JPWO2006033188A1 - 光学的情報記録方法、光学的情報記録装置および光学的情報記録媒体 - Google Patents
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Abstract
光学的情報記録媒体に対して、広い線速度範囲で、データを信号品質良く記録することを課題とする。前述の課題を解決するために、光学的情報記録装置のレーザ駆動回路（５）において、再生信号品質が、しきい値となるパワーに対する記録パワーの比を低線速では相対的に小さく、高線速では相対的に大きくする。
Description
本発明は、光学的にデータを記録再生する光学的情報記録媒体に対する記録方法とその記録装置、および記録媒体に関するもので、特に、複数の異なる線速度で記録する光学的情報記録媒体に対する記録方法に関連する。
近年、光学的にデータを記録する媒体として、光ディスク、光カード、光テープなどが提案・開発されている。その中でも光ディスクは、大容量かつ高密度にデータを記録・再生できる媒体として注目されている。
例えば相変化型光ディスクの場合、以下に述べる方法でデータの記録再生が行われている。光ヘッドにより集束させた、再生パワーより強いレーザ光（このパワーレベルを記録パワーといい、Ｐｐで表す）を光ディスクの記録膜に照射して記録膜の温度を融点を越えて上昇させると、レーザ光の通過とともに溶融部分は急速に冷却されて非晶質（アモルファス）状態のマークが形成される。また、記録膜の温度を結晶化温度以上融点以下の温度まで上昇させる程度のレーザ光（このパワーレベルを消去パワーといい、Ｐｂで表す）を集束して照射すると、照射部の記録膜は結晶状態になる。このようにして、光ディスクにはデータ信号に対応した非晶質領域であるマークと結晶領域であるスペースとからなる記録パターンが形成される。そして結晶と非晶質との反射率の相違を利用して、データの再生が行われる。
上で述べたように、媒体にマークを形成するためには、レーザ光のパワーレベルを少なくとも消去パワーと記録パワーとの間で変調して発光させることが必要である。この変調動作に用いるパルス波形を記録パルスと呼ぶ。１つのマークを複数の記録パルスで形成する記録方法もすでに多数開示されている。この複数の記録パルスを記録パルス列と呼ぶ。記録パルス列の例を図１０（ａ）に示す。記録パルス列の先頭部にあるパルスを前端パルス５０１、最後部にあるパルスを後端パルス５０３、前端パルスと後端パルスとの間にあるパルスをマルチパルス５０２と呼ぶ。記録パルス列を構成する記録パルスの数は記録符号長（すなわち、チャネルクロック周期Ｔｗに対する記録符号の長さ）によって変化し、最短符号長では記録パルスの数が１個になる場合もある。この記録パルス列に基づいて、レーザ光の強度を図１０（ｂ）のように変調する。その結果、図１０（ｃ）に示すようにトラック３０１上にマーク３０２が形成される。なお、記録パルス列を用いる代わりに、図１１に示すような先頭部と最後部のパワーレベルを変化させたレーザ発光波形によりマークを形成する方法も開示されている。
現在、ＤＶＤなどの光学的情報記録媒体では、主としてＣＬＶ（等線速度）記録が用いられている。これは、媒体全面にわたって線速度・転送レート・線密度をほぼ同じにして記録する方式である。したがって、記録再生時にレーザ光の照射条件や加熱・冷却条件が変化しない利点がある。その一方で、媒体の回転速度は、媒体中の記録再生位置（すなわち半径位置）によって変化するため、スピンドルモータの回転変速制御が不可欠となる。
これに対して、媒体の回転速度と線密度を媒体全面にわたってほぼ一定とする、ＣＡＶ（等角速度）記録方式が提案されている。ＣＬＶ記録方式に比べると、ＣＡＶ記録方式では媒体を回転させるスピンドルモータの回転変速制御が不要なため、スピンドルモータおよびその制御回路を低コストで作製できる利点がある。また、記録再生位置のシーク動作後、所定の回転速度になるまで記録再生動作を待つ必要がないので、媒体に対するアクセス速度を短くすることが可能である。その一方で、ＣＡＶ記録方式では、媒体中に記録再生を行う位置によって媒体の線速度と転送レートが変化する。したがって、記録再生を行う位置によって、媒体におけるレーザ光の照射条件や加熱・冷却条件は変化することになる。
これらいずれの方式においても、記録された信号品質を良くすることは、大容量かつ高密度にデータを記録・再生するために重要である。そのため、ある特定の線速度（ＣＡＶ記録方式の場合は記録再生位置）に対して、記録パワーを調整することで信号品質を良くする方法がこれまでにも開示されている。その１つとして、記録パワーや消去パワーを変化させてテスト信号を記録し、記録されたテスト信号をもとに再生信号のアシメトリ値や変調度が最適条件となるように、各パワーを決定する方法が開示されている（例えば、特許文献１参照）。
しかしながら、上記従来の記録方法では、ＣＡＶ記録方式において変化させる線速度の範囲が広い場合、線速度によって最適条件が異なるために、データ信号を品質良くかつ安定に記録できないという課題を有していた。以下、その課題について説明する。
高線速度で記録する場合には、スピンドルモータは高速で回転する。そのため、ディスクにわずかな面ぶれや偏芯があると、それらがサーボ動作に与える影響が大きくなる。すなわち、ディスクに面ぶれが存在すると、光ヘッドのアクチュエータは光軸方向に強く振られる。また、ディスクに偏芯が存在すると、アクチュエータはディスクの面と平行な方向に強く振られることになる。この振られがアクチュエータの応答特性以上に強くなると、アクチュエータがディスクの面ぶれや偏芯に追従しきれなくなり、デフォーカスやオフトラックが生じて信号が安定に記録できなくなる。
一方、低線速度で記録するときには、レーザスポットと媒体との相対速度が遅く、レーザ照射による溶融後の冷却速度も遅くなるので、溶融部周辺から再結晶化が進行して残った部分がマークになる。そのため、図１２に示すように、マーク３０２の大きさよりも溶融領域３０３は大きくなり、溶融領域の端はトラック３０１（すなわちガイド溝またはランド）の壁３０４にまで達する。その結果、壁３０４の微細な形状（がたつき）に影響を受けて、壁３０４に達した溶融領域の一部で再結晶化が起こらず、マークの一部分が壁３０４に貼り付く現象が生じた。そのためにマーク形状が歪んで再生信号の品質が低下する課題があった。
特開平１０−６４０６４号公報
例えば相変化型光ディスクの場合、以下に述べる方法でデータの記録再生が行われている。光ヘッドにより集束させた、再生パワーより強いレーザ光（このパワーレベルを記録パワーといい、Ｐｐで表す）を光ディスクの記録膜に照射して記録膜の温度を融点を越えて上昇させると、レーザ光の通過とともに溶融部分は急速に冷却されて非晶質（アモルファス）状態のマークが形成される。また、記録膜の温度を結晶化温度以上融点以下の温度まで上昇させる程度のレーザ光（このパワーレベルを消去パワーといい、Ｐｂで表す）を集束して照射すると、照射部の記録膜は結晶状態になる。このようにして、光ディスクにはデータ信号に対応した非晶質領域であるマークと結晶領域であるスペースとからなる記録パターンが形成される。そして結晶と非晶質との反射率の相違を利用して、データの再生が行われる。
上で述べたように、媒体にマークを形成するためには、レーザ光のパワーレベルを少なくとも消去パワーと記録パワーとの間で変調して発光させることが必要である。この変調動作に用いるパルス波形を記録パルスと呼ぶ。１つのマークを複数の記録パルスで形成する記録方法もすでに多数開示されている。この複数の記録パルスを記録パルス列と呼ぶ。記録パルス列の例を図１０（ａ）に示す。記録パルス列の先頭部にあるパルスを前端パルス５０１、最後部にあるパルスを後端パルス５０３、前端パルスと後端パルスとの間にあるパルスをマルチパルス５０２と呼ぶ。記録パルス列を構成する記録パルスの数は記録符号長（すなわち、チャネルクロック周期Ｔｗに対する記録符号の長さ）によって変化し、最短符号長では記録パルスの数が１個になる場合もある。この記録パルス列に基づいて、レーザ光の強度を図１０（ｂ）のように変調する。その結果、図１０（ｃ）に示すようにトラック３０１上にマーク３０２が形成される。なお、記録パルス列を用いる代わりに、図１１に示すような先頭部と最後部のパワーレベルを変化させたレーザ発光波形によりマークを形成する方法も開示されている。
現在、ＤＶＤなどの光学的情報記録媒体では、主としてＣＬＶ（等線速度）記録が用いられている。これは、媒体全面にわたって線速度・転送レート・線密度をほぼ同じにして記録する方式である。したがって、記録再生時にレーザ光の照射条件や加熱・冷却条件が変化しない利点がある。その一方で、媒体の回転速度は、媒体中の記録再生位置（すなわち半径位置）によって変化するため、スピンドルモータの回転変速制御が不可欠となる。
これに対して、媒体の回転速度と線密度を媒体全面にわたってほぼ一定とする、ＣＡＶ（等角速度）記録方式が提案されている。ＣＬＶ記録方式に比べると、ＣＡＶ記録方式では媒体を回転させるスピンドルモータの回転変速制御が不要なため、スピンドルモータおよびその制御回路を低コストで作製できる利点がある。また、記録再生位置のシーク動作後、所定の回転速度になるまで記録再生動作を待つ必要がないので、媒体に対するアクセス速度を短くすることが可能である。その一方で、ＣＡＶ記録方式では、媒体中に記録再生を行う位置によって媒体の線速度と転送レートが変化する。したがって、記録再生を行う位置によって、媒体におけるレーザ光の照射条件や加熱・冷却条件は変化することになる。
これらいずれの方式においても、記録された信号品質を良くすることは、大容量かつ高密度にデータを記録・再生するために重要である。そのため、ある特定の線速度（ＣＡＶ記録方式の場合は記録再生位置）に対して、記録パワーを調整することで信号品質を良くする方法がこれまでにも開示されている。その１つとして、記録パワーや消去パワーを変化させてテスト信号を記録し、記録されたテスト信号をもとに再生信号のアシメトリ値や変調度が最適条件となるように、各パワーを決定する方法が開示されている（例えば、特許文献１参照）。
しかしながら、上記従来の記録方法では、ＣＡＶ記録方式において変化させる線速度の範囲が広い場合、線速度によって最適条件が異なるために、データ信号を品質良くかつ安定に記録できないという課題を有していた。以下、その課題について説明する。
高線速度で記録する場合には、スピンドルモータは高速で回転する。そのため、ディスクにわずかな面ぶれや偏芯があると、それらがサーボ動作に与える影響が大きくなる。すなわち、ディスクに面ぶれが存在すると、光ヘッドのアクチュエータは光軸方向に強く振られる。また、ディスクに偏芯が存在すると、アクチュエータはディスクの面と平行な方向に強く振られることになる。この振られがアクチュエータの応答特性以上に強くなると、アクチュエータがディスクの面ぶれや偏芯に追従しきれなくなり、デフォーカスやオフトラックが生じて信号が安定に記録できなくなる。
一方、低線速度で記録するときには、レーザスポットと媒体との相対速度が遅く、レーザ照射による溶融後の冷却速度も遅くなるので、溶融部周辺から再結晶化が進行して残った部分がマークになる。そのため、図１２に示すように、マーク３０２の大きさよりも溶融領域３０３は大きくなり、溶融領域の端はトラック３０１（すなわちガイド溝またはランド）の壁３０４にまで達する。その結果、壁３０４の微細な形状（がたつき）に影響を受けて、壁３０４に達した溶融領域の一部で再結晶化が起こらず、マークの一部分が壁３０４に貼り付く現象が生じた。そのためにマーク形状が歪んで再生信号の品質が低下する課題があった。
本発明は上記従来の課題を解決するもので、同一の媒体に対し広い線速度範囲に渡って安定かつ良好な信号品質でデータを記録再生できる光学的情報記録方法、光学的情報記録装置および光学的情報記録媒体を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録方法であって、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ２、前記第１の線速度ｖ１で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ１、前記第２の線速度ｖ２で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ２として、前記記録パワーが（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）を満たすように制御することを特徴とする。
この方法によれば、低線速度では歪みのないマークを形成することができるとともに、高線速度ではパワーマージンを確保して記録することができるので、広い線速度範囲にわたって信号品質良くデータを記録することが可能となる。
上記発明において、再生信号の品質は、再生信号のジッタであっても良い。
上記発明において、再生信号の品質は、再生信号のエラーレートであっても良い。
上記発明において、再生信号の品質は、再生信号の変調度に基づく値であっても良い。
これらいずれの場合においても、信号品質良くデータを記録することが可能になる。
本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録方法であって、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ２、前記第１の線速度ｖ１で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ１、前記第２の線速度ｖ２で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ２として、前記記録パワーが（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）を満たすように制御することを特徴とする。
この方法によっても、低線速度では歪みのないマークを形成することができるとともに、高線速度ではパワーマージンを確保して記録することができるので、広い線速度範囲にわたって信号品質良くデータを記録することが可能となる。
本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワー含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録方法であって、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させてテスト信号を記録したときの再生信号のアシメトリをａ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの前記再生信号のアシメトリをａ２として、前記記録パワーがａ１＜ａ２を満たすように制御することを特徴とする。
また、本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録方法であって、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの再生信号のアシメトリをａ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの再生信号のアシメトリをａ２として、前記記録パワーがａ１＜ａ２を満たすように制御することを特徴とする。
これらの方法によっても、低線速度では歪みのないマークを形成することができるとともに、高線速度ではパワーマージンを確保して記録することができるので、広い線速度範囲にわたって信号品質良くデータを記録することが可能となる。
本発明の光学的情報記録方法は、記録方式がＣＡＶ記録方式であることを特徴とする。
この方法により、媒体中の記録再生位置がどの場所であっても、信号品質良くデータを記録することが可能になる。
本発明の光学的情報記録方法は、第１の線速度ｖ１と前記第２の線速度ｖ２との間の値である線速度ｖでの記録パワーをＰｐとしたとき、線速度ｖの増大に応じてＰｐを増大させるように前記記録パワーを制御することを特徴とする。
この方法により、中間の線速度での記録パワーを容易に決定することができる。
本発明の光学的情報記録方法は、記録パルス間におけるパワーレベルが前記消去パワーと異なるよう制御することを特徴とする。
また、本発明の光学的情報記録方法は、記録パワーをＰｐ、消去パワーをＰｂ、記録パルス間のパワーレベルをＰｂｔｍとし、記録パルス間パワー係数αをα＝（Ｐｂｔｍ−Ｐｂ）／（Ｐｐ−Ｐｂ）としたとき、線速度ｖ２における記録パルス間パワー係数が、線速度ｖ１における記録パルス間パワー係数より高くなるよう制御することを特徴とする。
これらの方法により、線速度に応じて記録時の冷却速度を最適に制御できるため、信号品質良くデータを記録することが可能になる。
上記目的を達成するために、本発明の光学的情報記録媒体は、Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１およびＰｐ２／Ｐｐｔｈ２の値を表す情報が記録されていることを特徴とする。
また、本発明の光学的情報記録媒体は、Ｐｐ１およびＰｐ２の値を表す情報が記録されていることを特徴とする。
また、本発明の光学的情報記録媒体は、ａ１およびａ２の値を表す情報が記録されていることを特徴とする。
これらの媒体により、媒体を光学的情報記録装置に装着後、すぐに線速度に応じた記録パワーを決定することができる。
