JPWO2020122257A1 - X-ray tube and X-ray detector - Google Patents
X-ray tube and X-ray detector Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2020122257A1 JPWO2020122257A1 JP2020559352A JP2020559352A JPWO2020122257A1 JP WO2020122257 A1 JPWO2020122257 A1 JP WO2020122257A1 JP 2020559352 A JP2020559352 A JP 2020559352A JP 2020559352 A JP2020559352 A JP 2020559352A JP WO2020122257 A1 JPWO2020122257 A1 JP WO2020122257A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- target
- rays
- unit
- thin tube
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 48
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 26
- 238000000921 elemental analysis Methods 0.000 claims description 25
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 claims description 10
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 7
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 7
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 claims description 7
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 7
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 21
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 8
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 8
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 7
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 6
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 6
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000006837 decompression Effects 0.000 description 4
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000005307 ferromagnetism Effects 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 238000004451 qualitative analysis Methods 0.000 description 1
- 238000004445 quantitative analysis Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004876 x-ray fluorescence Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K5/00—Irradiation devices
- G21K5/02—Irradiation devices having no beam-forming means
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K5/00—Irradiation devices
- G21K5/08—Holders for targets or for other objects to be irradiated
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/04—Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
- H01J35/08—Anodes; Anti cathodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/14—Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/16—Vessels; Containers; Shields associated therewith
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/32—Tubes wherein the X-rays are produced at or near the end of the tube or a part thereof which tube or part has a small cross-section to facilitate introduction into a small hole or cavity
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
Abstract
可及的に試料へターゲットを近づけることができるX線管及びX線検出装置を提供する。
X線管は、電子発生部と、前記電子発生部が発生させた電子を電圧によって加速させる電子加速部と、加速された電子が衝突することによってX線を発生させるターゲットと、内部に前記電子発生部が配置された管体部と、前記管体部よりも外径が小さい管状であり、前記管体部に連通しており、前記加速された電子が内部を長手方向に沿って通過する細管部と、前記細管部の内部を通過する電子を磁界によって集束させる磁界レンズ部とを備え、前記ターゲットは、前記細管部の先端部に配置されており、前記細管部の長手方向に沿って前記電子発生部から前記ターゲットまでの間で最も大きい前記管体部の外径に比べて、前記細管部の長手方向に沿って前記電子発生部から前記ターゲットまでの距離は三倍を超過する長さである。Provided are an X-ray tube and an X-ray detector capable of bringing the target as close as possible to the sample.
The X-ray tube includes an electron generating unit, an electron accelerating unit that accelerates the electrons generated by the electron generating unit by a voltage, a target that generates X-rays by colliding the accelerated electrons, and the electrons inside. The tubular portion in which the generating portion is arranged and the tubular portion having an outer diameter smaller than that of the tubular portion are communicated with the tubular portion, and the accelerated electrons pass through the inside along the longitudinal direction. A thin tube portion and a magnetic field lens portion that focuses electrons passing through the inside of the thin tube portion by a magnetic field are provided, and the target is arranged at the tip end portion of the thin tube portion and is arranged along the longitudinal direction of the thin tube portion. The distance from the electron generating portion to the target along the longitudinal direction of the thin tube portion is more than three times longer than the outer diameter of the tubular portion having the largest distance between the electron generating portion and the target. That's right.
Description
本発明は、X線を発生させるX線管、及びX線検出装置に関する。 The present invention relates to an X-ray tube that generates X-rays and an X-ray detector.
試料へX線を照射し、試料を透過したX線、又は試料から発生した二次X線を検出し、試料の分析を行うことができる。例えば、試料から発生した蛍光X線に基づいて元素を分析する蛍光X線分析を行うことができる。このような分析に用いられるX線を発生させるために、X線管が用いられている。X線管では、加熱されたフィラメント等の電子発生部から電子を発生させ、電界により電子を加速し、加速した電子をターゲットに衝突させ、ターゲットからX線を発生させる。特許文献1には、X線管の例が記載されている。
The sample can be analyzed by irradiating the sample with X-rays and detecting the X-rays that have passed through the sample or the secondary X-rays generated from the sample. For example, fluorescent X-ray analysis can be performed to analyze elements based on fluorescent X-rays generated from a sample. X-ray tubes are used to generate the X-rays used in such analyzes. In an X-ray tube, electrons are generated from an electron generating part such as a heated filament, the electrons are accelerated by an electric field, the accelerated electrons collide with a target, and X-rays are generated from the target.
X線を利用した分析を高精度に行うためには、高強度のX線を試料へ照射することが望ましい。高強度のX線を試料へ照射するためには、X線の発生源を試料へ近づけることが望ましい。しかしながら、X線管の大きさのため、X線管のターゲットを試料に近づけることには限界がある。 In order to perform analysis using X-rays with high accuracy, it is desirable to irradiate the sample with high-intensity X-rays. In order to irradiate the sample with high-intensity X-rays, it is desirable to bring the source of the X-rays closer to the sample. However, due to the size of the X-ray tube, there is a limit to bringing the target of the X-ray tube closer to the sample.
本発明は、斯かる事情に鑑みてなされたものであって、その目的とするところは、可及的に試料へターゲットを近づけることができるX線管及びX線検出装置を提供することにある。 The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide an X-ray tube and an X-ray detector capable of bringing a target as close as possible to a sample. ..
本発明に係るX線管は、電子発生部と、前記電子発生部が発生させた電子を電圧によって加速させる電子加速部と、加速された電子が衝突することによってX線を発生させるターゲットとを備えるX線管において、内部に前記電子発生部が配置された管体部と、前記管体部よりも外径が小さい管状であり、前記管体部に連通しており、前記加速された電子が内部を長手方向に沿って通過する細管部と、前記細管部の内部を通過する電子を磁界によって集束させる磁界レンズ部とを備え、前記ターゲットは、前記細管部の先端部に配置されており、前記細管部の長手方向に沿って前記電子発生部から前記ターゲットまでの間で最も大きい前記管体部の外径に比べて、前記細管部の長手方向に沿って前記電子発生部から前記ターゲットまでの距離は三倍を超過する長さであることを特徴とする。 The X-ray tube according to the present invention comprises an electron generating unit, an electron accelerating unit that accelerates electrons generated by the electron generating unit by a voltage, and a target that generates X-rays by colliding the accelerated electrons. In the X-ray tube provided, the tubular portion in which the electron generating portion is arranged and the tubular portion having an outer diameter smaller than that of the tubular portion are communicated with the tubular portion, and the accelerated electrons are provided. The target includes a thin tube portion that passes through the inside along the longitudinal direction and a magnetic field lens portion that focuses electrons passing through the inside of the thin tube portion by a magnetic field, and the target is arranged at the tip end portion of the thin tube portion. , The electron generating portion to the target along the longitudinal direction of the thin tube portion as compared with the outer diameter of the tubular portion having the largest distance between the electron generating portion and the target along the longitudinal direction of the thin tube portion. The distance to is characterized by a length exceeding three times.
本発明においては、X線管は、電子発生部が配置された管体部と、より外径が小さい細管部とを備え、ターゲットは細管部の先端部にあり、電子発生部からターゲットまでの距離は管体部の外径に比べて三倍を超過する長さである。外径が小さい細管部の先端部にターゲットを配置することにより、ターゲットを試料へ近づけることができる。電子発生部からターゲットまでの距離を長くすることにより、サイズの大きい管体部が他の機器に干渉すること無く、ターゲットを試料へ可及的に近づけることができる。 In the present invention, the X-ray tube includes a tubular portion in which an electron generating portion is arranged and a thin tube portion having a smaller outer diameter, and the target is located at the tip of the thin tube portion, from the electron generating portion to the target. The distance is a length that exceeds three times the outer diameter of the tubular part. By arranging the target at the tip of the thin tube portion having a small outer diameter, the target can be brought closer to the sample. By increasing the distance from the electron generating part to the target, the target can be brought as close as possible to the sample without the large-sized tube part interfering with other devices.
本発明に係るX線管は、電子を加速させるために前記電子加速部が発生させる電圧は21kV以上70kV以下であることを特徴とする。 The X-ray tube according to the present invention is characterized in that the voltage generated by the electron accelerating unit for accelerating electrons is 21 kV or more and 70 kV or less.
本発明においては、電子を加速させる電圧は21kV以上70kV以下である。これにより、試料に含まれ分析対象となり得るほぼ全ての元素について十分な精度で元素分析を行うための蛍光X線を試料から発生させることができる。 In the present invention, the voltage for accelerating electrons is 21 kV or more and 70 kV or less. This makes it possible to generate fluorescent X-rays from the sample for performing elemental analysis with sufficient accuracy for almost all the elements contained in the sample and which can be analyzed.
