JPS6348431A - Lens inspecting device - Google Patents
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Landscapes
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野コ
本発明は、単レンズの表面およびそのレンズのガラス内
部の状態を検査するレンズ検査装置に関し、特に被検査
体である単レンズの表面およびそのレンズのガラス内部
の状態をテレビカメラで撮像し、その撮像出力の映像信
号を処理して、レンズの欠陥を抽出し、レンズの良・不
良の合否判定を自動的に行うレンズ検査装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a lens inspection device for inspecting the surface of a single lens and the condition inside the glass of the lens. The present invention relates to a lens inspection device that images the internal state of the glass of a lens with a television camera, processes the video signal output from the image, extracts defects in the lens, and automatically determines whether the lens is good or bad.
［従来の技術］
従来、例えばカメラ用レンズ等のレンズを組み立てる場
合に、組み付ける単レンズの良否の検査は一般的に作業
者の目視によって行っていた。[Prior Art] Conventionally, when assembling a lens such as a camera lens, the quality of a single lens to be assembled has generally been inspected visually by an operator.
一方、このような検査を自動化するため、テレビカメラ
でレンズを撮像し、撮像して得た映像信号をディジタル
信号に変換し、そのディジタル信号を記憶してプログラ
ム処理を行い、レンズの良否の判定をするレンズ検査装
置が提供されていた。On the other hand, in order to automate such inspections, the lens is imaged with a television camera, the image signal obtained from the image is converted into a digital signal, and the digital signal is stored and programmed to be processed to determine whether the lens is good or bad. A lens inspection device was provided.
［発明が解決しようとする問題点］
しかしながら、従来の目視によるレンズ検査方法は、作
業者の経験による判断および官能的な判断によって行わ
れるので、作業者の疲労度や個人差により判定にばらつ
きが生ずるという欠点があった。また、レンズを手扱い
するので、レンズを汚損することがある等の欠点もあっ
た。[Problems to be Solved by the Invention] However, the conventional visual lens inspection method is based on the operator's judgment based on experience and sensual judgment, so the judgment may vary depending on the worker's fatigue level and individual differences. There was a drawback that it occurred. In addition, since the lenses are handled by hand, there are also drawbacks such as the lenses may get dirty.
また、目視検査を自動化した上述のようなレンズ検査装
置は以上のような欠点はないが、映像信号を記憶した後
、プログラム処理により判定を行うので処理時間が長く
なるという欠点があった。Further, although the above-mentioned lens inspection apparatus that automates the visual inspection does not have the above-mentioned drawbacks, it does have the disadvantage that the processing time becomes long because the determination is made by program processing after storing the video signal.
さらに、レンズは球面および凸面凹面の形状をした上、
多種の形状をしているので、そのレンズの全面を検査す
る場合には撮影回数が多くなり、処理時間が自ずと長く
なるという欠点があった。また、多種形状で多種多様な
レンズ欠陥を検査するので複雑な装置となるという欠点
もあった。Furthermore, the lenses have spherical, convex and concave shapes, and
Since the lens has a variety of shapes, there is a drawback that when inspecting the entire surface of the lens, the number of shots is increased, which naturally lengthens the processing time. Another drawback is that it is a complicated device because it inspects a wide variety of lens defects in a wide variety of shapes.
本発明は、上述の欠点を除去し、レンズ特有な形状であ
る球面および凸面、凹面の形状の全面検査を１台の検査
装置で高速に対処でき、かつ、レンズ特有の欠陥項目で
ある材料表面のきす、端面周辺（輪郭部）部の材料かけ
、また材料内部の気泡、クランクと表面のコーテイング
膜のきず、＠の極部ぬけ、およびコーティング薬品の粒
大あるいは汚れやごみ、けば付着等の多種な欠陥項目の
検出および合否の判断を自動的に行うことが可能なレン
ズ検査装置を提供することを目的とする。The present invention eliminates the above-mentioned drawbacks, enables high-speed inspection of the entire surface of spherical, convex, and concave shapes, which are unique to lenses, with one inspection device. Scratches, scraping of material around the edge (contour), air bubbles inside the material, scratches on the coating film on the crank and surface, leakage at the extreme part of the @, particle size of coating chemicals, dirt, dust, lint, etc. It is an object of the present invention to provide a lens inspection device capable of automatically detecting various defect items and determining pass/fail.
［問題点を解決するための手段］
かかる目的を達成するために、本発明は被検査体である
単レンズに透過検査用照明または反射検査用照明で照射
する照明手段と、照明手段で照射されたレンズの像を撮
像して映像信号を出力する撮像手段と、映像信号からレ
ンズの欠陥を示す欠陥信号を抽出する信号処理手段と、
撮像手段で撮像したレンズの像の中心部と輪郭部の２つ
に分けて検査範囲を出力する検査範囲出力手段と、検査
範囲出力手段から出力する検査範囲内の信号処理手段か
ら出力する欠陥信号に基づき、レンズの合否の判定を行
う判定手段とを具備し、判定手段は、映像信号の実時間
において、中心部では映像信号の処理後の中心部検査範
囲内の２値化信号時間を計測し、計測した２値化信号時
間が所定の基準時間範囲内か否かを比較して合否の判定
を行い、かつ輪郭部では輪郭検査範囲内のテレビ水平走
査線毎に輪郭部の２値化信号幅を計測し、計測した２値
化信号幅が基準幅範囲内か否かを比較して、さらに基準
幅範囲の外の走査線数が基準走査線数範囲内か否かを比
較して合否の判定を行い、中心部と輪郭部の合否判定処
理において共に基準範囲内との判定時にはレンズは良品
と判定し、いずれか一方でも基準範囲外との判定の時に
はレンズは不良品と判定する事を特徴とする。[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the present invention provides an illumination means for illuminating a single lens, which is an object to be inspected, with transmission inspection illumination or reflection inspection illumination, and an imaging means for capturing an image of the lens and outputting a video signal; a signal processing means for extracting a defect signal indicating a defect in the lens from the video signal;
Inspection range output means outputs an inspection range divided into two parts, a center part and an outline part, of an image of the lens captured by the imaging means, and a defect signal outputted from the signal processing means within the inspection range outputted from the inspection range output means. and a determination means for determining pass/fail of the lens based on the above, and the determination means measures the binarized signal time within the center inspection range after processing the video signal at the center in the real time of the video signal. Then, a pass/fail judgment is made by comparing whether the measured binarized signal time is within a predetermined reference time range, and in the case of contours, the binarization of the contours is performed for each television horizontal scanning line within the contour inspection range. Measure the signal width, compare whether the measured binarized signal width is within the standard width range, and further compare whether the number of scanning lines outside the standard width range is within the standard scanning line number range. A pass/fail judgment is made, and in the pass/fail judgment process for the center and contour parts, if both are within the reference range, the lens is judged to be good, and if either is judged to be outside the reference range, the lens is judged to be defective. characterized by things.
［イ乍用］
本発明では、レンズ特有の形状である球面および凸面凹
面の形状のレンズ体に対して、１台の検査装置で全面の
検査を高速に処理でき、レンズの欠陥項目である材料表
面のぎす、端面周辺（輪郭部）の材料かけ、材料内部の
気泡、クラック、表面のコーテイング膜のきす、コーデ
ィング膜の極部ぬけ、コーティング材料の粒大、汚れ、
およびレンズへのごみ・けば付着等の多種の欠陥項目の
検出をすることができ、これら検出によってレンズの合
否の判定を自動的に容易に行うことができる。[For use] In the present invention, it is possible to quickly inspect the entire surface of a lens body with a spherical surface and a convex/concave shape, which are unique to lenses, with one inspection device. Scratches on the surface, scraping of material around the edges (contours), air bubbles and cracks inside the material, scratches on the coating film on the surface, extreme parts of the coating film, particle size of the coating material, dirt,
It is also possible to detect various types of defects such as dust and lint attached to the lens, and it is possible to automatically and easily determine whether the lens is acceptable or not based on these detections.
すなわち、本発明によれば、
■ レンズの合否判定処理を行う判定手段に中心部と輪
郭部の２つを設けたのでレンズ特有の周辺部のかけや、
こば部の反射防止のための墨塗りはみだし不良などを確
実に検出できる。That is, according to the present invention, (1) Since the determining means for performing the pass/fail determination process for the lens is provided with two parts, one for the center part and one for the outline part, it is possible to eliminate
It is possible to reliably detect defects such as ink painting on edges to prevent reflection.
■ 被検査レンズを撮像して得た映像信号を２値化する
にあたって、その映像信号を２分し、一方を少し遅延さ
せて両者の差分をとるようにしたので、レンズの球面形
状等によるテレビカメラの受光する光量の不均一な受光
光量の中から欠陥部のみを抽出することができる。■ When we binarized the video signal obtained by imaging the lens to be inspected, we divided the video signal into two, delayed one part a little, and took the difference between the two. Only the defective portion can be extracted from the uneven amount of light received by the camera.
■ 検査用照明として、透過検査用および反射検査用を
具えたので、１個の検査装置でレンズの材料不良ばかり
でなくレンズ表面のコーテイング膜不良の検出もできる
。(2) Since inspection illumination is provided for transmission inspection and reflection inspection, one inspection device can detect not only defects in the lens material but also defects in the coating film on the lens surface.
■ 検査用照明をテレビ垂直同期信号に同期して発光さ
せ、被検査レンズを所定回転、例えば３６００／ｎｒｐ
ｍ（ｎ−円周分割数）の回転数で回転するようにしたの
で被検査レンズを連続的に回転したままで欠陥検査をす
ることが可能となった。また、処理手段をハード回路で
構成することができるので、出力映像信号を実時間で処
理することができ、これによって高速に検査ができる。■ Light for inspection is emitted in synchronization with the TV vertical synchronization signal, and the lens to be inspected is rotated at a predetermined rate, for example, 3600/nrp.
Since the lens rotates at a rotation speed of m (n - number of circumferential divisions), it is possible to inspect the lens for defects while continuously rotating the lens to be inspected. Furthermore, since the processing means can be constructed from a hardware circuit, the output video signal can be processed in real time, thereby enabling high-speed inspection.
■ さらに被検査レンズを左右、上下方向に穆勧し、か
つ傾ける機構と、テレビカメラを合焦点方向に移動する
機構とおよびレンズの検査範囲出力手段として中心部お
よび輪郭部の２つを具えたので、さまざまな異種形状の
被検査レンズの検査ができる。■ Furthermore, it is equipped with a mechanism for moving and tilting the lens to be inspected in the horizontal and vertical directions, a mechanism for moving the television camera toward the in-focus point, and two parts for outputting the inspection range of the lens: the center part and the contour part. Therefore, it is possible to inspect lenses of various different shapes.
［実施例］
以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明す
る。[Example] Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
第１図は本発明実施例の基本的な構成を示す。FIG. 1 shows the basic configuration of an embodiment of the present invention.
第１図において、ａおよびａ′は照明手段であり、ａは
反射光用、ａ′は透過光用の照明手段である。ｂは被検
査レンズである。Ｃは被検査レンズｂの姿勢１位置およ
び回転をあらかじめ設定した手順に従って制御するレン
ズ移動手段である。In FIG. 1, a and a' are illumination means, a for reflected light and a' for transmitted light. b is a lens to be inspected. C is a lens moving means that controls the posture and rotation of the lens b to be inspected according to a preset procedure.
ｄは被検査レンズｂから反射したり、透過して来た光を
受けて、映像信号を発生する撮像手段であり、例えばテ
レビカメラ等からなる。ｅは２値化手段であり、撮像手
段ｄからの映像信号を２分し、一方を所定時間わずかに
遅延させて両者の信号の差分をとり、２値化する。Reference numeral d denotes an imaging means that generates a video signal by receiving light reflected or transmitted from the lens b to be inspected, and is comprised of, for example, a television camera. Denoted at e is a binarization means, which divides the video signal from the imaging means d into two parts, delays one part slightly for a predetermined period of time, calculates the difference between the two signals, and binarizes the video signal.
ｆは検査範囲出力手段であり、レンズ部位の検査範囲を
決定し、検出範囲信号を出力する。すなわち、検査範囲
出力手段ｆは撮像手段ｄで撮像したレンズ像に合う検査
範囲指示データとして被検査レンズｂの中心部と輪郭部
に分けた２種の検査範囲データを映像信号に同期して出
力する。ｇは例えばゲート回路からなる信号抽出手段で
あり、検査範囲出力手段ｆから出力される２種の検査範
囲データに基づき、２値化手段ｅの出力信号から被検査
レンズｂの中心部と輪郭部における信号を抽出して出力
する。ｈは判定手段であり、信号抽出手段ｇの出力信号
に基づき、検査レンズｂの欠陥の有無の判定を行う。f is an inspection range output means which determines the inspection range of the lens part and outputs a detection range signal. That is, the inspection range output means f outputs two types of inspection range data divided into the center part and the contour part of the lens to be inspected b in synchronization with the video signal as inspection range instruction data matching the lens image captured by the imaging means d. do. g is a signal extraction means consisting of, for example, a gate circuit, and based on the two types of inspection range data output from the inspection range output means f, extracts the center and contour parts of the lens b to be inspected from the output signal of the binarization means e. Extract and output the signal at. Denoted by h is a determining means, which determines whether or not there is a defect in the inspection lens b based on the output signal of the signal extracting means g.
第２図は本発明の一実施例の全体の構成を示す。FIG. 2 shows the overall configuration of an embodiment of the present invention.
１は被検査レンズであり、１′は被検査レンズ１をセッ
トするための台座であり、回動自在となっている。１″
は台座１′を介して被検査レンズを支持するベース板で
ある。２は被検査レンズ１を本図のｘ−ｘ’で示す水平
方向に移動するためのモーターであり、２′はモーター
２の駆動によりｘ−ｘ’力方向移動するステージである
。３は被検査レンズ１を本図のｙ−ｙ’で示す垂直方向
に移動するためのモーターであり、３′はモーター３の
駆動によりｙ−ｙ’力方向移動するステージである。1 is a lens to be inspected, and 1' is a pedestal for setting the lens 1 to be inspected, which is rotatable. 1″
is a base plate that supports the lens to be inspected via a pedestal 1'. 2 is a motor for moving the lens 1 to be inspected in the horizontal direction indicated by xx' in the figure, and 2' is a stage that is driven by the motor 2 to move in the xx' force direction. 3 is a motor for moving the lens 1 to be inspected in the vertical direction indicated by y-y' in the figure, and 3' is a stage that is driven by the motor 3 to move in the y-y' force direction.
４は被検査レンズ１を本図のφで示す回転方向に傾ける
ためのモーターであり、４′はモーター４をステージ３
′に固定する支持具である。モーター４の回転軸の先端
はベース板１″に固定されていて、モーター４を回転す
ることにより被検査レンズ１を傾けることができる。4 is a motor for tilting the lens 1 to be inspected in the rotational direction indicated by φ in this figure, and 4' is a motor that moves the motor 4 to the stage 3.
It is a support that is fixed to '. The tip of the rotating shaft of the motor 4 is fixed to the base plate 1'', and by rotating the motor 4, the lens 1 to be inspected can be tilted.
