JPS63154971A - 検査装置 - Google Patents
検査装置Info
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- JPS63154971A JPS63154971A JP61302944A JP30294486A JPS63154971A JP S63154971 A JPS63154971 A JP S63154971A JP 61302944 A JP61302944 A JP 61302944A JP 30294486 A JP30294486 A JP 30294486A JP S63154971 A JPS63154971 A JP S63154971A
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- Japan
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- circuit board
- printed circuit
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- inspection jig
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 21
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 10
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 22
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 4
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000002747 voluntary effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、所定ピッチで配列された測定ピンを備えたプ
リント基板検査装置と、所定ピッチ以外のピッチで配列
された接点を有するプリント基板との電気的接続を行な
うプリント基板検査治具に関する。
リント基板検査装置と、所定ピッチ以外のピッチで配列
された接点を有するプリント基板との電気的接続を行な
うプリント基板検査治具に関する。
(従来の技術)
従来、例えばIC等の接点は、0,1インチ(2,51
mn)の所定のピッチで形成されるよう規格化されてお
り、プリント基板の試@測定を行なうプリント基板検査
装置には、この所定ピッチで多数の測定ピンが配列され
ている。
mn)の所定のピッチで形成されるよう規格化されてお
り、プリント基板の試@測定を行なうプリント基板検査
装置には、この所定ピッチで多数の測定ピンが配列され
ている。
そして、このような所定ピンチ以外のピッチで接点を形
成されたプリント基板の試験測定を行なう場合は、例え
ば第5図に示すようなプリント基板検査治具を用いて試
験測定を行なっている。
成されたプリント基板の試験測定を行なう場合は、例え
ば第5図に示すようなプリント基板検査治具を用いて試
験測定を行なっている。
このようなプリント基板検査治具は、基板検査装置に0
.1インチの所定ピッチで多数配列された測定用ピン1
のピッチで配列された多数の透孔2aを有し、例えばア
クリル、ポリカーボネート等から構成されるピン側板部
材2と、ピン側板部材2の上方に配置され、プリント基
板3に形成された接点3aの位置に対応して形成されな
透孔4aを備え、例えばアクリル、ポリカーボネート等
から構成される基板側板部材4と、透孔2aおよび透孔
4aに挿入されるプリント基板検査治具用ピン5とから
構成されている。
.1インチの所定ピッチで多数配列された測定用ピン1
のピッチで配列された多数の透孔2aを有し、例えばア
クリル、ポリカーボネート等から構成されるピン側板部
材2と、ピン側板部材2の上方に配置され、プリント基
板3に形成された接点3aの位置に対応して形成されな
透孔4aを備え、例えばアクリル、ポリカーボネート等
から構成される基板側板部材4と、透孔2aおよび透孔
4aに挿入されるプリント基板検査治具用ピン5とから
構成されている。
なお、プリント基板検査治具用ピン5は、例えば長さ8
1.5mn、直径1.5511程度の一様な太さのピン
本体5aからなり、上端部に、先端に突起状のデーパ部
を有し例えば長さ2.511Im〜直径1 、9nn程
度の大径の基板側接続部5bを備え、反対側端部にテー
パ状に凹陥された測定ピン側接続部5cを備えな構成と
されている。
1.5mn、直径1.5511程度の一様な太さのピン
本体5aからなり、上端部に、先端に突起状のデーパ部
を有し例えば長さ2.511Im〜直径1 、9nn程
度の大径の基板側接続部5bを備え、反対側端部にテー
パ状に凹陥された測定ピン側接続部5cを備えな構成と
されている。
そして、プリント基板検査治具用ピン5は、基板側板部
