JPS63131298A - 成形状態の監視方法 - Google Patents
成形状態の監視方法Info
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- JPS63131298A JPS63131298A JP27743886A JP27743886A JPS63131298A JP S63131298 A JPS63131298 A JP S63131298A JP 27743886 A JP27743886 A JP 27743886A JP 27743886 A JP27743886 A JP 27743886A JP S63131298 A JPS63131298 A JP S63131298A
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- 238000000465 moulding Methods 0.000 title claims description 25
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
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- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 241001590997 Moolgarda engeli Species 0.000 description 1
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Landscapes
- Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
- Alarm Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は成形品の品質を左右する成形条件等の監視を行
う成形状態の監視方法に関する。
う成形状態の監視方法に関する。
（従来の技術）
成形品の品質を左右する成形条件や変数は多くあるが、
通常、成形状態においてそれらの中のいくつη）を監視
し、これに基いて警報を発することはよく行われている
ことである。
通常、成形状態においてそれらの中のいくつη）を監視
し、これに基いて警報を発することはよく行われている
ことである。
そしてさらに工１んでそれらのデータをＣＲＴに表示し
たりあるいはプリンタに打ち出すことによって成形状態
を解析することも行われている。
たりあるいはプリンタに打ち出すことによって成形状態
を解析することも行われている。
第４図はＣＲＴディスプレイに上記データを表示した従
来の例を示すものである。
来の例を示すものである。
（発明が解決しようとする問題点）
第４図から明らかなように、上記従来例ではデータは単
なる数値のら列として表示されておリ、したがって成形
状態の全体の変化や多数のショット間の傾向が把握し難
く、また関連する変数相互間のかかわりも数値を読む必
要があり、わかりにくいものとなっている。
なる数値のら列として表示されておリ、したがって成形
状態の全体の変化や多数のショット間の傾向が把握し難
く、また関連する変数相互間のかかわりも数値を読む必
要があり、わかりにくいものとなっている。
本発明はかかる問題点を解決するためになされたもので
、変数相互間の関連か−・目瞭然に把握できる成形状態
の監視方法を得ることを目的とする。
、変数相互間の関連か−・目瞭然に把握できる成形状態
の監視方法を得ることを目的とする。
（問題点を解決するための手段）
本発明は、ＣＲＴディスプレイに横軸と縦軸とを設定し
。
。
横軸にショット回数を表示し、
縦軸に成形機の各部位の名称を表示し、該名称表示ごと
に各部位に要求される監視値のレベルを示す監視値レベ
ル線を横軸に対して平行に設定するとともに監視幅のレ
ベルを示す監視幅レベル線を監視値レベル線の上下に条
件変動に対する影πの度合に応じて設定し、前記成形機
の各部位における実測値と前記監視値との差を監視値レ
ベル線を中心に監視幅によって決定されるレンジで連続
線によって表示し、 該連続線による表示が監視幅レベル線を越える場合には
成形異常と判定する、というものである。
に各部位に要求される監視値のレベルを示す監視値レベ
ル線を横軸に対して平行に設定するとともに監視幅のレ
ベルを示す監視幅レベル線を監視値レベル線の上下に条
件変動に対する影πの度合に応じて設定し、前記成形機
の各部位における実測値と前記監視値との差を監視値レ
ベル線を中心に監視幅によって決定されるレンジで連続
線によって表示し、 該連続線による表示が監視幅レベル線を越える場合には
成形異常と判定する、というものである。
（作 用）
ＣＲＴディスプレイに監視値レベル線と監視幅レベル線