本発明に係るX線管は、前記細管部は、高熱伝導材を用いて構成されており、前記細管部の外面は磁性材でコーティングされていることを特徴とする。 The X-ray tube according to the present invention is characterized in that the thin tube portion is formed of a high thermal conductive material, and the outer surface of the thin tube portion is coated with a magnetic material.
本発明においては、細管部は高熱伝導材を用いて構成されており、効率良くターゲットからの熱が放熱される。また、細管部の外面は磁性材でコーティングされている。コーティングされた磁性材が磁気シールドとなり、外部磁界によって電子の進路が影響を受けることが無い。 In the present invention, the thin tube portion is configured by using a high thermal conductive material, and heat from the target is efficiently dissipated. Further, the outer surface of the thin tube portion is coated with a magnetic material. The coated magnetic material acts as a magnetic shield, and the path of electrons is not affected by the external magnetic field.
本発明に係るX線管は、前記磁界レンズ部は、永久磁石を用いて構成されていることを特徴とする。 The X-ray tube according to the present invention is characterized in that the magnetic field lens portion is configured by using a permanent magnet.
本発明においては、加速させた電子を集束する磁界レンズ部は、永久磁石を用いて構成されている。永久磁石を用いることにより、磁界レンズ部が小型化・軽量化する。また、電磁石を使用するために必要な機構が不要となり、X線管の構造が簡素化する。 In the present invention, the magnetic field lens portion that focuses the accelerated electrons is configured by using a permanent magnet. By using a permanent magnet, the magnetic field lens portion is made smaller and lighter. In addition, the mechanism required for using an electromagnet becomes unnecessary, and the structure of the X-ray tube is simplified.
本発明に係るX線管は、前記ターゲットは、組成の異なる複数の領域を有し、前記磁界レンズ部は、前記複数の領域の内で前記加速された電子が衝突する領域を変更することを特徴とする。 In the X-ray tube according to the present invention, the target has a plurality of regions having different compositions, and the magnetic field lens portion changes the region in which the accelerated electrons collide within the plurality of regions. It is a feature.
本発明においては、ターゲットは組成の異なる複数の領域を有し、X線管は電子が衝突する領域が変更可能になっている。電子が衝突する領域を変更することによって、X線管が放射するX線のエネルギーが変更され、試料の種類に応じて適切なエネルギーのX線を利用することが可能となる。 In the present invention, the target has a plurality of regions having different compositions, and the region where electrons collide with the X-ray tube can be changed. By changing the region where the electrons collide, the energy of the X-rays emitted by the X-ray tube is changed, and it becomes possible to use the X-rays having an appropriate energy according to the type of the sample.
本発明に係るX線管は、前記ターゲットは、前記細管部の先端を塞ぐ位置に配置されてあり、前記X線は、前記ターゲットを通過して外部へ放射され、前記先端部の内径は、前記先端にかけて連続的に減少していることを特徴とする。 In the X-ray tube according to the present invention, the target is arranged at a position of closing the tip of the thin tube portion, the X-ray passes through the target and is radiated to the outside, and the inner diameter of the tip portion is defined as. It is characterized in that it decreases continuously toward the tip.
本発明においては、ターゲットは細管部の先端を塞いでおり、X線はターゲットを通過してX線管の外部へ放射される。細管部の先端部の内径は、先端にかけて連続的に減少している。細管部の先端の正面には、電子が衝突した先端部の内面から発生した蛍光X線が放出されない領域が存在する。先端部の内面から発生した蛍光X線が検出されることが抑制され、試料からのX線を測定する際のシステムピークが減少する。 In the present invention, the target closes the tip of the thin tube portion, and X-rays pass through the target and are emitted to the outside of the X-ray tube. The inner diameter of the tip of the thin tube portion continuously decreases toward the tip. In front of the tip of the thin tube portion, there is a region in which fluorescent X-rays generated from the inner surface of the tip portion with which electrons collide are not emitted. The detection of fluorescent X-rays generated from the inner surface of the tip is suppressed, and the system peak when measuring X-rays from the sample is reduced.
本発明に係るX線管は、前記細管部は、可撓性を有していることを特徴とする。 The X-ray tube according to the present invention is characterized in that the thin tube portion has flexibility.
本発明においては、細管部は可撓性を有している。細管部を曲線状にすることが可能となり、曲線状の細管部を用いて試料の所望の部分にターゲットをより近づけることが可能となる。 In the present invention, the capillary portion has flexibility. The tubular portion can be curved, and the curved tubular portion can be used to bring the target closer to the desired portion of the sample.
本発明においては、前記先端部の外径は26mm以下であることを特徴とする。 The present invention is characterized in that the outer diameter of the tip portion is 26 mm or less.
本発明においては、細管部の先端部の外径が26mm以下であり、細管部が十分に細いので、試料が入り組んだ形状を有している場合であっても、試料の所望の部分にターゲットを近づけることが可能となる。 In the present invention, the outer diameter of the tip of the thin tube portion is 26 mm or less, and the thin tube portion is sufficiently thin, so that even if the sample has a complicated shape, the target is targeted at the desired portion of the sample. Can be brought closer.
本発明に係るX線管は、前記電子発生部及び前記電子加速部を稼働させるための電力を蓄電する蓄電部と、前記管体部に着脱可能であり、前記管体部に装着されている場合に、前記管体部及び前記細管部の内部を減圧し、前記蓄電部に給電する着脱ユニットと、前記着脱ユニットが前記管体部から離脱している場合に、前記管体部及び前記細管部の内部が減圧された状態を維持するべく、前記管体部及び前記細管部を封止する封止弁とを更に備えることを特徴とする。 The X-ray tube according to the present invention is attached to and detachable from the storage unit for storing electric power for operating the electron generating unit and the electron accelerating unit, and is attached to the tube body. In this case, the detachable unit that decompresses the inside of the tubular portion and the thin tube portion to supply power to the power storage unit, and the tubular portion and the thin tube when the detachable unit is separated from the tubular portion. In order to maintain a state in which the inside of the portion is depressurized, the tubular portion and a sealing valve for sealing the thin tube portion are further provided.
本発明においては、管体部に着脱可能な着脱ユニットは、管体部及び細管部の内部を減圧し、X線管を稼働させるための電力を蓄電する蓄電部に給電する。管体部及び細管部の内部を着脱ユニットによって減圧することができるので、X線管の構造を、一時的に減圧状態を保つことが可能な程度の簡素な構造とすることができる。着脱ユニットが給電を可能とすることによって、蓄電部を用いることが可能となり、外部からの電力の供給が無い状態でもX線管を使用することができる。 In the present invention, the detachable unit that can be attached to and detached from the tube body decompresses the inside of the tube body portion and the thin tube portion, and supplies power to the power storage unit that stores electric power for operating the X-ray tube. Since the inside of the tube body portion and the thin tube portion can be decompressed by the detachable unit, the structure of the X-ray tube can be made simple enough to temporarily maintain the decompressed state. Since the detachable unit enables power supply, the power storage unit can be used, and the X-ray tube can be used even when there is no external power supply.
本発明に係るX線検出装置は、本発明に係るX線管と、該X線管から放射されたX線を照射された試料から発生するX線を検出する検出部と、該検出部の検出結果に基づいた元素分析を行う分析部とを備えることを特徴とする。 The X-ray detector according to the present invention includes an X-ray tube according to the present invention, a detection unit that detects X-rays generated from a sample irradiated with X-rays emitted from the X-ray tube, and the detection unit. It is characterized by including an analysis unit that performs element analysis based on the detection result.
本発明に係るX線検出装置は、前記検出部は、前記試料から発生し、前記試料を透過したX線を検出することを特徴とする。 The X-ray detector according to the present invention is characterized in that the detection unit detects X-rays generated from the sample and transmitted through the sample.
本発明においては、X線管のターゲットを試料へ近づけることができる。これにより、高強度のX線を試料へ照射することが可能となり、高強度の蛍光X線を検出部で検出し、分析部で元素分析を行うことができる。 In the present invention, the target of the X-ray tube can be brought closer to the sample. This makes it possible to irradiate the sample with high-intensity X-rays, detect high-intensity fluorescent X-rays with the detection unit, and perform elemental analysis with the analysis unit.
本発明にあっては、X線管のターゲットを試料へ近づけることにより、高強度のX線を試料へ照射することが可能となる。従って、高強度のX線の照射に応じた高強度のX線が試料から得られ、高強度のX線を利用した高精度の元素分析が可能となる等、本発明は優れた効果を奏する。 In the present invention, by bringing the target of the X-ray tube closer to the sample, it is possible to irradiate the sample with high-intensity X-rays. Therefore, the present invention exerts excellent effects such that high-intensity X-rays corresponding to high-intensity X-ray irradiation can be obtained from the sample, and high-precision elemental analysis using high-intensity X-rays becomes possible. ..
