JPS63167251A - X線分析装置 - Google Patents
X線分析装置Info
- Publication number
- JPS63167251A JPS63167251A JP30994286A JP30994286A JPS63167251A JP S63167251 A JPS63167251 A JP S63167251A JP 30994286 A JP30994286 A JP 30994286A JP 30994286 A JP30994286 A JP 30994286A JP S63167251 A JPS63167251 A JP S63167251A
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- Japan
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- ray
- angle
- around
- spectral crystal
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- Pending
Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 16
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 claims 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 abstract 4
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
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- 238000005211 surface analysis Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ、産業上の利用分野
本発明は、X線照射角度、試料からのX線取出角度及び
分光装置の波長走査運動を可能としたX線分析装置に関
する。
分光装置の波長走査運動を可能としたX線分析装置に関
する。
口、従来の技術
蛍光X線分析装置において、分析対象が薄膜又は極めて
薄い表面等の場合には、X線の試料への照射角度θ1及
び試料から放出されるX線の取出角度θ2を小さく設定
して、X線が分析領域内の試料原子に衝突する確率を高
めると共に試料深部からの情報を担ったX線の減衰を強
める必要がある。しかし、従来の分光結晶波長走査機構
では、励起用X線管、試料のX線照射点1分光器の位置
等は固定されており、そのなめに、X線管からの試料へ
のX線照射角度θl及び試料からX線取出角度θ2は変
更できないので、薄膜又は極めて薄い表面等の測定が難
しく、それ用の装置を別途用意しなければならないので
測定能率も悪く、不経済である等の問題があった。
薄い表面等の場合には、X線の試料への照射角度θ1及
び試料から放出されるX線の取出角度θ2を小さく設定
して、X線が分析領域内の試料原子に衝突する確率を高
めると共に試料深部からの情報を担ったX線の減衰を強
める必要がある。しかし、従来の分光結晶波長走査機構
では、励起用X線管、試料のX線照射点1分光器の位置
等は固定されており、そのなめに、X線管からの試料へ
のX線照射角度θl及び試料からX線取出角度θ2は変
更できないので、薄膜又は極めて薄い表面等の測定が難
しく、それ用の装置を別途用意しなければならないので
測定能率も悪く、不経済である等の問題があった。
ハ1発明が解決しようとする問題点
本発明は、一つのX線分析装置による分析可能な対象の
拡大を計り、上述したような薄膜や極めて薄い表面も、
通常の元素分析も可能とすることで、測定能率を高め、
経済性も高めることを目的とする。
拡大を計り、上述したような薄膜や極めて薄い表面も、
通常の元素分析も可能とすることで、測定能率を高め、
経済性も高めることを目的とする。
二0問題点解決のための手段
X線分析装置において、試料をX線照射位置を軸として
回転させる手段を設け、試料を中心に分光結晶及び検出
器よりなる分光器或は励起用線源を回転可能に設けた。
回転させる手段を設け、試料を中心に分光結晶及び検出
器よりなる分光器或は励起用線源を回転可能に設けた。
ホ0作用
本発明によれば、試f−+を回転可能に設け、ソーラス
リット及び分光結晶等よりなる分光器或は励起用線源を
、試料のX線照射点を軸として回転可能に設置すること
により、試料へ入射するX線の入射角度θ、及び試料か
らのX線の収出角度θ2を自由に変更できるようにした
ので、薄膜や極めて薄い表面等における測定も、通常の
測定も可能となり、分析能率が向上した。
リット及び分光結晶等よりなる分光器或は励起用線源を
、試料のX線照射点を軸として回転可能に設置すること
により、試料へ入射するX線の入射角度θ、及び試料か
らのX線の収出角度θ2を自由に変更できるようにした
ので、薄膜や極めて薄い表面等における測定も、通常の
測定も可能となり、分析能率が向上した。
へ、実施例
図に本発明の一実施例を示す。図において、Sは試料で
試料テーブルTによってX線照射点を軸(紙面に垂直)
として回転可能に設置されている、1は試料にX線を照
射するX線管で試料テーブルTの回転軸と同軸に枢支さ
れた腕A上に取付けられている。S2は照射X線によっ
て励起されて試料Sから放出されるX線から、分光結晶
に入射せしめる平行X線束を取出すソーラスリット、2
はX線を分光する分光結晶、3は分光結晶2で分光され
たX線を検出する検出器で、ソーラスリットS29分光
結晶2.検出器3によってX線分光器が構成されている
。Bはゴニオメータで分光結晶2を中心に検出器3を分
光結晶2の回転角αの2(flの回転角2αで回転させ
る2倍角機横を有する。以上の構成全体は真空界2Hw
内に収納されている。
試料テーブルTによってX線照射点を軸(紙面に垂直)
として回転可能に設置されている、1は試料にX線を照
射するX線管で試料テーブルTの回転軸と同軸に枢支さ
れた腕A上に取付けられている。S2は照射X線によっ
て励起されて試料Sから放出されるX線から、分光結晶
に入射せしめる平行X線束を取出すソーラスリット、2
はX線を分光する分光結晶、3は分光結晶2で分光され