これらのモーター２．３および４の回転を制御すること
により、被検査レンズ１の形状に適した検査位置に被検
査レンズ１を位置決めすることができる。By controlling the rotation of these motors 2.3 and 4, the lens 1 to be inspected can be positioned at an inspection position suitable for the shape of the lens 1 to be inspected.
５は被検査レンズ１を回転させるためのモーターであり
、ベルト６を介して台座１′に取付けた被検査レンズｌ
を光軸を中心にして回転させる。Reference numeral 5 denotes a motor for rotating the lens 1 to be inspected, and the lens 1 to be inspected is attached to the pedestal 1' via a belt 6.
rotate around the optical axis.
７はモーター８の駆動によフて移動されるステージ８′
を載置する架台であり、所定の傾斜をもってステージ８
′を摺動可能に載置している。7 is a stage 8' that is moved by the drive of a motor 8.
stage 8 with a predetermined inclination.
′ is slidably placed on it.
９は被検査レンズ１を撮像するテレビカメラであり、工
０はテレビカメラ９のレンズである。これらのテレビカ
メラ９およびレンズｌＯはステージ８′に固定されてお
り、また架台７の傾斜面と同じ傾きで平行にセットされ
ている。Reference numeral 9 is a television camera that takes an image of the lens 1 to be inspected, and reference numeral 0 is a lens of the television camera 9. These television camera 9 and lens 10 are fixed to a stage 8' and are set parallel to and at the same inclination as the inclined surface of the pedestal 7.
また、上述のステージ８′を移動するモーター８０回転
を制御することにより、所定の検査位置での被検査レン
ズ１の面にテレビカメラ９の焦点（ピント）を合わせる
ことができる。なお、これらのモーター２，３，４．５
および８の駆動制御は後述の駆動系制御部（第３図の４
０）で行う。Furthermore, by controlling the rotation of the motor 80 for moving the stage 8', the television camera 9 can be focused on the surface of the lens 1 to be inspected at a predetermined inspection position. In addition, these motors 2, 3, 4.5
The drive control at 8 and 8 is performed by the drive system control section (4 in Fig. 3), which will be described later.
0).
透過検査や反射検査にあたっての最適検査位置の設定や
テレビカメラ９のピント合せの設定は次のように行う。The setting of the optimum inspection position for transmission inspection and reflection inspection and the setting of the focus of the television camera 9 are performed as follows.
まずステージ２’ 、３’ 、モーター４およびステー
ジ８′をそれらの各原点位置から手動操作（人手操作と
もいう）によって、それぞれ適宜移動させて、同時にテ
レビカメラ９の出力を再生する後述のテレビモニター（
第３図の１３）の映像を見ながら透過検査や反射検査に
最適な位置を決めて行く。このような手動操作によフて
検査位置やテレビカメラ９のピント位置を決めて行くが
、このときの各検査位置での各ステージ２’ 、３’
、モーター４およびステージ８′の位置、すなわち、各
原点位置からの各検査位置での移動量を自動的に読みと
り、後述する主制御回路（第３図の３１）に記憶して行
く。その後、自動的に検査を行う場合は、その主制御回
路に記憶した各検査位置での上述の移動量を基にステー
ジ２’ 、３’ 、モーター４およびステージ８′の移
動と位置を決め、各検査位置において順次レンズの検査
を行う自動制御を行う。First, the stages 2', 3', the motor 4, and the stage 8' are moved as appropriate from their respective origin positions by manual operation (also referred to as manual operation), and at the same time the output of the television camera 9 is reproduced on a television monitor (described later). (
Determine the optimal position for transmission inspection and reflection inspection while watching the image 13) in Figure 3. The inspection position and the focus position of the television camera 9 are determined by such manual operations. At this time, each stage 2', 3' at each inspection position is determined.
, the positions of motor 4 and stage 8', that is, the amount of movement from each origin position to each inspection position, are automatically read and stored in a main control circuit (31 in FIG. 3) to be described later. Thereafter, when performing automatic inspection, the movements and positions of stages 2', 3', motor 4, and stage 8' are determined based on the above-mentioned movement amount at each inspection position stored in the main control circuit. Automatic control is performed to sequentially inspect lenses at each inspection position.
１１は透過検査用照明装置であり、１２は反射検査用照
明装置である。これらの照明装置は必要に応じて切り換
えて発光させる。なお、両者が同時に発光することはな
い。11 is an illumination device for transmission inspection, and 12 is an illumination device for reflection inspection. These lighting devices are switched to emit light as needed. Note that both do not emit light at the same time.
第３図は第２図の本発明実施例の動作制御および検査処
理を行う電気的系統の構成例を示す。第３図において、
１３は上述のテレビカメラ９から送られるテレビ信号を
映像化するテレビモニター（受信装置）である、 １４
はテレビカメラ９からの映像信号を伝送する信号線であ
り、１４’ は切り換えスイッチである。１５はテレビ
カメラ９からの映像信号を２値化する映像信号２値化処
理回路であり、１６はその映像信号２値化処理回路１５
の出力信号を伝送する信号線である。切換えスイッチ１
４′を切り換えることにより、モニター１３にテレビカ
メラ９からの映像と２値化処理回路１５からの出力を切
り換えて表示することができる。FIG. 3 shows an example of the configuration of an electrical system that performs operation control and inspection processing in the embodiment of the present invention shown in FIG. In Figure 3,
13 is a television monitor (receiving device) that visualizes the television signal sent from the television camera 9, 14
14' is a signal line that transmits a video signal from the television camera 9, and 14' is a changeover switch. 15 is a video signal binarization processing circuit that binarizes the video signal from the television camera 9; 16 is the video signal binarization processing circuit 15;
This is a signal line that transmits the output signal. Changeover switch 1
By switching 4', it is possible to switch and display the video from the television camera 9 and the output from the binarization processing circuit 15 on the monitor 13.
１７は中心部検査範囲出力回路であり、被検査レンズの
中心部を検査範囲とする指示信号を出力する。 １８は
輪郭部検査範囲出力回路であり、被検査レンズの輪郭部
を検査範囲とする指示信号を出力する。１９は中心部検
査範囲出力回路の出力信号を伝送する信号線、２０は輪
郭部検査範囲出力回路１８の出力信号を伝送する信号線
である。２１は上述の信号線１６の信号と信号＆１１９
の信号の論理積をとるアンド回路であり、２２は上述の
信号線１６の信号と信号線２０の信号の論理積をとるア
ンド回路である。２３はアンド回路２１の出力信号を伝
送する信号線であり、２４はアンド回路２２の出力信号
を伝送する信号線である。２５は信号線２３の信号と信
号線２４の信号の論理和をとるオア回路であり、このオ
ア回路２５の出力端子は切換えスイッチ１４′の一方の
接点に接続している。Reference numeral 17 denotes a center inspection range output circuit, which outputs an instruction signal that sets the center of the lens to be inspected as the inspection range. Reference numeral 18 denotes a contour inspection range output circuit, which outputs an instruction signal to set the contour of the lens to be inspected as the inspection range. Reference numeral 19 indicates a signal line for transmitting the output signal of the center inspection range output circuit, and 20 indicates a signal line for transmitting the output signal of the contour inspection range output circuit 18. 21 is the signal of the above-mentioned signal line 16 and signal &119
22 is an AND circuit that takes the logical product of the signals on the signal line 16 and the signal on the signal line 20. 23 is a signal line that transmits the output signal of the AND circuit 21, and 24 is a signal line that transmits the output signal of the AND circuit 22. Reference numeral 25 denotes an OR circuit which performs the logical sum of the signal on the signal line 23 and the signal on the signal line 24, and the output terminal of this OR circuit 25 is connected to one contact of the changeover switch 14'.
２６はアンド回路２１の出力信号を基にレンズの中心部
を判定する中心部判定回路であり、２７はアンド回路２
２の出力信号を基にレンズの輪郭部を判定する輪郭部判
定回路である。２８は中心部判定回路２６の出力信号を
伝送する信号線であり、２９は輪郭部判定回路２７の出
力信号を伝送する信号線である。３０は信号線２８の信
号と信号線２９の信号の論理和をとるオア回路であり、
オア回路３０の出力は判定結果として外部に出力される
。26 is a center determination circuit that determines the center of the lens based on the output signal of the AND circuit 21; 27 is the AND circuit 2;
This is a contour portion determination circuit that determines the contour portion of a lens based on the output signal of No. 2. 28 is a signal line that transmits the output signal of the center portion determination circuit 26, and 29 is a signal line that transmits the output signal of the contour portion determination circuit 27. 30 is an OR circuit that takes the logical sum of the signal on the signal line 28 and the signal on the signal line 29;
The output of the OR circuit 30 is output to the outside as a determination result.
３１は本発明に係る全体の制御を行う主制御回路であり
、マイクロコンピュータやメモリ等を有する。３２，３
３，３４，３５，３６．３７は主制御回路３１からの制
御線である。３８はテレビ同期信号発生回路であり、テ
レビカメラ９はテレビ同期信号発生回路３８の信号と同
期して撮像を行う。３９は２つの照明装置１１．１２の
照明用電源および電源切換回路である。４０はモーター
２，３，４，５．８を駆動制御する駆動系制御部である
。テレビ同期信号発生回路３８の出力信号３８′ は中
心部検査範囲出力回路１７、輪郭部検査範囲出力回路１
８および照明用電源および電源切換回路３９にも供給さ
れる。A main control circuit 31 performs overall control according to the present invention, and includes a microcomputer, memory, and the like. 32,3
3, 34, 35, 36, and 37 are control lines from the main control circuit 31. 38 is a television synchronization signal generation circuit, and the television camera 9 performs imaging in synchronization with the signal of the television synchronization signal generation circuit 38. 39 is a lighting power supply and a power supply switching circuit for the two lighting devices 11 and 12. 40 is a drive system control section that drives and controls the motors 2, 3, 4, and 5.8. The output signal 38' of the TV synchronization signal generation circuit 38 is transmitted to the center inspection range output circuit 17 and the contour inspection range output circuit 1.
8 and also to the lighting power supply and power supply switching circuit 39 .
第４図は、上述の映像信号２値化処理回路１５の構成例
を示す。第５図はその映像信号２値化処理回路１５を構
成する各部の信号波形を示す。FIG. 4 shows an example of the configuration of the video signal binarization processing circuit 15 described above. FIG. 5 shows signal waveforms of each part constituting the video signal binarization processing circuit 15.
第４図に示すように、テレビカメラ９からの映像信号は
信号線１４を通って映像信号２値化処理回路の増幅器４
３に人力する。この増幅器４３に人力するテレビカメラ
９からの映像信号は、レンズ表面で反射された光、ある
いはレンズ内を透過した光をカメラ９で映像信号に変換
したもので、例えば第５図の５１に示すような波形を有
している。すなわち、信号Ｓ１において、Ｓはテレビ同
期信号の水平同期信号、■は映像信号の連続部、ｎｌお
よびｎ２はそれぞれレンズの傷などの欠陥により映像信
号に発生した急激な信号変化をともなう不連続部である
。As shown in FIG. 4, the video signal from the television camera 9 passes through the signal line 14 to the amplifier 4 of the video signal binarization processing circuit.
3. Manpower. The video signal from the television camera 9 that is input to the amplifier 43 is the light reflected on the lens surface or the light transmitted through the lens that is converted into a video signal by the camera 9, for example as shown in 51 in FIG. It has a waveform like this. That is, in the signal S1, S is the horizontal synchronization signal of the TV synchronization signal, ■ is the continuous part of the video signal, and nl and n2 are the discontinuous parts with sudden signal changes that occur in the video signal due to defects such as scratches on the lens. It is.
増幅器４３では、出力インピーダンス変換を行うととも
に、映像信号の振幅が飽和しない程度に増幅する。増幅
器４３の出力映像信号は信号線４４にとり出され、遅延
器４５と、減算器４６とに供給される。遅延器４５では
一定微小時間の遅延が映像信号に与えられ、遅延器４５
の出力信号線４５′ には−水平分の映像信号Ｓ１に対
して第ｃ図に破線で示したように遅れた連続部ｖ′、不
連続部ｎ 、／およびｎ２′を含む映像信号５１’がと
り出され信号線４５″を通じて減算器４６に供給される
。この遅延器４５によつて欠陥信号（不連続部）ｎｉ、
ｎ２の立上りおよび立下り時間に差を生じることになる
。The amplifier 43 performs output impedance conversion and amplifies the video signal to such an extent that the amplitude does not saturate. The output video signal of the amplifier 43 is taken out to a signal line 44 and supplied to a delay device 45 and a subtracter 46. In the delay device 45, a delay of a certain minute time is given to the video signal, and the delay device 45
The output signal line 45' includes a video signal 51' that includes a delayed continuous part v', discontinuous parts n, and n2' as shown by broken lines in FIG. c with respect to the horizontal video signal S1. is taken out and supplied to a subtracter 46 through a signal line 45''.This delayer 45 outputs defect signals (discontinuities) ni,
This will result in a difference in the rise and fall times of n2.
減算器４６では、信号線４４からの映像信号と信号線４
５′からの遅延した映像信号との差分演算が行われ、そ
の演算結果は信号線４７に出力される。信号線４７の差
分出力信号は第５図の５２に示したように、その連続部
の差分値ｖ−ｖ’ はほぼ一定レベルとなり、この差分
値ｖ−ｖ’ に対して不連続部の差分値ｎ、−ｎ、’お
よびｎ２−ｎ２’は急激レベル変化として現われる。In the subtracter 46, the video signal from the signal line 44 and the signal line 4
A difference calculation with the delayed video signal from 5' is performed, and the calculation result is output to the signal line 47. As shown at 52 in FIG. 5, the differential output signal of the signal line 47 has a continuous portion of the differential value v-v' at a nearly constant level, and a discontinuous portion of the differential output signal with respect to this differential value v-v'. The values n, -n,' and n2-n2' appear as abrupt level changes.
信号線４７に現われた差分出力信号Ｓ２は第１の比較器
４８と第２の比較器４９とに供給され、第１の比較器４
８で上限の基準値ｒ、と比較され、第２の比較器４９で
下限の基準値ｒ２と比較される。その結果、第１の比較
器４８の出力信号線５０には、信号Ｓ２における基準値
ｒ１以上の不連続部の差分値ｎ、−ｎｌ’の部分が正パ
ルス（例えば５Ｖ）として、また、それ以外の部分は０
■として現われる第５図の５３に示すようなパルス信号
が出力される。The differential output signal S2 appearing on the signal line 47 is supplied to a first comparator 48 and a second comparator 49.
8 is compared with an upper limit reference value r, and a second comparator 49 is compared with a lower limit reference value r2. As a result, the output signal line 50 of the first comparator 48 receives the differential value n, -nl' of the discontinuous portion greater than or equal to the reference value r1 in the signal S2 as a positive pulse (for example, 5 V). Other parts are 0
A pulse signal as shown at 53 in FIG. 5, which appears as ①, is output.
第２の比較器４９の出力信号線５１には信号Ｓ２におけ
る基準値ｒ２以下の不連続部ｎ２−ｎ２°の部分が正パ
ルス（例えば５Ｖ）として、また、それ以外の部分はＯ
■として現われる第５図の５４に示すようなパルス信号
が出力される。なお、両比較器４８および４９の基準値
ｒ、およびｒ２は可変抵抗を用いることにより可変とす
ることができる。The output signal line 51 of the second comparator 49 outputs the discontinuous portion n2-n2° of the signal S2 below the reference value r2 as a positive pulse (for example, 5V), and the other portion as an O pulse.