以下本発明をその実施の形態を示す図面に基づき具体的に説明する。
(実施形態1)
図1は、実施形態1に係るX線検出装置10の構成を示すブロック図である。X線検出装置10は、例えば蛍光X線分析装置である。X線検出装置10は、X線を放射するX線管1と、試料5が載置される試料台45と、X線検出器3とを備えている。X線検出器3は検出部に対応する。X線管1が放射したX線は試料5へ照射される。X線を照射された試料5では、蛍光X線が発生する。X線検出器3は、試料5から発生した蛍光X線を検出する。図中には、X線管1が放射するX線及び試料5から発生する蛍光X線を矢印で示している。X線検出器3は、検出した蛍光X線のエネルギーに比例した信号を出力する。X線管1及びX線検出器3の少なくとも一部は、内部が減圧される容器内に配置されていてもよい。X線検出装置10は、試料台45に載置させる方法以外の方法で試料5を保持する形態であってもよい。Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to the drawings showing the embodiments thereof.
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an
X線検出器3には、出力した信号を処理する信号処理部42が接続されている。信号処理部42は、X線検出器3が出力した各値の信号をカウントし、蛍光X線のエネルギーとカウント数との関係、即ち蛍光X線のスペクトルを生成する処理を行う。信号処理部42は、分析部43に接続されている。分析部43は、演算を行う演算部及びデータを記憶するメモリを含んで構成されている。信号処理部42は、生成したスペクトルを示すデータを分析部43へ出力する。分析部43は、信号処理部42からのデータを入力され、入力されたデータが示すスペクトルに基づいて、試料5に含まれる元素の定性分析又は定量分析を行う。分析部43には、液晶ディスプレイ等の表示部44が接続されている。表示部44は、分析部43による分析結果を表示する。また、表示部44は、信号処理部42が生成したスペクトルを表示する。
A
X線管1には、X線管1を動作させるための電力をX線管1へ供給する電源部2が接続されている。信号処理部42、分析部43及び電源部2は、制御部41に接続されている。制御部41は、信号処理部42、分析部43及び電源部2の動作を制御する。制御部41は、使用者の操作を受け付け、受け付けた操作に応じてX線検出装置10の各部を制御する構成であってもよい。また、制御部41及び分析部43は同一のコンピュータで構成されていてもよい。
A
図2は、X線管1の内部の構成例を示す模式的断面図である。X線管1は、管体部11と、管体部11に連結した細管部12とを備えている。管体部11及び細管部12はいずれも中空管である。細管部12の外径は管体部11に比べて小さい。管体部11は、両端が封止されている。細管部12の先端部16にはターゲット15が設けられている。ターゲット15は平板状であり、細管部12の先端を塞ぐ位置に配置されている。管体部11の一端には、細管部12の末端が連結されている。管体部11の他端にはセラミックコネクタ110が配置されている。細管部12の末端は、管体部11の内部で開口している。このため、管体部11及び細管部12は連通しており、管体部11の内部と細管部12の内部とは繋がっている。
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing an example of the internal configuration of the
管体部11の内部には、電子発生部であるフィラメント13が配置されている。フィラメント13は、例えばタングステンを用いて構成されている。フィラメント13は、電源部2からの電力により、電流が流れ、加熱され、熱電子を放出する。このようにして、フィラメント13は、電子を発生させる。フィラメント13は、細管部12の末端の開口部18に対向する位置に配置されている。細管部12及びフィラメント13は、フィラメント13と細管部12の末端の開口部18とターゲット15とがほぼ直線状に並ぶように、配置されている。なお、X線管1は、フィラメント13以外の電子発生部を備えた形態であってもよい。
Inside the
管体部11の内部には、フィラメント13から発生した電子を加速させる電子加速部14が配置されている。電子加速部14は、電源部2からの電力により、電圧を発生させ、電圧によって電子を加速させる。電子加速部14によってフィラメント13とターゲット15との間に発生する電圧を加速電圧とする。フィラメント13から発生した電子は、加速電圧によって加速され、開口部18から細管部12の内部へ侵入し、細管部12の長手方向に沿って細管部12の内部を通過し、ターゲット15へ衝突する。
Inside the
X線管1は、磁界レンズ部17を備えている。磁界レンズ部17は、磁界を発生し、移動する電子を磁界によって集束させる。磁界レンズ部17は、細管部12に設けられており、細管部12の内部を通過する電子を集束させる。磁界レンズ部17が電子を集束させることによって、より多くの電子がターゲット15に衝突するようになる。磁界レンズ部17は、例えば、リング状に形成された磁石を用いて構成されている。磁界レンズ部17は、細管部12の長手方向に沿った一箇所で電子を集束させる形態であってもよく、複数の箇所で電子を集束させる形態であってもよい。
The
磁界レンズ部17は、電磁石を用いて構成されることも可能ではあるものの、永久磁石を用いて構成されていることが望ましい。電磁石を用いた場合は、電磁石を動作させるための電源が必要となる。また、電磁石からは熱が発生するので、排熱機構が必要となる。永久磁石を用いた場合は、電源及び排熱機構が不要となり、X線管1の構造が簡素化し、X線管1が小型化する。また、永久磁石は電磁石よりも小さく形成することができるので、磁界レンズ部17が小型化・軽量化する。
Although the magnetic
ターゲット15は、加速された電子が衝突することによってX線が発生する材料で形成されている。例えば、ターゲット15は、タングステン又はモリブデンを用いて形成されている。加速された電子がターゲット15に衝突することによって発生したX線は、ターゲット15を通過してX線管1の外部へ放射される。放射されたX線は、試料5へ照射される。X線の照射によって試料5から蛍光X線が発生し、蛍光X線はX線検出器3で検出され、分析部43で元素分析が行われる。
The
細管部12の内径は3mm以上であることが望ましい。細管部12の内径が3mm以上であれば、細管部12の内部を十分な量の電子が通過することができる。フィラメント13の先端からターゲット15までの最も大きい管体部11の外径に比べて、フィラメント13の先端からターゲット15までの距離は、三倍を超過する長さになっている。また、細管部12の先端部16の外径は26mm以下である。
It is desirable that the inner diameter of the
セラミックコネクタ110は、管体部11の端を封止している。セラミックコネクタ110は、管体部11内で発生した電子が管体部11の外部へ漏洩しないように、管体部11の内部と外部とを絶縁している。高電圧を扱う電源部2に対して絶縁を保つために、セラミックコネクタ110にはある程度の大きさが必要である。このため、セラミックコネクタ110を内部に配置している管体部11の外径を小さくすることには限界がある。フィラメント13からターゲット15までの距離を大きくすることにより、ターゲット15が設けられた細管部12の先端部16の外径を管体部11よりも大幅に小さくすることができる。先端部16の外径が小さいことによって、先端部16の外径がより大きい場合に比べて、ターゲット15をより試料5へ近づけることができる。また、管体部11に連結した細管部12の先端部16にターゲット15を配置してあることにより、サイズの大きい管体部11がX線検出装置10内の他の部品に干渉すること無く、ターゲット15を試料5へ可及的に近づけることができる。ターゲット15はX線の発生源であり、X線の発生源が試料5に近づけることにより、高強度のX線を試料5へ照射することが可能となる。高強度のX線が試料5へ照射されることにより、高強度の蛍光X線が発生し、高強度の蛍光X線を利用して高精度の元素分析が可能となる。
The
電子加速部14が発生させる加速電圧は、21kV以上70kV以下である。加速電圧を21kV以上とすることによって、十分な精度で元素分析を行うための蛍光X線を試料5から発生させることができる。加速電圧が40kV以上である場合は、分析対象となり得るほぼ全ての元素について元素分析が可能になる蛍光X線を試料5から発生させることができる。このため、加速電圧は40kV以上であることが望ましい。加速電圧が70kVを超過する場合は、元素分析が可能になる元素はほとんど増えないので、加速電圧は70kVまでで十分である。
The acceleration voltage generated by the
ターゲット15に電子が衝突することにより、熱が発生する。細管部12は、放熱のために高熱伝導材で構成されていることが望ましい。高熱伝導材は、ターゲット15が熱によって変質、溶融又は熱分解を起こさない程度に熱伝導率が高い物質である。例えば、高熱伝導材は銅である。細管部12が高熱伝導材で構成されていることによって、ターゲット15で発生した熱を素早く放熱させることができる。例えば、水冷機構等の大型の冷却機構を用いなくても、ターゲット15で発生した熱をスムーズに放熱させることができる。冷却機構が不要であるので、先端部16を細くすることができる。また、細管部12の外面は、ニッケルメッキ等の方法により磁性材でコーティングされていることが好ましい。銅等の強磁性を示さない材料で細管部12が構成されている場合であっても、コーティングされた磁性材が磁気シールドとなり、地磁気等の外部磁界が細管部12の内部へ侵入することが無い。このため、外部磁界によって電子の進路が影響を受けることが無く、効率的に多くの電子をターゲット15に衝突させることができる。
Heat is generated by the collision of electrons with the
図3は、実施形態1に係る細管部12の先端部16の構成例を示す模式的断面図である。細管部12の中心軸を含む面で先端部16を切断した断面を示す。図中には、細管部12の中心軸を一点鎖線で示す。平板状のターゲット15は、細管部12の先端を塞いでいる。先端部16の内面はテーパ状になっている。即ち、先端部16の内径は先端にかけて連続的に減少している。先端部16の内面の内で内径が連続的に減少している部分をテーパ面161とする。図3に示す例では、内径は線形に減少している。即ち、細管部12の中心軸を含む面内で、テーパ面161はターゲット15の表面に対して直線状に傾いている。図3には、テーパ面161の延長面を破線で示している。
