측정을 개시할 경우, 통상은, 렌즈 수납용기내의 생리식염수 중에 침지(浸漬)되어 있는 소프트 콘택트렌즈(TL)를 렌즈 수납용기로부터 꺼내어, 이 소프트 콘택트렌즈(TL)를 도 1과 같이 렌즈받침대(4)에 올려놓는다. 이 경우, 올려놓은 직후에는, 다량의 생리식염수 또는 물 등의 액체(12)가 소프트 콘택트렌즈 (TL)의 표면에 도 4(a)에 나타낸 바와 같이 부착되어 있다.

또, 소프트 콘택트렌즈(TL)를 렌즈받침대(4)상에 올려놓고 나서 시간이 경과하여 소프트 콘택트렌즈(TL)가 마른 후에, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 측정을 개시할 경우, 또는 렌즈받침대(4)상에 마른 소프트 콘택트렌즈(TL)를 올려놓고 측정을 개시할 경우, 도시를 생략한 스포이트로부터 생리식염수를 소프트 콘택트렌즈(TL)상에 떨어뜨려, 다량의 생리식염수 또는 물 등의 액체(14)를 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면에 도 4(a)에 나타낸 바와 같이 부착시킨다. 이는 사용상태와 같은 조건에서 소프트 콘택트렌즈(TL)의 굴절특성을 측정할 필요가 있기 때문이다.

그리고, 측정개시 시부터 소프트 콘택트렌즈(TL)는, (ⅰ)다량 액체 보유상태, (ⅱ)잘 배인 상태, (ⅲ)건조상태 순서로 변화한다.

(ⅰ)측정개시 시(다량 액체 보유상태)

즉 측정개시 시에는, 소프트 콘택트렌즈(TL)를 도 4(a)에 나타낸 바와 같이 적셔서, 액체(14)가 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면에 다량으로 부착된 상태로 한다. 이 도 4(a)와 같이 액체(14)가 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면에 다량으로 부착된 상태에서는, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면에 액체(14)가 물방울 모양으로 되어 요철(凹凸)형상으로 부착된 상태가 된다.

(ⅱ)측정중기(잘 배인 상태)

그러나, 측정중에 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면에 부착된 액체(14)가 표면의 완곡을 따라 흘러내리거나, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면에 부착된 액체(14)의 일부가 증발 혹은 소프트 콘택트렌즈(TL)에 흡수되거나 하여, 액체(14)가 소프트 콘택트렌즈(TL)에 잘 배게 된다. 이, 잘 배인 상태에서는, 소프트 콘택트렌즈(TL) 표면의 액체(14)가 도 4(b)에 나타낸 바와 같이 균일한 두께의 층상이 되거나, 이 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면이 매끄러운 상태가 되도록 적당히 마른다.

(ⅲ)측정후기(건조상태)

또한, 소프트 콘택트렌즈(TL)에 의한 수분의 흡수가 진행되고, 소프트 콘택트렌즈(TL)가 마르면, 도 4(c)에 나타낸 바와 같이, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면(14a), 이면(14b)은 거친면(粗面)상태가 된다.

(2)소프트 콘택트렌즈의 측정

소프트 콘택트렌즈의 광학특성을 측정할 경우에는, 스위치(S1)를 ON시켜, 렌즈미터를 소프트 콘택트렌즈의 공기 중에서의 광학 특성값을 측정하는 모드로 한다.

이 상태에서, 소프트 콘택트렌즈(TL)를 렌즈받침대(4)상에 올려놓는다. 이에 따라, 측정광원(5)으로부터의 측정광(조명광)은, 핀홀판(6)의 핀홀(6a)을 투과한 후, 콜리메이터 렌즈(7)로 입사하여, 콜리메이터 렌즈(7)에 의해 평행한 측정광속(평행광속)으로 되어 렌즈받침대(4)상의 소프트 콘택트렌즈(TL)로 투영된다.

이 평행한 측정광속은 소프트 콘택트렌즈(TL)를 투과하여 굴절된 후, 이 굴절된 측정광속에 의해 패턴판(8)의 4개의 개구패턴(8a)이 수광센서(9)로 투영된다.

이 때, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면이 매끄러운 상태로 되어 있으면, 평행한 측정광속은 소프트 콘택트렌즈(TL)의 굴절력만으로 굴절하여 4개의 개구패턴 (8a)을 수광센서(9)로 투영시킨다. 또한, 소프트 콘택트렌즈(TL)가 오목렌즈 또는 볼록렌즈인지에 따라서, 4개의 개구패턴(8a)(4개의 개구패턴(8a)의 간격이나 개구패턴(8a)의 개구직경)이 수광센서(9)에 확대 또는 축소된 상태로 투영되어, 확대 또는 축소된 상태의 4개의 개구패턴(8a)의 개구 패턴상(8a')이 도 5와 같이 수광센서(9)의 중앙부측에 형성된다. 또한, 소프트 콘택트렌즈(TL)에 원주축이 없을 경우, 4개의 개구패턴(8a)의 개구 패턴상(8a')은 측정광측(O)을 중심으로 하는 원(r)위에 형성된다. 또, 소프트 콘택트렌즈(TL)에 원주축이 있는 경우, 4개의 개구패턴 (8a)의 개구 패턴상(8a')은 도 6과 같이 측정광축(O)을 중심으로 하는 타원 위에 형성된다. 또, 이 타원의 장축방향이 원주축과 마주보게 된다.

그리고, 이 개구 패턴상의 확대·축소율을 구함으로써, 소프트 콘택트렌즈 (TL)의 광학 특성값(S,C,A)을 구할 수 있다.

그런데, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 광학특성의 측정을 행할 경우, 액체(14)에 의해 충분히 젖은 상태의 소프트 콘택트렌즈(TL)를 렌즈받침대(4)상에 올려놓거나, 또는 렌즈받침대(4)상에 놓여진 소프트 콘택트렌즈(TL)에 액체(14)를 떨어뜨려 소프트 콘택트렌즈(TL)를 충분히 젖게끔 하고 있다. 이는 사용상태와 동일한 조건에서 소프트 콘택트렌즈(TL)의 굴절특성을 측정할 필요가 있기 때문이다.

그러나, 이 측정개시 시(측정개시 초기)에는 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면이 도 4(a)와 같이 다량의 액체(14)에 의해 요철형상으로 되어 있다. 이로 인해, 측정개시 시에 소프트 콘택트렌즈(TL)로 입사되는 평행한 측정광속은, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면에 부착된 요철형상의 액체(14)의 굴절력과 소프트 콘택트렌즈 (TL)의 굴절력에 의해 굴절한다. 즉, 측정개시 시에 소프트 콘택트렌즈(TL)로 입사하는 평행한 측정광속은, 요철형상의 굴절력에 영향을 받아 굴절 또는 산란한다.

이로 인해, 도 7(a)의 측정광속(15)에 의해 수광센서(9)로 투영되는 4개의 개구패턴(8a)의 개구 패턴상은 측정광축(O)을 중심으로 하는 원 위에나 또는 타원 위로부터 떨어진 위치에 형성된다.

뿐만 아니라, 도 7(a)에 나타낸 바와 같이 산란광(16)에 의한 개구패턴(8a)의 산란개구상(도시생략)이 수광센서(9)위에 형성된다. 이 때, 수광센서(9)로부터는 도 7(b)에 나타낸 바와 같이 측정광속(15)에 의한 출력(측정신호)(Oal)과 측정광속(16)에 의한 출력(산란광 측정신호)(Obl) 및 잡음이 되는 출력(Ocl)이 얻어진다. 이 잡음이되는 출력(Ocl)은 수광센서(9)의 전체에서 거의 동일한 레벨로 검출된다. 따라서, 이 출력(Obl)이나 출력(Ocl)이 검출되어 있는 상태에서는, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 광학특성을 정확하게 측정할 수 없는 상태에 있다.

그리고, 측정시간이 경과함에 따라 소프트 콘택트렌즈(TL) 표면의 액체(14)는 얇아져, 도 4(b), 도 8(a)에 나타낸 바와 같이, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면(14a)에 액체(14)가 잘 배인 상태가 되면, 도 7(b)에 나타낸 수광센서(9)로부터의 출력(Obl) 및 잡음인 출력(Ocl)이 「0」이 되어 도 8(b)에 나타낸 바와 같이 출력되지 않게 된다. 또한, 이 때, 도 7(b)의 출력(Oal)은 산란광이 감소한(거의 없어진)만큼 광량이 증가함과 동시에 선명하게 되어 도 8(b)와 같은 출력(Oa2)이 된다.

이 때에는, 그 광학 특성값(S,C,A)은 그 소프트 콘택트렌즈(TL)의 본래의 형상이 갖는 공기 중의 광학 특성값(S,C,A)과 정밀한 의미로 동일한 것이 된다. 따라서, 연산제어회로(10)는, 수광센서(9)로부터의 측정신호를 검출하여, 출력(Obl) 및 출력(Ocl)이 소정값 이하(설정값 이하, 즉 대략「0」에 가깝게)로 되었을 때(후술하는 도 11의 시간(t1))에, 연산하여 구한 광학 특성값(S,C,A)을 메모리(도시생략)에 기억시킨다. 이 메모리에 기억된 광학 특성값(S,C,A)은 갱신되는 일 없이 표시장치(11)에 계속 표시되게끔 된다.

광학 특성값(S,C,A)의 연산은, 출력(Oa2)(4개의 개구패턴(8a))에 대응하여 각각 있다)의 좌표를 메모리(M)에 측정패턴 데이터로서 시억시키고, 그리고, 연산제어회로(10)는, 이 측정패턴 데이터와 패턴 기준데이터로부터 수광센서(9)위에 있어서의 개구 패턴상의 확대·축소율 및 변화를 구하여, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 광학 특성값(S,C,A)을 연산한다.

또한, 측정시간이 경과하면, 도 4(c), 도 9(a)에 나타낸 바와 같이, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면, 이면이 거친상태가 된다. 이 때에는, 도 9(a)에 나타낸 바와 같이 산란광(16')이 수광센서(9)위에 거의 균일하게 투영되므로, 수광센서(9)로 투영되는 개구패턴(8a)의 광량이 저하됨과 동시에, 산란광에 의한 출력(Oc2)이 잡음(노이즈)으로서 얻어진다. 이로 인해, 도 8(b)의 출력(Oa2)은 광량이 도 7(b)의 출력(Oal)보다 더욱 감소하여 도 9(b)에 나타낸 바와 같이 출력(Oa3)이 된다. 이 경우에는, 소프트 콘택트렌즈(TL)를 개재하여 수광센서(9)에 투영되는 개구패턴 (8a)의 개구 패턴상은 선명한 상으로서 얻어지지 않고 희미해지므로, 광학 특성값 (S,C,A)은 그 소프트 콘택트렌즈(TL)의 본래의 형상이 갖는 공기 중의 광학 특성값(S,C,A)과는 다른 것이 된다. 따라서, 도 9의 경우도, 소프트 콘택트렌즈 (TL)의 광학특성을 정확하게 측정할 수 없는 상태로 있다.

