JPS6358104A - 微小間隔測定方法 - Google Patents
微小間隔測定方法Info
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- JPS6358104A JPS6358104A JP20008786A JP20008786A JPS6358104A JP S6358104 A JPS6358104 A JP S6358104A JP 20008786 A JP20008786 A JP 20008786A JP 20008786 A JP20008786 A JP 20008786A JP S6358104 A JPS6358104 A JP S6358104A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 title description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 18
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 20
- 238000003466 welding Methods 0.000 abstract description 37
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- 239000010959 steel Substances 0.000 abstract description 6
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 5
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 17
- 238000010008 shearing Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000007665 sagging Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、長手方向に微小間隔部を有して接する被測定
材間の微小間隔を測定する方法に係り。
材間の微小間隔を測定する方法に係り。
特に金属板やプラスチック板等の突き合せ溶接部の幅お
よび溶接線を検出する際に用いるのに好適な突き合せ溶
接される被溶接材の溶接線を検出する溶接線検出方法に
関する。
よび溶接線を検出する際に用いるのに好適な突き合せ溶
接される被溶接材の溶接線を検出する溶接線検出方法に
関する。
〈従来の技術〉
長手方向に微小間隔部を有して接する被測定材。
例えば金属板等を突き合せ溶接するような場合には、溶
接品質の安定化や向上を図るために、突き合されて溶接
される部分の幅および)容接線を正確に検出する必要が
ある。
接品質の安定化や向上を図るために、突き合されて溶接
される部分の幅および)容接線を正確に検出する必要が
ある。
このような溶接線を検出するものとして、従来。
例えば特開昭59−97773で溶接線倣い方法が提案
さされている。
さされている。
この溶接線倣い方法は、隅肉、突き合せ溶接において、
溶接トーチと一体としたモニタテレビカメラにバンドパ
スフィルタを設け、溶融池直前の輝度の大小の輝度走査
法により求め1反射光の極小値とアーク中心のずれをサ
ーボ機構により一致させて行う方法である。
溶接トーチと一体としたモニタテレビカメラにバンドパ
スフィルタを設け、溶融池直前の輝度の大小の輝度走査
法により求め1反射光の極小値とアーク中心のずれをサ
ーボ機構により一致させて行う方法である。
〈発明が解決しようとする問題点〉
この方法においては溶接線の検出を反射光の極小値を求
めることによって行っているため、溶接時に発生するア
ーク光の影響や外乱光により、前記極小値の位置が不安
定となる可能性があった。
めることによって行っているため、溶接時に発生するア
ーク光の影響や外乱光により、前記極小値の位置が不安
定となる可能性があった。
また、最近脚光をあびているレーザ溶接等で前記突き合
せ溶接を行う際には、熱源の形状が非常に小さいため、
鋼板突き合せ部の形状を従来の溶接方法に比べて厳しく
管理する必要があり、しかも。
せ溶接を行う際には、熱源の形状が非常に小さいため、
鋼板突き合せ部の形状を従来の溶接方法に比べて厳しく
管理する必要があり、しかも。
剪断刃の劣化、剪断の高速化等により、前記形状の精度
