JPS6261673A - 製膜方法 - Google Patents

製膜方法

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JPS6261673A
JPS6261673A JP60202191A JP20219185A JPS6261673A JP S6261673 A JPS6261673 A JP S6261673A JP 60202191 A JP60202191 A JP 60202191A JP 20219185 A JP20219185 A JP 20219185A JP S6261673 A JPS6261673 A JP S6261673A
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    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D1/00Processes for applying liquids or other fluent materials
    • B05D1/18Processes for applying liquids or other fluent materials performed by dipping
    • B05D1/20Processes for applying liquids or other fluent materials performed by dipping substances to be applied floating on a fluid
    • B05D1/202Langmuir Blodgett films (LB films)
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y30/00Nanotechnology for materials or surface science, e.g. nanocomposites
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y40/00Manufacture or treatment of nanostructures
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08JWORKING-UP; GENERAL PROCESSES OF COMPOUNDING; AFTER-TREATMENT NOT COVERED BY SUBCLASSES C08B, C08C, C08F, C08G or C08H
    • C08J5/00Manufacture of articles or shaped materials containing macromolecular substances
    • C08J5/18Manufacture of films or sheets

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  • Moulding By Coating Moulds (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 のであり、さらに詳しくは、修飾された高分子化合物を
ラングミエア・プロジェット法で製膜する方法に関する
ものである。
従】豚刈支面 すでに1930年代、炭素数16〜22くらいの脂肪酸
が水面上に単分子膜をつくり、それを基質上に累積でき
ることがラングミュアとプロジェットにより見出された
が、技術的応用についての検討が行われはじめたのは最
近のことである。
これまでの研究の概要については、固体物理17(12
) 45 (1982) Th1n 5olid Fi
lms 68 No、1 (1980) 。
1bid、 99 No、 1.2.3 (1983)
 In5oluble monolayersat l
iquid−gas 1nterfaces (G、L
、 Ga1n3、 Inter−science Pu
blisher3、 New Yourk、 1966
 )などにまとめられているが、従来の直1M飽和脂肪
酸のラングミュア・プロジェット膜(以下rLB膜Jと
いう)は耐熱性、機械的強度に欠点があり、実用的応用
にはそのままでは使えないという問題点がある。
これらを改善するものとして不飽和脂肪酸、例えばω−
トリコセン酸、ω−ペブタデセン酸やα−オクタデシル
アクリル酸や脂肪酸の不飽和エステル、例えばステアリ
ン酸ビニル、オクタデシルアクリレートのほか、ジアセ
チレン誘導体などの重合膜が検討されているが、耐熱性
は充分とはいえないし、電気的にもすぐれたものとはい
えない。
ポリマーについもポリ酸、ポリアルコール、エチルアク
リレート、ポリペプチドなど親水性基をもつ高分子に成
膜性のあるものが知られているが、特にラングミュア・
プロジェット膜用の材料として、修飾された高分子はこ
れまで検討されていないし、すぐれたLB膜材料と言え
るものはない。
一方、耐熱性フィルムとしてポリイミドがあるが、スピ
ンコードなどの方法によってはせいぜい1000Å以上
で通常は1μm以上で1000Å以下のピンホールのな
い耐熱性rs膜を作成するのは非常に困難である。
光朋麦邂m辷しヒL紀園皿点 本発明は、本来、ラングミュア・プロシェフ)法では製
膜が困難である高分子化合物を修飾することにより同法
による製膜を可能にすることであり、耐熱性、耐薬品性
、接着力などの機械的特性の改善された一般的には製膜
が難しい厚みの高分子ii1*を提供することである。
占  ゛ るための 高分子化合物の繰返し単位中に疎水性を付与するための
置換基を導入することによってラングミュア・プロジェ
ット法で製膜できるように修飾し、この修飾された高分
子化合物を使って、ラングミュア・プロジェット法によ
って製膜することによってなされる。
詳1じn論 本発明において使用するLB膜材料は、少なくとも2個
の炭素原子を有する少なくとも2価の第1の有機基R1
と、少なくとも2個の炭素原子を有する少なくとも2僅
の第2の有機基R2とが2価の結合基によって交互に連
結されている線状の繰返し単位を有し、かつ共有結合に
よって同じ繰返し単位へ結合した、置換基を含むことも
ある炭素数10〜30の炭化水素含有基Ra、 R4の
少なくとも一方を含んでいる高分子化合物である。
さらに詳しく説明すれば、本発明の高分子化合物は基本
骨格となる線状の繰り返し単位として一一÷−A−R1
−AB −R2−B−升−(11−←A−R1−BA 
−R2−B−←−(2)−一÷−B−R1−BA −R
z−A−→−一(3)から構成される。
ここでR1は少な(とも2個の炭素原子を含有する少な
