JPS63204438A - 装置試験方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、コンビーータシステムにおける装置の試験方
式だ関し、特に、ソフトウェアの制御の下において装置
の各機能や動作を確認するいわゆる装置試験プログラム
による試験方式に関する。

〔従来の技術〕

従来、この種の装置試験方式では、試験対象となる装置
の全機能動作を確認するため、あるいは全ハードウェア
の素子やその接続を試験するため疹装置試験プログラム
は、多くの試験データを準備して多くの試験手続きや動
作指示を行い、それらの動作結果をチェックしている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上述した従来の装置試験方式では、装置試験プログラム
が、試験対象装置に対して多くの試験動作を行うため、
特に機能の複雑な装置やハードウェア量の多す装置に対
しては、その試験もその程度につれて多くなシ、装置試
験プログラムの実行時間が非常に大きくなる。

又、一方、近年のコンピュータは２社会的に重要な業務
を遂行することが多くなっているので。

装置の故障は許されず、もし装置が故障した場合には早
急に装置の修理復旧が要請されている。このような状況
において、障害探索や修理後の確認のために使用される
上記の装置試験プログラムは。

できるだけ短時間に実行が完了することが望まれる。

しかし、上述したように、従来の装置試験方式では、あ
らゆる故障が検出できるように充分な試験を行えば行う
ほど、試験実行時間が増大し、平均故障修理時間（ＭＴ
ＴＲ）’を増大させてしまう欠点がある。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明による装置試験方式は、試験対象装置に対して実
行する試験の形態ｌ指示を保持する記憶手段と、この記
憶手段を参照して試験対象装置への試験を短時間に完了
させるか否かを制御する試験制御手段と、記憶手段に対
して短時間に試験を完了させるか否かを予め指示設定で
きる設定手段とを有している。

〔実施例〕

次に１本発明の実施例について図面を参照して説明する
。

第１図は１本発明の一実施例である装置試験プログラム
の制御を示す流れ図であシ、第２図で示す装置試験プロ
グラム２０の各試験での共通な制御手順である。第３図
は本実施例の試験プログラムを実行するコンピュータシ
ステムの構成例である。

第３図を参照すると、中央処理装置（ＣＰＵ　）３０、
主記憶装置（ＭＭＵ　）　３１及びチャネル装置（ＣＨ
）３２が各々相互に接続され、さらにチャネル装置３２
には２台の入出力制御装置（ＩＯＣ）３３及び３５が接
続されている。入出力制御装置３３には、装置試験プロ
グラムを起動したシ各種動作指示を行うことのできるキ
ーボードディスプレイ装置（ＣＲ／ＫＢ）３４が接続さ
れている。又。

入出力制御装置３５には入出力装置（ＩＯＤ　）　３６
が接続されている。

装置試験プログラムは１図には示していないが適当なプ
ログラム格納装置から主記憶装置３１にロードされ、中
央処理装置３０によって実行される。装置試験プログラ
ムは、一般には各装置種別ごとに準備され、その起動は
保守員等によるキーボードディスプレイ装置３４の操作
とそのシステムで動作中のオ（レーティングシステムの
サポートによシ行うことができる。この起動時において
。

保守員は実際の被試験装置の指定を行うことができる。

いま、操作員が入出力装置３６に対してこの装置用の装
置試験プログラムを実行させたとすると。

中央処理装置３１はこのプログラムの試験手順に従って
入出力装置３６に対し各種の試験動作を行い、それぞれ
期待通シの動作結果が得られたかチェックする。もし２
期待した結果が得られなければ９例えばキーボードディ
スプレイ装置３４にエラーメツセージを表示する。以上
は、従来からすでにちる装置試験方式であるが、被試験
装置である入出力装置３６が複雑化高度化してくると、
装置試験プログラムの試験内容が非常に多くなシ。

試験実行時間が増大する。

第１図で示した装置試験プログラムは、複雑高度化され
た装置においても短時間で試験できるように構成したも
のである。装置試験プログラムの構造は、一般的ては第
２図に示すように各種の動作試験の集合である。第２図
の各々の試験の実施手順を示したものが第１図の流れ図
であシ、各試験ｉ　（ｉ　＝　ｌ〜ｎ）で共通である。

第１図を参照すると、試験としてはまずステップ１０に
おいて簡略試、験を実行する。簡略試験とは、その試験
１（ｉ＝１〜ｎ）での試験内容に対して最も代表的な動
作試験あるいは最も代表的テストデータを用いて試験で
きるように試験手順全構成したものであり、具体的な故
障箇所を指速するまでいかなくとも、短時間に異常（故
障）を検出できるように構成する。例えば、ある大きな
機能を確認する場合、その機能を実現する各種の小さい
動作をひとつずつ各種のデータを用いて丹念に試験して
いかねばならないが、ここでは最も苛酷なデータ等てよ
る少ない試験データでそれぞれの小さい動作を確認せず
一連の動作を実行させた後の結果をチェックする。これ
により短時間に−通うの試験を完了させればよい。

