JPS6258183A - 多チヤンネル検出器の相対感度較正装置 - Google Patents
多チヤンネル検出器の相対感度較正装置Info
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- JPS6258183A JPS6258183A JP60197603A JP19760385A JPS6258183A JP S6258183 A JPS6258183 A JP S6258183A JP 60197603 A JP60197603 A JP 60197603A JP 19760385 A JP19760385 A JP 19760385A JP S6258183 A JPS6258183 A JP S6258183A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、核融合プラズマからの粒子線またはＸ線を多
チャンネル検出器で受け各検出器の出力比に基き前記プ
ラズマの物理的状態を診断する核融合プラズマ状態診断
装置に係り、特に前記多チャンネル検出器の相対感度較
正装置に関する。
チャンネル検出器で受け各検出器の出力比に基き前記プ
ラズマの物理的状態を診断する核融合プラズマ状態診断
装置に係り、特に前記多チャンネル検出器の相対感度較
正装置に関する。
第５図に核融合プラズマのイオン温度を検知してプラズ
マの状態を診断する中性粒子分析装置の従来例を示す。
マの状態を診断する中性粒子分析装置の従来例を示す。
中性粒子分析装置（１）は本体部（２）と導入部（３）
とからなり、本体部（２）内には多チャンネル検出器（
４）およびビーム偏向器（５）が設けられている。導入
部（３）が接続管を介して核融合炉に接続されて設置さ
れ、導入部（３）および本体部（２）の内部は真空に保
たれている。中性粒子線は、導入部（３）内に設けられ
ているストリッピングセル（６）にて荷電交換し、イオ
ン化した入射ビームは、被測定入射ビーム軸（７）で示
す経路でビーム偏向器（５）に入り、図示のように偏向
され多チャンネル検出器（４）に入る。このとき、中性
粒子線のエネルギーによって偏向の度合いが異なるため
、エネルギーの大小に従って多チャンネル検出器（４）
の異なるチャンネルの検出器に入力する。一定時間の間
の各検出器の出力比を求めることによりプラズマのイオ
ン温度を検知できる。
とからなり、本体部（２）内には多チャンネル検出器（
４）およびビーム偏向器（５）が設けられている。導入
部（３）が接続管を介して核融合炉に接続されて設置さ
れ、導入部（３）および本体部（２）の内部は真空に保
たれている。中性粒子線は、導入部（３）内に設けられ
ているストリッピングセル（６）にて荷電交換し、イオ
ン化した入射ビームは、被測定入射ビーム軸（７）で示
す経路でビーム偏向器（５）に入り、図示のように偏向
され多チャンネル検出器（４）に入る。このとき、中性
粒子線のエネルギーによって偏向の度合いが異なるため
、エネルギーの大小に従って多チャンネル検出器（４）
の異なるチャンネルの検出器に入力する。一定時間の間
の各検出器の出力比を求めることによりプラズマのイオ
ン温度を検知できる。
しかしながら、検出器の放射線損傷による劣化や長期間
使用による劣化のための多チャンネル検出器の相対感度
の変化が生じる。一方上記の測定原理からしてイオン温
度を求めるためには各検出器の出力比が重要である。こ
のため従来は、第５図に示すように、較正のためのイオ
ン源（８）を設けてイオンビームを生成し、ビーム偏向
器（５）の偏向用の磁場または電場を制御してイオンビ
ームを各検出器に入れて相対感度を求めることにより較
正を行なっていた。
使用による劣化のための多チャンネル検出器の相対感度
の変化が生じる。一方上記の測定原理からしてイオン温
度を求めるためには各検出器の出力比が重要である。こ
のため従来は、第５図に示すように、較正のためのイオ
ン源（８）を設けてイオンビームを生成し、ビーム偏向
器（５）の偏向用の磁場または電場を制御してイオンビ
ームを各検出器に入れて相対感度を求めることにより較
正を行なっていた。
しかしながら、検出器の飽和現象のためイオンビーム電
流は１Ｏ−１ｓ〜１Ｏ−１４Ａ程度にする必要がある。