を確保することが困難となり、高精度の倣い技術が必要
とされている。
を確保することが困難となり、高精度の倣い技術が必要
とされている。
従って、レーザ光を用いて鋼板等の被溶接材を突き合せ
て溶接する際には、その溶接線を高精度に検出して倣う
技術が必要となるが、このような溶接線を倣う技術を開
発するに当っては、従来。
て溶接する際には、その溶接線を高精度に検出して倣う
技術が必要となるが、このような溶接線を倣う技術を開
発するに当っては、従来。
以下に示すような課題があった。
(1)被溶接板の板厚や、切断部断面の形状が5板毎に
大きく異なる。
大きく異なる。
(2)板厚の違う被溶接板を溶接する場合に、高さ方向
のずれが生じ、受光光学系の焦点ずれが生ずる。
のずれが生じ、受光光学系の焦点ずれが生ずる。
(3)被溶接板エツジのダレ等により、エツジ画像が不
鮮明になる。
鮮明になる。
以上述べた課題から、前記レーザ溶接で前記突き合せ部
の溶接を行う際には、前記溶接線の高精度の測定が要求
され、また、被溶接板の板厚や切断部の両エツジの形状
の変化に影響されずに安定した検出が行える光学系配置
および信号処理系が必要とされる。
の溶接を行う際には、前記溶接線の高精度の測定が要求
され、また、被溶接板の板厚や切断部の両エツジの形状
の変化に影響されずに安定した検出が行える光学系配置
および信号処理系が必要とされる。
〈発明の目的〉
本発明は、前記従来の問題点に鑑みなされたものであっ
て5高精度の溶接線倣いが可能となるような、被溶接材
の微小間隔部の幅を精度よ(測定する方法を提供するこ
とを目的とする。
て5高精度の溶接線倣いが可能となるような、被溶接材
の微小間隔部の幅を精度よ(測定する方法を提供するこ
とを目的とする。
く問題点を解決するための手段〉
本発明は、長手方向に微小間隔部を有して接する被測定
材間の微小間隔を測定するに際し、前記被測定材に、投
光部から放出された平行光束を。
材間の微小間隔を測定するに際し、前記被測定材に、投
光部から放出された平行光束を。
前記微小間隔部の長手方向に対して直角方向にわたって
反射光が生ずるように照射し、前記被測定材の反射光を
生ずる部分において、前記平行光束面に対して受光軸が
直角なるように配設された受像部を用いて前記反則光を
撮像して画像信号を作成し、該作成された画像信号を処
理して前記微小間隔部の幅を測定することにより、前記
目的を達成したものである。
反射光が生ずるように照射し、前記被測定材の反射光を
生ずる部分において、前記平行光束面に対して受光軸が
直角なるように配設された受像部を用いて前記反則光を
撮像して画像信号を作成し、該作成された画像信号を処
理して前記微小間隔部の幅を測定することにより、前記
目的を達成したものである。
また1本発明の実施態様として、前記受像部は。
受光中心軸と投光軸の交点を、被測定材の平均板厚に相
当する測定材の表面上に結ぶように配設されたものであ
る。
当する測定材の表面上に結ぶように配設されたものであ
る。
さらに、前記画像信号の処理は9画像信号の強度分布に
応じて2値化処理し、2値化処理後の結果を各走査線毎
に走査線方向に積分処理して得られた新たな信号分布に
基いて、微小間隔部の幅を算出するものとしたものであ
る。
応じて2値化処理し、2値化処理後の結果を各走査線毎
に走査線方向に積分処理して得られた新たな信号分布に
基いて、微小間隔部の幅を算出するものとしたものであ
る。
以下1本発明の作用について、第1図乃至第3図に示し
た鋼板等の突き合せ溶接部の幅および溶接線を検出する
場合を例に詳細に説明する。
た鋼板等の突き合せ溶接部の幅および溶接線を検出する
場合を例に詳細に説明する。
図において、銅板等の被溶接板5の突き合せ溶接部6の
溶接線を検出する際に、短冊状の光束LBを該溶接線の
長手方向に直角方向に1スリツト状に照射する。前記被
溶接板5上に照射された光束LBが反射して生じた反射
光F Lは1例えば狭帯域干渉フィルタを通して外乱光
を除去し1例えばCCDカメラ等撮像手段で撮像する。
溶接線を検出する際に、短冊状の光束LBを該溶接線の
長手方向に直角方向に1スリツト状に照射する。前記被
溶接板5上に照射された光束LBが反射して生じた反射
光F Lは1例えば狭帯域干渉フィルタを通して外乱光
を除去し1例えばCCDカメラ等撮像手段で撮像する。
ここで、これらの投光系と受光系の位置関係については
、第31D (a)に示すように、前記投光系の投光軸
と、前記受光系の受光軸の被溶接板上での交点を直角と
なすように、前記投光系と前記受光系を配置する。その