上記光学的情報記録媒体は、記録膜が相変化材料からなり、相変化材料は、ＧｅとＴｅを含み、さらにＳｎとＢｉのうちいずれかを含むことを特徴とする。
この媒体により、高線速度の記録でオーバーライト時の消し残りを少なくできるので、さらに信号品質良くデータを記録することが可能になる。
本発明の光学的情報記録媒体は、複数のセクタに分割されたトラックを有し、セクタと前記セクタとの間にエンボストラックを有し、トラックが、エンボストラックの中心と前記セクタの記録トラックの中心とをずらすようにして形成されたことを特徴とする。
この媒体により、高線速度の記録時にエンボストラックと記録トラックとの境界でアクチュエータが振られてオフトラックが生じても、安定に記録することが可能になる。
上記目的を達成するために、本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録装置であって、異なる２種類の線速度を設定する線速度設定回路と、線速度設定回路の設定結果に応じて前記記録パルスまたは前記記録パルス列を発生する記録パルス発生回路と、記録パルス列に基づき前記複数のパワーレベルで前記レーザ光を照射するレーザ駆動回路と、再生信号の品質を検出する品質検出回路とを備え、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ２、前記第１の線速度ｖ１で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ１、前記第２の線速度ｖ２で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ２とすると、前記レーザ駆動回路は、（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）を満たすように前記記録パワーを制御することを特徴とする。
本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録装置であって、異なる２種類の線速度を設定する線速度設定回路と、前記線速度設定回路の設定結果に応じて前記記録パルスまたは前記記録パルス列を発生する記録パルス発生回路と、前記記録パルス列に基づき前記複数のパワーレベルで前記レーザ光を照射するレーザ駆動回路と、再生信号の品質を検出する品質検出回路とを備え、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、前記再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ２、前記第１の線速度ｖ１で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ１、前記第２の線速度ｖ２で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ２とすると、前記レーザ駆動回路は、（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）を満たすように前記記録パワーを制御することを特徴とする。
本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録装置であって、異なる２種類の線速度を設定する線速度設定回路と、前記線速度設定回路の設定結果に応じて前記記録パルスまたは前記記録パルス列を発生する記録パルス発生回路と、前記記録パルス列に基づき前記複数のパワーレベルで前記レーザ光を照射するレーザ駆動回路と再生信号のアシメトリを検出するアシメトリ検出回路を備え、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号のアシメトリをａ１、ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号のアシメトリをａ２とすると、前記レーザ駆動回路は、ａ１＜ａ２を満たすように前記記録パワーを制御することを特徴とする。
本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワー含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録装置であって、異なる２種類の線速度を設定する線速度設定回路と、前記線速度設定回路の設定結果に応じて前記記録パルスまたは前記記録パルス列を発生する記録パルス発生回路と、前記記録パルス列に基づき前記複数のパワーレベルで前記レーザ光を照射するレーザ駆動回路と再生信号のアシメトリを検出するアシメトリ検出回路を備え、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号のアシメトリをａ１、ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号のアシメトリをａ２とすると、前記レーザ駆動回路は、ａ１＜ａ２を満たすように前記記録パワーを制御することを特徴とする。
これらの装置によれば、低線速度では歪みのないマークを形成することができるとともに、高線速度ではパワーマージンを確保して記録することができるので、広い線速度範囲にわたって信号品質良くデータを記録することが可能となる。
本発明の光学的情報記録方法によれば、広い線速度範囲にわたって信号品質良く情報を記録することができる。
上記目的を達成するため、本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録方法であって、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ２、前記第１の線速度ｖ１で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ１、前記第２の線速度ｖ２で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ２として、前記記録パワーが（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）を満たすように制御することを特徴とする。
この方法によれば、低線速度では歪みのないマークを形成することができるとともに、高線速度ではパワーマージンを確保して記録することができるので、広い線速度範囲にわたって信号品質良くデータを記録することが可能となる。
上記発明において、再生信号の品質は、再生信号のジッタであっても良い。
上記発明において、再生信号の品質は、再生信号のエラーレートであっても良い。
上記発明において、再生信号の品質は、再生信号の変調度に基づく値であっても良い。
これらいずれの場合においても、信号品質良くデータを記録することが可能になる。
本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録方法であって、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ２、前記第１の線速度ｖ１で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ１、前記第２の線速度ｖ２で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ２として、前記記録パワーが（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）を満たすように制御することを特徴とする。
この方法によっても、低線速度では歪みのないマークを形成することができるとともに、高線速度ではパワーマージンを確保して記録することができるので、広い線速度範囲にわたって信号品質良くデータを記録することが可能となる。
本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワー含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録方法であって、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させてテスト信号を記録したときの再生信号のアシメトリをａ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの前記再生信号のアシメトリをａ２として、前記記録パワーがａ１＜ａ２を満たすように制御することを特徴とする。
また、本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録方法であって、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの再生信号のアシメトリをａ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの再生信号のアシメトリをａ２として、前記記録パワーがａ１＜ａ２を満たすように制御することを特徴とする。
これらの方法によっても、低線速度では歪みのないマークを形成することができるとともに、高線速度ではパワーマージンを確保して記録することができるので、広い線速度範囲にわたって信号品質良くデータを記録することが可能となる。
本発明の光学的情報記録方法は、記録方式がＣＡＶ記録方式であることを特徴とする。
この方法により、媒体中の記録再生位置がどの場所であっても、信号品質良くデータを記録することが可能になる。
本発明の光学的情報記録方法は、第１の線速度ｖ１と前記第２の線速度ｖ２との間の値である線速度ｖでの記録パワーをＰｐとしたとき、線速度ｖの増大に応じてＰｐを増大させるように前記記録パワーを制御することを特徴とする。
この方法により、中間の線速度での記録パワーを容易に決定することができる。
本発明の光学的情報記録方法は、記録パルス間におけるパワーレベルが前記消去パワーと異なるよう制御することを特徴とする。
また、本発明の光学的情報記録方法は、記録パワーをＰｐ、消去パワーをＰｂ、記録パルス間のパワーレベルをＰｂｔｍとし、記録パルス間パワー係数αをα＝（Ｐｂｔｍ−Ｐｂ）／（Ｐｐ−Ｐｂ）としたとき、線速度ｖ２における記録パルス間パワー係数が、線速度ｖ１における記録パルス間パワー係数より高くなるよう制御することを特徴とする。
これらの方法により、線速度に応じて記録時の冷却速度を最適に制御できるため、信号品質良くデータを記録することが可能になる。
上記目的を達成するために、本発明の光学的情報記録媒体は、Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１およびＰｐ２／Ｐｐｔｈ２の値を表す情報が記録されていることを特徴とする。
また、本発明の光学的情報記録媒体は、Ｐｐ１およびＰｐ２の値を表す情報が記録されていることを特徴とする。
また、本発明の光学的情報記録媒体は、ａ１およびａ２の値を表す情報が記録されていることを特徴とする。
これらの媒体により、媒体を光学的情報記録装置に装着後、すぐに線速度に応じた記録パワーを決定することができる。
上記光学的情報記録媒体は、記録膜が相変化材料からなり、相変化材料は、ＧｅとＴｅを含み、さらにＳｎとＢｉのうちいずれかを含むことを特徴とする。
この媒体により、高線速度の記録でオーバーライト時の消し残りを少なくできるので、さらに信号品質良くデータを記録することが可能になる。
本発明の光学的情報記録媒体は、複数のセクタに分割されたトラックを有し、セクタと前記セクタとの間にエンボストラックを有し、トラックが、エンボストラックの中心と前記セクタの記録トラックの中心とをずらすようにして形成されたことを特徴とする。
この媒体により、高線速度の記録時にエンボストラックと記録トラックとの境界でアクチュエータが振られてオフトラックが生じても、安定に記録することが可能になる。
上記目的を達成するために、本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録装置であって、異なる２種類の線速度を設定する線速度設定回路と、線速度設定回路の設定結果に応じて前記記録パルスまたは前記記録パルス列を発生する記録パルス発生回路と、記録パルス列に基づき前記複数のパワーレベルで前記レーザ光を照射するレーザ駆動回路と、再生信号の品質を検出する品質検出回路とを備え、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ２、前記第１の線速度ｖ１で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ１、前記第２の線速度ｖ２で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ２とすると、前記レーザ駆動回路は、（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）を満たすように前記記録パワーを制御することを特徴とする。
本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録装置であって、異なる２種類の線速度を設定する線速度設定回路と、前記線速度設定回路の設定結果に応じて前記記録パルスまたは前記記録パルス列を発生する記録パルス発生回路と、前記記録パルス列に基づき前記複数のパワーレベルで前記レーザ光を照射するレーザ駆動回路と、再生信号の品質を検出する品質検出回路とを備え、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、前記再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ２、前記第１の線速度ｖ１で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ１、前記第２の線速度ｖ２で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ２とすると、前記レーザ駆動回路は、（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）を満たすように前記記録パワーを制御することを特徴とする。
本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録装置であって、異なる２種類の線速度を設定する線速度設定回路と、前記線速度設定回路の設定結果に応じて前記記録パルスまたは前記記録パルス列を発生する記録パルス発生回路と、前記記録パルス列に基づき前記複数のパワーレベルで前記レーザ光を照射するレーザ駆動回路と再生信号のアシメトリを検出するアシメトリ検出回路を備え、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号のアシメトリをａ１、ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号のアシメトリをａ２とすると、前記レーザ駆動回路は、ａ１＜ａ２を満たすように前記記録パワーを制御することを特徴とする。
本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワー含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録装置であって、異なる２種類の線速度を設定する線速度設定回路と、前記線速度設定回路の設定結果に応じて前記記録パルスまたは前記記録パルス列を発生する記録パルス発生回路と、前記記録パルス列に基づき前記複数のパワーレベルで前記レーザ光を照射するレーザ駆動回路と再生信号のアシメトリを検出するアシメトリ検出回路を備え、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号のアシメトリをａ１、ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号のアシメトリをａ２とすると、前記レーザ駆動回路は、ａ１＜ａ２を満たすように前記記録パワーを制御することを特徴とする。
これらの装置によれば、低線速度では歪みのないマークを形成することができるとともに、高線速度ではパワーマージンを確保して記録することができるので、広い線速度範囲にわたって信号品質良くデータを記録することが可能となる。
本発明の光学的情報記録方法によれば、広い線速度範囲にわたって信号品質良く情報を記録することができる。
１ 光ディスク
２ システム制御回路
３ 変調回路
４ 記録パルス発生回路
５ レーザ駆動回路
６ 光ヘッド
７ 線速度設定回路
８ スピンドルモータ
９ 再生信号処理回路
１０ ジッタ検出回路
１１ パワー設定信号
１２ 変調信号
１３ 記録パルス信号
１４ レーザ光
３０１ トラック
３０２ マーク
３０３ 溶融領域
３０４ 壁
６０１ アシメトリ検出回路
１００１ 前端パルス
１００２ 後端パルス
２ システム制御回路
３ 変調回路
４ 記録パルス発生回路
５ レーザ駆動回路
６ 光ヘッド
７ 線速度設定回路
８ スピンドルモータ
９ 再生信号処理回路
１０ ジッタ検出回路
１１ パワー設定信号
１２ 変調信号
１３ 記録パルス信号
１４ レーザ光
３０１ トラック
３０２ マーク
３０３ 溶融領域
３０４ 壁
６０１ アシメトリ検出回路
１００１ 前端パルス
１００２ 後端パルス
以下、本発明をさらに具体的に説明する。
（第１実施形態）
