JPS6364247A - プラズマ装置 - Google Patents

プラズマ装置

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Publication number
JPS6364247A
JPS6364247A JP61207914A JP20791486A JPS6364247A JP S6364247 A JPS6364247 A JP S6364247A JP 61207914 A JP61207914 A JP 61207914A JP 20791486 A JP20791486 A JP 20791486A JP S6364247 A JPS6364247 A JP S6364247A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plasma
magnetic field
microwave
substrate
waveguide
Prior art date
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Pending
Application number
JP61207914A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshimi Hakamata
袴田 好美
Yukio Kurosawa
黒沢 幸夫
Kenichi Natsui
健一 夏井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP61207914A priority Critical patent/JPS6364247A/ja
Publication of JPS6364247A publication Critical patent/JPS6364247A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体回路素子や薄膜磁気ヘッドなどの薄膜
素子製造装置に係り、特に、サブミクロン領域のLSI
プロセスのドライエツチング及び磁性膜のドライエツチ
ングに好適なプラズマ装置に関する。
〔従来の技術〕
LSI製造プロセスでは、加工寸法の微細化に伴い、溶
液を用いた湿式のプロセスからプラズマを用いた乾式の
プロセスへと移ってきている。最近良く用いられるよう
になってきたマイクロ波を使ったドライエツチング装置
は、特開昭56−152969号公報に記載のような構
成となっている。
すなわち、従来は第3図に示すように、真空排気装置1
1を備えた真空容器5内に基板ホルダ6が設けられ、基
板ホルダ6に対向してプラズマ室1が設けられている。
プラズマ室1にはその外周部に励磁ソレノイド2が設け
られ、この励磁ソレノイドと同軸状に導波管3が設けら
九、その端部にはマイクロ波発振器10が設置されてい
る。はじめ、真空容器5およびプラズマ室1は、圧力1
O−8Torr以下の超高真空に排気される。その後、
ガス供給口9よりCF4などのエツチングガスが導入さ
れ、プラズマ室1の内部は所定の圧力にされる。
次に、マイクロ波発振器10を動作させ1例えば。
2.45GH7のマイクロ波をプラズマ発生部1に供給
する。一方、励磁ソレノイド2によって、電子がサイク
ロトロン共鳴をする磁界875Gaussの磁界が印加
される。これにより、プラズマ室1では電子サイクロト
ロン共鳴が発生して、ガス分子の電離が活発に行なわれ
、濃いプラズマが発生する。引出し電極4により濃いプ
ラズマからイオ一部がビームとなって引出され、基板を
照射する。
これによって基板のエツチングが行なわれる。
〔発明が解決しようとする問題点〕 上記従来技術では、ソレノイド2が発生する磁束Bは、
引出し電piA4を突き貫け、その一部は基板7に達し
ている。従って、引出し電極4から引出されたイオンは
磁束との相互作用によりその軌道が曲げられ、ビームが
発散する。
本発明の目的は、平行性の良いイオンビームを引き出す
ことができるプラズマ装置を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的は、電子サイクロトロン共鳴を発生させる磁界
を、イオンビーム引出し方向と略直角方向に印加するこ
とにより達成される。
〔作用〕
電子サイクロトロン共鳴を発生させる磁界は、イオンビ
ーム引出し方向と直角方向に印加されているので、引出
し電極から引出されたイオンビームは電子サイクロトロ
ン共鳴を発生させる磁界の影響を受けることが無く、平
行性の良いイオンビームが得られる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。真空
排気装置11を備えた真空容器5内に基板ホルダ6が設
けられ、基板ホルダ6に対向してプラズマ室1が設けら
れる。プラズマ室1の一端には誘電体窓13が設けてあ
り、これに合致して導波管3が取付けられ、その先端に