材4の上方から透孔4aに挿入され、透孔2aに挿入さ
れる。このとき、大径の基板側接続部5bは、透孔4a
よつ大径とされており、例えばプリント基板検査治具を
持上げた時にこの基板側接続部5bが、基板側板部材4
上面に係止されて、プリント基板検査治具用ピン5の脱
落を防止している。
材4の上方から透孔4aに挿入され、透孔2aに挿入さ
れる。このとき、大径の基板側接続部5bは、透孔4a
よつ大径とされており、例えばプリント基板検査治具を
持上げた時にこの基板側接続部5bが、基板側板部材4
上面に係止されて、プリント基板検査治具用ピン5の脱
落を防止している。
上記構成のプリント基板検査治具では、測定用ピン1の
ピッチと、プリント基板3に形成された接点3aのピッ
チとが異なる場合でも、測定用ピン1と接点3aとの間
にプリント基板検査治具用ピン5が斜めに配置されるこ
とにより、測定用ピン1と接点3aとの電気的接続を行
い、測定可能とするものである。また、プリント基板検
査治具用ピン5は、容易に脱着が可能とされ、種類の異
なるプリント基板3の測定を行なう場合は、接点3aに
対応した透孔4aを備えた基板側板部材4のみを交換す
ることによって測定することができるよう構成されてい
る。
ピッチと、プリント基板3に形成された接点3aのピッ
チとが異なる場合でも、測定用ピン1と接点3aとの間
にプリント基板検査治具用ピン5が斜めに配置されるこ
とにより、測定用ピン1と接点3aとの電気的接続を行
い、測定可能とするものである。また、プリント基板検
査治具用ピン5は、容易に脱着が可能とされ、種類の異
なるプリント基板3の測定を行なう場合は、接点3aに
対応した透孔4aを備えた基板側板部材4のみを交換す
ることによって測定することができるよう構成されてい
る。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら近年は、高集積化のため、基板に形成され
る接点のピッチは、所定の基準ピッチより小さなピッチ
で形成される場合が多い。上記説明の従来のプリント基
板検査治具では、プリント基板検査治具用ピンの基板側
の端部に、基板側接触部および基板側板状部材に対する
係止機構を兼ねた大径の基板側接続部が形成されている
ため、隣接するこれらの基板側接続部が接触し、所定の
基準ピンチより小さなピンチで接点を形成された基板の
測定に限界が生じ、例えばピン本体および基板側接続部
を小径化しても、1.27m1程度のピッチまでしか測
定することができないという問題がある。
る接点のピッチは、所定の基準ピッチより小さなピッチ
で形成される場合が多い。上記説明の従来のプリント基
板検査治具では、プリント基板検査治具用ピンの基板側
の端部に、基板側接触部および基板側板状部材に対する
係止機構を兼ねた大径の基板側接続部が形成されている
ため、隣接するこれらの基板側接続部が接触し、所定の
基準ピンチより小さなピンチで接点を形成された基板の
測定に限界が生じ、例えばピン本体および基板側接続部
を小径化しても、1.27m1程度のピッチまでしか測
定することができないという問題がある。
本発明は、かかる従来の事情に対処してなされたもので
、例えば1.2711n未満の小さなピッチで接点を形
成された基板でも、試験測定を行なうことのできるプリ
ント基板検査治具を提供しようとするものである。
、例えば1.2711n未満の小さなピッチで接点を形
成された基板でも、試験測定を行なうことのできるプリ
ント基板検査治具を提供しようとするものである。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
すなわち本発明は、検査装置に所定ピッチで格子状に配
列された測定ピンと基板接点との電気的接続を行なうプ
リント基板検査治具において、前記測定ピンのピッチで
配列された多数の透孔を有する測定ピン側板状部材と、
基板の接点位置に対応して配列された透孔を有する基板
側板状部材と、前記基板側を小径部とされ前記測定ピン
側を大径部とされたピン本体および該ピン本体を前記ピ
ン側板状部材に着脱自在に係止する係止機構を有するプ
リント基板検査治具用ピンとを備えたことを特徴とする
。
列された測定ピンと基板接点との電気的接続を行なうプ
リント基板検査治具において、前記測定ピンのピッチで
配列された多数の透孔を有する測定ピン側板状部材と、
基板の接点位置に対応して配列された透孔を有する基板
側板状部材と、前記基板側を小径部とされ前記測定ピン
側を大径部とされたピン本体および該ピン本体を前記ピ
ン側板状部材に着脱自在に係止する係止機構を有するプ
リント基板検査治具用ピンとを備えたことを特徴とする
。
(作 用)
本発明のプリント基板検査治具では、プリント基板検査
治具用ピン本体の基板側が小径部とされ、大径な部位が
ないので、例えば、1.2711F未溝の小ピツチで接
点を形成された基板でも、隣接するプリント基板検査治
具用ピンが接触することがなく、試験測定を行なうこと
ができる。
