JPS63317930A - 光学ヘッド - Google Patents
光学ヘッドInfo
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- JPS63317930A JPS63317930A JP15387787A JP15387787A JPS63317930A JP S63317930 A JPS63317930 A JP S63317930A JP 15387787 A JP15387787 A JP 15387787A JP 15387787 A JP15387787 A JP 15387787A JP S63317930 A JPS63317930 A JP S63317930A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光磁気記録再生装置等に用いる光学ヘッドに
関するものである。
関するものである。
光磁気記録再生装置における従来の光学ヘッドの一例を
第5図に基づいて説明する。
第5図に基づいて説明する。
半導体レーザ21から発したレーザ光は、コリメータレ
ンズ22によって平行光に変換され、第1ビームスプリ
ンタ23を介して対物レンズ24により記録媒体25上
に集光される。記録媒体25は、透光性材料からなる基
板26上に溝状の情報トランク27を形成し、垂直磁化
膜28を被覆したものである。この記録媒体25からの
反射光は、対物レンズ24によって再び光学系内に取り
込まれ、第1ビームスプリツタ23で光軸を90度曲げ
られて第2ビームスプリンタ29に送られる。このよう
にして取り出された反射光は、記録信号成分と共にフォ
ーカシングエラーとトラッキングエラーの情報を含んで
いる。
ンズ22によって平行光に変換され、第1ビームスプリ
ンタ23を介して対物レンズ24により記録媒体25上
に集光される。記録媒体25は、透光性材料からなる基
板26上に溝状の情報トランク27を形成し、垂直磁化
膜28を被覆したものである。この記録媒体25からの
反射光は、対物レンズ24によって再び光学系内に取り
込まれ、第1ビームスプリツタ23で光軸を90度曲げ
られて第2ビームスプリンタ29に送られる。このよう
にして取り出された反射光は、記録信号成分と共にフォ
ーカシングエラーとトラッキングエラーの情報を含んで
いる。
第2ビームスプリフタ29で再び光軸を90度曲げられ
た光束は、記録信号成分を取り出すために、1/2波長
板30及び集光レンズ31を介して偏光ビームスプリッ
タ32に送られる。1/2波長板30では、偏光方向が
45度回転される。
た光束は、記録信号成分を取り出すために、1/2波長
板30及び集光レンズ31を介して偏光ビームスプリッ
タ32に送られる。1/2波長板30では、偏光方向が
45度回転される。
また、偏光ビームスプリッタ32では、送られて来た光
束をP偏光成分とS偏光成分とに分割し、それぞれを光
検出器33・34に送る。この光検出器33・34は、
偏光ビームスプリンタ32で分割されたそれぞれの光軸
上における集光レンズ31の焦点位置に配置されでいる
。ところで、P偏光成分とS偏光成分とは、直線偏光の
レーザ光に対してそれぞれ45度の傾きをなす偏光成分
であり、互いに直交している。そして、記録媒体25で
は記録信号が垂直磁化膜28の磁化の状態として記録さ
れているので、照射したレーザ光に対してその反射光は
、記録信号に応じ偏光が回転することになる。従って、
光検出器33・34は、この反射光のP偏光成分とS偏
光成分を検出することにより、偏光の回転、即ち記録信
号を検出することができる。
束をP偏光成分とS偏光成分とに分割し、それぞれを光
検出器33・34に送る。この光検出器33・34は、
偏光ビームスプリンタ32で分割されたそれぞれの光軸
上における集光レンズ31の焦点位置に配置されでいる
。ところで、P偏光成分とS偏光成分とは、直線偏光の
レーザ光に対してそれぞれ45度の傾きをなす偏光成分
であり、互いに直交している。そして、記録媒体25で
は記録信号が垂直磁化膜28の磁化の状態として記録さ
れているので、照射したレーザ光に対してその反射光は
、記録信号に応じ偏光が回転することになる。従って、
光検出器33・34は、この反射光のP偏光成分とS偏
光成分を検出することにより、偏光の回転、即ち記録信