이와 같은 도 7(b)∼도 9(b)의 수광센서(9)의 출력을 비교하기 위해 겹쳐서 표시하면 도 10에 나타낸 바와 같이 된다.

또, 이와 같은 소프트 콘택트렌즈(TL)의 측정 시에 생기는 산란광 강도의 변화에 대해서 살펴보면, 산란광 강도는 도 11에 산란광 강도 곡선(B)으로 나타낸 바와 같이 변화한다. 즉, 측정개시 초기에는, 도 7(a)과 같이 소프트 콘택트렌즈(TL) 표면의 액체(14)는 균일하지 않으므로, 소프트 콘택트렌즈(TL)를 투과하는 산란광의 강도가 도 11이 시간「0」에서와 같이 크다. 이 산란광 강도는, 소프트 콘택트렌즈(TL) 표면의 액체(14)가 서서히 균일해지므로, 측정개시부터 서서히 작아진다. 그리고, 시간 t1∼t2의 측정중기에는 도 8(b)와 같이 소프트 콘택트렌즈(TL) 표면의 액체(14)가 균일해지므로, 소프트 콘택트렌즈(TL)를 투과하는 산란광의 강도가 도 11에 나타낸 바와 같이 작아져 거의 「0」에 가깝게 된다. 이 시간(t2) 후의 측정후기에는, 도 9(a)와 같이 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면이 말라서 표면에 미세한 요철이 생겨 서서히 커지므로, 소프트 콘택트렌즈(TL)를 투과하는 산란광의 강도가 도 11에 나타낸 바와 같이 서서히 커진다.

따라서, 도 11부터도 시간 t1∼t2의 사이에 수광센서(9)로부터 얻어지는 출력(Oa2)에 의거하여 소프트 콘택트렌즈(TL)의 광학 특성값(S,C,A)을 구하면 되는 것을 알았다.

이와 같이 하여 얻어진 광학 특성값(S,C,A)은 표시장치(11)에 표시된다.

또한, 이상으로 설명한 실시예에서는, 수광센서(9)의 일부를 이용하여 산란광에 의한 산란 개구상의 빛을 검출하도록 했으나, 수광센서(9)와는 별도의 수광센서(수광소자)를 산란광을 수광하기 위한 산란광 수광부로서 설치해도 좋다.

(3)기타

이상으로 설명한 바와 같이, 이 발명에 따른 소프트 콘택트렌즈 광학특성 측정방법은, 측정광원(5)으로부터 수광센서(수광소자)(9)까지의 측정광학계(1)의 측정광로 도중에 패턴판(패턴광 형성수단)(8)을 배치하고, 광원(5)으로부터의 측정광을 패턴판(8)에 의해 패턴광으로써 수광센서(9)에 수광시킴과 동시에, 소프트 콘택트렌즈(TL)를 측정광로 도중에 배치했을 때, 수광센서(9)에 수광되는 패턴광의 변화를 수광센서(9)로부터 출력되는 측정신호의 변화로부터 구함으로써, 측정광로 도중에 배치된 소프트 콘택트렌즈(TL)의 광학 특성값을 구하도록 하고 있다. 또한, 젖은 상태의 소프트 콘택트렌즈(TL)를 공기 중에서, 또 측정광로 도중에 배치하고, 측정광이 소프트 콘택트렌즈(TL)를 투과하여 산란했을 때의 산란광을 수광센서(9)에 수광시킴으로써 측정을 개시시킴과 동시에, 상기 산란광의 산란상태를 상기 수광센서(9)에 수광되는 상기 패턴광의 변화에 따른 상기 측정신호의 변화로부터 구하고, 상기 수광센서(9)로부터 출력되는 측정신호가 설정값 이하가 되었을 때에 상기 광학 특성값을 구하도록 하고 있다.

또, 이 소프트 콘택트렌즈 광학특성 측정방법에 있어서는, 상기 소프트 콘택트렌즈(TL)의 측정개시 시에 상기 소프트 콘택트렌즈(TL)를 생리식염수 또는 물 등의 액체로 적시는 것이 바람직하다.

또한, 상기 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면에 액체가 다량으로 부착되어 있는 측정개시 시부터, 상기 액체가 소프트 콘택트렌즈(TL)에 흡수 혹은 증발 또는 흘러내려서 소프트 콘택트렌즈(TL) 표면의 액체가 균일한 층상이 되는 측정중기를 거쳐, 소프트 콘택트렌즈(TL)로의 수분의 흡수 및 건조가 진행되어 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면이 거친상태가 되는 측정후기까지 변화할 때에, 상기 측정중기에 있어서의 상기 측정신호로부터 상기 소프트 콘택트렌즈(TL)의 광학특성을 구함으로써, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 광학특성을 정확히 구할 수 있다.

또, 본 발명에 따른 소프트 콘택트렌즈 광학특성 측정장치는, 광원(5)으로부터 수광센서(수광소자)(9)까지의 측정광로 도중에 패턴판(패턴광 형성수단)(8)을 배치하고, 상기 광원(5)으로부터의 측정광을 상기 패턴판(8)에 의해 패턴광으로써 상기 수광센서(9)로 수광시키도록 한 측정광학계(1)와, 상기 측정광로 도중에 소프트 콘택트렌즈(TL)를 배치했을 때, 상기 수광센서(9)에 수광되는 패턴광의 변화를 상기 수광센서(9)로부터 출력되는 측정신호의 변화로부터 구함으로써, 상기 측정광로 도중에 배치된 소프트 콘택트렌즈(TL)의 광학 특성값을 구하는 연산제어회로 (10)를 구비한다. 또한, 상기 수광센서(9)는 상기 측정광이 소프트 콘택트렌즈(TL)를 투과할 때에 생기는 산란광을 수광하여 산란광 측정신호가 출력 가능하게 설치되어 있음과 동시에, 상기 연산제어회로(10)는, 젖은 상태의 상기 소프트 콘택트렌즈(TL)가 상기 측정광로 도중의 렌즈받침대(4)에 놓여져서 측정이 개시되었을 대부터의 상기 산란광 측정신호가 설정값 이하일 때의 상기 측정신호로부터 상기 광학 특성값을 구한다.

또한, 상기 측정광이 소프트 콘택트렌즈를 투과할 때에 생기는 산란광을 수광하여 산란광 측정신호를 출력하는 산란광 수광부는, 상술한 바와 같이 상기 수광센서(수광소자)(9)와는 별도로 설치되어 있어도 좋다.

(발명의 실시예 2)

(구성)

도 12∼도 23은, 본 발명의 실시예2를 나타낸 것이다. 즉, 본 발병의 실시예2는, 안굴절력 측정장치(100)에 설치한 안고정장치(200)에 도 15∼도 17의 콘택트렌즈 측정용 어태치먼트(300)를 장착하고, 이 안굴절력 측정장치(100)에 의해 상술한 바와 같은 콘택트렌즈(TL)의 측정을 할 수 있도록 한 예를 보인 것이다.

도 12, 도 13에 있어서, 101은 안굴절력 측정장치(100)의 고정베이스, 102는 고정베이스(101)위에 전후·좌우로 이동 가능하게 장착된 가동베이스, 103은 가동베이스(102)를 전후·좌우로 이동 조작하는 조이스틱 레버이다. 또, 가동베이스 (102)상에는 3차원 구동장치(도시생략)를 내장하는 케이스(104)가 장착되고, 이 케이스(104)위에는 굴절력 측정광학계를 내장하는 장치본체(105)가 배치되어 있다. 이 굴절력 측정광학계는, 케이스(104)내의 3차원 구동장치(도시생략)에 의해 3차원 방향으로 구동되도록 되어 있다.

이 3차원 구동장치(104)의 조작은, 조이스틱 레버(103) 및 도시를 생략한 연산제어회로(연산제어수단)에 의해 행할 수 있다. 이 구성에는 주지의 구성을 채용할 수 있으므로, 그 상세한 설명은 생략한다.

또, 케이스(104)의 후면에는 TV모니터(표시장치)(104a)가 장착되어 있다.

<안면고정장치(200)>

이 안면고정장치(안면고정수단)(200)는, 고정베이스(101) 상단부의 좌우방향 중앙에 도 14, 도 15와 같이 장착된 지지부재(201)를 갖는다. 이 지지부재(201)는, 측면형상이 도 13∼도 15에 나타낸 바와 같이 L자 형상으로 형성되어 있음과 동시에, 상하로 연장되어 있다. 그리고, 지지부재(201)의 상단부에는 좌우로 연장되는 턱받침대 지지부(202)가 일체로 형성되어 있다.

또, 안면고정장치(200)는, 턱받침대 지지부(202)에 상하 이동 가능하게 장착된 턱받침대 지지축(203)과, 턱받침대 지지축(203)의 상단부에 장착된 턱받침대 (204)와, 상하로 역(逆)U자 형상으로 연장되면서 양단부가 턱받침대 지지축(203)의 양단부 위에 장착된 이마접촉대 지지프레임(205)을 갖는다.

이 턱받침대 지지축(203)은, 턱받침대 지지부(202)의 좌우방향 중앙에 위치되어 있음과 동시에, 도시를 생략한 구동모터 등의 구동수단에 의해 상하로 이동조정 가능하게 설치되어 있다. 이 구성에는 주지의 구성을 채용할 수 있으므로, 그 설명은 생략한다. 또, 턱받침대(204)는 좌우방향 중앙에 설치된 턱 안착(턱 지지용)의 요부(凹部)(204a)와, 요부(204a)의 좌우에 위치하는 수평부(204b,204b)를 갖는다. 그리고, 수평부(204b,204b)에는 도 16에 나타낸 바와 같이 핀 장착공 (206,206)이 형성되어 있다.

또한, 안면고정장치(200)는, 핀 장착공(206,206)에 나사결합되며, 상방으로 돌출하는 위치규제 핀(207,207)과, 이마접촉대 지지프레임(205)의 상단부에 장착된 이마 접촉대(208)를 갖는다. 또, 위치규제 핀(207,207)을 핀 장착공(206,206)에 압입에 의해 장착할 수도 있다.