(とも2価の第1の有機基であり、R2は少なくとも2
個の炭素原子を含有する少なくとも2価の第2の有機基
である。さらに好ましくはR1゜R2が少なくとも6個
の炭素原子数を有するベンゼノイド不飽和によって特徴
づけられた基である。
T1) 〜(3)式におけるAB、BAは、O,N、S
、P、Bなどのヘテロ原子を含む酸性基Aと塩基性基B
の反応によって出来た2価の結合基である。さらに具−
NCS、  −CN、  −C0NHzなどの酸性基A
と、−NHR”、 −OR”、 −SR”、 −X (
CL Br)等の塩基性基Bの反応によってできた基で
、等であり、 等である。
本発明の高分子化合物は、(11〜(3)の基本骨格の
同じ繰返し単位中にそれへ共有結合した、置換基を有す
ることもある炭素数10〜30.好ましくは炭素数16
〜22の炭化水素含有基R3,R4の一方または両方を
含有し、ラングミュア・プロジエツト法で製膜可能なよ
うに修飾されたものであるこのような修飾を実現する方
法には3つの方法が考えられる。
(1)(11〜(3)式の線状の繰返し単位中のAB、
 BAの基に含まれる原子にR3(R4)を置換する方
法。
CII) R1,R2に直接R8(Ra)を置換する方
法と、さらには、 (I[l] R1,R2の線状繰返し単位を作るのに使
われている以外のR1,R2の置換基を通してR11(
R4)を置換する方法である。
勿論〔l〕 〔■〕 〔■〕を併用してもさしつかえな
い。また、R3、 Raは同一でも異なってもよい。
(1)  (n)  (I[I)について具体的に例示
すれば、(1)は、 (RaO代わりにR4でもよい、) 上表のようにAB、 BAの窒素原子上の水素環子の代
わりにR8(R4)を置換する方法である。
(n)の方法は、R1,Rzに直接R3(R4)を置換
する方法で、 はその具体例の一部である。
さらに多くの可能性を含む方法は〔m)の方法である。
これについて詳しく説明する。
CIIIIの方法は、R1,R2として少なくとも一方
は少なくとも3価の有機基を用いる方法で、Rs。
R2を含む繰返し単位を作るのに使われている以外の置
換基を通してR3(R4)を置換する方法で、勿論これ
に限定されるわけではないが、R1がR2と価数が等し
いか、多い場合について価数が6までを例示すると、 五少掻歎   叙■盪散 ■      32 ■      42 ■      52 ■      62 ■      33 ■      43 ■      53 ■      63 ■      44 @54 ◎      65 o      6     6 である。
ここにはR1,R2が5価以上の例もリストアンプされ
ているが、R1,R2は4価までが特に好ましい例であ
る。
Rs −3、Rz=、2価 R1=4.Rz−2 R1=3.Rz=3 R】−4,Rz=3 R1±4.Rz=4 について可能な具体例について列挙すると、Rt−4,
Rz−2のときは、 Rt−3,Rzsw3のときは、 R1冒4.Rz−3のときは、 R1=4.Rz=4のときは、 である。(4)〜(75)式には線状の繰返し単位を作
るのに使われていないA/Bが存在するが、(III)
の方法はこの置換基を通してRa(Ra)を置換する方
法である0例えば(4)〜(75)でAなら−COOR
s (Ra) 、  −CONHRa (Ra)等、B
なら、−NHRs (R4) 、  −ORs (Ra
) 、  −SRs (Ra)等によって置換すること
ができる。
R1,Rzは少なくとも2(I!の炭素原子を含有する
少なくとも2僅の有機基であるが、少なくとも6個の炭
素原子を有するベンゼノイド不飽和であることがさらに
望ましい。
本発明のベンゼノイド不飽和とは炭素環式化合物の構造
に関してキノイド構造と対比して用いられる述語で、普
通の芳香族化合物に含まれる炭素環と同じ形の構造をい
う。
p−キノイド R1,R2についてさらに詳しく述べるために好適なも
のを例示すれば以下のとおりである。
ここでRIIは −(CHz)n −n=1〜3.−〇 +、  −s−
+R6:アルキルまたはアリル基 2の炭化水素含育基であるが、脂肪族、環状脂肪族と脂
肪族、芳香族と脂肪族の結合、それらの置換体から選ば
れた1僅の基は好ましい具体的な例であり、列挙すれば (CHs) (CHz)n−t 、  CHzmCli
 (CHz)n−z  。
ここで7+−+n−3、nm1O〜30好ましくは16
〜22等であり、直鎮系脂肪族炭化水素基が特に好まし
い例である。
これらに対する置換基としてはハロゲン原子。
ニトロ基、アミノ基、シアン基、メトキシ基、アセトキ
シ基等があるが必須ではない、しかしフッ素原子は水素
原子より疎水性を向上させるので場合により使われるこ
とが望ましい。
即、フッ素を含有させることによってアルキル鎖の長さ
を短くできる0例えば C5Fn (CHz)長−にお
いて長−2で充分であり、炭素数10で製膜が可能なよ
うにできる。
本発明の製膜方法に通用可能な高分子化合物の具体的な
例は(4)〜(75)式にR3、 Rz、 R3、 R
a。
A、 B、 AB、 BAの具体例およびR3、R4を
置換する方法の具体的をそれぞれ代入することによって
明らかになる。(4)〜(75)には共重合体は含まれ
ていないが、これらから類推される共重合体も勿論本発
明に含まれる。
又さらに必須ではないが、本発明の高分子化合物が(1
)  (n)  (III)の方法によって炭素数1〜
9の炭化水素含有基によって置換されていてもよい。
本発明の高分子化合物の分子量については特に限定はな
い、しかし分子量が低くても、本発明の製膜方法によっ
て製膜は可能であるが、良好な耐熱性9機械的強度、耐
薬品性を得ることはできない、また一方分子量が大きす
ぎると、粘度が高すぎて製膜がうまくいかない。
従って、数平均分子量が10,000〜300゜000
好ましくは30,000〜150,000程度のものが
望ましい。
(4)〜(75)式から誘導される本発明の高分子化合
物の実用的な具体例をあげると以下のとおりである。
(以下余白) 式中、−は異性を表す。
例えば、下式(78)で説明すれば、 および を表す。
本発明は(78−1)  (7B−2)が単独である場
合(78−1)  (78−2)が共存する場合を含ん
でいる。
他の例は、例えば神戸博太部曙、高分子の耐熱性(培風
館、 S45.3.5 ) 、高分子の熱分解と耐熱性
(培風館、S49.3.15)等の底置に求めることが
できる。
これらの修飾された高分子化合物の製造方法を説明する
ために(80)式でRa = R4= CHa(CHz
) IT −の場合について述べる。ピロメリット酸ジ
無水物のアルコリシスによって得られる を実質的に無水の条件下で、有機極性溶剤中で温度20
℃以下、好ましくは10℃以下でチオニルクロライドで
アシル化し、これにジアミノジフェニルエーテルを温度