号を検出することができる。
また、第2ビームスプリンタ29を透過した光束は、ザ
ーポ信号成分を取り出すために、集光レンズ35とシリ
ンドリカルレンズ36とを通過する。集光レンズ35と
シリンドリカルレンズ36とは、シリンドリカルレンズ
36の母線に直交する方向に短い焦点を形成し、母線方
向に長い焦点を形成する。これらのレンズ35・36を
通過した光束は、長短の焦点の中間に配置した4分割光
検出器37に送られる。4分割光検出器37は、受光素
子を田の字形状に分割した光検出器であり、受光素子の
各分割線が記録媒体25のトランク方向及びこれの直交
方向となるように配置されている。また、シリンドリカ
ルレンズ36の母線方向は、この受光素子の各分割線に
対してほぼ45度傾くように配置されている。このよう
な配置によって、4分割光検出器37は、非点収差法に
よりフォーカシングエラーを検出し、また、ブツシュプ
ル法によりトラッキングエラーを検出する。
ーポ信号成分を取り出すために、集光レンズ35とシリ
ンドリカルレンズ36とを通過する。集光レンズ35と
シリンドリカルレンズ36とは、シリンドリカルレンズ
36の母線に直交する方向に短い焦点を形成し、母線方
向に長い焦点を形成する。これらのレンズ35・36を
通過した光束は、長短の焦点の中間に配置した4分割光
検出器37に送られる。4分割光検出器37は、受光素
子を田の字形状に分割した光検出器であり、受光素子の
各分割線が記録媒体25のトランク方向及びこれの直交
方向となるように配置されている。また、シリンドリカ
ルレンズ36の母線方向は、この受光素子の各分割線に
対してほぼ45度傾くように配置されている。このよう
な配置によって、4分割光検出器37は、非点収差法に
よりフォーカシングエラーを検出し、また、ブツシュプ
ル法によりトラッキングエラーを検出する。
これらのフォーカシングエラーとトランキングエラーの
情報によって、図示しないサーホ機構によりフォーカス
制御及びトラッキング制御を行うことができる。
情報によって、図示しないサーホ機構によりフォーカス
制御及びトラッキング制御を行うことができる。
しかしながら、このような従来の光学ヘッドでは、ビー
ムスプリンタや光検出器等の部品点数が多くなるので、
装置を小型化する際の障害となり、また、コストも高く
なるという問題点を有していた。
ムスプリンタや光検出器等の部品点数が多くなるので、
装置を小型化する際の障害となり、また、コストも高く
なるという問題点を有していた。
また、従来の光学ヘッドは、非点収差法を採用している
ので、トラッキングエラーが生じた場合にクロストーク
が発生し−、フォーカシングエラーを誤検出するという
問題点も有していた。
ので、トラッキングエラーが生じた場合にクロストーク
が発生し−、フォーカシングエラーを誤検出するという
問題点も有していた。
本発明に係る光学ヘッドは、上記の問題点を解決するた
めに、光源から発した直線偏光の光を記録媒体に照射し
、その反射光の偏光状態から記録信号を再生する光学ヘ
ッドにおいて、記録媒体からの反射光の光軸上に集光レ
ンズを配置し、さらにその後方に光軸を互いに直交する
偏光成分に分割する偏光ビームスプリッタを配置し、こ
の偏光ビームスプリッタによって分割された各光軸上に
おける集光レンズの焦点位置より前方と後方とに、受光
素子が少なくともトラック方向に2分割された光検出器
をそれぞれ配置したことを特徴としている。
めに、光源から発した直線偏光の光を記録媒体に照射し
、その反射光の偏光状態から記録信号を再生する光学ヘ
ッドにおいて、記録媒体からの反射光の光軸上に集光レ
ンズを配置し、さらにその後方に光軸を互いに直交する
偏光成分に分割する偏光ビームスプリッタを配置し、こ
の偏光ビームスプリッタによって分割された各光軸上に
おける集光レンズの焦点位置より前方と後方とに、受光
素子が少なくともトラック方向に2分割された光検出器
をそれぞれ配置したことを特徴としている。
記録媒体に記録された記録信号は、反射光の偏光の回転
として現れる。このため、反射光を偏光ビームスプリッ
タによって各偏光成分に分割すると、その偏光の回転に
応じて各偏光成分の構成比が変化する。従って、2分割
された受光素子を一体として各光検出器の出力を比較す
れば記録信号を検出することができる。
