JPS632993Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS632993Y2 JPS632993Y2 JP1980045693U JP4569380U JPS632993Y2 JP S632993 Y2 JPS632993 Y2 JP S632993Y2 JP 1980045693 U JP1980045693 U JP 1980045693U JP 4569380 U JP4569380 U JP 4569380U JP S632993 Y2 JPS632993 Y2 JP S632993Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- head
- base
- magnetic head
- heads
- tape
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 6
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 3
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は磁気ヘツド取付装置に関し、磁気テー
プ等の記録媒体を使用した磁気記録再生装置にお
いてその磁気ヘツドのギヤツプと記録媒体との相
対位置の調整を容易かつ高精度に行なえるように
することを目的としたものである。
プ等の記録媒体を使用した磁気記録再生装置にお
いてその磁気ヘツドのギヤツプと記録媒体との相
対位置の調整を容易かつ高精度に行なえるように
することを目的としたものである。
一般に、ヘツドギヤツプとテープの相対位置と
しては、トラツク高さ、ギヤツプアジマス、テイ
ルト(傾き)、突出し、タンジエンシー(首振り)
複数ヘツドにおけるヘツド間距離等が考えられ
る。本考案は、上記の内、特に突出し、タンジエ
ンシー、ヘツド間距離に関するものである。
しては、トラツク高さ、ギヤツプアジマス、テイ
ルト(傾き)、突出し、タンジエンシー(首振り)
複数ヘツドにおけるヘツド間距離等が考えられ
る。本考案は、上記の内、特に突出し、タンジエ
ンシー、ヘツド間距離に関するものである。
磁気記録再生の特性に影響を与えるものの一つ
にスペース・ロスがある。ヘツドギヤツプとテー
プの間に生じる隙間により、Ls=−54.6(d/λ)
(但し、d=隙間、λ=波長)であらわされる損
失が生じる。この損失は記録波長λが短かくなる
程大きくなり、最近の高密度記録では、重大な問
題になる。スペースロスを生じる原因の一つは、
ヘツドに対するテープの巻付け状態である。テー
プの巻付け角が適切でなかつたり、ヘツドのギヤ
ツプがテープ巻付位置の中央付近からずれていた
りすると、スベース・ロスによる再生出力の劣下
が生じる。ヘツドとテープの接触状態から考える
と、ヘツドのギヤツプをテープ巻付位置の中央に
おき、テープが、ヘツドギヤツプの両側に均等に
巻付いた状態でスペース・ロスが最小になる。
にスペース・ロスがある。ヘツドギヤツプとテー
プの間に生じる隙間により、Ls=−54.6(d/λ)
(但し、d=隙間、λ=波長)であらわされる損
失が生じる。この損失は記録波長λが短かくなる
程大きくなり、最近の高密度記録では、重大な問
題になる。スペースロスを生じる原因の一つは、
ヘツドに対するテープの巻付け状態である。テー
プの巻付け角が適切でなかつたり、ヘツドのギヤ
ツプがテープ巻付位置の中央付近からずれていた
りすると、スベース・ロスによる再生出力の劣下
が生じる。ヘツドとテープの接触状態から考える
と、ヘツドのギヤツプをテープ巻付位置の中央に
おき、テープが、ヘツドギヤツプの両側に均等に
巻付いた状態でスペース・ロスが最小になる。
特に、短波長記録ではヘツドギヤツプ位置の上
記の状態からのずれ(タンジエンシー)によるス
ペース・ロスが大きいことが実験的に確認されて
おり、再生出力を確保するためには、このタンジ
エンシーの高精度な設定(±0.5゜以内等)が必要
となる。
記の状態からのずれ(タンジエンシー)によるス