とを設定した状態でショットを行うと、縦軸に表示され
た成形機の各部位における実測値が波形表示される。こ
の場合、実測値がそのまま表示されるのではなく、監視
値に対する差が監視幅によって決定されるレンジで波形
表示されるので、各部位における実測値は相異なってい
ても波形の上では成形品質に対する影響の度合が等しい
場合には同−振゛幅として表われ、したがって各波形に
おいて振幅が同じ場合には条件変動は等しいとみること
ができ、各部位における変数相互の関連が一目瞭然にわ
かることになる。
とを設定した状態でショットを行うと、縦軸に表示され
た成形機の各部位における実測値が波形表示される。こ
の場合、実測値がそのまま表示されるのではなく、監視
値に対する差が監視幅によって決定されるレンジで波形
表示されるので、各部位における実測値は相異なってい
ても波形の上では成形品質に対する影響の度合が等しい
場合には同−振゛幅として表われ、したがって各波形に
おいて振幅が同じ場合には条件変動は等しいとみること
ができ、各部位における変数相互の関連が一目瞭然にわ
かることになる。
（実 施 例）
以下本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。第
１図に示すように成形機ｌの任意の部位にセンサを設置
する０例えば加熱筒２の温度を検出する温度センサ３ａ
、３ｂ、３ｃ、図示しないスクリュの位置および速度を
検出する位置速度センサ４１図示しない油圧シリンダの
油圧を検出する圧力センサ５のそれぞれを成形機ｌの適
当の部位に配置し、Ａ／Ｄ変換器６，７．８によってそ
れぞれのセンサからのアナログ信号をデジタル信号に変
換した後、これらのデジタル信号を入力回路９に入力す
る。
１図に示すように成形機ｌの任意の部位にセンサを設置
する０例えば加熱筒２の温度を検出する温度センサ３ａ
、３ｂ、３ｃ、図示しないスクリュの位置および速度を
検出する位置速度センサ４１図示しない油圧シリンダの
油圧を検出する圧力センサ５のそれぞれを成形機ｌの適
当の部位に配置し、Ａ／Ｄ変換器６，７．８によってそ
れぞれのセンサからのアナログ信号をデジタル信号に変
換した後、これらのデジタル信号を入力回路９に入力す
る。
入力回路９にはパスライン１０を接続し、パスライン１
０にＣＰ Ｕ １１、伝送回路１２、メモリ１３、操作
入力装置１４、ＣＲＴ制御回路１５をそれぞれ接続する
。
０にＣＰ Ｕ １１、伝送回路１２、メモリ１３、操作
入力装置１４、ＣＲＴ制御回路１５をそれぞれ接続する
。
パスライン１０には、さらに出力回路ＩＢが接続され、
この出力回路１６から成形型駆動装置１７、スクリュ回
転駆動袋ｆｆ１１８および射出駆動装置１９に制御信号
が供給される。
この出力回路１６から成形型駆動装置１７、スクリュ回
転駆動袋ｆｆ１１８および射出駆動装置１９に制御信号
が供給される。
つぎに上記構成に係る装置の動作について述べる。各セ
ンサ３ａ、 ３ｂ、 ３ｃ、 ４ 、５によって検出さ
れた実５ｅ・Ｉ値はＡ／Ｄ変換器６，７．８によりデジ
タル変換された後、入力回路９およびＣＰＵＩＩを経て
メモリ！３に供給される。
ンサ３ａ、 ３ｂ、 ３ｃ、 ４ 、５によって検出さ
れた実５ｅ・Ｉ値はＡ／Ｄ変換器６，７．８によりデジ
タル変換された後、入力回路９およびＣＰＵＩＩを経て
メモリ！３に供給される。
他方監視値および監視幅の設定が、後述するＣＲＴディ
スプレイに表示される実測値に基いて操作入力装置１４
により行われ、これらの設定値はメモリ１３に入力され
る。
スプレイに表示される実測値に基いて操作入力装置１４
により行われ、これらの設定値はメモリ１３に入力され
る。
ついで実測値、監視値および監視幅がＣＰＵ１１で演算
処理された後、ＣＲＴ制御回路１５を経てＣＲＴディス
プレイに表示される。この演算については第３図に示さ
れている。
処理された後、ＣＲＴ制御回路１５を経てＣＲＴディス
プレイに表示される。この演算については第３図に示さ
れている。
上記ではＣＰ Ｕ １１によって演算処理を行うように
しているが、これに限らず伝送回路１２により実測値、
監視値および監視幅を上位コンピュータ２０に伝送し、
上位コンピュータ２０によって上記演算処理を行い、こ
の演算値をＣＲＴディスプレイに表示することも可能で
ある。
しているが、これに限らず伝送回路１２により実測値、
監視値および監視幅を上位コンピュータ２０に伝送し、
上位コンピュータ２０によって上記演算処理を行い、こ
の演算値をＣＲＴディスプレイに表示することも可能で
ある。
このように上位コンピュータ２０を用いる場合には、複
数の成形機からのデータを上位コンピユータ２０に伝送
することにより集中監視が可能になる。
数の成形機からのデータを上位コンピユータ２０に伝送
することにより集中監視が可能になる。
第２図はＣＲＴディスプレイを示すもので、横軸にはシ