として現れる。このため、反射光を偏光ビームスプリッ
タによって各偏光成分に分割すると、その偏光の回転に
応じて各偏光成分の構成比が変化する。従って、2分割
された受光素子を一体として各光検出器の出力を比較す
れば記録信号を検出することができる。
また、記録媒体に照射する光の焦点がずれると、集光レ
ンズの焦点位置に対して実際の結像位置がずれる。この
ため、集光レンズの焦点位置から前後にずらして配置し
た各光検出器上に照射する光スポットの大きさが互いに
逆方向の変化を生じるので、光検出器の受光素子を分割
する不感帯に照射する光量が両者で異なることになる。
ンズの焦点位置に対して実際の結像位置がずれる。この
ため、集光レンズの焦点位置から前後にずらして配置し
た各光検出器上に照射する光スポットの大きさが互いに
逆方向の変化を生じるので、光検出器の受光素子を分割
する不感帯に照射する光量が両者で異なることになる。
従って、2分割された受光素子を一体として各光検出器
の出力を比較すればフォーカシングエラーを検出するこ
とができる。なお、フォー力シングエラーを検出する信
号の変化の周期は、先の記録信号の変化の周期より極め
て長いので、両信号は周波数帯域により容易に分離する
ことができる。
の出力を比較すればフォーカシングエラーを検出するこ
とができる。なお、フォー力シングエラーを検出する信
号の変化の周期は、先の記録信号の変化の周期より極め
て長いので、両信号は周波数帯域により容易に分離する
ことができる。
さらに、記録媒体に照射する光のトラッキングがずれる
と、この記録媒体が反射回折格子として作用することか
ら、光検出器上に照射する光スポットが回折光の干渉効
果によりトラック方向の両側において光強度に変化を生
じることになる。このため、各光検出器におけるトラッ
ク方向に対して同じ側にある受光素子の出力同士を合わ
せて、両者を比較すれば、トラッキングエラーを検出す
ることができる。
と、この記録媒体が反射回折格子として作用することか
ら、光検出器上に照射する光スポットが回折光の干渉効
果によりトラック方向の両側において光強度に変化を生
じることになる。このため、各光検出器におけるトラッ
ク方向に対して同じ側にある受光素子の出力同士を合わ
せて、両者を比較すれば、トラッキングエラーを検出す
ることができる。
従って、本発明の光学ヘッドにおいても、従来と同様に
記録信号と共にフォーカシングエラーとトラッキングエ
ラーの情報を検出することができる。
記録信号と共にフォーカシングエラーとトラッキングエ
ラーの情報を検出することができる。
本発明の一実施例を第1図乃至第4図に基づいて説明す
れば、以下の通りである。
れば、以下の通りである。
本実施例の光学ヘッドは、半導体レーザ1から発せられ
るレーザ光の光軸に沿って、コリメータレンズ2、ビー
ムスプリンタ3及び対物レンズ4を配置している。
るレーザ光の光軸に沿って、コリメータレンズ2、ビー
ムスプリンタ3及び対物レンズ4を配置している。
コリメータレンズ2は、半導体レーザ1がら発したレー
ザ光を平行光に変換するものである。対物レンズ4は、
平行光に変換されたレーザ光を集光するものである。記
録媒体5は、ガラス等の光透過材料からなる基板6に同
心円状又は螺旋状に形成した溝状の情報トラック7を設
け、垂直磁化膜8を被覆したものである。垂直磁化膜8
は、例えば希土類と遷移金属とのアモルファス合金薄膜
等を蒸着又はスパックリング等によって基板6上に成膜
したものである。
ザ光を平行光に変換するものである。対物レンズ4は、
平行光に変換されたレーザ光を集光するものである。記
録媒体5は、ガラス等の光透過材料からなる基板6に同
心円状又は螺旋状に形成した溝状の情報トラック7を設
け、垂直磁化膜8を被覆したものである。垂直磁化膜8
は、例えば希土類と遷移金属とのアモルファス合金薄膜
等を蒸着又はスパックリング等によって基板6上に成膜
したものである。
上記の記録媒体5は、基板6の裏面側からレーザ光を照
射し、対物レンズ4の焦点位置に情報トラック7が位置
するように配置される。記録媒体5が光磁気ディスクの
場合、記録媒体5の表面側から磁界を印加しておき、情
報トラック7上に照射したレーザ光によってその部分の
垂直磁化膜8の磁化を反転させることにより情報を記録
する。
