JPS631918A - 距離検出装置 - Google Patents
距離検出装置Info
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- JPS631918A JPS631918A JP14577586A JP14577586A JPS631918A JP S631918 A JPS631918 A JP S631918A JP 14577586 A JP14577586 A JP 14577586A JP 14577586 A JP14577586 A JP 14577586A JP S631918 A JPS631918 A JP S631918A
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- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 16
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 15
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 11
- 230000006835 compression Effects 0.000 abstract description 5
- 238000007906 compression Methods 0.000 abstract description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
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- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、半導体装置検出装置(PST): Po5i
tion 5ensitive Device)を用
いた距離検出装置に関する。
tion 5ensitive Device)を用
いた距離検出装置に関する。
(従来の技術)
半導体装置検出装置(以下PSD)と投光素子を組み倉
わせた距離検出装置が知られている。
わせた距離検出装置が知られている。
第4図は、距離検出装置の投光部と受光部の配置関係を
示す略図である。
示す略図である。
第5図は、従来の距離検出装置の回路の構成例を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
投光素子4の発光をレンズ3で前方に投射し、前方の被
写体からの反射光をレンズ1でPSD2に反射光スポッ
トを形成する。
写体からの反射光をレンズ1でPSD2に反射光スポッ
トを形成する。
第5図に示す回路は前記PSD2の反射光スポットの位
置を演算することにより測距対象までの距離を判定する
ものである。
置を演算することにより測距対象までの距離を判定する
ものである。
PSD2よりの光電流の内から、位置情報を含んでいる
パルス光電流△■1.△■2のみを各充電流増幅回路1
. I[のパルス光電流抜取回路11゜14で抜き取
り、これを増幅回路12.15で増幅して(β△11.
β△12)を得る。
パルス光電流△■1.△■2のみを各充電流増幅回路1
. I[のパルス光電流抜取回路11゜14で抜き取
り、これを増幅回路12.15で増幅して(β△11.
β△12)を得る。
この(β△r1.β△12)を対数圧縮電圧変換回路1
3.16でそれぞれ増幅し、その出力を差動増幅回路1
7で差動増幅して次の出力を得る。
3.16でそれぞれ増幅し、その出力を差動増幅回路1
7で差動増幅して次の出力を得る。
Vref +K (△■1−△V2 )この出力は
、はぼ被写体までの距離の逆数に比例する形となるので
これをサンプルホールド回路18でサンプルホールドし
、ディジタル出力回路に入力する。ディジタル出力回路
のA/D変換回路19はこれをA/D変換してデコート
ランチ回路20でゾーンフォーカス用のディジタル出力
として出力する。
、はぼ被写体までの距離の逆数に比例する形となるので
これをサンプルホールド回路18でサンプルホールドし
、ディジタル出力回路に入力する。ディジタル出力回路
のA/D変換回路19はこれをA/D変換してデコート
ランチ回路20でゾーンフォーカス用のディジタル出力
として出力する。
電流増幅回路Iの対数圧縮電圧変換後の出力はv1+△
■1 − (AKT/Q) 12 n (I DC/ I S
)+’(AKT/Q) in ((I DC+β△r
+)/l5)1 ”= (A K T/ Q) A’ n (I DC+
β△r+ /Is)・・・・・・・・・・・・■ ただしA・・・定数 K・・・ポルツマン定数 Q・・・電子の電荷 T・・・絶対温度 rs・・・ダイオードの逆方向飽和電流IDC・・・直