次に、ステップｌｌＩＣおいて、試験モードをチエンク
する。この試験モードの設定は後述するが。

試験モードとは詳細な試験を実施するか否かを示すモー
ドであり、主記憶装置３１の任意の番地に記憶すること
によシ実現できる。もし、詳細な試験を行わせる詳細試
験モードであれば１次のステップ１２の詳細試験をも実
行するが、このモードでない場合は詳細試験は実行しな
い。詳細試験とは、前述の簡略試験とは異なり、各種の
小さなひとつひとつの動作に対しそれぞれ各種のデータ
を用いて丹念に試験するものであり、長時間を要するが
詳細な試験結果が得られ故障部位の指摘能力にすぐれて
いる。

以上のように、試験の制御は試験モードによシ。

試験内容を変化させることができる。例えば１通常の装
置定期保守作業時や装置修理後の動作確認等には簡略試
験で実施して速やかに終了させる。

又、まれではあるが故障箇所の探索や装置の改造を実施
したときなど、多くの時間をとって試験できる場合は詳
細試験を利用することができ、簡略試験を補完すること
ができる。

第４図は、試験モードの設定記憶手段２示した流れ図で
ある。試験モードは、操作員によりで。

装置試験プログラムの起動時延指定される。特に指定が
なければ簡略試験モードとしておく。一度。

装置試験プログラムが起動されると、まず第４図の示す
処理が行われるように構成しておけば、ステンｆ４０に
おいて操作員よりのモード指定をチェックし、その判定
結果によシステップ４１又は４２で主記憶装置３１の任
意の番地にその上２記憶しておくことができる。

なお１以上の説明においては、被試験装置を入出力装置
３６としたが、他の装置１例えば中央処理装置３０にお
いても同様に本発明の適用が可能である。

〔発明の効果〕

以上説明したように、装置試験プログラムに簡略／詳細
試験の試験モードを導入し、簡略試験の手順全実現する
ことによシ、短時間に装置の試験を行うことができ、平
均故障修理時間（ＭＴＴＲ）　を短縮できる効果がある
。

なお、万一簡略試験で故障を検出できなくとも。

詳細試験で充分な試験が実施できる。この場合は長時間
を要すことＫなるが、そのような事態は少ないので平均
故障修理時間（ＭＴＴＲ）の増大にはあまり影響しない
。

又、近年においては、装置の機能は・・−ドウエアによ
るよシもマイクロプログラムによって実現されることが
多い。このマイクロプログラムの処理そのものは、それ
を格納している読出専用メモＩＪ　（ＲＯＭ　）がこわ
れない限シ故障することはない。

従って、装置試験プログラムとしては、複雑・高度な機
能を実現しているマイクロプログラムの手順に注目した
試験は９通常不要であり、読出専用メモリそのものとそ
の装置が保有している各８ｉノ・−ドウエアに注目して
試験すればよい。これにニジ簡略試験全読出専用メモリ
試験やノ・−ドウエア試験とし、マイクロプログラムの
手順に注目した試験を詳細試験として実施すれば、大き
な試験実行時間の短縮となる効果がある。この場合での
詳細試験の主な意義は、ノ・−ドウエアが改造されだと
き、あるいはマイクロプログラムの改善等による改造が
行われたときに、正常に動作できるかの確認が行えるこ
とが挙げられよう。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例である装置試験プログラムの
制御手順を示す流れ図、第２図は装置試験プログラムの
構造を示す図、第３図は装置試験プログラム全実行する
ときのコンピュータシステムの一構成例を示すブロック
図、第４図は装置試験プログラムの試験モードを設定す
る手順を示す流れ図である。 １０〜１２・・・装置試験プログラム制御手順の各ステ
ノア’、２０・・・装置試験プログラム、３０・・・中
央処理装置、３１・・・主記憶装置、３２・・・チャネ
ル装置、　３３　、３’５・・・入出力制御装置、３４
・・・キーボードディスプレイ装置、３５・・・入出力
装置。 ４０〜４２・・・試験モード設定手順の各ステップ。 第１図 第２図 第３図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、コンピュータシステム内の試験対象装置の動作試験
   を行う方式において、該試験対象装置に対して実行する
   試験の形態の指示を保持する記憶手段と、該記憶手段を
   参照して該試験対象装置への試験を短時間に完了させる
   か否かを制御する試験制御手段と、該記憶手段に対して
   短時間に試験を完了させるか否かを予め指示設定できる
   設定手段とを含むことを特徴とする装置試験方式。