射し、対物レンズ4の焦点位置に情報トラック7が位置
するように配置される。記録媒体5が光磁気ディスクの
場合、記録媒体5の表面側から磁界を印加しておき、情
報トラック7上に照射したレーザ光によってその部分の
垂直磁化膜8の磁化を反転させることにより情報を記録
する。
ビームスプリッタ3は、光を一部反射することにより光
軸を分割するものであり、記録媒体5からの反射光の光
軸を90度曲げる役割を果たす。
軸を分割するものであり、記録媒体5からの反射光の光
軸を90度曲げる役割を果たす。
ビームスプリッタ3からの反射光の光軸には、1/2波
長板9、集光レンズ10及び偏光ビームスプリッタ11
が配置されている。1/2波長板9は、偏光方向を45
度回転させるものであり、光学系の配置上の都合により
挿入されたものである。集光レンズ10は、焦点Fを有
し、偏光ビームスプリンタ11のさらに後方で結像する
ようになっている。偏光ビームスプリッタ11は、光軸
をP偏光成分とS偏光成分とに分割するものである。P
偏光成分とS偏光成分とは、直線偏光のレーザ光に対し
てそれぞれ45度の傾きをなす偏光成分であり、互いに
直交している。
長板9、集光レンズ10及び偏光ビームスプリッタ11
が配置されている。1/2波長板9は、偏光方向を45
度回転させるものであり、光学系の配置上の都合により
挿入されたものである。集光レンズ10は、焦点Fを有
し、偏光ビームスプリンタ11のさらに後方で結像する
ようになっている。偏光ビームスプリッタ11は、光軸
をP偏光成分とS偏光成分とに分割するものである。P
偏光成分とS偏光成分とは、直線偏光のレーザ光に対し
てそれぞれ45度の傾きをなす偏光成分であり、互いに
直交している。
偏光ビームスプリンタ11を透過したP偏光成分の光軸
上における焦点Fより前方には、光検出器12が配置さ
れている。また、偏光ビームスプリッタ11によって9
0度曲げられたS偏光成分の光軸上における集光レンズ
10の焦点Fより後方には、光検出器13が配置されて
いる。これらの光検出器12・13は、それぞれの受光
面が焦点Fの前後にずれる距離が同じになるように配置
されている。光検出器12・13は、受光素子を記録媒
体5におけるトランク方向に2分割したものである。受
光素子をこのように分割した結果、第2図(a)に示す
ように、各受光素子12a・12b及び13a・13b
の間隙には、それぞれ不惑帯12c・13cが生じるこ
とになる。これらの受光素子12a12b及び13a−
13bは、それぞれ別個に受光量を検出して出力するこ
とができる。
上における焦点Fより前方には、光検出器12が配置さ
れている。また、偏光ビームスプリッタ11によって9
0度曲げられたS偏光成分の光軸上における集光レンズ
10の焦点Fより後方には、光検出器13が配置されて
いる。これらの光検出器12・13は、それぞれの受光
面が焦点Fの前後にずれる距離が同じになるように配置
されている。光検出器12・13は、受光素子を記録媒
体5におけるトランク方向に2分割したものである。受
光素子をこのように分割した結果、第2図(a)に示す
ように、各受光素子12a・12b及び13a・13b
の間隙には、それぞれ不惑帯12c・13cが生じるこ
とになる。これらの受光素子12a12b及び13a−
13bは、それぞれ別個に受光量を検出して出力するこ
とができる。
上記の構成をなす光学ヘッドの作用を説明する。半導体
レーザ1から発したレーザ光は、コリメータレンズ2に
よって平行光に変換され、ビームスプリッタ3を通過し
て対物レンズ4により記録媒体5の情報トランク7上に
集光される。そして、この記録媒体5からの反射光は、
対物レンズ4によって再び光学系内に取り込まれ、ビー
ムスプリッタ3で光軸を90度曲げられる。
レーザ1から発したレーザ光は、コリメータレンズ2に
よって平行光に変換され、ビームスプリッタ3を通過し
て対物レンズ4により記録媒体5の情報トランク7上に
集光される。そして、この記録媒体5からの反射光は、
対物レンズ4によって再び光学系内に取り込まれ、ビー
ムスプリッタ3で光軸を90度曲げられる。
このようにして取り出された反射光は、集光レンズ10
によって集光され、偏光ビームスブリック11で光軸を
P偏光成分とS偏光成分とに分割され、それぞれ光検出
器12・13に送られる。
