JPS63159717A - 記録計 - Google Patents

記録計

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Publication number
JPS63159717A
JPS63159717A JP30745186A JP30745186A JPS63159717A JP S63159717 A JPS63159717 A JP S63159717A JP 30745186 A JP30745186 A JP 30745186A JP 30745186 A JP30745186 A JP 30745186A JP S63159717 A JPS63159717 A JP S63159717A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measurement data
minimum value
measurement
gain
period
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP30745186A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Nakamura
健次 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP30745186A priority Critical patent/JPS63159717A/ja
Publication of JPS63159717A publication Critical patent/JPS63159717A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 この発明は、分光分析機器等のように、データ総量(測
定領域・全測定時間)が一定な進行変化を記録する記録
計に関する。
(ロ)従来の技術 一般に、従来のペン書き等の記録計は、連続的に変化す
る測定データを記録していく場合に、そのスパンを変え
るために、ゲイン、ゼロ点を可変とする機能を有し、こ
のゲイン、ゼロ点をどの程度変化させるかは、操作者が
、予めその測定データの変化範囲を予測し、測定範囲の
データが所定の範囲に記録されるように設定し、望まし
い設定値に設定するようになっている。
(ハ)発明が解決しようとする問題点 従来の記録計では、ゲインやゼロ点を可変にする機能を
持ち、操作者が予めこれを予測して設定し得るが、これ
ら記録条件の設定は、測定前に行わなければならず、特
に拡大・縮小記録を希望する場合には、1回設定した測
定ゲイン、ゼロ点では適正なスケールが得られず、さら
に再測定を行って設定しなければならない場合があり、
いちいち再測定、再設定を行うのは面倒であるという問
題があった。
この発明は、上記に鑑み、操作者が予め予測してゲイン
やゼロ点を設定しなくても、自動的に適正な範囲を設定
し得る記録計を提供することを目的としている。
(ニ)問題点を解決するための手段1、 4□近年の測
定においては、記録計の所謂ペン書き等の記録部とは別
に、高速な表示手段であるCRT等が補助表示装置とし
て併設され、これにより実時間のモニタを行っており、
いわゆるレコーダによる保存のためのデータ記録は、最
終段階で得られれば充分であるという点に着目し、この
発明の記録計は、測定データの収集期間と、収集された
測定データを記録する期間を分けて構成している。すな
わち、この発明の記録計は、測定の第1の動作時間及び
この第1の動作期間より短い第2の動作期間を有し、第
1の動作期間で測定処理を、第2の動作期間で記録処理
を実行するものであって、第1の動作期間に、所定のサ
ンプリング周期で時間順次に測定される全測定データを
記憶する測定データ記憶手段と、前記測定データの最小
値を記憶する最小値記憶手段と、前記測定データの最大
値を記憶する最大値記憶手段と、前記第2の動作期間に
、前記測定データ記憶手段より導出される測定データ値
から前記最小値を引算して出力する引算手段と、前記最
大値と最小値の差値を算出する手段と、前記引算手段か
らの信号を増幅して記録手段に加える増幅手段と、前記
測定データの最小値をゼロ点とし、前記差値に応じて前
記増幅手段のゲインを制御するゲイン設定手段とから構
成されている。
(ホ)作用 この記録計では、先ず、第1の動作期間で、所定のサン
プリング周期毎に時間順次に測定データを測定データ記
憶手段に取込み、時間順次に一定測定期間の測定データ
を記憶する。この測定データの記憶の際に、併せてその
測定データの最小値と最大値を記憶し、次に、測定デー
タの収集が終わると、最大値と最小値の差値を算出する
。また、記録部で測定データを連続記録するため、測定
データ記憶手段から記憶されている測定データを読出し
、記録部に出力する。この際に、各測定データから最小
値を引算し、その最小値を差引いた分を測定データとし
て記録部に与えると共に、最小値をゼロ点とし、差値の
大きさを考慮してゲイン設定器で最大変化幅が所定のス
