JPS6350814A - 面倒れ補正走査光学系 - Google Patents

面倒れ補正走査光学系

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Publication number
JPS6350814A
JPS6350814A JP19621086A JP19621086A JPS6350814A JP S6350814 A JPS6350814 A JP S6350814A JP 19621086 A JP19621086 A JP 19621086A JP 19621086 A JP19621086 A JP 19621086A JP S6350814 A JPS6350814 A JP S6350814A
Authority
JP
Japan
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scanning
optical system
lens
tilt correction
deflector
Prior art date
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Pending
Application number
JP19621086A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Yamakawa
山川 和夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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Publication date
Application filed by Minolta Co Ltd filed Critical Minolta Co Ltd
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Priority to US07/072,723 priority patent/US4919502A/en
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、主としてレーザビームプリンタ等に用いられ
て、走査線の副走査方向についてのピンチのムラを除去
する面倒れ補正走査光学系に関する。
さらに詳述すると、光源から発した光線束を偏向器の偏
向反射面上に線状に結像する線状結像光学系と、前記偏
向器で反射偏向された光線束を被走査物上に結像する走
査結像光学系とを備えた面倒れ補正走査光学系に関する
レーザビームプリンタは、記録を極めて高速で行える利
点に加えて、昨今、その小型化と低コスト化が次第に実
現されてきており、OA機器の多様化及び発達に伴って
、増々その需要が高まっている。
例えば、このようなレーザビームプリンタにおいて、光
源からの光線束を走査するために用いられるポリゴンミ
ラー等の偏向器の偏向反射面には、製作誤差や取付誤差
、或いは、回転時の振動等によって、走査面に直交する
方向に対して多少の倒れ誤差がある。
そのため、このような倒れ誤差のある偏向反射面で反射
された光線束は、被走査物上での結像位置が副走査方向
にずれ、走査線のピッチのむらが生じる。そして、この
走査線のピッチむらは、例えば、レーザビームプリンタ
のような記録装置においては、記録の画質低下を引き起
こす。
前述した面倒れ補正走査光学系は、このような走査線の
ピッチむらを除去するためのものであり、光源からの光
線束を、−旦、線状結像光学系によって走査面に直交す
る方向に収束させて偏向器の偏向反射面上に線状に結像
させ、偏向反射点からの光線束を、走査結像光学系によ
ってこの方向において復元して被走査物上に共役に結像
することで、偏向反射面の倒れ誤差の影響を受けないよ
うにするものである。
一方、走査面内においては、被走査物上での光線束の走
査速度を等速なものとすべく、偏向反射面からの光線束
をこの光学系への入射角に比例する像高となるように被
走査物上に結像するものである。
なお、本明細書において、走査面とは、走査される光線
束の時系列的な集合によって形成される平面、即ち、被
走査物における主走査ラインと、この面倒れ補正走査光
学系の光軸とを含む平面を意味するものとする。
従来から、上述のような面倒れ補正走査光学系として、
種々の構成のものが提案されている。
その−例としては、特公昭52−28666号公![こ
おいて開示されているように、走査結像光学系が、線状
結像光学系によって線状に結像された光線束を偏向器に
よる反射後に一旦円形に復元整形するシリンドリカルレ
ンズ等のビーム整形光学系と、復元整形された光線束を
被走査物上に収束結像する収束光学系とからなるものが