治具用ピン本体の基板側が小径部とされ、大径な部位が
ないので、例えば、1.2711F未溝の小ピツチで接
点を形成された基板でも、隣接するプリント基板検査治
具用ピンが接触することがなく、試験測定を行なうこと
ができる。
(実施例)
以下本発明のプリント基板検査用治具を図面を参照して
一実施例について説明する。
一実施例について説明する。
第2図に示すプリント基板検査治具用ピン10は、例え
ばBeCu等からなり、表面に例えばNi、 Rh等の
メッキ処理が施されたピン本体11と、このピン本体1
1かられずかに突出する係止a楕12とから構成されて
いる。
ばBeCu等からなり、表面に例えばNi、 Rh等の
メッキ処理が施されたピン本体11と、このピン本体1
1かられずかに突出する係止a楕12とから構成されて
いる。
ピン本体11は、全長例えば82゜5111とされ、上
端から例えば42.51Il程度が直径例えば0.77
nrxの小径部11aとされ、下端から例えば21.5
mmが直径例えば1.55n+nの大径部11bとされ
、この間で小径部11aから大径部11bへ向けて徐々
に大径とされている。また、小径部11aの先端には、
例えば90度等のテーバ状に突出する基板側接続部11
cが形成されており、反対側の大径部11bの先端には
、外周部直径が例えば1.8II11とされ、内側に例
えば直径1.4ni、90度等のテーバ状に凹陥された
測定ピン側接続部lidが形成されている。
端から例えば42.51Il程度が直径例えば0.77
nrxの小径部11aとされ、下端から例えば21.5
mmが直径例えば1.55n+nの大径部11bとされ
、この間で小径部11aから大径部11bへ向けて徐々
に大径とされている。また、小径部11aの先端には、
例えば90度等のテーバ状に突出する基板側接続部11
cが形成されており、反対側の大径部11bの先端には
、外周部直径が例えば1.8II11とされ、内側に例
えば直径1.4ni、90度等のテーバ状に凹陥された
測定ピン側接続部lidが形成されている。
また、係止ta構12は、ピン本体11下端から例えば
10111の位置に幅3mlに渡って例えばローレット
加工によって形成された突出部から構成され、その外周
直径は、例えば1.771n程度とされている。
10111の位置に幅3mlに渡って例えばローレット
加工によって形成された突出部から構成され、その外周
直径は、例えば1.771n程度とされている。
上記構成のプリント基板検査治具用ピン10は、第1図
に示すプリント基板検査治具15に配置される。
に示すプリント基板検査治具15に配置される。
プリント基板検査治具15は、板検査装置に0看インチ
の所定ピッチで多数配列された測定用ピン16のピッチ
で配列された多数の透孔17aを有し、例えばアクリル
、ポリカーボネート等がら構成されるピン側板部材17
と、ピン側板部材17の上方に配置され、プリント基板
18に形成された接点18aの位置に対応して形成され
た透孔19aを備え、例えばアクリル、ポリカーボネー
ト等から構成される基板側板部材19を備えている。な
お、透孔17aは一様に直径1.751nとされており
、透孔19aの直径は接点18aのピッチにより異なり
、少なくとも、プリント基板検査治具用ピン10が配置
される部分の透孔19aは、直径0.97inとされて
いる。
の所定ピッチで多数配列された測定用ピン16のピッチ
で配列された多数の透孔17aを有し、例えばアクリル
、ポリカーボネート等がら構成されるピン側板部材17
と、ピン側板部材17の上方に配置され、プリント基板
18に形成された接点18aの位置に対応して形成され
た透孔19aを備え、例えばアクリル、ポリカーボネー
ト等から構成される基板側板部材19を備えている。な
お、透孔17aは一様に直径1.751nとされており
、透孔19aの直径は接点18aのピッチにより異なり
、少なくとも、プリント基板検査治具用ピン10が配置
される部分の透孔19aは、直径0.97inとされて
いる。
そして、プリント基板検査治具用ピン10は、ピン側板
部材17の下方から透孔17a内に挿入され、透孔17
aに対応する透孔19aに挿入される。この時、係止機
構12は、透孔17aよりわずかに突出しているため、
プリント基板検査治具用ピン10の下部を押圧すること
により透孔17aを貫通するように挿入され、挿入後は
、ピン側板部材17の上面に係止されて、プリント基板
検査治具用ピン1oのプリント基板検査治具15からの
脱落を防止する。また、同様にして上部から押圧するこ
とによって、プリント基板検査治具15から取り外すこ
とができる。
部材17の下方から透孔17a内に挿入され、透孔17
aに対応する透孔19aに挿入される。この時、係止機
構12は、透孔17aよりわずかに突出しているため、
プリント基板検査治具用ピン10の下部を押圧すること
により透孔17aを貫通するように挿入され、挿入後は
、ピン側板部材17の上面に係止されて、プリント基板
検査治具用ピン1oのプリント基板検査治具15からの