まず、本発明に係る第１実施形態における光学的情報記録方法において、テスト記録を行って記録パワーを求める場合の動作を図１〜図４を用いて説明する。この時、消去パワーは固定されている。また、本実施形態では、再生信号の品質としてジッタを用いて説明する。
図１は、本実施形態の記録装置の概略構成を示すブロック図である。
１はデータを記録再生する光ディスクで、２は記録装置全体を制御するシステム制御回路である。３は記録する情報に応じて２値化された記録データ信号を発生させる変調回路で、４は記録データ信号に応じてレーザを駆動するパルスを発生させる記録パルス発生回路である。
５は記録パルス生成回路が出力するパルスに応じて、光ヘッド６内のレーザを駆動させる電流を変調するレーザ駆動回路である。光ヘッド６は、レーザ光を集束して光ディスク１に照射する。７は光ディスク１の線速度（すなわち、回転数）を制御する線速度設定回路、８は光ディスク１を回転させるスピンドルモータである。９は光ディスク１からの反射光に基づく再生信号の波形処理を行なう再生信号処理回路であり、１０は再生信号の品質を検出する回路、すなわちここでは、ジッタ値を得るためのジッタ検出回路である。
次に、図２のフローチャート、および図３、図４の動作図を用いて、本実施形態の記録装置の動作について説明する。
図２は本実施形態でテスト記録するときの動作を示すフローチャートである。図３は本実施形態で線速度を低くして記録する場合の、記録パワーとジッタおよびトラックの状態の関係を示す図である。図４は線速度を高くして記録する場合の、記録パワーとジッタおよびトラックの状態の関係を示す図である。
図３および図４の各図において、（ａ）は記録パワーとジッタとの関係を示すグラフ、（ｂ）は記録パワーを変化させたときのトラックへの記録状態である。
記録時には、まず、線速度設定工程ステップ２０１（以下、Ｓ２０１のように略記する）により、システム制御回路２の命令に基づいて線速度設定回路７がスピンドルモータ８の回転数を制御し、光ディスク１を所定の線速度で回転させる。シーク動作工程Ｓ２０２により、光ヘッド７が光ディスク１上の所定のテスト記録領域にシークする。
まず、本実施形態で低線速度ｖ１で記録する（すなわち、低い転送レートで記録する）場合のテスト記録動作について説明する。
パワー設定工程Ｓ２０３により、システム制御回路２が、記録パワーと消去パワーを初期値に設定して、レーザ駆動回路６にパワー設定信号１１を送出する。この初期値は、記録装置があらかじめ持っている値であっても良い。また、光ディスク１のコントロールトラック領域上に、初期値のパワーを表す情報が記録されているのであれば、この情報を読み出すことにより設定するものであっても良い。
テスト信号記録工程Ｓ２０４により、システム制御回路２からのテスト信号情報が、図変調回路３により変調される。変調回路３は、所定の変調則で変調して、記録パルス発生回路４に変調信号１２を送出する。記録パルス発生回路４は変調信号１２をもとにして、記録パルスまたは記録パルス列からなる記録パルス信号１３をレーザ駆動回路５に送出する。レーザ駆動回路５はレーザ光１４のパワーレベルを変調させ、レーザ光１４がトラック上にテスト信号に対応するマークを形成する。
記録信号再生工程Ｓ２０５により、テスト信号を記録したトラックを再生する。再生信号には再生信号処理回路９でイコライズや２値化等の信号処理が施される。
ジッタ検出工程Ｓ２０６により、信号処理した再生信号のジッタ値を検出する。
しきい値判定工程Ｓ２０７により、システム制御回路２にて、検出したジッタ値が所定のしきい値であるか否かを判定する。このときのしきい値としては、十分に大きなマークが形成されてジッタが最良になる値付近の値よりは、マークが形成し始める付近の値の方が好ましい。これは記録パワー変化に対するジッタの変化が大きいため、検出誤差やばらつきの影響を受けることなく、マークが形成され始めるしきい値が明瞭に検出できるからである。
もしジッタ値がしきい値に等しくない場合は、記録パワー変化工程Ｓ２０８により、記録パワーを所定の間隔で変化させて、再度テスト記録工程Ｓ２０４に戻る。ジッタ値がしきい値に十分近い値になるまで、テスト記録工程Ｓ２０４〜記録パワー変化工程Ｓ２０８を繰り返す。
ジッタ値がしきい値に十分近い値に達すれば、記録パワー決定工程Ｓ２０９により、実際に情報を記録する時の記録パワーＰｐ１を求める。このために、まずジッタ値がしきい値に十分近い値になったときの記録パワー（これをＰｐｔｈ１とする）を求める。この値から、Ｐｐ１は次のようにして計算する。
Ｐｐ１＝Ｐｐｔｈ１×Ｃ１
ここでＣ１は、低線速度記録の場合に対応する一定の係数である。
これで記録パワーを求めるテスト記録は終了し、求めた記録パワーＰｐ１を用いて、実際の情報を光ディスク１に記録することになる。
本実施形態で高線速度ｖ２で記録する（すなわち、高い転送レートで記録する）場合の、テスト記録動作については、基本的には上述の低線速度ｖ１の場合と同様である。低線速度の場合と異なるのは、線速度設定工程Ｓ２０１によりスピンドルモータ８を高線速度で回転させること、テスト信号記録工程Ｓ２０４により高い転送レートに対応したテスト信号を記録すること、しきい値判定工程Ｓ２０７によりジッタ値がしきい値に十分近い値になったときの記録パワー（これをＰｐｔｈ２とする）を求め、この値から、記録パワーＰｐ２を次のようにして計算することである。
Ｐｐ２＝Ｐｐｔｈ２×Ｃ２
ここでＣ２は、高線速度記録の場合に対応する一定の係数である。
ここで、高線速度記録時の係数Ｃ２は低線速度記録時の係数Ｃ１より大きくすることが望ましい。このことを図３および図４を用いて説明する。
図３および図４は、それぞれ低線速度ｖ１と高線速度ｖ２で記録する場合に、ジッタ、溶融領域およびマーク形状が記録パワーに依存して変化する状態を説明する図である。図３（ａ）と図４（ａ）はジッタの変化を、図３（ｂ）と図４（ｂ）はトラック３０１上のマーク３０２と溶融領域３０３の形状の変化を示す。
低線速度ｖ１で記録するときには、レーザ光による照射で溶融した後、溶融領域３０３周辺から再結晶化が進行する。記録パワーをしきい値Ｐｐｔｈ１から増大させていくと溶融領域３０３が拡大するが、同時に再結晶化領域（すなわち、溶融領域３０３からマーク３０２の領域を除いた部分）も拡大する。したがって記録パワーの増大に伴うマーク３０２の拡大の度合は、溶融領域の拡大する度合よりも緩やかになる。その結果、ジッタ値も緩やかに良くなる傾向を示す（図３の（Ａ）点から（Ｂ）点へのジッタ変化および記録状態の変化を参照）。
しかし、さらに記録パワーを増大させると、溶融領域３０３がトラックの壁３０４に達する。その結果、壁の微細な形状（がたつき）に影響を受けて、壁に達した溶融領域の一部で再結晶化が起こらず、マーク３０２の一部分が壁３０４に貼り付いて形状の歪みが生じる。これにより、記録パワーを増大させたときのジッタ値は一転して急激に悪化することになる（図３の（Ｂ）点から（Ｃ）点へのジッタ変化および記録状態の変化を参照）。それゆえ、低線速度ｖ１で良好なジッタで記録するためには、ジッタがしきい値となるＰｐｔｈ１に対してあまり高い記録パワーに設定できないことがわかる。
一方、高線速度ｖ２で記録するときにはレーザスポットと媒体との相対速度が速いために、レーザ光による照射で溶融した後、急冷でアモルファスが形成されやすい。すなわち、溶融領域３０３周辺からの再結晶化は進行しにくく、記録パワーをしきい値Ｐｐｔｈ２から増大させても再結晶化領域はあまり拡大しない。したがって、記録パワーを増大させると、溶融領域３０３の拡大にほぼ比例してマーク３０２の大きさも拡大する。その結果、低線速度ｖ１の記録と比較するとジッタ値は急激に良くなる傾向を示す（図４の（Ａ）点から（Ｂ）点へのジッタ変化および記録状態の変化を参照）。
高線速度記録の場合には再結晶化領域が拡大しにくいので、さらに記録パワーを増大させてマーク３０２を大きくしても溶融領域３０３は壁３０４に達しない。そのため、ジッタの悪化は小さい（図４の（Ｂ）点から（Ｃ）点へのジッタ変化および記録状態の変化を参照）。
高線速度で安定に情報を記録するために問題となるのは、記録膜の溶融−マーク形成過程よりも、むしろ光ディスク１の機械的な特性である。前述したように、ディスクにわずかな面ぶれや偏芯があると、ディスクが高速で回転した時に、アクチュエータを動かすサーボがその面ぶれや偏芯に追従しきれなくなり、結果的にデフォーカスやオフトラックといった現象を引き起こす。これらの現象は、本来レーザ光を照射してマークを形成しようとしている部分に与える、実効的なパワーを低下させることになる。
高線速度ｖ２で記録する際にこのような現象が生じた場合でも、安定かつジッタを良好に記録するためには、ジッタがしきい値となるＰｐｔｈ１に対して、低線速度ｖ１に比べ相対的に高い記録パワーに設定するのが望ましい。高線速度記録の場合は、高い記録パワーで記録してもマークが壁に貼り付くことによるジッタの悪化は生じない。したがって、実効的なパワーが低くなってもジッタを良好に記録できるように、余裕を持った高い記録パワーで記録するのが良いことになる。
以上述べたように、本実施形態のポイントは、ジッタがしきい値となるパワーに対する記録パワーの比を低線速度では相対的に小さく、高線速度では相対的に大きくする。すなわち（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）としていることである。
これにより、低線速度記録ではマークの壁への貼り付きを抑制して歪みのないマークを形成する。それとともに、高線速度では面ぶれや偏芯に起因してデフォーカス・オフトラックが生じてもジッタを悪化させることなく安定に記録することができるので、広い線速度範囲にわたって信号品質良く情報を記録できるという特別の効果を奏する。
なお本実施形態では、ジッタ検出回路１０で再生信号のジッタを検出するものとしたが、ジッタ検出回路１０の代わりにエラーレート検出回路を設け、エラーレートがしきい値となる記録パワーから情報を記録するときの記録パワーを求めるものであっても良い。一般的な記録装置では、エラーレートを検出する機能は再生信号から情報を復調する回路に備わっているので、特別な付加回路を必要としないメリットがある。
また、ジッタ検出回路１０の代わりの代わりに変調度検出回路を設け、変調度がしきい値となる記録パワーから情報を記録するときの記録パワーを求めるものであっても良い。このときの変調度のしきい値としては、変調度の絶対値をしきい値として用いる方法の他に、（変調度／記録パワー）の微分係数をしきい値として用いる方法でも良い。すなわち図５（ａ）に示すように、（変調度／記録パワー）の微分係数α＝ｄｍ／ｄＰｐを求める。図５（ｂ）に示すように記録パワーが変化したときのαの変化を求め、αがしきい値αｔｈになる記録パワーをＰｐｔｈ１またはＰｐｔｈ２とする。この方法でも、しきい値を正確に求めることができる。
変調度に基づく値をしきい値とする別の形態として、図５（ｃ）に示すように（変調度×記録パワー）の値をβとし、記録パワーが変化したときのβの変化を求め、βがしきい値βｔｈになる記録パワーを各線速で求めるものであっても、しきい値を正確に求めることができる。
上記の他にも、各線速で所定の大きさのマークが形成され始める記録パワーＰｐｔｈ１またはＰｐｔｈ２が求めることができるものであれば、どんなしきい値を用いるものであっても本発明に適用させることが可能である。
（第２実施形態）
次に、図６の記録装置の構成、および図７のフローチャートを用いて、本発明に係る第２実施形態の記録装置の動作について説明する。
図６は本実施形態の記録装置の概略構成を示すブロック図である。第１実施形態と異なるのは、ジッタ検出回路１０の代わりにアシメトリ検出回路６０１を設けていることである。
図７は本実施形態でテスト記録するときの動作を示すフローチャートである。
テスト記録のスタート後、記録信号再生工程Ｓ７０５までは第１実施形態と同様である。異なるのはアシメトリ検出工程Ｓ７０６により、アシメトリ検出回路６０１が再生信号のアシメトリを検出することである。アシメトリは再生信号の非対称性を示す値である。アシメトリを求める方法を図８を用いて説明する。図８（ａ）（ｂ）はそれぞれアシメトリが大きい場合と小さい場合の再生波形とトラック上の記録状態を示す図である。再生信号振幅の上のレベルをＩＨ、下のレベルをＩＬ、中央のレベルをＩｃ、平均レベルをＩａとすると、アシメトリａは以下の式により求められる。
ａ＝（Ｉｃ−Ｉａ）／（ＩＨ−ＩＬ）
すなわち、マークが長く（大きく）なるとアシメトリは大きくなることになる。
低線速度ｖ１のアシメトリの所定値ａ１とし、高線速度ｖ２のアシメトリを所定値ａ２とする。このとき、ａ１よりもａ２を大きい値とすることが必要である。そしてテスト記録工程Ｓ７０４〜記録パワー変化工程Ｓ７０８を繰り返して、低線速度ｖ１でアシメトリがａ１となる記録パワーを求める。
記録パワー決定工程Ｓ７０９により、実際に情報を記録するときの記録パワーＰｐ１はアシメトリａ１となる記録パワーとする。これで、低線速度で記録パワーを求めるテスト記録は終了する。
高線速度ｖ２の場合も同様にして、アシメトリがａ２となる記録パワーＰｐ２を求め、このパワーを実際に情報を記録するときの記録パワーとする。
このようにして、再生信号のアシメトリを低線速度では相対的に小さく、高線速度では相対的に大きくする。これにより、第１実施形態と同様に、低線速度記録ではマークの壁への貼り付きを抑制して歪みのないマークを形成し、高線速度では面ぶれや偏芯に起因してデフォーカス・オフトラックが生じてもジッタを悪化させることなく安定に記録することができる。それゆえ、広い線速度範囲にわたって信号品質良く情報を記録できるという特別の効果を奏する。
（その他の実施形態）
上記各実施形態では、消去パワーを固定して記録パワーを変化させるものとしたが、消去パワーと記録パワーの比を一定にして変化させてしきい値を得るものであっても、上述と同様の効果を得ることができる。
また、上記各実施形態では、ｖ１とｖ２における記録パワーはテスト記録から決定するものとしたが、ｖ１とｖ２における各々の記録パワーＰｐ１、Ｐｐ２、もしくは各々の係数Ｃ１、Ｃ２、または各々のアシメトリａ１、ａ２を媒体のコントロールトラック（すなわち、媒体に関する情報を記録する領域）に記録しておけば、媒体を光学的情報記録装置に装着後、すぐに線速度に記録パワーを決定することができる利点が生ずる。このパワーレベルの情報は、光学的情報記録装置が媒体に記録するものであってもよいし、媒体の製造時にあらかじめ記録するものであってもよい。
上記各実施形態における媒体は、記録膜が相変化材料からなり、ＧｅとＴｅを含み、さらにＳｎとＢｉのうちいずれかを含むことがより好ましい。この場合、高線速度の記録でオーバーライト時の消し残りを少なくできるので、さらに信号品質良くデータを記録することが可能となる利点を生ずる。
さらに、上記各実施形態における媒体は、媒体のトラックが複数のセクタに分割され、前記セクタと前記セクタとの間にエンボストラックを有し、前記エンボストラックの中心と各前記セクタの記録トラックの中心とをずらすように形成されたものであることがより好ましい。この場合、高線速度の記録時にエンボストラックと記録トラックとの境界でアクチュエータが振られてオフトラックが生じても、安定に記録することが可能となる利点を生ずる。
上記各実施形態は、ＣＡＶ記録方式の媒体に記録するものであっても良い。
さらに、上記各実施形態では、低線速度ｖ１と高線速度ｖ２の２種類で記録するものとしたが、ＣＡＶ記録方式では、媒体中の記録再生位置によって線速度と転送レートが連続的に変化する。このような場合には、低線速度ｖ１での記録パワーと高線速度ｖ２での記録パワーをなめらかまたは段階的につなぐことにより、容易に中間の線速度での記録パワーを決定する方法であることが好ましい。すなわち、例えば、中間の線速度の増大に応じてその記録パワーも増大するように中間の線速度での記録パワーを決定すればよい。
上記各実施形態では、記録パルス間におけるパワーレベルが前記消去パワーと異なるよう制御することが好ましい。この場合、線速度に応じて記録時の冷却速度を最適に制御できるため、信号品質良くデータを記録することができる。
さらに、上記各実施形態では、レーザ発光波形のパワーレベルを記録パワーＰｐと消去パワーＰｂの２レベルで変化させるものとしたが、３レベル以上で変化させても良い。例えば、各記録パルス間のパワーレベル（ボトムレベルともいう）をＰｂより高いレベルとしても良いし、Ｐｂよりも低くしても良い。ここで、記録パワーをＰｐ、消去パワーをＰｂ、記録パルス間のパワーレベルをＰｂｔｍとし、記録パルス間パワー係数αをα＝（Ｐｂｔｍ−ｐｂ）／（Ｐｐ−Ｐｂ）としたとき、記録パルス間パワー係数を線速度の増大に応じて高くするように設定した方が、高線速度での記録時に冷却速度が過剰にならず、オーバーライト時の消し残りが少なくなる点でより好ましい。
また、上記の各実施形態において、記録パルスまたは記録パルス列の後に冷却パルスを付加した記録パルス列としても、上記と同様の効果が得られる。
なお、上記の変調方式、各パルスの長さ・位置等は上述の各実施形態で示したものに限るわけではなく、記録条件や媒体に応じて適切なものを設定することが可能である。また、マーク同士の熱干渉の影響を避けるため、記録パルスのエッジ位置を補正するものであってもよい。
また、上記の光ディスクは相変化材料、光磁気材料や色素材料等、マークとスペースで光学的特性の異なる媒体であればいずれも上記の方法を適用することができる。
さらに、本発明の光学的情報記録方法、光学的情報記録装置および光学的情報記録媒体を用いたパーソナルコンピュータ、サーバ、レコーダでも上述と同様の効果を得ることができる。
