JPS63256873A - 配線パネルの電気的機能試験装置 - Google Patents

配線パネルの電気的機能試験装置

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JPS63256873A
JPS63256873A JP63077940A JP7794088A JPS63256873A JP S63256873 A JPS63256873 A JP S63256873A JP 63077940 A JP63077940 A JP 63077940A JP 7794088 A JP7794088 A JP 7794088A JP S63256873 A JPS63256873 A JP S63256873A
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JP
Japan
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wiring
intermediate mask
gas discharge
contact
wiring panel
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JP63077940A
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English (en)
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ギユンター、デーメンス
トーマス、ローゼ
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Siemens AG
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    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
    • G01R1/07371—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate card or back card with apertures through which the probes pass

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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、多数の接触要素が配設されて配線パネル上に
取付可能である支持板を備え、配線パネルの少なくとも
２つの選択された測定個所に、所属する接触要素を介し
て接触可能であるような配線パネル、特にプリント配線
板の電気的機能試験装置に関する。
〔従来の技術〕
ろう付は技術または圧着技術を用いる未実装または実装
済みのプリント配線板ならびに配線パネルの自動試験装
置および試験アダプタにおいては、選択された測定個所
への接触は一般に弾性的試験ピンによって行われる。試
験すべき配線パネルの格子寸法に対応して配設された弾
性的試験ピンは、支持板内へ圧入されて試験ピンを挿入
し得るばねスリーブによって固定される（「エレクトロ
ニクス製造および試験技術（Ｅｌｅｋｔｒｏｎｉｋ　Ｐ
ｒｏｄｕｋＬｉｏｎ＆　Ｐｒｊｆｔｅｃｈｎｉｋ　）　
Ｊ　１９７９年１１月、第４７２頁〜第４７３頁参照）
。
接触要素として弾性的試験ピンを使用する場合、プリン
ト配線板の格子寸法が小さくなったりまたプリント配線
板の面積が大きくなったりすると、困難が増大する。即
ち、試験個所の確実な接触を図る場合に１ミリメートル
以下の格子寸法にて弾性的試験ピンを配設することは精
密技術をもってしても殆ど可能ではない。例えば１０万
個にも達し得る測定個所の数に応じて、必要なリード線
の本数および回路素子の個数も同様に増大する。それに
より、装置製造上の経費がかなり掛かり、しかもそれに
応じてコストも嵩む。
ヨーロッパ特許出願公開第０１０２５６５号明細書によ
れば、測定個所への接触を、従来のオーミック接触の代
わりに、ガス放電ギャップを介する無接触のイオン接触
によって行うようにした配線パネルの電気的機能試験装
置が公知である。このために、配線パネル上に取付けら
れる支持板には電極を備えた多数のガス放電チャネルが
穿設される。その場合、配線パネルの格子に配設された
ガス放電チャネルは測定個所に向って開いている。
今たとえば２つの選択された測定個所が導体路によって
電気的に互いに接続されていると、所属するガス放電チ
ャネルは電極に充分高い電圧を印加することによって点
弧し得る２つの直列接続されたガス放電ギャップを形成
する。ガス放電の点弧によって、試験目的のために評価
し得るｔｉ輸送が生じる。ガス放電の点弧が起こらない
場合または点弧しても僅かな１１流しか流れない場合に
は、選択された測定個所の間の電気的接続部は断線して
いるかまたは選択された測定個所の間には最初から電気
的接続部が存在していないと推定することができる。電
極に印加される電圧に交流電圧を重畳させると、その結