20℃以下、好ましくは10℃以下で反応させることに
よって製造される。アシル化およびアミド化の反応は通
常0℃以下−10℃程度で行われるが、本発明では長鎖
アルキル基等の置換基が凍結固化する傾向があるので、
温度20℃以下好ましくは10℃以下で行われることが
望ましい。勿論以上の場合において、異なった置換基を
もつ原料を混合して共重合体としたり、O〜30%程度
の置換基のない、あるいは炭素数が10以下の置換基を
もつテトラカルボン酸ジ無水物やジアミンと混合しても
よい。
以上のように製造された両性ポリイミド前駆体について
は分離精製してラングミュア・プロジェット膜材料とし
ても、製造後クロロホルム、ベンゼンなどを添加して直
接ラングミエア・プロジェット膜展開液としてもよい。
次に本発明に用いるラングミュア・プロジェット膜につ
いて説明する。
ラングミュア・プロジェット膜の製法としては、膜を形
成する物質を水面上に展開し、水面上に展開された物質
を一定の表面圧で圧縮して単分子膜を形成し、その膜を
基板上に移しとる方法のほか、水平付着法2回転円筒法
などの方法(新実験化学講座、第18巻、界面とコロイ
ド、498−508)などがあげられ、通常行われてい
る方法であればとくに限定されることなく使用すること
ができる。
ラングミュア・プロジェット法は配向した、しかも厚み
を数十人単位で制御できる方法で200A以下さらには
1000Å以下、数百式、数十人の薄膜を形成するのに
すぐれた方法であり、本発明の基板上の薄膜もこの特徴
をもつ、しかし10゜000Aまたはそれ以上の厚みの
膜もこの方法で製膜し得る。
一般には溶媒として水には溶けないで気相中に蒸発して
しまうベンゼン、クロロホルムなどが使用されるが、本
発明の高分子化合物の場合は、溶解炭をあげるために有
機極性溶剤を併用することが望ましい、好ましい有機極
性溶剤は、N、N−ジメチルホルムアミド、N、N−ジ
メチルアセトアミド、N、N−ジエチルホルムアミド、
N、N−ジエチルアセトアミド、N、N−ジメチルメト
キシアセトアミド、ジメチルスルホキシド、N〜メチル
−2−ピロリドン、ピリジン、ジメチルスルホン、ヘキ
サメチルホスホルアミド、テトラメチレンスルホン、ジ
メチルテトラメチレンスルホンなどである。
ベンゼン、クロロホルムなどと有機極性溶剤を併用した
ときには、膜を展開時ベンゼン、クロロホルム等は気相
中に蒸発し、有機極性溶剤は大量の水に溶解すると考え
られる。
本発明に使用される基板については本発明の薄膜を何に
応用するかということによって限定されるが、その他大
きく限定されることはなく、ガラス、アルミナ、石英な
どのような一般的無機の基板のほか、金属、プラスチッ
クやSi+ GaAs+ ZnSのような■族、 II
I−V、  II−Vl族等の半導体、PbTiO3、
 BaTiO3,LiNbO5,LiTaO5のような
強誘電体等も基板として用いることができる。また、通
常行われるような表面処理を施したものも勿論使うこと
ができる。
本発明の特徴は、よい耐熱性をもった高分子化合物をラ
ングミエア・プロジェット法で基板上に薄膜を形成でき
ることであるが、さらにあるものは、この薄膜を部分的
にあるいは完全に閉環させることによってさらに耐熱性
の向上した薄膜を基板上に形成できるという特徴をもつ
(76)〜(95)の例のうち(78)〜(90)はへ
テロ原子を含む5員環または6員環へ部分的にあるいは
完全に閉環させることができる例であり、完全閉環後の
構造は次のようになる。
(以下余白) (以下余白) 閉環の方法については特に限定されないが、例えば先の
(80)式の異体例であるイミド化の場合には300〜
400℃近辺の温度に加熱することによって(80)式
の高分子化合物 +2CH8(CH2) 170H の反応が起こって閉環が達成される。このとき、疎水化
のために導入した基がアルコールとして脱離するが、こ
の脱離したアルコールは300”〜400℃近辺の温度
で必要ならガスの流れの下に置くか、真空下に置くこと
によって飛散させることができるので非常に耐熱性のよ
いポリイミド薄膜を得ることができる。
次にこれら薄膜の用途について述べる。
本発明のi膜は、耐熱性、耐薬品性1機械的特性がすぐ
れ、非常に薄い膜であるという特徴を生かしてエレクト
ロニクス分野、エネルギー変換や物質分離など広範な分
野で使うことができる。
導電性、光導電性、光学特性、絶縁性、熱特性や化学反
応性を生かしたエレクトロニクス分野で光学記録膜、レ
ジスト膜、絶縁膜、キャパシター用薄膜、液晶配向膜、
偏光膜、センサー膜などとして、特に絶縁膜としてはI
CやLSIの絶縁層として各種半導体や金属と組み合わ
せたMi3、旧Hなどの構造をもつ電気電子素子中の絶
縁層として使うことができ、電界効果トランジスター光
電変換素子1発光素子、受光素子、光検出素子、熱電子
トランジスター等を構成できる。とくに本発明の薄膜は
トンネル効果を利用したMi3、 MIMデバイスに有
効であり、JJの絶縁膜としても使用できる。
そのほか、ウニイブガイド用のクラツド材あるいは光学
回路成分としても応用が考えられる。
あらゆる分野での保護用コーティング材料としても好適
であろうし、一般的にLBFJの分野で使われる機能性
のLB材料と脂肪酸の混合膜、積層膜の手法を、本発明
の高分子を脂肪酸のかわりに使うことによって種々の機
能性を発現でき、これを使った用途が考えられる。例え
ば色素、酵素を含んだ膜を作成することによって、光電
変換素子やバイオセンサーを作ることができる。
また、この薄膜を使った物質分離の分野での用途も考え
られる。
次に本発明の高分子化合物の製法と製膜の方法を実施例
に基づき説明する。
実施例1 ピロメリット酸ジ無水物2.18 g (0,01モル
)とステアリルアルコール5.40 g (0,02モ
ル)とをフラスコ中乾燥窒素流通下、約100℃で3時
間反応させた。
得られた反応物をヘキサメチレンホスファミド40cc
に溶解して0〜5℃に冷却してチオニルクロライド2.
38 gを約5℃で滴下し、滴下後約5℃で1時間保持
し、反応を終了させた。
その後ジメチルアセトアミド5Qccに溶解させたジア
ミノジフェニルエーテル2g(0,01%ル)を0〜5
℃で滴下し、滴下後約1時間反応させたのち、反応液を
蒸留水600 cc中に注いで反応生成物を析出させた
。析出物を口過、40℃で乾燥して約9gの淡黄色粉末
を得た。
IRスペクトル分析、熱重量分析(TGA−DTA )
、GPCによる分子量測定を行ったところ下記の結果が
得られた。
IRスペクトル分析 KBr disc法でとられたIRチャートは図1のよ
うでエステル、アミドI、  II、 I[I、アルキ
ル鎖およびエーテルの特徴的な吸収があられれた。
熱分析(TGA−DTA ) 理学電機1m!! RTG−DTA (H)タイプでフ
