KR100392920B1 - 승객 보호 시스템내에 제공된 메모리 커패시터의 커패시턴스를 체크하기 위한 방법 및 테스트 장치 - Google Patents

승객 보호 시스템내에 제공된 메모리 커패시터의 커패시턴스를 체크하기 위한 방법 및 테스트 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은, 승객 보호 시스템내에 제공된 메모리 커패시터의 커패시턴스를 체크하기 위한 방법 및 상기 메모리 커패시터용 테스트 장치에 관한 것이다. 자동차의 승객 보호 시스템내에 포함된, 프라이머를 점화하기 위한 점화 커패시터의 커패시턴스는 충전상태에서 커패시터 전압의 상승 에지에서 실시된다. 이 목적을 위해서, 테스트 시간 동안 메모리 커패시터에 의해 수용된 전하량은 충전 전류 또는 상응하는 값을 측정하여 테스트 시간에 대해서 적분함으로써 검출된다. 커패시턴스는, 상기 적분의 결과 및 테스트 시간 동안 이루어지는 커패시터 전압의 전압 변동의 비율을 통해서 얻어진다. 점화 커패시터의 기능은 절대로 장애를 받지 않는다.

Description

승객 보호 시스템내에 제공된 메모리 커패시터의 커패시턴스를 체크하기 위한 방법 및 테스트 장치 {METHOD FOR CHECKING THE CAPACITANCE OF MEMORY-CAPACITOR PROVIDED IN A PASSENGER-PROTECTING-SYSTEM AND TESTING APPARATUS}
본 발명은, 메모리 커패시터의 전하 변동 및 상기 메모리 커패시터의 관련 전압 변동의 비율을 측정함으로써, 승객 보호 시스템내에 제공된 메모리 커패시터, 특히 승객 보호 시스템의 프라미어를 점화하기 위한 점화 커패시터의 커패시턴스를 체크하기 위한 방법에 관한 것이다. 본 발명은 또한, 승객 보호 시스템내에 포함된 메모리 커패시터, 특히 프라이머를 점화하기 위한 점화 커패시터용 테스트 장치에 관한 것이다. 본 발명은 특히 안전 수단, 예를 들어 안전 벨트 또는 에어백과 같은 자동차 승객 보호 시스템에 관한 것이다.
자동차의 승객 보호 시스템은 사고시 신뢰할만하게 트리거되어야만 한다. 이 목적을 위해서 하나 또는 다수의 메모리 커패시터가 제공되는데, 이 커패시터는 예를 들어 프라이머를 점화하기 위한 충분한 파워를 보장해준다. 보오드 회로망에 의해 작동되는 에너지 소스의 고장과 같은 유사시에도 전력 공급은 보장된다. 이와 같은 메모리 커패시터는 전자 회로 또는 그 유사한 부재를 위한 보조 전압 소스로서 이용될 수 있다. 승객 보호 시스템의 기능성을 보장하기 위해서는, 특히 점화 커패시터로서 사용된 메모리 커패시터의 커패시턴스가 충분하도록 보장되어야 한다. 따라서, 메모리 커패시터의 커패시턴스를 체크하는 작업은 상기 커패시터를 내장한 후에 또는 승객 보호 시스템을 각각 스위치-온 한 후에 필요한 것이다.