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing a configuration example of the
細管部12の内面に電子が衝突した場合は、細管部12の内面からX線が発生する。先端部16の内面から発生したX線は、ターゲット15を通過してX線管1の外部へ放出されることがある。先端部16の内面から発生したX線がX線検出器3で検出された場合は、生成される蛍光X線のスペクトルに、試料5に由来しないピーク、所謂システムピークが含まれることになる。蛍光X線のスペクトルにシステムピークが含まれることにより、試料5の元素分析が阻害される。
When an electron collides with the inner surface of the
先端部16にテーパ面161が存在することにより、先端部16の内面から発生したX線が放射される範囲が制限される。テーパ面161から発生するX線は、テーパ面161よりも細管部12の内側へ放出され、テーパ面161よりも外側へは放出されない。即ち、細管部12の中心軸を含む面内では、図3に示す左側のテーパ面161の延長面よりも右側のみにX線が放出され、延長面よりも左側へは放出されない。同様に、図3に示す右側のテーパ面161の延長面よりも左側のみにX線が放出され、延長面よりも右側へは放出されない。このため、図3にハッチングで示すように、細管部12の先端の正面には、先端部16の内面から発生したX線が放出されない領域162が存在する。
The presence of the tapered
この領域162を利用することによって、先端部16の内面から発生したX線がX線検出器3で検出されることを抑制することができる。例えば、領域162内に試料台45が位置するように試料台45又はX線管1の位置を定めておくことによって、先端部16の内面から発生して試料5又は試料台45で反射したX線がX線検出器3へ入射することが抑制される。これにより、システムピークが減少し、試料5の元素分析の精度が向上する。また、X線検出器3を試料5へ近づけるほど、蛍光X線の強度が向上するものの、システムピークによる影響がより顕著になる可能性がある。領域162内に試料5が位置する状態では、X線検出器3を試料5へ近づけることによって、蛍光X線の強度を向上させながらも、システムピークによる影響を抑制し、試料5の元素分析の精度を向上させることができる。細管部12の中心軸を含む面内でターゲット15とテーパ面161とのなす角163は、90°を超過する角度である。先端部16の内面から発生したX線が放出されない領域162を十分に大きくするためには、角163は、120°以上であることが望ましい。
By using this
なお、先端部16の内径は先端にかけて非線形に減少していてもよい。例えば、細管部12の中心軸を含む面内で、先端に近いほどターゲット15の表面に対するテーパ面161の角度が大きくなっていてもよい。また、先端部16の内径が先端にかけて減少する構成は、フィラメント13からターゲット15までの距離を大きくして先端部16の外径を小さくしたX線管以外のX線管においても適用可能である。例えば試料5へターゲット15を近づける必要のないX線管においても適用可能である。この場合においても、先端部16の内面から発生したX線がX線検出器3で検出されることが抑制され、試料5の元素分析の精度が向上する。
The inner diameter of the
実施形態1においては、固定した試料5にX線を照射する例を示したが、X線検出装置10は、試料5をX線で走査する形態であってもよい。例えば、X線検出装置10は、試料5を順次移動させるか、又はX線の方向を順次変更させることによって、試料5をX線で走査してもよい。この形態では、X線検出装置10は、試料5上の複数の部分から発生した蛍光X線を順次検出し、蛍光X線の検出結果に基づいて、試料5に含まれる元素の分布を生成してもよい。また、X線管1は、フィラメント13の先端からターゲット15までの最も大きい管体部11の外径に比べて、フィラメント13の先端からターゲット15までの距離を、2.5倍以上3倍以下の長さにした構成とすることも可能である。
Although the example of irradiating the fixed
(実施形態2)
図4は、実施形態2に係る細管部12の先端部16の構成例を示す模式的断面図である。細管部12の中心軸を含む面で先端部16を切断した断面を示す。図4には、細管部12の中心軸を一点鎖線で示す。ターゲット15は平板状であり、細管部12の先端を塞いでいる。ターゲット15の表面は、細管部12の中心軸に対して、直交しておらず、傾斜している。加速された電子はターゲット15へ衝突し、発生したX線は、ターゲット15を通過し、X線管1の外部へ放射される。X線管1のその他の部分の構成、及びX線検出装置10のX線管1以外の部分の構成は、実施形態1と同様である。(Embodiment 2)
FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing a configuration example of the
図4には、X線の放射される方向を矢印で示している。X線は、ターゲット15の表面に直交する方向へ放射される。より詳しくは、X線は、ターゲット15の表面に直交する方向を中心として放射状に放射される。ターゲット15の表面は、細管部12の中心軸に対して傾斜しているので、X線は細管部12の中心軸と交差する方向へ放射される。
In FIG. 4, the direction in which X-rays are emitted is indicated by an arrow. X-rays are emitted in a direction orthogonal to the surface of the
実施形態2においても、ターゲット15が設けられた細管部12の先端部16の外径を管体部11よりも大幅に小さくすることができる。先端部16の外径が小さいことによって、ターゲット15を試料5へ近づけることができる。また、管体部11がX線検出装置10内の他の部品に干渉すること無く、ターゲット15を試料5へ近づけることができる。更に、実施形態2では、ターゲット15の表面が細管部12の中心軸に対して傾斜しているので、X線検出装置10の構造によっては、ターゲット15を試料5へより近づけることができる。高強度のX線が試料5へ照射されることにより、高強度の蛍光X線が発生し、高強度の蛍光X線を利用して高精度の元素分析が可能となる。
Also in the second embodiment, the outer diameter of the
(実施形態3)
図5は、実施形態3に係る細管部12の先端部16の構成例を示す模式的断面図である。細管部12の中心軸を含む面で先端部16を切断した断面を示す。細管部12の先端は封止されている。ターゲット15は、平板状であり、先端部16の内部(先端部16に含まれる空洞内)に配置されている。先端部16の側部には、X線が通過可能な窓164が設けられている。加速された電子はターゲット15へ衝突し、ターゲット15の電子が衝突した面から発生したX線は、窓164を通過し、X線管1の外部へ放射される。図中では、電子を破線矢印で示し、X線を直線矢印で示している。X線管1のその他の部分の構成、及びX線検出装置10のX線管1以外の部分の構成は、実施形態1と同様である。(Embodiment 3)
FIG. 5 is a schematic cross-sectional view showing a configuration example of the
実施形態3においても、ターゲット15が設けられた細管部12の先端部16の外径を管体部11よりも大幅に小さくすることができる。先端部16の外径が小さいことによって、ターゲット15をより試料5へ近づけることができる。また、管体部11がX線検出装置10内の他の部品に干渉すること無く、ターゲット15を試料5へ可及的に近づけることができる。高強度のX線が試料5へ照射されることにより、高強度の蛍光X線が発生し、高強度の蛍光X線を利用して高精度の元素分析が可能となる。
Also in the third embodiment, the outer diameter of the
(実施形態4)
図6は、実施形態4に係るターゲット15の第1の例を示す模式的平面図である。ターゲット15は、平板状であり、電子が衝突すべき複数の衝突領域151を含んでいる。複数の衝突領域151は、互いに組成が異なっている。例えば、複数の衝突領域151は異なる種類の元素からなる。複数の衝突領域151の組成が異なっているので、衝突領域151に電子が衝突したときに発生する電子のエネルギーは衝突領域151によって異なる。図6には、ターゲット15が二個の衝突領域151を有する例を示したが、ターゲット15は三個以上の衝突領域151を有していてもよい。(Embodiment 4)
FIG. 6 is a schematic plan view showing a first example of the
図7は、実施形態4に係るターゲット15の第2の例を示す模式的平面図である。ターゲット15の面上には、電子が衝突すべき被衝突体153が設けられている。図8は、被衝突体153を示す模式的斜視図である。被衝突体153は、多面体であり、複数の衝突面152を有する。被衝突体153は、衝突面152に電子が衝突するような位置に配置されている。複数の衝突面152は、互いに組成が異なっている。例えば、複数の衝突面152は異なる種類の元素からなる。複数の衝突面152の組成が異なっているので、衝突面152に電子が衝突したときに発生する電子のエネルギーは衝突面152によって異なる。図7には、被衝突体153が四個の衝突面152を有する例を示したが、被衝突体153は三個の衝突面152を有していてもよく、五個以上の衝突面152を有していてもよい。
FIG. 7 is a schematic plan view showing a second example of the
磁界レンズ部17は、加速された電子の進路を変更することができるようになっている。例えば、磁界レンズ部17は、複数の電磁石を用いて構成されており、制御部41によりいずれの電磁石を稼働させるかを制御される。磁界レンズ部17は、稼働させる電磁石を選択することにより、電子を集束させると共に電子の進路を調整し、何れの衝突領域151又は衝突面152に電子を衝突させるのかを選択する。