<콘택트렌즈 측정용 어태치먼트(300)>

이 어태치먼트(300)는, 도 15∼도 17에 나타낸 바와 같이, 부품 장착판(301)과, 모델 눈(302), 렌즈받침대(303), 미러 장착판(304), 반사 미러(305)를 갖는다.

이 부품 장착판(301)은, 수평한 하부 장착판부(301a)와, 하부 장착판부 (301a)의 앞 가장자리로부터 상방으로 대략 연직으로 연장되는 판부(301b)와, 판부 (301b)의 상단으로부터 후방을 향해 수평으로 연장되는 상부 장착판부(301c)를 갖는다. 이 하부 장착판부(301a)의 좌우 부분에는 도 16에 나타내 바와 같이 턱받침대(204)의 핀 장착공(206,206)과 동일한 간격의 핀 삽입공(306,306)이 각각 형성되어 있다.

또, 모델 눈(302)은, 도 16, 도 17(a)에 나타낸 바와 같이 상하로 연장되는 통형상의 본체(307)와, 본체(307)의 하단부 내에 배치된 반사 미러(308)를 갖는다. 이 본체(307)의 상단부는 상부 장착판부(301c)의 좌우방향 중앙 하부에 비스(309)로 고정되어 있다. 또한, 상부 장착판부(301c)에는, 본체(307)와 동심(同心)이면서 본체(307)의 내경보다 큰 직경의 렌즈받침대 장착공(310)이 형성되어 있다. 이 렌즈받침대 장착공(310)에는, 렌즈받침대(303)의 하단부가 삽입 고정되어 있다. 이 렌즈받침대(303)는, 본체(307) 또는 렌즈받침대 장착공(310)에 접착 고정해도 좋고, 본체(307) 및 렌즈받침대 장착공(310)에 접착 고정해도 좋고, 본체(307) 또는 렌즈받침대 장착공(310)에 나사결합 시켜 고정해도 좋다.

또한, 미러 장착판(304)은 후방을 향해 45도 경사진 상태로 상부 장착판부 (301c)의 상부에 비스(311)로 고정되고, 반사 미러(305)는 미러 장착판(304)의 하면에 브라켓(312) 및 비스(313)를 개재하여 고정되어 있다. 이 반사 미러(305)의 중앙은 렌즈받침대(303)와 대면하고 있다.

이러한 구성의 어태치먼트(300)의 핀 삽입공(306,306)에 위치규제 핀(207, 207)을 끼워 통과시키고 , 이 위치규제 핀(207,207)을 턱받침대(204)의 핀 장착공 (206,206)에 나사결합함으로써, 어태치먼트(300)를 턱받침대(204)에 장착할 수 있다.

<굴절력 측정광학계>

또, 장치본체(105)내에는, 도 18(A)에 나타낸 바와 같은 굴절력 측정광학계가 내장되어 있다. 이 도 108(A)에 있어서, 110은 피검안(E)을 시각고정·운무(雲霧)시키기 위해 시표를 눈 안쪽(Er)에 투영하는 시표 투영광학계, 120은 피검안(E)의 눈 전면부(Ef)를 관찰하는 관찰광학계, 130은 조준 스케일을 수광소자(S)에 투영하는 스케일 투영광학계, 140은 피검안(E)의 굴절력을 측정하기 위한 패턴광속을 눈 안쪽(Er)에 투영하는 패턴광속 투영광학계, 150은 눈 안쪽(Er)으로부터 반사된 광속을 수광소자(S)에 수광시키는 수광광학계이다.

시표 투영광학계(110)는, 광원(111), 콜리메이터 렌즈(112), 시표판(113), 릴레이 렌즈(114), 미러(115), 릴레이 렌즈(116), 다이크로익 미러(117), 다이크로익 미러(118), 대물렌즈(119)를 구비하고 있다.

광원(111)로부터 출사된 가시광은, 콜리메이터 렌즈(112)에 의해 평행광속으로 된 후, 시표판(113)을 투과한다. 시표판(113)에는 피검안(E)을 시각고정·운무시키기 위한 타겟이 설치되어 있다. 그 타겟광속은, 릴레이 렌즈(114)를 투과하여 미러(115)에서 반사되고, 릴레이 렌즈(116)를 거쳐 다이크로익 미러(117)에 반사되어 장치본체의 주(主)광축(O1)에 도달하고, 다이크로익 미러(dichroic mirror) (118)를 투과한 후, 대물렌즈(119)를 거쳐 피검안(E)에 도달한다.

또한, 광원(111), 콜리메이터렌즈(112), 시표판(113)은, 피검안(E)을 시각고정·운무시키기 위해, 시표 투영광학계(110)의 광축(O2)을 따라 이동 가능하게 되도록 렌즈 경통(110a)에 유지되어 유닛화되어 있다. 이 렌즈 경통(110a)은 펄스 모터(PM1)에 의해 광축(O2)을 따라 진퇴 구동되도록 되어 있다.

관찰광학계(120)은, 광원(121), 대물렌즈(119), 다이크로익 미러(118), 릴레이 렌즈(122), 조리개(123), 미러(124), 릴레이 렌즈(125), 다이크로익 미러(126), 결상렌즈(127), 수광소자(S)를 갖는다. 이 수광소자(S)는, 소프트 콘택트렌즈의 굴절특성을 측정할 때에는, 산란광 수광부로서도 이용된다.

광원(121)으로부터 출사된 광속은, 피검안(E)을 눈 전면부(Ef)를 다이렉트로 조명한다. 눈 전면부(Ef)에서 반사된 광속은, 대물렌즈(119)를 거쳐 다이크로익 미러(118)에서 반사되고, 릴레이 렌즈(122)를 투과함과 동시에 조리개(123)를 통과하고, 미러(124)에서 반사된 후, 릴레이 렌즈(125) 및 다이크로익 미러(126)를 투과하여 결상렌즈(127)에 의해 수광소자(S)에 결상된다.

스케일 투영광학계(130)는, 광원(131), 조준 스케일을 설치한 콜리메이터 렌즈(132), 릴레이 렌즈(133), 다이크로익 미러(118), 릴레이 렌즈(122), 조리개(123), 미러(124), 릴렌이 렌즈(125), 다이크로익 미러(126), 결상렌즈(127), 수광소자(S)를 갖는다.

광원(131)으로부터 출사된 광속은, 콜리메이터 렌즈(132)를 투과할 때에 조준 스케일 광속(평행광속)으로 된 후, 릴레이 렌즈(133), 다이크로익 미러(118), 릴레이 렌즈(122), 조리개(123)를 거쳐 미러(124)에서 반사되고, 릴레이 렌즈(125), 다이크로익 미러(126)를 거쳐 결상렌즈(127)에 의해 수광소자(S)에 결상된다.

수광소자(S)에는, 가령, 2차원 에리어 CCD 등이 이용되고, 도시하지 않은 모니터에 관찰 광학계120에 의해 도달된 눈 전면부상이 표시됨과 동시에, 조준 스케일에 의거하여 상(像)이 표시된다. 검사자는, 이 모니터에 표시된 눈 전면부 상이 조준 스케일 상에 근접하도록 피검안(E)과 장치본체의 상하 좌우방향의 얼라이먼트 조작을 행한다. 또, 전후방향의 얼라이먼트 조작을 행한다. 또한, 얼라이먼트 조작 종료 후의 굴절력 측정시에는, 광원(121,131)을 점등하거나, 다이크로익 미러(118)로부터 다이크로익 미러(126)에 이르는 광로 중에 셔터 등을 설치하여 수광소자(S)로의 수광이 저지된다.

패턴광속 투영광학계(140)는, 광원(141), 콜리메이터 렌즈(142), 원추 프리즘(143), 링 지표판(144), 릴레이 렌즈(145), 미러(146), 릴레이 렌즈(147), 천공 프리즘(148), 편향부재로서의 광축 편향프리즘(149), 다이크로익 미러(117), 다이크로익 미러(118), 대물렌즈(119)를 구비하고 있다. 또한, 광원(141)과 링 지표판(144)은 광학적으로 공역(共役)이며, 링 지표판(144)과 피검안(E)의 동공(Ep)과는 광학적으로 공역의 위치에 배치되어 있다.

광원(141)으로부터 출사된 광속은, 콜리메이터 렌즈(142)에 의해 평행광속이 되고, 원추 프리즘(143)을 투과하여 링 지표판(144)에 도달하고, 이 링 지표판(144)에 형성된 링형상의 패턴부분을 투과하여 패턴광속이 된다. 패턴광속은, 릴레이 렌즈(145)를 투과한 후, 미러(146)에서 반사되고 릴레이 렌즈(147)를 투과하여 천공 프리즘(148)에 의해 주 광축(O1)을 따라 반사되고, 광축 편향프리즘(149)에 의해 주 광축(O1)과는 어긋난 경사진 상태로 편향된 상태에서 다이크로익 미러(117,118)를 투과한 후, 대물렌즈(119)에 의해 눈 안쪽(Er)에 결상된다.

광축 편향프리즘(149)은, 펄스모터(PM2)에 의해 주 광축(O1)을 축선으로서 고속회전(화살표 참조)되도록 되어 있다. 이 고속회전에 의해 눈 안쪽(Er)에 투영되는 패턴광속은, 도 19에 나타낸 바와 같이, 주 광축(O1)을 중심으로 하여 편심상태로 선회한다.

수광광학계(150)는, 대물렌즈(119), 다이크로익 미러(118,117), 광축 편향프리즘(149), 천공 프리즘(148)의 구멍부(148a), 릴레이 렌즈(151), 미러(152), 릴레이 렌즈(153), 미러(154), 초점합성렌즈(155), 미러(156), 다이크로익 미러(126), 결상렌즈(127), 수광소자(S)를 갖는다.

또한, 초점합성렌즈(155)는, 광원(141), 콜리메이터 렌즈(142), 원추 프리즘(143), 링 지표판(144)과 일체로 각 광학계(140,150)의 광축(O3,O4)을 따라 이동 가능하게 되어 있다.

패턴광속 투영광학계(140)에 의해 눈 안쪽(Er)에 도달하고, 이 눈 안쪽(Er)에서 반사된 반사광속은, 대물렌즈(119)에 집광되고, 다이크로익 미러(118,117)를 투과하여 광축 편향프리즘(149)에 도달하고, 광속 역진의 원리에 의해 광축 편향프리즘(149)을 투과했을 때에는 주 광축(O1)을 중심으로 한 동일한 부분으로부터 천공 프리즘(148)의 구멍부(148a)에 도달한 다음, 이 구멍부(148a)를 통과한다.