たX線を検出する検出器で、ソーラスリットS29分光
結晶2.検出器3によってX線分光器が構成されている
。Bはゴニオメータで分光結晶2を中心に検出器3を分
光結晶2の回転角αの2(flの回転角2αで回転させ
る2倍角機横を有する。以上の構成全体は真空界2Hw
内に収納されている。
以上の構成で分光結晶波長走査it#Iの波長設定動作
を説明する。試料Sを回転させてソーラスリットS2の
方向がX線取出角度θ2になるように設定する0次に腕
Aを回転させてX線照射角θlを設定する。その上でゴ
ニオメータBを作動させて波長走査を行う。
を説明する。試料Sを回転させてソーラスリットS2の
方向がX線取出角度θ2になるように設定する0次に腕
Aを回転させてX線照射角θlを設定する。その上でゴ
ニオメータBを作動させて波長走査を行う。
上述実施例では試料周面にX線管の角位置を可変にした
が、反対に分光器の試料に対する角位置を可変にしても
よい。
が、反対に分光器の試料に対する角位置を可変にしても
よい。
ト、効果
本発明によれば、試料へのX線照射角度及び試料からの
X線収出角度を自由に設定できるようになったことによ
り、薄膜や極めて薄い表面等も、通常の測定も一台の装
置で可能となり、−試料について表面分析と、全体分析
の両方を行いたいような場合、一台の装置で間に合うか
ら経済的な上、試料を装置から装置へ移しがえる必要が
ないから測定の能率も向上する。
X線収出角度を自由に設定できるようになったことによ
り、薄膜や極めて薄い表面等も、通常の測定も一台の装
置で可能となり、−試料について表面分析と、全体分析
の両方を行いたいような場合、一台の装置で間に合うか
ら経済的な上、試料を装置から装置へ移しがえる必要が
ないから測定の能率も向上する。
図は本発明の一実施例の平面図である。
1・・・X線管、2・・・分光結晶、3・・・検出器、
S・・・試料、S2・・・ソーラスリット、A・・・腕
、B・・・ゴニオメータ、T・・・テーブル、W・・・
真空容器。
S・・・試料、S2・・・ソーラスリット、A・・・腕
、B・・・ゴニオメータ、T・・・テーブル、W・・・
真空容器。
Claims (1)
- 試料をX線照射位置を軸として回転させる手段を設ける
と共に、試料を中心に分光結晶及び検出器よりなる分光
器或は励起用線源を回転可能に設けたことを特徴とする
X線分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30994286A JPS63167251A (ja) | 1986-12-27 | 1986-12-27 | X線分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30994286A JPS63167251A (ja) | 1986-12-27 | 1986-12-27 | X線分析装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63167251A true JPS63167251A (ja) | 1988-07-11 |
Family
ID=17999202
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30994286A Pending JPS63167251A (ja) | 1986-12-27 | 1986-12-27 | X線分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63167251A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03202760A (ja) * | 1989-10-19 | 1991-09-04 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 全反射螢光x線分折装置 |
JPH062208U (ja) * | 1992-04-16 | 1994-01-14 | 理学電機工業株式会社 | 蛍光x線分析装置 |
JP2010520467A (ja) * | 2007-03-06 | 2010-06-10 | サーモ フィッシャー サイエンティフィック インク | X線分析機器 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6117052A (ja) * | 1984-07-02 | 1986-01-25 | Rigaku Denki Kogyo Kk | 螢光x線分析装置 |
JPS61132847A (ja) * | 1984-11-30 | 1986-06-20 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 2層メツキ被膜の螢光x線分析方法及び装置 |
-
1986
- 1986-12-27 JP JP30994286A patent/JPS63167251A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6117052A (ja) * | 1984-07-02 | 1986-01-25 | Rigaku Denki Kogyo Kk | 螢光x線分析装置 |
JPS61132847A (ja) * | 1984-11-30 | 1986-06-20 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 2層メツキ被膜の螢光x線分析方法及び装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03202760A (ja) * | 1989-10-19 | 1991-09-04 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 全反射螢光x線分折装置 |
JPH062208U (ja) * | 1992-04-16 | 1994-01-14 | 理学電機工業株式会社 | 蛍光x線分析装置 |
JP2010520467A (ja) * | 2007-03-06 | 2010-06-10 | サーモ フィッシャー サイエンティフィック インク | X線分析機器 |
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