DE 195 08 850 A1호에는 전술한 방식의 메모리 커패시터의 커패시턴스를 체크하기 위한 방법 및 상기 방법을 가능하게 하는 전술한 승객 보호 시스템의 테스트 장치가 공지되어 있다. 상기 내용에 따르면 메모리 커패시터의 커패시턴스는, 전압 소스에 의해서 스위치-온 후에 충전되는 메모리 커패시터가 전압 소스로부터 분리되고 규정된 방전 전류를 갖는 방전 회로에 의해서 소정 테스트 시간 혹은 측정 기간 동안 방전됨으로써 체크된다. 커패시터 전하의 변동은 방전 전류 및 테스트 시간의 곱에 의해서 결정되며, 상기와 같이 커패시턴스를 측정하기 위해서 상기 전하 변동이 커패시터 전압의 검출된 변동으로 나누어진다. 커패시턴스의 측정이 에러인 경우에는, 메모리 커패시터가 더 이상 기능할 수 없을 정도로 상기 커패시터가 방전될 위험이 있다. 따라서 공지된 테스트 장치는, 커패시터 전압이 최소값 이하로 떨어지는 경우에 커패시턴스 측정을 중단하는 보호 회로를 포함한다. 메모리 커패시터는 상기와 같은 최소 전압값에서도 계속해서 에너지를 충분히 공급할 수 있어야 하고, 상기 커패시터를 커패시턴스 측정을 위해 방전시키는 더 높은 전압값까지 사용 가능한 전압 소스에 의해서 충전될 수 있어야 하기 때문에, 메모리 커패시터의 치수는 원래 필요한 것보다 더 크게 설정되어야 하며, 이것은 공지된 테스트 장치의 공간 필요를 증대시키게 된다. 추가로 필요한 회로, 즉 보호 회로 및 방전 회로는 테스트 장치의 추가 비용 및 공간 필요를 야기한다. 또한 테스트 과정은 작동 전압에 대한 메모리 커패시터의 충전, 방전 및 재충전으로 인해 상당히 긴 시간을 필요로 한다. 전체적으로 볼 때 공지된 방법은 복잡하며 이 방법을 위해 사용될 수 있는 테스트 장치도 복잡하고 비싸다. 하지만 공지된 커패시턴스 체크 방법의 가장 큰 단점은 측정에 의해 발생되는, 저장된 값비싼 에너지의 소비이다.
본 발명의 목적은, 충전 후에 메모리 커패시터내에 저장된 에너지의 소비 없이도 체크를 가능하게 하는 동시에 적은 비용을 발생시키는, 승객 보호 시스템내에 제공된 메모리 커패시터의 커패시턴스를 체크하기 위한 방법 및 장치를 제공하는 것이다.
도 1은 제 1실시예에 따른 승객 보호 시스템용 테스트 장치의 개략적인 블록 회로도.
도 2는 도 1에 따른 테스트 장치가 스위치-온 된 경우의 전압 곡선을 도시한 개략도.
도 3은 추가 실시예에 따른 테스트 장치에 사용된, 메모리 커패시터용 별도의 충전 회로의 개략적인 블록 회로도.
* 도면의 주요부분에 대한 간단한 설명 *
2; 12 : 전하 캐리어 소스 3; 13 : 메모리 커패시터
4; 14 : 충전 저항기
Si : 제어 신호 t : 시간
Tstart: 테스트 시간의 개시 Tend: 테스트 시간의 종료
V-Batt : 보오드 회로망의 전압 레벨
V : 전압 VZ : 커패시터 전압
방법과 관련된 상기 목적은, 커패시턴스를 메모리 커패시터의 충전상태에서 측정함으로써 달성된다.
종속항 2 내지 5는 상기 방법의 바람직한 실시예이다.
장치와 관련된 상기 목적은, 메모리 커패시터의 커패시턴스를 측정하기 위한 측정 장치가 메모리 커패시터의 충전 동안 전하 캐리어 소스를 이용하여 메모리 커패시터의 관련 전하 변동 및 전압 변동의 측정을 개시하는 제어 장치를 포함함으로써 달성된다.
상기 장치의 바람직한 실시예는 종속항 7 내지 10에서 기술된다.
본 발명에 따르면, 커패시턴스 측정은 충전상태에서 커패시터 전압 곡선의 상승 에지에서 실시된다. 그럼으로써, 메모리 커패시터의 재충전 없이도, 커패시턴스의 측정 후에는 측정된 메모리 커패시터가 기능할 준비를 완전히 갖추게 된다. 이 경우 커패시턴스를 측정하기 위해 필요한 커패시터 전하의 전하 변동은 규정된 방전 전류를 통해서 측정되지 않고 충전 전류를 통해서 측정된다. 충전상태동안에만 전하 캐리어 소스로부터 커패시터로 흐르는 충전 전류는 여분으로 발생될 필요가 없고, 오히려 커패시터 전하의 변동을 인식하기 위해서 측정 기간 동안에만 측정된다. 측정 기간 동안 이루어지는 커패시터 전압의 변동이 추가로 측정되면, 커패시터 전하 및 커패시터 전압의 변동 비율로부터 커패시터의 커패시턴스가 산출될 수 있다.