ルスケールTGA 10II1g、 DTA 100 
μv、i度1000℃で昇温lO℃/min、  窒素
気流(30m /win )中で測定された結果が図2
のとおりである。TGAには192,271,313、
396,592℃に変曲点がありDTAには657℃付
近に特徴的な山がある。
他方、図3は、 400℃まで10℃/winで昇温し、400℃に1時
間保ったのち、室温まで戻し10℃/linで1000
℃まで昇温したときの結果である。
400℃に1時間保つことによってほぼ重量は恒量に達
し、ポリイミド化反応が終結する。これを室温にもどし
、また昇温しでも重量変化は450℃をすぎるまでな(
、ポリイミドフィルムの示す熱分解温度と同じ584℃
で熱分解が始まることが明らかになり、ポリイミド化の
反応を終結することによりポリイミドフィルムと同様の
耐熱性のものが得られた。
GPCによる分子量測定 N、N−ジメチルアセトアミド溶媒で測定されたGPC
の結果をポリスチレン標準サンプルと比較することによ
って算出された数平均分子量は約50゜000であった
実施例2 実施例1の生成物55.1 cruxを蔑留したクロロ
ホルム/ジメチルアセトアミド−8/2 (容量比)の
混合液に溶液して25献のLBill用展開液を調製し
た。
再蒸留水上、20℃で表面圧と繰返し単位当たりの面積
との関係を測定したところ、第4図に示す結果が得られ
た。75A”/unitぐらいから表面圧は急激に立ち
上がり、良好な凝縮膜を生成した。
極限面積は60 A2/unitであり、崩壊圧も55
dyne/1と高分子膜としては非常に高い値を示した
また表面圧を25 dyne / cmに保って膜を水
面上に保持しても2時間にわたって面積の減少が認めら
れず安定であった。
次に水面上の膜の表面圧を25dyne/cmに保って
累積速度10 m/win i?L B法でガラス基板
、あるいはCaF 2板上にそれぞれ61.60層累積
させたe  CaFz板上に得られた膜から図5のよう
なFT−IRが得られ、実施例1で得られた化合物のI
Rと一致した0面積一時間曲線からY型膜であることも
確認された。なお、本実施例で用いた実施例1の製膜時
にCd’″などが含まれておらず、膜厚も薄いのでX線
回折法による分析ではピークは観測されなかった。
また得られた累積膜は厚さ約1800人でキャパシタン
ス測定から良好な絶縁特性を有するものであった。
さらに該累積膜を400℃で1時間加熱することによっ
てα、β−不飽和5員環イミドが生成することがFT−
IR分析による1790. 1710a++−’のピー
クにより確認された。
一方、実施例1の生成物を400℃で1時間加熱するこ
とによって58%(wt%)の減少がおこり、イミド化
することがIRスペクトルにより確認されている。前記
の重量減少はイミド化によりステアリルアルコールが消
失すると計算した場合の値58.7%とよく一致する。
実施例3 実施例1と同じようにステアリルアルコールのかわりに
n−デシルアルコール(n −C+ohO)りを使って
ポリイミド前駆体を合成した。このポリイミド前駆体は
rRスペクトル分析、熱分析、GPCによる分子量測定
では実施例1のポリイミドとじ特徴を示したが表面圧面
積曲線の測定結果は図6のようであり、液体膨張相のみ
で凝縮相の存在を示さなかった。従って炭素数10のア
ルキル基は安定な凝縮相を得るためには短かすぎること
が明らかである。
実施例4 炭!112,14.16のラウリルアルコール、ミリス
チルアルコール、セチルアルコールの場合には炭素数1
2.14では10と18の中間的な挙動を示したが水相
を5℃程度にすれば安定化し、炭素数16では18の場
合と同様な安定な凝縮膜を作ることが明らかになった。
実施例5 実施例1と同様にしてトリメリット酸無水物(0,01
モル)とステアリルアルコール(0,01モル)を使っ
てモノステアリルトリメリフト酸エステルを合成し、チ
オニルクロライドでアシル化シた後、ジアミノジフェニ
ルエーテル(0,01モル)を反応させて2.12 g
の白色粉末を得た。
IRスペクトル分析、熱重量分析(TGA−DTA )
より図71図8の結果が得られた。
IRスペクトル分析は実施例1と同様の特徴的な吸収を
示した。一方熱分析でもTGAには207’C,262
℃に顕著を変曲点が見られ、262℃の変曲点のあとで
はイミド化が完了し、ポリアミドイミドが形成されてい
ることがIRスペクトルから確認された。
実施例6 実施例2と同様にして表面圧と繰返し単位当たりの面積
との関係を測定した。図9がその結果である。
崩壊圧は45dyne/cmと高く、良好な凝縮膜を形
成した。極限面積は60人2/unitであった。
さらに表面圧を25dyne/cmに保って累積速度1
0*m/minでLB法でガラス基板上にY型膜が累積
できることも確認された。
光凱公立来 本発明によると本来LB法により製膜が困難である高分
子化合物を修飾することにより、同法で薄膜を形成する
ことができるようになり、必要なら部分的あるいは完全
に環化させることにより、耐熱性の掻めて良好で耐薬品
性、機械的特性のよい一般的には作成が難しい厚み、す
なわち、10゜OOO八以へ、望むなら10〜1000
人の超薄膜を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は実施例1で得られた高分子化合物の赤外吸収ス
ペクトル、第2図は熱重量分析の結果である。第3図は
室温から400℃まで昇温し、そこに1時間保って室温
まで下げ、さらに1000℃まで昇温したときの重量変
化(TGA) 、熱変化(DTA)である。第4図は実
施例1で得られた前駆体の実施例2に従って水面上に展
開した場合の表面圧と繰り返し単位当たりの面積との関
係である。第5図はそれをCaFz %上へラングミュ
ア・プロジェット法で累積したもののFT−ATRI 
Rの結果である。第6図は実施例3で得られた前駆体の
表面圧−面積曲線である。第7図は実施例5で得られた
高分子化合物の赤外スペクトル、第8図は熱重量分析の
結果である。第9図は実施例5で得られた高分子化合物
の表面圧と繰返し単位当たりの面積との関係である。 第2図 @  膚 第4図 6 n  (A”、/unit、) 第6図 面相 (〆5/unit) 手続補正書 昭和60年12月20日 昭和60年特許願第202191号 2、発明の名称 製膜方法 3、補正をする者 事件との関係  特許出願人 名 称  (094)鐘淵化学工業株式会社4、代理人 自  発 6、補正により増加する発明の数 なし7、補正の対象 特許請求の範囲、発明の詳細な説明 補正の内容 1、特許請求の範囲を以下のように補正する。 「(1)少なくとも2個の炭素原子を有する少なくとも
2僅の第1の有機基R1と、少なくとも2個の炭素原子
を有する少なくとも2価の第2の有機基R2とが2価の