はマイクロ発振器10が取付けられている。一方、プラ
ズマ室1の他端は、互いに同じ位置に多数の孔を設けた
引出し電極4が配置されている。プラズマ室の外部に励
磁コイル14及びヨーク15が設けてあり。
イオンビーム引出し方向に対して略直角に、磁界が印加
されている。はじめ、真空容器5並びにプラズマ室1は
圧力10″″BTorr以下の超高真空に排気される。
その後に、ガス供給口よりCFaなとのエツチングガス
が導入され、所定の動作圧力に設定される。次に、マイ
クロ波発振器10を動作させて、例えば、周波数2.4
5GHzのマイクロ波を導波管3を介してプラズマ室1
に供給する。
ところでマイクロ波の電界Eは、マイクロ波の進行方向
に対して直交する方向である。励磁コイル14の作る磁
界が、このマイクロ波の電界に対しても直交する方向に
むく様にヨーク15を配貨してあり、かつ、その磁束密
度がプラズマ室1の少なくとも一部でマイクロ波の周波
数で電子サイクロトロン共鳴を起す密度に設定しである
。このとき、電子は電子サイクロトロン共鳴により強力
に加速され、CF4等のガス分子に衝突し電離を行なう
。その結果、プラズマ室内には濃いプラズマが発生し、
引出し電極4に適切な電圧を印加することにより、イオ
ンビームを引き出すことができる。二のとき、励磁コイ
ル14の作る磁界は真空容器5側に入り込まないので、
引き出されたイオンビームを引き出することができ、よ
り微細な加工を行なうことができる。
第2図は、本発明による他の実施例である。この場合、
電子サイクロトロン共鳴を起す磁界発生手段として永久
磁石12を用いている。プラズマ室1はイオンビームを
引出している状態で高電位となる。励磁コイルを使う場
合には、プラズマ室1とヨーク15.あるいは、ヨーク
15とコイル14を電気的に絶縁するか、あるいは、コ
イル用電源高電位とする必要がある。磁界発生手段とし
て、永久磁石を用いた場合には、そ九らの問題が解決さ
れ、小形で経済的なプラズマ装置を提供することができ
る。
なお、プラズマ生成室は1円形でもよい。
なお、7は基板、8は排気管、12は永久磁石である。
〔発明の効果〕
本発明によれば、電子サイクロトロン共鳴を起すための
磁界が引出されたイオンビームに影響を与えるのを防ぐ
ことができ、平行性の良いイオンビームを引き出すこと
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の断面図、第2図は本発明の
他の実施例の断面図、第3図は従来例を示す断面図であ
る。 1・・・プラズマ室、2・・・ソレノイド、3・・・導
波管。 4・・・引出し電極、5・・・真空容器、6・・・基板
ホルダー、7・・・基板、8・・・排気管、10・・・
マイクロ波発振器、11・・・真空排気装置、12・・
・永久磁石。 14・・・励磁コイル、15・・・ヨーク。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、真空容器と、前記真空容器に連通した排気装置と、
    ガス導入部と、プラズマ生成部とより成り、前記プラズ
    マ生成部にマイクロ波を導入する手段を設けたプラズマ
    装置において、 前記プラズマ生成部に、マイクロ波の作る電界およびイ
    オン引出し方向に略直交する磁界発生手段を設けたこと
    を特徴とするプラズマ装置。 2、特許請求の範囲第1項において、 前記磁界発生手段が発生する磁界の少なくとも一部の磁
    束密度が、前記マイクロ波の周波数と電子サイクロトロ
    ン共鳴を生じる条件となるように選ばれていることを特
    徴とするプラズマ装置。 3、特許請求の範囲第1項において、 前記磁界発生手段が永久磁石であることを特徴とするプ
    ラズマ装置。
JP61207914A 1986-09-05 1986-09-05 プラズマ装置 Pending JPS6364247A (ja)

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JP61207914A JPS6364247A (ja) 1986-09-05 1986-09-05 プラズマ装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006107974A (ja) * 2004-10-07 2006-04-20 Kanazawa Inst Of Technology イオン源
CN110412441A (zh) * 2019-06-24 2019-11-05 深圳市森美协尔科技有限公司 真空高低温半导体器件测试探针台及半导体器件测试方法

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JP4534055B2 (ja) * 2004-10-07 2010-09-01 学校法人金沢工業大学 イオン源
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