流は１Ｏ−１ｓ〜１Ｏ−１４Ａ程度にする必要がある。
イオン源（８）では、立上り時にイオン生成のための供
給ガス（水素）の他にイオン源内の吸着ガスによるアウ
トガスが発生し、このためイオン源の動作が安定になる
までに約１時間のエージングが必要である。また、イオ
ン源（８）のフィラメントが消耗した場合、交換のため
に分析装置内を大気開放しなければならず、その後、分
析装置の真空引きおよび多チャンネル検出器（４）のエ
ージングのために約２４時間が必要であった。
給ガス（水素）の他にイオン源内の吸着ガスによるアウ
トガスが発生し、このためイオン源の動作が安定になる
までに約１時間のエージングが必要である。また、イオ
ン源（８）のフィラメントが消耗した場合、交換のため
に分析装置内を大気開放しなければならず、その後、分
析装置の真空引きおよび多チャンネル検出器（４）のエ
ージングのために約２４時間が必要であった。
次に、核融合プラズマ状態診断用の多チャンネルＸＩＩ
ｆＡ測定装置におけるＸ線検出器の相対感度の較正手段
の従来例を第６図および第７図に示す。
ｆＡ測定装置におけるＸ線検出器の相対感度の較正手段
の従来例を第６図および第７図に示す。
第６図において、（１０）はプラズマにおける被測定Ｘ
線源、（１１）は多チャンネル検出器、（１２）は遮光
用固定フィルタ、（１３）はコリメータである。この場
合、放射状のＸ線を発生する較正用Ｘ線源（１４）を多
チャンネル検出器（１１）の入射側に配置し、Ｘ線を照
射したときの各チャンネルの出方を比較するようにして
いる。しかしながら、この場合にはＸ線発生装置（１５
）が必要であり、Ｘ線発生装置が高価で且つ大がかりな
装置になるという雑魚がある。
線源、（１１）は多チャンネル検出器、（１２）は遮光
用固定フィルタ、（１３）はコリメータである。この場
合、放射状のＸ線を発生する較正用Ｘ線源（１４）を多
チャンネル検出器（１１）の入射側に配置し、Ｘ線を照
射したときの各チャンネルの出方を比較するようにして
いる。しかしながら、この場合にはＸ線発生装置（１５
）が必要であり、Ｘ線発生装置が高価で且つ大がかりな
装置になるという雑魚がある。
第７図に示すのは、Ｘ線発生装置を使用しないようにす
るために、較正用線源として光源（１６）を多チャンネ
ル検出器（１１）の被測定Ｘ線入射側に配置したもので
ある。この場合、多チャンネル検出器（１１）の光に対
する有感面が被測定Ｘ線の入射側にあるため、被測定Ｘ
線源（１０）からの光を遮光するだめの可動式遮光フィ
ルタ（１７）を設け、較正時には遮光フィルタ（１７）
を検出器面から移動させた後に光を照射するようにして
いる。したがって。
るために、較正用線源として光源（１６）を多チャンネ
ル検出器（１１）の被測定Ｘ線入射側に配置したもので
ある。この場合、多チャンネル検出器（１１）の光に対
する有感面が被測定Ｘ線の入射側にあるため、被測定Ｘ
線源（１０）からの光を遮光するだめの可動式遮光フィ
ルタ（１７）を設け、較正時には遮光フィルタ（１７）
を検出器面から移動させた後に光を照射するようにして
いる。したがって。
可動式遮光フィルタ（１７）およびフィルタ駆動装置（
１８）を必要とし、装置が複雑化すると共に高価になる
という難点がある。
１８）を必要とし、装置が複雑化すると共に高価になる
という難点がある。
本発明は、上述した中性粒子分析装置および多チャンネ
ルｘ線測定装置などの核融合プラズマ状態診断装置にお
ける多チャンネル検出器の相対感度較正装置の諸欠点を
除去した多チャンネル検出器の相対感度較正装置を提供
することを目的とする。
ルｘ線測定装置などの核融合プラズマ状態診断装置にお
ける多チャンネル検出器の相対感度較正装置の諸欠点を
除去した多チャンネル検出器の相対感度較正装置を提供
することを目的とする。
本発明は、光源とこの光源からの光を偏向し多チャンネ
ル検出器の各検出器に順次入射させる光偏向手段とを具
備し、且つ前記光偏向手段の配置位置が被測定粒子線ま
たはＸ線の入射経路に対し特定されたことを特徴とする
多チャンネル検出器の相対感度較正装置を実現し、従来
の各相対感度較正手段の欠点を除去したものである。
ル検出器の各検出器に順次入射させる光偏向手段とを具
備し、且つ前記光偏向手段の配置位置が被測定粒子線ま
たはＸ線の入射経路に対し特定されたことを特徴とする