ペース・ロスが大きいことが実験的に確認されて
おり、再生出力を確保するためには、このタンジ
エンシーの高精度な設定(±0.5゜以内等)が必要
となる。
従来、この調整は、ヘツド取付けネジ穴(長穴
等)のガタの範囲内でヘツド位置を動かし、再生
出力が最大になる位置で固定するという方法で行
なわれていた。これは長波長記録においては可能
であつたが、短波長記録では高精度が要求される
ため調整に時間がかかり、かつ十分な精度が得ら
れるものではなかつた。また、従来の方法ではタ
ンジエンシー調整時にヘツド突出しが同時に変化
し、そのため、前記の様な高精度の調整が要求さ
れてくると調整が非常に困難になるものであつ
た。また、突出しの変化により、そのヘツドの巻
付角が変化し、ヘツドの設計上、必要とされてい
る巻付角が得られなくなり、突出しの変化によ
り、ヘツド周辺のテープ走行径路が変化し、他の
構成要素(他のヘツド、テープクリーナ等)に悪
影響を及ぼすものであつた。
等)のガタの範囲内でヘツド位置を動かし、再生
出力が最大になる位置で固定するという方法で行
なわれていた。これは長波長記録においては可能
であつたが、短波長記録では高精度が要求される
ため調整に時間がかかり、かつ十分な精度が得ら
れるものではなかつた。また、従来の方法ではタ
ンジエンシー調整時にヘツド突出しが同時に変化
し、そのため、前記の様な高精度の調整が要求さ
れてくると調整が非常に困難になるものであつ
た。また、突出しの変化により、そのヘツドの巻
付角が変化し、ヘツドの設計上、必要とされてい
る巻付角が得られなくなり、突出しの変化によ
り、ヘツド周辺のテープ走行径路が変化し、他の
構成要素(他のヘツド、テープクリーナ等)に悪
影響を及ぼすものであつた。
とくに複数ヘツド構成の磁気記録再生装置で編
集作業をする場合、同期信号再生ヘツドと記録ヘ
ツド、消去ヘツドと記録ヘツドの間隔は編集精度
を上げるために出来るだけ小さい方が良いが、高
密度記録、デイジタル記録等においては、信号
を、電気的に処理することで、上記の間隔をなく
す等の方法をとつている。その時ヘツド、又はヘ
ツドを含むユニツトの交換時の互換性を考慮する
と、各ヘツドの間隔を高精度(±0.1mm等)に設
定することが必要となつてくる。しかし、従来の
方法では、ヘツド取付け時のヘツド間距離の位置
決めはされず、また、タンジエンシー調整時にお
いて、ヘツド間距離も同時に変化するため、高精
度の設定は困難であつた。
集作業をする場合、同期信号再生ヘツドと記録ヘ
ツド、消去ヘツドと記録ヘツドの間隔は編集精度
を上げるために出来るだけ小さい方が良いが、高
密度記録、デイジタル記録等においては、信号
を、電気的に処理することで、上記の間隔をなく
す等の方法をとつている。その時ヘツド、又はヘ
ツドを含むユニツトの交換時の互換性を考慮する
と、各ヘツドの間隔を高精度(±0.1mm等)に設
定することが必要となつてくる。しかし、従来の
方法では、ヘツド取付け時のヘツド間距離の位置
決めはされず、また、タンジエンシー調整時にお
いて、ヘツド間距離も同時に変化するため、高精
度の設定は困難であつた。
本考案は、タンジエンシーの調整に関して、上
記の問題を解決しながら容易かつ高精度に調整を
行なおうとするものである。
記の問題を解決しながら容易かつ高精度に調整を
行なおうとするものである。
以下に本考案の実施例について図面と共に説明
する。第1図、第2図は第1実施例における磁気
ヘツド取付装置の正面図、断面図を示す。図にお
いて、磁気ヘツド素子1を載置した基台2に、切
り欠きとしてV溝3が設けられ、基板4に固定軸
5が設けられている。固定軸5の位置は、基板4
上で高精度に位置決めされている。ヘツド1は固
定軸5にV溝3を押し付けた時、固定軸5の中心
がヘツド1の先端のギヤツプ位置と同一になる様
に基台2に取付けられる。固定軸5にV溝3を押
し付けた状態で、基台固定ネジ6で基台を基板4
に、摺動可能な様に仮止めし、磁気テープ7で記
録再生を行なう。再生出力が最大になる様に基台
2を、固定軸5を中心にして回動させ、そこで基
台2と基板4を、ネジ6で固定する。この回動に