A pulse signal as shown at 54 in FIG. 5, which appears as ①, is output. Note that the reference values r and r2 of both comparators 48 and 49 can be made variable by using variable resistors.
この信号線５０の信号と信号線５１の信号とをオア回路
５２に入力して、その出力信号線５３に第５図の５５に
示すような波形の信号を得る。The signal on the signal line 50 and the signal on the signal line 51 are input to an OR circuit 52, and a signal having a waveform as shown at 55 in FIG. 5 is obtained on the output signal line 53.
５４は切換スイッチであり、信号線５０．５１および５
３の出力信号を切換え、選択された１個の出力信号を信
号線１６に出力する。54 is a changeover switch, and signal lines 50, 51 and 5
The three output signals are switched and one selected output signal is output to the signal line 16.
この切換スイッチ５４で選択するにあたって、通常の白
黒テレビカメラを使用して光像を映像信号に変換した場
合には、第１の比較器４Ｂの出力信号線５０には背景に
比べて白く見える部分が正パルス（５Ｖ）として出力さ
れ、第２の比較器４９の出力信号線５１には背景に比べ
て黒く見える部分が正パルス（５ｖ）として出力され、
またオア回路５２の出力信号線５３には、両者の正パル
スが合成された信号が出力されるので、レンズの検査目
的に応じて切換スイッチ５４ではこれら出力を選択する
。−般的には、両方向の欠陥を示すパルスが合成された
信号Ｓ５を選択して用いる。When selecting with this changeover switch 54, if an ordinary black and white television camera is used to convert an optical image into a video signal, the output signal line 50 of the first comparator 4B has a portion that appears white compared to the background. is output as a positive pulse (5V), and a portion that appears black compared to the background is output as a positive pulse (5V) to the output signal line 51 of the second comparator 49.
Further, since a signal obtained by combining both positive pulses is outputted to the output signal line 53 of the OR circuit 52, the selector switch 54 selects these outputs depending on the purpose of inspecting the lens. - In general, a signal S5 in which pulses indicating defects in both directions are combined is selected and used.
なお、第４図に示したように、映像信号２値化処理回路
１５に遅延器４５および減算器４６を設けたのは、レン
ズ特有の凹凸を有する球面形状、およびその材料屈折率
の多様さなどにより、テレビカメラ９で受光する被検査
レンズ１からの透過光像および反射光像の光量の分布は
均一になり難く、それらの光像が充電変換されて生成さ
れた映像信号も第５図のＳｌに示すようにゆるやかなカ
ーブをもった電圧変化として現われるので、この映像信
号Ｓ１を直接比較器で基準値と比較すると、欠陥部ｎ
ｌ ｒ ｎ２以外の部分も欠陥と同様に出力され、また
全ての欠陥を抽出できないなど、欠陥部を正しく検出し
難いためである。As shown in FIG. 4, the delay device 45 and subtractor 46 are provided in the video signal binarization processing circuit 15 because of the spherical shape with unevenness peculiar to lenses and the variety of refractive index of the material. As a result, the distribution of the amount of transmitted light and reflected light from the lens 1 to be inspected received by the television camera 9 is difficult to be uniform, and the video signal generated by charging and converting these light images is also shown in FIG. It appears as a voltage change with a gentle curve as shown in Sl of
This is because parts other than l r n2 are output in the same way as defects, and it is difficult to correctly detect defective parts, such as not being able to extract all defects.
例えば、映像信号Ｓ１を比較器で基準値ｒ、と比較する
と、基準値ｒ５以上の映像信号の部分がパルス（５ｖ）
出力されるので、不連続部ｎ、およびｎ２以外の部分も
欠陥として出力される不都合が生ずる０本図の５６に示
すような波形となる。また比較器の基準値をｒ４とした
場合は不連続部ｎ１は抽出できるが、不連続部ｎ２は抽
出できず、本図の５７に示すような波形となる。このよ
うなレンズ特有の凹凸の球面形状および材料屈折率など
による受光光量分布が不均一なものからの欠陥抽出には
第４図に示すような遅延器４５および減算器４６を設け
た映像信号２値化処理回路１５が有効であり、これによ
り適確に欠陥部を抽出することができる。For example, when the video signal S1 is compared with the reference value r using a comparator, the portion of the video signal that is equal to or higher than the reference value r5 becomes a pulse (5v).
Since the discontinuous portion n and portions other than n2 are also output as defects, the waveform becomes as shown at 56 in the figure. Further, when the reference value of the comparator is set to r4, the discontinuous portion n1 can be extracted, but the discontinuous portion n2 cannot be extracted, resulting in a waveform as shown at 57 in the figure. In order to extract defects from the uneven distribution of the amount of light received due to the spherical shape of the unevenness peculiar to lenses and the refractive index of the material, a video signal 2 provided with a delay device 45 and a subtractor 46 as shown in FIG. 4 is used. The value conversion processing circuit 15 is effective, and thereby the defective portion can be extracted accurately.
このようにして得られた２値化信号は、信号線１Ｂを通
じてアンド回路２１および２２の一方の入力端子に供給
される。アンド回路２１の他方の入力端子には中心部検
査範囲出力回路１７の出力信号が供給され、またアンド
回路２２の他方の入力端子には輪郭部検査範囲出力回路
１８の出力信号が供給される。The binarized signal thus obtained is supplied to one input terminal of AND circuits 21 and 22 through signal line 1B. The output signal of the center inspection range output circuit 17 is supplied to the other input terminal of the AND circuit 21, and the output signal of the contour inspection range output circuit 18 is supplied to the other input terminal of the AND circuit 22.
その結果、アンド回路２１の出力信号線２３には、レン
ズの中心部検査範囲内の２値化信号のみが出力され、ア
ンド回路２２の出力信号線２４にはレンズの輪郭部検査
範囲内の２値化信号のみが出力される。As a result, only the binary signal within the center inspection range of the lens is output to the output signal line 23 of the AND circuit 21, and the two binary signals within the lens edge inspection range are output to the output signal line 24 of the AND circuit 22. Only the digitized signal is output.
次に、上述の中心部検査範囲出力回路１７と輪郭部検査
範囲出力回路１８について説明する。Next, the above-mentioned center inspection range output circuit 17 and contour inspection range output circuit 18 will be explained.
第６図（Ａ）〜（Ｅ）はレンズの表面の検査範囲を決め
るパターンの一例を示す、これらの第６図（Ａ） 、
（Ｂｌ 、 （Ｃ） 、 （Ｄ）および（Ｅ）で示す各
パターンの内側を検査範囲とすることもできるし、被検
査範囲とすることもできる。また、これらの各パターン
を組合せて、被検査レンズ１をテレビカメラ９で撮像し
た像に合った検査範囲を作ることができる。6(A) to 6(E) show examples of patterns for determining the inspection range of the surface of the lens.
The inside of each pattern shown in (Bl, (C), (D), and (E) can be set as the inspection range, or it can be set as the range to be inspected. Also, by combining these patterns, It is possible to create an inspection range that matches the image of the inspection lens 1 taken by the television camera 9.
たとえば、第７図（Ａ）に示すレンズの映像に対して、
レンズ中心部の検査範囲を決めるパターンに第６図（Ｂ
）のパターンを用いることにより、第７図（Ｂ）に示す
破線範囲を中心部検査範囲とし、またレンズ輪郭部の検
査範囲を決めるパターンに第６図（Ｃ）のパターンを用
いることにより第７図（Ｃ）に示す破線範囲を輪郭部検
査範囲として検査範囲を作ることができる。For example, for the lens image shown in FIG. 7(A),
Figure 6 (B) is used to determine the inspection range at the center of the lens.
) by using the pattern shown in FIG. 7(B) to determine the center inspection area, and by using the pattern in FIG. 6(C) to determine the inspection area of the lens contour, An inspection range can be created by using the dashed line range shown in FIG. 3(C) as the outline inspection range.
第８図は、第６図（Ａ）〜（Ｅ）に示すような検査範囲
パターンを作るための検査範囲パターン発生器の構成を
示す。第９図はその検査範囲パターン発生器の各部の出
力波形を示す。いま、第６図（Ｂ）に示すパターンを発
生する場合を例にとると、第７図（Ｄ）に示すテレビ信
号の走査開始点６５をｘ−０，ｙ−０（ここで、Ｘ＝水
平方向、ｙ＝垂直方向とする）とし、画面上の点６６の
位置の座標値をＸ”Ｘ＋ 、！＝’ｊ菫、同じく画面上
の点６７の位置の座標値をｘ” Ｘ Ｉ＋ ’／ ＝
３’ ２ ％画面上の点６８の位置の座標値をＸ＝Ｘ２
、’／＝’ｊ１とすると、点６６のｙｌと点６７のｙ
ｌとにより垂直方向の範囲が定まる。FIG. 8 shows the configuration of an inspection area pattern generator for creating inspection area patterns such as those shown in FIGS. 6(A) to 6(E). FIG. 9 shows the output waveforms of each part of the inspection range pattern generator. Now, taking as an example the case where the pattern shown in FIG. 6(B) is generated, the scanning start point 65 of the television signal shown in FIG. 7(D) is set to x-0, y-0 (here, X= (horizontal direction, y = vertical direction), the coordinate value of the position of point 66 on the screen is X" / =
3' 2% The coordinate value of the position of point 68 on the screen is X=X2
, '/='j1, then yl at point 66 and y at point 67
The vertical range is determined by l.
この垂直方向の範囲を決めるそれぞれの座標値ｙ１およ
びｙｌは信号線３５によって与えられる主制御回路３１
からの指令信号に応じて、信号線８０を介して第８図の
Ｙｌ記憶回路８１に座標値ｙｌが供給されて記憶され、
信号線８２を介してＹ２２記憶路８３に座標値ｙ２が供
給されて記憶される。これらのＹ１１記憶路８１および
Ｙ２２記憶路８３に記憶された値ｙ１およびｙ２は再び
主制御回路３１からの指令がない限り不変であるものと
する。The respective coordinate values y1 and yl that determine this vertical range are given to the main control circuit 31 by a signal line 35.
The coordinate value yl is supplied to the Yl storage circuit 81 in FIG. 8 via the signal line 80 and stored therein in response to a command signal from
The coordinate value y2 is supplied to the Y22 storage path 83 via the signal line 82 and is stored therein. It is assumed that the values y1 and y2 stored in these Y11 memory path 81 and Y22 memory path 83 remain unchanged unless there is a command from the main control circuit 31 again.
Ｙ、記憶回路８１に記憶されているｙＩ値は、信号線８
４′を経て第１のＹ比較回路８４に供給され、信号線８
６を通して供給され後述する基準値Ｙと比較され、ｙ＋
七Ｙの間はＹ比較回路８４の出力信号線８７にＨレベル
の信号として出力される。また、Ｙ２２記憶路８３に記
憶されているｙ２値は、信号線８５′ を経て第２のＹ
比較回路８５に供給され、同じく信号線８６を介して供
給されている上述の基準値Ｙと比較され、ｙ２≧Ｙの間
はＹ比較回路８５の出力信号線８８にＨレベルの信号と
して出力される。Y, the yI value stored in the storage circuit 81 is connected to the signal line 8
4' to the first Y comparison circuit 84, and the signal line 8
6 and is compared with a reference value Y, which will be described later, and y+
During the period of 7Y, the signal is outputted to the output signal line 87 of the Y comparison circuit 84 as an H level signal. Further, the y2 value stored in the Y22 memory path 83 is transferred to the second Y2 value via the signal line 85'.
It is supplied to the comparison circuit 85 and compared with the above-mentioned reference value Y, which is also supplied via the signal line 86, and when y2≧Y, it is output as an H level signal to the output signal line 88 of the Y comparison circuit 85. Ru.
上述の基準値Ｙは、第３図のテレビ同期信号発生回路３
８から出力信号線３８′ を通して中心部検査範囲出力
回路１７および輪郭部検査範囲出力回路１８に供給され
ている第９図の５１１で示すテレビ垂直同期信号および
５１２で示すテレビ水平同期信号とから発生される。The reference value Y mentioned above is determined by the television synchronization signal generation circuit 3 in FIG.
8 to the central inspection range output circuit 17 and the contour inspection range output circuit 18 through the output signal line 38'. be done.
すなわち、テレビ垂直同期信号Ｓｌｌが“Ｌ”（ロー）
レベル１６０から“Ｈ” （ハイ）レベルの開始点１６
１を経て、′Ｈ″レベル１６２に至るような波形とする
と、“Ｈ”レベル１６２の期間内にある水平同期信号を
“Ｈ”レベル開始点１６１から計数回路（図示せず）に
よって順次計数し、その計数値を基準値Ｙの信号として
信号線８６を通じてＹ比較回路８４およびＹ比較回路８
５に供給する。また、テレビ垂直同期信号のＬレベル１
６０の間はその計数を停止すると同時に計数を零にする
。すなわち、１フイールド毎にテレビ垂直同期信号のＨ
レベルの間、テレビ水平同期信号を零からｎまで計数す
ることを繰り返す信号がＹとして出力される。That is, the TV vertical synchronization signal Sll is “L” (low).
From level 160 to “H” (high) level starting point 16
1 and then reaches the 'H' level 162, the horizontal synchronizing signal within the period of the 'H' level 162 is sequentially counted from the 'H' level starting point 161 by a counting circuit (not shown). , and the Y comparison circuit 84 and the Y comparison circuit 8 through the signal line 86 using the counted value as a reference value Y signal.
Supply to 5. In addition, L level 1 of the TV vertical synchronization signal
During the period of 60, the counting is stopped and at the same time the count is set to zero. In other words, the H of the TV vertical synchronization signal is set for each field.
During the level, a signal that repeats counting the television horizontal synchronization signal from zero to n is output as Y.
その結果、Ｙ比較回路８４ではｙ１≦Ｙの間Ｙ出力信号
線８７“Ｈ”レベルの信号が現われる。また、Ｙ比較回
路８５ではｙ２≧Ｙの間、出力信号線８８に“Ｈ”レベ
ルの信号が現われる。この信号線８７および８８に現わ
れた信号はアンド回路８９で論理積がとられ、ｙ１値〜
ｙ２値の間、第９図の５１３で示すような“Ｈ”レベル
となる信号として信号線９０に出力される。As a result, in the Y comparator circuit 84, an "H" level signal appears on the Y output signal line 87 while y1≦Y. Further, in the Y comparison circuit 85, an "H" level signal appears on the output signal line 88 while y2≧Y. The signals appearing on the signal lines 87 and 88 are ANDed by an AND circuit 89, and the y1 value ~
During the y2 value, it is outputted to the signal line 90 as a signal at "H" level as shown by 513 in FIG.