多チャンネル検出器の相対感度較正装置を実現し、従来
の各相対感度較正手段の欠点を除去したものである。
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
本発明に係る多チャンネル検出器の相対感度較正装置の
一実施例を第１図（ａ）、（ｂ）に示す。第１図（ｂ）
に示すように、中性粒子分析装置（１）の本体部（２）
の真空容器の外に光源として例えばＨｅ−Ｎｅレーザ（
２１）を配置し、その光軸上に配置された減光器（偏光
板を２枚重ねたもの） （２２）を介し真空容器に設け
られた気密構造の入射窓（２３）から本体部（２）内に
光ビームを入射する。本体部（２）の真空容器の反対側
外部に配置された回転駆動源（２４）の回転力が回転導
入器（２５）により気密に真空容器内に導入され、回転
導入器（２５）により支持された回転ミラー（２６）が
その反射面を４５°傾けて入射光に対向配置されて光偏
向手段を構成している。回転ミラー（２６）の位置は、
ミラーの回転軸とレーザビームの入射軸とを一致させ、
レーザビームの光軸に垂直な平面にレーザビームが反射
され、この反射光がミラーの回転に伴い多チャンネル検
出器（４）の各検出器に順次入射されるように位置決め
されている。また、第１図（ａ）に示すように、回転ミ
ラー（２６）の回転中心軸とレーザビームの交差する回
転ミラーの表面の一点と、被測定粒子線の被測定入射ビ
ーム軸（７）とが差交するように回転ミラー （２６）
が配置されている。そして、中性粒子線分析装置の導入
部（３）には、ストリッピングセル（６）の両側にそれ
ぞれ入射スリット（２７） 、 （２ｇ）が設けられて
いる。
一実施例を第１図（ａ）、（ｂ）に示す。第１図（ｂ）
に示すように、中性粒子分析装置（１）の本体部（２）
の真空容器の外に光源として例えばＨｅ−Ｎｅレーザ（
２１）を配置し、その光軸上に配置された減光器（偏光
板を２枚重ねたもの） （２２）を介し真空容器に設け
られた気密構造の入射窓（２３）から本体部（２）内に
光ビームを入射する。本体部（２）の真空容器の反対側
外部に配置された回転駆動源（２４）の回転力が回転導
入器（２５）により気密に真空容器内に導入され、回転
導入器（２５）により支持された回転ミラー（２６）が
その反射面を４５°傾けて入射光に対向配置されて光偏
向手段を構成している。回転ミラー（２６）の位置は、
ミラーの回転軸とレーザビームの入射軸とを一致させ、
レーザビームの光軸に垂直な平面にレーザビームが反射
され、この反射光がミラーの回転に伴い多チャンネル検
出器（４）の各検出器に順次入射されるように位置決め
されている。また、第１図（ａ）に示すように、回転ミ
ラー（２６）の回転中心軸とレーザビームの交差する回
転ミラーの表面の一点と、被測定粒子線の被測定入射ビ
ーム軸（７）とが差交するように回転ミラー （２６）
が配置されている。そして、中性粒子線分析装置の導入
部（３）には、ストリッピングセル（６）の両側にそれ
ぞれ入射スリット（２７） 、 （２ｇ）が設けられて
いる。
上記のように構成された本発明一実施例の多チャンネル
検出器の相対感度較正装置においては、レーザ光源（２
１）を点灯し、レーザビームの光量を減光器（２２）に
より適当に減衰させ入射窓（２３）を介して真空容器内
へ入射し、回転ミラー（２６）によってレーザビームを
反射しミラーの回転に伴い多チャンネル検出器（４）の
各検出器に順次入射する。
検出器の相対感度較正装置においては、レーザ光源（２
１）を点灯し、レーザビームの光量を減光器（２２）に
より適当に減衰させ入射窓（２３）を介して真空容器内
へ入射し、回転ミラー（２６）によってレーザビームを
反射しミラーの回転に伴い多チャンネル検出器（４）の
各検出器に順次入射する。
これにより各検出器は安定した同一光量のレーザ光を受
光するので、各検出器の出力値を比較することにより相
対感度が求められる。
光するので、各検出器の出力値を比較することにより相
対感度が求められる。
較正を行なうに当って、レーザ光源（２１）はスイッチ
ＯＮ時から出力が速やかに安定し以後安定に動作するの
で、検出器の相対感度が正確に求められると共に、立上
り時間をほとんど必要としない。
ＯＮ時から出力が速やかに安定し以後安定に動作するの
