JPS6365655A - 樹脂封止型半導体装置 - Google Patents
樹脂封止型半導体装置Info
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- JPS6365655A JPS6365655A JP61210167A JP21016786A JPS6365655A JP S6365655 A JPS6365655 A JP S6365655A JP 61210167 A JP61210167 A JP 61210167A JP 21016786 A JP21016786 A JP 21016786A JP S6365655 A JPS6365655 A JP S6365655A
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Classifications
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
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- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
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- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
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- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/484—Connecting portions
- H01L2224/48463—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
- H01L2224/48465—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
し産業上の利用分野〕
本発明は樹脂封止型半導体装置に関する。
従来、この種の樹脂封止型半導体装置は、リードフレー
ムの素子搭載部に半導体素子を搭載し、金属細線により
半導体素子をリードに接続した後樹脂封止を行なうもの
であり、リードフレームの材質は、一般にFe−Ni合
金又はCu合金から作られ、封止樹脂はエポキシ樹脂が
使用されている。
ムの素子搭載部に半導体素子を搭載し、金属細線により
半導体素子をリードに接続した後樹脂封止を行なうもの
であり、リードフレームの材質は、一般にFe−Ni合
金又はCu合金から作られ、封止樹脂はエポキシ樹脂が
使用されている。
上述した従来の樹脂封止型半導体装置においては、リー
ドフレームの素子搭載部の裏面は平坦であり、また近年
半導体素子の大型化に伴ない素子搭載部面積も大型化し
ている為に、半導体装置をプリント基板などへ実装する
際のはんだ付は温度で、リードフレームと封止樹脂の膨
張差によって、リードフレームと封止樹脂との界面で剥
れが生じたり、素子搭載部裏面の端部から封止樹脂にク
ラックが入り、半導体装置の信頼性を低下させるという
問題点がある。
ドフレームの素子搭載部の裏面は平坦であり、また近年
半導体素子の大型化に伴ない素子搭載部面積も大型化し
ている為に、半導体装置をプリント基板などへ実装する
際のはんだ付は温度で、リードフレームと封止樹脂の膨
張差によって、リードフレームと封止樹脂との界面で剥
れが生じたり、素子搭載部裏面の端部から封止樹脂にク
ラックが入り、半導体装置の信頼性を低下させるという
問題点がある。
本発明の目的は、はんだ付は工程において、封止樹脂の
剥れやクラックの発生のない信頼性の向上した樹脂封止
型半導体装置を提供することにある。
剥れやクラックの発生のない信頼性の向上した樹脂封止
型半導体装置を提供することにある。
本発明の樹脂封止型半導体装置は、リードフレ−ムの素
子搭載部に半導体素子を搭載し樹脂封止してなる樹脂封
止型半導体装置であって、前記リードフレームの素子搭
載部の裏面に低応力樹脂を塗布したものである。
子搭載部に半導体素子を搭載し樹脂封止してなる樹脂封
止型半導体装置であって、前記リードフレームの素子搭
載部の裏面に低応力樹脂を塗布したものである。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例の断面図である。
第1図において、リードフレームの素子搭載部6には半
導体素子1が搭載されており、この半導体素子1は金属
細線2により外部リード3に接続されている。そして特
に、このリードフレームの素子搭載部6の裏面には軟質
で低応力のシリコーン樹脂5が塗布されており、更に半
導体素子1を含む全体がエポキシ等の封止樹脂4により
封止されている。
導体素子1が搭載されており、この半導体素子1は金属
細線2により外部リード3に接続されている。そして特
に、このリードフレームの素子搭載部6の裏面には軟質
で低応力のシリコーン樹脂5が塗布されており、更に半
導体素子1を含む全体がエポキシ等の封止樹脂4により
封止されている。
このように構成されては本実施例においては、プリント
基板への実装時における、はんだ付けによる熱衝撃をシ
リコーン樹脂5により緩和することができる。
基板への実装時における、はんだ付けによる熱衝撃をシ
リコーン樹脂5により緩和することができる。
尚、低応力樹脂としてはシリコーン樹脂の外、ポリイミ
ド樹脂等を用いることができる。
ド樹脂等を用いることができる。
〔発明の効果〕
以上説明した様に本発明は、リードフレームの素子搭載
部の裏面に低応力樹脂を塗布することにより、半導体装
置がプリント基板へ実装される際のはんだ接続の為の熱
衝撃を緩和出来る効果がある。
部の裏面に低応力樹脂を塗布することにより、半導体装
置がプリント基板へ実装される際のはんだ接続の為の熱
衝撃を緩和出来る効果がある。
第1図は本発明の一実施例の断面図である。
1・・・半導体素子、2・・・金属細線、3・・・外部
リード、4・・・封止樹脂、5・・・シリコーン樹脂、
6・・・素子搭載部。
リード、4・・・封止樹脂、5・・・シリコーン樹脂、
6・・・素子搭載部。
Claims (1)
- リードフレームの素子搭載部に半導体素子を搭載し樹脂
封止してなる樹脂封止型半導体装置において、前記リー
ドフレームの素子搭載部の裏面に低応力樹脂を塗布した