ョット回数が表示される。縦軸には成形機ｌの測定すべ
き部位の名称が表示される。例えば同図に示すように２
金型、ノズル。
ョット回数が表示される。縦軸には成形機ｌの測定すべ
き部位の名称が表示される。例えば同図に示すように２
金型、ノズル。
加熱筒のように表示される。そしてそれぞれの部位ごと
に監視値を示す監視値レベル線Ａと監視幅を示す監視幅
レベルｖｊ、Ｂ＋、Ｂ２が設定される。一対の監視幅レ
ベル線１３１．Ｂ２ は監視値レベル線Ａの上下に設定
する。例えば、金型温度１を示す欄では監視値が２００
°Ｃで、監視幅が±５に設定されている。この監視幅は
成形品質におよぼす影響の度合に応じて設定されるもの
で、たとえば影響の度合が大きい部位では監視幅を小さ
くしてより精密な解析を行う、そして監視幅がこのよう
にして設定されるため、監視幅の大小に応じて波形の振
幅が縮小または拡大される。
に監視値を示す監視値レベル線Ａと監視幅を示す監視幅
レベルｖｊ、Ｂ＋、Ｂ２が設定される。一対の監視幅レ
ベル線１３１．Ｂ２ は監視値レベル線Ａの上下に設定
する。例えば、金型温度１を示す欄では監視値が２００
°Ｃで、監視幅が±５に設定されている。この監視幅は
成形品質におよぼす影響の度合に応じて設定されるもの
で、たとえば影響の度合が大きい部位では監視幅を小さ
くしてより精密な解析を行う、そして監視幅がこのよう
にして設定されるため、監視幅の大小に応じて波形の振
幅が縮小または拡大される。
なお、各名称の欄に最新値という項目があるが、任数の
ショツト数における実測値を表示することもできる。ま
た同図に示すように、各部位ごとに実測値の最大値、最
小値および平均値が表示される。
ショツト数における実測値を表示することもできる。ま
た同図に示すように、各部位ごとに実測値の最大値、最
小値および平均値が表示される。
上記のようにして監視幅の設定が完了したならば、各シ
町ットごとに実°側値をプロットして波形表示する。こ
の場合、実測値はそのまま表示されるのではなく、監視
値との差が監視幅のレンジで表示されることになる。
町ットごとに実°側値をプロットして波形表示する。こ
の場合、実測値はそのまま表示されるのではなく、監視
値との差が監視幅のレンジで表示されることになる。
すなわち、第３図に示すように、監視幅をＣＲＴディス
プレイの物理的分解能を示す数値。
プレイの物理的分解能を示す数値。
たとえば１６で除することにより分割値を求める。そし
て実測値は、監視値＋ｎＸ （分割値）として表わさ
れるから、ＣＲＴディスプレイにはｎＸ （分割値）
がプロットされる。しかし実測値によってはｎＸ （
分割値）に一致しないことがあり、 （ｎ±１）× （
分割値）とｎＸ （分割値）との間の値をとることが
ある。この場合には監視幅を２倍に拡大して、つまりｎ
＝３２として実測値をプロットする。
て実測値は、監視値＋ｎＸ （分割値）として表わさ
れるから、ＣＲＴディスプレイにはｎＸ （分割値）
がプロットされる。しかし実測値によってはｎＸ （
分割値）に一致しないことがあり、 （ｎ±１）× （
分割値）とｎＸ （分割値）との間の値をとることが
ある。この場合には監視幅を２倍に拡大して、つまりｎ
＝３２として実測値をプロットする。
同図において、■は上記のごとく監視幅を１６で除して
分割値を求めるステップ、■は監視値にｎＸ （分割
値）を加えてプラス側（監視幅レベル線Ｂ１ 側）の
スケールを設定するステップ、Ｌ◎は縦軸のスケール、
つまりｎＸ （分割値）においてｎ＝３２とすべきか否
かの選択で、ＮＯの場合には（わにもどってｎ ＝ １
８でプラス側のスケールを設定する。ＹＥＳの場合は■
においてｎ＝３２であったことから次のステップ（［株
］に進む。■はマイナス側のスケールの設定、■はｎ＝
３２とすべきか否かの選択で、■、■は■。
分割値を求めるステップ、■は監視値にｎＸ （分割
値）を加えてプラス側（監視幅レベル線Ｂ１ 側）の
スケールを設定するステップ、Ｌ◎は縦軸のスケール、
つまりｎＸ （分割値）においてｎ＝３２とすべきか否
かの選択で、ＮＯの場合には（わにもどってｎ ＝ １
８でプラス側のスケールを設定する。ＹＥＳの場合は■
においてｎ＝３２であったことから次のステップ（［株
］に進む。■はマイナス側のスケールの設定、■はｎ＝
３２とすべきか否かの選択で、■、■は■。
（りに相当する。■は最新値（実測値）と監視値との大
小を判定するステップで、最新値〉監視値の関係でかつ
■に示す０≦最新値のスケール表示値く分割値の関係で
あれば■に示すように該当するスケール値に表示する０
反対に分割値く最新値のスケール表示値の関係であれば
■に示すようにｎ＝３２として表示すべきか否かの判定
を行い、ｎ＝３２とする場合には■の大小関係になり１
石のステップに到る。
小を判定するステップで、最新値〉監視値の関係でかつ
