JPS6312920A - 検出器光路の霧滴除去方法 - Google Patents

検出器光路の霧滴除去方法

Info

Publication number
JPS6312920A
JPS6312920A JP15749886A JP15749886A JPS6312920A JP S6312920 A JPS6312920 A JP S6312920A JP 15749886 A JP15749886 A JP 15749886A JP 15749886 A JP15749886 A JP 15749886A JP S6312920 A JPS6312920 A JP S6312920A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical path
detector
far infrared
infrared ray
fog
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP15749886A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsumi Matsumura
勝己 松村
Hiroaki Itaoka
板岡 宏明
Kengo Kuraoka
倉岡 健悟
Yukio Araki
荒木 幸男
Yasuo Hashimoto
橋本 安生
Tadashi Yoshikawa
正 吉川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Engineering Corp
Original Assignee
NKK Corp
Nippon Kokan Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NKK Corp, Nippon Kokan Ltd filed Critical NKK Corp
Priority to JP15749886A priority Critical patent/JPS6312920A/ja
Publication of JPS6312920A publication Critical patent/JPS6312920A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 この発明は検出器光路の霧滴除去方法に関し、光学的な
検出を行う場合に妨げになる霧滴を効率良く除去させる
ことを目的とする。
〈従来の技術〉 光学的な検出器を用いる場合、従来よりその光路にある
霧滴により、検出精度が低下するという問題があった。
これを圧延ラインを例にとって説明する。
第3図は圧延機前後の検出器の配置を示すもので、圧延
機50の後段側に放射温度計53と材料の先後端検出器
の投光器54、受光器55が配置されている。投光器5
4、受光器55は第4図に示すように材料51によって
光路がg19iされることを利用して通過を検出する。
一方、圧延機50の前後にはデスケーリング水の噴射ノ
ズル52.52が装備されている。
この放射温度計53.投光器54.受光器55の光路に
は噴射ノズル52の噴射水の飛沫が侵入し、材料通過後
も霧状に漂っているのが通常である。この霧滴は放射温
度計53の視野内で材料からの放射エネルギーを吸収し
てしまうため、正確な測定が出来なくなる。また、材料
が視野内にない場合でも、材料からの放射光がその表面
で反射するため、放射温度計53を通過検出器として使
用するときには通過検出タイミングに誤差を生じる。ま
た投光器54、受光器55の構成で通過検出を行う場合
、材料がない状態で投光器54の光が散乱し、受光器5
5に必要な通過エネルギーが伝わらないことが有り、こ
の場合材料がないのに材料があるという誤った検出をす
ることになる。
このような問題を解決するために、従来は検出器の光路
に存在する霧滴を送風ファン等で強制的に排除するか、
或は検出光路内に霧滴の発生を生じないように遮蔽板や
エヤーカーテン等で水の浸入を防ぐことが一般的に行わ
れてきた。
しかし送風ファンは消費電力が大きく圧延機前後のよう
に材料の形状変化の大きいところでは数kwの電力が必
要である。また、遮蔽板やエヤーカーテンは圧延機の直
前直後の10m以内では高圧デスケーリング水の噴射の
影響が大きく、鉄鋼の熱間圧延ラインでは効果がない。
〈発明の概要〉 本発明は上記した従来技術の問題を解決するために成さ
れたもので、検出器の光路に遠赤外線を照射し、該光路
内の霧滴を加熱し、気化させることを基本的な特徴とす
るものである。
〈実施例〉 以下本発明の一実施例を図面にJ&づいて説明する。
第1図及び第2図において通過検出器1の場合につき説
明する。2はその検出光路である。本発明においてはこ
の検出光路2に遠赤外線を照射し光路2に漂う霧滴を加
熱気化させる。この実施例では検出器1の近傍に遠赤外
線スポット加熱器3を配置させここから遠赤外線を照射
している。4はその照射範囲であり、材料7上の検出器
の視野5に重なって材料表面を照射している。6はその
材料表面照射範囲を示している。
この遠赤外線スポット加熱器3からの遠赤外線は照射範
囲4の空間に漂う霧滴に吸収されて、霧滴を加熱気化さ
せる。遠赤外線の波長は3μm −10μmであり、一
方霧滴を構成する水や浦の有機材料の殆どは3−25μ
m位の波長域に多くの吸収スペクトルを有しているため
、熱吸収効率は極めて高く、はぼ連続的に検出光路2内
に侵入する霧状の粒子を完全に帰化し検出光路2の霧を
はらすことが出来る。
この実施例では検出器1の近傍に更に送風ファン8を設
置して照射範囲4以外の部分の霧滴をパージするように
している。
材料7表面に到達した遠赤外線の一部は反射して検出器
1の視デフ内に入るが、検出器lの分光感度は3ル未層
の領域にしか存在しないため検出性能には#饗しない。
〈発明の効果〉 以上説明したように本発明によれば熱間圧延ライン等に
おいても霧滴を効果的に排除することが出来、しかも検
出精度に悪影響を及ぼすことがない、また、消費電力も
少ない等に効果・がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明法の一実施例を説明するための正面図、
第2図はその側面図、第3図は圧延機前後の検出器の配
置を示す配置図、第4図は従来の材料通過検出方法を示
す説明図である。 l・・・検出器、2・・・検出光路、3・・・遠赤外線
スポット加熱器、4・・・照射範囲、5・・・視野、6
・・・材料表面照射範囲、7・・・材料。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 検出器の光路に遠赤外線を照射し、該光路内の霧滴を加
    熱し、気化させることを特徴とする検出器光路の霧滴除
    去方法。
JP15749886A 1986-07-04 1986-07-04 検出器光路の霧滴除去方法 Pending JPS6312920A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15749886A JPS6312920A (ja) 1986-07-04 1986-07-04 検出器光路の霧滴除去方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15749886A JPS6312920A (ja) 1986-07-04 1986-07-04 検出器光路の霧滴除去方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6312920A true JPS6312920A (ja) 1988-01-20