The magnetic
磁界レンズ部17は永久磁石を用いて構成されていてもよい。図9A及び図9Bは、永久磁石を用いた実施形態4に係る磁界レンズ部17を示す模式的断面図である。細管部12の中心軸に交差する面で磁界レンズ部17及び細管部12を切断した断面を示す。磁界レンズ部17は、細管部12の外側に配置されており、細管部12を両側から挟むように二つの永久磁石が配置されている。また、磁界レンズ部17は、永久磁石の位置を変更することができる構成になっている。図9Aには、図中で横方向に二つの永久磁石が並んだ状態を示し、図9Bには、図中で縦方向に二つの永久磁石が並んだ状態を示す。永久磁石の位置を変更することにより、電子の進路が変更され、電子が衝突する衝突領域151又は衝突面152が変更される。磁界レンズ部17は、単一の永久磁石を用いていてもよく、三個以上の永久磁石を用いていてもよい。また、磁界レンズ部17は、細管部12の長手方向に永久磁石の位置を変更することにより電子の進路を調整してもよい。磁界レンズ部17は、永久磁石の位置を手動で変更することができる構成であってもよい。磁界レンズ部17が細管部12の外側に配置されている場合、少なくとも、細管部12の外面の磁界レンズ部17が配置される部分には、磁性材によるコーティングは設けられていない。X線管1のその他の部分の構成、及びX線検出装置10のX線管1以外の部分の構成は、実施形態1〜3の何れかと同様である。
The magnetic
以上のように、実施形態4では、X線管1は、電子が衝突する衝突領域151又は衝突面152を変更することができる。電子が衝突する衝突領域151又は衝突面152を変更することによって、X線管1が放射するX線のエネルギーが変更される。X線を利用した分析を行う際に、試料5の種類に応じて適切なエネルギーのX線を利用することが可能となる。試料5の種類に応じて、適切なエネルギーのX線を試料5へ照射することが可能となり、適切な分析を行うことが可能となる。
As described above, in the fourth embodiment, the
(実施形態5)
図10は、実施形態5に係るX線検出装置10の構成を示すブロック図である。X線管1の構成は、実施形態1〜4の何れかと同様である。X線管1は、X線検出器3に対する位置を変更可能であり、細管部12の先端を試料5へ近接させるようになっている。実施形態1と同様に、X線検出装置10は、電源部2、X線検出器3、制御部41、信号処理部42、分析部43及び表示部44を備えている。X線管1及び電源部2と、X線検出器3、制御部41、信号処理部42、分析部43及び表示部44とは分離していてもよい。この場合、X線管1及び電源部2は、制御部41とは異なる制御部によって制御される。(Embodiment 5)
FIG. 10 is a block diagram showing the configuration of the
X線検出装置10は、例えば、モバイル型のX線検出装置10である。文化財等の試料5は、入り組んだ形状を有していることがある。例えば、試料5は、配管又は壺である。X線管1は、管体部11よりも外径が小さい細管部12を有し、細管部12の先端部16にターゲット15が設けられている。管体部11の外径に比べたフィラメント13からターゲット15までの距離が三倍以下の長さである場合は、細管部12よりも太い管体部11が試料5に衝突し、試料5の所望の部分にターゲット15を近接させることが困難になることがある。この場合は、試料5の所望の部分にX線を照射することが困難となり、試料5の所望の部分の分析が困難となる。
The
実施形態5では、フィラメント13からターゲット15までに最も大きい管体部11の外径に比べて、フィラメント13からターゲット15までの距離が三倍を超過する長さになるように、細管部12は長くなっている。細管部12が細長くなっているので、図10に示すように、入り組んだ形状を有する試料5の内部に細管部12を差し込んで、試料5の所望の部分にターゲット15を近接させることができる。このため、試料5が入り組んだ形状を有している場合であっても、試料5の所望の部分にX線管1からX線を照射することができる。X線を照射された試料5からは蛍光X線が発生し、X線検出器3が蛍光X線を検出し、試料5の所望の部分の分析が行われる。
In the fifth embodiment, the
以上のように、実施形態5においては、試料5が入り組んだ形状を有している場合であっても、試料5の所望の部分にターゲット15を近づけることができる。高強度のX線が試料5へ照射されることにより、高強度の蛍光X線が発生し、高強度の蛍光X線を利用して高精度の元素分析が可能となる。また、試料5を非破壊で分析することが可能となる。
As described above, in the fifth embodiment, the
また、実施形態5に係るモバイル型のX線検出装置10は、実施形態4と同様に、ターゲット15が複数の衝突領域151を含んでいる形態であってもよい。モバイル型のX線検出装置10は、文化財等の試料5が存在する現場で種々の種類の試料5の測定に用いられることが想定される。試料5の種類に応じて、使用する衝突領域151を変更することにより、試料5に含まれる元素に適切なエネルギーのX線を利用することが可能となる。このため、現場において、多様な試料5について適切な分析を行うことが可能となる。
Further, the mobile type
(実施形態6)
図11は、実施形態6に係るX線管1を示す模式図である。細管部12は、可撓性を有しており、直線状の形状に限らず、曲線状の形状を有することができる。細管部12は、可撓管を用いて構成されている。例えば、可撓管は、帯状の金属を螺旋状に巻いた螺旋管と、螺旋管を覆う樹脂とを用いて構成されている。(Embodiment 6)
FIG. 11 is a schematic view showing the
磁界レンズ部17は、曲線状の細管部12の中を電子が通過できるように電子の進路を調整する構成になっている。例えば、磁界レンズ部17は、細管部12の長手方向に沿った複数箇所に磁石を配置してなり、細管部12が曲線状になっている状態であっても、電子をターゲット15へ導くようになっている。また、例えば、磁界レンズ部17は、実施形態4と同様に、加速された電子の進路を変更することができるようになっており、ターゲット15まで電子が曲線状の細管部12の中を通過するように電子の進路を調整する。X線管1のその他の部分の構成は実施形態1〜5の何れかと同様であり、X線検出装置10のX線管1以外の部分の構成は実施形態5と同様である。
The magnetic
実施形態6においては、試料5が入り組んだ形状を有している場合であっても、細管部12を曲線状にすることによって、試料5の所望の部分にターゲット15をより近づけることができる。高強度のX線が試料5へ照射されることにより、高強度の蛍光X線が発生し、高強度の蛍光X線を利用して高精度の元素分析が可能となる。また、試料5を非破壊で分析することが可能となる。
In the sixth embodiment, even when the
(実施形態7)
図12は、実施形態7に係るX線管1を示すブロック図である。X線管1は、管体部11及び細管部12の内部を減圧された状態に保つべく管体部11及び細管部12を封止する封止弁19を有している。電源部2は、二次電池を用いた蓄電部21を有している。電源部2は、蓄電部21に蓄電された電力を利用して、X線管1へ電力を供給する。(Embodiment 7)
FIG. 12 is a block diagram showing an
管体部11には、着脱ユニット6が着脱可能になっている。着脱ユニット6は、装着時に封止弁19に連結される減圧部61を有している。減圧部61は、真空ポンプを含んでおり、管体部11及び細管部12の内部を減圧することができる。着脱ユニット6が管体部11に装着された場合に、封止弁19が開放され、減圧部61は、封止弁19を介して管体部11及び細管部12の内部と連通する。この状態で、減圧部61は、動作し、管体部11及び細管部12の内部を減圧する。管体部11及び細管部12の内部が十分に減圧された状態で、封止弁19が閉鎖され、着脱ユニット6が離脱する。X線管1は、着脱ユニット6が離脱した状態で動作する。
A
また、着脱ユニット6は、装着時に蓄電部21に対して給電を行う給電部62を有している。着脱ユニット6が管体部11に装着された場合、給電部62は電源部2に接続される。給電部62は、蓄電部21へ給電を行い、蓄電部21は充電される。電源部2は、着脱ユニット6が離脱した状態で動作する。X線管1のその他の部分の構成は実施形態1〜6の何れかと同様であり、X線検出装置10のX線管1及び電源部2以外の部分の構成は実施形態5又は6と同様である。
Further, the
実施形態7では、X線管1は、管体部11及び細管部12の内部を着脱ユニット6によって減圧することができるので、減圧状態を長期にわたって維持する必要が無い。このため、X線管1の構造を、短期間減圧状態を保つことが可能な程度の簡素な構造とすることができる。封止弁19の構造も、短期間減圧状態を保つことが可能な程度の簡素な構造とすることができる。従って、X線管1の軽量化及び低コスト化が可能となる。
In the seventh embodiment, since the inside of the
また、着脱ユニット6が給電を可能とすることによって、電源部2が蓄電部21を用いることができる。蓄電部21を用いることによって、外部からの電力の供給が無い状態でもX線管1を使用することができる。このため、X線管1及びX線検出装置10をモバイル型とすることができる。X線管1又はX線検出装置10をモバイル型とすることによって、試料5に対してX線管1を可及的に近づけることができる。更に、着脱ユニット6は管体部11及び細管部12の内部の減圧と蓄電部21への給電を同時に行うことができる。このため、X線管1を動作可能にするための作業を短時間で完了することが可能である。
Further, since the
(実施形態8)
実施形態1〜7では、X線管1とX線検出器3とが分離している形態を示した。高精度及び高速応答の蛍光X線分析を行うためには、X線管1及びX線検出器3の両方を試料5へ近づけることが望ましい。しかし、試料5が入り組んだ形状を有している場合、X線管1及びX線検出器3の両方を試料5へ近づけることが困難なことがある。実施形態8では、X線管1とX線検出器3とが一体になった形態を示す。(Embodiment 8)
In the first to seventh embodiments, the