구멍부(148a)를 통과한 패턴 반사광속은, 릴레이 렌즈(151)를 투과하여 미러(152)에서 반사되고, 릴레이 렌즈(153)를 투과하여 미러(154)에서 반사되며, 초점합성렌즈(155)를 투과하여 미러(156) 및 다이크로익 미러(126)에서 반사되어, 결상렌즈(127)에 의해 수광소자(S)에 패턴상이 결상된다.

그리고, 수광소자(S)와 눈 안쪽(Er)가 공역이 되어 있고, 링 지표판(144)이 공역이 되어 있다.

수광소자(S)로부터의 영상신호(수광신호:측정신호)는 도 18(B)에 나타낸 바와 같이 연산제어회(160)에 입력되도록 되어 있다. 이 연산제어회로(연산수단) (160)는, 수광소자(S)로부터의 영상신호에 의거하여 피검안의 굴절력을 구하도록 되어 있다. 그리고, 연산제어회로(160)는, 구한 굴절력을 TV모니터(149a)에 표시시키도록 되어 있다.

또, 연산제어회로(160)는, 펄스모니터(PM1)를 작동제어하여 렌즈 경통(110a)을 광축(O2)을 따르는 방향으로 진퇴 구동제어하도록 되어 있음과 동시에, PM2를 구동제어하여 프리즘(149)을 광축(O1) 둘레로 고속회전 제어하도록 되어 있다. 또한, 연산제어회로(160)는, 광원(111,131,141)을 점등 제어하도록 되어 있다.

또, 연산제어회로(160)는, 수광소자(S)위에서의 패턴상(144")을 프레임 메모리 등의 기억매체(161)에 복수 기억시키도록 되어 있다.

(작용)

다음에, 이러한 구성의 안굴절력 측정장치(200) 및 어태치먼트(300)를 이용한 콘택트렌즈(TL)의 측정에 대해서 설명한다.

(1)안굴절력 측정장치(200)에 의한 안굴절력 측정

<얼라이먼트>

측정을 개시하기 전에는, 연산제어회로(160)에 의해 각 광원(111,121,131)을 점등시켜 피검안(E)을 시각고정시킴과 동시에 피검안(E)과 장치본체의 얼라이먼트 조작을 행한다.

이 때, 광원(111)으로부터 출사된 가시광은, 콜리메이터 렌즈(112)에 의해 평행광속으로 된 후, 시표판(113)을 투과하여, 시표판(113)의 타겟광속을 형성시킨다. 이 타겟광속은, 릴레이 렌즈(114), 미러(115), 릴레이 렌즈(116), 다이크로익 미러(117,118), 대물렌즈(119)를 개재하여 피검안(E)에 투영된다. 이 피검안(E)에서는, 타겟광을 시인시킨다. 이 때, 유닛화된 광원(111), 콜리메이터 렌즈(112), 시표판(113)을 광축(O2)을 따라 이동시켜, 피검안(E)이 시각고정되어 있는 타겟광속을 운무시켜, 피검안(E)이 먼쪽을 보고 있는 상태로 만든다.

한편, 광원(121)으로부터 출사된 광속은, 피검안(E)의 눈 전면부(Ef)를 다이렉트로 조명한다. 그리고, 앞안염부(Ef)에서 반사된 광속은, 대물렌즈(119), 다이크로익 미러(118), 릴레이 렌즈(122), 조리개(123), 미러(124), 릴레이 렌즈(125), 다이크로익 미러(126), 결상렌즈(127)를 개재하여 수광소자(S)에 결상된다. 또, 스케일 투영광학계(130)의 광원(131)으로부터 출사된 광속은, 콜리메이터 렌즈(132)를 투과할 때에 조준 스케일광속(평행광속)이 된 후, 릴레이 렌즈(133), 다이크로익 미러(118), 릴레이 렌즈(122), 조리개(123)를 거쳐 미러(124)에서 반사되고, 릴레이 렌즈(125), 다이크로익 미러(126)를 거쳐 결상렌즈(127)에 의해 수광소자(S)에 결상된다.

이렇게 해서, 수광소자(S)에는 관찰광학계(120)에 의해 안내된 눈 전면부가 결상됨과 동시에, 조준 스케일에 의거하는 상이 결상된다. 그리고, 이 수광소자(S)의 영상신호는, 모니터(104a)에 입력되어, 모니터(104a)에 눈 전면부 상(E') 및 조준 스케일(TS)에 의거하는 상이 표시된다. 검사자는, 조이스틱 레버(103)를 조작하여, 모니터(104a)에 표시된 눈 전면부 상(E')이 조준 스케일 상(TS)에 근접하도록 피검안(E)과 장치본체(105)의 상하 좌우방향의 얼라이먼트 조작을 행한다. 또, 검사자는, 이 모니터(104a)에 표시된 눈 전면부 상(E')의 전후??향의 얼라이먼트 조작을 행한다.

<측정>

이 얼라이먼트가 완료되면, 연산제어회로(160)는 광원(121,131)을 소등하여, 광원(121,131)으로부터의 광이 수광소자(S)에 투영되지 않도록 한다. 이 상태에서, 연산제어회로(160)는 패턴광속 투영광학계(140)의 광원(141)을 점등시킨다.

이 패턴광속 투영광학계(140)의 광원(141)으로부터 출사된 광속은, 콜리메이터 렌즈(142)에 의해 평행광속이 되고, 원추 프리즘(143)을 투과하여 링 지표판(144)에 도달하고, 이 링 지표판(144)에 형성된 링형상의 패턴부분을 투과하여 패턴광속이 된다. 이 패턴광속은, 릴레이 렌즈(145)를 투과한 후, 미러(146)에서 반사되고 릴레이 렌즈(147)를 투과하여 천공 프리즘(148)에 의해 주 광축(O1)을 따라 반사되고, 광축 편향프리즘(149)에 의해 주 광축(O1)과는 어긋난 경사진 상태로 편향된 상태에서 다이크로익 미러(117,118)를 투과한 후, 대물렌즈(119)에 의해 눈 안쪽(Er)에 결상된다.

이 때, 광축 편향프리즘(149)은, 연산제어회로(160)로 구동제어되는 펄스모터(PM2)에 의해 주 광축(O1)을 축선으로 하여 고속회전(화살표 참조)되고 있다. 이 고속회전에 의해 눈 안쪽(Er)에 투영되는 패턴광속은, 도 19에 나타낸 바와 같이, 주 광축(O1)을 중심으로 하여 편심상태로 선회한다.

그리고, 패턴광속 투영광학계(140)에 의해 눈 안쪽(Er)에 도달하고, 이 눈 안쪽(Er)에서 반사된 반사광속은, 대물렌즈(119)에 집광되며, 다이크로익 미러(118, 117)를 투과하여 광축 편향프리즘(149)에 도달하고, 광속 역진(逆進)의 원리에 의해 광축 편향프리즘(149)을 투과했을 때에는 주 광축(O1)을 중심으로 한 동일한 부분으로부터 천공 프리즘(148)의 구멍부(148a)에 도달한 다음, 이 구멍부(148a)를 통과한다.

구멍부(148a)를 통과한 패턴 반사광속은, 릴레이 렌즈(151)를 투과하여 미러(12)에서 반사되고, 릴레이 렌즈(153)를 투과하여 미러(154)에서 반사되고, 초점합성렌즈(155)를 투과하여 미러(156) 및 다이크로익 미러(126)에 반사되며, 결상렌즈(127)에 의해 수광소자(S)에 패턴상이 결상된다.

이러한 패턴상(144')의 투영에 있어서, 검사자가 도시하지 않는 측정실행 스위치를 누르면, 연산제어회로(160)는 눈 안쪽(Er)에 투영된 선회 중인 임의의 위치에 결상된 패턴상(144')에 의거하는 수광소자(S)위에서의 패턴상(144")을 프레임 메모리 등의 기억매체(161)에 복수 기억시킨다.

가령, 도 21(A)∼(F)에 나타낸 바와 같이, 눈 안쪽(Er)상에 있어서 광축(O1)으로부터 링 중심(O1)이 어긋난 패턴상(144')에 대응한 것을 수광소자(S)위에서 패턴상(144")으로서 기억매체에 기억했을 경우, 도 21(A),(D),(E),(F)에 도시한 상태에서는, 그 검출되는 피크위치(Q1,Q2)는 실제의 상의 폭 중심위치와 일치되어 있으나, 도 21(B),(C)에 도시한 상태에서는 질환(109)의 영향에 의해 피크위치(Q3,Q4)가 실제의 폭 중심위치로부터 어긋난 위치에 있다.

이들 피크위치(Q1,Q3,Q4)를 기억횟수로 평균화함으로써, 도 20의 그래프에 나타낸 바와 같이, 실제 상(像)의 폭중심 위치에 접근한 피크위치(Q1')를 산출할 수 있고, 이 피크위치(Q1')와 피크위치(Q2)의 위치정보에 의거하여 폭중심간의 거리를 산출함으로써 안굴절력을 측정(측정방법은 공지한 것이므로 생략한다.)할 수 있다. 이 산출은 연산제어회로(160)에 의해 행해진다.

<기타>

그런데, 상기 실제예2에서는, 편향부재로서 광축 편향프리즘(149)을 사용했으나, 가령, 도 22(A)에 나타낸 바와 같이, 독립 및 동기 회전가능한 2개의 프리즘(149a,149b)을 갖는 로터리 프리즘(149')을 편향부재로서 이용하고, 가령, 도22(B)에 나타낸 바와 같이, 한쪽 프리즘(149b)을 광축(O1)을 축선으로 하여 회전시킨 상태에서 로터리 프리즘(149') 전체를 광축(O1)을 축선으로 하여 회전해도 좋다.

이 때, 프리즘(149a,149b)의 독립된 회전량에 의해 광축(O1)에 대한 출사각도의 편차를 조정 변경할 수 있기 때문에, 광축 편향프리즘(149)을 이용한 경우보다도 한층 적절한 범위의 넓은 것으로 할 수 있다.

이와 같이, 패턴상(144')의 선회 궤적에 있어서 질환(109)에 영향받을 수 있는 범위는 영향받지 않는 범위에 비해 극히 좁다. 즉, 예시한 질환(109)의 경우라면 도 21(B),(C)에 나타낸 범위의 궤적 위에 있고, 그 밖의 범위는 정상 눈과 동일하다고 할 수 있으므로, 기억매체로의 피크 위치의 기억횟수를 늘릴수록 질환(109)에 영향받지 않는 부분의 눈 안쪽 정보를 받아들일 가능성이 높으며, 그 폭중심간 거리의 측정결과를 평균화함으로써, 질환(109)의 존재에 의한 편차를 무시할 수 있을 만큼 신뢰성이 높은 측정결과를 얻을 수 있다.