（第１実施形態）
まず、本発明に係る第１実施形態における光学的情報記録方法において、テスト記録を行って記録パワーを求める場合の動作を図１〜図４を用いて説明する。この時、消去パワーは固定されている。また、本実施形態では、再生信号の品質としてジッタを用いて説明する。
図１は、本実施形態の記録装置の概略構成を示すブロック図である。
１はデータを記録再生する光ディスクで、２は記録装置全体を制御するシステム制御回路である。３は記録する情報に応じて２値化された記録データ信号を発生させる変調回路で、４は記録データ信号に応じてレーザを駆動するパルスを発生させる記録パルス発生回路である。
５は記録パルス生成回路が出力するパルスに応じて、光ヘッド６内のレーザを駆動させる電流を変調するレーザ駆動回路である。光ヘッド６は、レーザ光を集束して光ディスク１に照射する。７は光ディスク１の線速度（すなわち、回転数）を制御する線速度設定回路、８は光ディスク１を回転させるスピンドルモータである。９は光ディスク１からの反射光に基づく再生信号の波形処理を行なう再生信号処理回路であり、１０は再生信号の品質を検出する回路、すなわちここでは、ジッタ値を得るためのジッタ検出回路である。
次に、図２のフローチャート、および図３、図４の動作図を用いて、本実施形態の記録装置の動作について説明する。
図２は本実施形態でテスト記録するときの動作を示すフローチャートである。図３は本実施形態で線速度を低くして記録する場合の、記録パワーとジッタおよびトラックの状態の関係を示す図である。図４は線速度を高くして記録する場合の、記録パワーとジッタおよびトラックの状態の関係を示す図である。
図３および図４の各図において、（ａ）は記録パワーとジッタとの関係を示すグラフ、（ｂ）は記録パワーを変化させたときのトラックへの記録状態である。
記録時には、まず、線速度設定工程ステップ２０１（以下、Ｓ２０１のように略記する）により、システム制御回路２の命令に基づいて線速度設定回路７がスピンドルモータ８の回転数を制御し、光ディスク１を所定の線速度で回転させる。シーク動作工程Ｓ２０２により、光ヘッド７が光ディスク１上の所定のテスト記録領域にシークする。
まず、本実施形態で低線速度ｖ１で記録する（すなわち、低い転送レートで記録する）場合のテスト記録動作について説明する。
パワー設定工程Ｓ２０３により、システム制御回路２が、記録パワーと消去パワーを初期値に設定して、レーザ駆動回路６にパワー設定信号１１を送出する。この初期値は、記録装置があらかじめ持っている値であっても良い。また、光ディスク１のコントロールトラック領域上に、初期値のパワーを表す情報が記録されているのであれば、この情報を読み出すことにより設定するものであっても良い。
テスト信号記録工程Ｓ２０４により、システム制御回路２からのテスト信号情報が、図変調回路３により変調される。変調回路３は、所定の変調則で変調して、記録パルス発生回路４に変調信号１２を送出する。記録パルス発生回路４は変調信号１２をもとにして、記録パルスまたは記録パルス列からなる記録パルス信号１３をレーザ駆動回路５に送出する。レーザ駆動回路５はレーザ光１４のパワーレベルを変調させ、レーザ光１４がトラック上にテスト信号に対応するマークを形成する。
記録信号再生工程Ｓ２０５により、テスト信号を記録したトラックを再生する。再生信号には再生信号処理回路９でイコライズや２値化等の信号処理が施される。
ジッタ検出工程Ｓ２０６により、信号処理した再生信号のジッタ値を検出する。
しきい値判定工程Ｓ２０７により、システム制御回路２にて、検出したジッタ値が所定のしきい値であるか否かを判定する。このときのしきい値としては、十分に大きなマークが形成されてジッタが最良になる値付近の値よりは、マークが形成し始める付近の値の方が好ましい。これは記録パワー変化に対するジッタの変化が大きいため、検出誤差やばらつきの影響を受けることなく、マークが形成され始めるしきい値が明瞭に検出できるからである。
もしジッタ値がしきい値に等しくない場合は、記録パワー変化工程Ｓ２０８により、記録パワーを所定の間隔で変化させて、再度テスト記録工程Ｓ２０４に戻る。ジッタ値がしきい値に十分近い値になるまで、テスト記録工程Ｓ２０４〜記録パワー変化工程Ｓ２０８を繰り返す。
ジッタ値がしきい値に十分近い値に達すれば、記録パワー決定工程Ｓ２０９により、実際に情報を記録する時の記録パワーＰｐ１を求める。このために、まずジッタ値がしきい値に十分近い値になったときの記録パワー（これをＰｐｔｈ１とする）を求める。この値から、Ｐｐ１は次のようにして計算する。
Ｐｐ１＝Ｐｐｔｈ１×Ｃ１
ここでＣ１は、低線速度記録の場合に対応する一定の係数である。
これで記録パワーを求めるテスト記録は終了し、求めた記録パワーＰｐ１を用いて、実際の情報を光ディスク１に記録することになる。
本実施形態で高線速度ｖ２で記録する（すなわち、高い転送レートで記録する）場合の、テスト記録動作については、基本的には上述の低線速度ｖ１の場合と同様である。低線速度の場合と異なるのは、線速度設定工程Ｓ２０１によりスピンドルモータ８を高線速度で回転させること、テスト信号記録工程Ｓ２０４により高い転送レートに対応したテスト信号を記録すること、しきい値判定工程Ｓ２０７によりジッタ値がしきい値に十分近い値になったときの記録パワー（これをＰｐｔｈ２とする）を求め、この値から、記録パワーＰｐ２を次のようにして計算することである。
Ｐｐ２＝Ｐｐｔｈ２×Ｃ２
ここでＣ２は、高線速度記録の場合に対応する一定の係数である。
ここで、高線速度記録時の係数Ｃ２は低線速度記録時の係数Ｃ１より大きくすることが望ましい。このことを図３および図４を用いて説明する。
図３および図４は、それぞれ低線速度ｖ１と高線速度ｖ２で記録する場合に、ジッタ、溶融領域およびマーク形状が記録パワーに依存して変化する状態を説明する図である。図３（ａ）と図４（ａ）はジッタの変化を、図３（ｂ）と図４（ｂ）はトラック３０１上のマーク３０２と溶融領域３０３の形状の変化を示す。
低線速度ｖ１で記録するときには、レーザ光による照射で溶融した後、溶融領域３０３周辺から再結晶化が進行する。記録パワーをしきい値Ｐｐｔｈ１から増大させていくと溶融領域３０３が拡大するが、同時に再結晶化領域（すなわち、溶融領域３０３からマーク３０２の領域を除いた部分）も拡大する。したがって記録パワーの増大に伴うマーク３０２の拡大の度合は、溶融領域の拡大する度合よりも緩やかになる。その結果、ジッタ値も緩やかに良くなる傾向を示す（図３の（Ａ）点から（Ｂ）点へのジッタ変化および記録状態の変化を参照）。
しかし、さらに記録パワーを増大させると、溶融領域３０３がトラックの壁３０４に達する。その結果、壁の微細な形状（がたつき）に影響を受けて、壁に達した溶融領域の一部で再結晶化が起こらず、マーク３０２の一部分が壁３０４に貼り付いて形状の歪みが生じる。これにより、記録パワーを増大させたときのジッタ値は一転して急激に悪化することになる（図３の（Ｂ）点から（Ｃ）点へのジッタ変化および記録状態の変化を参照）。それゆえ、低線速度ｖ１で良好なジッタで記録するためには、ジッタがしきい値となるＰｐｔｈ１に対してあまり高い記録パワーに設定できないことがわかる。
一方、高線速度ｖ２で記録するときにはレーザスポットと媒体との相対速度が速いために、レーザ光による照射で溶融した後、急冷でアモルファスが形成されやすい。すなわち、溶融領域３０３周辺からの再結晶化は進行しにくく、記録パワーをしきい値Ｐｐｔｈ２から増大させても再結晶化領域はあまり拡大しない。したがって、記録パワーを増大させると、溶融領域３０３の拡大にほぼ比例してマーク３０２の大きさも拡大する。その結果、低線速度ｖ１の記録と比較するとジッタ値は急激に良くなる傾向を示す（図４の（Ａ）点から（Ｂ）点へのジッタ変化および記録状態の変化を参照）。
高線速度記録の場合には再結晶化領域が拡大しにくいので、さらに記録パワーを増大させてマーク３０２を大きくしても溶融領域３０３は壁３０４に達しない。そのため、ジッタの悪化は小さい（図４の（Ｂ）点から（Ｃ）点へのジッタ変化および記録状態の変化を参照）。
高線速度で安定に情報を記録するために問題となるのは、記録膜の溶融−マーク形成過程よりも、むしろ光ディスク１の機械的な特性である。前述したように、ディスクにわずかな面ぶれや偏芯があると、ディスクが高速で回転した時に、アクチュエータを動かすサーボがその面ぶれや偏芯に追従しきれなくなり、結果的にデフォーカスやオフトラックといった現象を引き起こす。これらの現象は、本来レーザ光を照射してマークを形成しようとしている部分に与える、実効的なパワーを低下させることになる。
高線速度ｖ２で記録する際にこのような現象が生じた場合でも、安定かつジッタを良好に記録するためには、ジッタがしきい値となるＰｐｔｈ１に対して、低線速度ｖ１に比べ相対的に高い記録パワーに設定するのが望ましい。高線速度記録の場合は、高い記録パワーで記録してもマークが壁に貼り付くことによるジッタの悪化は生じない。したがって、実効的なパワーが低くなってもジッタを良好に記録できるように、余裕を持った高い記録パワーで記録するのが良いことになる。
以上述べたように、本実施形態のポイントは、ジッタがしきい値となるパワーに対する記録パワーの比を低線速度では相対的に小さく、高線速度では相対的に大きくする。すなわち（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）としていることである。
これにより、低線速度記録ではマークの壁への貼り付きを抑制して歪みのないマークを形成する。それとともに、高線速度では面ぶれや偏芯に起因してデフォーカス・オフトラックが生じてもジッタを悪化させることなく安定に記録することができるので、広い線速度範囲にわたって信号品質良く情報を記録できるという特別の効果を奏する。
なお本実施形態では、ジッタ検出回路１０で再生信号のジッタを検出するものとしたが、ジッタ検出回路１０の代わりにエラーレート検出回路を設け、エラーレートがしきい値となる記録パワーから情報を記録するときの記録パワーを求めるものであっても良い。一般的な記録装置では、エラーレートを検出する機能は再生信号から情報を復調する回路に備わっているので、特別な付加回路を必要としないメリットがある。
また、ジッタ検出回路１０の代わりの代わりに変調度検出回路を設け、変調度がしきい値となる記録パワーから情報を記録するときの記録パワーを求めるものであっても良い。このときの変調度のしきい値としては、変調度の絶対値をしきい値として用いる方法の他に、（変調度／記録パワー）の微分係数をしきい値として用いる方法でも良い。すなわち図５（ａ）に示すように、（変調度／記録パワー）の微分係数α＝ｄｍ／ｄＰｐを求める。図５（ｂ）に示すように記録パワーが変化したときのαの変化を求め、αがしきい値αｔｈになる記録パワーをＰｐｔｈ１またはＰｐｔｈ２とする。この方法でも、しきい値を正確に求めることができる。
変調度に基づく値をしきい値とする別の形態として、図５（ｃ）に示すように（変調度×記録パワー）の値をβとし、記録パワーが変化したときのβの変化を求め、βがしきい値βｔｈになる記録パワーを各線速で求めるものであっても、しきい値を正確に求めることができる。
上記の他にも、各線速で所定の大きさのマークが形成され始める記録パワーＰｐｔｈ１またはＰｐｔｈ２が求めることができるものであれば、どんなしきい値を用いるものであっても本発明に適用させることが可能である。
（第２実施形態）
次に、図６の記録装置の構成、および図７のフローチャートを用いて、本発明に係る第２実施形態の記録装置の動作について説明する。
図６は本実施形態の記録装置の概略構成を示すブロック図である。第１実施形態と異なるのは、ジッタ検出回路１０の代わりにアシメトリ検出回路６０１を設けていることである。
図７は本実施形態でテスト記録するときの動作を示すフローチャートである。
テスト記録のスタート後、記録信号再生工程Ｓ７０５までは第１実施形態と同様である。異なるのはアシメトリ検出工程Ｓ７０６により、アシメトリ検出回路６０１が再生信号のアシメトリを検出することである。アシメトリは再生信号の非対称性を示す値である。アシメトリを求める方法を図８を用いて説明する。図８（ａ）（ｂ）はそれぞれアシメトリが大きい場合と小さい場合の再生波形とトラック上の記録状態を示す図である。再生信号振幅の上のレベルをＩＨ、下のレベルをＩＬ、中央のレベルをＩｃ、平均レベルをＩａとすると、アシメトリａは以下の式により求められる。
ａ＝（Ｉｃ−Ｉａ）／（ＩＨ−ＩＬ）
すなわち、マークが長く（大きく）なるとアシメトリは大きくなることになる。
低線速度ｖ１のアシメトリの所定値ａ１とし、高線速度ｖ２のアシメトリを所定値ａ２とする。このとき、ａ１よりもａ２を大きい値とすることが必要である。そしてテスト記録工程Ｓ７０４〜記録パワー変化工程Ｓ７０８を繰り返して、低線速度ｖ１でアシメトリがａ１となる記録パワーを求める。
記録パワー決定工程Ｓ７０９により、実際に情報を記録するときの記録パワーＰｐ１はアシメトリａ１となる記録パワーとする。これで、低線速度で記録パワーを求めるテスト記録は終了する。
高線速度ｖ２の場合も同様にして、アシメトリがａ２となる記録パワーＰｐ２を求め、このパワーを実際に情報を記録するときの記録パワーとする。
このようにして、再生信号のアシメトリを低線速度では相対的に小さく、高線速度では相対的に大きくする。これにより、第１実施形態と同様に、低線速度記録ではマークの壁への貼り付きを抑制して歪みのないマークを形成し、高線速度では面ぶれや偏芯に起因してデフォーカス・オフトラックが生じてもジッタを悪化させることなく安定に記録することができる。それゆえ、広い線速度範囲にわたって信号品質良く情報を記録できるという特別の効果を奏する。
（その他の実施形態）
上記各実施形態では、消去パワーを固定して記録パワーを変化させるものとしたが、消去パワーと記録パワーの比を一定にして変化させてしきい値を得るものであっても、上述と同様の効果を得ることができる。
また、上記各実施形態では、ｖ１とｖ２における記録パワーはテスト記録から決定するものとしたが、ｖ１とｖ２における各々の記録パワーＰｐ１、Ｐｐ２、もしくは各々の係数Ｃ１、Ｃ２、または各々のアシメトリａ１、ａ２を媒体のコントロールトラック（すなわち、媒体に関する情報を記録する領域）に記録しておけば、媒体を光学的情報記録装置に装着後、すぐに線速度に記録パワーを決定することができる利点が生ずる。このパワーレベルの情報は、光学的情報記録装置が媒体に記録するものであってもよいし、媒体の製造時にあらかじめ記録するものであってもよい。
上記各実施形態における媒体は、記録膜が相変化材料からなり、ＧｅとＴｅを含み、さらにＳｎとＢｉのうちいずれかを含むことがより好ましい。この場合、高線速度の記録でオーバーライト時の消し残りを少なくできるので、さらに信号品質良くデータを記録することが可能となる利点を生ずる。
さらに、上記各実施形態における媒体は、媒体のトラックが複数のセクタに分割され、前記セクタと前記セクタとの間にエンボストラックを有し、前記エンボストラックの中心と各前記セクタの記録トラックの中心とをずらすように形成されたものであることがより好ましい。この場合、高線速度の記録時にエンボストラックと記録トラックとの境界でアクチュエータが振られてオフトラックが生じても、安定に記録することが可能となる利点を生ずる。
上記各実施形態は、ＣＡＶ記録方式の媒体に記録するものであっても良い。
さらに、上記各実施形態では、低線速度ｖ１と高線速度ｖ２の２種類で記録するものとしたが、ＣＡＶ記録方式では、媒体中の記録再生位置によって線速度と転送レートが連続的に変化する。このような場合には、低線速度ｖ１での記録パワーと高線速度ｖ２での記録パワーをなめらかまたは段階的につなぐことにより、容易に中間の線速度での記録パワーを決定する方法であることが好ましい。すなわち、例えば、中間の線速度の増大に応じてその記録パワーも増大するように中間の線速度での記録パワーを決定すればよい。
上記各実施形態では、記録パルス間におけるパワーレベルが前記消去パワーと異なるよう制御することが好ましい。この場合、線速度に応じて記録時の冷却速度を最適に制御できるため、信号品質良くデータを記録することができる。
さらに、上記各実施形態では、レーザ発光波形のパワーレベルを記録パワーＰｐと消去パワーＰｂの２レベルで変化させるものとしたが、３レベル以上で変化させても良い。例えば、各記録パルス間のパワーレベル（ボトムレベルともいう）をＰｂより高いレベルとしても良いし、Ｐｂよりも低くしても良い。ここで、記録パワーをＰｐ、消去パワーをＰｂ、記録パルス間のパワーレベルをＰｂｔｍとし、記録パルス間パワー係数αをα＝（Ｐｂｔｍ−ｐｂ）／（Ｐｐ−Ｐｂ）としたとき、記録パルス間パワー係数を線速度の増大に応じて高くするように設定した方が、高線速度での記録時に冷却速度が過剰にならず、オーバーライト時の消し残りが少なくなる点でより好ましい。
また、上記の各実施形態において、記録パルスまたは記録パルス列の後に冷却パルスを付加した記録パルス列としても、上記と同様の効果が得られる。
なお、上記の変調方式、各パルスの長さ・位置等は上述の各実施形態で示したものに限るわけではなく、記録条件や媒体に応じて適切なものを設定することが可能である。また、マーク同士の熱干渉の影響を避けるため、記録パルスのエッジ位置を補正するものであってもよい。
また、上記の光ディスクは相変化材料、光磁気材料や色素材料等、マークとスペースで光学的特性の異なる媒体であればいずれも上記の方法を適用することができる。