커패시턴스의 측정 혹은 결정이 의도치 않게 적시에 종결되지 않더라도 지금까지 공지된 방법에서와 달리 메모리 커패시터의 기능에는 아무런 영향도 미치지 않는다. 그 이유는, 메모리 커패시터가 - 측정이 없을 때와 마찬가지로 - 완전히 충전되기 때문이다. 본 발명은, 별도의 방전 회로 및 보호 회로 없이도 커패시턴스의 측정을 가능하게 한다. 메모리 커패시터의 크기도 커패시턴스 측정의 이유에서 치수 이상으로 설정될 필요가 없다. 그러므로, 전체적으로 볼 때 적은 추가 공간의 필요 및 낮은 하드웨어 비용을 야기하는 테스트 장치가 실현될 수 있다.
바람직한 실시예에서는, 충전 전류가 전하 캐리어 소스 및 메모리 커패시터 사이의 충전 저항기에 의해 제한됨으로써, 결과적으로 충전상태는 연장되고 커패시턴스를 측정하기 위해서 충분한 시간 그리고 유리한 전류 진행 곡선 및 전압 진행 곡선이 이용될 수 있게 된다. 그렇게 되면, 충전 전류의 측정은 바람직하게 측정된 전압 강하를 통해서 충전 저항기에서 이루어진다. 커패시터 전하의 전하 변동은 특히 측정 기간에 대해서 이루어지는 충전 전류의 근사치 적분에 의해서 얻어진다. 즉, 전압 탭의 경우에는 충전 저항기에서 테스트 시간에 대해 전압 강하를 적분하여 충전 저항기의 저항값으로 나눔으로써 전하 변동이 얻어진다.
또한, 본 발명의 바람직한 실시예에서는, 커패시터 전압의 전압 변동을 검출하기 위해 이루어지는, 충전상태에서의 커패시터 전압의 측정에 의해 충전 과정을 모니터링할 수 있게 되며, 충전 경로가 중단되었는지의 여부 또는 메모리 커패시터가 충분한 에너지를 저장하고 있는지의 여부 혹은 얼마나 충분한 에너지를 저장하고 있는지를 확인할 수 있게 된다.
본 발명은 도면을 인용하는 실시예를 참조하여 하기에서 자세히 설명된다.
도 1에 도시된 테스트 장치(1)는 자동차 승객 보호 시스템의 구성 부품이며, 자동차내에 배치된 하나 또는 다수의 (도시되지 않은) 사고감지 센서로부터 신호를 수신한다. 테스트 장치(1)는 에너지를 공급하기 위한 보오드 회로망과 연결되고, 도시되지 않은 마이크로프로세서를 포함하며, 상기 마이크로프로세서는 사고감지 센서의 신호를 평가하여 사고의 검출시에는 테스트 장치(1)와 연결된, 도시되지 않은 프라이머, 예컨대 에어백의 프라이머를 작동시킨다. 위험 상황에서의 점화를 위해서는 다수의 프라이머가 제어 장치(1)와 연결될 수도 있다.
테스트 장치(1)는 전압 소스(2)를 포함하는 제어 장치이다. 전압 소스(2)는 자동차의 보오드 회로망으로부터 입력 에너지를 받아서, 상기 전압 소스에 병렬 접속된 점화 커패시터(3)를 예정된 전압까지 충전한다. 그에 따라 전압 소스(2)는 점화 커패시터(3)용 전하 캐리어 소스로서 작용한다. 전압 소스(2)는, 점화 커패시터(3)용 충전 전압 또는 소스 전압으로서의 보오드 회로망 전압 보다 더 높은 전압을 송출하는 전압 제너레이터일 수 있다. 전압 소스(2) 대신에 전류 소스도 또한 점화 커패시터(3)를 예정된 전압값까지 충전하기 위한 전하 캐리어 소스로서 사용될 수 있다. 점화 커패시터(3)는, 충분한 점화 성능을 보장해주며 보오드 회로망의 고장시에는 프라이머를 점화하기 위해서 승객 보호 시스템의 비상 전류 공급을 보장해주는 메모리 커패시터로서 사용된다. 점화 커패시터(3) 대신에, 병렬 또는 직렬 접속된 다수의 커패시터의 조합에 의해서 형성된 메모리 커패시터도 존재할 수 있다.