果生じる電流変化は、印加交流電圧に対して位相選択的
に測定でき、そして選択された測定個所の間に構成され
ている電気的接続部の抵抗値を決定するために利用する
ことができる。公知の装置は即ち導電率測定および絶縁
測定を可能にし、その場合にオーミック接触を回避する
ことによって非常に高い信頼性を得ることができた。最
小寸法で実現可能なガス放電チャネルを介して行われる
測定個所へのイオン接触の原理によれば、特に、測定個
所の格子寸法が０．１扁以下と小さい配線パネルも同様
に信頼性をもって試験することができる。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、試験すべき配線パネルの測定個所の個数
が多（なると、依然として、ガス放電チャネルの電極を
接続するための多数のリード線と回路素子とによっても
たらされる問題が生ずる。
そこで、本発明は、冒頭で述べた種類の配線パネルの電
気的機能試験装置において、必要なリード線の本数と回
路素子の個数とを大幅に減らすことを課題とする。
〔課題を解決するための手段〕
この課題を解決するために、本発明による配線パネルの
電気的機能試験装置においては、各測定個所は所属する
給電線と選択されない測定個所の接触を阻止する中間マ
スクとによって選択可能にされる。
〔作用効果〕
本発明は、補助的な条件として、選択された測定個所の
接触だけを許容し選択されない測定個所の接触を阻止す
る中間マスクが必要であるという前提のもとに、複数の
接触要素の接続を共通の給電線によって行うことができ
るという認識に基づいている。即ち、選択された測定個
所の明確なアドレッシングは、所属する給電線が駆動さ
れそして挿入された中間マスクが選択された測定個所の
接触だけを許容することによって達成される。
選択された測定個所の本発明によるアドレッシングによ
れば、給電線に大多数の接触要素を所属させることがで
きるので、リード線の本数を１しく減らすことができる
。配線労力がかなり低減することの他に、特に、プリン
ト配線板のサイズが大きくかつ格子寸法が小さいプリン
ト配線板の電気的機能試験装置の製造技術が著しく簡単
になり、従って製造コストが著しく低下する。中間マス
クをプリント配線板にセットするための付加的な労力は
、中間マスクの製造および取扱が何等の問題も生じない
ので、上述した利点に比べたら微々たるものである。
〔実施態様〕
中間マスクは支持板と試験すべき配線パネルとの間に配
置されると、電気的機能試験を行う際に中間マスクの取
扱が特に簡単になる。
本発明の他の優れた実施態様によれば、中間マスクには
選択された測定個所に所属する孔が穿設される。これに
よって、中間マスクの製造が特に簡単になる。
本発明の特に優れた実施態様によれば、測定個所は平行
に向けられた給電線に列状に所属する。
接触要素をこのように列状にまとめることは、例えばプ
リント配線板では一般に存在する測定個所の規則的な格
子配置に特に合わせられる。その場合には給電線を明瞭
かつ特に簡単に敷設することができる。
さらに、給電線が試験すべき配線パネルの配線主方向に
対して斜めに、特に４５°の角度で延在することは、特
に有利である。このような措置を施すことによって、２
つの選択された測定個所が同一の給電線に所属しないよ
うにすることができる。給電線が配線主方向に対して例
えば４５°の角度で延在する場合には、支持板全体を配
線に対して相対的に９０°または２７０°の角度だけ回
転させることによって、全ての測定個所を確実に検出す
ることができる。
接触要素は弾性的試験ピンによって形成することができ
る。このような従来技術を使用すると、給電線と所属す
る弾性的試験ピンとを一体的に形成することができるの
で特に有利である０弾性的試験ピンが一体形成されたこ
の種の給電線は特に簡単な方法でエツチング技術または
例えば押し抜きのような他の類似な形状付与方法によっ
て製作することができる０弾性的試験ピンの屈曲は特に
その弾性的試験ピンがＵ、ＶまたはΩ状の弾性領域を有
することによって実現される。
本発明の特に優れた実施態様によれば、接触要素は電極
を備えたガス放電チャネルによって形成される。この場
合には、本発明によるアドレッシングの利点はイオン接
触の利点と一致する。特にその場合には測定個所の格子
寸法が０．１−以下と小さい配線パネルでも同様に信頼
性をもって試験することができる。
電極を備えたガス放電チャネルを使用すると、電極は給
電線のガス放電チャネルを横切る部分によって形成する
ことができるので、特に好ましい。
即ち、この場合には、別個の電極を取付けることを省略
できる。
〔実施例〕
次に本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。
第１図はプリント配線板の電気的機能試験を行うために
ガス放電チャネルを備えた装置において中間マスクと給
電線とを用いてアドレッシングを行う基本原理を示した
本発明の一実施例の展開斜視図である。第２図はプリン
ト配線板の電気的機能試験を行うために弾性的試験ピン
を備えた装置において中間マスクと給電線とを用いてア
ドレッシングを行う基本原理を示した本発明の他の実施