さらに、本発明の光学的情報記録方法、光学的情報記録装置および光学的情報記録媒体を用いたパーソナルコンピュータ、サーバ、レコーダでも上述と同様の効果を得ることができる。
本発明の第１実施形態について、より具体的な実施例を説明する。
光ディスク１の基板には、直径１２０ｍｍ、厚さ０．６ｍｍのポリカーボネート樹脂を用いた。この基板には、凸凹形状のピットをあらかじめコントロールトラック領域としてプリフォーマットした。
コントロールトラック領域には、ディスクが対応している記録線速度を表す情報を識別子として記録した。本実施例では、このディスクは線速度２４．６ｍ／ｓから線速度６５．６ｍ／ｓの範囲の記録に対応するものとした。
樹脂基板のデータ領域内には記録用ガイド溝を形成した。ガイド溝のピッチは０．６μｍである。なお、データ領域内にセクタを設ける構造として、セクタとセクタの間にアドレス情報を表すピットを形成する形態としてもかまわない。
基板上に保護膜、記録膜、保護膜、反射膜をスパッタリング法により４層成膜し、その上に保護基板を接着した。保護膜としてＺｎＳ−ＳｉＯ２、記録膜としてＧｅＳｂＢｉＴｅ、反射膜としてＡｌを用いた。
データ領域の半径位置は２１．９ｍｍから５８．４ｍｍの範囲とし、テスト記録領域はデータ領域の内周側と外周側の２カ所に設けた。すなわち、テスト記録領域の半径位置は２１．８ｍｍから２１．９ｍｍの範囲、および５８．４ｍｍから５８．５ｍｍの範囲とした。
このディスクを一定回転数１０７２７ｒｐｍ（すなわち等回転速度）で回転させると、データ領域の最内周（すなわち半径２１．９ｍｍ）では線速度２４．６ｍ／ｓで、最外周（すなわち半径５８．４ｍｍ）では線速度６５．６ｍ／ｓで記録再生することになる。
内周から外周にわたっての線速度の変化に対応してチャネルクロック周期を変化させることにより、線密度を一定にして記録するのがＣＡＶ記録方式である。本実施例では情報の変調方式は（８−１６）パルス幅変調とし、最短マーク長が０．４０μｍとなるようにチャネルクロック周期を設定した。
まず、ディスクを２４．６ｍ／ｓでの線速度で回転させ、フォーカスおよびトラッキングサーボを動作させてフォーカスエラー信号を観察したが、特に目立った変動は見られなかった。フォーカスエラー信号の最大の残差を測定し、アクチュエータの光軸方向の移動量に換算すると、０．１μｍ（ゼロ−ピーク振幅）であった。
次にこのディスクを６５．６ｍ／ｓで回転させると、局所的にフォーカスエラー信号がスパイク状に乱れる箇所が発生した。この乱れた部分の最大の残差を測定すると、１．２μｍであった。この局所的な乱れの長さはトラック方向１回転のうちの約１０分の１の長さであり、それ以外の箇所では目立った変動は見られず、残差は最大で０．２μｍであった。
このディスクに対して、フォーカスエラー信号残差が乱れていない箇所を選び、最低線速度の２４．６ｍ／ｓ、最高線速度の６５．６ｍ／ｓの２点で、消去パワーを固定して記録パワーを変化させ、記録パワーとジッタとの関係を測定した。ここで、消去パワーは２４．６ｍ／ｓのとき８ｍＷ、６５．６ｍ／ｓのとき１１ｍＷとした。
その測定結果を図９に示す。図９（ａ）は線速度２４．６ｍ／ｓの測定結果、図９（ｂ）は線速度６５．６ｍ／ｓの測定結果である。ジッタのしきい値を１３％とすると、しきい値となる記録パワーは、２４．６ｍ／ｓで１４ｍＷ、６５．６ｍ／ｓで２１ｍＷであった。これらのパワーをもとに、係数Ｃ１またはＣ２を１．２としたときの記録パワーとジッタ、係数を１．３としたときの記録パワーとジッタを求めると、表１および表２に示すようになった。
これらの表からわかるように、線速度２４．６ｍ／ｓではＣ１＝１．２の場合に対してＣ１＝１．３では急激にジッタが悪化している。一方、線速度６５．６ｍ／ｓではＣ２を１．２から１．３に高くしてもジッタの悪化は小さかった。
次に、フォーカスエラー信号が乱れている箇所のみを選んで、Ｃ２＝１．２と１．３の場合の記録パワーで記録したときのジッタを測定した。その結果を表３に示す。また、記録パワーとジッタとの関係の測定結果を図９（ｃ）に示す。
Ｃ２＝１．３の場合は表２とジッタが変化していないのに対し、Ｃ２＝１．２ではジッタが悪化している。このＣ２＝１．２で記録したトラックの再生信号を観察したところ、フォーカスエラー信号が局所的に乱れているのと同じ箇所で信号振幅が小さくなっていた。このことから、デフォーカスが局所的に発生している箇所で実効的な照射エネルギーの低下が生じたために、パワーが低下したときに余裕のないＣ２＝１．２の条件でジッタが悪化したものと考えられる。
以上のことから、このディスクでは、線速度２４．６ｍ／ｓではＣ１＝１．２に、線速度６５．６ｍ／ｓではＣ２＝１．３とする（すなわち、Ｃ１＜Ｃ２とする）ことで、最低線速度でも最高線速度でも安定に良好なジッタで記録できることがわかった。
さらに、このディスクの再生信号を復調して、データのビットエラーレートを測定した。ジッタとビットエラーレートの相関を求めると、ジッタが９．５％以下の時にはビットエラーが発生しなかった。
このことから、ジッタが９．５％以下になるＣ１、Ｃ２の範囲ではより高品質に再生でき、より好ましいことがわかった。これらの範囲は、図９（ａ）の結果から、線速度２４．６ｍ／ｓでは１．１４≦Ｃ１≦１．２４、線速度６５．６ｍ／ｓでは１．２５≦Ｃ２≦１．３３であった。
光ディスク１の基板には、直径１２０ｍｍ、厚さ０．６ｍｍのポリカーボネート樹脂を用いた。この基板には、凸凹形状のピットをあらかじめコントロールトラック領域としてプリフォーマットした。
コントロールトラック領域には、ディスクが対応している記録線速度を表す情報を識別子として記録した。本実施例では、このディスクは線速度２４．６ｍ／ｓから線速度６５．６ｍ／ｓの範囲の記録に対応するものとした。
樹脂基板のデータ領域内には記録用ガイド溝を形成した。ガイド溝のピッチは０．６μｍである。なお、データ領域内にセクタを設ける構造として、セクタとセクタの間にアドレス情報を表すピットを形成する形態としてもかまわない。
基板上に保護膜、記録膜、保護膜、反射膜をスパッタリング法により４層成膜し、その上に保護基板を接着した。保護膜としてＺｎＳ−ＳｉＯ２、記録膜としてＧｅＳｂＢｉＴｅ、反射膜としてＡｌを用いた。
データ領域の半径位置は２１．９ｍｍから５８．４ｍｍの範囲とし、テスト記録領域はデータ領域の内周側と外周側の２カ所に設けた。すなわち、テスト記録領域の半径位置は２１．８ｍｍから２１．９ｍｍの範囲、および５８．４ｍｍから５８．５ｍｍの範囲とした。
このディスクを一定回転数１０７２７ｒｐｍ（すなわち等回転速度）で回転させると、データ領域の最内周（すなわち半径２１．９ｍｍ）では線速度２４．６ｍ／ｓで、最外周（すなわち半径５８．４ｍｍ）では線速度６５．６ｍ／ｓで記録再生することになる。
内周から外周にわたっての線速度の変化に対応してチャネルクロック周期を変化させることにより、線密度を一定にして記録するのがＣＡＶ記録方式である。本実施例では情報の変調方式は（８−１６）パルス幅変調とし、最短マーク長が０．４０μｍとなるようにチャネルクロック周期を設定した。
まず、ディスクを２４．６ｍ／ｓでの線速度で回転させ、フォーカスおよびトラッキングサーボを動作させてフォーカスエラー信号を観察したが、特に目立った変動は見られなかった。フォーカスエラー信号の最大の残差を測定し、アクチュエータの光軸方向の移動量に換算すると、０．１μｍ（ゼロ−ピーク振幅）であった。
次にこのディスクを６５．６ｍ／ｓで回転させると、局所的にフォーカスエラー信号がスパイク状に乱れる箇所が発生した。この乱れた部分の最大の残差を測定すると、１．２μｍであった。この局所的な乱れの長さはトラック方向１回転のうちの約１０分の１の長さであり、それ以外の箇所では目立った変動は見られず、残差は最大で０．２μｍであった。
このディスクに対して、フォーカスエラー信号残差が乱れていない箇所を選び、最低線速度の２４．６ｍ／ｓ、最高線速度の６５．６ｍ／ｓの２点で、消去パワーを固定して記録パワーを変化させ、記録パワーとジッタとの関係を測定した。ここで、消去パワーは２４．６ｍ／ｓのとき８ｍＷ、６５．６ｍ／ｓのとき１１ｍＷとした。
その測定結果を図９に示す。図９（ａ）は線速度２４．６ｍ／ｓの測定結果、図９（ｂ）は線速度６５．６ｍ／ｓの測定結果である。ジッタのしきい値を１３％とすると、しきい値となる記録パワーは、２４．６ｍ／ｓで１４ｍＷ、６５．６ｍ／ｓで２１ｍＷであった。これらのパワーをもとに、係数Ｃ１またはＣ２を１．２としたときの記録パワーとジッタ、係数を１．３としたときの記録パワーとジッタを求めると、表１および表２に示すようになった。
次に、フォーカスエラー信号が乱れている箇所のみを選んで、Ｃ２＝１．２と１．３の場合の記録パワーで記録したときのジッタを測定した。その結果を表３に示す。また、記録パワーとジッタとの関係の測定結果を図９（ｃ）に示す。
以上のことから、このディスクでは、線速度２４．６ｍ／ｓではＣ１＝１．２に、線速度６５．６ｍ／ｓではＣ２＝１．３とする（すなわち、Ｃ１＜Ｃ２とする）ことで、最低線速度でも最高線速度でも安定に良好なジッタで記録できることがわかった。
さらに、このディスクの再生信号を復調して、データのビットエラーレートを測定した。ジッタとビットエラーレートの相関を求めると、ジッタが９．５％以下の時にはビットエラーが発生しなかった。
このことから、ジッタが９．５％以下になるＣ１、Ｃ２の範囲ではより高品質に再生でき、より好ましいことがわかった。これらの範囲は、図９（ａ）の結果から、線速度２４．６ｍ／ｓでは１．１４≦Ｃ１≦１．２４、線速度６５．６ｍ／ｓでは１．２５≦Ｃ２≦１．３３であった。
本発明の光学的情報記録方法、光学的情報記録装置および光学的情報記録媒体は、パーソナルコンピュータ、サーバ、レコーダにも適用可能であり、上述の効果と同様の効果を得ることができる。
本発明は、光学的にデータを記録再生する光学的情報記録媒体に対する記録方法とその記録装置、および記録媒体に関するもので、特に、複数の異なる線速度で記録する光学的情報記録媒体に対する記録方法に関連する。
近年、光学的にデータを記録する媒体として、光ディスク、光カード、光テープなどが提案・開発されている。その中でも光ディスクは、大容量かつ高密度にデータを記録・再生できる媒体として注目されている。
例えば相変化型光ディスクの場合、以下に述べる方法でデータの記録再生が行われている。光ヘッドにより集束させた、再生パワーより強いレーザ光（このパワーレベルを記録パワーといい、Ｐｐで表す）を光ディスクの記録膜に照射して記録膜の温度を融点を越えて上昇させると、レーザ光の通過とともに溶融部分は急速に冷却されて非晶質（アモルファス）状態のマークが形成される。また、記録膜の温度を結晶化温度以上融点以下の温度まで上昇させる程度のレーザ光（このパワーレベルを消去パワーといい、Ｐｂで表す）を集束して照射すると、照射部の記録膜は結晶状態になる。このようにして、光ディスクにはデータ信号に対応した非晶質領域であるマークと結晶領域であるスペースとからなる記録パターンが形成される。そして結晶と非晶質との反射率の相違を利用して、データの再生が行われる。
上で述べたように、媒体にマークを形成するためには、レーザ光のパワーレベルを少なくとも消去パワーと記録パワーとの間で変調して発光させることが必要である。この変調動作に用いるパルス波形を記録パルスと呼ぶ。１つのマークを複数の記録パルスで形成する記録方法もすでに多数開示されている。この複数の記録パルスを記録パルス列と呼ぶ。記録パルス列の例を図１０（ａ）に示す。記録パルス列の先頭部にあるパルスを前端パルス５０１、最後部にあるパルスを後端パルス５０３、前端パルスと後端パルスとの間にあるパルスをマルチパルス５０２と呼ぶ。記録パルス列を構成する記録パルスの数は記録符号長（すなわち、チャネルクロック周期Ｔｗに対する記録符号の長さ）によって変化し、最短符号長では記録パルスの数が１個になる場合もある。この記録パルス列に基づいて、レーザ光の強度を図１０（ｂ）のように変調する。その結果、図１０（ｃ）に示すようにトラック３０１上にマーク３０２が形成される。なお、記録パルス列を用いる代わりに、図１１に示すような先頭部と最後部のパワーレベルを変化させたレーザ発光波形によりマークを形成する方法も開示されている。
現在、ＤＶＤなどの光学的情報記録媒体では、主としてＣＬＶ（等線速度）記録が用いられている。これは、媒体全面にわたって線速度・転送レート・線密度をほぼ同じにして記録する方式である。したがって、記録再生時にレーザ光の照射条件や加熱・冷却条件が変化しない利点がある。その一方で、媒体の回転速度は、媒体中の記録再生位置（すなわち半径位置）によって変化するため、スピンドルモータの回転変速制御が不可欠となる。
これに対して、媒体の回転速度と線密度を媒体全面にわたってほぼ一定とする、ＣＡＶ（等角速度）記録方式が提案されている。ＣＬＶ記録方式に比べると、ＣＡＶ記録方式では媒体を回転させるスピンドルモータの回転変速制御が不要なため、スピンドルモータおよびその制御回路を低コストで作製できる利点がある。また、記録再生位置のシーク動作後、所定の回転速度になるまで記録再生動作を待つ必要がないので、媒体に対するアクセス速度を短くすることが可能である。その一方で、ＣＡＶ記録方式では、媒体中に記録再生を行う位置によって媒体の線速度と転送レートが変化する。したがって、記録再生を行う位置によって、媒体におけるレーザ光の照射条件や加熱・冷却条件は変化することになる。
これらいずれの方式においても、記録された信号品質を良くすることは、大容量かつ高密度にデータを記録・再生するために重要である。そのため、ある特定の線速度（ＣＡＶ記録方式の場合は記録再生位置）に対して、記録パワーを調整することで信号品質を良くする方法がこれまでにも開示されている。その１つとして、記録パワーや消去パワーを変化させてテスト信号を記録し、記録されたテスト信号をもとに再生信号のアシメトリ値や変調度が最適条件となるように、各パワーを決定する方法が開示されている（例えば、特許文献１参照）。
特開平１０−６４０６４号公報
しかしながら、上記従来の記録方法では、ＣＡＶ記録方式において変化させる線速度の範囲が広い場合、線速度によって最適条件が異なるために、データ信号を品質良くかつ安定に記録できないという課題を有していた。以下、その課題について説明する。
高線速度で記録する場合には、スピンドルモータは高速で回転する。そのため、ディスクにわずかな面ぶれや偏芯があると、それらがサーボ動作に与える影響が大きくなる。すなわち、ディスクに面ぶれが存在すると、光ヘッドのアクチュエータは光軸方向に強く振られる。また、ディスクに偏芯が存在すると、アクチュエータはディスクの面と平行な方向に強く振られることになる。この振られがアクチュエータの応答特性以上に強くなると、アクチュエータがディスクの面ぶれや偏芯に追従しきれなくなり、デフォーカスやオフトラックが生じて信号が安定に記録できなくなる。
一方、低線速度で記録するときには、レーザスポットと媒体との相対速度が遅く、レーザ照射による溶融後の冷却速度も遅くなるので、溶融部周辺から再結晶化が進行して残った部分がマークになる。そのため、図１２に示すように、マーク３０２の大きさよりも溶融領域３０３は大きくなり、溶融領域の端はトラック３０１（すなわちガイド溝またはランド）の壁３０４にまで達する。その結果、壁３０４の微細な形状（がたつき）に影響を受けて、壁３０４に達した溶融領域の一部で再結晶化が起こらず、マークの一部分が壁３０４に貼り付く現象が生じた。そのためにマーク形状が歪んで再生信号の品質が低下する課題があった。
本発明は上記従来の課題を解決するもので、同一の媒体に対し広い線速度範囲に渡って安定かつ良好な信号品質でデータを記録再生できる光学的情報記録方法、光学的情報記録装置および光学的情報記録媒体を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録方法であって、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ２、前記第１の線速度ｖ１で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ１、前記第２の線速度ｖ２で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ２として、前記記録パワーが（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）を満たすように制御することを特徴とする。
この方法によれば、低線速度では歪みのないマークを形成することができるとともに、高線速度ではパワーマージンを確保して記録することができるので、広い線速度範囲にわたって信号品質良くデータを記録することが可能となる。
上記発明において、再生信号の品質は、再生信号のジッタであっても良い。
上記発明において、再生信号の品質は、再生信号のエラーレートであっても良い。
上記発明において、再生信号の品質は、再生信号の変調度に基づく値であっても良い。
上記発明において、再生信号の品質は、再生信号のエラーレートであっても良い。
上記発明において、再生信号の品質は、再生信号の変調度に基づく値であっても良い。
これらいずれの場合においても、信号品質良くデータを記録することが可能になる。