ようにすれば、被溶接板の厚み変化によって生ずる段差
の影響による受光光学系の焦点ずれを防くことが可能で
ある。
、第31D (a)に示すように、前記投光系の投光軸
と、前記受光系の受光軸の被溶接板上での交点を直角と
なすように、前記投光系と前記受光系を配置する。その
ようにすれば、被溶接板の厚み変化によって生ずる段差
の影響による受光光学系の焦点ずれを防くことが可能で
ある。
このようにして、撮像して得られた画像信号の輝度分布
を、最適なスレショルド・レベル(しきい値)で2値化
処理し、各走査線毎に走査線方向に2値化処理後の“1
”レベルを加算処理する。
を、最適なスレショルド・レベル(しきい値)で2値化
処理し、各走査線毎に走査線方向に2値化処理後の“1
”レベルを加算処理する。
加算処理後、新しく得られた信号分布から新たなスレシ
ョルド・レベルを決定し、突き合せ溶接部6の両エツジ
部を検出して、該エツジ位置からギヤツブ幅および溶接
線を算出する。
ョルド・レベルを決定し、突き合せ溶接部6の両エツジ
部を検出して、該エツジ位置からギヤツブ幅および溶接
線を算出する。
以上のような検出操作を5被溶接板5の突き合せ溶接部
6の溶接線の長手方向へ連続的に行うことにより、被溶
接板エツジのプロフィールを得ることが出来る。そして
、前記算出された溶接線を基に溶接線倣いコントローラ
を介して、溶接トーチを制御することにより、高精度の
溶接線倣いが可能となる。
6の溶接線の長手方向へ連続的に行うことにより、被溶
接板エツジのプロフィールを得ることが出来る。そして
、前記算出された溶接線を基に溶接線倣いコントローラ
を介して、溶接トーチを制御することにより、高精度の
溶接線倣いが可能となる。
〈実施例〉
以下9本発明に係る実施例について詳細に説明する。
この実施例は、前出第1図にその概略構成を示すように
、鋼板等の被溶接板5の突き合せ溶接部6を溶接する際
に、溶接トーチ4が精度よ(該突き合せ溶接部6を倣う
ように、その溶接線を検出する溶接線検出装置に本発明
を採用したものである。
、鋼板等の被溶接板5の突き合せ溶接部6を溶接する際
に、溶接トーチ4が精度よ(該突き合せ溶接部6を倣う
ように、その溶接線を検出する溶接線検出装置に本発明
を採用したものである。
第1図に示されるように、前記溶接トーチ4の進行方向
Aに対して前側に前記溶接線を検出するための検出ヘッ
ド1が設置されている。
Aに対して前側に前記溶接線を検出するための検出ヘッ
ド1が設置されている。
該検出ヘッドlの概略構成を第2図に示す。該検出ヘッ
ドlには、小型レーザが用いられた光源2と高解像のC
OD (電荷結合素子)カメラが用いられた受像部3が
備えられる。また、前記検出ヘッド1は、溶接機からの
雑音信号の影響を受けないように、電磁的、静電的にシ
ールドされる。
ドlには、小型レーザが用いられた光源2と高解像のC
OD (電荷結合素子)カメラが用いられた受像部3が
備えられる。また、前記検出ヘッド1は、溶接機からの
雑音信号の影響を受けないように、電磁的、静電的にシ
ールドされる。
前記光′tJ2には、 1ie−Neレーザや半導体レ
ーザ等の小型レーザを使用することが可能であり、それ
を使用した場合、この装置の構成を小型化できまた。前
記光源2のレーザ光LBの照射側には。
ーザ等の小型レーザを使用することが可能であり、それ
を使用した場合、この装置の構成を小型化できまた。前
記光源2のレーザ光LBの照射側には。
第2図に示すように、該レーザ光LBを平行光とする平
行光束作成用の光学系9が取付りられる。
行光束作成用の光学系9が取付りられる。
前記受像部3には、第1図に示されるように。
それにより撮像された像を画像信号として処理する画像
処理装置7が接続される。該画像処理装置7には5その
出力信号により、前記被溶接板5のエツジ位置を検出し
て、前記溶接トーチ4が倣うべき溶接線を検出するため
のマイクロコンピュータ8が接続され3画像信号を高速
で演算処理される。
処理装置7が接続される。該画像処理装置7には5その
出力信号により、前記被溶接板5のエツジ位置を検出し
て、前記溶接トーチ4が倣うべき溶接線を検出するため
のマイクロコンピュータ8が接続され3画像信号を高速
で演算処理される。
ここで、前記被溶接板5の突き合せ溶接部6の形状は、
剪断刃の剪断精度に依存し、該剪断刃が劣化してくると
剪断部の断面形状が悪くなる。特に、この溶接線検出装
置の目標検出精度は50μm以下であり、この精度を満
足させるためには。