おいて、回転中心はヘツド1の先端のギヤツプ位
置であるため、ヘツド間距離は変わらず、タンジ
エンシーのみが変化する。
する。第1図、第2図は第1実施例における磁気
ヘツド取付装置の正面図、断面図を示す。図にお
いて、磁気ヘツド素子1を載置した基台2に、切
り欠きとしてV溝3が設けられ、基板4に固定軸
5が設けられている。固定軸5の位置は、基板4
上で高精度に位置決めされている。ヘツド1は固
定軸5にV溝3を押し付けた時、固定軸5の中心
がヘツド1の先端のギヤツプ位置と同一になる様
に基台2に取付けられる。固定軸5にV溝3を押
し付けた状態で、基台固定ネジ6で基台を基板4
に、摺動可能な様に仮止めし、磁気テープ7で記
録再生を行なう。再生出力が最大になる様に基台
2を、固定軸5を中心にして回動させ、そこで基
台2と基板4を、ネジ6で固定する。この回動に
おいて、回転中心はヘツド1の先端のギヤツプ位
置であるため、ヘツド間距離は変わらず、タンジ
エンシーのみが変化する。
この調整において、タンジエンシーの回転中心
が設定されているので、従来に比べて、容易に、
かつ、高精度に、調整が行なえる。又、基板4に
設けた固定軸5の位置、及び、ヘツドギヤツプ位
置に対するV溝3の位置を高精度に設けることに
より、ヘツド間距離とヘツド突出しを高精度に設
定し、タンジエンシー調整中もヘツド突出し、ヘ
ツド間距離は、ほぼ一定である。そのため複数ヘ
ツド構成におけるヘツド間距離が高精度に位置決
めされ、またテープ走行径路が変化せず、他の構
成要素、及びヘツドのテープ巻付角に悪影響を及
ほさない。
が設定されているので、従来に比べて、容易に、
かつ、高精度に、調整が行なえる。又、基板4に
設けた固定軸5の位置、及び、ヘツドギヤツプ位
置に対するV溝3の位置を高精度に設けることに
より、ヘツド間距離とヘツド突出しを高精度に設
定し、タンジエンシー調整中もヘツド突出し、ヘ
ツド間距離は、ほぼ一定である。そのため複数ヘ
ツド構成におけるヘツド間距離が高精度に位置決
めされ、またテープ走行径路が変化せず、他の構
成要素、及びヘツドのテープ巻付角に悪影響を及
ほさない。
基台4にV溝3を設けることで、V溝3と磁気
ヘツド素子1のギヤツプとの相対位置は、磁気ヘ
ツド素子1を基台4にネジ(図示せず)で固定す
る時に調整をすれば、高精度が得られる。また、
基台4にアジマス、テイルト等の調整機能を持た
せることも可能である。
ヘツド素子1のギヤツプとの相対位置は、磁気ヘ
ツド素子1を基台4にネジ(図示せず)で固定す
る時に調整をすれば、高精度が得られる。また、
基台4にアジマス、テイルト等の調整機能を持た
せることも可能である。
次に第3図、第4図を用いて第2の実施例を説
明する。第3図、第4図は本実施例の正面図、断
面図を示す。図において、磁気ヘツド素子11を
被覆するケース12が前記の基台の機能を持つ。
ケース12に切り欠きとしてV溝13が設けら
れ、基板14に固定軸15が設けられている。調
整法は第1の実施例と同じである。
明する。第3図、第4図は本実施例の正面図、断
面図を示す。図において、磁気ヘツド素子11を
被覆するケース12が前記の基台の機能を持つ。
ケース12に切り欠きとしてV溝13が設けら
れ、基板14に固定軸15が設けられている。調
整法は第1の実施例と同じである。
この構成では、磁気ヘツド素子11をケース1
2に固定する時に、V溝13と磁気ヘツド素子1
1のギヤツプとの相対位置の位置決めを行なう。
そのため、第1の実施例より精度が容易に出る。
また、非常にコンパクトな構成になる。このよう
に本考案は軸と切り欠きだけでギヤツプ位置およ
び回転中心を高精度に設定できる。軸は、基板に
設けた丸穴にたとえば圧入することにより、また
切り欠きは基台を切り欠いて形成されるため、非
常に安価に、しかも高精度に上記の目的を達成で
きる。さらに切り欠きを軸に当接して基台を回動
させるため、タンジエンシー調整作業が容易であ
る。
2に固定する時に、V溝13と磁気ヘツド素子1
1のギヤツプとの相対位置の位置決めを行なう。
そのため、第1の実施例より精度が容易に出る。