図13は、実施形態8に係るX線検出装置10の構成を示すブロック図である。X線管1は、管体部11を備える。管体部11内には、電子発生部であるフィラメント13と、電子加速部14と、ターゲット15と、X線検出器3とが配置されている。X線管1には、電源部2が接続されている。電源部2は、電力をX線管1へ供給する。また、X線管1には、信号処理部42が接続されている。フィラメント13は電子を発生させ、電子加速部14は電子を加速する。加速された電子はターゲット15に衝突し、ターゲット15からX線が発生する。
FIG. 13 is a block diagram showing the configuration of the
図14は、実施形態8に係るX線管1の一部を示す模式的断面図である。管体部11は、X線透過部111を有している。管体部11の一部がX線を透過させる物質で構成されており、X線透過部111になっている。例えば、X線透過部111は、ベリリウムで構成されている。X線透過部111は、管体部11の側部に設けられている。ターゲット15から発生したX線は、X線透過部111を透過してX線管1の外部へ放射され、試料5へ照射される。図14では、ターゲット15へ衝突する電子の軌跡を一点鎖線で示し、ターゲット15から発生するX線を実線矢印で示す。
FIG. 14 is a schematic cross-sectional view showing a part of the
X線検出器3は、ターゲット15とX線透過部111との間の位置に配置されている。X線検出器3は、板状であり、貫通孔34が形成されている。X線検出器3は、ターゲット15から発生したX線の光軸が貫通孔34を通過するような位置に配置されている。これにより、ターゲット15から発生したX線は、貫通孔34を通過し、X線透過部111を透過し、X線管1の外部にある試料5へ照射される。X線を照射された試料5では、蛍光X線が発生する。図14では、蛍光X線を破線矢印で示す。
The
X線検出器3は、放射線検出素子31と、冷却部32と、シールド部33とを有している。放射線検出素子31は、放射線を検出する半導体素子であり、例えば、SDD(Silicon Drift Detector)である。放射線検出素子31は、SDD以外の素子であってもよい。冷却部32は、放射線検出素子31を冷却する素子であり、例えば、ペルチェ素子である。シールド部33は、ターゲット15からのX線が放射線検出素子31へ入射することを妨害する。シールド部33は、ターゲット15に対向する位置に配置されており、放射線検出素子31は、X線透過部111に対向する位置に配置されている。このように、X線検出器3は、X線透過部111を透過した外部からのX線が放射線検出素子31へ入射する位置に配置されている。試料5で発生した蛍光X線は、X線透過部111を透過し、放射線検出素子31へ入射する。X線検出器3は、入射した蛍光X線を検出する。
The
X線管1には、信号処理部42が接続されている。信号処理部42は、X線管1内のX線検出器3に接続されている。信号処理部42は、X線検出器3が出力した信号を受け付け、信号処理部42が検出した蛍光X線のスペクトルを生成する。信号処理部42は、分析部43に接続されている。分析部43は、蛍光X線のスペクトルに基づいて、試料5の元素分析を行う。分析部43には、表示部44が接続されている。信号処理部42、分析部43及び電源部2は、制御部41に接続されている。
A
図15は、実施形態8に係るX線検出器3の例を模式的に示す平面図である。放射線検出素子31は、円環状の形状を有し、貫通孔34が形成されている。X線検出器3は、ターゲット15から発生するX線の光軸35が貫通孔34を通過するように、配置されている。X線検出器3がこのような構成になっていることにより、ターゲット15からのX線はX線管1の外部へ放射され、X線透過部111を透過した外部からの蛍光X線を効率的にX線検出器3で検出することができる。また、このような構成により、ターゲット15と、X線検出器3と、X線透過部111とを近接させた配置が可能となり、X線管1のサイズが小さくなる。なお、放射線検出素子31は、八角環等の角環状の形状を有していてもよい。また、放射線検出素子31は、環の一部が繋がっていない形状を有していてもよい。
FIG. 15 is a plan view schematically showing an example of the
図16は、実施形態8に係るX線検出器3の他の例を模式的に示す平面図である。図16に示す例では、X線検出器3は、複数の放射線検出素子31を有している。X線検出器3は一体でなくてもよい。複数の放射線検出素子31は、ターゲット15から発生するX線の光軸35の周囲に配置されている。この例においても、ターゲット15からのX線はX線管1の外部へ放射され、X線透過部111を透過した外部からの蛍光X線を効率的にX線検出器3で検出することができる。図16には、放射線検出素子31の数が四個である例を示したが、放射線検出素子31の数は四個以外であってもよい。図16には、放射線検出素子31の形状が矩形である例を示したが、放射線検出素子31の形状は、円形等、矩形以外の形状であってもよい。
FIG. 16 is a plan view schematically showing another example of the
図13に示すように、X線管1は、入り組んだ形状を有している配管等の試料5へ近接することができる。特に、試料5の所望の部分にX線透過部111を近接させることができる。このため、試料5の所望の部分にターゲット15及びX線検出器3の両方を近づけることができる。X線管1とX線検出器3とが分離した形態では、試料5が入り組んだ形状を有している場合、X線管1及びX線検出器3の両方を試料5へ近づけることが困難なことがある。実施形態8では、X線管1のみを試料5へ近づけるだけで、X線の発生源及び蛍光X線の検出部の両方を試料5へ近づけることができる。高強度のX線が試料5へ照射され、高強度の蛍光X線が発生し、高強度の蛍光X線を効率的に検出することができる。このため、高精度の元素分析が可能となる。また、高強度の蛍光X線を効率的に検出して元素分析を行うことができるので、精度を高く保ちながら元素分析の応答速度を速くすることができる。このように、試料5が入り組んだ形状を有している場合であっても、高精度及び高速応答の元素分析を行うことが可能となる。また、試料5を非破壊で分析することが可能となる。
As shown in FIG. 13, the
(実施形態9)
図17は、実施形態9に係るX線管1の内部の構成を示す模式的断面図である。管体部11の先端部分の一部が開口し、開口した部分を塞いでターゲット15が配置されている。ターゲット15は、平板状であり、管体部11の開口した部分にはめ込まれている。ターゲット15の周囲には、X線透過部111が配置されている。X線透過部111は、管体部11の先端部分の一部をなしている。管体部11内には、電子発生部であるフィラメント13と、電子加速部14と、X線検出器3とが配置されている。(Embodiment 9)
FIG. 17 is a schematic cross-sectional view showing the internal configuration of the
X線検出器3は、X線透過部111の近傍に配置されている。X線検出器3は、板状であり、貫通孔34が形成されている。X線検出器3は、ターゲット15へ衝突する電子の光軸が貫通孔34を通過するような位置に配置されている。フィラメント13から発生した電子は、電子加速部14により加速され、貫通孔34を通過し、ターゲット15へ衝突する。電子の衝突によりターゲット15からX線が発生し、発生したX線は、ターゲット15を透過してX線管1の外部へ放射され、試料5へ照射される。図17では、ターゲット15へ衝突する電子の軌跡を一点鎖線で示し、ターゲット15から発生するX線を実線矢印で示す。
The
X線を照射された試料5では、蛍光X線が発生する。蛍光X線は、X線透過部111を透過し、X線検出器3へ入射する。X線検出器3は、入射した蛍光X線を検出する。図17では、蛍光X線を破線矢印で示す。X線検出装置10のX線管1以外の部分の構成は実施形態8と同様である。
Fluorescent X-rays are generated in the
実施形態9においても、X線管1は、入り組んだ形状を有している試料5へ近接することができる。特に、試料5の所望の部分に管体部11の先端を近づけることにより、試料5の所望の部分にターゲット15及びX線検出器3の両方を近づけることができる。高強度のX線が試料5へ照射され、高強度の蛍光X線が発生し、高強度の蛍光X線を効率的に検出することができ、高精度の元素分析が可能となる。このように、試料5が入り組んだ形状を有している場合であっても、高精度の元素分析が可能となる。また、試料5を非破壊で分析することが可能となる。
Also in the ninth embodiment, the
なお、X線検出器3は、複数の放射線検出素子31を有し、複数の放射線検出素子31はターゲット15へ衝突する電子の光軸の周囲に配置されている形態であってもよい。この形態においても、電子はターゲット15へ衝突し、ターゲット15からのX線はX線管1の外部へ放射され、X線透過部111を透過した外部からの蛍光X線をX線検出器3で検出することができる。
The
なお、以上の実施形態1〜9においては、X線をエネルギー別に分離して検出するエネルギー分散型の形態を示したが、X線検出装置10は、X線を波長別に分離して検出する波長分散型の形態であってもよい。また、実施形態1〜9においては、蛍光X線を検出する形態を示したが、X線検出装置10は、蛍光X線以外のX線を検出する形態であってもよい。例えば、X線検出装置10は、試料5を透過した透過X線、又は回折X線を検出する形態であってもよい。
In the
本発明は上述した実施の形態の内容に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能である。即ち、請求項に示した範囲で適宜変更した技術的手段を組み合わせて得られる実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。 The present invention is not limited to the contents of the above-described embodiment, and various modifications can be made within the scope of the claims. That is, an embodiment obtained by combining technical means appropriately modified within the scope of the claims is also included in the technical scope of the present invention.