によって集光され、偏光ビームスブリック11で光軸を
P偏光成分とS偏光成分とに分割され、それぞれ光検出
器12・13に送られる。
第2図(a)に示すように、光検出器12の受光素子1
2a・12b上には、焦点が後方にずれた光スポットA
pが照射される。また、光検出器13の受光素子13a
・13b上には、焦点が前方にずれた光スポットA3が
照射される。
2a・12b上には、焦点が後方にずれた光スポットA
pが照射される。また、光検出器13の受光素子13a
・13b上には、焦点が前方にずれた光スポットA3が
照射される。
まず、記録信号を検出する場合について説明する。半導
体レーザ1から発するレーザ光は、その性質上直線偏光
であり、その偏光方向は予めわかっている。また、記録
媒体5に記録された記録信号は、反射光の偏光の回転と
して現れる。このため、この反射光を偏光ビームスプリ
ンタ11によってP偏光成分とS偏光成分とに分割する
と、その偏光の回転に応じて、P偏光成分とS偏光成分
の構成比が変化し、光検出器12・13に照射する光の
光量の変化となって現れる。従って、光検出器12にお
ける受光素子12a・12bの百出力を加算し、また、
光検出器13における受光素子1.32− ] 3 b
の百出力も加算して、これらの加算結果を比較すれば、
反射光における偏光の回転、即ち記録信号を検出するこ
とができる。
体レーザ1から発するレーザ光は、その性質上直線偏光
であり、その偏光方向は予めわかっている。また、記録
媒体5に記録された記録信号は、反射光の偏光の回転と
して現れる。このため、この反射光を偏光ビームスプリ
ンタ11によってP偏光成分とS偏光成分とに分割する
と、その偏光の回転に応じて、P偏光成分とS偏光成分
の構成比が変化し、光検出器12・13に照射する光の
光量の変化となって現れる。従って、光検出器12にお
ける受光素子12a・12bの百出力を加算し、また、
光検出器13における受光素子1.32− ] 3 b
の百出力も加算して、これらの加算結果を比較すれば、
反射光における偏光の回転、即ち記録信号を検出するこ
とができる。
次に、フォーカシングエラーを検出する場合について説
明する。
明する。
対物レンズ4と記録媒体5とが所定間隔を有し焦点が合
致している場合には、光検出器12・13に照射する光
スポットA、・Asは第2図(a)に示すように同じ大
きさとなる。しかし、対物レンズ4と記録媒体5との間
隔距離が変化し焦点がずれると、反射光を対物レンズ4
で平行光に戻すことができなくなるので、集光レンズ1
oによる結像位置が焦点Fからずれることになる。
致している場合には、光検出器12・13に照射する光
スポットA、・Asは第2図(a)に示すように同じ大
きさとなる。しかし、対物レンズ4と記録媒体5との間
隔距離が変化し焦点がずれると、反射光を対物レンズ4
で平行光に戻すことができなくなるので、集光レンズ1
oによる結像位置が焦点Fからずれることになる。
例えば、対物レンズ4と記録媒体5との間隔距離が長く
なると、集光レンズ10による結像位置は前方にすれ、
第2図(b)に示すように、光スポットAPの方が光ス
ポットA、よりも径が小さくなる。対物レンズ4と記録
媒体5との間隔距離が短い場合には、逆に第2図(c)
に示すように、光スポットA、の方が光スポットA3よ
りも径が大きくなる。但し、このように光スポットA。
なると、集光レンズ10による結像位置は前方にすれ、
第2図(b)に示すように、光スポットAPの方が光ス
ポットA、よりも径が小さくなる。対物レンズ4と記録
媒体5との間隔距離が短い場合には、逆に第2図(c)
に示すように、光スポットA、の方が光スポットA3よ
りも径が大きくなる。但し、このように光スポットA。
・A、の径が変化しても、各光検出器12・13が受け
るそれぞれの総光量は変化しない。
るそれぞれの総光量は変化しない。
ところが、不感帯12c・13cに照射する光量はこの
光スポットAP ・Asの大きさの影響を受け、光スポ
ットA、・Asの径が小さくなるほど光強度が強くなる
ために光量も増加することになる。このため、受光素子
12a・1’2b及び13a・13bが実際に受ける光
量は、光スポットAP −A3の径が小さくなるほど減
少することになる。従って、光検出器12における受光
