JPWO2020044533A1 - 製造プロセス監視装置 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は実施の形態1における製造プロセス監視装置が適用される熱間薄板圧延ラインの構成図である。
図2は実施の形態1における製造プロセス監視装置により演算された複数のカテゴリーごとの類似度の例を説明するための図である。
図3は実施の形態1における製造プロセス監視装置による監視方法を説明するための図である。
図4は実施の形態1における製造プロセス監視装置の動作の概要を説明するためのフローチャートである。
図5は実施の形態1における製造プロセス監視装置のハードウェア構成図である。
Claims (3)
- 予め分類された複数のカテゴリーごとに製造設備の操業状態を捉えた特徴量の情報を記憶した特徴量記憶部と、
前記製造設備の運転データまたは前記製造設備に設けられた測定装置の測定データを含むプロセスデータを変換するデータ変換部と、
前記データ変換部により変換されたデータを前記特徴量記憶部に記憶された特徴量の情報に基づいて分析する特徴量分析部と、
前記特徴量記憶部に記憶された特徴量の情報と前記特徴量分析部により分析された結果の情報とに基づいて前記複数のカテゴリーごとにデータを復元するデータ復元部と、
前記特徴量分析部により分析される際に用いられたデータと前記データ復元部により復元されたデータとに基づいて前記複数のカテゴリーごとに類似度を演算する類似度演算部と、
前記類似度演算部により演算された前記複数のカテゴリーごとの類似度に基づいて前記データのカテゴリーを判定するカテゴリー判定部と、
前記プロセスデータが属するカテゴリーを分類するカテゴリー分類部と、
前記カテゴリー判定部により判定されたカテゴリーと前記カテゴリー分類部により分類されたカテゴリーとの比較結果に基づいて製造プロセスの状態を診断するプロセス状態診断部と、
を備えたことを特徴とする製造プロセス監視装置。 - 前記プロセス状態診断部は、前記カテゴリー判定部により判定されたカテゴリーと前記カテゴリー分類部により分類されたカテゴリーとが異なった場合または予め設定された期間内に予め設定された回数だけ前記カテゴリー判定部により判定されたカテゴリーと前記カテゴリー分類部により分類されたカテゴリーとが異なった場合に、製造プロセスが異常であると判定する請求項1に記載の製造プロセス監視装置。
- 前記プロセス状態診断部は、前記カテゴリー判定部により判定されたカテゴリーと前記カテゴリー分類部により分類されたカテゴリーとが予め設定された関係を満たさない場合または予め設定された期間内に予め設定された回数だけ前記カテゴリー判定部により判定されたカテゴリーと前記カテゴリー分類部により分類されたカテゴリーとが予め設定された関係を満たさない場合に、製造プロセスが異常であると判定する請求項1に記載の製造プロセス監視装置。
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