脱落を防止する。また、同様にして上部から押圧するこ
とによって、プリント基板検査治具15から取り外すこ
とができる。
こうして、プリント基板検査治具15に配置されたプリ
ント基板検査治具用ピン10は、透孔17aと透孔19
aとの間に斜めに配置されるとともに、主に小径部11
aの部分で撓み、測定用ピン16と接点18aとの電気
的接続を行い、基板18の試験測定が行なわれる。
ント基板検査治具用ピン10は、透孔17aと透孔19
aとの間に斜めに配置されるとともに、主に小径部11
aの部分で撓み、測定用ピン16と接点18aとの電気
的接続を行い、基板18の試験測定が行なわれる。
上記構成のこの実施例のプリント基板検査治具15では
、基板側接続部に大径な部位がないため、例えば1.2
7nn未溝の少ピンチで接点18aを形成された基板1
8でも、隣接するプリント基板検査治具用ピン10が接
触することがなく、試験測定を行なうことができる。
、基板側接続部に大径な部位がないため、例えば1.2
7nn未溝の少ピンチで接点18aを形成された基板1
8でも、隣接するプリント基板検査治具用ピン10が接
触することがなく、試験測定を行なうことができる。
なお、第3図ないし第4図に示すように、測定ピン側接
続部lidを、外側部が先端部へ向けて小径とされ、内
側部がテーバ状に凹陥された形状とすることにより、測
定装置の測定ピン先端が、突出した形状とされたもので
も、凹陥された形状とされたものでも、どちらの形状の
ものにでも使。
続部lidを、外側部が先端部へ向けて小径とされ、内
側部がテーバ状に凹陥された形状とすることにより、測
定装置の測定ピン先端が、突出した形状とされたもので
も、凹陥された形状とされたものでも、どちらの形状の
ものにでも使。
用することができる。また係止部12は、ローレット加
工により形成したが、例えばピン本体に清を形成し、こ
の溝にOリング等を配置して構成してもよい。
工により形成したが、例えばピン本体に清を形成し、こ
の溝にOリング等を配置して構成してもよい。
[発明の効果コ
上述のように、本発明のプリント基板検査治具では、例
えば1.27iI1未満の小さなピッチで接点を形成さ
れた基板でも、試験測定を行なうことができる。
えば1.27iI1未満の小さなピッチで接点を形成さ
れた基板でも、試験測定を行なうことができる。
第1図は本発明の一実施例のプリント基板検査治具を示
す縦断面図、第2図はプリント基板検査治具用ピンを示
す側面図、第3図ないし第4図は第2図に示すプリント
基板検査治具用ピンの変型例の要部を示す側面図、第5
図は従来のプリント基板検査治具を示す縦断面図である
。 10・・・・・・プリント基板検査治具用ピン、11・
・・・・・ピン本体、lla・・・・・・小径部、ll
b・・・・・・大径部、12・・・・・・係止機構、1
う・・・・・・プリント基板検査治具、16・・・・・
・測定ピン、17・・・・・・ピン側板部材、17a・
・・・・・透孔、18・・・・・・プリント基板、18
a・・・・・・接点、19・・・・・・基板側板部材、
19a・・・・・・透孔。 出願人 東京エレクトロン株式会社 代理人 弁理士 須 山 佐 − 第1図 第□2図 菓5図 手続補正@(自発) 昭和 6゛咋11 1、事件の表示 メンーEo2フfr昭和61年
12月19日付差出の特許層(2)事件との関係・特許
出願人 東京エレクトロン株式会社 4、代理人 〒101 東京都千代田区神田多町2丁目1番地 5、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄および図面。 ′6.補正の内容 (1)明細書筒7頁20行目「形成された突出部から構
成され、」を[形成され、6本〜10本程度の縦方向の
溝を有する突出部から構成され、」と補正する。 (2)図面の第2図を別紙の通り補正する。 以上 1b 1C 」1 L・
す縦断面図、第2図はプリント基板検査治具用ピンを示
す側面図、第3図ないし第4図は第2図に示すプリント
基板検査治具用ピンの変型例の要部を示す側面図、第5
図は従来のプリント基板検査治具を示す縦断面図である
。 10・・・・・・プリント基板検査治具用ピン、11・
・・・・・ピン本体、lla・・・・・・小径部、ll
b・・・・・・大径部、12・・・・・・係止機構、1
う・・・・・・プリント基板検査治具、16・・・・・
・測定ピン、17・・・・・・ピン側板部材、17a・
・・・・・透孔、18・・・・・・プリント基板、18
a・・・・・・接点、19・・・・・・基板側板部材、
19a・・・・・・透孔。 出願人 東京エレクトロン株式会社 代理人 弁理士 須 山 佐 − 第1図 第□2図 菓5図 手続補正@(自発) 昭和 6゛咋11 1、事件の表示 メンーEo2フfr昭和61年
12月19日付差出の特許層(2)事件との関係・特許
出願人 東京エレクトロン株式会社 4、代理人 〒101 東京都千代田区神田多町2丁目1番地 5、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄および図面。 ′6.補正の内容 (1)明細書筒7頁20行目「形成された突出部から構