素子12a・12bの百出力を加算し、また、光検出器
13における受光素子13a・13bの百出力も加算し
て、これらの加算結果を比較すれば、フォーカシングエ
ラーを検出することができる。
光スポットAP ・Asの大きさの影響を受け、光スポ
ットA、・Asの径が小さくなるほど光強度が強くなる
ために光量も増加することになる。このため、受光素子
12a・1’2b及び13a・13bが実際に受ける光
量は、光スポットAP −A3の径が小さくなるほど減
少することになる。従って、光検出器12における受光
素子12a・12bの百出力を加算し、また、光検出器
13における受光素子13a・13bの百出力も加算し
て、これらの加算結果を比較すれば、フォーカシングエ
ラーを検出することができる。
即ち、光検出器12の加算結果の方が小さい場合(第2
図(b)の場合)には、対物レンズ4と記録媒体5との
間隔距離が長過ぎるとするフォーカシングエラーを検出
し、光検出器12の加算績果の方が大きい場合(第2図
(c)の場合)には、対物レンズ4と記録媒体5との間
隔距離が短過ぎるとするフォーカシングエラーを検出し
、両加算結果が一致した場合(第2図(a)の場合)に
は、焦点が合致していることを検出することができる。
図(b)の場合)には、対物レンズ4と記録媒体5との
間隔距離が長過ぎるとするフォーカシングエラーを検出
し、光検出器12の加算績果の方が大きい場合(第2図
(c)の場合)には、対物レンズ4と記録媒体5との間
隔距離が短過ぎるとするフォーカシングエラーを検出し
、両加算結果が一致した場合(第2図(a)の場合)に
は、焦点が合致していることを検出することができる。
なお、ここでは、各光検出器12・13が受けるそれぞ
れの総光量が同じであると仮定して考えた。ところが、
実際には、光検出器12が受けるのは反射光のP偏光成
分であり、光検出器13が受けるのは反射光のS偏光成
分なので、記録信号に従って両者の光量比は変化する。
れの総光量が同じであると仮定して考えた。ところが、
実際には、光検出器12が受けるのは反射光のP偏光成
分であり、光検出器13が受けるのは反射光のS偏光成
分なので、記録信号に従って両者の光量比は変化する。
しかしながら、フォーカシングエラーによる光量変化の
周期は、記録信号による光量変化の周期にくらべ極めて
長いものである。従って、両者は、周波数成分を異にす
るので、フィルタにより容易に分離することができる。
周期は、記録信号による光量変化の周期にくらべ極めて
長いものである。従って、両者は、周波数成分を異にす
るので、フィルタにより容易に分離することができる。
最後にトラッキングエラーを検出する場合について説明
する。記録媒体5は、溝状の情報トラック27とその間
隙のガイドトラックとが高密度で多数形成されているの
で、これにレーザ光を照射すると、反射回折格子として
作用する。このため、光検出器12・13上の光スポッ
トには、第3図に示すように、実線の円で示すO次回先
光A。
する。記録媒体5は、溝状の情報トラック27とその間
隙のガイドトラックとが高密度で多数形成されているの
で、これにレーザ光を照射すると、反射回折格子として
作用する。このため、光検出器12・13上の光スポッ
トには、第3図に示すように、実線の円で示すO次回先
光A。
とその両側に破線の円で示す±1次回折光A+、・A−
、とが現れる。そして、この0次回先光A。と±1次回
折先人4.・/l、とが重なる部分では、光の干渉効果
により1〜ラツキングのずれに応じて光強度が変化する
。このような光の干渉部分は、トラック方向の両側にの
み現れる。このため、光検出器12・13におけるトラ
ンク方向に2分割された各受光素子12a・12b及び
13a・13bは、トラッキングのずれに応じて一方側
の受光素子12a・13aと他方側の受光素子12b・
13bとが受ける光量に差が生じる。従って、受光素子
12a・12bの百出力の差を求め、また、受光素子1
3a・13bの百出力の差を求め、これらの減算結果を
加算すれば、トラッキングエラーを検出することができ
る。
、とが現れる。そして、この0次回先光A。と±1次回
折先人4.・/l、とが重なる部分では、光の干渉効果
により1〜ラツキングのずれに応じて光強度が変化する
。このような光の干渉部分は、トラック方向の両側にの