剪断刃の剪断精度に依存し、該剪断刃が劣化してくると
剪断部の断面形状が悪くなる。特に、この溶接線検出装
置の目標検出精度は50μm以下であり、この精度を満
足させるためには。
切断部形状の不均一に起因する前記受像部3で撮像した
像の焦点ずれを無くする必要がある。また。
像の焦点ずれを無くする必要がある。また。
厚物と薄物の溶接のように、板厚の違う被溶接板5の溶
接が非常に多く行われているため、焦点ずれを生しない
ように配慮する必要がある。
接が非常に多く行われているため、焦点ずれを生しない
ように配慮する必要がある。
そこで、前記被溶接板5の板厚変化や切断部形状の不均
一さという諸問題に影響されずに常に安定した検出が行
える方法として、第3図(a)に示すように、前記光源
2の投光軸10と前記受像部3の受光軸11の交点12
が直角をなすように。
一さという諸問題に影響されずに常に安定した検出が行
える方法として、第3図(a)に示すように、前記光源
2の投光軸10と前記受像部3の受光軸11の交点12
が直角をなすように。
光源2と受像部3との位置関係を前記交点12の垂直線
13に対して各々0区8θ2を決定するのである。また
、前記受像部の配設方法として、受光中心軸と投光軸の
交点が、被測定材の平均板厚tmに相当する測定材の表
面上にくるように投光系と受光系を配置し、視野範囲は
通板鋼板の最大板厚tuと最小板厚t1のそれぞれの場
合の表面に反射した反射光を撮像可能な最小限の範囲と
なるように設定する。
13に対して各々0区8θ2を決定するのである。また
、前記受像部の配設方法として、受光中心軸と投光軸の
交点が、被測定材の平均板厚tmに相当する測定材の表
面上にくるように投光系と受光系を配置し、視野範囲は
通板鋼板の最大板厚tuと最小板厚t1のそれぞれの場
合の表面に反射した反射光を撮像可能な最小限の範囲と
なるように設定する。
このような位置関係を保持すれば、光源2の光束LBの
パス上に受像部3の焦点がすべて合うのである。
パス上に受像部3の焦点がすべて合うのである。
なお、前記投光軸10と前記受光軸11の交点12を直
角即ち90°とする理由は、受像部3の焦点ずれをなく
すためであるが、実用上、視野範囲が狭い場合などでは
、±10°程度のずれは問題ない。
角即ち90°とする理由は、受像部3の焦点ずれをなく
すためであるが、実用上、視野範囲が狭い場合などでは
、±10°程度のずれは問題ない。
また5投光軸10の垂直線13に対する角度θ1を決定
するために、入射角度θ1と受像部の分解能の関係を計
算により求めた結果を第3図(b)に示す。入射角度θ
1が0°に近づくほど分解能が向上することがわかる。
するために、入射角度θ1と受像部の分解能の関係を計
算により求めた結果を第3図(b)に示す。入射角度θ
1が0°に近づくほど分解能が向上することがわかる。
入射角度θIが30°以下であれば1分解能はほぼ一定
であるので装置製作上、容易と思われる θ、−30°
程度が適当である。
であるので装置製作上、容易と思われる θ、−30°
程度が適当である。
一方、受光軸11の垂直線13に対する角度θ2は上記
理由から一義的に求められる。
理由から一義的に求められる。
ここで、受像部3で撮像して得られた反射光FLの画像
信号の信号処理について第4図に基いて詳しく説明する
。
信号の信号処理について第4図に基いて詳しく説明する
。
第4図fa+は、受像部3で1最像して得られた画像信
号をテレビモニタ14上に表示した例である。
号をテレビモニタ14上に表示した例である。
該テレビモニタ14の画面で5矢印Xは横軸であ該テレ
ビモニタ14の画面で、矢印Xは横軸であり、矢印Yは
縦軸である。画像信号の走査線方向はX軸に平行に画面
の左端から右端に向って行われる。反射光FL中に見ら
れる黒模様Mは、光束LBが被溶接板5上で反射される
際に、被溶接板5の表面粗さにより散乱されるために生
ずるまだら現象によるものである。該まだら現象は、テ
レビモニタ14の分解能を高めるべく拡大率を高くする
と顕著になる。
ビモニタ14の画面で、矢印Xは横軸であり、矢印Yは
縦軸である。画像信号の走査線方向はX軸に平行に画面
の左端から右端に向って行われる。反射光FL中に見ら
れる黒模様Mは、光束LBが被溶接板5上で反射される
際に、被溶接板5の表面粗さにより散乱されるために生
ずるまだら現象によるものである。該まだら現象は、テ
レビモニタ14の分解能を高めるべく拡大率を高くする
と顕著になる。
この画像信号をマイクロコンピュータ8に取す込む際に