成され、」を[形成され、6本〜10本程度の縦方向の
溝を有する突出部から構成され、」と補正する。 (2)図面の第2図を別紙の通り補正する。 以上 1b 1C 」1 L・
Claims (3)
- (1)検査装置に所定ピッチで格子状に配列された測定
ピンと基板接点との電気的接続を行なうプリント基板検
査治具において、前記測定ピンのピッチで配列された多
数の透孔を有する測定ピン側板状部材と、基板の接点位
置に対応して配列された透孔を有する基板側板状部材と
、前記基板側を小径部とされ前記測定ピン側を大径部と
されたピン本体および該ピン本体を前記ピン側板状部材
に着脱自在に係止する係止機構を有するプリント基板検
査治具用ピンとを備えたことを特徴とするプリント基板
検査治具。 - (2)ピン本体は、小径部から大径部へ向けて徐々に大
径とされた特許請求の範囲第1項記載のプリント基板検
査治具。 - (3)大径部先端は、外側部が先端部へ向けて小径とさ
れ、内側部がテーパ状に凹陥された形状である特許請求
の範囲第1項記載のプリント基板検査治具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61302944A JPH0656401B2 (ja) | 1986-12-19 | 1986-12-19 | 検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61302944A JPH0656401B2 (ja) | 1986-12-19 | 1986-12-19 | 検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63154971A true JPS63154971A (ja) | 1988-06-28 |
JPH0656401B2 JPH0656401B2 (ja) | 1994-07-27 |
Family
ID=17915019
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61302944A Expired - Lifetime JPH0656401B2 (ja) | 1986-12-19 | 1986-12-19 | 検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0656401B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10260233A (ja) * | 1997-03-17 | 1998-09-29 | Micronics Japan Co Ltd | 平板状被検査体のための検査用ヘッド |
JP2002090410A (ja) * | 2000-09-13 | 2002-03-27 | Nidec-Read Corp | 基板検査用検査治具および該検査治具を備えた基板検査装置 |
JP2003507744A (ja) * | 1999-08-23 | 2003-02-25 | アーテーゲー、テスト、ジステムス、ゲゼルシャフト、ミット、ベシュレンクテル、ハフツング、ウント、コンパニー、コマンディット、ゲゼルシャフト | 回路基盤テスターのパターンアダプター用テストニードル |
WO2007132739A1 (ja) * | 2006-05-15 | 2007-11-22 | Nidec-Read Corporation | 基板検査用治具及びこの治具における接続電極部の電極構造 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6182173A (ja) * | 1984-06-11 | 1986-04-25 | ト−マス・ジヨンソン・ブラツク | プリント配線板試験用探子設定装置 |
JPS61190867U (ja) * | 1985-05-20 | 1986-11-27 |
-
1986
- 1986-12-19 JP JP61302944A patent/JPH0656401B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6182173A (ja) * | 1984-06-11 | 1986-04-25 | ト−マス・ジヨンソン・ブラツク | プリント配線板試験用探子設定装置 |
JPS61190867U (ja) * | 1985-05-20 | 1986-11-27 |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
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JPH0656401B2 (ja) | 1994-07-27 |
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