結合基によって交互に連結されている線状の繰返し単位
を有し、かつ共有結合によって同じ繰返し単位へ結合し
た、置換基を含むこともある炭素数10〜30の炭化水
素含有基R3,R4の少なくとも一方を含んでいる高分
子化合物を、ラングミュア・プロジェット法によって累
積膜に形成することを特徴とする製膜方法。 (2)第1および第2の有機基RtおよびR2が少なく
とも6個の炭素を有するベンゼノイド基である第1項の
製膜方法。 (3)炭化水素含有基RB1よグ魚が、脂肪族基、環状
脂肪族と脂肪族の結合した基、または芳香族と脂肪族の
結合した基、またはそれらの置換体を含有している第1
項または第2項の製膜方法。 (4)繰返し単位がヘテロ原子を含む5員環または6員
環を生成する前駆体構造を備えている第1項ないし第3
項のいずれかの製膜方法。 (5)累積膜を加熱してペテロ原子を含む5員環または
6員環を生成させる工程を含む第4項の製膜方法。 (6)高分子化合物が同じ繰返し単位へ結合した前記炭
化水素含有基R3,R4の両方を含んでいる第1項ない
し第5項のいずれかの製膜方法。 (7)前記炭化水素含有基R3、R4の炭素数が16〜
22である第1項ないし第6項のいずれかの製膜方法、
                   」2、 明細
書第7頁第11目(下から7行目)の後に「また、含有
される炭化水素含有基R3,R4はそれぞれ2個以上で
あってもよい、」を挿入する。 3、 同第30頁第9行目(下から4行目)のrr+m
+n−5」を「4+鴫−n−5」と訂正する。 4、同第31頁第12行目の「具体的」を「具体例」と
訂正する。 5、同第34頁上段の具体例 」 と訂正する。 6、同第36頁下段の具体例 明      細      書 手続補正書 昭和61年 2月74日 1、事件の表示             ・、ユタ昭
和60年特許願第202191号 2、発明の名称 製膜方法 3、補正をする者 事件との関係  特許出願人 名 称  (094)鐘淵化学工業株式会社4、代理人 自  発 6、補正により増加する発明の数 なし7、補正の対象 明細書全文 肪族の結合した基、またはそれらの置換体を含有1、発
明の名称 製膜方法 2、特許請求の範囲 (1)少なくとも2(固の炭素原子を有する少なくとも
2価の第1の有機基R1と、少なくとも2(!!の炭素
原子を有する少なくとも2価の第2の有機基R2とが2
価の結合基によって交互に連結されている線状の盪返し
単位を有し、かつ共有結合によって間じ繰返し単位へ猪
合した、置換基を含むこともある炭素数10〜30の炭
化水素含有基R3,R4の少なくとも一方を含んでいる
高分子化合物を、ラングミュア・プロジェット法によっ
て累積膜に形成することを特徴とする製膜方法。 (2)第1および第2の有機基R1およびR2の一方ま
たは両方が少な(とも6個の炭素を有するベンゼノイド
基である第1項の製膜方法。 (3)炭化水素含有基R3およびR4が、脂肪族基、環
伏脂肪族と脂肪族の結合した基、または芳署族と脂して
いる第1項または第2項の!!膜方法。 (4繰返し単位がヘテロ原子を含む5員環または6員環
を生成する前駆体構造を備えている第1項ないし第3項
のいずれかの製膜方法。 (5)累積膜を加熱してヘテロ原子を含む5員環または
6員環を生成させる工程を含む第4項の製膜方法。 (6)  高分子化合物が間じ繰返し単位へ結合した前
記炭化水素含有基R3,R4の両方を含んでいる第1項
ないし第5項のいずれかの!!!膜方法。 (′71  前記炭化水素含有基R3,R4の炭素数が
16〜22である第1項ないし第6項のいずれかの製膜
方法。 3、発明の詳細な説明 lユ坐ユ玉立立 本発明は、高分子化合物の製膜方法に関するものであり
、さらに詳しくは、修飾された高分子化合物をラングミ
エア・プロジェット法で製膜する方法に関するものであ
る。 皿米二艮上 すでに1930年代、炭素数16〜22(らいの脂肪酸
が水面上に単分子膜をつ(す、それを基質上に累積でき
ることがラングミュアとプロジェットにより見出された
が、技術的応用についての検討が行われはじめたのは最
近のことである。 これまでの研究の概要については、固体物理17(12
) 45 (1982) Th1n 5olid Fi
1m’s 6B No、1 (1980) 。 1bid、 99 No、 1.2.3 (1983)
 In5oluble monolayersat l
iquid−gas 1nterfaces (G、L
、 Ga1n3、 Inter−science Pu
blisher3、 New York+ 1966)
などにまとめられているが、従来の直fil飽和脂肪酸
のラングミエア・プロジェット1jl(以下rLBII
l!Jという)は耐熱性、機械的強度に欠点があり、実
用的応用にはそのままでは使えないという問題点がある
。 これらを改善するものとして不飽和脂肪酸、例えばω−
トリコセン酸、ω−ペプタデセン酸やα−オクタデシル
アクリル酸や脂肪酸の不飽和エステル、例えばステアリ
ン酸ビニル、オクタデシルアクリレートのほか、ジアセ
チレン誘導体などの重合膜が検討されているが、耐熱性
は充分とはいえないし、電気的にもすぐれたものとはい
えない。 ポリマーについもポリ酸、ポリアルコール、エチルアク
リレート、ポリペプチドなど親水性基をもつ高分子に成
膜性のあるものが知られているが、特にラングミュア・
プロジェット膜用の材料として、修飾された高分子はこ
れまで検討されていないし、すぐれたLBIIN!!材
料と言えるものはない。 一方、耐熱性フィルムとしてポリイミドがあるが、スピ
ンコードなどの方法によってはせいぜい1000Å以上
で通常は1μm以上で1000Å以下のピンホールのな
い耐熱性薄膜を作成するのは非常に困難である。 (゛  5  る。占 本発明は、本来、ラングミュア・プロジェット法では製
膜が困難である高分子化合物を修飾することにより同法
による製膜を可能にすることであり、耐熱性、耐薬品性
、接着力などの機械的特性の改善された一般的には製膜
が難しい厚みの高分子薄膜を提供することである。 占   ゛ 高分子化合物の繰返し単位中に疎水性を付与するための
置換基を導入することによってラングミエア°ブロジェ
ット法で製膜できるように修飾し、この修飾された高分
子化合物を使って、ラングミュア・プロジェット法によ
って製膜することによってなされる。 群jじC1洟 本発明において使用するLB膜材料は、少なくとも2個
の炭素原子を有する少なくとも2価の第1の有機基R1
と、少な(とも2個の炭素原子を有する少なくとも2価
の第2の有機基R2とが2価の結合基によって交互に連
結されている線状の繰返し単位を有し、かつ共有結合に
よって同じ繰返し単位へ結合した、置換基を含むことも
ある炭素数10〜30の炭化水素含有基R3,R4の少