이 때, 눈 안쪽(Er)위에서 질환(109) 등의 존재위치는 피검자마다 다르다. 따라서, 단순히 어긋난 위치(편향시킨 위치)에 패턴상(144')을 투영한 것만으로는, 그 어긋난 위치에 질환(109) 등이 존재하고 있을 가능성이 있고, 측정결과가 오측정으로 되어버릴 우려가 있다. 그러나, 본 발명에서는 패턴상을 회전시켜 복수회의 기억매체로의 기록을 행하고 있으므로, 질환(109)에 영향을 받은 패턴상(144")을 받아들일 가능성이 줄어들어, 측정결과의 신뢰성을 높일 수 있다.

또한, 패턴상(144')은, 광축(O1)으로부터 어긋난 위치에 투영되어 있으나, 피검안(E)과 장치본체는 어레이먼트 조작을 행함으로써 일정관계를 유지하고 있으므로, 측정데이터의 신뢰성을 저해하는 일은 없다.

또, 상기 실시예에서는, 광축 편향프리즘(149)이 패턴광속 투영광학계(140)와 수광광학계(150)의 공용부분에 삽입되어 있으나, 본 발명은 이에 한정되지 않고, 가령, 각 광학계의 비공용 부분에 동일한 형의 광축 편향프리즘을 하나씩 배치함과 동시에, 이 양 광축 편향프리즘의 회전각도가 항상 일치하도록 하면, 동일한 작용효과를 얻을 수 있다.

(2)소프트 콘택트렌즈(TL)의 굴절측정

또, 이러한 구성의 안굴절력 측정장치(100)를 이용하여 상술한 바와 같은 소프트 콘택트렌즈(TL)의 굴절력을 측정할 때에는, 모델 눈(302)을 갖는 어태치먼트(300)를 턱받침대에 장착한다. 이 경우, 먼저 안면 고정장치(200)에 설치한 턱받침대(204)의 핀 장착공(106,106)으로부터 위치규제 핀(207,207)을 빼낸다. 다음에, 이 위치규제 핀(207,207)을, 어태치먼트(300)의 피 삽입공(306,306)으로 삽입 통과시킨 후, 턱받침대(204)의 핀 장착공(206,206)에 나사결합한다. 이렇게 해서 어태치먼트(300)를 도 15∼도 17에 나타낸 바와 같이 턱받침대(204)에 장착한다. 이로써 모델 눈(302)이 턱받침대(204)에 장착되어, 대물렌즈(119)가 도 23과 같이 반사 미러(305)를 개재하여 모델 눈(302)과 대면하게 된다.

이 상태에서, 어태치먼트(300)의 렌즈받침대(204)위에 소프트 콘택트렌즈 (TL)을 도 16, 도 17과 같이 올려놓는다. 다음에, 광원(121,131)을 연산제어회로 (160)를 개재하여 점등시켜, 조이스틱 레버(103)의 조작에 의해 장치본체(105)와 모델 눈(302)의 얼라이먼트 조작을, 장치본체(105)와 피검안(Er)의 얼라이먼트와 동일하게 하여 행한다. 이 때, 광원(111)의 점등은 불필요해진다.

이 얼라이먼트의 완료 후, 연산제어회로(160)는 광원(121,131)을 점등하여, 광원(121,131)으로부터의 빛이 수광소자(S)로 투영되지 않도록 한다. 이 상태에서, 연산제어회로(160)는 패턴광속 투영광학계(140)의 광원(141)을 점등시킨다.

이 패턴광속 투영광학계(140)의 광원(141)으로부터 출사된 광속은, 콜리메이터 렌즈(142)에 의해 평행광속이 되고, 원추 프리즘(143)을 투과하여 링 지표판 (144)에 도달하고, 이 링 지표판(144)에 형성된 링형상의 패턴부분을 투과하여 패턴광속이 된다.

이 패턴광속은, 릴레이 렌즈(145)를 투과한 후, 미러(146)에서 반사되고 릴레이 렌즈(147)를 투과하여 천공 프리즘(148)에 의해 주 광축(O1)을 다라 반사되고, 광축 편향프리즘(149)에 의해 주 광축(O1)과는 어긋난 경사진 상태로 편향된 상태로 다이크로익 미러(117,118)를 투과한 후, 대물렌즈(119), 반사 미러(305)를 개재하여 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면에 투영되고, 이 소프트 콘택트렌즈(TL)를 투과하여 모델 눈(302)의 본체(307)내에 입사하고, 본체(307) 하단부내에 배치된 반사 미러(308)에 투영되어 결상됨과 동시에서 반사된다.

이 때, 광축 편향프리즘(149)은, 상술한 바와 같이 주 광축(O1)을 축선으로 하여 고속회전(화살표방향)되고 있으며, 이 고속회전에 의해, 소프트 콘택트렌즈 (TL)에 투영되면서 눈 안쪽(Er)에 투영되는 패턴광속은, 도 19에 나타낸 바와 같이, 주 광축(O1)을 중심으로 하여 편심상태로 선회한다.

그리고, 패턴광속 투영광학계(140)에 의해 모델 눈(302)의 반사 미러(308)에 도달하고, 이 반사 미러(308)에서 반사된 반사광속은, 콘택트렌즈(TL) 및 반사 미러(305)를 개재하여 대물렌즈(119)에 집광되고, 다이클록익 미러(118,117)를 투과하여 광축 편향프리즘(149)으로 안내되고, 광속 역진의 원리에 의해 광축 편향프리즘(149)을 투과했을 때에는 주 광축(O1)을 중심으로 한 동일 부분부터 천공 프리즘(148)의 구멍부(148a)에 도달한 다음, 이 구멍부(148a)를 통과한다.

구멍부(148a)를 통과한 패턴반사 광속은, 릴레이 렌즈(151)를 투과하여 미러(12)에서 반사되고, 초점합성렌즈(155)를 투과하여 미러(156) 및 다이크로익 미러(126)에서 반사되며, 결상렌즈(127)에 의해 수광소자(S)에 패턴상이 결상된다.

또한, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 면 위에서의 링형상 패턴광속의 회전반경은, 가령, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 직경을 8.8mm로 하고, 또, 링형상 패턴광속의 직경을 2.5mm로 하여, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 면 위에서의 회전직경이 도 17(b)에 나타낸 바와 같이 3.5mm이 되도록 설정하면, 측정하기에 적당하다.

이러한 패턴상(144')의 투영에 있어서, 검사자가 도시하지 않는 측정실행 스위치를 누르면, 연산제어 호로(160)는 모델 눈(302)의 반사 미러(308)에 투영된 선회 중의 임의의 위치에서 결상된 패턴상(144')에 의거하는 수광소자(S)위에서의 패턴상(144")을 프레임 메모리 등의 상기 매체에 복수 기억시킨다.

이 경우도, 도 20에 나타낸 바와 같이, 피크위치(Q1')와 피크위치(Q2)의 위치정보에 의거하여 폭중심간 거리를 산출함으로써 안굴절력을 측정할 수 있다.

이러한 안굴절력 측정장치(100)를 이용한 측정에 있어서도, 발명의 실시예1의 (ⅰ)측정개시 시(다량 액체 보유상태), (ⅱ)측정중기(잘 배인 상태), (ⅲ)측정후기(건조상태) 등의 측정과 동일한 측정 및 연산을 연산제어회로(160)를 개재하여 실행시킨다. 이 측정에 의해, 보다 정밀도 높은 측정이 가능하게 된다.

이 구성에 의하면, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 젖은 상태가 불균형하다 해도, 그 영향을 경감하여 광학 특성값(S,C,A)을 측정할 수 있다. 또, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면이나 이면에 상처가 있을 경우, 또는 이물질이 있을 경우나 소프트 콘택트렌즈(TL)가 일그러져 있을 경우라 해도, 그 영향을 경감하여 광학 특성값(S,C,A)을 측정할 수 있다.

또한, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 광학 특성값 측정 시에, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 이면(피검안의 각막에 접촉하는 면)과 공역이 아닌 위치에 광축 편향프리즘(149)을 설치하는 것이 바람직하다.

제 2실시예에서는, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 광학 특성값을 측정하는 경우에 대해서 설명했으나, 하드 콘택트렌즈의 광학특성을 측정할 수도 있다. 이 경우, 하드 콘택트렌즈에 비교적 큰 이물질이나 상처가 있어도, 이들 이물질이나 상처의 영향을 받지 않고 정확하게 광학특성을 측정할 수 있다. 또한, 하드 콘택트렌즈의 광학특성을 측정할 경우, 시계열적으로 광학특성을 구해갈 필요는 없다.

(발명의 실시예 3)

또, 발명의 실시예 2에서는, 안굴절력 측정장치(100)를 이용하여 콘택트렌즈(TL)의 굴절력을 측정하기 위한 구성 및 그 측정방법을 나타냈으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 가령, 도 24에 나타낸 바와 같은 전용렌즈 굴절력 측정장치(400)를 설치하고, 이 렌즈 굴절력 측정장치(400)에 의해 콘택트렌즈 (TL)의 굴절력 측정을 행하도록 해도 좋다.

이 렌즈 굴절력 측정장치(400)는 도 24에 나타낸 장치본체(401)를 지니며, 장치본체(401)는 베이스부(402)와, 베이스부(402)의 후방 가장자리부에 일체로 설치된 상방에 연장되는 지지부(403)와, 베이스부(402)의 상방에 위치하면서 지지부(403)의 상방에 일체로 설치된 본체부(404)를 갖는다. 그리고, 이 본체부 (404)내에는, 발명의 실시예 2에 있어서의 측정광학계 중에 패턴광속 투영과학계(140) 및 수광광학계(150)가 내장되어 있다. 그리고, 이 측정광학계의 대물렌즈(119)를 수납하는 경통(405)이 본체부(404)의 하면으로부터 하방을 향해 돌출되어 있다. 본체부(404)의 정면에는 TV모니터 텔레비전(104a)이 장착되어 있다.

또한, 이 경통(405)의 하방에는 모델 눈(302)이 배치되어 있다. 이 모델 눈(302)은, 베이스부(402)에 상방을 향해 장착되고, 축선이 대물렌즈(119)의 광축(O1)과 일치되어 있다. 이 모델 눈(302)의 상단부에는 렌즈받침대(204)가 장착되어 있다.