■に示す０≦最新値のスケール表示値く分割値の関係で
あれば■に示すように該当するスケール値に表示する０
反対に分割値く最新値のスケール表示値の関係であれば
■に示すようにｎ＝３２として表示すべきか否かの判定
を行い、ｎ＝３２とする場合には■の大小関係になり１
石のステップに到る。
またｎ＝３２としない場合には、■に示すように縦軸ス
ケールの最上位にプロットする。つぎに■にもどって最
新値く監視値の関係であれば■のステップに進みマイナ
ス側のスケールに表示する。この場合、■に示すように
Ｏ≦最新値のマイナス側表示値く分割値の関係であれば
、Ｄに示すように該当するスケール値に表示する。
ケールの最上位にプロットする。つぎに■にもどって最
新値く監視値の関係であれば■のステップに進みマイナ
ス側のスケールに表示する。この場合、■に示すように
Ｏ≦最新値のマイナス側表示値く分割値の関係であれば
、Ｄに示すように該当するスケール値に表示する。
逆に最新値のマイナス側表示値〉分割値の関係であれば
［相］に示すようにｎ＝３２として表示すべきか否かの
判定を行い、ｎ＝３２とする場合には■の大小関係にな
り、■のステップに至る。またｎ＝３２としない場合に
は、■に示すように縦軸スケールの最下位にプロ、トす
る。
［相］に示すようにｎ＝３２として表示すべきか否かの
判定を行い、ｎ＝３２とする場合には■の大小関係にな
り、■のステップに至る。またｎ＝３２としない場合に
は、■に示すように縦軸スケールの最下位にプロ、トす
る。
なお、上記では分解能を１６で表わしているが、より高
分解能のＣＲＴディスプレイを用いればこの数値を大に
することができる。
分解能のＣＲＴディスプレイを用いればこの数値を大に
することができる。
前記のごとくして実測ｆ１６が波形表示されるが、波形
が監視幅を越える場合には成形不良と判定する。
が監視幅を越える場合には成形不良と判定する。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明では成形条件を表わす変数
にはすべて監視幅があることに着目し、監視値レベル線
を中心とし、その上下に監視幅レベル線を設定し、かつ
監視幅は成形品質に対する影響の度合に応じて設定され
るので、波形上、同一振幅は同一の条件変動を表わすこ
とになり、したがって変数相互の関連が一目でわかるこ
とになる。
にはすべて監視幅があることに着目し、監視値レベル線
を中心とし、その上下に監視幅レベル線を設定し、かつ
監視幅は成形品質に対する影響の度合に応じて設定され
るので、波形上、同一振幅は同一の条件変動を表わすこ
とになり、したがって変数相互の関連が一目でわかるこ
とになる。
第１図は本発明に係る方法に使用される装置をブロック
″＃ＦＡ図で示したブロック線図、第２１ＡはＣＲＴデ
ィスプレイの表示例を示す説明図、 第３図はＣＲＴディスプレイの縦軸スケールの設定手順
を表わすフローチャート、 第４図は従来のＣＲＴディスプレイの表示例の説明図で
ある。 Ａ・・・監視値レベル線 Ｂｌ、Ｂ２・・・監視幅レベル線 特許出卯人 株式会社 名機製作所手糸売−ｖｒｌ
’７ ＸＥ書 （方式）１ 、２１Ｇ件の表示 昭和６１年 特 許 願 第２７７４３８号２、発明の
名称 成形状態の監視方法 ３、補正する者 事件との関係 特許出願人 名称 株式会社 名機製作所 ４、代 理 人 住所 東京都千代田区神田駿河台ｌの６５、補正命令の
日付 １眉和６２年 ２月 ４日 （発送日：昭和６２年 ２月２４日） ６、補正の対象 （１）図面 ７゜補正の内容 （１）図面の浄書・別紙のとおり （内容に変更なし）
″＃ＦＡ図で示したブロック線図、第２１ＡはＣＲＴデ
ィスプレイの表示例を示す説明図、 第３図はＣＲＴディスプレイの縦軸スケールの設定手順
を表わすフローチャート、 第４図は従来のＣＲＴディスプレイの表示例の説明図で
ある。 Ａ・・・監視値レベル線 Ｂｌ、Ｂ２・・・監視幅レベル線 特許出卯人 株式会社 名機製作所手糸売−ｖｒｌ
’７ ＸＥ書 （方式）１ 、２１Ｇ件の表示 昭和６１年 特 許 願 第２７７４３８号２、発明の
名称 成形状態の監視方法 ３、補正する者 事件との関係 特許出願人 名称 株式会社 名機製作所 ４、代 理 人 住所 東京都千代田区神田駿河台ｌの６５、補正命令の
日付 １眉和６２年 ２月 ４日 （発送日：昭和６２年 ２月２４日） ６、補正の対象 （１）図面 ７゜補正の内容 （１）図面の浄書・別紙のとおり （内容に変更なし）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ＣＲＴディスプレイに横軸と縦軸とを設定 し、 横軸にショット回数を表示し、 縦軸に成形機の各部位の名称を表示し、 該名称表示ごとに各部位に要求される監視 値のレベルを示す監視値レベル線を横軸に対して平行に
設定するとともに監視幅のレベルを示す監視幅レベル線