第７図（１））において、水平方向の検査範囲を決定す
る要項として、点６６の座標値Ｘｌ＋点６８の座標値Ｘ
２＋円弧データＺ ｌ ＋ ２ ＋・・・Ｚｎの値と
、その円弧データの先頭のデータの記憶番地の指定、さ
らに検査パターンの指定および円弧データの出力間隔ピ
ッチを決めるテレビ水平同期信号の分周値の指定がある
。点６６の座標値ｘ１は主制御回路３１から信号線９６
（第８図）を通じて供給され、Ｘ、記憶回路９７に記憶
される。点６８の座標値Ｘ２は主制御回路３１から信号
線１１４（第８図）を通じて供給され、ｘ２２記憶路１
１３に記憶される。In Fig. 7 (1)), the points for determining the inspection range in the horizontal direction are: coordinate value Xl of point 66 + coordinate value Xl of point 68
2 + Arc data Z l + 2 +... Specifying the value of Zn and the storage address of the first data of the arc data, further specifying the inspection pattern, and dividing the frequency of the TV horizontal synchronizing signal to determine the output interval pitch of the arc data. There is a value specified. The coordinate value x1 of the point 66 is transmitted from the main control circuit 31 to the signal line 96.
(FIG. 8) and stored in the storage circuit 97. The coordinate value X2 of the point 68 is supplied from the main control circuit 31 through the signal line 114 (FIG. 8), and is sent to the x22 memory path 1.
13.
これらのＸ１記憶回路９７およびＸ２記憶回路１１３に
記憶された記憶値は主制御回路３１から再び新たなデー
タが供給されない限り、不変であるものとする。It is assumed that the stored values stored in these X1 storage circuit 97 and X2 storage circuit 113 remain unchanged unless new data is supplied from main control circuit 31 again.
また、Ｘ１記憶回路９７に記憶された座標値Ｘ。Also, the coordinate value X stored in the X1 storage circuit 97.
は、信号線９８を経て、プリセット付きアップダウンカ
ウンターのＸ１カウンター９９に供給される。is supplied to the X1 counter 99 of the up/down counter with preset via the signal line 98.
Ｘ１カウンター９９において、座標値Ｘ、は第９図の５
１２で示すテレビ水平同期信号の反転信号と第９図の５
１３で示す垂直方向検査範囲信号との論理積出力である
第９図の５１４で示すパルス信号の立上りによって出力
される第９図の５１５で示すワンショットパルス信号に
同期して、プリセットされる。In the X1 counter 99, the coordinate value X is 5 in FIG.
The inverted signal of the television horizontal synchronization signal shown in 12 and 5 in FIG.
It is preset in synchronization with the one-shot pulse signal shown at 515 in FIG. 9, which is output by the rising edge of the pulse signal shown at 514 in FIG. 9, which is an AND output with the vertical direction inspection range signal shown at 13.
また同様に、Ｘ２記憶回路１１３に記憶されている座標
値ｘ２も信号線１１２を通じてＸ２カウンター１０９に
ワンショットパルス信号５１５に同期シてプリセットさ
れる。なお、パルス信号５１４とワンショットパルス信
号５１５のパルス幅は、パルス信号５１４のパルス幅の
方が広いものとする。Similarly, the coordinate value x2 stored in the X2 storage circuit 113 is also preset in the X2 counter 109 through the signal line 112 in synchronization with the one-shot pulse signal 515. It is assumed that the pulse width of the pulse signal 514 and the one-shot pulse signal 515 is wider than that of the pulse signal 514.
第７図（Ｄ） に示す円弧データＺｌ ＊ Ｚ２ ＋・
・・Ｚｎ、すなわち点６８の座標値Ｘ、から端縁部まで
の距離値はあらかじめ、円弧データ用Ｚ記憶回路１３６
にｚｌ ＊ Ｚ２ ＋・・・Ｚｎまで順番に記憶してお
く。このＺ記憶回路１３６に記憶されている円弧記憶デ
ータの先頭番地をたとえばα番地とすれば、主制御回路
３１から第８図に示す信号線１３１に通じて、α記憶回
路１３２にα番地の値が記憶される。The arc data Zl * Z2 +・ shown in Fig. 7(D)
...The distance value from Zn, that is, the coordinate value X of point 68, to the edge is stored in advance in the arc data Z storage circuit 136.
zl * Z2 +...Zn are stored in order. If the starting address of the arc storage data stored in this Z storage circuit 136 is, for example, address α, the value at address α is transmitted from the main control circuit 31 to the signal line 131 shown in FIG. is memorized.
なお、α記憶回路１３２の記憶値は主制御回路３１から
再度指令のない限り不変とする。Note that the value stored in the α storage circuit 132 remains unchanged unless commanded again from the main control circuit 31.
α記憶回路１３２に記憶されたα番地のデータは、信号
線１３３を通じてαカウンター１３４に供給される。Data at address α stored in α storage circuit 132 is supplied to α counter 134 through signal line 133.
このαカウンター１３４はプロセット付アップカウンタ
ーであり、第９図の５１３で示す垂直方向検査範囲信号
の“Ｌ″レベル期間に、α記憶回路１３２のα番地のデ
ータがプリセットされる。また、αカウンター１３４の
出力端子は、信号線１３５に通じて円弧データ用Ｚ記憶
回路１３６の番地入力端子に接続されており、αカウン
ター１３４からα番地のデータが入力すると、円弧デー
タ用Ｚ記憶回路１３６に記憶されている円弧データＺｌ
＋Ｚ２＋・・・Ｚｎのうち、α番地の値ｚ、が出力信号
線１３７に出力され、Ｚ比較回路１３８の一方の入力端
子に供給される。この２１の値はＺ比較回路１３８にお
いて信号線１３９を通じて供給されるＺカウンター１４
０のカウント値と比較される。なお、Ｚカウンター１４
０のカウント動作は後述する。This α counter 134 is an up counter with a preset function, and the data at the α address of the α storage circuit 132 is preset during the "L" level period of the vertical direction inspection range signal shown at 513 in FIG. The output terminal of the α counter 134 is connected to the address input terminal of the arc data Z storage circuit 136 through a signal line 135, and when data at address α is input from the α counter 134, the arc data Z storage circuit 136 is connected to the address input terminal of the arc data Z storage circuit 136. Arc data Zl stored in the circuit 136
+Z2+ . . . Of Zn, the value z at address α is output to the output signal line 137 and supplied to one input terminal of the Z comparison circuit 138. This value of 21 is supplied to the Z counter 14 through the signal line 139 in the Z comparison circuit 138.
It is compared with a count value of 0. In addition, Z counter 14
The operation of counting 0 will be described later.
Ｚ比較回路１３８からは円弧データ用Ｚ記憶回路１３６
の出力値よりＺカウンター１４０のカウント値の方が大
きいときか、または等しいときに、“Ｌ”レベルとなり
、Ｚカウンター１４０のカウント値がＺ記憶回路１３６
の出力値より小さいときに“Ｈ”レベルとなる出力信号
が信号線１４１に出力される。From the Z comparison circuit 138, the arc data Z storage circuit 136
When the count value of the Z counter 140 is greater than or equal to the output value of the
An output signal that becomes "H" level when the output value is smaller than the output value of is output to the signal line 141.
Ｚ比較回路１３８から信号線１４１を通じて出された出
力は、４人力アンド回路１４５の１つの入力端子に供給
される。そのアンド回路１４５の他の入力端子には信号
線１４２を通じて第９図の５１６で示す高周波クロック
パルスが、また信号線９０′を通じて第９図の５１３で
示す垂直方向検査範囲信号が、および信号線１４３を通
じてテレビ水平同期信号がそれぞれ人力されている。そ
して、これら４つの信号の論理積出力が信号線１３０を
通じてＺカウンター１４０のカウントパルス入力端子に
入力され、この入力に応じてＺカウンター１４０は第９
図の５１６で示す高周波クロックパルスの周期でカウン
ト動作を行う。アンド回路１４５の出力は、アンド回路
１２６および１２７にも供給される。The output from the Z comparison circuit 138 via the signal line 141 is supplied to one input terminal of the 4-way AND circuit 145. The other input terminal of the AND circuit 145 receives a high frequency clock pulse shown at 516 in FIG. 9 through the signal line 142, a vertical inspection range signal shown at 513 in FIG. 9 through the signal line 90', and a signal line The TV horizontal synchronization signal is manually input through 143. The AND output of these four signals is input to the count pulse input terminal of the Z counter 140 through the signal line 130, and in response to this input, the Z counter 140
A counting operation is performed at the period of the high frequency clock pulse shown at 516 in the figure. The output of AND circuit 145 is also supplied to AND circuits 126 and 127.
Ｚカウンター１４０には信号線１４３を通じてテレビ水
平同期信号が人力されており、第９図の５１２で示す波
形の“Ｌ”レベルのときに２カウンター１４０のカウン
ト値を強制的に平にする。A television horizontal synchronizing signal is input to the Z counter 140 through a signal line 143, and the count value of the 2 counter 140 is forcibly flattened when the waveform shown at 512 in FIG. 9 is at the "L" level.
すなわち、Ｚカウンター１４０は、５１３の垂直方向検
査範囲信号が“Ｈ”レベルでＺ比較回路１３８の出力が
“Ｈ”レベル（すなわちＺカウンター１４０カウント値
が、円弧データ用Ｚ記憶回路１３６からのデータより小
さいとき）で、かつ５１２のテレビ水平同期信号が“Ｈ
”レベルの期間では、５１６の高周波数クロック信号に
同期してカウント動作を行うことになる。That is, the Z counter 140 detects that when the vertical direction inspection range signal 513 is at the "H" level and the output of the Z comparison circuit 138 is at the "H" level (that is, the count value of the Z counter 140 is the data from the arc data Z storage circuit 136). ), and the TV horizontal synchronization signal of 512 is “H”.
``During the level period, a counting operation is performed in synchronization with the 516 high frequency clock signal.
このようなカウンタ動作の期間中、Ｚカウンター１４０
のカウント値は信号線１３９を通じてＺ比較回路１３８
に供給され、円弧データ用Ｚ記憶回路１３６のデータと
常に比較されている。そして、円弧データ用Ｚ記憶回路
１３［ｉのデータに対してＺカンウタ−１４０のカウン
ト値が等しくなるか、またはＺカウンター１４０のカウ
ント値の方が大となると、Ｚ比較回路１３８の出力側信
号線１４１には“Ｌ″レベル信号が出力され、アンド回
路１４５は禁止となる。アンド回路１４５が禁止となる
と、アンド回路１４５の出力側にはカウントパルス信号
が出なくなり、Ｚカウンター１４０のカウント動作は停
止する。しかし、信号線１４３から供給される５１２の
水平同期信号が再び″Ｌ″レベルになると、Ｚカウンタ
ー１４０のカウント値は零になるので、再び円弧データ
用２記憶回路１３６のデータよりＺカウンター１４０の
カウント値が小となり、Ｚ比較回路１３８出力が“Ｈ”
レベルとなり、これにより“ＯＮ”となったアンド回路
１４５の出力により、Ｚカウンター１４０はカウント動
作を再びはじめる。During such counter operation, the Z counter 140
The count value is sent to the Z comparison circuit 138 through the signal line 139.
and is constantly compared with the data in the arc data Z storage circuit 136. Then, when the count value of the Z counter 140 becomes equal to the data of the arc data Z storage circuit 13 [i, or when the count value of the Z counter 140 becomes larger, the output side signal of the Z comparison circuit 138 An "L" level signal is output to line 141, and AND circuit 145 is disabled. When the AND circuit 145 is disabled, no count pulse signal is output from the output side of the AND circuit 145, and the counting operation of the Z counter 140 is stopped. However, when the horizontal synchronizing signal 512 supplied from the signal line 143 becomes "L" level again, the count value of the Z counter 140 becomes zero, so the data of the Z counter 140 is again calculated from the data of the arc data storage circuit 136. The count value becomes small and the Z comparison circuit 138 output becomes “H”
level, and the Z counter 140 restarts the counting operation due to the output of the AND circuit 145 which is turned "ON".
このようにして、２カウンター１４０は５１３の垂直方
向検査範囲信号が“Ｈ”レベルの期間内の水平同期信号
の発生回数だけカウント動作を反覆して行い、この動作
をフィールド毎に繰り返すことになる。In this way, the second counter 140 repeats the counting operation as many times as the horizontal synchronizing signal occurs during the period when the vertical inspection range signal 513 is at the "H" level, and this operation is repeated for each field. .
上述のカウント動作が繰返し行われている間において、
円弧データ用Ｚ記憶回路１３６に記憶されている円弧デ
ータ（ｚ、、ｚ、、ｚ、、−Ｚｎ）の読み出しを垂直位
置すなわちテレビ水平同期信号の周期に合わせて順次替
えていかねぼらないので、円弧データ用Ｚ記憶回路１３
６の読み出し番地を指定するαカウンター１３４のカウ
ント値を定期的に変化させる信号として信号線１４６を
通じて第９図の５１７に示すようなテレビ水平同期信号
を分周したパルスをαカウンター１３４に供給する。While the above counting operation is being repeated,
Since the reading of the arc data (z, , z, z, , -Zn) stored in the Z storage circuit 136 for arc data must be sequentially changed according to the vertical position, that is, the period of the television horizontal synchronization signal, Z storage circuit 13 for arc data
As a signal that periodically changes the count value of the α counter 134 that specifies the read address of 6, a pulse obtained by dividing the frequency of the television horizontal synchronizing signal as shown at 517 in FIG. 9 is supplied to the α counter 134 through the signal line 146. .
αカウンター１３４はＳ１３の垂直方向検査範囲信号が
″′Ｌ″レベルの間に、α記憶回路１３２に記憶されて
いたアドレス値が信号線１３３を介して供給され、プリ
セットされる。すなわち、１フイールド毎の垂直検査範
囲信号が５１３のＨレベルになる前にα記憶回路１３２
の値がプリセットされる。The α counter 134 is preset by being supplied with the address value stored in the α storage circuit 132 via the signal line 133 while the vertical inspection range signal in S13 is at the ``L'' level. That is, before the vertical inspection range signal for each field reaches the H level of 513, the α storage circuit 132
The value of is preset.
αカウンター１３４のカウントパルス信号は、信号線１
４６を介してテレビ水平同期分周回路１４４から供給さ
れる。テレビ水平同期分周回路１４４の分周値は、主制
御回路３１から信号線１４４′ を介して指定でき、−
旦分同値が指定され°た場合は主制御回路３１が再度分
周値を指定しない限り不変である。The count pulse signal of the α counter 134 is the signal line 1
46 from the television horizontal synchronization frequency divider circuit 144. The frequency division value of the television horizontal synchronization frequency divider circuit 144 can be specified from the main control circuit 31 via the signal line 144'.
Once the same frequency division value is designated, it remains unchanged unless the main control circuit 31 designates the frequency division value again.
