CN216209667U - 一种耐离子迁移测试结构 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及线路板测试技术领域，具体涉及一种耐离子迁移测试结构，包括若干测试组，若干所述测试组分别设有若干测试板，所述测试板上设有用于夹具固定的工具孔和呈L型的测试线路，所述测试线路两端设有焊盘和若干根间隔分布、并与所述焊盘连通的正极线路及负极线路，本实用新型结构简单，设计合理，通过设置若干测试板进行测试，可以同步测试多个产品，测试效率高，且无需直接采用产品测试，可以有效节约成本，并方便准确的测试出产品或材料的耐离子迁移特性，并通过设置若干正极线路和若干负极电路，有效确保迁移测试的稳定性及可靠性。

Description

一种耐离子迁移测试结构

技术领域

本实用新型涉及线路板测试技术领域，特别是涉及一种耐离子迁移测试结构。

背景技术

覆铜板是利用绝缘纸、玻璃纤维布或其他纤维材料浸以树脂，一面或两面覆以铜箔，经热压而成的一种板状材料，它是PCB的基本材料。离子迁移：CAF(Conductive AnodicFilament)是指对印刷电路板电极间后加入电场时，金属离子沿玻纤纱从一金属电极向另一金属电极移动，析出金属和化合物的现象，此现象会导致绝缘层劣化。而随着消费电子类产品朝着更小，更薄，更轻的方向发展，消费类电子使用的印制线路板的线宽间距朝密集方向发展，导致产品的绝缘性能降低，影响到产品的安全使用，严重时可能造成人身伤亡。为给广大消费者提供更优更安全的产品情况下，终端客户对消费电子产品的耐离子迁移管控更加严格，因此，有必要提出一种对印制电路板材料的耐离子迁移性能(耐CAF性能)的测试结构。

实用新型内容

为解决上述问题，本实用新型提供一种耐离子迁移测试结构，其结构简单，设计合理，测试准确方便。

本实用新型采用的技术方案是：

一种耐离子迁移测试结构，包括若干测试组，若干所述测试组分别设有若干测试板，所述测试板上设有用于夹具固定的工具孔和呈L型的测试线路，所述测试线路两端设有焊盘和若干根间隔分布、并与所述焊盘连通的正极线路及负极线路。

对上述技术方案的进一步改进为，所述正极线路与所述焊盘连通的位置，线路重叠，形成正极电势区；所述负极线路与所述焊盘连通的位置，线路重叠，形成负极电势区。

对上述技术方案的进一步改进为，所述正极线路重叠部分的长度为20-30mm；所述负极线路重叠部分的长度为20-30mm。

对上述技术方案的进一步改进为，所述正极线路和所述负极电路分别设有5根。

对上述技术方案的进一步改进为，所述正极电路的线宽设为50um，相邻所述正极电路之间的间距设为50um。

对上述技术方案的进一步改进为，所述负极电路的线宽设为50um，相邻所述负极电路之间的间距设为50um。

对上述技术方案的进一步改进为，所述焊盘的开口大小设为20mm*10mm。

对上述技术方案的进一步改进为，所述测试板上设有绝缘层，所述绝缘层位于所述测试线路上。

对上述技术方案的进一步改进为，所述绝缘层设为绿油层或阻焊油墨层。

对上述技术方案的进一步改进为，设于若干所述测试板的绝缘层的材质相同或不同。

本实用新型的有益效果如下：

本实用新型包括若干测试组，若干所述测试组分别设有若干测试板，所述测试板上设有用于夹具固定的工具孔和呈L型的测试线路，所述测试线路两端设有焊盘和若干根间隔分布、并与所述焊盘连通的正极线路及负极线路，本实用新型结构简单，设计合理，通过设置若干测试板进行测试，可以同步测试多个产品，测试效率高，且无需直接采用产品测试，可以有效节约成本，并方便准确的测试出产品或材料的耐离子迁移特性，并通过设置若干正极线路和若干负极电路，有效确保迁移测试的稳定性及可靠性。