を監視値レベル線の上下に条件変動に対する影響の度合
に応じて設定し、 前記成形機の各部位における実測値と前記 監視値との差を監視値レベル線を中心に監視幅によって
決定されるレンジで連続線によって表示し、 該連続線による表示が監視幅レベル線を越 える場合には異常と判定することを特徴とする成形状態
の監視方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27743886A JPS63131298A (ja) | 1986-11-20 | 1986-11-20 | 成形状態の監視方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27743886A JPS63131298A (ja) | 1986-11-20 | 1986-11-20 | 成形状態の監視方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63131298A true JPS63131298A (ja) | 1988-06-03 |
Family
ID=17583565
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27743886A Pending JPS63131298A (ja) | 1986-11-20 | 1986-11-20 | 成形状態の監視方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63131298A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04110125A (ja) * | 1990-08-31 | 1992-04-10 | Fanuc Ltd | 射出成形機の部品保守警告方法 |
| JPH04267119A (ja) * | 1991-02-22 | 1992-09-22 | Fanuc Ltd | 射出成形機における管理方法及び装置 |
| JP2005343002A (ja) * | 2004-06-02 | 2005-12-15 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 成形機の監視表示方法 |
| JP2008126527A (ja) * | 2006-11-21 | 2008-06-05 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 成形機管理システム及び成形機管理方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55154608A (en) * | 1979-05-23 | 1980-12-02 | Mitsubishi Electric Corp | Display unit for stability of process |
-
1986
- 1986-11-20 JP JP27743886A patent/JPS63131298A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55154608A (en) * | 1979-05-23 | 1980-12-02 | Mitsubishi Electric Corp | Display unit for stability of process |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04110125A (ja) * | 1990-08-31 | 1992-04-10 | Fanuc Ltd | 射出成形機の部品保守警告方法 |
| JPH04267119A (ja) * | 1991-02-22 | 1992-09-22 | Fanuc Ltd | 射出成形機における管理方法及び装置 |
| JP2005343002A (ja) * | 2004-06-02 | 2005-12-15 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 成形機の監視表示方法 |
| JP2008126527A (ja) * | 2006-11-21 | 2008-06-05 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 成形機管理システム及び成形機管理方法 |
| JP4642736B2 (ja) * | 2006-11-21 | 2011-03-02 | 住友重機械工業株式会社 | 成形機管理システム及び成形機管理方法 |
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