、前記まだら現象の影響を受けると大きな外乱となるこ
とから、この影響を防ぐために。
、前記まだら現象の影響を受けると大きな外乱となるこ
とから、この影響を防ぐために。
すべての画像信号を最適なスレショルド・レベル(図示
せず)で2値化処理する。この2値化処理した画像信号
を表示した例を第4図(′b)に示す。また、その画面
の1ラインであるB部の輝度分布をY軸方向で表示した
場合は、第4図fclに示す如くになり、輝度が大きく
変化していることがわかる。
せず)で2値化処理する。この2値化処理した画像信号
を表示した例を第4図(′b)に示す。また、その画面
の1ラインであるB部の輝度分布をY軸方向で表示した
場合は、第4図fclに示す如くになり、輝度が大きく
変化していることがわかる。
それ故2反射光FL全体の輝度分布を各走査線毎に走査
線方向即ちX軸方向に走査し2値化処理後の“1”レベ
ルの個数を加算処理して、前記まだら現象の影響を受け
ない輝度分布を新しく得る。
線方向即ちX軸方向に走査し2値化処理後の“1”レベ
ルの個数を加算処理して、前記まだら現象の影響を受け
ない輝度分布を新しく得る。
そうすれば、第4図(dlに示す如く、極めて安定した
ものになるのである。
ものになるのである。
この新しい輝度分布に対し、さらに新しいスレショルド
・レベル15を設定することにより、被溶接板5の突き
合せ溶接部6の両エツジ位置C1Dを検出することが可
能となり、同時にギャップ幅lとその中心線即ち溶接線
Pとを求めることができるのである。
・レベル15を設定することにより、被溶接板5の突き
合せ溶接部6の両エツジ位置C1Dを検出することが可
能となり、同時にギャップ幅lとその中心線即ち溶接線
Pとを求めることができるのである。
次に、被溶接板5の相互間の板厚が異なり、突き合せ溶
接部に段差ができる場合における信号処理の実施例を第
5図に基いて説明する。
接部に段差ができる場合における信号処理の実施例を第
5図に基いて説明する。
受像部3で撮像して得られる反射光FLの画像信号は、
テレビモニタ上に表示すると第5図(alに示すように
前記段差部の影響により突き合せ溶接部6をはさんで反
射光F L + 、 F L zのようにX軸方向にず
れることになる。このときの2値化処理後の画像(第5
図中))のB部の輝度分布は、第5図(C)の如くであ
る。続いて、光束LB全全体輝度分布を各走査線毎にX
軸方向に走査して、2値化処理後の“1”レベルの個数
を加算処理すれば。
テレビモニタ上に表示すると第5図(alに示すように
前記段差部の影響により突き合せ溶接部6をはさんで反
射光F L + 、 F L zのようにX軸方向にず
れることになる。このときの2値化処理後の画像(第5
図中))のB部の輝度分布は、第5図(C)の如くであ
る。続いて、光束LB全全体輝度分布を各走査線毎にX
軸方向に走査して、2値化処理後の“1”レベルの個数
を加算処理すれば。
第5図fdlに示す通り前出第4図+diと同様の安定
した輝度分布を得ることができる。
した輝度分布を得ることができる。
以上、詳細に説明した通り1本発明によれば。
被溶接板5の間における段差の有無にかかわらず。
突き合せ溶接部6の両エツジ位置およびギャップ幅を高
い精度で検出することができるのである。
い精度で検出することができるのである。
以下、実施例の作用について説明する。
第1図に示されるように、溶接トーチ4が進行方向Aに
移動しながら溶接する際に、検出へラド1はそれと一体
となって移動する。該検出ヘッド1内の光源2より放射
されるレーザビームは、平行光束作成用の光学系9で平
行光束とされ5短冊状のレーザビームLBとされて被溶
接板5上に投射される。
移動しながら溶接する際に、検出へラド1はそれと一体
となって移動する。該検出ヘッド1内の光源2より放射
されるレーザビームは、平行光束作成用の光学系9で平
行光束とされ5短冊状のレーザビームLBとされて被溶
接板5上に投射される。
投射されたレーザビームLBによる前記被溶接板5上の
反射光F Lは、スリット状あるいは線状となり、前駅
被溶接板5の突き合せ溶接部6の長手方向に対して直角
となる。該反射光FLは散乱光であり、受像部3で撮像
され5画像信号として画像処理装置7に入力される。そ
の際、前記反射光FLによる画像信号のレベルは、被溶
接板5の部分は高く2突き合せ溶接部6の部分は低くな
る。
反射光F Lは、スリット状あるいは線状となり、前駅
被溶接板5の突き合せ溶接部6の長手方向に対して直角