例の展開斜視図である。
第１図および第２図に示された装置を用いて、特に筒車
化して図示されたプリント配線板Ｌｐの電気的機能試験
が行われる。プリント配線板ＬＰの表面上においては、
接続面すなわち測定個所Ｍ１とＭ２、Ｍ３とＭ４、Ｍ５
とＭ７が横方向に延在する導体路Ｌｂによってそれぞれ
互いに接続されている。測定個所Ｍ５とＭ７との間に延
在する導体路Ｌｂからは、縦方向に延在する導体路Ｌｂ
が分岐され、測定個所Ｍ６に接続されている。
第１図および第２図に示された両装置において、測定個
所Ｍ１〜Ｍ７の本発明によるアドレッシングは測定個所
Ｍ１〜Ｍ７に所属する孔Ｌ１〜Ｌ７が穿設されている中
間マスクＺによって行われる。
後で詳細に説明するように、両装置において、疎らな孔
配五を有する中間マスクＺは、選択されない測定個所へ
の接触を阻止しかつ選択された測定個所への接触だけを
可能にするという役目を持っている。
第１図に示された装置においては、展開して図示されて
いるように、絶縁材料から成る支持板Ｔ１が設けられて
いる。支持板Ｔ１にはプリント配線板Ｌｐの格子寸法に
対応してガス放電チャネルＧが穿設されている。この支
持板ＴＩの上には同様に絶縁材料から成るカバープレー
トＤ１が設けられており、その下面には給電線Ｓ１が部
分的に埋設されている。互いに平行に向けられたこれら
の給電線Ｓ１は横方向導体路Ｌｂに対して４５’の角度
をなし、ガス放電チャネルＧの列をそれぞれ対角線を形
成するように横切っている。ガス放電チャネルＧの電極
は給１１ｉ線Ｓ１のガス放電チャネルＣを横切る部分に
よって形成される。
いまたとえば測定個所Ｍ１、Ｍ２間の電気的接続を試験
したい場合、最も簡単な場合には、ＴＬＬｌ、Ｌ２のみ
を穿設された中間マスクＺが使用される。その場合、中
間マスクＺ１支持板Ｔ１およびカバープレートＤ１はプ
リント配線板ＬＰ上に重ねて取付けられ、矢印Ｐｆを付
された両給電線Ｓ１には１つのガス放電ギャップの点弧
電圧の２倍の点弧電圧が印加される０両測定個所Ｍ１、
Ｍ２がそれらの間に延在する導体路Ｌｂによって電気的
に互いに接続されている場合には、所属するガス放電チ
ャネルＧは？ｉｉ極つまり給電線Ｓ１への２倍の点弧電
圧の印加によって点弧される２つの直列接続されたガス
放電ギャップを形成する。ガス放電の点弧によって、試
験目的のために利用することのできる電流輸送が生じる
。別の電気的に互いに接続された測定個所が矢印Ｐｆを
付された両給電線Ｓ１に所属していても、その別の測定
個所と給電線Ｓ１との接触は中間マスクＺによって確実
に阻止される。
２つの選択された測定個所を同一の給電線Ｓ１に所属さ
せたい場合には、支持板ＴＩとカバープレートＤＩとか
ら成るユニットが９０°または２７０″の角度だけ回転
されて、中間マスクＺおよびプリント配線板Ｌｐ上に取
付けられる。この回転位置では、選択された両側定個所
には２つの異なった給電線３１が所属する。
第２図に示された装置においては、展開して図示されて
いるように、支持板Ｔ２が設けられている。支持板Ｔ２
にはプリント配線板Ｌｌの格子寸法に対応して試験ピン
Ｐのガイド孔Ｆが穿設されている。この支持板Ｔ２の上
には絶縁材料から成るカバープレートＤ２が設けられて
おり、その下面には給電線Ｓ２が埋設されている。これ
らの互いに平行に向けられた給電線Ｓ２は同様に横方向
導体路Ｌｂに対して４５＠の角度をなしている。
なお、必要な場合にはプリント配線板Ｌｐに対して相対
的に９０°または２７０″回転した配置とすることも可
能である。給電線Ｓ２は全ての所属する試験ピンＰと一
体的に結合されているが、このことは図示を筒車化する
ために１本の給電線Ｓ２についてしか示されていない。
１本の給電線Ｓ２と所属する試験ピンＰとから成るユニ
ットは例えばエツチング技術によって一枚の薄板から製
造される、細片状試験ピンＰはその上部領域に、弾性領
域として作用して弾性屈曲を可能にする■形層曲部Ｖを
有している。
中間マスクＺを用いて選択された測定個所をアトレンジ
ングする原理は第２図においては試験ピンＰの一方の対
角線列から明らかであろう、測定個所Ｍ２、Ｍ５への接
触は中間マスクＺの孔Ｌ２、Ｌ５を通して可能であるが
、一方、この列における他の全ての試験ピンＰは中間マ
スクＺによって妨げられ、支持板Ｔ２とカバープレート
Ｄ２とから成るユニットを降下させるとプリント配線板
Ｌｐ上で弾性的に屈曲させられる。その他の点について
は電気的機能試験は第１図に示された装置と同じように
して行われ、ガス放電チャネルを用いたイオン接触の代
わりに、試験ピンＰを用いたオーミック接触が生じる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の一実施例の基本原理を示す展開斜視図
、第２図は本発明の他の実施例の基本原理を示す展開斜
視図である。 Ｄｌ、Ｄ２・・・カバープレート Ｆ・・・ガイド孔 Ｇ・・・ガス放電チャ２ル Ｌ１〜Ｌ７・・・孔 Ｌｂ・・・導体路 ｔ、ｐ・・・プリント配線板 Ｍ１〜Ｍ７・・・測定個所 Ｐ・・・試験ピン Ｓｌ、Ｓ２・・・給電線 Ｔ１、Ｔ２・・・支持板 ■・・・Ｖ形層曲部 Ｚ・・・中間マスク ＩＧ　　１ ＩＧ　　２