本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録方法であって、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ２、前記第１の線速度ｖ１で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ１、前記第２の線速度ｖ２で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ２として、前記記録パワーが（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）を満たすように制御することを特徴とする。
本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録方法であって、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ２、前記第１の線速度ｖ１で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ１、前記第２の線速度ｖ２で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ２として、前記記録パワーが（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）を満たすように制御することを特徴とする。
この方法によっても、低線速度では歪みのないマークを形成することができるとともに、高線速度ではパワーマージンを確保して記録することができるので、広い線速度範囲にわたって信号品質良くデータを記録することが可能となる。
本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録方法であって、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させてテスト信号を記録したときの再生信号のアシメトリをａ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの前記再生信号のアシメトリをａ２として、前記記録パワーがａ１＜ａ２を満たすように制御することを特徴とする。
また、本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録方法であって、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの再生信号のアシメトリをａ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの再生信号のアシメトリをａ２として、前記記録パワーがａ１＜ａ２を満たすように制御することを特徴とする。
これらの方法によっても、低線速度では歪みのないマークを形成することができるとともに、高線速度ではパワーマージンを確保して記録することができるので、広い線速度範囲にわたって信号品質良くデータを記録することが可能となる。
本発明の光学的情報記録方法は、記録方式がＣＡＶ記録方式であることを特徴とする。
この方法により、媒体中の記録再生位置がどの場所であっても、信号品質良くデータを記録することが可能になる。
この方法により、媒体中の記録再生位置がどの場所であっても、信号品質良くデータを記録することが可能になる。
本発明の光学的情報記録方法は、第１の線速度ｖ１と前記第２の線速度ｖ２との間の値である線速度ｖでの記録パワーをＰｐとしたとき、線速度ｖの増大に応じてＰｐを増大させるように前記記録パワーを制御することを特徴とする。
この方法により、中間の線速度での記録パワーを容易に決定することができる。
本発明の光学的情報記録方法は、記録パルス間におけるパワーレベルが前記消去パワーと異なるよう制御することを特徴とする。
本発明の光学的情報記録方法は、記録パルス間におけるパワーレベルが前記消去パワーと異なるよう制御することを特徴とする。
また、本発明の光学的情報記録方法は、記録パワーをＰｐ、消去パワーをＰｂ、記録パルス間のパワーレベルをＰｂｔｍとし、記録パルス間パワー係数αをα＝（Ｐｂｔｍ−Ｐｂ）／（Ｐｐ−Ｐｂ）としたとき、線速度ｖ２における記録パルス間パワー係数が、線速度ｖ１における記録パルス間パワー係数より高くなるよう制御することを特徴とする。
これらの方法により、線速度に応じて記録時の冷却速度を最適に制御できるため、信号品質良くデータを記録することが可能になる。
上記目的を達成するために、本発明の光学的情報記録媒体は、Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１およびＰｐ２／Ｐｐｔｈ２の値を表す情報が記録されていることを特徴とする。
上記目的を達成するために、本発明の光学的情報記録媒体は、Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１およびＰｐ２／Ｐｐｔｈ２の値を表す情報が記録されていることを特徴とする。
また、本発明の光学的情報記録媒体は、Ｐｐ１およびＰｐ２の値を表す情報が記録されていることを特徴とする。
また、本発明の光学的情報記録媒体は、ａ１およびａ２の値を表す情報が記録されていることを特徴とする。
また、本発明の光学的情報記録媒体は、ａ１およびａ２の値を表す情報が記録されていることを特徴とする。
これらの媒体により、媒体を光学的情報記録装置に装着後、すぐに線速度に応じた記録パワーを決定することができる。
上記光学的情報記録媒体は、記録膜が相変化材料からなり、相変化材料は、ＧｅとＴｅを含み、さらにＳｎとＢｉのうちいずれかを含むことを特徴とする。
上記光学的情報記録媒体は、記録膜が相変化材料からなり、相変化材料は、ＧｅとＴｅを含み、さらにＳｎとＢｉのうちいずれかを含むことを特徴とする。
この媒体により、高線速度の記録でオーバーライト時の消し残りを少なくできるので、さらに信号品質良くデータを記録することが可能になる。
本発明の光学的情報記録媒体は、複数のセクタに分割されたトラックを有し、セクタと前記セクタとの間にエンボストラックを有し、トラックが、エンボストラックの中心と前記セクタの記録トラックの中心とをずらすようにして形成されたことを特徴とする。
本発明の光学的情報記録媒体は、複数のセクタに分割されたトラックを有し、セクタと前記セクタとの間にエンボストラックを有し、トラックが、エンボストラックの中心と前記セクタの記録トラックの中心とをずらすようにして形成されたことを特徴とする。
この媒体により、高線速度の記録時にエンボストラックと記録トラックとの境界でアクチュエータが振られてオフトラックが生じても、安定に記録することが可能になる。
上記目的を達成するために、本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録装置であって、異なる２種類の線速度を設定する線速度設定回路と、線速度設定回路の設定結果に応じて前記記録パルスまたは前記記録パルス列を発生する記録パルス発生回路と、記録パルス列に基づき前記複数のパワーレベルで前記レーザ光を照射するレーザ駆動回路と、再生信号の品質を検出する品質検出回路とを備え、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ２、前記第１の線速度ｖ１で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ１、前記第２の線速度ｖ２で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ２とすると、前記レーザ駆動回路は、（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）を満たすように前記記録パワーを制御することを特徴とする。
上記目的を達成するために、本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録装置であって、異なる２種類の線速度を設定する線速度設定回路と、線速度設定回路の設定結果に応じて前記記録パルスまたは前記記録パルス列を発生する記録パルス発生回路と、記録パルス列に基づき前記複数のパワーレベルで前記レーザ光を照射するレーザ駆動回路と、再生信号の品質を検出する品質検出回路とを備え、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ２、前記第１の線速度ｖ１で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ１、前記第２の線速度ｖ２で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ２とすると、前記レーザ駆動回路は、（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）を満たすように前記記録パワーを制御することを特徴とする。
本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録装置であって、異なる２種類の線速度を設定する線速度設定回路と、前記線速度設定回路の設定結果に応じて前記記録パルスまたは前記記録パルス列を発生する記録パルス発生回路と、前記記録パルス列に基づき前記複数のパワーレベルで前記レーザ光を照射するレーザ駆動回路と、再生信号の品質を検出する品質検出回路とを備え、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、前記再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ２、前記第１の線速度ｖ１で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ１、前記第２の線速度ｖ２で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ２とすると、前記レーザ駆動回路は、（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）を満たすように前記記録パワーを制御することを特徴とする。
本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録装置であって、異なる２種類の線速度を設定する線速度設定回路と、前記線速度設定回路の設定結果に応じて前記記録パルスまたは前記記録パルス列を発生する記録パルス発生回路と、前記記録パルス列に基づき前記複数のパワーレベルで前記レーザ光を照射するレーザ駆動回路と再生信号のアシメトリを検出するアシメトリ検出回路を備え、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号のアシメトリをａ１、ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号のアシメトリをａ２とすると、前記レーザ駆動回路は、ａ１＜ａ２を満たすように前記記録パワーを制御することを特徴とする。
本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録装置であって、異なる２種類の線速度を設定する線速度設定回路と、前記線速度設定回路の設定結果に応じて前記記録パルスまたは前記記録パルス列を発生する記録パルス発生回路と、前記記録パルス列に基づき前記複数のパワーレベルで前記レーザ光を照射するレーザ駆動回路と再生信号のアシメトリを検出するアシメトリ検出回路を備え、第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号のアシメトリをａ１、ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号のアシメトリをａ２とすると、前記レーザ駆動回路は、ａ１＜ａ２を満たすように前記記録パワーを制御することを特徴とする。
これらの装置によれば、低線速度では歪みのないマークを形成することができるとともに、高線速度ではパワーマージンを確保して記録することができるので、広い線速度範囲にわたって信号品質良くデータを記録することが可能となる。
本発明の光学的情報記録方法によれば、広い線速度範囲にわたって信号品質良く情報を記録することができる。
以下、本発明をさらに具体的に説明する。
（第１実施形態）
まず、本発明に係る第１実施形態における光学的情報記録方法において、テスト記録を行って記録パワーを求める場合の動作を図１〜図４を用いて説明する。この時、消去パワーは固定されている。また、本実施形態では、再生信号の品質としてジッタを用いて説明する。
（第１実施形態）
まず、本発明に係る第１実施形態における光学的情報記録方法において、テスト記録を行って記録パワーを求める場合の動作を図１〜図４を用いて説明する。この時、消去パワーは固定されている。また、本実施形態では、再生信号の品質としてジッタを用いて説明する。
図１は、本実施形態の記録装置の概略構成を示すブロック図である。
１はデータを記録再生する光ディスクで、２は記録装置全体を制御するシステム制御回路である。３は記録する情報に応じて２値化された記録データ信号を発生させる変調回路で、４は記録データ信号に応じてレーザを駆動するパルスを発生させる記録パルス発生回路である。
１はデータを記録再生する光ディスクで、２は記録装置全体を制御するシステム制御回路である。３は記録する情報に応じて２値化された記録データ信号を発生させる変調回路で、４は記録データ信号に応じてレーザを駆動するパルスを発生させる記録パルス発生回路である。
５は記録パルス生成回路が出力するパルスに応じて、光ヘッド６内のレーザを駆動させる電流を変調するレーザ駆動回路である。光ヘッド６は、レーザ光を集束して光ディスク１に照射する。７は光ディスク１の線速度（すなわち、回転数）を制御する線速度設定回路、８は光ディスク１を回転させるスピンドルモータである。９は光ディスク１からの反射光に基づく再生信号の波形処理を行なう再生信号処理回路であり、１０は再生信号の品質を検出する回路、すなわちここでは、ジッタ値を得るためのジッタ検出回路である。
次に、図２のフローチャート、および図３、図４の動作図を用いて、本実施形態の記録装置の動作について説明する。
図２は本実施形態でテスト記録するときの動作を示すフローチャートである。図３は本実施形態で線速度を低くして記録する場合の、記録パワーとジッタおよびトラックの状態の関係を示す図である。図４は線速度を高くして記録する場合の、記録パワーとジッタおよびトラックの状態の関係を示す図である。
図２は本実施形態でテスト記録するときの動作を示すフローチャートである。図３は本実施形態で線速度を低くして記録する場合の、記録パワーとジッタおよびトラックの状態の関係を示す図である。図４は線速度を高くして記録する場合の、記録パワーとジッタおよびトラックの状態の関係を示す図である。
図３および図４の各図において、（ａ）は記録パワーとジッタとの関係を示すグラフ、（ｂ）は記録パワーを変化させたときのトラックへの記録状態である。
記録時には、まず、線速度設定工程ステップ２０１（以下、Ｓ２０１のように略記する）により、システム制御回路２の命令に基づいて線速度設定回路７がスピンドルモータ８の回転数を制御し、光ディスク１を所定の線速度で回転させる。シーク動作工程Ｓ２０２により、光ヘッド７が光ディスク１上の所定のテスト記録領域にシークする。
記録時には、まず、線速度設定工程ステップ２０１（以下、Ｓ２０１のように略記する）により、システム制御回路２の命令に基づいて線速度設定回路７がスピンドルモータ８の回転数を制御し、光ディスク１を所定の線速度で回転させる。シーク動作工程Ｓ２０２により、光ヘッド７が光ディスク１上の所定のテスト記録領域にシークする。
まず、本実施形態で低線速度ｖ１で記録する（すなわち、低い転送レートで記録する）場合のテスト記録動作について説明する。
パワー設定工程Ｓ２０３により、システム制御回路２が、記録パワーと消去パワーを初期値に設定して、レーザ駆動回路６にパワー設定信号１１を送出する。この初期値は、記録装置があらかじめ持っている値であっても良い。また、光ディスク１のコントロールトラック領域上に、初期値のパワーを表す情報が記録されているのであれば、この情報を読み出すことにより設定するものであっても良い。
パワー設定工程Ｓ２０３により、システム制御回路２が、記録パワーと消去パワーを初期値に設定して、レーザ駆動回路６にパワー設定信号１１を送出する。この初期値は、記録装置があらかじめ持っている値であっても良い。また、光ディスク１のコントロールトラック領域上に、初期値のパワーを表す情報が記録されているのであれば、この情報を読み出すことにより設定するものであっても良い。
テスト信号記録工程Ｓ２０４により、システム制御回路２からのテスト信号情報が、図変調回路３により変調される。変調回路３は、所定の変調則で変調して、記録パルス発生回路４に変調信号１２を送出する。記録パルス発生回路４は変調信号１２をもとにして、記録パルスまたは記録パルス列からなる記録パルス信号１３をレーザ駆動回路５に送出する。レーザ駆動回路５はレーザ光１４のパワーレベルを変調させ、レーザ光１４がトラック上にテスト信号に対応するマークを形成する。
記録信号再生工程Ｓ２０５により、テスト信号を記録したトラックを再生する。再生信号には再生信号処理回路９でイコライズや２値化等の信号処理が施される。
ジッタ検出工程Ｓ２０６により、信号処理した再生信号のジッタ値を検出する。
ジッタ検出工程Ｓ２０６により、信号処理した再生信号のジッタ値を検出する。