ある。
この場合は、ビーム整形光学系によって光線束の復元整
形を行うように構成すると、ビーム整形光学系に円形ビ
ームに復元するという制約条件が課せられることになり
、光線束の等速走査性を得るために収束光学系に持たせ
る歪曲特性や、被走査物上での結像特性を良好にする自
由度が少なくなる。従って、この走査結像光学系として
上述の諸特性が優れたものを得るためには、多くのレン
ズが必要となり、光学系の構成が複雑になるものであっ
た。
その改良案として、特開昭50−93720号公報にお
いて開示されているように、前記シリンドリカルレンズ
等のビーム整形光学系を、収束光学系と被走査物との間
に介装したものがある。
このような構成の場合、良質な画像を得るためには、ビ
ーム整形光学系を被走査物に近接して設けなければなら
ない。そのため、このビーム整形光学系として主走査方
向に長いものが必要となり、コンパクトな構成にするこ
とが難しいものであった。
また、特開昭56−36622号公報において開示され
ているように、走査結像光学系として、偏向器側から順
に、球面単レンズとトーリフク面を有する単レンズとを
配置したものも知られている。そして、この走査結像光
学系は、光線束の等速走査性を得るための歪曲特性と、
線状結像光学系と協働して偏向反射面の倒れ誤差を補正
するための機能とをともに有している。
しかし、この構成の場合、光学系はコンパクトになって
いるものの、構成上、自由度が少なく、光線束の等速走
査性を得るための歪曲特性と、偏向反射面の倒れ誤差に
対する補正機能とを、ともに良好に維持するようにする
と、光線束の走査範囲を広いものとして画角の拡大を計
ることが難しいものであった。
本発明は上記実情に鑑みてなされたものであり、その目
的とするところは、結像特性や面倒れ補正機能を良好に
維持しながら、主走査方向について広画角化を計り、装
置をより一層コンパクトに構成できる面倒れ補正走査光
学系を提供することにある。
この目的を達成するべく、本発明による面倒れ補正走査
光学系は、偏向器で反射偏向された光線束を被走査物上
に結像する走査結像光学系を、偏向器側から順に、走査
面に直交する軸線を持つ第1のシリンドリカル面と走査
面内で光軸に直交する軸線を持つ第2のシリンドリカル
面とを有する第1レンズ、及び、トーリック面を有する
第2レンズを配置して構成したことを特徴とする。
なお、ここでの、および、以下本明細書中において、ト
ーリック面とは、面倒れ補正走査光学系の光軸に直交す
る面内において、光線束が走査される主走査方向と、こ
の主走査方向に直交する副走査方向とに、夫々、異なる
屈折力を有する屈折面を意味するものである。
また、シリンドリカル面とは、主走査方向と副走査方向
との何れか一方の方向にのみ屈折力を有し、他方の方向
には屈折力を有しない屈折面を意味し、トーリック面の
ひとつの形態である。
本発明による面倒れ補正走査光学系においては、シリン
ドリカル面とトーリック面とを、夫々、別のレンズに設
けることによって、走査面に直交する方向での結像特性
をかなり広範囲に亘って良好に維持することができ、設
計の自由度が増えた。そして、このことで、走査面に沿
う方向での設計の制約が軽減され、この方向において、
被走査物上での光線束の等速走査性を充分に高く維持で
きる歪曲特性を有しながら、結像特性を良好に維持し、
かつ、画角を広いものにできる。
さらに、走査面に直交する軸線を持つ第1のシリンドリ
カル面によって、走査面に沿う方向での設計の自由度も
増え、広い画角に亘って等速走査性を良好に維持するこ
とができる。
また、走査面に直交する方向において、偏向器の偏向反
射点と被走査物上での結像点とを、この走査結像光学系
に関して共役関係に維持しながら、倍率を広い範囲で設
定できる。そして、この倍率が低いほど面倒れ補正効果
は高くなる。
逆に倍率が高いほど結像特性が良くなりやすい。
従って、要求される性能に応じて、それに見合うように
倍率の設定を行うことができる。
そして、このように、設計の自由度が高められたことに
より、小さいサイズの光学系でも所望の性能に見合った
設計が比較的容易に行えるようになり、光学系の広角化
が計れ、コンパクトな構成のものにできるようになった
さらに、本発明によれば、第2レンズにおいて、トーリ
ック面に対向する面を平面ないし球面にすることで、ト
ーリック面の加工時における位置決めを正確に行うこと
ができるから、加工の手間を軽減することも可能になる
特に、第1レンズのシリンドリカル面に、走査面に直交
する方向に負の屈折力を持たせることで、広い範囲に亘
ってこの方向での結像特性を高(することができる。
また、走査面内で光軸に直交する軸線を持つ第1レンズ
の第2のシリンドリカル面を偏向器側に設けるとともに