이러한 구성에 있어서는, 렌즈받침대(204)위에 콘택트렌즈(TL)를 도 24, 25와 같이 올려놓고, 패턴광속 투영광학계(140)의 광원(141)을 점등시킴으로써, 콘택트렌즈(TL)의 굴절력이 발명의 실시예 2와 동일하게 하여 측정되므로, 그 설명은 생략한다. 또, 도 25에 있어서, 수광소자(S)와 반사 미러(308)가 공역이 되어 있고, 링 지표판(144)과 반사 미러(308)가 공역으로 되어 있다.

이 구성에 의하면, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 젖은 상태가 불균형하더라도, 그 영향을 경감하여 광학 특성값(S,C,A)을 측정할 수 있다. 또, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면이나 이면에 상처가 있을 경우, 또는 이물질이 있을 경우나 소프트 콘택트렌즈(TL)가 일그러져 있을 경우라 해도, 그 영향을 경감하여 광학 특성값(S,C,A)을 측정할 수 있다.

또한, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 광학 특성값을 측정할 때에, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 이면(피검안의 각막에 접촉하는 면)과 공역이 아닌 위치에 광축 편향프리즘(149)을 설치하는 것이 바람직하다.

제 3실시예에서는, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 광학 특성값을 측정하는 경우에 대해 설명했으나, 하드 콘택트렌즈의 광학특성을 측정할 수 있다. 이 경우, 하드 콘택트렌즈에 비교적 큰 이물질이나 상처가 있다 하더라도, 이들 이물질이나 상처의 영향을 받지 않고 정확하게 광학특성을 측정할 수 있다. 또, 하드 콘택트렌즈의 광학특성을 측정할 경우, 시계열적으로 광학특성을 구해갈 필요는 없다.

(발명의 실시예 4)

도 26은 발명의 실시예4의 구성을 나타낸 것이다. 도 26에 나타낸 렌즈미터(굴절력 측정장치)(500)는, 렌즈 받침대(렌즈 받이)(505)에 놓여진(세트된) 소프트 콘택트렌즈(TL)에 평행광속인 측정광을 투영하는 측정광학계(510)와, 소프트 콘택트렌즈(TL)를 투과한 측정광을 수광하는 수광 광학계(510)와, 소프트 콘택텍트렌즈 (TL)의 광학특성을 연산처리로써 구하는 연산처리부(520)를 구비하고 있다.

측정광학계(501)는, LED로 이루어진 광원(502)과, 핀홀(503a)을 갖는 핀홀판 (503)과, 핀홀(503a)을 통과한 광속을 평행광속으로 하는 콜리메이터 렌즈(504)를 갖고 있다.

수광광학계(510)는, 패턴판(511)과, CCD 등으로 이루어진 수광센서(수광수단)(512)을 갖고 있다. 패턴판(511)에는 광축을 중심으로 하여 4개의 개구패턴 (511a)이 등간격으로 설치되어 있다. 이 개구패턴(511a)을 투과한 측정광에 의한 패턴상이 수광센서(512)에 형성되도록 되어 있다.

연산처리부(520)는, 수광센서(512)로부터 출력되는 수광신호에 의거하여 소프트 콘택트렌즈(TL)의 광학특성인 S, C, A를 소정 시간마다 연산해가는 연산회로 (521)와, 이 연산회로(521)가 연산한 S, C, A를 기억해가는 메모리(기억수단)(522)와, 이 메모리(522)에 기억된 S, C, A의 시계열로부터 소프트 콘택트렌즈(TL)의 정확한 광학특성을 판단하는 판정회로(523)와, 이 판정회로(523)가 판정한 정확한 광학특성을 표시하는 표시부(524)를 갖고 있다.

다음에, 상기 실시예의 렌즈미터의 동작에 대해서 설명한다.

먼저, 보존액에 담겨 있는 소프트 콘택트렌즈(TL)를 용기(도시생략)에서 꺼내어 받침대(5)에 올려놓는다. 그리고, 도시하지 않는 메인 스위치를 투입하여 측정개시 스위치(도시생략)를 온(ON)한다. 그러면, 광원(502)이 점등되고, 이 광원 (502)으로부터 측정광이 사출된다. 광원(502)으로부터 사출된 측정광은 핀홀판 (503)의 핀홀(503a)을 투과하여 콜리메이터 렌즈(504)에 도달한다. 이 측정광은 콜리메이터 렌즈(504)에 의해 평행광속이 되어 소프트 콘택트렌즈(TL)로 투영된다.

소프트 콘택트렌즈(TL)를 투과한 측정광속은, 패턴판(511)의 개구패턴(511a)을 투과하여 수광센서(512)에 도달하고, 이 수광센서(512)의 수광면(512A)위에 패턴판(511)의 개구패턴(511a)에 의한 패턴상이 형성된다.

소프트 콘택트렌즈(TL)가 렌즈 받침대(505)에 놓여져 있지 않을 때에는, 그 개구패턴(511a)과 동일한 패턴상이 수광센서(512)의 수광면(512A)위에 형성되고, 소프트 콘택트렌즈(TL)가 오목렌즈의 경우에는 그 수광센서(512)의 수광면(512A)에 확대 패턴상이 투영되고, 소프트 콘택트렌즈(TL)가 볼록렌즈의 경우에는 그 수광센서(512)의 수광면(512A)에 축소 패턴상이 투영된다. 수광센서(512)는 수광면(512A)에 형성되는 그들 패턴상에 따른 수광신호를 출력하고, 연산회로(521)는 수광센서 (512)의 수광신호에 의거하여 소프트 콘택트렌즈(TL)의 S, C, A를 연산하여 구한다. 이 연산방법은 공지된 것이므로, 그 상세한 설명은 생략한다.

연산회로(521)는, 수광센서(512)로부터 출력되는 수광신호에 의거하여 소프트 콘택트렌즈(TL)의 S, C, A를 소정 시간마다 연산하여 구해가고, 소정 시간마다 연산하여 구한 S, C, A를 메모리(522)에 순차 기억시켜 간다.

즉, 메모리(522)에는, 도 27에 나타낸 바와 같이 S, C, A가 시계열로 기억되어 간다.

그런데, 보존액에서 꺼낸 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면에는 물방울이 부착된 상태로 되어 있으며, 그 물방울의 두께가 두껍고, 또 그 두께도 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면 위에서 균일하게 되어 있지 않고, 물결친 상태로 되어 있다. 이 때문에, 받침대(505)에 올려놓은 초기 단계에서 측정한 S, C, A값은, 정확한 값(S0,C0,A0)으로부터 크게 벗어난 것이 된다. 즉, ①∼③에서 나타낸 그래프와 같이 초기의 단계에서는, 정확한 값(S0,C0,A0)으로부터 크게 벗어난 값이 된다.

또한, ①의 그래프는 정확한 값으로부터 플러스 측으로 크게 벗어난 경우를 나타내고, ②,③의 그래프는 정확한 값으로부터 마이너스 측으로 크게 벗어난 경우를 나타낸다. 또, S, C, A값은 각각 다른 값이지만, 설명의 편의상 하나의 그래프로 나타내고, 3가지 상태를 ①∼③의 그래프로 나타냈다.

그리고, 시간이 경과해가면, 수분이 증발해감에 따라 그 물방울의 두께가 얇아져서, 균일한 막의 상태가 되어간다. 이에 따라, ①∼③의 그래프로 나타낸 바와 같이 시간의 경과와 함께 측정한 S, C, A의 값은, 정확한 S0, C0, A0값에 근접해가게 된다.

물방울이 균일한 막의 상태가 되면, 소프트 콘택트렌즈(TL)를 실제의 눈에 장착한 경우도 동일한 상태가 되어, 정확한 S0, C0, A0값이 구해지게 된다. 이 정확한 S0, C0, A0값은, 소프트 콘택트렌즈(TL)가 건조되기 시작할 때까지 동일한 값을 유지하므로, 소정시간(T1)내에서는 안정된 일정한 값으로 얻어지게 된다.

또한, 시간이 경과하여 소프트 콘택트렌즈(TL)가 건조되기 시작하면, 그 건조상태에 따라 소프트 콘택트렌즈(TL)의 S, C, A값이 변화해 간다. 그리고, 소프트 콘택트렌즈(TL)가 완전히 건조되면, 즉, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 수분이 100퍼센트 증발되어 버리면, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 S, C, A값은 일정한 것이 된다.

판정회로(523)는, 메모리(522)에 시계열로 기억된 S, C, A값으로부터 기간(T1)을 판단하고, 이 기간(T1)에 있어서의 S, C, A값을 정확한 값이라고 판정하여, 표시부(524)에 표시시킨다.

기간(T1)의 판단방법은, S, C, A를 미분하고, 이 미분의 절대값 ()이 소정값 이하가 되면서 그 소정값 이하가 일정시간 이상 계속되고 있을 때 기간(T1)이라고 판단한다. 그리고, 그 시점의 S, C, A값을 표시한다. 또는, S, C, A의 경시병화의 미분값(변화율)이 최소가 되는 시점(t1)과, S, C, A의 시간경과에 따른 변화의 미분값이 증가하기 시작하는 시전(t2)을 구하여, 이 시점(t1∼t2)의 사이를 기간(T1)으로 구해도 좋다.

이와 같이, 젖은 소프트 콘택트렌즈(TL)를 렌즈 받침대(505)에 올려놓는 것만으로, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 정확한 광학특성을 정확하게 측정할 수 있으므로, 종래와 같이 숙련을 요하는 일 없이 초심자라도 소프트 콘택트렌즈(TL)의 정확한 광학특성을 측정할 수 있다.

상기 실시예에서는, 기간(T1)의 S, C, A값을 표시부(524)에 표시시키고 있으나, 이 표시와 함께, 메모리(522)에 시계열로 기억된 S, C, A를 도 27에 나타낸 바와 같이 표시시켜도 좋다.

제 4실시예에서는, 렌즈미터(500)에 의해 소프트 콘택트렌즈(TL)의 광학특성을 측정하지만, 제 2실시예의 안굴절력 측정장치(100)나 제 3실시예의 렌즈굴절력 측정장치(400)에 의해 시계열로 S, C, A값을 구해가고, 이 시계열의 S, C, A값으로부터 상기와 동일하게 하여 정확한 S, C, A값을 구해도 좋다.