例えば、上述の指定された分周値を２とすると信号線１
４３を通じてテレビ水平同期分周回路１４４に人力され
ているテレビ水平同期信号に同期して、かつ信号線９０
″を通じて人力する垂直検査範囲信号人力のＨレベルの
期間だけ、テレビ水平同期分周回路１４４で１７２に分
周されて第９図の５１７に示すような信号となり、出力
信号線１４６に出力され、αカウンター１３４のカウン
トパルス入力端子に供給される。この５１７の信号に応
じてαカウンター１３４が順次カウントアツプし、Ｚ記
憶回路１３６内の円弧データの番地を順次指定して行き
、指定された番地内の円弧データが信号線１３７を通じ
てＺ比較回路１３８の１入力端子に供給され、信号線１
３９を通じて供給されるＺカウンター１４０のカウント
値出力と順次比較されて行く。For example, if the specified frequency division value mentioned above is 2, the signal line 1
43 to the television horizontal synchronization frequency divider circuit 144,
During the H level period of the human input, the vertical inspection range signal manually input through the TV horizontal synchronization divider circuit 144 divides the frequency by 172 to become a signal as shown at 517 in FIG. 9, which is output to the output signal line 146. It is supplied to the count pulse input terminal of the α counter 134. The α counter 134 sequentially counts up in response to this signal 517, sequentially designates the addresses of the arc data in the Z storage circuit 136, and The arc data within is supplied to one input terminal of the Z comparison circuit 138 through the signal line 137, and
The count value output from the Z counter 140 is sequentially compared with the count value output from the Z counter 140 supplied through 39.
ここで、分周値２ということは、テレビ水平同期信号す
なわちテレビ走査線本数で２木毎に円弧データを順次設
定することを意味する。従って、円弧データ用２記憶回
路１３６内の円弧データもその分周値に合わせて記憶し
ておくことになる。また、分周値は、被検査レンズの外
径の曲率に応じて適宜設定するが、一般的にはレンズ半
径が大きい場合は分周値を大きくし、レンズ半径が小さ
い場合は小さく設定する。このように分周値をレンズ半
径の大きさに応じて適宜設定することにより、円弧デー
タの数を最小限にすることができ、円弧データ用Ｚ記憶
回路１３６の記憶容量も少なくすることができる。Here, the frequency division value of 2 means that the arc data is sequentially set every two trees using the television horizontal synchronization signal, that is, the number of television scanning lines. Therefore, the arc data in the arc data storage circuit 136 is also stored in accordance with the frequency division value. Further, the frequency division value is appropriately set depending on the curvature of the outer diameter of the lens to be inspected, but generally, when the lens radius is large, the frequency division value is set large, and when the lens radius is small, the frequency division value is set small. By appropriately setting the frequency division value according to the size of the lens radius in this way, the number of circular arc data can be minimized, and the storage capacity of the circular arc data Z storage circuit 136 can also be reduced. .
以上のようにして、円弧データ用Ｚ記憶回路１３６に記
憶しである円弧データ（Ｚｌ ＋ Ｚ２ ＋・・・Ｚ
ｎ）に相当するパルス数がＺ比較回路１３８を介してア
ンド回路１４５の出力信号線１３０に出力され、円弧デ
ータパルス信号の出力する通路が検査範囲パターンによ
り選択決定される。この検査範囲パターンによる通路の
選択は後述のようにアンド回路１２６および１２７によ
って行われる。As described above, the arc data (Zl + Z2 +...Z
The number of pulses corresponding to n) is outputted to the output signal line 130 of the AND circuit 145 via the Z comparison circuit 138, and the path through which the arc data pulse signal is output is selected and determined based on the inspection range pattern. The path selection based on this inspection range pattern is performed by AND circuits 126 and 127, as will be described later.
１４７はパターン選択デコーダーであり、信号線１４７
′を通じて主制御回路３１によって指定され、第６図（
Ａ） 、 （Ｂ） 、 （Ｃ） 、 （Ｄ） 、 （Ｅ
）にそれぞれ示す検査範囲パターンに対応するパターン
選択デコーダー出力を出力する。例えばパターン選択を
■とすると第６図（Ａ）のパターンが指定される。パタ
ーン選択デコーダー１４７の出力■〜■は、いずれか１
つしか指定できず、−度１つのパターンを選択されたら
、主制御回路３１から別のパターンを再度指定されない
限り、−旦選択されたパターンを選択しつづける。147 is a pattern selection decoder, and the signal line 147
' is specified by the main control circuit 31 through
A), (B), (C), (D), (E
) Output pattern selection decoder outputs corresponding to the inspection range patterns respectively shown in FIG. For example, if the pattern selection is ■, the pattern shown in FIG. 6(A) is specified. The output of the pattern selection decoder 147 is any one of
Only one pattern can be specified, and once one pattern is selected, the pattern selected once will continue to be selected unless another pattern is specified again from the main control circuit 31.
たとえば、第６図（Ｂ）に示す検査範囲パターンが選択
される場合は、主制御回路３１からパターン選択デコー
ダー１４７の出力■が指定され、これにより信号線１２
９のを介してアンド回路１２６に“Ｈ“レベルの信号が
供給されるとともに、信号線１２３を介してアンド回路
１２４および１２５に“Ｈ”レベルの信号が供給され、
アンド回路１２６゜１２４．１２５が選択される。これ
によって、アンド回路１４５の出力信号線１３０から供
給される円弧データに対応するパルス（円弧データーパ
ルス）は、アンド回路１２６を通り、信号線１２０およ
びアンド回路１２４を通り、信号線１１０を通じて、Ｘ
２カウンター１０９のカウントアツプ入力端子に供給さ
れ、Ｘ２カウンター１０９によりカウントされる。For example, when the inspection range pattern shown in FIG.
An "H" level signal is supplied to the AND circuit 126 via the signal line 123, and an "H" level signal is supplied to the AND circuits 124 and 125 via the signal line 123.
AND circuit 126°124.125 is selected. As a result, the pulse (arc data pulse) corresponding to the arc data supplied from the output signal line 130 of the AND circuit 145 passes through the AND circuit 126, the signal line 120 and the AND circuit 124, and the signal line 110 to the X
The signal is supplied to the count up input terminal of the X2 counter 109 and counted by the X2 counter 109.
Ｘｌカウンター１０９は、カウント開始直前において、
Ｓ１５のワンショットパルス信号の″Ｈ″レベルの期間
に、第７図（Ｄ）に示す点６８の座標値Ｘ、の値がＸ２
記憶回路１１３から供給され、プリセットされているの
で、たとえば円弧データパルス２、をカウントすると、
結果的にｘ２カインター１０９のカウント値は両者の値
が加算されたデータ値（Ｘ２＋ＺＩ）となる。Immediately before the start of counting, the Xl counter 109
During the "H" level period of the one-shot pulse signal in S15, the coordinate value X of point 68 shown in FIG. 7(D) becomes X2.
Since it is supplied from the memory circuit 113 and is preset, for example, when counting arc data pulse 2,
As a result, the count value of the x2 counter 109 becomes the data value (X2+ZI) which is the sum of both values.
従って、Ｘｌカウンター１０９からは、この加算された
カウント値（Ｘ２ ＋Ｚ＋ ）の信号が出力され、信号
線１０８を通じて第２のＸ比較回路１０６の一方の入力
端子に供給される。また、Ｘ比較回路１０Ｂの他の入力
端子にはＳ１２のテレビ水平同期信号と５１８の高周波
数クロック信号との論理積信号を、テレビ水平同期信号
の“Ｈ”レベルの開始点から順次計数した計数値信号Ｘ
が信号線１０５を通じて供給されているので、上述の加
算されたデータ値（Ｘ２ ＋Ｚｌ ）の信号と上述の計
数値信号ＸとがＸ比較回路１０６で比較される。Therefore, the signal of the added count value (X2 +Z+) is output from the Xl counter 109, and is supplied to one input terminal of the second X comparison circuit 106 through the signal line 108. In addition, at the other input terminal of the X comparison circuit 10B, an AND signal of the television horizontal synchronizing signal S12 and the high frequency clock signal 518 is connected to a signal that is sequentially counted from the starting point of the "H" level of the television horizontal synchronizing signal. Numerical signal
is supplied through the signal line 105, the signal of the above-mentioned added data value (X2 +Zl) and the above-mentioned count value signal X are compared in the X comparison circuit 106.
一方Ｘ８カウンター９９には、Ｓ１５のワンショットパ
ルス信号の“Ｈ”レベル期間にｘ１１記憶路９７に記憶
されている点６６の座標値ｘ１がプリセットされ、以後
のパルス入力が禁止されているので、Ｘｌカウンター９
９の出力信号線１０２にＸＩ記憶回路９７の座標値ｘ１
が出力されて第１のＸ比較回路１０３に供給され、この
Ｘ比較回路１０３で座標値ｘ１と信号線１０５を介して
供給される先に説明した計数値信号Ｘとが比較される。On the other hand, the X8 counter 99 is preset with the coordinate value x1 of the point 66 stored in the x11 memory path 97 during the "H" level period of the one-shot pulse signal in S15, and subsequent pulse input is prohibited. Xl counter 9
The coordinate value x1 of the XI storage circuit 97 is input to the output signal line 102 of 9.
is outputted and supplied to the first X comparison circuit 103, where the coordinate value x1 is compared with the count value signal X described above supplied via the signal line 105.
第９図に示す波形５１８は５１２のテレビ水平同期信号
を拡大して示したもので同じく波形Ｓ１９は５１６の高
周波数クロック信号を拡大して示したものである。Ｓ１
８のテレビ水平同期信号と、Ｓ１９の高周波数クロック
信号の論理積をとると、第９図の５２０に示したような
信号となる。Ｓ２０の信号をカウントして得た計数値信
号Ｘが信号線１０５を通じてＸ比較回路１０３および１
０６に供給される。このＳ２０の信号のカウントは、Ｓ
１２のテレビ水平同期信号が″′Ｌ″レベルとなフたと
き、強制的に平にリセットされる。そして、そのテレビ
水平同期信号が“Ｈ′″レベルとなるとともに、カウン
トが再び行われる。すなわち、テレビ水平同期信号の１
周期毎にテレビ水平同期信号と同期して０からｎまでの
カウントが５２０の信号に対して繰り返される計数値信
号Ｘが出力される。A waveform 518 shown in FIG. 9 is an enlarged view of the television horizontal synchronization signal 512, and a waveform S19 is an enlarged view of the high frequency clock signal 516. S1
When the television horizontal synchronization signal of 8 and the high frequency clock signal of S19 are ANDed, a signal as shown at 520 in FIG. 9 is obtained. The count value signal X obtained by counting the signal of S20 is transmitted through the signal line 105 to the X comparison circuits 103 and
06. This S20 signal count is S
When the 12 television horizontal synchronizing signals are no longer at the ``L'' level, they are forcibly reset to flat. Then, when the television horizontal synchronizing signal becomes "H'" level, counting is performed again. In other words, 1 of the TV horizontal synchronization signal
A count value signal X is output in which a count from 0 to n is repeated for 520 signals in synchronization with the television horizontal synchronization signal every cycle.
第１のＸ比較回路１０３では、Ｘ、カウンター９９から
出力される座標値Ｘ、と上述の計数値信号Ｘとを比較し
て、座標値ｘ１が計数値信号Ｘより小さいか、または等
しいときに信号線１０４にＨ”レベルの信号を出力する
。第２のＸ比較回路１０６では、Ｘｌカウンター１０９
から出力されるデータ値（Ｘ２＋ＺＩ）と上述の計数値
信号Ｘとを比較して、データ値（Ｘ２ ＋ｚ、）が計数
値信号Ｘより大きいかまたは等しいときに、信号線１０
７に”Ｈ”レベルの信号を出力する。これらの信号線１
０４および１０７に出力された信号はアンド回路１１５
で論理積がとられ、第９図の５２１で示すような信号と
なる。このアンド回路１１５の出力信号線１１８に出力
される５２１の信号の“Ｈ′″レベルから“Ｌ”レベル
に変化する時間は、ｘ２カウンター１０９のカウント出
力データ値（Ｘ２ ＋ＺＩ ）によって決まり、従って
円弧データによりて変化することになる。The first X comparison circuit 103 compares X, the coordinate value X output from the counter 99, and the count value signal X described above, and when the coordinate value x1 is smaller than or equal to the count value signal X, An H" level signal is output to the signal line 104. In the second X comparison circuit 106, the Xl counter 109
The data value (X2+ZI) outputted from the signal line 10 is compared with the count value signal
7 outputs an "H" level signal. These signal lines 1
The signals output to 04 and 107 are sent to the AND circuit 115.
A logical AND is performed at , resulting in a signal as shown at 521 in FIG. The time for the signal 521 outputted to the output signal line 118 of the AND circuit 115 to change from the "H'" level to the "L" level is determined by the count output data value (X2 + ZI) of the x2 counter 109, and therefore the arc It will change depending on the data.
第６図（Ｃ） 、 （Ｄ） 、 （Ｅ） に示す他のパ
ターンが選択されたときも、同様の動作をする。ただし
、第６図（Ｄ）および（Ｅ）に示すパターンが選択され
たときには、ｘ１カウンター９ｇに加算値が現われ、ｘ
２カウンター１０９にはあらかじめプリセットされた座
標値ｘ２が出力値として現われる。Similar operations are performed when other patterns shown in FIGS. 6(C), (D), and (E) are selected. However, when the patterns shown in FIGS. 6(D) and (E) are selected, an additional value appears on the x1 counter 9g, and x
The preset coordinate value x2 appears on the 2 counter 109 as an output value.
アンド回路１１５の信号線１１６に出力された水平方向
の検査範囲を決める信号は、次段のアンド回路９１の一
方の入力端子に人力され、このアンド回路９１において
、信号線９０を通じて他の入力端子に供給される垂直方
向の検査範囲を決める信号と論理積がとられる。この結
果、アンド回路９１の出力信号線９２には、水平方向お
よび垂直方向の２次元的な検査範囲、すなわち第７図（
Ｂ） 、 （Ｄ）に・示す検査範囲パターンを決める第
９図の５２２に示すような検査範囲信号が得られる。The signal that determines the horizontal inspection range that is output to the signal line 116 of the AND circuit 115 is input to one input terminal of the AND circuit 91 in the next stage, and in this AND circuit 91, it is sent to the other input terminal through the signal line 90. is ANDed with a signal that determines the vertical inspection range provided to the . As a result, the output signal line 92 of the AND circuit 91 has a two-dimensional inspection range in the horizontal and vertical directions, that is, as shown in FIG.
An inspection range signal as shown at 522 in FIG. 9 is obtained which determines the inspection range pattern shown in B) and (D).
アンド回路９１から出力される２次元的な検査範囲を決
める検査範囲信号（５２２）は信号線９２を通じて排他
的論理和回路９３の一方の入力端子に供給される。排他
的論理和回路９３の他の入力端子には信号線９４を通じ
て切換え信号が供給されている。An inspection range signal (522) that determines a two-dimensional inspection range output from the AND circuit 91 is supplied to one input terminal of the exclusive OR circuit 93 through a signal line 92. A switching signal is supplied to the other input terminal of the exclusive OR circuit 93 through a signal line 94.