流バイアス電流 で与えられる。V2+△■2も同様である。
■1 − (AKT/Q) 12 n (I DC/ I S
)+’(AKT/Q) in ((I DC+β△r
+)/l5)1 ”= (A K T/ Q) A’ n (I DC+
β△r+ /Is)・・・・・・・・・・・・■ ただしA・・・定数 K・・・ポルツマン定数 Q・・・電子の電荷 T・・・絶対温度 rs・・・ダイオードの逆方向飽和電流IDC・・・直
流バイアス電流 で与えられる。V2+△■2も同様である。
パルス光電流は
Δl1=
(△■1+△12 ) X (C+f−B/’t’)
/2’C△12= (△■1+△I2 )X (C−f−B/n)/2Gた
だし2C・・・PSDの長さ f・・・受光レンズの焦点距離 B・・・基線長 ρ・・・測距対象までの距離 (発明が解決しようとする問題点) 前述のような距1iIIt検出装置において、測距対象
までの距離が遠くなると差動増幅後の出力Vref +
K (△■1−△V2)は、測距の回ごとのバラツキが
大きくなってくる。
/2’C△12= (△■1+△I2 )X (C−f−B/n)/2Gた
だし2C・・・PSDの長さ f・・・受光レンズの焦点距離 B・・・基線長 ρ・・・測距対象までの距離 (発明が解決しようとする問題点) 前述のような距1iIIt検出装置において、測距対象
までの距離が遠くなると差動増幅後の出力Vref +
K (△■1−△V2)は、測距の回ごとのバラツキが
大きくなってくる。
通常コンパクトカメラのオートフォーカスにおいては、
無限遠の測距対象物に対しては、被写界深度の関係上、
レンズの停止位置は必ず最遠段でなくてはならず1ステ
ツプの誤差も許されない。
無限遠の測距対象物に対しては、被写界深度の関係上、
レンズの停止位置は必ず最遠段でなくてはならず1ステ
ツプの誤差も許されない。
ところが現在のところ演算回路で発生ずるノイズおよび
センサより発生するノイズを総合すると、この限界を越
してしまうのが現状であった。
センサより発生するノイズを総合すると、この限界を越
してしまうのが現状であった。
もちろん演算回路およびセンサより発生するノイズをで
きるかぎり抑圧することが最良の方法である。
きるかぎり抑圧することが最良の方法である。
しかし、それには最適な演算回路、注意深いICのパタ
ーン設計、特別なIC製造プロセスを必要としコストと
時間を多く必要とする。
ーン設計、特別なIC製造プロセスを必要としコストと
時間を多く必要とする。
本発明の目的は、前述した無限遠の距離測定に関連する
問題点を解決することができる無限遠判定回路を備えた
距離測定装置を提供することにある。
問題点を解決することができる無限遠判定回路を備えた
距離測定装置を提供することにある。
(問題点を解決するための手段)
前記問題を解決するために、本発明による距離測定装置
は、測距対象に向けてパルス光を投射し、反射光のスポ
ットを半導体装置検出装置上に形成し、前記半導体装置
検出装置の両端子から取り出される前記光スポットによ
るパルス光電流をそれぞれ充電流増幅回路により増幅し
て取り出し、その差をとって前記測距対象までの距離に
対応するディジタル出力を得る距離検出装置において、
前記充電流増幅回路のどちらか一方の出力が光パルス投
射時にある一定電圧以上上昇しない場合、測距対象が無
限遠に対応する領域にあるとみなす無限遠判定回路を設
け前記領域にあると見なされたときは前記無限遠領域に
対応する1つのディジタル出力を出力するように構成さ
れている。
は、測距対象に向けてパルス光を投射し、反射光のスポ
ットを半導体装置検出装置上に形成し、前記半導体装置
検出装置の両端子から取り出される前記光スポットによ
るパルス光電流をそれぞれ充電流増幅回路により増幅し
て取り出し、その差をとって前記測距対象までの距離に
対応するディジタル出力を得る距離検出装置において、
前記充電流増幅回路のどちらか一方の出力が光パルス投
射時にある一定電圧以上上昇しない場合、測距対象が無
限遠に対応する領域にあるとみなす無限遠判定回路を設
け前記領域にあると見なされたときは前記無限遠領域に
対応する1つのディジタル出力を出力するように構成さ
れている。
前記無限遠判定回路の判定するパルス光電流増幅回路の
出力は、前記パルス光を投射する手段に近接する側の半
導体装置検出装置の出力を検出する光電法増幅l路の出
力とすることができる。また、前記無限遠判定回路は、
前記パルス光電流増幅回路の出力をパルス光投射以前に
サンプルホールドするサンプルホールl:回路と、前記
サンプルホールド回路の出力に一定電圧を加算し出力す
る加算回路と、前記加算回路の出力と前記パルス光電流
増幅回路の出力との大小を比較し出力する比較回路と、
前記比較回路の出力を前記ディジタル測距出力回路のデ
コーダ部に入力し、前記ディジタル測距出力回路の出力