(발명의 실시예5)

도 28은 제 5실시예를 나타낸 것으로, 이 제 5실시예에서는 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면을 CCD카메라(600)로 촬영하여, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면을 표시장치(11)에 표시시키도록 한 것이다.

도 28에 있어서, 601은 하프미러, 602는 결상렌즈이다. CCD카메라(600)의 CCD(603)와 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면과는 결상렌즈(602)에 대해 공역 위치에 있다. 이 제 5실시예에서는, 광원(5)으로부터의 측정광속의 일부가 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면에서 산란되고, 이 산란된 산란광을 CCD카메라(600)가 수광한다.

이 제 5실시예에서는, 표시장치(11)에 표시되는 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면을 관찰하여, 그 표면의 액체(14)(도 4참조)가 균일한 두께로 되었는지의 여부를 검사자가 판단하는 것으로, 그 액체(14)가 균일한 두께로 되었다고 판단했을 때에 소프트 콘택트렌즈(TL)의 S, C, A값을 측정하는 것이다.

또, 파선으로 나타낸 바와 같이 화상처리회로(605)를 설치하고, CCD(603)로부터 출력되는 소프트 콘택트렌즈(TL) 표면의 화상신호를 화상처리회로(605)에 의해 화상처리하여, 소프트 콘택트렌즈(TL) 표면의 액체(14)가 균일한 두께가 되었다고 판단하도록 해도 좋다. 이 경우, 가령 화상신호의 휘도값이 동일하게 된 경우를 소프트 콘택트렌즈(TL) 표면의 액체(14)가 균일한 두께가 되었다고 판단한다.

이 경우, 연산제어회로(10)가 소프트 콘택트렌즈(TL)의 S, C, A를 단시간마다 반복하여 측정해가는 것으로, 이 측정한 S, C, A를 표시장치(11)에 표시시켜 가고, 그 측정마다 표시장치(11)에 표시된 S, C, A값을 갱신해간다. 그리고, 소프트 콘택트렌즈(TL) 표면의 액체(14)가 균일한 두께가 되었다고 화상처리회로(605)가 판단하면, 이 판단시점의 S, C, A값의 표시가 로크되고, 액체(14)가 균일한 두께가 되었을 때의 소프트 콘택트렌즈(TL)의 S, C, A값이 표시장치(11)에 표시된다.

또, 액체(14)가 균일한 두께가 되었다는 것을 판단하는 또다른 예로서, CCD(603)의 각 화소의 휘도값을 구하고, 이 휘도값이 미리 설정한 소정범위 내에 들어가 있는 화소의 총수가 가령 전체의 50퍼센트에 달했을 때, 소프트 콘택트렌즈 (TL) 표면의 액체(14)가 균일한 두께가 되었다고 판단하도록 해도 좋다.

이 제 5실시예에서는, 광원(5)으로부터의 측정광속이 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면에서 산란된 산란광을 CCD카메라(600)의 CCD(603)로 수광하도록 하고 있으나, 별도의 광원을 설치하고, 이 광원으로부터 사출되는 광속을 소프트 콘택트렌즈 (TL)의 표면에 조사하여, 그 표면에서 산란하는 산란광을 CCD카메라(600)로 수광하도록 해도 좋다.

(발명의 실시예 6)

도 29는 제 6실시예를 나타낸 것으로, 이 제 6실시예에서는 소프트 콘택트렌즈(TL)의 표면에서 반사되는 반사광(산란광)을 수광소자(610)로 수광하고, 이 수광소자(610)의 수광량으로부터 소프트 콘택트렌즈(TL) 표면의 액체(14)가 균일한 두께로 되었는지의 여부를 판단하고, 이 표면의 액체(14)가 균일한 두께로 되었을 때의 소프트 콘택트렌즈(TL)의 S, C, A값을 표시장치(11)에 표시하는 것이다.

이 경우에도, 제 5실시예와 마찬가지로, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 S, C, A를 단시간마다 반복하여 측정해가는 것으로, 이 측정한 S, C, A를 표시장치(11)에 표시시켜가고, 그 측정마다 표시장치(11)에 표시된 S, C, A값을 갱신해간다. 그리고, 액체(14)가 균일한 두께가 되었을 때의 S, C, A값의 표시를 로크하는 것이다.

액체(14)가 균일한 두께로 되었는지의 여부 판단은 연산제어회로(10)가 행하고, 이 제 6실시예에서는 수광소자(610)의 수광량이 최대가 되었을 때를 액체(14)가 균일한 두께가 되었다고 판단한다. 또한, 광원(5)과 수광소자(610)가 공역으로 되어 있다. 이 수광소자(610)는 CCD라도 좋다.

(발명의 실시예 7)

도 30은 제 7실시예를 나타낸 것으로, 이 제 7실시예에서는, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 액체(14)가 균일한 두께로 되었는지의 여부를 판단하기 위해, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 측방에 조명광학계(700)와, 수광광학계(710)를 설치한 것이다.

조명광학계(700)는, 광원(701)과 핀홀판(702)과 콜리메이트 렌즈(703)를 갖고 있다.

수광광학계(710)는, 결상렌즈(711)와 CCD(712)를 갖고 있다. CCD(712)와 소프트 콘택트렌즈(TL)의 중심단면 위치가 공역으로 되어 있으며, 도 31에 나타낸 바와 같이, CCD(712)상에 소프트 콘택트렌즈(TL)의 중심을 단면으로 한 단면상이 결상되는 상태가 된다. 즉, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 중심단면 위치에 핀트가 맞춰져 있다.

CCD(712)로부터 출력되는 화상신호는 화상처리회로(720)로 입력되고, 화상처리회로(720)는 그 화상신호를 화상처리하여, 소프트 콘택트렌즈(TL)의 액체(14)가 균일한 두께가 되었는지의 여부를 판단한다. 그리고, 단시간마다 반복하여 측정되고, 이 측정된 S, C, A가 표시장치(11)에 표시되어 가고, 그 측정마다 표시장치(11)에 표시된 S, C, A값이 갱신되어 간다.

그리고, 소프트 콘택트렌즈(TL) 표면의 액체(14)가 균일한 두께가 되었다고 화상처리회로(720)가 판단하면, 이 판단시점의 S,C,A 값의 표시가 로크되고, 액체(14)가 균일한 두께가 되었을 때의 소프트 콘택트렌즈(TL)의 S, C, A값이 표시장치(11)에 표시된다.

본 발명은, 이상으로 설명한 바와 같이 구성하였으므로, 공기 중에서 소프트 콘택트렌즈의 광학 특성값을 정밀하게 측정할 수 있다.

Claims (25)

1. 소프트 콘택트렌즈의 광학 특성값을 구하도록 한 굴절력 측정방법에 있어서,

   이 소프트 콘택트렌즈를 렌즈 받침대에 올려놓고, 상기 소프트 콘택트렌즈의 표면을 액체로 적시고, 측정광속을 상기 콘택트렌즈에 조사하고, 상기 콘택트렌즈의 표면에 있어서의 상기 측정광속의 산란광의 산란상태로 부터 상기 광학 특성값을 구하는 것을 특징으로 하는 굴절력 측정방법.
2. 제 1항에 있어서, 상기 산란광을 수광하는 수광소자는 굴절력 측정용의 수광소자임과 동시에, 상기 측정광속을 젖은 상태의 상기 소프트 콘택트렌즈에 조사해, 상기 측정광속이 소프트 콘텍트렌즈를 투과해서 산란했을 때의 산관광을 상기 수광소자로 수광시키는 것에 의해,

   상기 산란광의 산란상태를 상기 수광소자로 수광되는 패턴광의 변화에 따른 상기 수광신호의 변화로부터 구하고, 상기 수광소자로부터 출력되는 수광신호의 변화로부터 상기 수광특성값을 측정해 상기 산란광이 거의 없어졌을 때에 상기 수광특성값을 구하는 것을 특징으로 하는 굴절력 측정방법.
3. 제 1항에 있어서, 상기 산란광을 수광하는 수광소자는 굴절력 측정용 수광소자와는 별도로 설치된 표면반사 수광용의 제 2수광소자임과 동시에, 상기 측정광속을 젖은 상태의 소프트 콘택트렌즈로 투영하고, 상기 측정광속이 소프트 콘택트렌즈의 표면에서 반사할 때에 생기는 산란광의 산란상태를 상기 제 2수광소자로써 수광시켜, 상기 산란광의 산란상태를 상기 제 2수광소자의 상기 수광신호의 변화로부터 구하여, 상기 광학 특성값을 구하는 것을 특징으로 하는 굴절력 측정방법.
4. 제 1항에 있어서, 상기 산란광을 수광하기 위해, 굴절력 측정용 수광소자와는 별도로 설치된 CCD카메라임과 동시에, 상기 CCD카메라로부터의 화상신호를 화상처리하여 얻어진 화상 데이터가 소프트 콘택트렌즈의 표면이 평활한 경우 미리 얻어진 화상데이터와 거의 일치했을 때에, 상기 소프트 콘택트렌즈의 표면반사광의 산란상태가 소정 조건이 되었다고 판단하여, 굴절력 측정용 수광소자로부터 출력되는 수광신호에 의거하여 상기 광학특성을 구하는 것을 특징으로 하는 굴절력 측정방법.
5. 제 1항에 있어서, 상기 소프트 콘택트렌즈의 측정개시 시에 상기 소프트 콘택트렌즈를 생리식염수로 적시는 것을 특징으로 하는 굴절력 측정방법.
6. 제 1항에 있어서, 상기 소프트 콘택트렌즈의 표면에 액체가 다량으로 부착되어 있는 측정개시 시부터, 상기 액체가 소프트 콘택트렌즈에 흡수 혹은 증발 또는 흘러내려 소프트 콘택트렌즈 표면의 액체가 균일한 층상이 되는 측정중기를 거쳐, 소프트 콘택트렌즈로의 수분의 흡수 및 건조가 진행되어 소프트 콘택트렌즈의 표면이 거친상태가 되는 측정후기까지 변화할 때에, 상기 측정중기에 있어서의 상기 측정신호부터 상기 소프트 콘택트렌즈의 광학특성을 구하는 것을 특징으로 하는 굴절력 측정방법.
7. 측정광학계는 투영광학계와, 수광광학계와, 연산수단으로 구성되며, 상기 수광광학계는 수광소자를 가지고, 상기 측정광학계의 투영광학계와 수광광학계의 사이에 소프트 콘텍트렌즈를 배설해 공기중에서의 상기 측정광학계에 의해 상기 소프트 콘텍트렌즈의 광학특성값을 구하도록 한 굴절력 측정장치에 있어서,