しきい値判定工程Ｓ２０７により、システム制御回路２にて、検出したジッタ値が所定のしきい値であるか否かを判定する。このときのしきい値としては、十分に大きなマークが形成されてジッタが最良になる値付近の値よりは、マークが形成し始める付近の値の方が好ましい。これは記録パワー変化に対するジッタの変化が大きいため、検出誤差やばらつきの影響を受けることなく、マークが形成され始めるしきい値が明瞭に検出できるからである。
もしジッタ値がしきい値に等しくない場合は、記録パワー変化工程Ｓ２０８により、記録パワーを所定の間隔で変化させて、再度テスト記録工程Ｓ２０４に戻る。ジッタ値がしきい値に十分近い値になるまで、テスト記録工程Ｓ２０４〜記録パワー変化工程Ｓ２０８を繰り返す。
ジッタ値がしきい値に十分近い値に達すれば、記録パワー決定工程Ｓ２０９により、実際に情報を記録する時の記録パワーＰｐ１を求める。このために、まずジッタ値がしきい値に十分近い値になったときの記録パワー（これをＰｐｔｈ１とする）を求める。この値から、Ｐｐ１は次のようにして計算する。
Ｐｐ１＝Ｐｐｔｈ１×Ｃ１
ここでＣ１は、低線速度記録の場合に対応する一定の係数である。
これで記録パワーを求めるテスト記録は終了し、求めた記録パワーＰｐ１を用いて、実際の情報を光ディスク１に記録することになる。
Ｐｐ１＝Ｐｐｔｈ１×Ｃ１
ここでＣ１は、低線速度記録の場合に対応する一定の係数である。
これで記録パワーを求めるテスト記録は終了し、求めた記録パワーＰｐ１を用いて、実際の情報を光ディスク１に記録することになる。
本実施形態で高線速度ｖ２で記録する（すなわち、高い転送レートで記録する）場合の、テスト記録動作については、基本的には上述の低線速度ｖ１の場合と同様である。低線速度の場合と異なるのは、線速度設定工程Ｓ２０１によりスピンドルモータ８を高線速度で回転させること、テスト信号記録工程Ｓ２０４により高い転送レートに対応したテスト信号を記録すること、しきい値判定工程Ｓ２０７によりジッタ値がしきい値に十分近い値になったときの記録パワー（これをＰｐｔｈ２とする）を求め、この値から、記録パワーＰｐ２を次のようにして計算することである。
Ｐｐ２＝Ｐｐｔｈ２×Ｃ２
ここでＣ２は、高線速度記録の場合に対応する一定の係数である。
ここで、高線速度記録時の係数Ｃ２は低線速度記録時の係数Ｃ１より大きくすることが望ましい。このことを図３および図４を用いて説明する。
Ｐｐ２＝Ｐｐｔｈ２×Ｃ２
ここでＣ２は、高線速度記録の場合に対応する一定の係数である。
ここで、高線速度記録時の係数Ｃ２は低線速度記録時の係数Ｃ１より大きくすることが望ましい。このことを図３および図４を用いて説明する。
図３および図４は、それぞれ低線速度ｖ１と高線速度ｖ２で記録する場合に、ジッタ、溶融領域およびマーク形状が記録パワーに依存して変化する状態を説明する図である。図３（ａ）と図４（ａ）はジッタの変化を、図３（ｂ）と図４（ｂ）はトラック３０１上のマーク３０２と溶融領域３０３の形状の変化を示す。
低線速度ｖ１で記録するときには、レーザ光による照射で溶融した後、溶融領域３０３周辺から再結晶化が進行する。記録パワーをしきい値Ｐｐｔｈ１から増大させていくと溶融領域３０３が拡大するが、同時に再結晶化領域（すなわち、溶融領域３０３からマーク３０２の領域を除いた部分）も拡大する。したがって記録パワーの増大に伴うマーク３０２の拡大の度合は、溶融領域の拡大する度合よりも緩やかになる。その結果、ジッタ値も緩やかに良くなる傾向を示す（図３の（Ａ）点から（Ｂ）点へのジッタ変化および記録状態の変化を参照）。
しかし、さらに記録パワーを増大させると、溶融領域３０３がトラックの壁３０４に達する。その結果、壁の微細な形状（がたつき）に影響を受けて、壁に達した溶融領域の一部で再結晶化が起こらず、マーク３０２の一部分が壁３０４に貼り付いて形状の歪みが生じる。これにより、記録パワーを増大させたときのジッタ値は一転して急激に悪化することになる（図３の（Ｂ）点から（Ｃ）点へのジッタ変化および記録状態の変化を参照）。それゆえ、低線速度ｖ１で良好なジッタで記録するためには、ジッタがしきい値となるＰｐｔｈ１に対してあまり高い記録パワーに設定できないことがわかる。
一方、高線速度ｖ２で記録するときにはレーザスポットと媒体との相対速度が速いために、レーザ光による照射で溶融した後、急冷でアモルファスが形成されやすい。すなわち、溶融領域３０３周辺からの再結晶化は進行しにくく、記録パワーをしきい値Ｐｐｔｈ２から増大させても再結晶化領域はあまり拡大しない。したがって、記録パワーを増大させると、溶融領域３０３の拡大にほぼ比例してマーク３０２の大きさも拡大する。その結果、低線速度ｖ１の記録と比較するとジッタ値は急激に良くなる傾向を示す（図４の（Ａ）点から（Ｂ）点へのジッタ変化および記録状態の変化を参照）。
高線速度記録の場合には再結晶化領域が拡大しにくいので、さらに記録パワーを増大させてマーク３０２を大きくしても溶融領域３０３は壁３０４に達しない。そのため、ジッタの悪化は小さい（図４の（Ｂ）点から（Ｃ）点へのジッタ変化および記録状態の変化を参照）。
高線速度で安定に情報を記録するために問題となるのは、記録膜の溶融−マーク形成過程よりも、むしろ光ディスク１の機械的な特性である。前述したように、ディスクにわずかな面ぶれや偏芯があると、ディスクが高速で回転した時に、アクチュエータを動かすサーボがその面ぶれや偏芯に追従しきれなくなり、結果的にデフォーカスやオフトラックといった現象を引き起こす。これらの現象は、本来レーザ光を照射してマークを形成しようとしている部分に与える、実効的なパワーを低下させることになる。
高線速度ｖ２で記録する際にこのような現象が生じた場合でも、安定かつジッタを良好に記録するためには、ジッタがしきい値となるＰｐｔｈ１に対して、低線速度ｖ１に比べ相対的に高い記録パワーに設定するのが望ましい。高線速度記録の場合は、高い記録パワーで記録してもマークが壁に貼り付くことによるジッタの悪化は生じない。したがって、実効的なパワーが低くなってもジッタを良好に記録できるように、余裕を持った高い記録パワーで記録するのが良いことになる。
以上述べたように、本実施形態のポイントは、ジッタがしきい値となるパワーに対する記録パワーの比を低線速度では相対的に小さく、高線速度では相対的に大きくする。すなわち（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）としていることである。
これにより、低線速度記録ではマークの壁への貼り付きを抑制して歪みのないマークを形成する。それとともに、高線速度では面ぶれや偏芯に起因してデフォーカス・オフトラックが生じてもジッタを悪化させることなく安定に記録することができるので、広い線速度範囲にわたって信号品質良く情報を記録できるという特別の効果を奏する。
なお本実施形態では、ジッタ検出回路１０で再生信号のジッタを検出するものとしたが、ジッタ検出回路１０の代わりにエラーレート検出回路を設け、エラーレートがしきい値となる記録パワーから情報を記録するときの記録パワーを求めるものであっても良い。一般的な記録装置では、エラーレートを検出する機能は再生信号から情報を復調する回路に備わっているので、特別な付加回路を必要としないメリットがある。
また、ジッタ検出回路１０の代わりの代わりに変調度検出回路を設け、変調度がしきい値となる記録パワーから情報を記録するときの記録パワーを求めるものであっても良い。このときの変調度のしきい値としては、変調度の絶対値をしきい値として用いる方法の他に、（変調度／記録パワー）の微分係数をしきい値として用いる方法でも良い。すなわち図５（ａ）に示すように、（変調度／記録パワー）の微分係数α＝ｄｍ／ｄＰｐを求める。図５（ｂ）に示すように記録パワーが変化したときのαの変化を求め、αがしきい値αｔｈになる記録パワーをＰｐｔｈ１またはＰｐｔｈ２とする。この方法でもしきい値を正確に求めることができる。
変調度に基づく値をしきい値とする別の形態として、図５（ｃ）に示すように（変調度×記録パワー）の値をβとし、記録パワーが変化したときのβの変化を求め、βがしきい値βｔｈになる記録パワーを各線速で求めるものであっても、しきい値を正確に求めることができる。
上記の他にも、各線速で所定の大きさのマークが形成され始める記録パワーＰｐｔｈ１またはＰｐｔｈ２が求めることができるものであれば、どんなしきい値を用いるものであっても本発明に適用させることが可能である。
（第２実施形態）
次に、図６の記録装置の構成、および図７のフローチャートを用いて、本発明に係る第２実施形態の記録装置の動作について説明する。
次に、図６の記録装置の構成、および図７のフローチャートを用いて、本発明に係る第２実施形態の記録装置の動作について説明する。
図６は本実施形態の記録装置の概略構成を示すブロック図である。第１実施形態と異なるのは、ジッタ検出回路１０の代わりにアシメトリ検出回路６０１を設けていることである。
図７は本実施形態でテスト記録するときの動作を示すフローチャートである。
テスト記録のスタート後、記録信号再生工程Ｓ７０５までは第１実施形態と同様である。異なるのはアシメトリ検出工程Ｓ７０６により、アシメトリ検出回路６０１が再生信号のアシメトリを検出することである。アシメトリは再生信号の非対称性を示す値である。アシメトリを求める方法を図８を用いて説明する。図８（ａ）（ｂ）はそれぞれアシメトリが大きい場合と小さい場合の再生波形とトラック上の記録状態を示す図である。再生信号振幅の上のレベルをＩＨ、下のレベルをＩＬ、中央のレベルをＩｃ、平均レベルをＩａとすると、アシメトリａは以下の式により求められる。
テスト記録のスタート後、記録信号再生工程Ｓ７０５までは第１実施形態と同様である。異なるのはアシメトリ検出工程Ｓ７０６により、アシメトリ検出回路６０１が再生信号のアシメトリを検出することである。アシメトリは再生信号の非対称性を示す値である。アシメトリを求める方法を図８を用いて説明する。図８（ａ）（ｂ）はそれぞれアシメトリが大きい場合と小さい場合の再生波形とトラック上の記録状態を示す図である。再生信号振幅の上のレベルをＩＨ、下のレベルをＩＬ、中央のレベルをＩｃ、平均レベルをＩａとすると、アシメトリａは以下の式により求められる。
ａ＝（Ｉｃ−Ｉａ）／（ＩＨ−ＩＬ）
すなわち、マークが長く（大きく）なるとアシメトリは大きくなることになる。
低線速度ｖ１のアシメトリの所定値ａ１とし、高線速度ｖ２のアシメトリを所定値ａ２とする。このとき、ａ１よりもａ２を大きい値とすることが必要である。そしてテスト記録工程Ｓ７０４〜記録パワー変化工程Ｓ７０８を繰り返して、低線速度ｖ１でアシメトリがａ１となる記録パワーを求める。
すなわち、マークが長く（大きく）なるとアシメトリは大きくなることになる。
低線速度ｖ１のアシメトリの所定値ａ１とし、高線速度ｖ２のアシメトリを所定値ａ２とする。このとき、ａ１よりもａ２を大きい値とすることが必要である。そしてテスト記録工程Ｓ７０４〜記録パワー変化工程Ｓ７０８を繰り返して、低線速度ｖ１でアシメトリがａ１となる記録パワーを求める。
記録パワー決定工程Ｓ７０９により、実際に情報を記録するときの記録パワーＰｐ１はアシメトリａ１となる記録パワーとする。これで、低線速度で記録パワーを求めるテスト記録は終了する。
高線速度ｖ２の場合も同様にして、アシメトリがａ２となる記録パワーＰｐ２を求め、このパワーを実際に情報を記録するときの記録パワーとする。
このようにして、再生信号のアシメトリを低線速度では相対的に小さく、高線速度では相対的に大きくする。これにより、第１実施形態と同様に、低線速度記録ではマークの壁への貼り付きを抑制して歪みのないマークを形成し、高線速度では面ぶれや偏芯に起因してデフォーカス・オフトラックが生じてもジッタを悪化させることなく安定に記録することができる。それゆえ、広い線速度範囲にわたって信号品質良く情報を記録できるという特別の効果を奏する。
このようにして、再生信号のアシメトリを低線速度では相対的に小さく、高線速度では相対的に大きくする。これにより、第１実施形態と同様に、低線速度記録ではマークの壁への貼り付きを抑制して歪みのないマークを形成し、高線速度では面ぶれや偏芯に起因してデフォーカス・オフトラックが生じてもジッタを悪化させることなく安定に記録することができる。それゆえ、広い線速度範囲にわたって信号品質良く情報を記録できるという特別の効果を奏する。
（その他の実施形態）
上記各実施形態では、消去パワーを固定して記録パワーを変化させるものとしたが、消去パワーと記録パワーの比を一定にして変化させてしきい値を得るものであっても、上述と同様の効果を得ることができる。
上記各実施形態では、消去パワーを固定して記録パワーを変化させるものとしたが、消去パワーと記録パワーの比を一定にして変化させてしきい値を得るものであっても、上述と同様の効果を得ることができる。
また、上記各実施形態では、ｖ１とｖ２における記録パワーはテスト記録から決定するものとしたが、ｖ１とｖ２における各々の記録パワーＰｐ１、Ｐｐ２、もしくは各々の係数Ｃ１、Ｃ２、または各々のアシメトリａ１、ａ２を媒体のコントロールトラック（すなわち、媒体に関する情報を記録する領域）に記録しておけば、媒体を光学的情報記録装置に装着後、すぐに線速度に記録パワーを決定することができる利点が生ずる。このパワーレベルの情報は、光学的情報記録装置が媒体に記録するものであってもよいし、媒体の製造時にあらかじめ記録するものであってもよい。
上記各実施形態における媒体は、記録膜が相変化材料からなり、ＧｅとＴｅを含み、さらにＳｎとＢｉのうちいずれかを含むことがより好ましい。この場合、高線速度の記録でオーバーライト時の消し残りを少なくできるので、さらに信号品質良くデータを記録することが可能となる利点を生ずる。
さらに、上記各実施形態における媒体は、媒体のトラックが複数のセクタに分割され、前記セクタと前記セクタとの間にエンボストラックを有し、前記エンボストラックの中心と各前記セクタの記録トラックの中心とをずらすように形成されたものであることがより好ましい。この場合、高線速度の記録時にエンボストラックと記録トラックとの境界でアクチュエータが振られてオフトラックが生じても、安定に記録することが可能となる利点を生ずる。
上記各実施形態は、ＣＡＶ記録方式の媒体に記録するものであっても良い。
さらに、上記各実施形態では、低線速度ｖ１と高線速度ｖ２の２種類で記録するものとしたが、ＣＡＶ記録方式では、媒体中の記録再生位置によって線速度と転送レートが連続的に変化する。このような場合には、低線速度ｖ１での記録パワーと高線速度ｖ２での記録パワーをなめらかまたは段階的につなぐことにより、容易に中間の線速度での記録パワーを決定する方法であることが好ましい。すなわち、例えば、中間の線速度の増大に応じてその記録パワーも増大するように中間の線速度での記録パワーを決定すればよい。
さらに、上記各実施形態では、低線速度ｖ１と高線速度ｖ２の２種類で記録するものとしたが、ＣＡＶ記録方式では、媒体中の記録再生位置によって線速度と転送レートが連続的に変化する。このような場合には、低線速度ｖ１での記録パワーと高線速度ｖ２での記録パワーをなめらかまたは段階的につなぐことにより、容易に中間の線速度での記録パワーを決定する方法であることが好ましい。すなわち、例えば、中間の線速度の増大に応じてその記録パワーも増大するように中間の線速度での記録パワーを決定すればよい。
上記各実施形態では、記録パルス間におけるパワーレベルが前記消去パワーと異なるよう制御することが好ましい。この場合、線速度に応じて記録時の冷却速度を最適に制御できるため、信号品質良くデータを記録することができる。
さらに、上記各実施形態では、レーザ発光波形のパワーレベルを記録パワーＰｐと消去パワーＰｂの２レベルで変化させるものとしたが、３レベル以上で変化させても良い。例えば、各記録パルス間のパワーレベル（ボトムレベルともいう）をＰｂより高いレベルとしても良いし、Ｐｂよりも低くしても良い。ここで、記録パワーをＰｐ、消去パワーをＰｂ、記録パルス間のパワーレベルをＰｂｔｍとし、記録パルス間パワー係数αをα＝（Ｐｂｔｍ−Ｐｂ）／（Ｐｐ−Ｐｂ）としたとき、記録パルス間パワー係数を線速度の増大に応じて高くするように設定した方が、高線速度での記録時に冷却速度が過剰にならず、オーバーライト時の消し残りが少なくなる点でより好ましい。
また、上記の各実施形態において、記録パルスまたは記録パルス列の後に冷却パルスを付加した記録パルス列としても、上記と同様の効果が得られる。
なお、上記の変調方式、各パルスの長さ・位置等は上述の各実施形態で示したものに限るわけではなく、記録条件や媒体に応じて適切なものを設定することが可能である。また、マーク同士の熱干渉の影響を避けるため、記録パルスのエッジ位置を補正するものであってもよい。
なお、上記の変調方式、各パルスの長さ・位置等は上述の各実施形態で示したものに限るわけではなく、記録条件や媒体に応じて適切なものを設定することが可能である。また、マーク同士の熱干渉の影響を避けるため、記録パルスのエッジ位置を補正するものであってもよい。
また、上記の光ディスクは相変化材料、光磁気材料や色素材料等、マークとスペースで光学的特性の異なる媒体であればいずれも上記の方法を適用することができる。
さらに、本発明の光学的情報記録方法、光学的情報記録装置および光学的情報記録媒体を用いたパーソナルコンピュータ、サーバ、レコーダでも上述と同様の効果を得ることができる。
さらに、本発明の光学的情報記録方法、光学的情報記録装置および光学的情報記録媒体を用いたパーソナルコンピュータ、サーバ、レコーダでも上述と同様の効果を得ることができる。
本発明の第１実施形態について、より具体的な実施例を説明する。