なくとも一方を含んでいる高分子化合物である。 さらに詳しく説明すれば、本発明の高分子化合物は基本
骨格となる線状の繰り返し単位とじて−→−A−R1−
AB −Rz−B−十−(1)−+−A −R1−B 
A −Rz −B−+−(2)−→−B −R1−BA
−Rz−A−ナー    (3)から構成される。 ここでR1は少なくとも2個の炭素原子を含有する少な
(とも2価の第1の有機基であり、R2は少なくとも2
個の炭素原子を含有する少なくとも2価の第2の有機基
である。さらに好ましくはR1゜R2が少なくとも6個
の炭S原子数を有するペン七ノイド不飽和によって特徴
づけられた基である。 (1)〜(3)式におけるAB、BAは、0.N、S、
P、Bなどのへテロ原子を含む酸性基Aと塩基性基Bの
反応によって出来た2価の結合基である。さらに具体的
には、−CDOR,(Rはアルキル基または水素原子、
以下同じ) −COX、 (XはαまたはBr、以下同
じ) −NCO,−NCS、  −CN、  −C0N
)!2などの酸性基Aと、 −NHR”、 −OR”、
  −3l’l”、  −X等の塩基性基Bの反応によ
ってできた基で、等であり、 等である。 本発明の高分子化合物は、(11〜(3)の基本骨格の
同じ繰返し単位中にそれへ共有結合した、置換基を有す
ることもある炭素数10〜30.好ましくは炭素数16
〜22の炭化水素含有基R3,R4の一方または両方を
含有し、ラングミュア・プロジェット法で製膜可能なよ
うに修飾されたものである。 また、含有される炭化水素含有基R3、Raはそれぞれ
2個以上であってもよい。 このような修飾を実現する方法には3つの方法が考えら
れる。 (1)+11〜(3)式の線状の繰返し単位中のAB、
 BAの基に含まれる原子にR3(R4)を置換する方
法。 (II)R1,Rzに直接R11(R4)を置換する方
法と、さらには、 (m) R1,Rzの線状繰返し単位を作るのに使われ
ている以外のR1,Rzの置換基を通してR3(R4)
を置換する方法である。 勿論 [II [Irl[ll11を併用しても差し支
えない。 また、R3,R4は間−でも異なってもよい。 [11[11[mlについて具体的に例示すれば、■は
、(Rsの代わりにR4でもよい、) 上表のようにAB、 BAの窒素原子上の水素原子の代
わりにR3(R4)を置換する方法である。 (II)の方法は、R3、Rzに直接R3(R4)を置
換する方法で、 はその具体例1の一部である。 さらに多くの可能性を含む方法は(DIEの方法である
。これについて詳しく説明する。 (Tll〕の方法:=、R1,RZとして少なくとも一
方は少なくとも3佑の有機基を用いる方法で、Rz。 Rzを含む繰返し単位を作るのに使われている以外の置
換基を通してRs (淘)を置換・する方法で、勿論こ
れに限定されるわけではないが、R1がRzと価数が等
しいか、多い場合について価数が6までを例示すると、 L坐皿数   n豊■盈 ■      32 ■      42 ■      52 ■      62 ■      33 ■      43 ■      53 ■      63 ■      44 0     6     6 である。 ここにはR1,R2が5価以上の例もリストアツブされ
ているが、R1,Rzは4価までが特に好ましい例であ
る。 R1■3.R2讃2価 R1=4.b=2 R1=3.b謹3 R1禦4.R2寓3 R1wa4.Rzm4 について可能な具体例について列挙すると、Fh−3,
Rz冨2のとき、 21膳4.Rzm2のときは、 Rx−3,Rzm3のときは、 R1−4,Rzm3のときは、 ’Fh−4.Rz−4のときは、 である。(4)〜(75)式には線状の繰返し単位を作
るのに使われていないA/Bが存在するが、(I[I)
の方法はこの置換基を通してR3(Ra)を置換する方
法である0例えば(4)〜(75)でAなら一〇〇OR
s (Ra) 、 −CONHRs (Ra) 、  
−NHCOORs(Ra) 、  −NHC3ORs 
(R4)等、Bなら、−NHRa (R4) s −O
Rs (Ra) 、 −SRs (Ra)等によって置
換することができる。 R3、Rzは少なくとも2個の炭素原子を含有する少な
くとも2fi!iの有機基であるが、少なくとも6個の
炭sr1子を育するベンゼノイド不飽和であることがさ
らに望ましい。 本発明のベンゼノイド不飽和とは炭素環式化合物の構造
に関してキノイド構造と対比して用いられる述語で、普
通の芳瞥族化合物に含まれる炭素環と同じ形の構造をい
う。 p−キノイド R1,hについてさらに詳しく述べるために好適なもの
を例示すれば以下のとおりである。 ここでRsは −o−、−co−、−s−。 Rs:アルキルまたはアリール基 H3 嘗 −(CHzh−0−(CHz)z−0−(CHz)s 
−。 (Rぎは前出に同じ) (Rtは前出に同じ) 以上の中からR二、 Fizのさらに好ましい例をあげ
れば (Rダは前出に同じ)である。 h、R4は炭iA数10〜30好ましくは16〜22゛
の炭化水素含有基であるが、脂肪族、環状脂肪族と脂肪
族、芳瞥族と脂肪族の結合、それらの置換体から選ばれ
た1価の基は好ましい具体的な例であり、列挙すれば (CHs) (CHz)n−x 、  CHzmCH(
CHz)n−z  。 ここでn++5=n−5% n−10〜3G好ましくは
16〜22等であり、直鎮系脂肪族炭化水素基が特に好
ましい例である。 これらに対する置換基としてはハロゲン原子。 ニトロ基、アミノ基、シアン基、メトキシ基、アセトキ
シ基等があるが必須ではない、しかしフッ素原子は水素
原子より疎水性を向上させるので場合により使われるこ
とが望ましい。 即、フッ素を含有させることによってアルキル鎖の長さ
を短くできる0例えば CIIFI? (CH2)A 
−において4−2で充分であり、炭素数10で製膜が可
能なようにできる。 本発明の製膜方法に通用可能な高分子化合物の具体的な
例は(4)〜(75)式にR1,b、 R3、 R4゜
A、 B、^B、 BAの具体例およびR3、 Raを
置換する方法の具体例をそれぞれ代入することによって
明らかになる。(4)〜(75)には共重合体は含まれ
ていないが、これらから類推される共重合体も勿論本発
明に含まれる。 又さらに必須ではないが、本発明の高分子化合物が(1
)  (n)  (IH)の方法によって炭素数1〜9
の炭化水素含有基によって置換されていてもよい。 本発明の高分子化合物の分子量については特に限定はな
い、しかし分子量が低くても、本発明の製膜方法によっ
て製膜は可能であるが、良好な耐熱性9機械的強度、耐
薬品性を得ることはできない、また一方分子量が大きす
ぎると、粘度が高すぎて製膜がうまくいかない。 従って、数平均分子量が2.000〜300゜000程
度のものが望ましい。 (4)〜(75)式から誘導される本発明の高分子化合