(付記1)
電子発生部と、前記電子発生部が発生させた電子が衝突することによってX線を発生させるターゲットと、内部に前記電子発生部及び前記ターゲットが配置された管体部とを備えるX線管において、
前記管体部の内部に配置されたX線検出器を備え、
前記管体部は、X線が透過するX線透過部を有し、
前記X線検出器は、前記X線透過部を透過した外部からのX線が入射する位置に配置されていること
を特徴とするX線管。(Appendix 1)
In an X-ray tube including an electron generating unit, a target that generates X-rays when electrons generated by the electron generating unit collide with each other, and a tube body portion in which the electron generating unit and the target are arranged. ,
An X-ray detector arranged inside the tube body is provided.
The tube body portion has an X-ray transmitting portion through which X-rays are transmitted.
The X-ray detector is an X-ray tube characterized in that it is arranged at a position where X-rays from the outside that have passed through the X-ray transmitting portion are incident.
(付記2)
前記X線検出器は、板状であり、貫通孔を有し、前記ターゲットから発生するX線の光軸が前記貫通孔を通過するような位置に配置されていること
を特徴とする付記1に記載のX線管。(Appendix 2)
The X-ray detector is plate-shaped, has a through hole, and is arranged at a position such that the optical axis of the X-ray generated from the target passes through the through hole. The X-ray tube described in.
(付記3)
前記X線検出器は、複数のX線検出素子を有し、
前記複数のX線検出素子は、前記ターゲットから発生するX線の光軸の周囲に配置されていること
を特徴とする付記1に記載のX線管。(Appendix 3)
The X-ray detector has a plurality of X-ray detection elements and has a plurality of X-ray detection elements.
The X-ray tube according to
(付記4)
前記ターゲットから発生するX線は、前記X線透過部を透過して外部へ放射され、
前記X線検出器は、外部へ放射されX線を照射された試料から発生して前記X線透過部を透過したX線を検出すること
を特徴とする付記1乃至3のいずれか一つに記載のX線管。(Appendix 4)
The X-rays generated from the target pass through the X-ray transmitting portion and are radiated to the outside.
The X-ray detector according to any one of
(付記5)
前記ターゲットは、前記管体部の開口した部分を塞ぐ位置に配置され、
前記X線透過部は、前記ターゲットの周囲に配置され、
前記X線検出器は、板状であり、貫通孔を有し、前記ターゲットへ衝突する電子の光軸が前記貫通孔を通過するような位置に配置されていること
を特徴とする付記1に記載のX線管。(Appendix 5)
The target is arranged at a position that closes the open portion of the tubular body portion.
The X-ray transmitting portion is arranged around the target, and the X-ray transmitting portion is arranged around the target.
The X-ray detector is plate-shaped, has a through hole, and is arranged at a position such that the optical axis of an electron colliding with the target passes through the through hole. The X-ray tube described.
(付記6)
付記1乃至5のいずれか一つに記載のX線管と、
該X線管に含まれるX線検出器の検出結果に基づいた元素分析を行う分析部と
を備えることを特徴とするX線検出装置。(Appendix 6)
The X-ray tube according to any one of
An X-ray detection apparatus including an analysis unit that performs elemental analysis based on the detection results of an X-ray detector included in the X-ray tube.
1 X線管
10 X線検出装置
11 管体部
111 X線透過部
12 細管部
13 フィラメント(電子発生部)
14 電子加速部
15 ターゲット
151 衝突領域
16 先端部
17 磁界レンズ部
19 封止弁
110 セラミックコネクタ
2 電源部
21 蓄電部
3 X線検出器(検出部)
31 放射線検出素子
32 冷却部
33 シールド部
34 貫通孔
5 試料
6 着脱ユニット
61 減圧部
62 給電部
1
14
31
Claims (11)
内部に前記電子発生部が配置された管体部と、
前記管体部よりも外径が小さい管状であり、前記管体部に連通しており、前記加速された電子が内部を長手方向に沿って通過する細管部と、
前記細管部の内部を通過する電子を磁界によって集束させる磁界レンズ部とを備え、
前記ターゲットは、前記細管部の先端部に配置されており、
前記細管部の長手方向に沿って前記電子発生部から前記ターゲットまでの間で最も大きい前記管体部の外径に比べて、前記細管部の長手方向に沿って前記電子発生部から前記ターゲットまでの距離は三倍を超過する長さであること
を特徴とするX線管。In an X-ray tube including an electron generating unit, an electron accelerating unit that accelerates the electrons generated by the electron generating unit by a voltage, and a target that generates X-rays when the accelerated electrons collide with each other.
The tube body part in which the electron generating part is arranged and
A tubular portion having an outer diameter smaller than that of the tubular portion, communicating with the tubular portion, and a thin tube portion through which accelerated electrons pass along the inside in the longitudinal direction.
It is provided with a magnetic field lens portion that focuses electrons passing through the inside of the thin tube portion by a magnetic field.
The target is arranged at the tip of the thin tube portion, and is arranged.
From the electron generating portion to the target along the longitudinal direction of the thin tube portion as compared with the outer diameter of the tubular portion having the largest distance between the electron generating portion and the target along the longitudinal direction of the thin tube portion. An X-ray tube characterized in that the distance between them is more than three times as long.
を特徴とする請求項1に記載のX線管。The X-ray tube according to claim 1, wherein the voltage generated by the electron accelerating unit for accelerating electrons is 21 kV or more and 70 kV or less.
前記細管部の外面は磁性材でコーティングされていること
を特徴とする請求項1又は2に記載のX線管。The thin tube portion is constructed by using a high thermal conductive material.