光ディスク１の基板には、直径１２０ｍｍ、厚さ０．６ｍｍのポリカーボネート樹脂を用いた。この基板には、凸凹形状のピットをあらかじめコントロールトラック領域としてプリフォーマットした。
光ディスク１の基板には、直径１２０ｍｍ、厚さ０．６ｍｍのポリカーボネート樹脂を用いた。この基板には、凸凹形状のピットをあらかじめコントロールトラック領域としてプリフォーマットした。
コントロールトラック領域には、ディスクが対応している記録線速度を表す情報を識別子として記録した。本実施例では、このディスクは線速度２４．６ｍ／ｓから線速度６５．６ｍ／ｓの範囲の記録に対応するものとした。
樹脂基板のデータ領域内には記録用ガイド溝を形成した。ガイド溝のピッチは０．６μｍである。なお、データ領域内にセクタを設ける構造として、セクタとセクタの間にアドレス情報を表すピットを形成する形態としてもかまわない。
基板上に保護膜、記録膜、保護膜、反射膜をスパッタリング法により４層成膜し、その上に保護基板を接着した。保護膜としてＺｎＳ−ＳｉＯ2、記録膜としてＧｅＳｂＢｉＴｅ、反射膜としてＡｌを用いた。
データ領域の半径位置は２１．９ｍｍから５８．４ｍｍの範囲とし、テスト記録領域はデータ領域の内周側と外周側の２カ所に設けた。すなわち、テスト記録領域の半径位置は２１．８ｍｍから２１．９ｍｍの範囲、および５８．４ｍｍから５８．５ｍｍの範囲とした。
このディスクを一定回転数１０７２７ｒｐｍ（すなわち等回転速度）で回転させると、データ領域の最内周（すなわち半径２１．９ｍｍ）では線速度２４．６ｍ／ｓで、最外周（すなわち半径５８．４ｍｍ）では線速度６５．６ｍ／ｓで記録再生することになる。
内周から外周にわたっての線速度の変化に対応してチャネルクロック周期を変化させることにより、線密度を一定にして記録するのがＣＡＶ記録方式である。本実施例では情報の変調方式は（８−１６）パルス幅変調とし、最短マーク長が０．４０μｍとなるようにチャネルクロック周期を設定した。
まず、ディスクを２４．６ｍ／ｓでの線速度で回転させ、フォーカスおよびトラッキングサーボを動作させてフォーカスエラー信号を観察したが、特に目立った変動は見られなかった。フォーカスエラー信号の最大の残差を測定し、アクチュエータの光軸方向の移動量に換算すると、０．１μｍ（ゼロ−ピーク振幅）であった。
次にこのディスクを６５．６ｍ／ｓで回転させると、局所的にフォーカスエラー信号がスパイク状に乱れる箇所が発生した。この乱れた部分の最大の残差を測定すると、１．２μｍであった。この局所的な乱れの長さはトラック方向１回転のうちの約１０分の１の長さであり、それ以外の箇所では目立った変動は見られず、残差は最大で０．２μｍであった。
このディスクに対して、フォーカスエラー信号残差が乱れていない箇所を選び、最低線速度の２４．６ｍ／ｓ、最高線速度の６５．６ｍ／ｓの２点で、消去パワーを固定して記録パワーを変化させ、記録パワーとジッタとの関係を測定した。ここで、消去パワーは２４．６ｍ／ｓのとき８ｍＷ、６５．６ｍ／ｓのとき１１ｍＷとした。
その測定結果を図９に示す。図９（ａ）は線速度２４．６ｍ／ｓの測定結果、図９（ｂ）は線速度６５．６ｍ／ｓの測定結果である。ジッタのしきい値を１３％とすると、しきい値となる記録パワーは、２４．６ｍ／ｓで１４ｍＷ、６５．６ｍ／ｓで２１ｍＷであった。これらのパワーをもとに、係数Ｃ１またはＣ２を１．２としたときの記録パワーとジッタ、係数を１．３としたときの記録パワーとジッタを求めると、表１および表２に示すようになった。
これらの表からわかるように、線速度２４．６ｍ／ｓではＣ１＝１．２の場合に対してＣ１＝１．３では急激にジッタが悪化している。一方、線速度６５．６ｍ／ｓではＣ２を１．２から１．３に高くしてもジッタの悪化は小さかった。
次に、フォーカスエラー信号が乱れている箇所のみを選んで、Ｃ２＝１．２と１．３の場合の記録パワーで記録したときのジッタを測定した。その結果を表３に示す。また、記録パワーとジッタとの関係の測定結果を図９（ｃ）に示す。
Ｃ２＝１．３の場合は表２とジッタが変化していないのに対し、Ｃ２＝１．２ではジッタが悪化している。このＣ２＝１．２で記録したトラックの再生信号を観察したところ、フォーカスエラー信号が局所的に乱れているのと同じ箇所で信号振幅が小さくなっていた。このことから、デフォーカスが局所的に発生している箇所で実効的な照射エネルギーの低下が生じたために、パワーが低下したときに余裕のないＣ２＝１．２の条件でジッタが悪化したものと考えられる。
以上のことから、このディスクでは、線速度２４．６ｍ／ｓではＣ１＝１．２に、線速度６５．６ｍ／ｓではＣ２＝１．３とする（すなわち、Ｃ１＜Ｃ２とする）ことで、最低線速度でも最高線速度でも安定に良好なジッタで記録できることがわかった。
さらに、このディスクの再生信号を復調して、データのビットエラーレートを測定した。ジッタとビットエラーレートの相関を求めると、ジッタが９．５％以下の時にはビットエラーが発生しなかった。
このことから、ジッタが９．５％以下になるＣ１、Ｃ２の範囲ではより高品質に再生でき、より好ましいことがわかった。これらの範囲は、図９（ａ）の結果から、線速度２４．６ｍ／ｓでは１．１４≦Ｃ１≦１．２４、線速度６５．６ｍ／ｓでは１．２５≦Ｃ２≦１．３３であった。
本発明の光学的情報記録方法、光学的情報記録装置および光学的情報記録媒体は、パーソナルコンピュータ、サーバ、レコーダにも適用可能であり、上述と同様の効果を得ることができる。
１ 光ディスク
２ システム制御回路
３ 変調回路
４ 記録パルス発生回路
５ レーザ駆動回路
６ 光ヘッド
７ 線速度設定回路
８ スピンドルモータ
９ 再生信号処理回路
１０ ジッタ検出回路
１１ パワー設定信号
１２ 変調信号
１３ 記録パルス信号
１４ レーザ光
３０１ トラック
３０２ マーク
３０３ 溶融領域
３０４ 壁
６０１ アシメトリ検出回路
１００１ 前端パルス
１００２ 後端パルス
２ システム制御回路
３ 変調回路
４ 記録パルス発生回路
５ レーザ駆動回路
６ 光ヘッド
７ 線速度設定回路
８ スピンドルモータ
９ 再生信号処理回路
１０ ジッタ検出回路
１１ パワー設定信号
１２ 変調信号
１３ 記録パルス信号
１４ レーザ光
３０１ トラック
３０２ マーク
３０３ 溶融領域
３０４ 壁
６０１ アシメトリ検出回路
１００１ 前端パルス
１００２ 後端パルス
Claims (27)
- 光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録方法であって、
第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ２、前記第１の線速度ｖ１で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ１、前記第２の線速度ｖ２で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ２として、前記記録パワーが（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）を満たすように制御する、
光学的情報記録方法。 - 前記再生信号の品質は、再生信号のジッタである、請求項１に記載の光学的情報記録方法。
- 前記再生信号の品質は、再生信号のエラーレートに基づく値である、請求項１に記載の光学的情報記録方法。
- 前記再生信号の品質は、再生信号の変調度に基づく値である、請求項１に記載の光学的情報記録方法。
- 光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録方法であって、
第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ２、前記第１の線速度ｖ１で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ１、前記第２の線速度ｖ２で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ２として、前記記録パワーが（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）を満たすように制御する、
光学的情報記録方法。 - 光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録方法であって、
第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させてテスト信号を記録したときの再生信号のアシメトリをａ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの前記再生信号のアシメトリをａ２として、前記記録パワーがａ１＜ａ２を満たすように制御する、光学的情報記録方法。 - 光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録方法であって、
第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの再生信号のアシメトリをａ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの再生信号のアシメトリをａ２として、前記記録パワーがａ１＜ａ２を満たすように制御する、光学的情報記録方法。 - 記録方式が、ＣＡＶ記録方式である、請求項１から７のいずれか１項に記載の光学的情報記録方法。
- 前記第１の線速度ｖ１と前記第２の線速度ｖ２との間の値である線速度ｖでの記録パワーをＰｐとしたとき、線速度ｖの増大に応じてＰｐを増大させるように前記記録パワーを制御する、請求項１から８のいずれか１項に記載の光学的情報記録方法。
- 前記記録パルス間におけるパワーレベルが前記消去パワーと異なるよう制御する、請求項１から９のいずれか１項に記載の光学的情報記録方法。
- 記録パワーをＰｐ、消去パワーをＰｂ、記録パルス間のパワーレベルをＰｂｔｍとし、記録パルス間パワー係数αをα＝（Ｐｂｔｍ−Ｐｂ）／（Ｐｐ−Ｐｂ）としたとき、
前記第２の線速度ｖ２における記録パルス間パワー係数が、前記第１の線速度ｖ１における記録パルス間パワー係数より高くなるよう制御する、請求項１から１０のいずれか１項に記載の光学的情報記録方法。 - 請求項１から５に記載の方法で情報を記録する光学的情報記録媒体であって、
Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１およびＰｐ２／Ｐｐｔｈ２の値を表す情報が記録されている、光学的情報記録媒体。 - 請求項１から５に記載の方法で情報を記録する光学的情報記録媒体であって、
Ｐｐ１およびＰｐ２の値を表す情報が記録されている、光学的情報記録媒体。 - 請求項６または７に記載の方法で情報を記録する光学的情報記録媒体であって、
ａ１およびａ２の値を表す情報が記録されている、光学的情報記録媒体。 - 前記記録膜が相変化材料からなり、
前記相変化材料は、ＧｅとＴｅを含み、さらにＳｎとＢｉのうちいずれかを含む、請求項１２から１４のいずれか１項に記載の光学的情報記録媒体。 - 複数のセクタに分割されたトラックを有し、
前記セクタと前記セクタとの間にエンボストラックを有し、
前記トラックが、前記エンボストラックの中心と前記セクタの記録トラックの中心とをずらすようにして形成された、請求項１２から１５のいずれか１項に記載の光学的情報記録媒体。 - 光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録装置であって、
異なる２種類の線速度を設定する線速度設定回路と、
前記線速度設定回路の設定結果に応じて前記記録パルスまたは前記記録パルス列を発生する記録パルス発生回路と、
前記記録パルス列に基づき前記複数のパワーレベルで前記レーザ光を照射するレーザ駆動回路と、
再生信号の品質を検出する品質検出回路とを備え、
第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ２、前記第１の線速度ｖ１で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ１、前記第２の線速度ｖ２で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ２とすると、前記レーザ駆動回路は、（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）を満たすように前記記録パワーを制御する、光学的情報記録装置。 - 前記品質検出回路は、再生信号のジッタを検出するジッタ検出回路である、請求項１７に記載の光学的情報記録装置。
- 前記品質検出回路は、再生信号のエラーレートを検出するエラーレート検出回路である、請求項１７に記載の光学的情報記録装置。
- 前記品質検出回路は、再生信号の変調度を検出する変調度検出回路である、請求項１７に記載の光学的情報記録装置。
- 光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録装置であって、
異なる２種類の線速度を設定する線速度設定回路と、
前記線速度設定回路の設定結果に応じて前記記録パルスまたは前記記録パルス列を発生する記録パルス発生回路と、
前記記録パルス列に基づき前記複数のパワーレベルで前記レーザ光を照射するレーザ駆動回路と、
再生信号の品質を検出する品質検出回路とを備え、
第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ１、前記第１の線速度ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、前記再生信号の品質が所定の値を下回る前記記録パワーのしきい値をＰｐｔｈ２、前記第１の線速度ｖ１で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ１、前記第２の線速度ｖ２で前記情報を記録するときの前記記録パワーをＰｐ２とすると、前記レーザ駆動回路は、（Ｐｐ１／Ｐｐｔｈ１）＜（Ｐｐ２／Ｐｐｔｈ２）を満たすように前記記録パワーを制御する、光学的情報記録装置。 - 光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録装置であって、
異なる２種類の線速度を設定する線速度設定回路と、
前記線速度設定回路の設定結果に応じて前記記録パルスまたは前記記録パルス列を発生する記録パルス発生回路と、
前記記録パルス列に基づき前記複数のパワーレベルで前記レーザ光を照射するレーザ駆動回路と
再生信号のアシメトリを検出するアシメトリ検出回路を備え、
第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号のアシメトリをａ１、ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーを固定し前記記録パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号のアシメトリをａ２とすると、前記レーザ駆動回路は、ａ１＜ａ２を満たすように前記記録パワーを制御する、光学的情報記録装置。 - 光学的情報記録媒体にレーザ光を照射し、記録膜の光学的特性を変化させてマークまたはスペースを形成し、少なくとも記録パワーと消去パワーを含む、複数のパワーレベルの間で前記レーザ光のパワーを切り換えた記録パルスまたは記録パルス列で前記マークを形成し、異なる２種類の線速度で、情報を記録する光学的情報記録装置であって、
異なる２種類の線速度を設定する線速度設定回路と、
前記線速度設定回路の設定結果に応じて前記記録パルスまたは前記記録パルス列を発生する記録パルス発生回路と、
前記記録パルス列に基づき前記複数のパワーレベルで前記レーザ光を照射するレーザ駆動回路と
再生信号のアシメトリを検出するアシメトリ検出回路を備え、
第１の線速度ｖ１で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させてテスト信号を記録したときの、再生信号のアシメトリをａ１、ｖ１より高い第２の線速度ｖ２で、前記消去パワーと前記記録パワーとの比が一定となるよう前記各パワーを変化させて前記テスト信号を記録したときの、前記再生信号のアシメトリをａ２とすると、前記レーザ駆動回路は、ａ１＜ａ２を満たすように前記記録パワーを制御する、光学的情報記録装置。 - ＣＡＶ記録方式により記録を行う、請求項１７から２３のいずれか１項に記載の光学的情報記録装置。
- 前記第１の線速度ｖ１と前記第２の線速度ｖ２との間の値である線速度ｖでの記録パワーをＰｐとしたとき、線速度ｖの増大に応じてＰｐを増大させるように前記記録パワーの制御が行われる、請求項１７から２４のいずれか１項に記載の光学的情報記録装置。
- 前記記録パルス間におけるパワーレベルが前記消去パワーと異なるよう制御が行われる、請求項１７から２５のいずれか１項に記載の光学的情報記録装置。
- 記録パワーをＰｐ、消去パワーをＰｂ、記録パルス間のパワーレベルをＰｂｔｍとし、記録パルス間パワー係数αをα＝（Ｐｂｔｍ−Ｐｂ）／（Ｐｐ−Ｐｂ）としたとき、
前記第２の線速度ｖ２における記録パルス間パワー係数が、前記第１の線速度ｖ１における記録パルス間パワー係数より高くするよう制御が行われる、請求項１７から２６のいずれか１項に記載の光学的情報記録装置。
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