ことを特徴とする樹脂封止型半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61210167A JPS6365655A (ja) | 1986-09-05 | 1986-09-05 | 樹脂封止型半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61210167A JPS6365655A (ja) | 1986-09-05 | 1986-09-05 | 樹脂封止型半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6365655A true JPS6365655A (ja) | 1988-03-24 |
Family
ID=16584878
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61210167A Pending JPS6365655A (ja) | 1986-09-05 | 1986-09-05 | 樹脂封止型半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6365655A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5536970A (en) * | 1992-09-29 | 1996-07-16 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Resin-encapsulated semiconductor device |
US5864174A (en) * | 1995-10-24 | 1999-01-26 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor device having a die pad structure for preventing cracks in a molding resin |
JP2008239285A (ja) * | 2007-03-27 | 2008-10-09 | Fujikura Ltd | ロール材巻取り装置 |
EP2070113A2 (en) * | 2006-08-11 | 2009-06-17 | Vishay General Semiconductor LLC | Semiconductor device and method for manufacturing a semiconductor device |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58440B2 (ja) * | 1971-11-20 | 1983-01-06 | フエルナオ・アウグスト・デ・アラウ−ホ・ヴイセンテ | 17,21−ジヒドロキシ−20−ケトプレグナン類の製造方法 |
-
1986
- 1986-09-05 JP JP61210167A patent/JPS6365655A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58440B2 (ja) * | 1971-11-20 | 1983-01-06 | フエルナオ・アウグスト・デ・アラウ−ホ・ヴイセンテ | 17,21−ジヒドロキシ−20−ケトプレグナン類の製造方法 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5536970A (en) * | 1992-09-29 | 1996-07-16 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Resin-encapsulated semiconductor device |
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US6177725B1 (en) | 1995-10-24 | 2001-01-23 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor device having an improved structure for preventing cracks, improved small-sized semiconductor and method of manufacturing the same |
US6459145B1 (en) | 1995-10-24 | 2002-10-01 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor device having an improved structure for preventing cracks, and improved small-sized semiconductor |
US6569755B2 (en) | 1995-10-24 | 2003-05-27 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor device having an improved structure for preventing cracks, improved small sized semiconductor and method of manufacturing the same |
EP2070113A2 (en) * | 2006-08-11 | 2009-06-17 | Vishay General Semiconductor LLC | Semiconductor device and method for manufacturing a semiconductor device |
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EP2070113B1 (en) * | 2006-08-11 | 2016-10-05 | Vishay General Semiconductor LLC | Semiconductor device and method for manufacturing a semiconductor device |
JP2008239285A (ja) * | 2007-03-27 | 2008-10-09 | Fujikura Ltd | ロール材巻取り装置 |
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