また、非常にコンパクトな構成になる。このよう
に本考案は軸と切り欠きだけでギヤツプ位置およ
び回転中心を高精度に設定できる。軸は、基板に
設けた丸穴にたとえば圧入することにより、また
切り欠きは基台を切り欠いて形成されるため、非
常に安価に、しかも高精度に上記の目的を達成で
きる。さらに切り欠きを軸に当接して基台を回動
させるため、タンジエンシー調整作業が容易であ
る。
以上の様に本発明のヘツド取付装置によれば、
複数ヘツド間距離を高精度に位置決めした後、タ
ンジエンシーの単独の調整を、容易に、かつ高精
度に行なうことが出来る。
複数ヘツド間距離を高精度に位置決めした後、タ
ンジエンシーの単独の調整を、容易に、かつ高精
度に行なうことが出来る。
第1図は本考案の一実施例における磁気ヘツド
取付装置の正面図、第2図はそのA−A′線断面
図、第3図は本考案の他の実施例の正面図、第4
図はそのB−B′線断面図である。 1……磁気ヘツド素子、2……基台、3……V
溝、4……基板、5……固定軸、6……ネジ、7
……磁気テープ、11……磁気ヘツド素子、12
……ケース、13……V溝、14……基板、15
……固定軸、16……ネジ。
取付装置の正面図、第2図はそのA−A′線断面
図、第3図は本考案の他の実施例の正面図、第4
図はそのB−B′線断面図である。 1……磁気ヘツド素子、2……基台、3……V
溝、4……基板、5……固定軸、6……ネジ、7
……磁気テープ、11……磁気ヘツド素子、12
……ケース、13……V溝、14……基板、15
……固定軸、16……ネジ。
Claims (1)
- 磁気ヘツド素子と、前記磁気ヘツド素子を固定
する基台と、前記基台を支持する基板とよりな
り、前記基台に設けた切り欠きと前記基板に設け
た軸を当接して前記軸を中心に前記基台を前記基
板に対して回動自在に構成し、前記軸の中心を前
記磁気ヘツド素子上のギヤツプ位置にほぼ一致さ
せたことを特徴とした磁気ヘツド取付装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1980045693U JPS632993Y2 (ja) | 1980-04-03 | 1980-04-03 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1980045693U JPS632993Y2 (ja) | 1980-04-03 | 1980-04-03 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56149341U JPS56149341U (ja) | 1981-11-10 |
JPS632993Y2 true JPS632993Y2 (ja) | 1988-01-25 |
Family
ID=29640777
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1980045693U Expired JPS632993Y2 (ja) | 1980-04-03 | 1980-04-03 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS632993Y2 (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5027526A (ja) * | 1973-07-10 | 1975-03-20 |
-
1980
- 1980-04-03 JP JP1980045693U patent/JPS632993Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5027526A (ja) * | 1973-07-10 | 1975-03-20 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS56149341U (ja) | 1981-11-10 |
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