The X-ray tube according to claim 1 or 2, wherein the outer surface of the thin tube portion is coated with a magnetic material.
を特徴とする請求項1乃至3のいずれか一つに記載のX線管。The X-ray tube according to any one of claims 1 to 3, wherein the magnetic field lens portion is formed by using a permanent magnet.
前記磁界レンズ部は、前記複数の領域の内で前記加速された電子が衝突する領域を変更すること
を特徴とする請求項1乃至4のいずれか一つに記載のX線管。The target has a plurality of regions having different compositions and has a plurality of regions.
The X-ray tube according to any one of claims 1 to 4, wherein the magnetic field lens unit changes a region in which the accelerated electrons collide within the plurality of regions.
前記X線は、前記ターゲットを通過して外部へ放射され、
前記先端部の内径は、前記先端にかけて連続的に減少していること
を特徴とする請求項1乃至5のいずれか一つに記載のX線管。The target is arranged at a position that closes the tip of the thin tube portion.
The X-rays pass through the target and are emitted to the outside.
The X-ray tube according to any one of claims 1 to 5, wherein the inner diameter of the tip portion continuously decreases toward the tip portion.
を特徴とする請求項1乃至6のいずれか一つに記載のX線管。The X-ray tube according to any one of claims 1 to 6, wherein the thin tube portion has flexibility.
を特徴とする請求項1乃至7のいずれか一つに記載のX線管。The X-ray tube according to any one of claims 1 to 7, wherein the outer diameter of the tip portion is 26 mm or less.
前記管体部に着脱可能であり、前記管体部に装着されている場合に、前記管体部及び前記細管部の内部を減圧し、前記蓄電部に給電する着脱ユニットと、
前記着脱ユニットが前記管体部から離脱している場合に、前記管体部及び前記細管部の内部が減圧された状態を維持するべく、前記管体部及び前記細管部を封止する封止弁と
を更に備えることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか一つに記載のX線管。A power storage unit that stores electric power for operating the electron generation unit and the electron acceleration unit,
A detachable unit that is removable from the tube body and, when attached to the tube body, decompresses the inside of the tube body and the thin tube portion to supply power to the power storage unit.
When the detachable unit is separated from the tubular portion, the tubular portion and the inside of the thin tube portion are sealed to seal the tubular portion and the thin tube portion in order to maintain a depressurized state. The X-ray tube according to any one of claims 1 to 8, further comprising a valve.
該X線管から放射されたX線を照射された試料から発生するX線を検出する検出部と、
該検出部の検出結果に基づいた元素分析を行う分析部と
を備えることを特徴とするX線検出装置。The X-ray tube according to any one of claims 1 to 9.
A detector that detects X-rays generated from a sample irradiated with X-rays emitted from the X-ray tube, and a detector.
An X-ray detection apparatus including an analysis unit that performs elemental analysis based on the detection result of the detection unit.
を特徴とする請求項10に記載のX線検出装置。
The X-ray detector according to claim 10, wherein the detection unit detects X-rays generated from the sample and transmitted through the sample.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018234647 | 2018-12-14 | ||
JP2018234647 | 2018-12-14 | ||
PCT/JP2019/049162 WO2020122257A1 (en) | 2018-12-14 | 2019-12-16 | X-ray tube and x-ray detector |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2020122257A1 true JPWO2020122257A1 (en) | 2021-10-21 |
Family
ID=71076839
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020559352A Pending JPWO2020122257A1 (en) | 2018-12-14 | 2019-12-16 | X-ray tube and X-ray detector |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPWO2020122257A1 (en) |
WO (1) | WO2020122257A1 (en) |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4734508B1 (en) * | 1969-08-05 | 1972-08-31 | ||
JPS58145049A (en) * | 1982-02-22 | 1983-08-29 | Aloka Co Ltd | Small x-ray tube |
JPH09505686A (en) * | 1994-01-21 | 1997-06-03 | フォトエレクトロン コーポレイション | X-ray source using a shaped radiation pattern |
WO2006103822A1 (en) * | 2005-03-29 | 2006-10-05 | Kyoto University | X-ray generator using hemimorphic crystal |
JP2007134325A (en) * | 2005-11-07 | 2007-05-31 | Comet Gmbh | Nano-focus x-ray tube |
JP2014520363A (en) * | 2011-06-06 | 2014-08-21 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | Multiple focal spot X-ray radiation filtering |
JP2015130334A (en) * | 2013-12-05 | 2015-07-16 | 松定プレシジョン株式会社 | Head for x-ray generator and x-ray generator having the same |
JP2016536771A (en) * | 2014-08-25 | 2016-11-24 | ヌクテック カンパニー リミテッド | Electron source, X-ray source, and apparatus using the X-ray source |
US20180286623A1 (en) * | 2017-03-31 | 2018-10-04 | Sensus Healthcare Llc | Three-dimensional beam forming x-ray source |
-
2019
- 2019-12-16 WO PCT/JP2019/049162 patent/WO2020122257A1/en active Application Filing
- 2019-12-16 JP JP2020559352A patent/JPWO2020122257A1/en active Pending
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4734508B1 (en) * | 1969-08-05 | 1972-08-31 | ||
JPS58145049A (en) * | 1982-02-22 | 1983-08-29 | Aloka Co Ltd | Small x-ray tube |
JPH09505686A (en) * | 1994-01-21 | 1997-06-03 | フォトエレクトロン コーポレイション | X-ray source using a shaped radiation pattern |
WO2006103822A1 (en) * | 2005-03-29 | 2006-10-05 | Kyoto University | X-ray generator using hemimorphic crystal |
JP2007134325A (en) * | 2005-11-07 | 2007-05-31 | Comet Gmbh | Nano-focus x-ray tube |
JP2014520363A (en) * | 2011-06-06 | 2014-08-21 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | Multiple focal spot X-ray radiation filtering |
JP2015130334A (en) * | 2013-12-05 | 2015-07-16 | 松定プレシジョン株式会社 | Head for x-ray generator and x-ray generator having the same |
JP2016536771A (en) * | 2014-08-25 | 2016-11-24 | ヌクテック カンパニー リミテッド | Electron source, X-ray source, and apparatus using the X-ray source |
US20180286623A1 (en) * | 2017-03-31 | 2018-10-04 | Sensus Healthcare Llc | Three-dimensional beam forming x-ray source |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2020122257A1 (en) | 2020-06-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7428298B2 (en) | Magnetic head for X-ray source | |
US7949099B2 (en) | Compact high voltage X-ray source system and method for X-ray inspection applications | |
EP2649635B1 (en) | Radiation generating apparatus and radiation imaging apparatus | |
US7634054B2 (en) | X-ray tube and X-ray analysis apparatus | |
US20090190719A1 (en) | X-ray source apparatus, computer tomography apparatus, and method of operating an x-ray source apparatus | |
CN109791811A (en) | X-ray source for the imaging of 2D scanning light beam | |
WO2006009053A1 (en) | Fixed anode x-ray tube, x-ray inspection device using the same, and x-ray irradiation device | |
JP2020053217A (en) | X-ray generator and X-ray analyzer | |
KR101015903B1 (en) | X-ray generator and X-ray analyzer having the same | |
EP3186818B1 (en) | High voltage feedthrough assembly, time-resolved transmission electron microscope and method of electrode manipulation in a vacuum environment | |
JPWO2020122257A1 (en) | X-ray tube and X-ray detector | |
JP2010033992A (en) | X-ray tube and x-ray analysis device | |
US9761406B2 (en) | Radiation tube and radiation inspection apparatus | |
JP5135601B2 (en) | X-ray tube and X-ray analyzer | |
EP3401927A1 (en) | Electron beam irradiation device and electron beam irradiation method | |
KR20190040265A (en) | X-ray tube | |
JP2012142129A (en) | Soft x-ray source | |
KR102301799B1 (en) | X-ray generation source and apparatus for fluorescent x-ray analysis | |
KR101707219B1 (en) | X-Ray Tube Having Anode Rod for Avoiding Interference and Apparatus for Detecting with the Same | |
JP2010055883A (en) | X-ray tube and fluorescence x-ray spectroscopic analyzer using same | |
JP6475556B2 (en) | Radiation detector and radiation detection apparatus | |
US20240055216A1 (en) | X-ray source and operating method therefor | |
JP4407912B2 (en) | Sample analyzer | |
US9400255B2 (en) | X-ray fluorescence spectrometer comprising a gas blowing mechanism | |
JP6537679B2 (en) | Radiation tube, radiation source and radiation inspection apparatus |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20211203 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220726 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220921 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20221011 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20230404 |