を無限遠とする回路と、前記比較回路の出力をランチし
て出力する回路で構成することができる。
出力は、前記パルス光を投射する手段に近接する側の半
導体装置検出装置の出力を検出する光電法増幅l路の出
力とすることができる。また、前記無限遠判定回路は、
前記パルス光電流増幅回路の出力をパルス光投射以前に
サンプルホールドするサンプルホールl:回路と、前記
サンプルホールド回路の出力に一定電圧を加算し出力す
る加算回路と、前記加算回路の出力と前記パルス光電流
増幅回路の出力との大小を比較し出力する比較回路と、
前記比較回路の出力を前記ディジタル測距出力回路のデ
コーダ部に入力し、前記ディジタル測距出力回路の出力
を無限遠とする回路と、前記比較回路の出力をランチし
て出力する回路で構成することができる。
(実施例)
以下図面等を参照して本発明をさらに詳しく説明する。
第1図は、本発明による無限遠判定回路を付加した距離
検出装置の主要部の実施例を示すブロック図である。
検出装置の主要部の実施例を示すブロック図である。
投光部と受光部の配置関係は先に説明した第4図の構成
と、距離演算回路部分は同様に第5図の構成と基本的に
異ならない。
と、距離演算回路部分は同様に第5図の構成と基本的に
異ならない。
コンパクトカメラのオートフォーカスにおいて、多くの
場合いわゆるゾーンフォーカスが許容されている。
場合いわゆるゾーンフォーカスが許容されている。
つまりある範囲内の距離に存在する被写体は、同一レン
ズ位置で撮影する。
ズ位置で撮影する。
今ここで問題としている無限距離の被写体を撮影するの
と同一のレンズ位置において、9m程度の距離にある被
写体も撮影する(但し、撮像レンズ(8〉 のF値6.0.焦点距離70mmの場合)。
と同一のレンズ位置において、9m程度の距離にある被
写体も撮影する(但し、撮像レンズ(8〉 のF値6.0.焦点距離70mmの場合)。
いいかえると9m以遠の被写体に対しては、すべて無限
遠とみなしてもさしつかえないということである。
遠とみなしてもさしつかえないということである。
第1図に示す回路は以上の考え方を基礎にして構成され
たものである。
たものである。
無限遠判定回路のサンプルホールド回路5は、充電流増
幅回路■の対数圧縮電圧変換回路16の出力V2+△V
2を、パルス光が入射しない時に(つまり出力はV2で
ある)サンプルホールドする。
幅回路■の対数圧縮電圧変換回路16の出力V2+△V
2を、パルス光が入射しない時に(つまり出力はV2で
ある)サンプルホールドする。
無限遠判定回路の加算回路6は、これに−定電圧VAを
加算する。
加算する。
パルス光が入射した時に、充電流増幅回路■の出力はV
2+△■2となる。
2+△■2となる。
無限遠判定回路の比較回路7は前記■2+△■2と加算
回路6の出力v2+VAとを比較する。
回路6の出力v2+VAとを比較する。
■2+△v2<V2+VA
の関係が成立するとき、これを無限遠とみなし、ディジ
タル測距出力を最遠段とするのである。
タル測距出力を最遠段とするのである。
また同時にこの結果をランチして出力する。
■2+△v2>V2+VA
の場合には通常の測距結果が出力される。
無限遠判定回路により判定される充電流増幅回路の出力
として投光手段に近接する側に位置するPSDの出力を
検出する充電流増幅回路IIの出力(第5図の充電流増
幅回路■)とするのは次の理由による。つまり差動増幅
器17の出力 Vref +K (△■1−△V2)の形からすると出
力が上昇し、最遠段を越してしまうのは△Vl −増加
する場合か、△■2−低2−る場合である。
として投光手段に近接する側に位置するPSDの出力を
検出する充電流増幅回路IIの出力(第5図の充電流増
幅回路■)とするのは次の理由による。つまり差動増幅
器17の出力 Vref +K (△■1−△V2)の形からすると出
力が上昇し、最遠段を越してしまうのは△Vl −増加
する場合か、△■2−低2−る場合である。
△V、−増加する場合ば有限距離の場合と区別できない
ので、△■2→低下の場合を監視する方が良い。
ので、△■2→低下の場合を監視する方が良い。
第2図は、サンプルホールド回路5の実施例を示す回路
図である。
図である。
オペアンプ51はバイポーラI・ランジス少入力形のも
の、オペアンプ52はFET入力形のものを使用する。
の、オペアンプ52はFET入力形のものを使用する。
サンプルモードにおいてはオペアンプ51を動作させ、
ホールト′モードにおいてはコントロール信号(タイミ
ング制御)によりオペアンプ51の動作電流を断つこと
によりホールドコンデンサ53に保持されたv2をオペ
アンプ52を介して出方する。
ホールト′モードにおいてはコントロール信号(タイミ
ング制御)によりオペアンプ51の動作電流を断つこと
によりホールドコンデンサ53に保持されたv2をオペ