충전 저항기(4)는 전압 소스(2)와 점화 커패시터(3) 사이에 직렬 접속된다. 충전 저항기(4)는 규정된 저항값(R)을 가지며, 전압 소스에 의해 점화 커패시터(3)를 충전하기 위한 충전 회로의 구성 부품이다. 이 경우 충전 저항기는 전압 소스(2)로부터 점화 커패시터로 흐르는 충전 전류를 제한한다.
점화 커패시터(3)의 커패시턴스(C)(커패시턴스 값)의 체크는 전류 측정 또는 전압 측정에 의해서, 그리고 테스트 장치(1)의 마이크로프로세서내에 저장된 소프트웨어를 이용하여 이루어진다. 전체적으로 볼 때 테스트 장치는 테스트 시간 제어 장치, 전압 변동 검출 장치 및 전하 변동 검출 장치를 포함한다.
테스트 시간 제어 장치는 정상 작동의 개시를 지시하는 제어 신호를 보오드 회로망의 스위치-온 후 수신한 다음에, 커패시턴스(C)를 체크하기 위한 테스트 또는 측정을 시작하며, 정해진 테스트 시간 후에 상기 테스트를 종료한다. 도 2에서 볼 수 있는 바와 같이 테스트 시간 제어 장치는, 측정의 개시 시점(tstart) 뿐만 아니라 종료 시점(tend)이 점화 커패시터(3)의 충전상태내에 놓이도록 타이밍 조절된다. 개시 시점(tstart)은 도 2의 아래 다이어그램에서 볼 수 있는 바와 같이 보오드 회로망의 스위치-온 또는 커패시터의 충전 개시 다음에 놓이며, 이 시스템은 공지된 바와 같이 추가의 시퀀스를 위한 전제 조건인 자체 테스트를 먼저 실시한다.
전압 변동 검출 장치는, 충전 저항기(4)와 점화 커패시터(3) 사이에 있는 라인의 전위를 측정함으로써 검출되는 커패시터 전압(VZ)의 순시값을 기초로하여, 예를 들어 1.8s인 테스트 시간의 개시 시점(tstart)과 종료 시점(tend) 사이에서의 커패시터 전압(VZ)의 전압 변동(ΔVZ)을 검출한다.
전하 변동 검출 장치는 테스트 시간의 개시 시점(tstart)과 종료 시점(tend) 사이에서의 커패시터 전하(Q)의 전하 변동(ΔQ)을 측정한다. 이 목적을 위해서 전하 변동 검출 장치는, 충전 전류(I) 또는 이 충전 전류에 상응하는 값을 테스트 시간 동안 측정하는 충전 전류 검출 장치, 및 충전 전류(I) 또는 상기 충전 전류에 상응하는 값을 테스트 기간에 대해서 적어도 근사치로 적분하기 위한 적분 장치를 포함한다. 충전 전류 검출 장치는, 전압 소스(2)와 충전 저항기(4) 사이의 라인상에서 전압 검출 장치에 의해 측정된 소스 전압(EVZ) 및 충전 저항기(4)와 점화 커패시터(3) 사이의 라인상에서 전압 검출 장치에 의해 검출된 커패시터 전압(VZ)에 상응하는 전위를 기초로하여, 충전 저항기(4)에서의 전압 강하를 검출한다. 즉, 충전 저항기(4)에 인가되는 전압(EVZ-VZ)을 검출한다. 적분 장치는, 충전 저항기(4)를 통해 인가되며 오옴 법칙에 따라 충전 전류(I)에 상응하는 상기 전압(EVZ-VZ)을 테스트 시간에 대해서 적분한다. 그 결과, 적분 및 충전 저항기(4)의 저항값(R)으로부터 전하 변동 검출 장치는 하기 등식:
... (1)
에 따라서 또는 좀 더 정확하게는 하기 등식:
... (1')
에 따라서 커패시터 전하(Q)의 변동(ΔQ)을 검출한다.