、このシリンドリカル面に負の屈折力を持たせることに
よ・って、この負のシリンドリカル面と第2レンズのト
ーリック而とによって行われる、偏向器の偏向反射面の
面倒れに対する補正効果の高い光学系を、広い画角で実
現できる。
さらに、この構成に加えて第2レンズの偏向器側の面を
凹面にすることで、走査面に沿う方向に対して付与する
歪曲収差により光線束の等速走査性を高めながら、走査
面に直交する方向の結像特性を高めることができる。
また、この第1レンズが有する負の屈折力を持つ第2の
シリンドリカル面を被走査物側に設けることによって、
被走査物上において、走査面に直交する方向の結像特性
が広い範囲に亘って良好な光学系が得られる。
さらに、次の2つの条件は、夫々、本発明を実施するに
あたって、結像特性を良好に維持するために充足される
べきものである。
(イ)  fIH<0 但し、 fIH:走査面に沿った方向の第1レンズのの焦点距離 この条件は、主として、走査面に沿った方向において、
被走査物上での光線束の等速走査性を得るために意図的
に与える歪曲収差に係わるものである。この条件が満た
されない場合には、広画角でこの等速走査性を良好に維
持することが困難になり、実用に耐えない。
(01If r s/ f + J> 2但し、 fIv;走査面に直交する方向の第1レンズの焦点距離 この条件は、主として、走査面に直交する方向において
、球面収差と像面彎曲とを補正するためのものである。
この条件が満たされない場合には、上記両収差の補正を
広画角でバランスよく行うことが困難である。特に、像
面彎曲が充分に補正されていない場合には、スポット径
が走査線上で変動することとなり、同じく画質の劣化を
招来することとなる。
以下、本発明を具体的に説明する。本発明による面倒れ
補正走査光学系は、例えば、レーザビームプリンタ等の
レーザ走査装置において用いられる光学系である。
第10図に示すように、レーザ走査装置は、光源として
の半導体レーザ(1)、コリメータレンズ(2)、シリ
ンドリカルレンズ(3)、ポリゴンミラー(4)、fθ
レンズ(5)、及び、感光体ドラム(6)等から構成さ
れている。
半導体レーザ(1)からは、画像情報に応じて直接変調
されたレーザビーム(B)が発せられ、光線束の一例で
あるこのレーザビーム(B)はコリメータレンズ(2)
で平行光に整形される。その後、線状結像光学系の一例
であるシリンドリカルレンズ(3)により一旦線状に収
束され、偏向器の一例であるポリゴンミラー(4)の偏
向反射面(4a)に結像する。この偏向反射面(4a)
で反射された後のレーザビーム(B)は、ポリゴンミラ
ー(4)の回転に伴って偏向され、走査結像光学系の一
例であるfθレンズ(5)によって感光体ドラム(6)
上に結像されて図中A方向に走査される。
面倒れ補正走査光学系は、上述した線状結像光学系(3
)と、2つのレンズ(Gl) 、 (G2)から構成さ
れる走査結像光学系(5)とからなり、偏向器(4)の
偏向反射面(4a)の而倒れにより生じる走査線のピッ
チのずれを除去するものである。以下、走査結像光学系
(5)の具体構成を示す実施例の諸元を示す。
なお、実施例は3例あり、夫々、第1図ないし第3図に
示すレンズ構成図、及び、第4図ないし第9図に示す収
差図に対応している。下記の第1表にその対応関係を一
括して示す。
第1表 各レンズ構成図において、(イ)は走査面に沿って切断
したレンズ配置を、また、(r+)は走査面に直交する
面に沿って切断したレンズ配置を、夫々示すものである
。なお、反射面の符号の肩に符した[*]はシリンドリ
カル面を、[**コはトーリック面を夫々示す。なお、
レンズ面の符号と軸上面間隔との表示は、各実施例の(
イ)のレンズ構成図のみとし、(rl)のレンズ構成図
においては、異なるもの以外はその表示を省略する。
また、走査面に沿った方向の収差図において、歪曲収差
は、光線束の等速走査性を得るための理想像高を、 f・θ 但し、 θ;入射角[偏向された光線束がレンズ光軸となす角度
コ f:走査面に沿った方向の全ての走査結像光学系の焦点
距離 とし、次式で示すこの理想像高からの実際の像高の偏差
の百分率で表しである。
((y’−fθ)/ fθ)X100(%)但し、 y゛:実際の像高 その他、各実施例諸元において、 2ω:最大入射角 nl;第1レンズ(G1)を構成する光学材料の屈折率
[780nmにおける] n2:第2レンズ(G2)を構成する光学材料の屈折率
[780nmにおける] fl、l:走査面に沿った方向の第1レンズ(G1)の
焦点距離 Lv :走査面に直交する方向の第1レンズ(G1)の
焦点距離 〈実施例1〉 f=125.  F陶5012ω=971f+H=  
271.251  flv =  100.117  
fl、I/Lv−2,71〈実施例2〉 f=125.  F隘50,2ω=97゜fu+=  