となる。該反射光FLは散乱光であり、受像部3で撮像
され5画像信号として画像処理装置7に入力される。そ
の際、前記反射光FLによる画像信号のレベルは、被溶
接板5の部分は高く2突き合せ溶接部6の部分は低くな
る。
前記画像処理装置7は、前記画像信号の取り込みには\
゛同期て、即ち、33m5程度で輝度分布ノ処理を行な
い、マイクロコンピュータ8に入力する。該マイクロコ
ンピュータ8は、処理された画像信号の信号レベルの高
低に基き、最適なスレショルド・レベルで2値化処理し
、各走査線毎に走査方向に2値化処理後の“1”レベル
を加算処理する。加算処理後、新しく得られた信号分布
を基に、新たなスレショルド・レベルを決め、被溶接板
5の突き合せ溶接部6の両エツジ部の検出を行う。そし
て検出された両エツジ部位置に基き。
゛同期て、即ち、33m5程度で輝度分布ノ処理を行な
い、マイクロコンピュータ8に入力する。該マイクロコ
ンピュータ8は、処理された画像信号の信号レベルの高
低に基き、最適なスレショルド・レベルで2値化処理し
、各走査線毎に走査方向に2値化処理後の“1”レベル
を加算処理する。加算処理後、新しく得られた信号分布
を基に、新たなスレショルド・レベルを決め、被溶接板
5の突き合せ溶接部6の両エツジ部の検出を行う。そし
て検出された両エツジ部位置に基き。
エツジ幅とその中心位置を算出し、溶接トーチ4が倣う
べき溶接線を検出する。これらの操作は。
べき溶接線を検出する。これらの操作は。
はず100+++s以内で行われる。
以上の操作を突き合せ溶接部6の長手方向に連続的に行
うことにより、マイクロコンピュータ9の信号をコント
ローラ16に入力して、該コントローラ16を介して溶
接トーチ4を制御することにより、高精度の溶接線倣い
が可能となる。
うことにより、マイクロコンピュータ9の信号をコント
ローラ16に入力して、該コントローラ16を介して溶
接トーチ4を制御することにより、高精度の溶接線倣い
が可能となる。
この実施例の溶接線検出手段を用いれば、50μmの倣
い精度を得ることが可能である。
い精度を得ることが可能である。
また、被溶接材としては、鋼板のほかプラスチック等も
対象としてあげられる。
対象としてあげられる。
〈発明の効果〉
この発明によれば、被測定材の板厚が変化して段差が生
じた場合でも、その微小間隔部を高精度に測定すること
が可能となり、従って1例えば鋼板等の突き合せ溶接時
の溶接部の自動倣いを行うサイクルタイムの短縮が可能
となり、さらに前工程における剪断機の刃の劣化に対す
るバンクアップ等にも寄与するものである。
じた場合でも、その微小間隔部を高精度に測定すること
が可能となり、従って1例えば鋼板等の突き合せ溶接時
の溶接部の自動倣いを行うサイクルタイムの短縮が可能
となり、さらに前工程における剪断機の刃の劣化に対す
るバンクアップ等にも寄与するものである。
第1図は1本発明に係る微小間隔測定方法が採用された
溶接線検出装置の実施例の概略構成を示す、一部ブロフ
ク図を含む配置図、第2図は、前記実施例で用いられる
検出ヘッド内の構成を示す概略図、第3図(a)は5本
発明に係る投光系と受光系の焦点ずれのない位置関係を
説明する図。 第3図(b)は、入射角θ1と受像部の分解能との関係
を説明する図、第4図は1本発明に係る画像信号処理方
法を説明する図第5図は9段差がある場合の画像処理方
法を説明する回である。 l・・・検出ヘッド 2・・・光源3・・・受像部
4・・・溶接トーチ5・・・被溶接板
6・・・突き合せ溶接部7・・・画像処理装置 8
・・・マイクロコンピュータ9・・・コントローラ 第 l 図 竺 1 M 第4図 (a) (b) (a) (b) (c)(d) (d) 一一一一一一一一シー スレショルドレベル
溶接線検出装置の実施例の概略構成を示す、一部ブロフ
ク図を含む配置図、第2図は、前記実施例で用いられる
検出ヘッド内の構成を示す概略図、第3図(a)は5本
発明に係る投光系と受光系の焦点ずれのない位置関係を
説明する図。 第3図(b)は、入射角θ1と受像部の分解能との関係
を説明する図、第4図は1本発明に係る画像信号処理方
法を説明する図第5図は9段差がある場合の画像処理方
法を説明する回である。 l・・・検出ヘッド 2・・・光源3・・・受像部
4・・・溶接トーチ5・・・被溶接板
6・・・突き合せ溶接部7・・・画像処理装置 8
・・・マイクロコンピュータ9・・・コントローラ 第 l 図 竺 1 M 第4図 (a) (b) (a) (b) (c)(d) (d) 一一一一一一一一シー スレショルドレベル