アンプ52を介して出方する。
この出力■2に通常の加算回路6 (第1図参照)でV
Aが加算される。
Aが加算される。
第3図に示す回路・は第1図に示す回路のサンプルホー
ルド回路5と加算回路6を一体に構成した加算サンプル
ホールド回路の実施例を示す回路図である。
ルド回路5と加算回路6を一体に構成した加算サンプル
ホールド回路の実施例を示す回路図である。
オペアンプ56はバイポーラトランジスタ入力形のもの
、オペアンプ57はFET入力形のものを使用する。
、オペアンプ57はFET入力形のものを使用する。
オペアンプ57の出力にトランジスタ59のベースを接
続し、トランジスタ59のエミッタを抵抗60を介して
定電流源に接続しである。
続し、トランジスタ59のエミッタを抵抗60を介して
定電流源に接続しである。
抵抗60に電圧VAを発生可能にしておき、前述と同様
の操作をすれば、゛出力にV2 +VAを得ることがで
きる。
の操作をすれば、゛出力にV2 +VAを得ることがで
きる。
(発明の効果)
以上詳しく説明したように、本発明による距離検出装置
は、測距対象に向けてパルス光を投射し、反射光のスポ
ットを半導体装置検出装置上に形成し、前記半導体装置
検出装置の両端子から取り出される前記光スポットによ
るパルス光電流をそれぞれ充電流増幅回路により増幅し
て取り出し、その差をとって前記測距対象までの距離に
対応するディジタル出力を得る距離検出装置において、
前記光電、流増幅回路のどちらか一方の出力が光パルス
投射時にある一定電圧以上上昇しない場合、測距対象が
無限遠に対応する領域にあるとみなす無限遠判定回路を
設け前記領域にあると見なされたときは前記無限遠領域
に対応する1つのディジタル出力を出力するように構成
されている。
は、測距対象に向けてパルス光を投射し、反射光のスポ
ットを半導体装置検出装置上に形成し、前記半導体装置
検出装置の両端子から取り出される前記光スポットによ
るパルス光電流をそれぞれ充電流増幅回路により増幅し
て取り出し、その差をとって前記測距対象までの距離に
対応するディジタル出力を得る距離検出装置において、
前記光電、流増幅回路のどちらか一方の出力が光パルス
投射時にある一定電圧以上上昇しない場合、測距対象が
無限遠に対応する領域にあるとみなす無限遠判定回路を
設け前記領域にあると見なされたときは前記無限遠領域
に対応する1つのディジタル出力を出力するように構成
されている。
したがって、入力のない無限遠測距において、様々゛な
ノイズにより最遠段をとびこしてしまうような場合を防
止することができる。
ノイズにより最遠段をとびこしてしまうような場合を防
止することができる。
前記距離検出装置をカメラのオートフォーカスに利□用
することにより、鮮明な写真が得られることが期待され
る。
することにより、鮮明な写真が得られることが期待され
る。
第1図は、本発明による無限遠判定回路を付加した距離
検出装置の実施例を示すブロック図である。 第2図は、サンプルホールド回路の実施例を示す回路図
である。 第3図は、加算サンプルホールド回路の実施例を示す回
路図である。 第4図は、距m検出装置の投光部と受光部の配置関係を
示す略図である。 第5図は、従来の距離検出装置の回路の構成例を示すブ
ロック図である。 □ 1・・・受光レンズ 2・・・半導体装置検出装置(PSD)3・・・投射レ
ンズ 4・・・投光素子 5・・・サンプルホールド回路 6・・・加算回路 7・・・比較回路 8・・・ラッチ回路 11.14・・・パルス光電流抜取回路12.1.5・
・・増幅器 ・ □ 13.16・・・対数圧縮電圧変換回路17・・・差動
増幅回路 1.8・・・サンプルホールド回路 。 19・・・A/D変換回路 20・・・デコードランチ回路 5、−1,52i 56..57・・・オペアンプ5
3.58・・・ホールドコンデンサ 59・・・トランジスタ 60・・・抵抗 特許出願人 浜松ホトニクス株式会社 チ ノ ン 株式会社
検出装置の実施例を示すブロック図である。 第2図は、サンプルホールド回路の実施例を示す回路図
である。 第3図は、加算サンプルホールド回路の実施例を示す回
路図である。 第4図は、距m検出装置の投光部と受光部の配置関係を
示す略図である。 第5図は、従来の距離検出装置の回路の構成例を示すブ
ロック図である。 □ 1・・・受光レンズ 2・・・半導体装置検出装置(PSD)3・・・投射レ
ンズ 4・・・投光素子 5・・・サンプルホールド回路 6・・・加算回路 7・・・比較回路 8・・・ラッチ回路 11.14・・・パルス光電流抜取回路12.1.5・
・・増幅器 ・ □ 13.16・・・対数圧縮電圧変換回路17・・・差動
増幅回路 1.8・・・サンプルホールド回路 。 19・・・A/D変換回路 20・・・デコードランチ回路 5、−1,52i 56..57・・・オペアンプ5