物の実用的な具体例をあげると以下のとおりである。 式中、−は異性を表す。 例えば、下式(78)で説明すれば、 および を表す。 本発明は(78−1)  (7B−2)が単独である場
合(7B−1)  (7B−2)が共存する場合を含ん
でいる。 他の例は、例えば神戸博太部編、高分子の耐熱性(培風
館、 S45.3.5 ) 、高分子の熱分解と耐熱性
(培風館、S49.3.15)等の底置に求めることが
できる。 これらの修飾された高分子化合物の製造方法を説明する
ために(80)式でR3膳R4薯CHa(CHz) I
T −の場合について述べる。ピロメリット酸ジ無水物
のアルコリシスによって得られる を実質的に無水の条件下で、有機極性溶剤中で温度20
℃以下、好ましくは10℃以下でチオニルクロライドで
アシル化し1.これにジアミノジフェニルエーテルを温
度20℃以下、好ましくは10℃以下で反応させること
によって製造される。アシル化およびアミド化の反応は
通常O℃以以下−1セ 基等の置換基が凍結固化する傾向があるので、温度20
℃以下好ましくは10℃以下で行われることが望ましい
、勿論以上の場合において、異なった置換基をもつ原料
を混合して共重合体としたり、O〜30%程度の置換基
のない、あるいは炭素数が10以下の置換基をもつテト
ラカルボン酸ジ無水物やジアミンと混合してもよい。 以上のように製造された両性ポリイミド前駆体について
は分離精製してラングミエア・プロジェット膜材料とし
ても、製造後クロロホルム、ベンゼンなどを添加して直
接ラングミエア・プロジェット膜展開液としてもよい。 次に本発明に用いるラングミエア・プロジェット膜につ
いて説明する。 ラングミエア・プロジェット膜の製法としては、膜を形
成する物質を水面上に展開し、水面上に展開された物質
を一定の表面圧で圧縮して単分子膜を形成し、その膜を
基板上に移しとる方法のほか、水平付着法9wI転円筒
法などの方法(新実験化学講座、第184.界面とコロ
イド、49B−5Q8)などがあげられ、通常行われて
いる方法であればとくに限定されることなく使用するこ
とができる拳 ラングミュア・プロジェット法は配向した、しかも厚み
を数十人単位で制御できる方法で2QQÅ以下さらには
1000Å以下、数百人、数十人の1ill!を形成す
るのにすぐれた方法であり、本発明の基板上のWlnI
もこの特徴をもつ、しかし10゜000人またはそれ以
上の厚みの膜もこの方法で製請し得る。 一般には溶媒として水には溶けないで気相中に蒸発して
しまうベンゼン、クロロホルムなどが使用されるが、本
発明の高分子化合物の場合は、溶解度をあげるために有
機極性溶剤を併用することが望ましい、好ましい有機極
性溶剤は、N、N−ジメチルホルムアミド、N、N−ジ
メチルアセトアミド、N、N−ジエチルホルムアミド、
N、N−ジエチルアセトアミド、N、N−ジメチルメト
キシアセトアミド、ジメチルスルホキシド、N−メチル
−2−とロリドン、ピリジン、ジメチルスルホン、ヘキ
サメチルホスホルアミド、テトラメチレンスルホン、ジ
メチルテトラメチレンスルホンなどである。 ベンゼン、クロロホルムなどと有機極性溶剤を併用した
ときには、腹を展開時ベンゼン、クロロホルム等は気相
中に蒸発し、有機極性溶剤は大量の水に溶解すると考え
られる。 本発明に使用される基板については本発明の薄膜を何に
応用するかということによって限定されるが、その他大
きく限定されることはなく、ガラス、アルミナ、石英な
どのような一般的無機の基板のほか、金属、プラスチッ
クやSL、 GaA3、 ZaSのような■族、m−v
、m−vi族等の半導体、PbTiO3、 BaTiO
3、 LLNbO3、 LiTaO5のような強誘電体
等も基板として用いることができる。また、通常行われ
るような表面処理を施したものも勿論使うことができる
。 本発明の特徴は、よい耐熱性をもった高分子化合物をラ
ングミエア・プロジェット法で基板上に薄膜を形成でき
ることであるが、さらにあるものは、この*rf4を部
分的にあるいは完全に閉環させることによってさらに耐
熱性の向上した1ifl[l!を基板上に形成できると
いう特徴をもつ。 (76)〜(95)の例のうち(78)〜(90)はへ
テロ原子を含む5員環または6員環へ部分的にあるいは
完全に閉環させることができる例であり、完全閉環後の
構造は次のようになる。 (以下余白) 閉環の方法については特に国定されないが、例えば先の
(80)式の異体例であるイミド化の場合には300〜
400℃近辺の温度に加熱することによって(80)式
の高分子化合物 の反応が起こって閉環が達成される。このとき、疎水化
のために導入した基がアルコールとして脱離するが、こ
の脱離したアルコールは300°〜400℃近辺の1度
で必要ならガスの流れの下にIくか、真空下に1くこと
によって飛散させることができるので非常に耐熱性のよ
いポリイミド1膜を得ることができる。 次にこれら薄膜の用途について述べる。 本発明の薄膜は、耐熱性、耐薬品性1機械的特性がすぐ
れ、非常に薄い膜であるという特徴を生かしてエレクト
ロニクス分野、エネルギー変換や物質分離など広範な分
野で使うことができる。 導電性、光導電性、光学特性、絶縁性、熱特性や化学反
応性を生かしたエレクトロニクス分野で光学記録膜、レ
ジスト膜、絶縁膜、キャパシター用薄膜、液晶配向膜、
偏光膜、センサー膜などとして、特に絶縁膜としてはI
CやLSIの絶縁層として各種半導体や金属と組み合わ
せたMi3、 ?lI?1などの構造をもつ電気電子素
子中の絶縁層として使うことができ、電界効果トランジ
スター光電変換素子5発光素子、受光素子、光検出素子
、熱電子トランジスター等を構成できる。とくに本発明
の薄膜はトンネル効果を利用したMIS、 M[Mデバ
イスに育効であり、JJの絶縁膜としても使用できる。 そのほか、ウニイブガイド用のクラフト材あるいは光学
回路成分としても応用が考えられる。 あらゆる分野での保護用コーティング材料としても好適
であろうし、一般的にLBIf*の分野で使ねれる機能
性のLB材料と脂肪酸の混合膜、8[層膜の手法を、本
発明の高分子を脂肪酸のかわりに使うことによって種々
の機能性を発現でき、これを使った用途が考えられる0
例えば色素、酵素を含んだ膜を作成することによって、
光電変換素子やバイオセンサーを作ることができる。 また、この薄膜を使った物質分離の分野での用途も考え
られる。 次に本発明の高分子化合物の農法と製膜の方法を実施例
に基づき説明する。 実施例1 ピロメリット酸ジ無水物2.18 g (0,01モル
とステアリルアルコール5.40 g (0,02モル
)とをフラスコ中乾燥窒素流通下、約100℃で3時間
反応させた。 得られた反応物をヘキサメチレンホスファミド40cc
に溶解して0〜5℃に冷却してチオニルクロライド2.