排他的論理和回路９３では、この切換え信号に応じて、
Ｓ２２の２次元的な検査範囲を決める検査範囲信号の“
Ｈ”レベルの部分を検査範囲とするか、または被検査範
囲とするかを決める。いま切換え信号を“Ｌ″レベルす
ると、Ｓ２２の検査範囲信号の“Ｈ”レベルの部分は、
出力側信号線９５に検査範囲を示す信号として“Ｈ”レ
ベルで現われる。一方、切換え信号を“Ｈ”レベルとす
ると、５２２の検査範囲信号の“Ｈ”レベルの部分は“
し”レベルとなり、非検査範囲を示す信号として現われ
る。信号線９４を通して供給される切換え信号の“Ｈ′
″レベルか“Ｌ”レベルかの設定は主制御回路３１によ
って行われる。従；て、例えば第７図（Ｂ）、（Ｄ）の
場合に、パターンの内側を検査範囲の信号としたい場合
には、信号線９４の切換え信号を“Ｌ″レベルすること
になる。また、この時の排他的論理和回路９３の出力信
号は第９図の５２２と同じとなり、この信号が第３図の
中心部検査範囲出力回路１７から出力信号線１９に出力
される。In the exclusive OR circuit 93, in response to this switching signal,
" of the inspection range signal that determines the two-dimensional inspection range of S22
Determine whether the "H" level part is to be the inspection range or the range to be inspected.If the switching signal is now set to the "L" level, the "H" level part of the inspection range signal in S22 will be
It appears on the output side signal line 95 as a signal indicating the inspection range at the "H" level. On the other hand, when the switching signal is set to "H" level, the "H" level part of the inspection range signal of 522 is "
"H" level of the switching signal supplied through the signal line 94, and appears as a signal indicating the non-inspection range.
The setting of "level" or "L" level is performed by the main control circuit 31. Therefore, for example, in the case of FIGS. This will cause the switching signal on the signal line 94 to go to "L" level. Also, the output signal of the exclusive OR circuit 93 at this time will be the same as 522 in FIG. 9, and this signal will be at the center of FIG. It is output from the partial inspection range output circuit 17 to the output signal line 19.
以上述べたような動作を行う第８図に示す検査範囲パタ
ーン発生器は、中心部検査範囲出力回路１７およ、び輪
郭部検査範囲出力回路１８にそれぞれ複数個設けられて
おり、それぞれの検査範囲出力信号を組み合わせること
により、例えば第７図（Ｂ）に示すよりも複雑な検査範
囲を設定することができる。このとき、輪郭部検査範囲
出力回路１８の出力信号線２０には例えば第７図（Ｃ）
で示すような検査範囲パターンに相当する検査範囲信号
が出力される。A plurality of inspection range pattern generators shown in FIG. 8 that operate as described above are provided in each of the center inspection range output circuit 17 and the contour inspection range output circuit 18. By combining the range output signals, it is possible to set a more complex inspection range than that shown in FIG. 7(B), for example. At this time, the output signal line 20 of the contour inspection range output circuit 18 is connected to the output signal line 20 shown in FIG.
An inspection range signal corresponding to the inspection range pattern shown in is output.
これらの検査範囲信号をそれぞれの信号線１９または２
０を通じて対応のアンド回路２１または２２に供給され
る。アンド回路２１においては信号線１９からの中心部
検査範囲信号と信号線１６からの２値化処理信号との論
理積出力が信号線２３に出力される。These inspection range signals are connected to the respective signal lines 19 or 2.
0 to the corresponding AND circuit 21 or 22. In the AND circuit 21, the AND output of the center inspection range signal from the signal line 19 and the binarized signal from the signal line 16 is output to the signal line 23.
また、アンド回路２２においては信号線２Ｇからの輪郭
部検査範囲信号と信号線１６からの２値化処理信号１６
との論理積出力が信号線２４に出力される。アンド回路
２１の出力は中心部判定回路２６に入力され、アンド回
路２２の出力は輪郭部判定回路２７に人力され、各判定
回路でレンズの合否の判定が行われる。Also, in the AND circuit 22, the contour inspection range signal from the signal line 2G and the binarized processing signal 16 from the signal line 16
The logical product output is output to the signal line 24. The output of the AND circuit 21 is input to the center portion determination circuit 26, and the output of the AND circuit 22 is inputted to the contour portion determination circuit 27, and each determination circuit determines whether the lens is acceptable or not.
中心部判定回路２６では信号線２３から入力する中心部
検査範囲内の２値化処理信号のＨレベル時間を映像信号
出力の実時間で計測し、その計測値によりレンズの合否
判定を行う。The center determination circuit 26 measures the H level time of the binarized signal within the center inspection range input from the signal line 23 using the real time of the video signal output, and determines whether the lens is acceptable or not based on the measured value.
第１０図には、上述の中心部判定回路２６の構成例を示
す。信号線１７０には、第３図に示すアンド回路２１の
出力が信号線２３を通じて供給され、信号線１７１には
第９図の５１６に示す高周波数クロック信号が供給され
、信号線１７２には主制御回路３１からの測定開始信号
が供給されている。FIG. 10 shows an example of the configuration of the center portion determination circuit 26 described above. The output of the AND circuit 21 shown in FIG. 3 is supplied to the signal line 170 through the signal line 23, the high frequency clock signal shown at 516 in FIG. 9 is supplied to the signal line 171, and the main A measurement start signal from the control circuit 31 is supplied.
アンド回路１７３によりこれらのアンド回路２１の出力
、高周波数クロック信号および測定開始信号の論理積を
取り、その論理積出力を信号線１７４を通じてＴカウン
タ１７５に供給する。これにより、中心部検査範囲内の
２値化信号を測定開始と同時に基準高周波数クロック信
号で分割したパルスが、Ｔカウンタ１７５のカウント入
力端子に入力され、Ｔカウンタ１７５ではこのパルスを
カウントすることになる。The output of the AND circuit 21, the high frequency clock signal, and the measurement start signal are ANDed by the AND circuit 173, and the AND output is supplied to the T counter 175 through the signal line 174. As a result, the pulses obtained by dividing the binary signal within the center inspection range by the reference high frequency clock signal are input to the count input terminal of the T counter 175 at the same time as the start of measurement, and the T counter 175 counts these pulses. become.
Ｔカウンタ１７５では主制御回路から信号線１７６を通
じて供給されるクリア信号により測定開始直前に前のカ
ウント値がクリアされる。Ｔカウンタ１７５から出力す
るカウント値信号は信号線１７７を通じて比較回路１７
８に供給される。同時に、比較回路１７８には、主制御
回路３１から信号線１７９を通じて規格値信号が供給さ
れる。比較回路１７８では、上述のカウント値信号と規
格値信号とが比較され、カウント値信号が規格値信号（
閾値信号）より大きくなると比較回路１７８の出力信号
線１８０には“Ｈ”レベルの信号が出力される。この“
Ｈ”レベルの信号は規格値以上の欠陥が被検査レンズ１
の中心部にあることを示す信号であり、不良と判定され
る。比較回路１７８でカウント値信号が規格値信号より
小さい場合は、出力信号線１８０にＬレベルが出力され
、Ｌレベルのときは良品と判定される。この信号線１８
０からの出力信号は、第３図に示す信号線２８を介して
中心部判定回路２６からとり出される。In the T counter 175, the previous count value is cleared immediately before the start of measurement by a clear signal supplied from the main control circuit through the signal line 176. The count value signal output from the T counter 175 is sent to the comparator circuit 17 through a signal line 177.
8. At the same time, the comparison circuit 178 is supplied with a standard value signal from the main control circuit 31 through the signal line 179. In the comparison circuit 178, the above-mentioned count value signal and standard value signal are compared, and the count value signal is compared with the standard value signal (
When the signal becomes larger than the threshold signal (threshold signal), an "H" level signal is output to the output signal line 180 of the comparator circuit 178. this"
H” level signal indicates that the lens to be inspected 1 has defects exceeding the standard value.
This signal indicates that the object is located in the center of the area, and is determined to be defective. If the count value signal in the comparison circuit 178 is smaller than the standard value signal, an L level is output to the output signal line 180, and when it is at the L level, it is determined that the product is good. This signal line 18
The output signal from 0 is taken out from the center determination circuit 26 via a signal line 28 shown in FIG.
なお、主制御回路３１から供給される規格値信号は主制
御回路３１から新たな規格値信号として再度与えられな
い限り、不変とする。Note that the standard value signal supplied from the main control circuit 31 remains unchanged unless the main control circuit 31 supplies it again as a new standard value signal.
輪郭部判定回路２７は、輪郭部検査範囲内の２値化処理
信号をテレビ水平同期信号サイクル毎にすなわち１水平
走査毎に輪郭部の２値化信号時間（幅）を中心部判定同
様に映像信号出力の実時間で計測し、その時間（幅）を
幅規格と比較し、規格外の時にはその水平走査線上の輪
郭を不良とし、最終的に輪郭を不良とした水平走査線数
が幾つあったかで合否の判定を行う。The contour portion determination circuit 27 determines the binarized signal time (width) of the contour portion of the binary signal within the contour portion inspection range every TV horizontal synchronization signal cycle, that is, every horizontal scan, and similarly determines the center portion of the image. Measure the actual time of the signal output, compare the time (width) with the width standard, and if it is outside the standard, the contour on that horizontal scanning line is determined to be defective.In the end, how many horizontal scanning lines were the contours determined to be defective? Make a pass/fail judgment.
第１１図は上述の第３図の輪郭部判定回路２７の構成例
を示す。第１２図はその輪郭部判定回路２７の各部の出
力波形を示す。FIG. 11 shows an example of the configuration of the contour portion determination circuit 27 shown in FIG. 3 described above. FIG. 12 shows the output waveforms of each part of the contour portion determination circuit 27.
第１１図において、信号線１８１には、第３図に示すア
ンド回路２２の出力が供給され、信号線１８２には第９
図の５１８に示す基準高周波クロック信号が供給され、
信号線１８３には主制御回路３１からの測定開始信号が
供給されている。アンド回路１８４により、これら３つ
の信号、すなわちアンド回路２２の出力信号と、高周波
数クロック信号および測定開始信号との論理積をとり、
その演算結果を信号線１８５を通じてＴカウンタ１８６
に供給する。これにより、輪郭部検査範囲内の２値化信
号を測定開始と同時に１水平走査毎に基準高周波数クロ
ック信号で分割したパルスがＴカウンタ１８６のカウン
ト入力に入力されることになる。また、第１２図の５３
３で示す出力信号が信号線１８７を通じてＴカウンタ１
８６に供給される。この信号５３３は、第９図の５１２
および第１２図の５３１で示すテレビ水平同期信号の“
Ｈ”レベルから“Ｌ”レベルの立下がり時に同期して発
生する第１２図の５３２で示すワンショットパルスの反
転信号（インバート信号）と、上述のＳ１２およびＳ３
１で示すテレビ水平同期信号の反転信号との論理積出力
信号（アンド出力信号）である。このアンド出力信号Ｓ
３３によってその″Ｈ″レベルの期間の間にＴカウンタ
１８６のカウント値がクリアされる。すなわち、１水平
走査周期毎にＴカウンタ１８Ｂは；にリセットされるこ
とになる。In FIG. 11, a signal line 181 is supplied with the output of the AND circuit 22 shown in FIG.
A reference high frequency clock signal shown at 518 in the figure is supplied,
A measurement start signal from the main control circuit 31 is supplied to the signal line 183. The AND circuit 184 performs the logical product of these three signals, that is, the output signal of the AND circuit 22, the high frequency clock signal, and the measurement start signal.
The calculation result is sent to the T counter 186 via the signal line 185.
supply to. As a result, pulses obtained by dividing the binary signal within the contour inspection range by the reference high-frequency clock signal every horizontal scan are input to the count input of the T counter 186 at the same time as the start of measurement. Also, 53 in Figure 12
The output signal indicated by 3 is sent to the T counter 1 through the signal line 187.
86. This signal 533 corresponds to 512 in FIG.
and “” of the television horizontal synchronization signal shown at 531 in FIG.
The inverted signal of the one-shot pulse shown at 532 in FIG. 12, which is generated in synchronization with the fall of the "H" level to the "L" level, and the above-mentioned S12 and S3.
This is an AND output signal (AND output signal) with the inverted signal of the television horizontal synchronization signal shown by 1. This AND output signal S
33, the count value of the T counter 186 is cleared during the "H" level period. That is, the T counter 18B is reset every horizontal scanning period.
測定開始と同時に輪郭部検査範囲の２値化信号を１水平
走査毎に基準周波数クロック信号で分割したパルスをカ
ウントしたＴカウンタ１８６のカウント出力値は、信号
線１８８を通じて比較回路１８９に供給される。一方、
比較回路１８９には信号線１９０を通じて主制御回路３
１からの幅規格値信号が他人力として供給されている。At the same time as the measurement starts, the count output value of the T counter 186, which counts the pulses obtained by dividing the binary signal of the contour inspection range by the reference frequency clock signal every horizontal scan, is supplied to the comparison circuit 189 through the signal line 188. . on the other hand,
The comparison circuit 189 is connected to the main control circuit 3 through a signal line 190.
The width standard value signal from 1 is supplied as an external input.
比較回路１８９ではＴカウンタ１８６の出力信号と幅規
格値信号とが比較される。Comparison circuit 189 compares the output signal of T counter 186 and the width standard value signal.
この幅規格値信号は、幅規格値の上限および下限が設定
できる。また、被比較値がこの上限と下限の間なら、“
良”品、それ以外なら“不良”品と判定し、あるいはま
た被比較値がその上限以下なら“良”品、上限以上なら
、“不良”と測定し、さらには被比較値が下限以上であ
れば“良”品、下限以下なら“不良”品と判定する３つ
の判定モードの内からいずれか１つの判定モードの選択
指定を主制御回路３１を通じて行うことができる。そし
て、これらの幅規格値および判定モードの設定は主制御
回路３１により信号線１９０を通じて一旦指定されると
、主制御回路３１からデータを再度与えない限り不変で
ある。The upper and lower limits of the width standard value can be set in this width standard value signal. Also, if the compared value is between this upper and lower limit, “
If the compared value is less than or equal to the upper limit, it is determined to be a “good” product, and if it is greater than or equal to the upper limit, it is determined to be “defective”. If the width is below the lower limit, the product is determined to be "good", and if it is below the lower limit, the product is determined to be "defective".It is possible to select and specify one of the three determination modes through the main control circuit 31. Once the values and determination mode settings are specified by the main control circuit 31 through the signal line 190, they remain unchanged unless the main control circuit 31 supplies data again.
比較回路１８９の出力は信号線１９１を通じて取りださ
れ、信号線１９１を通じてアンド回路１９３の一方の入
力端子に供給される。その比較回路１８９の出力は上述
のように“良”品と判定したときには“Ｌ”レベルを出
力し、“不良”品と判定したときは、“Ｈ”レベルを出
力する。信号線１９１の出力はアンド回路１９３におい
て、信号線１９２を通じて供給される第１２図の５３２
に示す信号と論理積がとられ、信号線１９４にその論理
積出力が現われる。すなわち、１水平走査周期毎の比較
結果が、１水平走査周期内に不良部分が存在する。とき
は″Ｈ″レベルの３３２に示す信号がアンド回路１９３
の出力信号線１９４に現われ、Ｔカウンタ１９５のカウ
ントパルス入力に供給され、カウントされる。The output of the comparison circuit 189 is taken out through a signal line 191 and supplied to one input terminal of an AND circuit 193 through the signal line 191. The output of the comparison circuit 189 outputs the "L" level when the product is determined to be "good" as described above, and outputs the "H" level when the product is determined to be "defective". The output of the signal line 191 is supplied to the AND circuit 193 through the signal line 192 at 532 in FIG.
A logical product is taken with the signal shown in , and the logical product output appears on the signal line 194. That is, the comparison result for each horizontal scanning period indicates that a defective portion exists within one horizontal scanning period. When the signal shown at 332 is at "H" level, the AND circuit 193
The signal appears on the output signal line 194 of the T counter 195, and is supplied to the count pulse input of the T counter 195 and counted.