테스트 장치는 커패시터 전하의 변동(ΔQ) 및 커패시터 전압의 변동(ΔVZ)으로부터 하기 등식에 따라 점화 커패시터(3)의 커패시턴스를 검출한다:
C = ΔQ / ΔVZ... (2)
도 2의 상부 다이어그램에는, 점화 커패시터(3)에서의 ("V-커패시터"로 표기되는) 커패시터 전압(VZ)의 파형 및 승객 보호 시스템의 스위치-온 후의 충전 과정시의 ("V-소스"로 표기되는) 소스 전압(EVZ)의 파형이 도시되어 있으며, 상기 다이어그램에서 횡좌표상에는 시간(t)이 그리고 종좌표상에는 각각의 전압(V)이 제공된다.
도 2의 하부 다이어그램에는 이미 언급한 바와 같이, 승객 보호 시스템의 작동 상태를 지시하는 제어 신호(Si), 즉 로직 신호의 파형이 제공된다. 스위치-온 후에는 상기 제어 신호(Si)에 의해서 먼저 상이한 소자의 자체 테스트("워치독(watchdog)"-테스트)를 실시하기 위한 자체 테스트 펄스 및 소프트 웨어가 송출된다. 먼저 "하이(high)"로 세팅된 제어 신호(Si)는 리세팅을 위해서 자체 테스트 후에 소프트 웨어에 의해서 "로우(low)"로 세팅된 다음에 재차 "하이"로 가는데, 이것은 시스템의 작동 유용성을 의미하며 정상 작동의 스타팅을 지시한다. 점화 커패시터(3)가 충전되는 동안에는 계속적으로, 점화 커패시터(3)의 커패시턴스(C)를 체크하기 위한 테스트 또는 측정이 실시된다. 이 목적을 위해서 정상 작동의 개시 직후에 테스트 시간은 tstart에서 시작되며, 테스트는 예컨대 1.8s의 정해진 테스트 시간 동안 종료 시점(tend)까지 실시된다. 이 경우 변동(ΔVZ)을 얻어내기 위해서, 개시 시점(tstart)에서 커패시터 전압(VZ-Start)이 검출되고, 종료 시점(tend)에서 커패시터 전압이 검출된다. Σ(EVZ-VZ), 즉 소스 전압(EVZ)과 커패시터 전압(VZ)의 차와 일치하며 전압 탭에 의해서 충전 저항기(4)에서 검출된 전압 강하를 시간의 일정한 작은 부분 시간 범위 동안 합산함으로써, 테스트 시간에 대한 충전 전류(I)의 적분에 저항값(R)을 곱한 값에 근사하게 일치되며 테스트 시간 동안 점화 커패시터(3)에 의해 수용된 전하(ΔQ)를 측정하기 위해서 이용될 수 있는 값이 얻어진다. V-Batt는 여기에 도시된 실시예에서 보오드 회로망의 전압 레벨을 지시한다.
도 2에 도시된 소스 전압(V-소스)의 파형(EVZ) 대신에, 사용된 전압 소스(2) 또는 전하 캐리어 소스의 종류에 따라서는 다른 파형들도 가능하다. 도 2에 존재하는 꺽임 부분은 전압 소스(2)에 제공된 집적 회로의 정해진 특성들에 의한 것일 수 있지만, 반드시 존재할 필요는 없다. 원칙상으로는, 정전압 소스의 사용 또는 V-소스를 위한 기타의 선형 전압 파형도 생각할 수 있다. 도 2에서와 같이 적어도 근사치로 기술된 적분 형성으로 인해 상기와 같은 소스 전압의 파형 차이는 그다지 중요하게 여겨지지 않게 된다. 사용된 측정 기술에 따라서는, 2개의 전압(EVZ 및VZ)이 측정될 필요가 없고, 오히려 하나의 전압이 충전 저항에 의한 전류의 측정으로부터 및 측정된 다른 전압으로부터 얻어질 수 있다.