3.58・・・ホールドコンデンサ 59・・・トランジスタ 60・・・抵抗 特許出願人 浜松ホトニクス株式会社 チ ノ ン 株式会社
Claims (3)
- (1)測距対象に向けてパルス光を投射し、反射光のス
ポットを半導体装置検出装置上に形成し、前記半導体装
置検出装置の両端子から取り出される前記光スポットに
よるパルス光電流をそれぞれ光電流増幅回路により増幅
して取り出し、その差をとって前記測距対象までの距離
に対応するディジタル出力を得る距離検出装置において
、前記光電流増幅回路のどちらか一方の出力が光パルス
投射時にある一定電圧以上上昇しない場合、測距対象が
無限遠に対応する領域にあるとみなす無限遠判定回路を
設け前記領域にあると見なされたときは前記無限遠領域
に対応する1つのディジタル出力を出力するように構成
したことを特徴とする距離検出装置。 - (2)前記無限遠判定回路の判定するパルス光電流増幅
回路の出力は、前記パルス光を投射する手段に近接する
側の半導体装置検出装置の出力を検出する光電流増幅回
路の出力である特許請求の範囲第1項記載の距離検出装
置。 - (3)前記無限遠判定回路は、前記パルス光電流増幅回
路の出力をパルス光投射以前にサンプルホールドするサ
ンプルホールド回路と、前記サンプルホールド回路の出
力に一定電圧を加算し出力する加算回路と、前記加算回
路の出力と前記パルス光電流増幅回路の出力との大小を
比較し出力する比較回路と、前記比較回路の出力を前記
ディジタル測距出力回路のデコーダ部に入力し、前記デ
ィジタル測距出力回路の出力を無限遠とする回路と、前
記比較回路の出力をラッチして出力する回路である特許
請求の範囲第1項記載の距離検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14577586A JPS631918A (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | 距離検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14577586A JPS631918A (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | 距離検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS631918A true JPS631918A (ja) | 1988-01-06 |
Family
ID=15392876
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14577586A Pending JPS631918A (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | 距離検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS631918A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01224617A (ja) * | 1988-03-04 | 1989-09-07 | Olympus Optical Co Ltd | 距離検出装置 |
JPH01260309A (ja) * | 1988-04-11 | 1989-10-17 | Sharp Corp | 演算回路 |
JPH02134608A (ja) * | 1988-11-15 | 1990-05-23 | Nikon Corp | カメラの自動焦点調節装置 |
JPH03119307A (ja) * | 1989-10-03 | 1991-05-21 | Canon Inc | 測距装置 |
US6181877B1 (en) | 1998-10-08 | 2001-01-30 | Fuji Photo Optical Co., Ltd. | Rangefinder apparatus |
US6259514B1 (en) | 1998-10-30 | 2001-07-10 | Fuji Photo Optical Co., Ltd. | Rangefinder apparatus |
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JPS61107111A (ja) * | 1984-10-30 | 1986-05-26 | Minolta Camera Co Ltd | 測距装置 |
-
1986
- 1986-06-20 JP JP14577586A patent/JPS631918A/ja active Pending
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