   측정해야할 상기 소프트 콘텍트 렌즈를 적셔서 측정광속을 그 젖은 소프트 콘텍트 렌즈에 조사해 상기 소프트 콘텍트렌즈에서 산란하는 산란광을 수광하는 수광소자와;

   그 수광소자로부터 출력되는 수광신호의 변화로부터 상기 소프트 콘텍트렌즈의 표면 산란상태를 검출하여 상기 산란광이 거의 없어졌을 때에 상기 광학특성값을 구하는 연산수단으로 이루어진 것을 특징으로 하는 굴절력 측정장치.
8. 제 7항에 있어서, 광원으로부터 수광소자까지의 측정광로 도중에 패턴광 형성수단을 가지며, 상기 수광소자는 굴절력 측정용의 수광소자임과 동시에, 상기 연산수단은, 젖은 상태의 상기 소프트 콘택트렌즈를 공기 중에서 상기 측정광로 도중에 배치해서 상기 측정광속이 소프트 콘택트렌즈를 투과해서 산란했을 때의 산란광을 상기 수광소자에서 수광하는 것에 의해 측정을 개시시킴과 동시에, 해당 패턴광 형성수단에 의해 측정광속을 패턴광으로 형성시키고, 상기 산란광의 산란상태를 상기 수광소자에서 수광되는 상기 패턴광의 변화에 따른 상기 수광신호의 변화로부터 구하여 상기 수광특성값을 구하는 것을 특징으로 하는 굴절력 측정장치.
9. 제 7항에 있어서, 상기 수광소자는 굴절력 측정용 수광소자와는 별도로 설치된 표면반사 수광용의 제 2수광소자임과 동시에,

   상기 연산수단은, 젖은 상태의 상기 소프트 콘택트렌즈를 공기 중에, 또 측정광로 도중에 배치하고, 상기 측정광속을 소프트 콘택트렌즈에 투영하고, 상기 측정광속이 상기 소프트 콘택트렌즈의 표면에서 반사할 때에 생기는 산란광의 산란상태를 상기 제 2수광소자로써 수광시켜, 상기 산란광의 산란상태를 상기 제 2수광소자의 상기 수신신호의 변화로부터 구하고, 이 수광신호에 의거하여 상기 광학 특성값을 구하는 것을 특징으로 하는 굴절력 측정장치.
10. 제 7항에 있어서, 상기 수광소자는 굴절력 측정용 수광소자와는 별도로 설치된 CCD카메라임과 동시에,

    상기 연산수단은, 상기 CCD카메라로부터의 화상신호를 화상처리하여 얻어진 화상 데이터가 소프트 콘택트렌즈의 표면이 평활한 경우 미리 얻어진 화상데이터와 거의 일치했을 때에, 상기 소프트 콘택트렌즈의 표면반사광의 산란상태가 소정 조건이 되었다고 판단하여, 굴절력 측정용 수광소자로부터 출력되는 수광신호에 의거하여 상기 광학특성을 구하는 것을 특징으로 하는 굴절력특성 측정장치.
11. 제 7항에 있어서, 상기 연산수단은, 상기 소프트 콘택트렌즈의 표면에 액체가 다량으로 부착되어 있는 측정개시 시부터, 상기 액체가 소프트 콘택트렌즈에 흡수 혹은 증발 또는 흘러내려 소프트 콘택트렌즈 표면의 액체가 균일한 층상이 되는 측정중기를 거쳐, 소프트 콘택트렌즈로의 수분의 흡수 및 건조가 진행되어 소프트 콘택트렌즈의 표면이 거친상태가 되는 측정후기까지 변화할 때에, 상기 측정중기에 있어서의 상기 측정신호로부터 상기 소프트 콘택트렌즈의 광학특성을 구하는 것을 특징으로 하는 굴절력 측정장치.
12. 광원으로부터 수광소자까지의 측정광로 도중에 패턴광 형성수단을 배치하고, 상기 광원으로부터의 측정광을 상기 패턴광 형성수단에 의해 패턴광으로써 상기 수광소자에 수광시키도록 한 측정광학계와,

    상기 측정광로 도중에 소프트 콘택트렌즈를 배치했을 때, 상기 수광소자에서 수광되는 패턴광의 변화를 상기 수광소자로부터 출력되는 수광신호의 변화로부터 구함으로써, 상기 측정광로 도중에 배치된 소프트 콘택트렌즈의 광학 특성값을 구하는 연산제어회로를 구비하는 굴절력 측정장치에 있어서,

    상기 측정광이 소프트 콘택트렌즈를 투과할 때에 생기는 산란광을 수광하여 산란광 수광신호를 출력하는 산란광 수광부가 상기 수광소자와는 별도로 설치되어 있음과 동시에,

    상기 연산제어회로는, 젖은 상태의 상기 소프트 콘택트렌즈가 상기 렌즈받침대에 놓여져 측정이 개시된 때부터의 상기 산란광 수광신호가 설정값 이하일 때의 상기 수광신호로부터 상기 광학 특성값을 구하는 것을 특징으로 하는 굴절력 측정장치.
13. 렌즈받침대에 세트되고, 또 액체에 젖은 소프트 콘택트렌즈에 측정광을 투영하는 측정광학계와, 상기 소프트 콘택트렌즈를 투과한 측정광을 수광하는 수광수단을 갖는 수광광학계와, 상기 수광수단의 출력신호에 의거하여 소프트 콘택트렌즈의 광학특성을 소정 시간마다 연산해가는 연산수단을 구비한 굴절력 측정장치에 있어서,

    상기 연산수단이 연산한 광학특성의 시계열로부터, 액체에 젖은 소프트 콘택트렌즈의 정확한 광학특성을 판정하는 판정수단을 설치한 것을 특징으로 하는 굴절력 측정장치.
14. 렌즈받침대에 세트되고, 또 액체에 젖은 소프트 콘택트렌즈에 측정광을 투영하는 측정광학계와, 상기 소프트 콘택트렌즈를 투과한 측정광을 수광하는 수광수단을 갖는 수광광학계와, 상기 수광수단의 출력신호에 의거하여 소프트 콘택트렌즈의 광학특성을 소정 시간마다 연산해가는 연산수단을 구비한 굴절력 측정장치에 있어서,

    상기 연산수단에 의해 연산된 광학특성을 시계열로 기억해가는 기억수단과,

    이 기억수단에 기억된 시계열의 광학특성으로부터, 액체에 젖은 소프트 콘택트렌즈의 정확한 광학특성을 판정하는 판정수단을 설치한 것을 특징으로 하는 굴절력 측정장치.
15. 삭제
16. 제 14항에 있어서, 상기 판정수단은, 기억수단에 기억된 시계열의 광학특성에 의거하여, 광학특성의 변동이 소정값 이하이면서 그 상태가 일정시간 이상 계속되고 있는 기간을 구하고, 이 기간에 있어서의 광학특성을 소프트 콘택트렌즈의 정확한 광학특성이라고 판정하는 것을 특징으로 하는 굴절력 측정장치.
17. 제 14항에 있어서, 상기 판정수단은, 광학특성의 시간경과에 따른 변화의 변화율이 최소가 되는 시점과, 그 변화율이 증가하기 시작하는 시점까지의 사이에 있어서의 광학특성을 소프트 콘택트렌즈의 정확한 광학특성이라고 판정하는 것을 특징으로 하는 굴절력 측정장치.
18. 제 12항에 있어서, 상기 측정광학계는, 상기 패턴광속을 상기 소프트 콘택트렌즈를 개재하여 반사면에 투영하는 패턴광속 투영광학계를 갖고,

    상기 수광소자는 수광광학계에 설치되어 있으며, 이 수광광학계는 상기 반사면에 의해 반사되면서 상기 소프트 콘택트렌즈를 투과하여 되돌아온 패턴광속을 상기 수광소자로 안내하는 것으로, 상기 패턴광속 투영광학계와 상기 수광광학계는 광학부의 일부가 공용되고, 상기 패턴광속 투영광학계와 상기 수광광학계의 공용부분에, 상기 패턴광속 투영광학계의 광축에 대해서 상기 패턴광속을 편향하여 투영하는 편향부재가 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 굴절력 측정장치.
19. 제 18항에 있어서, 상기 편향부재는 상기 패턴광속 투영광학계의 광축을 중심으로 하여 회전되는 편향프리즘인 것을 특징으로 하는 굴절력 측정장치.
20. 제 18항에 있어서, 상기 편향부재는, 상기 소프트 콘택트렌즈의 광학특성을 측정할 때에, 상기 소프트 콘택트렌즈의 배치위치와 공역이 아닌 위치에 배치되는 것을 특징으로 하는 굴절력 측정장치.
21. 제 13항 내지 17항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 측정광학계는 상기 소프트 콘택트렌즈의 굴절력을 측정하기 위한 패턴광속을 상기 소프트 콘택트렌즈를 개재하여 반사면에 투영하는 패턴광속 투영광학계이고,

    상기 수광광학계는, 상기 반사면에 의해 반사되면서 상기 소프트 콘택트렌즈를 투과하여 되돌아온 패턴광속을 상기 수광수단으로 안내하는 것이며,

    상기 패턴광속 투영광학계와 상기 수광광학계와는 광학부의 일부가 공용되고, 상기 패턴강속 투영광학계와 상기 수광광학계의 공용부분에, 상기 패턴광속 투영광학계의 광축에 대해 상기 패턴광속을 편향하여 투영하는 편향부재가 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 굴절력 측정장치.
22. 제 21항에 있어서, 상기 편향부재는 상기 패턴광속 투광광학계의 광축을 중심으로 하여 회전되는 편향프리즘인 것을 특징으로 하는 굴절력 측정장치.
23. 제 21항에 있어서, 상기 편향부재는, 상기 소프트 콘택트렌즈의 광학특성을 측정할 때에, 상기 소프트 콘택트렌즈의 배치위치와 공역이 아닌 위치에 배치되는 것을 특징으로 하는 굴절력 측정장치.
24. 제 19항에 있어서, 상기 편향부재는, 상기 소프트 콘택트렌즈의 광학특성을 측정할 때에, 상기 소프트 콘택트렌즈의 배치위치와 공역이 아닌 위치에 배치되는 것을 특징으로 하는 굴절력 측정장치.
25. 제 22항에 있어서, 상기 편향부재는, 상기 소프트 콘택트렌즈의 광학특성을 측정할 때에, 상기 소프트 콘택트렌즈의 배치위치와 공역이 아닌 위치에 배치되는 것을 특징으로 하는 굴절력 측정장치.