附图说明

图1为本实用新型的测试板的结构示意图；

附图标记说明：1.测试板、2.工具孔、3.测试线路、31.焊盘、32.正极线路、33.负极线路、34.正极电势区、35.负极电势区。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

如图1所示，本实施例所述的耐离子迁移测试结构，包括若干测试组，若干所述测试组分别设有若干测试板1，所述测试板1上设有用于夹具固定的工具孔2和呈L型的测试线路3，所述测试线路3两端设有焊盘31和若干根间隔分布、并与所述焊盘31连通的正极线路32及负极线路33，本实用新型结构简单，设计合理，通过设置若干测试板1进行测试，可以同步测试多个产品，测试效率高，且无需直接采用产品测试，可以有效节约成本，并方便准确的测试出产品或材料的耐离子迁移特性，并通过设置若干正极线路32和若干负极电路33，有效确保迁移测试的稳定性及可靠性。

所述正极线路32与所述焊盘31连通的位置，线路重叠，形成正极电势区34；所述负极线路33与所述焊盘31连通的位置，线路重叠，形成负极电势区35，具体地，所述正极线路32重叠部分的长度为20-30mm；所述负极线路33重叠部分的长度为20-30mm，本实施例这样的设置，可以确保正极线路32和负极电路33与所述焊盘31良好连通，从而确保耐离子迁移测试的稳定性及可靠性。

具体地，所述正极线路32和所述负极电路33分别设有5根，所述正极电路32的线宽设为50um，相邻所述正极电路32之间的间距设为50um，所述负极电路33的线宽设为50um，相邻所述负极电路33之间的间距设为50um，本实施例这样的设置，符合现有的消费类电子产品使用的印制线路板的线宽间距密集等级，从而有效确保测试的准确性。

所述焊盘31的开口大小设为20mm*10mm，本实施例这样的设置，与外部电源接触稳定，导通良好，可以很方便的测出测试板的绝缘电阻，进而得出产品的耐离子迁移特性。

所述测试板1上设有绝缘层，所述绝缘层位于所述测试线路3上，所述绝缘层设为绿油层或阻焊油墨层，设于若干所述测试板1的绝缘层的材质相同或不同，本实施例这样的设置，可以进行相同产品或不同产品的耐离子迁移特性的测试，其结构设置简单，测试方便。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种耐离子迁移测试结构，其特征在于，包括若干测试组，若干所述测试组分别设有若干测试板，所述测试板上设有用于夹具固定的工具孔和呈L型的测试线路，所述测试线路两端设有焊盘和若干根间隔分布、并与所述焊盘连通的正极线路及负极线路。

2.根据权利要求1所述的一种耐离子迁移测试结构，其特征在于，所述正极线路与所述焊盘连通的位置，线路重叠，形成正极电势区；所述负极线路与所述焊盘连通的位置，线路重叠，形成负极电势区。

3.根据权利要求2所述的一种耐离子迁移测试结构，其特征在于，所述正极线路重叠部分的长度为20-30mm；所述负极线路重叠部分的长度为20-30mm。

4.根据权利要求1所述的一种耐离子迁移测试结构，其特征在于，所述正极线路和所述负极线路分别设有5根。

5.根据权利要求1所述的一种耐离子迁移测试结构，其特征在于，所述正极线路的线宽设为50um，相邻所述正极线路之间的间距设为50um。

6.根据权利要求5所述的一种耐离子迁移测试结构，其特征在于，所述负极线路的线宽设为50um，相邻所述负极线路之间的间距设为50um。

7.根据权利要求1所述的一种耐离子迁移测试结构，其特征在于，所述焊盘的开口大小设为20mm*10mm。

8.根据权利要求1所述的一种耐离子迁移测试结构，其特征在于，所述测试板上设有绝缘层，所述绝缘层位于所述测试线路上。

9.根据权利要求8所述的一种耐离子迁移测试结构，其特征在于，所述绝缘层设为绿油层或阻焊油墨层。

10.根据权利要求1所述的一种耐离子迁移测试结构，其特征在于，设于若干所述测试板的绝缘层的材质相同或不同。

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