み現れる。このため、光検出器12・13におけるトラ
ンク方向に2分割された各受光素子12a・12b及び
13a・13bは、トラッキングのずれに応じて一方側
の受光素子12a・13aと他方側の受光素子12b・
13bとが受ける光量に差が生じる。従って、受光素子
12a・12bの百出力の差を求め、また、受光素子1
3a・13bの百出力の差を求め、これらの減算結果を
加算すれば、トラッキングエラーを検出することができ
る。
以上のことから、第4図に示すような演算回路で、まず
光検出器12における受光素子12a・12bの出力を
加算器14で加算するとともに、光検出器13における
受光素子13a・13bの出力を加算器15て加算し、
減算器16で両加算結果の差を求める。そして、この減
算器16の出力から記録信号を得ることができ、さらに
低域通過フィルタ17により高周波帯域の記録信号を除
去すれば、フォーカシングエラーの情報を得ることがで
きる。また、まず光検出器12における受光素子12a
の出力と受光素子12bの出力との差を減算器18で求
めるとともに、光検出器13におLJる受光素子13a
の出力と受光素子13bの出力との差を減算器19で求
め、これらの減算結果を加算器20で加算すれば、この
加算器20の出力からトラッキングエラーの情報を得る
ことができる。
光検出器12における受光素子12a・12bの出力を
加算器14で加算するとともに、光検出器13における
受光素子13a・13bの出力を加算器15て加算し、
減算器16で両加算結果の差を求める。そして、この減
算器16の出力から記録信号を得ることができ、さらに
低域通過フィルタ17により高周波帯域の記録信号を除
去すれば、フォーカシングエラーの情報を得ることがで
きる。また、まず光検出器12における受光素子12a
の出力と受光素子12bの出力との差を減算器18で求
めるとともに、光検出器13におLJる受光素子13a
の出力と受光素子13bの出力との差を減算器19で求
め、これらの減算結果を加算器20で加算すれば、この
加算器20の出力からトラッキングエラーの情報を得る
ことができる。
本発明に係る光学ヘッドは、以上のように、光源から発
した直線偏光の光を記録媒体に照射し、その反射光の偏
光状態から・記録信号を再生する光1日 学ヘッドにおいて、記録媒体からの反射光の光軸上に集
光レンズを配置し、さらにその後方に光軸を互いに直交
する偏光成分に分割する偏光ビームスプリッタを配置し
、この偏光ビームスプリッタによって分割された各光軸
上における集光レンズの焦点位置より前方と後方とに、
受光素子が少なくともトラック方向に2分割された光検
出器をそれぞれ配置した構成である。
した直線偏光の光を記録媒体に照射し、その反射光の偏
光状態から・記録信号を再生する光1日 学ヘッドにおいて、記録媒体からの反射光の光軸上に集
光レンズを配置し、さらにその後方に光軸を互いに直交
する偏光成分に分割する偏光ビームスプリッタを配置し
、この偏光ビームスプリッタによって分割された各光軸
上における集光レンズの焦点位置より前方と後方とに、
受光素子が少なくともトラック方向に2分割された光検
出器をそれぞれ配置した構成である。
これにより、記録信号と共にフォーカシングエラーとト
ラッキングエラーの情報を同じ光検出器で検出するので
、従来の光学ヘッドに比ベビームスプリンタや光検出器
等の部品点数を少なくすることができる。従って、本発
明の光学ヘッドは、装置を小型化することができ、また
、コストダウンを図ることができる。
ラッキングエラーの情報を同じ光検出器で検出するので
、従来の光学ヘッドに比ベビームスプリンタや光検出器
等の部品点数を少なくすることができる。従って、本発
明の光学ヘッドは、装置を小型化することができ、また
、コストダウンを図ることができる。
また、フォーカシングエラーを検出する際に2分割され
た受光素子の出力をそれぞれ加え合わせるので、これら
2分割された受光素子間の光量差として現れるトラッキ
ングエラーの影響によりクロストークが発生ずるという
ことがなくなり、正確なフォーカス制御を行うことがで
きるという効果も併せて奏する。
た受光素子の出力をそれぞれ加え合わせるので、これら
2分割された受光素子間の光量差として現れるトラッキ
ングエラーの影響によりクロストークが発生ずるという