ケールとなるようにゲイン調整を行う。そのため、記録
部に記録する測定データは、常に適正な振れ範囲で自動
的に記録される。
(へ)実施例 以下、実施例により、この発明をさらに詳細に説明する
第1図は、この発明の一実施例を示す記録計のブロック
図である。
記録される測定信号入力は、A/D変換器1でアナログ
信号からデジタル信号に変換され、ファーストイン・フ
ァーストアウト記憶部2に順次記憶されると共に、比較
器3及び5と最小値記憶器4及び最大値記憶器6に入力
される。これらA/D変換器1、ファーストイン・ファ
ーストアウト記憶部2、比較器3.5、最小値記憶器4
及び最大値記憶器6へのデータの入力は、タイミング信
号制御回路12より出力されるクロック信号C(第2図
C参照)によって、サンプリング読込みされる。
比較器3は、最小値記憶器4に記憶されている測定信号
値と、今回入力された測定信号値とを比較し、今回入力
された測定信号の方が小さい場合に、最小値記憶器4に
その旨を入力し、最小値記憶器4は、新たに入力された
測定信号を最小値として更新記憶するようになっている
。新たに入力された測定信号の方が大きい場合には、最
小値記憶器4の内容は、そのままとされる。一方、比較
器5は、新たに入力された測定信号と、最大値記憶器6
に記憶されている測定信号とを比較し、今回入力された
測定信号の方がそれまでの最大値より大きい場合には、
その旨を最大値記憶器6に入力し、最大値記憶器6は、
新たに入力された測定信号を更新記憶するようになって
いる。ファーストイン・ファーストアウト記憶部2は、
A/D変換器1より時間順次に入力される測定信号を、
時間順次記憶するように構成されている。以上のように
して、一定期間の測定データが収集・記憶される。
次に、ファーストイン・ファーストアウト記憶部2の出
力は、測定終了後の記録タイミングに引算器7に入力さ
れ、引算器7の他方の入力端には、最小値記憶器4に記
憶される最小値が入力されており、測定データから最小
値を引算した値をD/A変換器でアナログ信号に変換し
、さらに可変ゲインアンプ9で増幅して記録部11に加
え、印字記録する。また、この場合、ゲイン設定器10
では、最小値記憶器4の最小値と最大値記憶器6の最大
値とより差値を求め、この差値に応じてゲインを設定し
、可変ゲインアンプ9を自動設定する。
この場合、ゼロ点は、最小値記憶器4の記憶内容により
定められる。
ゲイン設定器10における可能なゲイン設定は、可能な
ゲインをG1〈G2くG3〈・・・・・・〈G、lとす
ると、 C+++  (Sn+ax −Sm1n)≦Full 
5caleG*、+(Smax −Sm1n) > F
ull 5caleとなるようなm番目に設定される*
(Smax−3shin)の差値が大きいほど、小さな
ゲインが設定されることになる。
次に、上記実施例記録計の全体動作を、第2図に示すタ
イミング信号波形を参照して説明する。
第1図のタイミング信号制御回路12に、被測定系より
測定中を示す信号Aが入力される一方、動作を規定する
クロック信号Bが入力される。信号Aは、第2図に示す
ように、測定中はハイレベルの信号であり、測定終了し
、記録モードとなると、ローレベルの信号となる。また
、測定中を示す信号Aがハイ期間は、クロック信号Bが
入力される。タイミング信号制御回路12では、タイミ
ング信号Aがハイの間、クロック信号Bに相当するクロ
ツタ信号Cを出力し、このクロック信号Cをサンプルタ
イミング信号として、A/D変換器1が測定信号入力を
デジタル変換して、時間順次にファーストイン・ファー
ストアウト記憶部2に記憶すると共に、最小値記憶器4
及び最大値記憶器6に比較器3及び5を使用して、今回
の測定信号がそれまでの測定値の最小値である場合には
、最小値記憶器4の内容を更新し、最大値である場合に
は、最大値記憶器6の内容を更新し、以下、順次、クロ
ック信号Cが入力される毎に、この記憶動作及び最小値
・最大値の更新動作を継続する。
やがて測定動作終了、つまり所定期間の測定データ収集
が終了すると、ファーストイン・ファーストアウト記憶
部2には、その期間中の全測定データが記憶され、さら
にこの期間における測定データの最小値と最大値が、そ
れぞれ最小値記憶器4と最大値記憶器6に記憶される。
次に、測定タイミング信号Aがローに落ち、動作が測定
中から記録に移ると、タイミング信号制御回路12より
、ファーストイン・ファーストアウト記憶部2に、測定
データを読出すための続出クロック信号りが加えられ、
このクロック信号りのパルス印加毎にファーストイン・
ファーストアウト記憶部2より測定データが読出される
。そして、この測定データは、引算器7で最小値記憶器
4から加えられる最小値を引算する。それらの測定デー
タ、つまりその都度最小値を減じた値はD/A変換器8
でアナログ信号に変換され、可変ゲインアンプ9で増幅
して、記録部11で記録される。
なお、可変ゲインアンプ9のゲイン及びゼロ点は、上述
したように、最小値記憶器4に記憶される最小値でゼロ