Ｔカウンタ１９５の他人力には第１０図の信号線１７６
からの信号と同様の信号が信号線１９６を通じて供給さ
れ、測定開始の直前にＴカウンタ１９５はリセットされ
てカウント値をクリアする。The signal line 176 in FIG. 10 is connected to the T counter 195.
A signal similar to that from T counter 195 is supplied through signal line 196, and immediately before starting measurement, T counter 195 is reset to clear the count value.
Ｔカウンタ１９５の出力、すなわち、不良部分のある走
査線の本数のカウント値（不良走査線数値）は信号線１
９７を通じて比較回路１９８に供給される。一方、比較
回路１９８の他人力には信号線１９９を通じて主制御回
路３１からの輪郭合否判定規格値が供給される。この規
格値は、主制御回路３１から一旦与えられると再度、主
制御回路３１から別のデータが供給されない限り不変で
ある。比較回路１９８ではＴカウント１９５の出力のカ
ウント値（不良走査線数値）と上述の輪郭合否判定規格
値とを比較し、Ｔカウンタ１９５の出力カウント値（前
者）が輪郭合否判定規格値（後者）より大なるときは出
力側信号線２００に“Ｈ”レベルの出力を出力し、前者
と後者が等しいか、あるいは前者が後者より小なるとき
は“Ｌ“レベルの出力が信号線２００に出力する。すな
わち、不良品のときは、”Ｈ″レベル信号が、良品のと
きは“Ｌ”レベルの信号が信号線２００に出力される。The output of the T counter 195, that is, the count value of the number of scanning lines with defective parts (defective scanning line value) is the signal line 1.
The signal is supplied to a comparison circuit 198 through 97. On the other hand, the contour pass/fail determination standard value is supplied from the main control circuit 31 through a signal line 199 to the external input of the comparison circuit 198 . Once this standard value is given by the main control circuit 31, it remains unchanged unless another data is supplied from the main control circuit 31 again. The comparison circuit 198 compares the output count value (defective scanning line value) of the T-counter 195 with the above-mentioned contour pass/fail determination standard value, and the output count value of the T-counter 195 (former) becomes the contour pass/fail determination standard value (latter). When it is greater than the latter, an “H” level output is output to the output side signal line 200, and when the former is equal to the latter or the former is smaller than the latter, an “L” level output is output to the signal line 200. . That is, an "H" level signal is output to the signal line 200 when the product is defective, and a "L" level signal is output when the product is good.
第１０図の信号線１８０の判定出力は中心部判定回路２
６の出力信号線２８に出力され、第１１図の信号線２０
０の判定出力は輪郭部判定回路２７の出力信号線２９に
出力され、それぞれ第２図のオア回路３０に入力されて
、どちらかの判定出力でも不良品を示すものであればオ
ア回路３０の出力信号線４１には不良の判定結果が出力
され、またどちらの判定出力も良品を示すものであれば
出力信号線４１に良品の判定結果を出力する。The determination output of the signal line 180 in FIG.
It is output to the output signal line 28 of FIG. 6, and the signal line 20 of FIG.
The determination output of 0 is output to the output signal line 29 of the contour portion determination circuit 27, and is input to the OR circuit 30 in FIG. A determination result of a defective product is output to the output signal line 41, and if both determination outputs indicate a non-defective product, a determination result of a non-defective product is output to the output signal line 41.
次に、全体の動作について説明する。Next, the overall operation will be explained.
主制御回路３１に不図示のキーボード等を介して所定の
開始指令を操作者が与えることにより検査が開始する。The test starts when the operator gives a predetermined start command to the main control circuit 31 via a keyboard (not shown) or the like.
なお、主制御回路３１内には検査するレンズの透過およ
び反射の検査位置データ、各モーター２，３．４．８の
制御値が各検査位置毎に記憶されている。また、中心部
検査範囲出力回路１７および輪郭部検査範囲出力回路１
８にも、それぞれの検査位置においてテレビカメラ９が
とらえるレンズ形状に合った検査範囲データが記憶され
ている。In the main control circuit 31, transmission and reflection inspection position data of the lens to be inspected and control values for each motor 2, 3, 4, 8 are stored for each inspection position. In addition, the center inspection range output circuit 17 and the contour inspection range output circuit 1
8 also stores inspection range data that matches the lens shape captured by the television camera 9 at each inspection position.
被検査レンズ１の検査に先立って、主制御回路３１の指
令制御により各モーター２，３．４および８のうち原点
にないものは駆動されて原点に戻り、それによりステー
ジ２′、ステージ３′、ベース板１′およびステージ８
′の位置が原点にセットされる。次に、主制御回路３１
には上述したように被検査レンズ１の透過および反射の
検査位置データがあらかじめ記憶されているので、主制
御回路３１の制御によって透過検査の場合は所定の透過
検査位置まで、反射検査の場合は所定の反射検査位置ま
で、ステージ２′、ステージ３′、ベース板１′および
ステージ８′が移動し停止するようにモーター２，３．
４および８が駆動される。これと同時に、レンズ回転用
のモーター５も駆動されて、ある一定回転数、例えば３
６００／ｎ ｒｐｍ（ｎ−円周分割数）で回転ｌハこれ
により被検査レンズ１が回転する。また、このとき、被
検査レンズ１の透過検査あるいは反射検査の別に応じて
主制御回路３１の制御により照明用電源切換回路３９を
切り換え透過検査用照明装置１１あるいは反射検査用照
明装置１２をテレビ同期信号発生回路３８（第９図の５
１１）のテレビ垂直同期信号のＬレベルに同期して発光
を開始させる。Prior to the inspection of the lens 1 to be inspected, the motors 2, 3, 4, and 8 that are not at the origin are driven by the command control of the main control circuit 31 to return to the origin, and as a result, the stages 2', 3' , base plate 1' and stage 8
’ position is set to the origin. Next, the main control circuit 31
As described above, since the inspection position data for transmission and reflection of the lens 1 to be inspected is stored in advance, the data is controlled by the main control circuit 31 to a predetermined transmission inspection position in the case of a transmission inspection, and to a predetermined transmission inspection position in the case of a reflection inspection. The motors 2, 3, .
4 and 8 are driven. At the same time, the motor 5 for rotating the lens is also driven to a certain number of rotations, for example 3.
The lens 1 to be inspected rotates at 600/n rpm (n - number of circumferential divisions). At this time, the illumination power supply switching circuit 39 is switched under the control of the main control circuit 31 depending on whether the lens 1 to be inspected is being inspected for transmission or reflection. Signal generation circuit 38 (5 in Figure 9)
11) Light emission is started in synchronization with the L level of the television vertical synchronization signal.
今、透過検査の場合とすると、透過検査位置に移動完了
後からの透過照明の発光によって、被検査レンズ１に光
が照射されると、テレビカメラ９には、撮像された映像
信号が発生し、その映像信号は信号線１４を通じて映像
信号２値化処理回路１５に供給され、２値化処理後の出
力信号が信号線１６を通じてアンド回路２１．２２の各
１入力端子に人力される。このとき被検査レンズ１にキ
ズなどの欠陥があると、さきに第４図、第５図を参照し
て説明したように第５図Ｓ３，５４およびＳ５に示すよ
うな出力信号が映像信号２値化処理回路１５から出力さ
れる。Now, in the case of a transmission inspection, when the lens 1 to be inspected is irradiated with light by the transmission illumination after it has moved to the transmission inspection position, a captured video signal is generated on the television camera 9. The video signal is supplied to the video signal binarization processing circuit 15 through the signal line 14, and the output signal after the binarization processing is inputted to each one input terminal of the AND circuit 21 and 22 through the signal line 16. At this time, if there is a defect such as a scratch on the lens 1 to be inspected, the output signals shown in S3, 54 and S5 in FIG. It is output from the value processing circuit 15.
アンド回路２１および２２の他人力には、第６図。FIG. 6 shows the operation of the AND circuits 21 and 22.
第７図および第８図を参照してすでに説明したようにそ
れぞれ対応の中心部検査範囲出力回路１７からの中心部
検査範囲信号または輪郭部検査範囲出力回路１８からの
輪郭部検査範囲信号が入力信号として供給されているの
で、アンド回路２１および２２ではその入力信号と映像
信号２値化処理回路１５からの出力信号との論理積がと
られ、レンズ形状に対応したそれぞれの検査範囲の中の
きずなどの欠陥と対応する信号が出力される。As already explained with reference to FIGS. 7 and 8, the center inspection range signal from the corresponding center inspection range output circuit 17 or the contour inspection range signal from the contour inspection range output circuit 18 is input. Since the signal is supplied as a signal, the AND circuits 21 and 22 perform a logical product of the input signal and the output signal from the video signal binarization processing circuit 15, and calculate the output signal within each inspection range corresponding to the lens shape. A signal corresponding to a defect such as a scratch is output.
アンド回路２１および２２の出力信号はそれぞれ対応の
中心部判定回路２６または輪郭部判定回路２７に供給さ
れ、第１０図、第１１図および第１２図を参照してすで
に説明したように、被検査レンズの判定処理がなされる
。中心部判定回路２６の判定結果を示す信号は、信号線
２８を介してオア回路３０に供給され、輪郭部判定回路
２７の判定結果を示す信号は信号線２９を介してオア回
路３０に供給される。The output signals of the AND circuits 21 and 22 are respectively supplied to the corresponding center portion determination circuit 26 or contour portion determination circuit 27, and as already explained with reference to FIGS. 10, 11 and 12, Lens determination processing is performed. A signal indicating the determination result of the center portion determination circuit 26 is supplied to the OR circuit 30 via the signal line 28, and a signal indicating the determination result of the contour portion determination circuit 27 is supplied to the OR circuit 30 via the signal line 29. Ru.
ここで、被検査レンズ１の測定開始にあたって、第１Ｏ
図に示す中心部判定回路１７には、信号線１７２を通じ
て測定開始信号が供給され、第１１図に示す輪郭部判定
回路１８には信号線１８３を通じて測定開始信号が供給
されるが、測定開始信号がＨレベルの間、アンド回路１
７３に入力されている映像２値化信号を基にレンズ中心
部または輪郭部の判定処理が行われる。この測定開始信
号としては被検査レンズ１が一定の検査位置に停止して
からレンズ１の所定の円周分割数の検査期間（例えば、
ｎ×テレビの１フイ一ルド期間）の間は少なくとも“Ｈ
”レベルを保たねばならない。また、被検査レンズ１が
つぎの検査位置に移動している時には、測定開始信号は
″Ｌ″レベルになる。これらの中心部の判定処理と輪郭
部の判定処理は並列に行われる。Here, when starting the measurement of the lens 1 to be inspected, the first
The center portion determination circuit 17 shown in the figure is supplied with a measurement start signal through a signal line 172, and the contour portion determination circuit 18 shown in FIG. 11 is supplied with a measurement start signal through a signal line 183. is at H level, AND circuit 1
Based on the video binarized signal inputted to 73, a process for determining the center or contour of the lens is performed. This measurement start signal includes an inspection period of a predetermined number of circumferential divisions of the lens 1 after the lens 1 to be inspected stops at a certain inspection position (for example,
n x TV 1 field period) at least “H”
In addition, when the lens 1 to be inspected is moving to the next inspection position, the measurement start signal becomes the "L" level. These center part determination processes and contour part determination processes are performed in parallel.
このように、被検査レンズ１の所定の検査モードに応じ
た一定の検査位置（例えば透過検査位置）での所定の測
定が終了すると、測定開始信号は、“Ｌ”レベルになり
、主制御回路３１に記憶されている次の検査位置データ
が信号線３７を通じて駆動系制御部４０に指令され、こ
の駆動系制御部４０により被検査レンズ１を移動するた
めのモーター２．３，４．および８を駆動して、次の検
査位置に被検査レンズ１を移動し、停止する。In this way, when a predetermined measurement of the lens 1 to be inspected at a fixed inspection position (for example, a transmission inspection position) according to a predetermined inspection mode is completed, the measurement start signal becomes "L" level, and the main control circuit 31 is commanded to the drive system controller 40 through the signal line 37, and the drive system controller 40 controls the motors 2, 3, 4, . and 8 to move the lens 1 to be inspected to the next inspection position and stop.
例えば、透過検査を行っていたのを終了し、被検査レン
ズ１の表面に反射光を当ててその反射像により検査する
反射検査をする場合は、前の透過検査位置での測定が完
了すると、主制御回路３１から信号線を通じて照明用電
源・切換回路３９に指令を与えて透過検査用照明装置１
１の点灯から反射検査用照明装置１２の点灯に切換え、
これにより透過検査用照明装置１を消灯し、反射検査用
照明装置１２をテレビ同期信号発生回路３８の垂直同期
信号に同期して発光を開始させる。For example, when completing a transmission inspection and performing a reflection inspection in which the surface of the lens 1 to be inspected is irradiated with reflected light and inspected by the reflected image, when the measurement at the previous transmission inspection position is completed, A command is given from the main control circuit 31 to the illumination power supply/switching circuit 39 through the signal line, and the transmission inspection illumination device 1 is
Switching from the lighting of 1 to the lighting of the reflection inspection lighting device 12,
As a result, the transmission inspection illumination device 1 is turned off, and the reflection inspection illumination device 12 is started to emit light in synchronization with the vertical synchronization signal of the television synchronization signal generation circuit 38.
また、この時の反射検査位置に適合した中心部検査範囲
および輪郭部検査範囲を設定するために、主制御回路３
１から信号線３４および３５を通じてこの時の検査範囲
に合った所定の検査範囲データおよび検査範囲モードの
データを中心部検査範囲出力回路１７および輪郭部検査
範囲出力回路１８に指令し、それぞれ指定された検査範
囲出力信号から回路１７の出力側信号線１９と回路１８
の出力側信号線２０に出力され、アンド回路２１および
２２に入力される。In addition, the main control circuit 3
1 to the center inspection range output circuit 17 and the contour inspection range output circuit 18 through the signal lines 34 and 35 to instruct predetermined inspection range data and inspection range mode data that match the inspection range at this time, respectively. The output side signal line 19 of the circuit 17 and the circuit 18 from the inspection range output signal
The signal is output to the output side signal line 20 and input to the AND circuits 21 and 22.
このように、設定された検査範囲に応じた検査範囲出力
信号と映像信号２値化処理信号との論理積がアンド回路
２１および２２でとられ、その演算結果は中心部判定回
路２６および輪郭部判定回路２７に入力して透過検査の
場合と同様に反射検査位置に停止してからの判定処理が
される。すなわち、設定された検査範囲内の映像信号２
値化処理信号がアンド回路２１および２２でとり出され
、その論理積出力に基づいて中心部判定回路２６および
輪郭部判定回路２７でレンズの合否の判定がされ、その
判定結果が信号線４１を通じて外部にとり出される。こ
のように１つの被検査レンズ１に対して透過照明および
反射照明を交互に切換えて、それぞれの検査位置におい
て測定および判定処理を行い、合否の判定結果を出力す
る。In this way, the AND circuits 21 and 22 take the AND circuit of the inspection range output signal corresponding to the set inspection range and the video signal binarized signal, and the result of the calculation is sent to the center part determination circuit 26 and the contour part determination circuit 26. It is input to the determination circuit 27, and the determination process is performed after stopping at the reflection inspection position in the same way as in the case of transmission inspection. In other words, the video signal 2 within the set inspection range
Value processing signals are taken out by AND circuits 21 and 22, and based on the logical product output, a decision is made as to whether the lens is acceptable or not in a center part judgment circuit 26 and an edge part judgment circuit 27, and the judgment result is sent through a signal line 41. taken outside. In this way, transmitted illumination and reflected illumination are alternately switched for one lens 1 to be inspected, measurement and determination processing are performed at each inspection position, and a pass/fail determination result is output.