で、検出器の相対感度が正確に求められると共に、立上
り時間をほとんど必要としない。
また、レーザ光源（２１）、回転駆動源（２４）が真空
容器外に配置されているので、メンテナンスに際して中
性粒子分析装置（１）の真空容器内を大気開放する必要
がない。
容器外に配置されているので、メンテナンスに際して中
性粒子分析装置（１）の真空容器内を大気開放する必要
がない。
さらに、回転ミラー（２６）の回転角度を調整すること
により、導入部（３）に設けられた２枚の入射スリット
（２７）、（２８）を通るレーザビームを出して導入部
（３）の軸線を示す光ビームを現示することができ、こ
の光ビームを基準にして中性粒子分析装置と被測定装置
との軸合せを行なうことが可能である。
により、導入部（３）に設けられた２枚の入射スリット
（２７）、（２８）を通るレーザビームを出して導入部
（３）の軸線を示す光ビームを現示することができ、こ
の光ビームを基準にして中性粒子分析装置と被測定装置
との軸合せを行なうことが可能である。
次に、本発明に係る多チャンネル検出器の相対感度較正
装置の他の実施例を第２図に示す。多チャンネル検出器
（３１）は、光に感じる面を被測定Ｘ線入射側の反対側
に持つ検出器（３１ａ）を複数個配列した構造である。
装置の他の実施例を第２図に示す。多チャンネル検出器
（３１）は、光に感じる面を被測定Ｘ線入射側の反対側
に持つ検出器（３１ａ）を複数個配列した構造である。
多チャンネル検出器（３１）に対して被測定Ｘ線入射側
の反対側にレーザ発生装置（３２）が配置され、このレ
ーザ発生装置（３２）からのレーザビームを反射し各検
出器（３１ａ）に順次入射させる回転ミラー（３３）が
配置されている。図中。
の反対側にレーザ発生装置（３２）が配置され、このレ
ーザ発生装置（３２）からのレーザビームを反射し各検
出器（３１ａ）に順次入射させる回転ミラー（３３）が
配置されている。図中。
（ＩＣ）は被測定Ｘ線源、（１２）は遮光用固定フィル
タ、（１３）はコリメータである。
タ、（１３）はコリメータである。
上記のように構成したことにより、レーザビームを多チ
ャンネル検出器（３１）の各検出器（３１ａ）に順次入
射し、そのときの各検出器（３１ａ）の出力を比較して
相対感度を求め較正することができる。
ャンネル検出器（３１）の各検出器（３１ａ）に順次入
射し、そのときの各検出器（３１ａ）の出力を比較して
相対感度を求め較正することができる。
測定時と較正時で遮光用フィルタは移動させる必要がな
く、構造が簡単で故障の恐れも無く、コストも低減でき
る。また、較正用Ｘ線発生装置を使用しないため、高電
圧の使用、Ｘ線被曝という危険要素が無くなり安全性が
向上する。
く、構造が簡単で故障の恐れも無く、コストも低減でき
る。また、較正用Ｘ線発生装置を使用しないため、高電
圧の使用、Ｘ線被曝という危険要素が無くなり安全性が
向上する。
なお、第２図に示した相対感度較正装置は、第３図およ
び第４図に示すように変形して実施できる。
び第４図に示すように変形して実施できる。
第３図に示すものは、多チャンネル検出器（３１）の各
検出器（３１ａ）ごとに較正用光源としての発光ダイオ
ード（３５）を配置し、各発光ダイオード（３５）から
の光をそれぞれ対向する検出器（３１ａ）のみに入射さ
せるようにしたものである。
検出器（３１ａ）ごとに較正用光源としての発光ダイオ
ード（３５）を配置し、各発光ダイオード（３５）から
の光をそれぞれ対向する検出器（３１ａ）のみに入射さ
せるようにしたものである。
第４図に示すものは、放射状に光を放出する光ｒＡ（３
６）を多チャンネル検出器（３１）の被測定Ｘ線入射側
と反対側に配置し、各検出器（３１ａ）ごとに光源（３
６）の光をコリメートして入射させるコリメータ（３７
）を設けたものである。
６）を多チャンネル検出器（３１）の被測定Ｘ線入射側
と反対側に配置し、各検出器（３１ａ）ごとに光源（３
６）の光をコリメートして入射させるコリメータ（３７
）を設けたものである。
第３図および第４図の変形例は、いずれも可動部が無く
、一層構造が簡単で安価にできる利点がある。
、一層構造が簡単で安価にできる利点がある。
以上詳述したように本発明によれば、核融合プラズマに
おける発生源からの粒子線またはＸ線を多チャンネル検