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １）多数の接触要素が配設されて配線パネル上に取付可
    能である支持板を備え、配線パネルの少なくとも２つの
    選択された測定個所に所属する接触要素を介して接触可
    能であるような配線パネルの電気的機能試験装置におい
    て、各測定個所（Ｍ１〜Ｍ７）は所属する給電線（Ｓ１
    ；Ｓ２）と選択されない測定個所（Ｍ１〜Ｍ７）の接触
    を阻止する中間マスク（Ｚ）とによって選択可能である
    ことを特徴とする配線パネルの電気的機能試験装置。 ２）中間マスク（Ｚ）は支持板（Ｔ１；Ｔ２）と試験す
    べき配線パネルとの間に配置されることを特徴とする請
    求項１記載の装置。 ３）中間マスク（Ｚ）には選択された測定個所（Ｍ１〜
    Ｍ７）に所属する孔（Ｌ１〜Ｌ７）が穿設されているこ
    とを特徴とする請求項１または２記載の装置。 ４）測定個所（Ｍ１〜Ｍ７）は平行に向けられた給電線
    （Ｓ１；Ｓ２）に列状に所属することを特徴とする請求
    項１ないし３の１つに記載の装置。 ５）給電線（Ｓ１；Ｓ２）は試験すべき配線パネルの配
    線主方向に対して斜めに延在することを特徴とする請求
    項４記載の装置。 ６）給電線（Ｓ１；Ｓ２）は試験すべき配線パネルの配
    線主方向に対して４５°の角度で延在することを特徴と
    する請求項４記載の装置。 ７）接触要素は弾性的試験ピン（Ｐ）によって形成され
    ることを特徴とする請求項１ないし６の１つに記載の装
    置。 ８）給電線（Ｓ１；Ｓ２）と所属する弾性的試験ピン（
    Ｐ）とは一体的に形成されることを特徴とする請求項７
    記載の装置。 ９）弾性的試験ピン（Ｐ）はＵ、ＶまたはΩ状の弾性領
    域を有することを特徴とする請求項８記載の装置。 １０）接触要素は電極を備えたガス放電チャネル（Ｇ）
    によって形成されることを特徴とする請求項１ないし６
    の１つに記載の装置。 １１）電極は給電線（Ｓ１）のガス放電チャネル（Ｇ）
    を横切る部分によって形成されることを特徴とする請求
    項１０記載の装置。
JP63077940A 1987-03-31 1988-03-29 配線パネルの電気的機能試験装置 Pending JPS63256873A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
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DE3710594.9 1987-03-31

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Country Status (5)

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US (2) US4897598A (ja)
EP (1) EP0285799B1 (ja)
JP (1) JPS63256873A (ja)
AT (1) ATE92191T1 (ja)
DE (1) DE3882563D1 (ja)

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