점화 커패시터(3) 대신에 병렬 및/또는 직렬 접속된 다수의 커패시터가 메모리 커패시터에 조합되면, 테스트 장치는 기술된 방식과 유사하게 전체 커패시턴스를 테스트하기 위해서 또는 각각의 개별 커패시터의 커패시턴스를 테스트하기 위해서도 적합하다는 사실을 예견할 수 있다. 대안적으로는, 승객 보호 시스템내에 존재하는 각각의 메모리 커패시터를 위해서 하나의 별도의 충전 회로 및 별도의 테스트 장치가 제공될 수 있다.
도 3에는 상기와 같은 회로를 가능하게 하는 충전 회로(10)에 대한 예가 도시되어 있다. 이 경우 전하 캐리어 소스로서는 일정한 소스 전압(U0)을 갖는 정전압 소스(12)가 사용된다. 충전 저항기(14)를 통해서 저항값(R14)을 (역시 점화 커패시터일 수 있는) 메모리 커패시터(13)까지 안내하는 충전 경로는 스위치(15), 예컨대 스위칭 트랜지스터에 의해서 중단될 수 있다. 도시된 실시예에서 스위치(15)는 정전압 소스(12)와 충전 저항기(14) 사이에 배치된다. 스위치(15)의 폐쇄에 의해서 개시되는 충전 과정 동안에는 메모리 커패시터(13)에 대해 인가되는 커패시터 전압(Uc) 및 충전 저항기(14)에 대해 인가되는 전압(UR)이 측정되며, 그로부터 충전 전류(Ir)가 유도될 수 있고 메모리 커패시터(13)의 커패시턴스(C13)가 측정될 수 있다. 이 때, 측정 기간 또는 테스트 시간(t)내에 이루어지는 전압 변동(ΔUc)에 대해서는 하기의 등식이 설정된다:
등식 (3)으로부터 커패시턴스에 대한 등식이 얻어진다:
... (4)
충전 위상내에서는 제 1근사치에 적용된다:
... (5)
상기 식에서 I0는 정전류를 상징한다.
식 (5)로부터 커패시터 전압(Uc)의 전압 변동(ΔUc)에 대한 하기의 식이 얻어진다:
... (6)
상기 식으로부터 하기의 식에 의해서 커패시턴스가 근사치로 측정될 수 있다.
... (7)
커패시턴스를 체크하기 위한 본 발명에 따른 방법은 다양한 방식으로 변형될 수 있다. 예를 들어 도 2에 따르면, 체크 과정은 예정된 테스트 시간에 따라 이루어지지 않고, 오히려 개시 전압(V-Start)이 측정 개시를 트리거하고 예정된 최종 전압의 도달이 체크 또는 측정의 종결을 야기시킴으로써, 커패시터의 예정된 전압차(ΔVZ) 내부에서 이루어질 수 있다.
본 발명에 따른 방법 및 장치에 의해, 적은 비용으로 및 충전 후에 메모리 커패시터내에 저장된 에너지의 소비 없이도 승객 보호 시스템내에 제공된 메모리 커패시터의 커패시턴스를 체크할 수 있다.

Claims (10)

  1. 메모리 커패시터의 전하 변동 및 상기 메모리 커패시터의 관련 전압 변동의 비율을 측정함으로써, 승객 보호 시스템내에 제공된 메모리 커패시터(3; 13)의 커패시턴스를 체크하기 위한 방법에 있어서,
    상기 커패시턴스는 메모리 커패시터(3; 13)의 충전상태에서 측정되며,
    상기 메모리 커패시터(3; 13)와 전하 캐리어 소스(2; 12) 사이에 접속된 충전 저항기(4; 14)에서의 전압 강하 및 상기 충전 저항기의 저항값으로부터 충전 전류가 검출되는 것을 특징으로 하는 방법.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 충전상태에 있는 테스트 시간 동안 충전 전류를 적어도 근사치로 적분함으로써 전하 변동을 측정하는 것을 특징으로 하는 방법.