996.16   flv =  15.484  f
l、Iz’f+v=64.33(実施例3〉 f=125.  Fllh50. 2ω=97’LH=
−255,78fly”  62.490  ft+<
/Lv=4.09
【図面の簡単な説明】
図面は本発明に係る面倒れ補正走査光学系の実施例を示
し、第1図ないし第3図は各実施例のレンズ構成図で、
第1図ないし第3図の(イ)は走査面に沿った方向で切
断したレンズ構成図、第1図ないし第3図の(ロ)は走
査面に直交する方向で切断したレンズ構成図、第4図な
いし第6図は各実施例における走査面に沿った方向の収
差図、第7図ないし第9図は各実施例における走査面に
直交する方向の収差図、第10図はレーザビームプリン
タの走査装置の概略構成図である。 (1)・・・・・・光源、(3)・・・・・・線状結像
光学系、(4)・・・・・・偏向器、(4a)・・・・
・・偏向反射面、(5)・・・・・・走査結像光学系、
(6)・・・・・・被走査物、(B)・・・・・・光線
束、(G1)・・・・・・第1レンズ、(G2)・・・
・・・第2レンズ。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光源から発した光線束を偏向器の偏向反射面上に
    線状に結像する線状結像光学系と、前記偏向器で反射偏
    向された光線束を被走査物上に結像する走査結像光学系
    とを備えた面倒れ補正走査光学系であって、前記走査結
    像光学系が、前記偏向器側から順に、走査面に直交する
    軸線を持つ第1のシリンドリカル面と走査面内で光軸に
    直交する軸線を持つ第2のシリンドリカル面とを有する
    第1レンズ、及び、トーリック面とを有する第2レンズ
    を配置して構成されたものである面倒れ補正走査光学系
  2. (2)前記第1レンズが、走査面に直交する方向に負の
    屈折力を持つものである特許請求の範囲第(1)項に記
    載の面倒れ補正走査光学系。
  3. (3)前記第2のシリンドリカル面が、前記第1レンズ
    の前記偏向器側に位置し、負の屈折力を持つものである
    特許請求の範囲第(2)項に記載の面倒れ補正走査光学
    系。
  4. (4)前記第2のシリンドリカル面が、前記第1レンズ
    の前記被走査物側に位置し、負の屈折力を持つものであ
    る特許請求の範囲第(2)項に記載の面倒れ補正走査光
    学系。
  5. (5)前記第1レンズが、走査面に沿う方向に負の屈折
    力を持つものである特許請求の範囲第(1)項または第
    (3)項または第(4)項の何れかに記載の面倒れ補正
    走査光学系。
  6. (6)前記第1レンズが、次の条件を満たすものである
    特許請求の範囲第(2)項ないし第(5)項の何れかに
    記載の面倒れ補正走査光学系。 |f_1_H/f_1_V|>2 但し、 f_1_H:走査面に沿った方向の第1レンズの焦点距
    離 f_1_V:走査面に直交する方向の第1レンズの焦点
    距離
JP19621086A 1986-07-14 1986-08-21 面倒れ補正走査光学系 Pending JPS6350814A (ja)

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US07/072,723 US4919502A (en) 1986-07-14 1987-07-13 Tilt error corrective scanning optical system
US07/710,289 USRE34438E (en) 1986-07-14 1991-06-04 Tilt error corrective scanning optical system

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02146015A (ja) * 1988-08-19 1990-06-05 Ricoh Kogaku Kk 光走査装置におけるfθレンズ系
JPH02181712A (ja) * 1989-01-09 1990-07-16 Canon Inc 色消しレーザ走査光学系
US5343325A (en) * 1992-02-05 1994-08-30 Fuji Photo Optical Co., Ltd. Optical scanning system with tilt correction function

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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