Family

ID=15650996

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15749886A Pending JPS6312920A (ja) 1986-07-04 1986-07-04 検出器光路の霧滴除去方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6312920A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5716913A (en) * 1995-04-18 1998-02-10 Asahi Denka Kogyo Kabushiki Kaisha Metal working oil composition and method of working metal

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5716913A (en) * 1995-04-18 1998-02-10 Asahi Denka Kogyo Kabushiki Kaisha Metal working oil composition and method of working metal

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6741345B2 (en) Method and apparatus for in-process liquid analysis by laser induced plasma spectroscopy
DE69820308T2 (de) Mikrotechnologischer ableitender optisch-thermischer Gassensor
KR940020040A (ko) 라디칼 형성 공정의 특성 결정 방법
KR20210083268A (ko) 광학 입자 센서, 특히 배기 가스 센서
US7262414B1 (en) Thermal luminescence surface contamination detection system
JP2013522651A (ja) ビーム散乱レーザーモニター
CN110018092B (zh) 一种燃气锅炉烟气颗粒物检测装置
US3633031A (en) Can weld side-seam defect detector utilizing infrared detection means and collimator fiber optics
nnik Clausen Local measurement of gas temperature with an infrared fibre-optic probe
CN109520929B (zh) 一种用于油气污染物激光检测的杂散光抑制装置
JPS6312920A (ja) 検出器光路の霧滴除去方法
KR101960226B1 (ko) 블랙카본 측정장치
Li et al. Time-resolved imaging for investigating laser-material interactions during laser irradiation cleaning on murals
US20060115778A1 (en) Modular infrared irradiation apparatus and its corresponding monitoring devices
KR102130341B1 (ko) 미세먼지 전구물질 농도 및 온도의 2차원 측정 및 이의 능동제어 방법
CN205091231U (zh) 一种抽取加热式烟尘测量仪
CN106596491A (zh) 一种紫外级熔石英材料内羟基含量测量装置和方法
Pehrson et al. Wall-normal fleet velocimetry in a canonical hypersonic inlet
CN205449796U (zh) 灰尘传感器
DE102008015133A1 (de) Vorrichtung zum Erfassen der Prozessstrahlung bei der Lasermaterialbearbeitung
DE3925595C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Taupunktes von Gasen
JPS61178645A (ja) 粒子密度計測装置
JPS5637551A (en) Ionization detector of electron capture
US3395285A (en) Method and means for preventing reflection of radiation
CN111337400A (zh) 一种前向散射法的颗粒物测量室结构