Claims (3)
- (1)長手方向に微小間隔部を有して接する被測定材間
の微小間隔を測定するに際し、 前記被測定材に、投光部から放出された平行光束を、前
記微小間隔部の長手方向に対して直角方向にわたって反
射光が生ずるように照射し、前記被測定材の反射光を生
ずる部分において、前記平行光束面に対して受光軸が直
角になるように配設された受像部を用いて前記反射光を
撮像して画像信号を作成し、該作成された画像信号を処
理して前記微小間隔部の幅を測定することを特徴とする
微小間隔測定方法。 - (2)前記受像部は、受光中心軸と投光軸の交点を、被
測定材の平均板厚に相当する測定材の表面上に結ぶよう
に、配設されることを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の微小間隔測定方法。 - (3)前記画像信号の処理は、画像信号の強度分布に応
じて2値化処理し、2値化処理後の結果を各走査線毎に
走査線方向に積分処理して得られた新たな信号分布に基
いて、微小間隔部の幅を算出することを特徴とする特許
請求の範囲第1項および第2項記載の微小間隔測定方法
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20008786A JPH0610607B2 (ja) | 1986-08-28 | 1986-08-28 | 微小間隔測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20008786A JPH0610607B2 (ja) | 1986-08-28 | 1986-08-28 | 微小間隔測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6358104A true JPS6358104A (ja) | 1988-03-12 |
JPH0610607B2 JPH0610607B2 (ja) | 1994-02-09 |
Family
ID=16418638
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20008786A Expired - Lifetime JPH0610607B2 (ja) | 1986-08-28 | 1986-08-28 | 微小間隔測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0610607B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02223808A (ja) * | 1989-02-23 | 1990-09-06 | Mitsubishi Electric Corp | ワーク間の幅および段差検出装置 |
JPH03186705A (ja) * | 1989-12-15 | 1991-08-14 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 3次元形状寸法計測装置 |
CN102374848A (zh) * | 2011-09-14 | 2012-03-14 | 南京航空航天大学 | 复合材料铺放间隙图像的快速检测方法 |
-
1986
- 1986-08-28 JP JP20008786A patent/JPH0610607B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02223808A (ja) * | 1989-02-23 | 1990-09-06 | Mitsubishi Electric Corp | ワーク間の幅および段差検出装置 |
JPH03186705A (ja) * | 1989-12-15 | 1991-08-14 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 3次元形状寸法計測装置 |
CN102374848A (zh) * | 2011-09-14 | 2012-03-14 | 南京航空航天大学 | 复合材料铺放间隙图像的快速检测方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0610607B2 (ja) | 1994-02-09 |
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