ことがなくなり、正確なフォーカス制御を行うことがで
きるという効果も併せて奏する。
第1図乃至第第4図は本発明の一実施例を示すものであ
って、第1図は光学ヘッドの構成図、第2図(a)(b
)(C)はそれぞれ2個の光検出器上に照射する光スポ
ットの大きさを対比して示した説明図、第3図は光検出
器上に照射する光スポットの説明図、第4図は演算回路
のブロック図である。第5図は従来例を示すものであっ
て、光学ヘッドの構成図である。 1は半導体レーザ(光源)、5は記録媒体、10は集光
レンズ、11は偏光ビームスプリンタ、12−1.3は
光検出器、12a12b13a・13bは受光素子であ
る。
って、第1図は光学ヘッドの構成図、第2図(a)(b
)(C)はそれぞれ2個の光検出器上に照射する光スポ
ットの大きさを対比して示した説明図、第3図は光検出
器上に照射する光スポットの説明図、第4図は演算回路
のブロック図である。第5図は従来例を示すものであっ
て、光学ヘッドの構成図である。 1は半導体レーザ(光源)、5は記録媒体、10は集光
レンズ、11は偏光ビームスプリンタ、12−1.3は
光検出器、12a12b13a・13bは受光素子であ
る。
Claims (1)
- 1、光源から発した直線偏光の光を記録媒体に照射し、
その反射光の偏光状態から記録信号を再生する光学ヘッ
ドにおいて、記録媒体からの反射光の光軸上に集光レン
ズを配置し、さらにその後方に光軸を互いに直交する偏
光成分に分割する偏光ビームスプリッタを配置し、この
偏光ビームスプリッタによって分割された各光軸上にお
ける集光レンズの焦点位置より前方と後方とに、受光素
子が少なくともトラック方向に2分割された光検出器を
それぞれ配置したことを特徴とする光学ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15387787A JPS63317930A (ja) | 1987-06-19 | 1987-06-19 | 光学ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15387787A JPS63317930A (ja) | 1987-06-19 | 1987-06-19 | 光学ヘッド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63317930A true JPS63317930A (ja) | 1988-12-26 |
Family
ID=15572063
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15387787A Pending JPS63317930A (ja) | 1987-06-19 | 1987-06-19 | 光学ヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63317930A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5017768A (en) * | 1988-09-14 | 1991-05-21 | Copal Company Limited | Optical focusing control apparatus |
JPH03203843A (ja) * | 1989-12-29 | 1991-09-05 | Japan Steel Works Ltd:The | 光磁気ディスクの自動追跡方法 |
-
1987
- 1987-06-19 JP JP15387787A patent/JPS63317930A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5017768A (en) * | 1988-09-14 | 1991-05-21 | Copal Company Limited | Optical focusing control apparatus |
JPH03203843A (ja) * | 1989-12-29 | 1991-09-05 | Japan Steel Works Ltd:The | 光磁気ディスクの自動追跡方法 |
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