出器で受け各検出器の出力比に基き前記核融合プラズマ
の物理的状態を診断する核融合プラズマ状態診断装置に
おける多チャンネル検出器の相対感度較正装置を、光源
とこの光源からの光を偏向し多チャンネル検出器の各検
出器に順次入射させる光偏向手段とを具備し且つ前記光
偏向手段を被測定粒子線またはＸ線の入射経路に対し特
定な位置に配置した構成にしたことにより、核融合プラ
ズマ状態診断用中性粒子分析装置の場合には、較正用光
源からのレーザビームと回転ミラーの回転軸の交差する
回転ミラーの表面の一点と、被測定粒子線の被測定入射
ビーム軸とが差交するように回転ミラーを配置したこと
により、回転ミラーの回転角度を調整して前記被測定入
射ビーム軸を示す光ビームを現示することができ、この
光ビームを基準にして中性粒子分析装置と被測定装置と
の軸合せを行なうことが可能となる。また、較正を行な
うに当って、レーザ光源はスイッチＯＮ時から出力が速
やかに安定し以後安定に動作するので、検出器の相対感
度が正確に求められると共に、立上り時間をほとんど必
要としない。また、レーザ光源および回転駆動源が真空
容器外に配置されているので、メンテナンスに際して中
性粒子分析装置の真空容器を大気開放する必要がなく、
メンテナンスが容易であり、メンテナンス後の真空引き
および検出器のエージングのための長い時間を省くこと
ができる。
おける発生源からの粒子線またはＸ線を多チャンネル検
出器で受け各検出器の出力比に基き前記核融合プラズマ
の物理的状態を診断する核融合プラズマ状態診断装置に
おける多チャンネル検出器の相対感度較正装置を、光源
とこの光源からの光を偏向し多チャンネル検出器の各検
出器に順次入射させる光偏向手段とを具備し且つ前記光
偏向手段を被測定粒子線またはＸ線の入射経路に対し特
定な位置に配置した構成にしたことにより、核融合プラ
ズマ状態診断用中性粒子分析装置の場合には、較正用光
源からのレーザビームと回転ミラーの回転軸の交差する
回転ミラーの表面の一点と、被測定粒子線の被測定入射
ビーム軸とが差交するように回転ミラーを配置したこと
により、回転ミラーの回転角度を調整して前記被測定入
射ビーム軸を示す光ビームを現示することができ、この
光ビームを基準にして中性粒子分析装置と被測定装置と
の軸合せを行なうことが可能となる。また、較正を行な
うに当って、レーザ光源はスイッチＯＮ時から出力が速
やかに安定し以後安定に動作するので、検出器の相対感
度が正確に求められると共に、立上り時間をほとんど必
要としない。また、レーザ光源および回転駆動源が真空
容器外に配置されているので、メンテナンスに際して中
性粒子分析装置の真空容器を大気開放する必要がなく、
メンテナンスが容易であり、メンテナンス後の真空引き
および検出器のエージングのための長い時間を省くこと
ができる。
また、核融合プラズマ状態診断用の多チヤンネルＸ線測
定装置の場合には、多チャンネル検出器の各検出器の光
に感じる面を被測定Ｘ線入射側の反対側に向け、多チャ
ンネル検出器の被測定Ｘ線入射側と反対側に配置された
光源から較正光を各検出器に入射するように構成したこ
とにより、多チャンネル検出器の被測定Ｘ線入射側に配
置する遮光フィルタは固定でよく、遮光フィルタ移動装
置が不要となり、構造が簡単になり、故障の恐れも無く
、コストも低減できる。さらに、較正用Ｘ線源を用いる
従来装置に比べてＸ線発生装置を使用しないため、コス
トの大幅低減、装置の小形化が可能であると共に、高電
圧の使用、Ｘ線被曝という危険要素が無くなり安全性が
向上する。
定装置の場合には、多チャンネル検出器の各検出器の光
に感じる面を被測定Ｘ線入射側の反対側に向け、多チャ
ンネル検出器の被測定Ｘ線入射側と反対側に配置された
光源から較正光を各検出器に入射するように構成したこ
とにより、多チャンネル検出器の被測定Ｘ線入射側に配
置する遮光フィルタは固定でよく、遮光フィルタ移動装
置が不要となり、構造が簡単になり、故障の恐れも無く
、コストも低減できる。さらに、較正用Ｘ線源を用いる
従来装置に比べてＸ線発生装置を使用しないため、コス
トの大幅低減、装置の小形化が可能であると共に、高電
圧の使用、Ｘ線被曝という危険要素が無くなり安全性が
向上する。
第１図（ａ）、（ｂ）は本発明に係る多チャンネル検出