38 gを約5℃で滴下し、滴下後約5℃で1時間保持
し、反応を終了させた。 その後ジメチルアセトアミド50ccに溶解させたジア
ミノジフェニルエーテル2g(0,01モル)を0〜5
℃で滴下し、滴下後約1時間反応させたのち、反応液を
藻留水600cc中に注いで反応生成物を析出させた。 析出物を口過、40℃で乾燥して約9gの淡黄色粉末を
得た。 IRスペクトル分析、熱重量分析(TGA−DTA )
、GPCによる分子量測定を行ったところ下記の結果が
得られた。 IRスペクトル分析 KBr disc法でとられたIRチャートは図1のよ
うでエステル、アミドI、  n、 II[、アルキル
鎖およ、  びエーテルの特徴的な吸収があられれた。 熱分析(TGA−OTA ) 理学電機製11TG−DTA (II )タイプでフル
スケ−71/TGA 10 ax、 DTA 100 
、cl、温度1000°Cで昇温lO℃/min+  
窒素気流(30m /win >中で測定された結果が
図2のとおりである。 TGAには192,271,3
13、396.592℃に変曲点がありDtAには65
7℃付近に特徴的な山がある。 他方、図3は、 400℃まで10℃/ ts i nで昇温し、400
℃に1時間保ったのち、室温まで戻し10℃/winで
1000℃まで昇温したときの結果である。 4.00℃に1時間保つことによってほぼ重量は恒量に
達し、ポリイミド化反応が終結する。これを室温にもど
し、また昇温しでも重量変化は450℃をすぎるまでな
く、ポリイミドフィルムの示す熱分解温度と同じ584
℃で熱分解が始まることが明らかになり、ポリイミド化
の反応を終結することによりポリイミドフィルムと同様
の冴熱性のものが得られた。 GPCによる分子量測定 N、N−ジメチルアセトアミド溶媒で測定されたGPC
の結果をポリスチレン標準サンプルと比較することによ
って算出された数平均分子量i=約50゜000であっ
た。 実施例2 実施例1の生成物55.1■を蒸留したクロロホルム/
ジメチルアセトアミド−8/2 (容量比)の混合液に
溶液して25戚のLB膜用展開液を調製した。 再凛留水上、20℃で表面圧と繰返し単位当たりの面積
との関係を測定したところ、第4図に示す結果が得られ
た175に/unitぐらいから表面圧は急激に立ち上
がり、良好な凝mIIIを生成した。 極限面積は60 ?/unitであり、崩壊圧も55d
yne/口と高分子膜としては非常に高い値を示した。 また表面圧を25dyne/amに保って膜を水面上に
保持しても2時間にわたって面積の減少が認められず安
定であった。 次に水面上の膜の表面圧を25dyne/amに保って
累積速度10m/sinでLB法でガラス基板、あるい
はCaF z板上にそれぞれ61.60層累積させた*
  CaFz板上に得られた膜から図5のようなFT−
IRが得られ、実施例1で得られた化合物のIRと一致
した0面積一時間曲線からY型膜であることも確認され
た。なお、本実施例で用いた実施例1のl!ly4時に
Cd”などが含まれておらず、膜厚も薄いのでX線回折
法による分析ではピークは観測されなかった。 また得られた累積膜は厚さ約1800人でキ中パシタン
ス測定から良好な絶縁特性を有するものであった。 さらに該累積膜を400℃で1時間加熱することによっ
てα、β−不飽和5員環イミドが生成することがFT−
IR分析による1790. 17101″′1のピーク
により確認された。 一方、実施例1の生成物を400℃で1時間加熱するこ
とによって58%(vrt%)の減少がおこり、イミド
化することがIRスペクトルにより確認されている。前
記の重量減少はイミド化によりステアリルアルコールが
消失すると計算した場合の値58.7%とよく一致する
。 実施例3 実施例1と同じようにステアリルアルコールのかわりに
n−デシルアルコール(n −C5ohOH)を使って
ポリイミド前駆体を合成した。このポリイミド前駆体は
IRスペクトル分析、熱分析、GPCによる分子量測定
では実施例1のポリイミドとじ特徴を示したが表面圧面
積曲線の測定結果は図6のようであり、液体膨張相のみ
で凝縮相の存在を示さなかった。従って炭素数10のア
ルキル基は安定な凝縮相を得るためには短かすぎること
が明らかである。 実施例4 炭素数12.14.16のラウリルアルコール、ミリス
チルアルコール、七チルアルコールの場合には炭素数1
2.14では10と18の中間的な挙動を示したが水相
を5℃程度にすれば安定化し、炭素数16では18の場
合と同様な安定な凝縮膜を作ることが明らかになった。 実施例5 実施例1と同様にしてトリメリット酸無水物(0,01
モル)とステアリルアルコール(0,01モル)を使っ
てモノステアリル、トリメリット酸エステルを合成し、
チオニルクロライドでアシル化した後、ジアミノジフェ
ニルエーテル(0,01モル)を反応させて2.12 
gの白色粉末を得た。 IRスペクトル分析、熱重量分析(TGA−OTA )
より図7. l!18の結果が得られた。 IRスペクトル分析は実施例1と同様の特徴的な吸収を
示した。−万態分析でもTGAには207’C,262
℃に顕著を変曲点が見られ、262℃の変曲点のあとで
はイミド化が完了し、ポリアミドイミドが形成されてい
ることがIRスペクトルから確認された。 実施例6 実施例2と同様にして表面圧と繰返し単位当たりの面積
との関係を測定した0図9がその結果である。 崩壊圧は45dyne/amと高く、良好な凝縮膜を形
成した。極限面積は60に/unitであった。 さらに表面圧を25 dyne/ amに保って累積速
度Low/sinでLB法でガラス基板上にY型膜が累
積できることも確認された。 主王立立1 本発明によると本来LB法により1ljlが困難である
高分子化合物を修飾することにより、同法で薄膜を形成
することができるようになり、必要なら部分的あるいは
完全に環化させることにより、耐熱性の極めて良好で耐
薬品性、機械的特性のよ、い一般的には作成が難しい厚
み、すなわち、10゜000Å以下、望むなら10〜1
00OAの超薄膜を得ることができる。 4、 1!1面の簡単な説明 第1図は実施例1で得られた高分子化合物の赤外吸収ス
ペクトル、第2図は熱重量分析の結果である。第311
Jは室温から400℃まで昇1し、そこに1時間保って
室温まで下げ、さらに1000℃まで昇温したときの重
量変化(TGA) 、熱変化(DTA)である、第4図
は実施例1で得られた前駆体の実施例2に従って水面上
に展開した場合の表面圧と繰り返し単位当たりの面積と
の関係である。第5図はそれをCaFz板上ヘ板上ヘミ
ングミュアジェット法で累積したもののFT−ATRI
 Rの結果である。第6図は実施例3で得られた前駆体
の表面圧−面積曲線である。第7図は実施例5で得られ
た高分子化合物の赤外スペクトル、第8図は熱重量分析
の結果である。第9図は実施例5で得られた高分子化合
物の表面圧と繰返し単位当たりの面積との関係である。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)少なくとも2個の炭素原子を有する少なくとも2
    価の第1の有機基R_1と、少なくとも2個の炭素原子
    を有する少なくとも2価の第2の有機基R_2とが2価
    の結合基によって交互に連結されている線状の繰返し単
    位を有し、かつ共有結合によって同じ繰返し単位へ結合
    した、置換基を含むこともある炭素数10〜30の炭化
    水素含有基R_3、R_4の少なくとも一方を含んでい
    る高分子化合物を、ラングミュア・プロジェット法によ
    って累積膜に形成することを特徴とする製膜方法。
  2. (2)第1および第2の有機基R_1およびR_2が少
    なくとも6個の炭素を有するベンゼノイド基である第1
    項の製膜方法。
  3. (3)炭化水素含有基R_3が、脂肪族基、環状脂肪族
    と脂肪族の結合した基、または芳香族と脂肪族の結合し
    た基、またはそれらの置換体を含有している第1項また
    は第2項の製膜方法。
  4. (4)繰返し単位がヘテロ原子を含む5員環または6員
    環を生成する前駆体構造を備えている第1項ないし第3
    項のいずれかの製膜方法。
  5. (5)累積膜を加熱してヘテロ原子を含む5員環または
    6員環を生成させる工程を含む第4項の製膜方法。
  6. (6)高分子化合物が同じ繰返し単位へ結合した前記炭
    化水素含有基R_3、R_4の両方を含んでいる第1項
    ないし第5項のいずれかの製膜方法。
  7. (7)前記炭化水素含有基R_3、R_4の炭素数が1
    6〜22である第1項ないし第6項のいずれかの製膜方
    法。
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