点が、最小値及び最大値の差値、つまり測定データの振
れ幅でゲインが定められ、ゲイン設定器10は、このゼ
ロ点と振れ幅により適正なゲインを設定する。従って、
いかなる測定データであっても、その測定期間のデータ
の記録は、所望のスケール幅に記録されるように常に可
変・制御されることになる。
もっとも、この実施例記録計は、それぞれ測定期間の測
定データの振れ幅に応じてゲイン及びゼロ点を自動的に
制御し、常に記録紙の所定範囲に測定データが記録され
る目的をもって制御されるものであるが、モードとして
固定のゲイン、ゼロ点を設定する場合と、操作によりゲ
イン及びゼロ点を可変設定する場合と、上記実施例のよ
うに、オートでゲイン、ゼロ点を可変とする場合のモー
ドを持つ記録計であってもよいこと、いうまでもない。
また、上記実施例は、個別の論理回路で機能達成する場
合を示しているが、比較機能や最小値・最大値の記憶及
び引算その他の回路の諸機能を、マイクロコンピュータ
等により実現してもよい。
(ト)発明の効果 この発明の記録計によれば、動作期間を第1の動作期間
と、この第1の動作期間より短い第2の動作期間とし、
この第1の動作期間で測定処理を行い、ある所定期間の
測定データを測定データ記憶手段に記憶し、この間の最
小値と最大値を求め、その期間における測定データの振
れ幅により、ゲイン及びゼロ点を適正に設定して、第2
の動作期間で記録処理を行うものであるから、操作者が
特に手動で設定する必要がな(、スケールの拡大・縮小
を実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例を示す記録計のブロック
図、第2図は、同記録計の動作を説明するためのタイミ
ング信号を示す図である。 2:ファーストイン・ファーストアウト記憶部、3・5
:比較器、    4=最小値記憶器、6:最大値記憶
器、  7:引算器、 9:可変ゲインアンプ、10ニゲイン設定器、11:記
録部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)所定の第1の動作期間及びこの第1の動作期間よ
    りも短い第2の動作期間を有し、第1の動作期間で測定
    処理を、第2の動作期間で記録処理を実行する記録計で
    あって、 第1の動作期間に、所定のサンプリング周期で時間順次
    に測定される全測定データを記憶する測定データ記憶手
    段と、前記測定データの最小値を記憶する最小値記憶手
    段と、前記測定データの最大値を記憶する最大値記憶手
    段と、前記第2の動作期間に、前記測定データ記憶手段
    より導出される測定データ値から前記最小値を引算して
    出力する引算手段と、前記最大値と最小値の差値を算出
    する手段と、前記引算手段からの信号を増幅して記録手
    段に加える増幅手段と、前記測定データの最小値をゼロ
    点とし、前記差値に応じて前記増幅手段のゲインを制御
    するゲイン設定手段とからなる記録計。
JP30745186A 1986-12-23 1986-12-23 記録計 Pending JPS63159717A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30745186A JPS63159717A (ja) 1986-12-23 1986-12-23 記録計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30745186A JPS63159717A (ja) 1986-12-23 1986-12-23 記録計

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63159717A true JPS63159717A (ja) 1988-07-02

Family

ID=17969217

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30745186A Pending JPS63159717A (ja) 1986-12-23 1986-12-23 記録計

Country Status (1)

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JP (1) JPS63159717A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0650773A (ja) * 1992-07-07 1994-02-25 Orientetsuku:Kk 記憶再生を利用した最適レンジ測定方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0650773A (ja) * 1992-07-07 1994-02-25 Orientetsuku:Kk 記憶再生を利用した最適レンジ測定方法

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