器の相対感度較正装置の一実施例で、第１図（ａ）は構
成を示す概略図、第１図（ｂ）は第１図（ａ）のＡ−Ａ
′断面図、第２図は本発明に係る多チャンネル検出器の
相対感度較正装置の他の実施例を示す概略図２第３図お
よび第４図はそれぞれ第２図の装置の異なる変形例を示
す概略図、第５図は中性粒子分析装置における多チャン
ネル検出器の相対感度較正手段の従来例を示す概略図、
第６図および第７図はそれぞれ多チヤンネルＸ線測定装
置における検出器の相対感度較正手段の異なる従来例を
示す概略図である。
器の相対感度較正装置の一実施例で、第１図（ａ）は構
成を示す概略図、第１図（ｂ）は第１図（ａ）のＡ−Ａ
′断面図、第２図は本発明に係る多チャンネル検出器の
相対感度較正装置の他の実施例を示す概略図２第３図お
よび第４図はそれぞれ第２図の装置の異なる変形例を示
す概略図、第５図は中性粒子分析装置における多チャン
ネル検出器の相対感度較正手段の従来例を示す概略図、
第６図および第７図はそれぞれ多チヤンネルＸ線測定装
置における検出器の相対感度較正手段の異なる従来例を
示す概略図である。
Claims (1)
- 核融合プラズマにおける発生源からの中性粒子線または
Ｘ線を多チャンネル検出器で受け各検出器の出力比に基
き前記核融合プラズマの物理的状態を診断する核融合プ
ラズマ状態診断装置に設けられ、光源とこの光源からの
光を偏向し前記多チャンネル検出器の各検出器に順次入
射させる光偏向手段とを具備し且つ前記光偏向手段の配
置位置が被測定粒子線またはＸ線の入射経路に対し特定
されたことを特徴とする多チャンネル検出器の相対感度
較正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60197603A JPS6258183A (ja) | 1985-09-09 | 1985-09-09 | 多チヤンネル検出器の相対感度較正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60197603A JPS6258183A (ja) | 1985-09-09 | 1985-09-09 | 多チヤンネル検出器の相対感度較正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6258183A true JPS6258183A (ja) | 1987-03-13 |
Family
ID=16377216
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60197603A Pending JPS6258183A (ja) | 1985-09-09 | 1985-09-09 | 多チヤンネル検出器の相対感度較正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6258183A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009042233A (ja) * | 2001-03-23 | 2009-02-26 | Koninkl Philips Electronics Nv | 放射線センサによって吸収される照射線量を決定する方法 |
| JP2013186014A (ja) * | 2012-03-09 | 2013-09-19 | Hitachi Ltd | 放射線検出器の校正方法および放射線監視装置 |
-
1985
- 1985-09-09 JP JP60197603A patent/JPS6258183A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009042233A (ja) * | 2001-03-23 | 2009-02-26 | Koninkl Philips Electronics Nv | 放射線センサによって吸収される照射線量を決定する方法 |
| JP2013186014A (ja) * | 2012-03-09 | 2013-09-19 | Hitachi Ltd | 放射線検出器の校正方法および放射線監視装置 |
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