なお、１つの被検査レンズを検査するにあたって、レン
ズの形状により透過検査位置および反射検査位置の各位
置でレンズの片面でしか検査ができない場合は、主制御
回路３１および中心部検査範囲出力回路１７および輪郭
部検査範囲出力回路１８に片面検査に必要なデータを予
め入力しておけば、そのデータに従フて片面のみの検査
が行われる。Note that when inspecting one lens to be inspected, if it is possible to inspect only one side of the lens at each of the transmission inspection position and reflection inspection position due to the shape of the lens, the main control circuit 31 and the center inspection range output circuit 17 If data necessary for single-sided inspection is input in advance to the contour inspection range output circuit 18, only one side will be inspected in accordance with the data.
ただし、被検査レンズ１の他方の面の検査を行うにあた
フては、レンズ１を反転させてやり、そのレンズ面に適
合した検査位置、検査範囲等の必要なデータを主制御回
路３１内に予め人力しておいたデータを使用して行うこ
とにより、同様に検査することができる。However, when inspecting the other surface of the lens 1 to be inspected, the lens 1 is inverted, and necessary data such as the inspection position and inspection range suitable for that lens surface are transmitted to the main control circuit 3. A similar test can be performed by using data that has been manually prepared in advance.
１つの被検査レンズ１の測定検査が終了したら、各モー
ター２，３．４および８を駆動してステージ等を再び原
点に戻し、停止させる。次に透過検査用照明装置１１お
よび反射検査用照明装置１２のうちで点灯中のものを消
灯し、かつレンズ回転用モーター５も停止して、１つの
被検査レンズの検査が完了する。When the measurement and inspection of one lens 1 to be inspected is completed, each motor 2, 3, 4, and 8 is driven to return the stage etc. to the origin again and stop it. Next, the illumination device 11 for transmission inspection and the illumination device 12 for reflection inspection that are on is turned off, and the lens rotation motor 5 is also stopped, completing the inspection of one lens to be inspected.
以上述べた本発明実施例では、テレビカメラ９の焦点調
節（ピント合わせ）にあたって、主制御回路３１からの
あらかじめ記憶した制御データに基づいた制御によりモ
ーター８を駆動して、テレビカメラ全体を６動させてい
るが、テレビカメラ９としてオートフォーカスのテレビ
カメラを使用すれば、この部分の制御および制御データ
の記憶は不用となる。また、カメラ９の受光部または照
明装置（特に、反射検査用照明装置１２）に、被検査レ
ンズのコーテイング膜の色に対しての補色の色フィルタ
ーを入れることにより、コーテイング膜の変色不良など
の不良も検出することができる。In the embodiment of the present invention described above, when adjusting the focus of the television camera 9, the motor 8 is driven by control based on control data stored in advance from the main control circuit 31, and the entire television camera is moved in six motions. However, if an autofocus television camera is used as the television camera 9, the control of this part and the storage of control data become unnecessary. In addition, by inserting a color filter with a complementary color to the color of the coating film of the lens to be inspected in the light receiving section of the camera 9 or the illumination device (especially the illumination device 12 for reflection inspection), it is possible to prevent defects such as discoloration of the coating film. Defects can also be detected.
［発明の効果］
以上説明したように、本発明では、レンズ特有の形状で
ある球面および凸面凹面の形状のレンズ体に対して、１
台の検査装置で全面の検査を高速に処理でき、レンズの
欠陥項目である材料表面のきす、端面周辺（輪郭部）の
材料かけ、材料内部の気泡、クラック、表面のコーテイ
ング膜のきす、コーテイング膜の極部ぬけ、コーティン
グ材料の粒大、汚れ、およびレンズへのごみ・けば付着
等の多種の欠陥項目の検出をすることにかでき、これら
検出によってレンズの合否の判定を自動的に容易に行う
ことができる。[Effects of the Invention] As explained above, in the present invention, 1
The inspection equipment on the stand can perform high-speed inspection of the entire surface, and can detect lens defects such as scratches on the material surface, material chips around the edge (contour), bubbles and cracks inside the material, and scratches in the coating film on the surface. It is capable of detecting various types of defects such as removal of the extreme parts of the film, particle size of the coating material, dirt, and dirt/fuss adhering to the lens, and automatically determines whether the lens is acceptable or not based on these detections. It can be done easily.
すなわち、本発明によれば、
■ レンズの合否判定処理を行う判定手段に中心部と輪
郭部の２つを設けたのでレンズ特有の周辺部のかけや、
こば部の反射防止のための墨塗りはみだし不良などを確
実に検出できる。That is, according to the present invention, (1) Since the determining means for performing the pass/fail determination process for the lens is provided with two parts, one for the center part and one for the outline part, it is possible to eliminate
It is possible to reliably detect defects such as ink painting on edges to prevent reflection.
■ 被検査レンズを撮像して得た映像信号を２値化する
にあたって、その映像信号を２分し、一方を少し遅延さ
せて両者の差分をとるようにしたので、レンズの球面形
状等によるテレビカメラの受光する光量の不均一な受光
光量の中から欠陥部のみを抽出することができる。■ When we binarized the video signal obtained by imaging the lens to be inspected, we divided the video signal into two, delayed one part a little, and took the difference between the two. Only the defective portion can be extracted from the uneven amount of light received by the camera.
■ 検査用照明として、透過検査用および反射検査用を
具えたので、１個の検査装置でレンズの材料不良ばかり
でなくレンズ表面のコーテイング膜不良の検出もできる
。(2) Since inspection illumination is provided for transmission inspection and reflection inspection, one inspection device can detect not only defects in the lens material but also defects in the coating film on the lens surface.
■ 検査用照明をテレビ垂直同期信号に同期して発光さ
せ、被検査レンズを所定回転、例えば３６００／ｎｒｐ
ｍ（ｎ＝円周分割数）の回転数で回転するようにしたの
で被検査レンズを連続的に回転したままで欠陥検査をす
ることが可能となった。また、処理手段をハード回路で
構成することができるので、出力映像信号を実時間で処
理することができ、これによって高速に検査ができる。■ Light for inspection is emitted in synchronization with the TV vertical synchronization signal, and the lens to be inspected is rotated at a predetermined rate, for example, 3600/nrp.
Since the lens rotates at a rotational speed of m (n=number of circumferential divisions), it is possible to inspect the lens for defects while continuously rotating the lens to be inspected. Furthermore, since the processing means can be constructed from a hardware circuit, the output video signal can be processed in real time, thereby enabling high-speed inspection.
■ さらに被検査レンズを左右、上下方向に移動し、か
つ傾ける機構と、テレビカメラを合焦点方向に移動する
機構とおよびレンズの検査範囲出力手段として中心部お
よび輪郭部の２つを具えたので、さまざまな異種形状の
被検査レンズの検査ができる。■ Furthermore, it is equipped with a mechanism for moving and tilting the lens to be inspected in the horizontal and vertical directions, a mechanism for moving the television camera toward the focal point, and two parts for outputting the inspection range of the lens: the center part and the contour part. , it is possible to inspect lenses of various different shapes.
第１図は本発明実施例の基本的な構成を示すブロック図
、
第２図は本発明の一実施例の全体の構成を示す斜視図、
第３図は第２図の本発明実施例の電気的な系統の回路構
成を示すブロック図、
第４図は第３図の映像信号２値化処理回路の構成例を示
すブロック図、
第５図は第４図の映像信号２値化処理回路の各部の信号
の波形および出力タイミングを示す波形図、
第６図（＾）〜（Ｅ）は検査範囲のパターンを示す説明
図、
第７図（Ａ）〜（Ｄ）はレンズの形状と検査範囲パター
ンとの関係を示す説明図、
第８図は第４図の本発明実施例に係る検査範囲パターン
発生器の構成例を示すブロック図、第９図は第８図の検
査範囲パターン発生器の各部の信号の波形および出力タ
イミングを示す波形図、
第１０図は第４図の中心部判定回路２６の構成例を示す
ブロック図、
第１１図は第４図の輪郭部判定回路２７の構成例を示す
ブロック図、
第１２図は第１１図の輪郭部判定回路２７の各部の信号
の波形および出力タイミングを示す波形図である。
１・・・被検査レンズ、
９・・・テレビカメラ、
１１・・・透過検査用照明装置、
１２・・・反射検査用照明装置、
１３・・・テレビモニタ、
１５・・・映像信号２値化処理回路、
１７・・・中心部検査範囲出力回路、
１８・・・輪郭部検査範囲出力回路、
２１．２２・・・アンド回路、
２５．３０・・・オア回路、
２６・・・中心部判定回路、
２７・・・輪郭部判定回路、
３１・・・主制御回路、
４０・・・駆動系制御回路。
第５図FIG. 1 is a block diagram showing the basic configuration of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a perspective view showing the overall configuration of an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a block diagram showing the overall configuration of an embodiment of the invention shown in FIG. FIG. 4 is a block diagram showing an example of the configuration of the video signal binarization processing circuit shown in FIG. 3; FIG. 5 is a block diagram showing the circuit configuration of the electrical system; FIG. A waveform diagram showing the signal waveform and output timing of each part, Figures 6 (^) to (E) are explanatory diagrams showing the pattern of the inspection range, Figures 7 (A) to (D) are the lens shape and inspection 8 is a block diagram showing a configuration example of the inspection range pattern generator according to the embodiment of the present invention shown in FIG. 4, and FIG. 9 is an explanatory diagram showing the relationship with the range pattern. 10 is a block diagram showing a configuration example of the center portion determination circuit 26 in FIG. 4, and FIG. 11 is a configuration of the contour portion determination circuit 27 in FIG. 4. A block diagram showing an example. FIG. 12 is a waveform diagram showing signal waveforms and output timings of each part of the contour portion determination circuit 27 of FIG. 11. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Lens to be inspected, 9... Television camera, 11... Illuminating device for transmission inspection, 12... Illuminating device for reflective inspection, 13... Television monitor, 15... Video signal binary 17... Center inspection range output circuit, 18... Contour inspection range output circuit, 21.22... AND circuit, 25.30... OR circuit, 26... Center part Judgment circuit, 27... Contour portion judgment circuit, 31... Main control circuit, 40... Drive system control circuit. Figure 5
Claims (1)
は反射検査用照明で照射する照明手段 と、 ｂ）該照明手段で照射された前記レンズの像を撮像して
映像信号を出力する撮像手段と、 ｃ）前記映像信号から前記レンズの欠陥を示す欠陥信号
を抽出する信号処理手段と、 ｄ）前記撮像手段で撮像した前記レンズの像の中心部と
輪郭部の２つに分けて検査範囲を出力する検査範囲出力
手段と、 ｅ）該検査範囲出力手段から出力する前記検査範囲内の
前記信号処理手段から出力する前記欠陥信号に基づき、
前記レンズの合否の判定を行う判定手段とを具備し、 ｆ）前記判定手段は、前記映像信号の実時間において、
前記中心部では該映像信号の処理後の中心部検査範囲内
の２値化信号時間を計測し、計測した該２値化信号時間
が所定の基準時間範囲内か否かを比較して前記合否の判
定を行い、 かつ前記輪郭部では輪郭検査範囲内のテレ ビ水平走査線毎に前記輪郭部の２値化信号幅を計測し、
計測した該２値化信号幅が基準幅範囲内か否かを比較し
て、さらに該基準幅範囲の外の走査線数が基準走査線数
範囲内か否かを比較して前記合否の判定を行い、 前記中心部と前記輪郭部の合否判定処理に おいて共に基準範囲内との判定時には前記レンズは良品
と判定し、 いずれか一方でも基準範囲外との判定の時 には前記レンズは不良品と判定する事を特徴とするレン
ズ検査装置。[Claims] 1) a) illumination means for illuminating a single lens, which is an object to be inspected, with transmission inspection illumination or reflection inspection illumination; and b) capturing an image of the lens illuminated by the illumination means. c) signal processing means for extracting a defect signal indicating a defect in the lens from the video signal; and d) a center portion and a contour portion of the image of the lens captured by the imaging device. e) an inspection range output means for outputting an inspection range divided into two parts; e) based on the defect signal output from the signal processing means within the inspection range output from the inspection range output means;
and a determining means for determining whether the lens is acceptable, f) the determining means, in real time of the video signal,
In the central part, the binarized signal time within the central part inspection range after processing the video signal is measured, and the measured binarized signal time is compared to see if it is within a predetermined reference time range or not. and at the contour portion, measure the binarized signal width of the contour portion for each television horizontal scanning line within the contour inspection range,
Comparing whether the measured binarized signal width is within a reference width range and further comparing whether the number of scanning lines outside the reference width range is within the reference scanning line number range to determine the pass/fail. In the pass/fail determination process for the center portion and the contour portion, when both are determined to be within the reference range, the lens is determined to be a good product, and when either of the center portion and the contour portion are determined to be outside the reference range, the lens is determined to be a defective product. A lens inspection device that is characterized by:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19212786A JPS6348431A (en) | 1986-08-19 | 1986-08-19 | Lens inspecting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19212786A JPS6348431A (en) | 1986-08-19 | 1986-08-19 | Lens inspecting device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6348431A true JPS6348431A (en) | 1988-03-01 |
Family
ID=16286122
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19212786A Pending JPS6348431A (en) | 1986-08-19 | 1986-08-19 | Lens inspecting device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6348431A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01297543A (en) * | 1988-05-25 | 1989-11-30 | Csk Corp | Defect inspecting device |
| EP0686841A3 (en) * | 1994-06-10 | 1997-05-07 | Johnson & Johnson Vision Prod | System and method for inspecting lenses |
| EP0775901A3 (en) * | 1992-12-21 | 1998-01-14 | JOHNSON & JOHNSON VISION PRODUCTS, INC. | Method and system for automatically inspecting ophthalmic lenses |
| US6134342A (en) * | 1993-12-27 | 2000-10-17 | Menicon Co., Ltd. | Visual inspection method and apparatus for contact lenses |
-
1986
- 1986-08-19 JP JP19212786A patent/JPS6348431A/en active Pending
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| EP0775899A3 (en) * | 1992-12-21 | 1998-03-04 | JOHNSON & JOHNSON VISION PRODUCTS, INC. | Method and system for automatically inspecting ophthalmic lenses |
| EP0775900A3 (en) * | 1992-12-21 | 1998-03-04 | JOHNSON & JOHNSON VISION PRODUCTS, INC. | Method and system for automatically inspecting ophthalmic lenses |
| EP1016860A2 (en) * | 1992-12-21 | 2000-07-05 | Johnson & Johnson Vision Products, Inc. | A method and system for automatically inspecting ophthalmic lenses |
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