  3. 삭제
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 메모리 커패시터(3; 13)의 전압은 상기 충전 저항기(4; 14)와 연결된 상기 커패시터의 단자에서 측정되며,
    상기 커패시터 전압은, 충전 저항기에서의 전압 강하를 검출하기 위해서, 커패시터 전압의 전압 변동을 측정하기 위해서, 메모리 커패시터가 기능할 수 있는지를 측정하기 위해서, 및/또는 충전 과정이 성공적으로 수행되었는지를 체크하기 위해서 사용하는 것을 특징으로 하는 방법.
  5. 제 1항 또는 제 4항에 있어서,
    메모리 커패시터(3)의 커패시턴스(C)를 일반식
    C = ΔQ / ΔVZ
    및
    ... (1)
    을 통해서 얻으며, 상기 식에서 C는 측정될 커패시턴스이고, ΔQ는 테스트 시간의 개시(tstart)와 종료(tend) 사이에서의 전하 변동이며, ΔVZ는 테스트 시간의 개시(tstart)와 종료(tend) 사이에서의 커패시터 전압의 차의 형성에 의해 형성된 커패시터 전압(VZ)의 전압 변동이고, I는 충전 전류이며, R은 충전 저항기(4)의 저항값이고, (EVZ - VZ)는 충전 저항기 위에서의 전압 강하인 것을 특징으로 하는 방법.
  6. 승객 보호 시스템내에 포함된 메모리 커패시터(3; 13)용 테스트 장치로서,
    - 상기 메모리 커패시터를 충전하기 위한 전하 캐리어 소스(2; 12), 및
    - 커패시터 전압의 전압 변동을 측정하기 위한 전압 변동 검출 장치 및 상기 전압 변동 동안의 커패시터 전하의 전하 변동을 측정하기 위한 전하 변동 검출 장치를 갖는, 메모리 커패시터의 커패시턴스를 측정하기 위한 측정 장치를 포함하는 테스트 장치에 있어서,
    상기 측정 장치는, 메모리 커패시터(3; 13)의 충전 동안 전하 캐리어 소스(2; 12)를 이용하여 메모리 커패시터의 관련 전하 변동 및 전압 변동의 측정을 개시하는 제어 장치를 포함하고,
    상기 커패시턴스는 메모리 커패시터(3; 13)의 충전상태에서 측정되며,
    상기 메모리 커패시터(3; 13)와 전하 캐리어 소스(2; 12) 사이에 접속된 충전 저항기(4; 14)에서의 전압 강하 및 상기 충전 저항기의 저항값으로부터 충전 전류가 검출되는 것을 특징으로 하는 장치.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 제어 장치는 예정된 테스트 시간 동안 측정을 개시하는 것을 특징으로 하는 장치.
  8. 제 6항 또는 제 7항에 있어서,
    상기 전하 변동 검출 장치는, 측정 기간 동안 메모리 커패시터의 충전 전류에 상응하는 값을 적어도 근사치로 적분하기 위한 적분 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  9. 제 5항 내지 제 8항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 전하 캐리어 소스(2; 12)와 상기 메모리 커패시터(3; 13) 사이에 충전 저항기(4; 14)가 접속되며, 상기 전압 변동 검출 장치는 상기 충전 저항기와 연결된 메모리 커패시터의 한 단자에서 커패시터 전압을 검출하는 것을 특징으로 하는 장치.
  10. 제 9항에 있어서,
    상기 전압 변동 검출 장치는 상기 충전 저항기(4)와 연결된 전하 캐리어 소스(2)의 출구에서 소스 전압을 측정하며, 상기 전하 변동 검출 장치는 충전 저항기(4)의 저항값으로부터 및 소스 전압과 커패시터 전압간의 차로부터 충전 전류를 측정하는 것을 특징으로 하는 장치.
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