JPS62285234A - 反射型光学デイスクの読取り装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ３、発明の詳細な説明 ［産業上の利用分野］ 本発明は光学ディスクの反射光から該光学ディスク上で
の入射光の集光状態を表すフォーカスエラー信号を検出
することができ、しかもその入射光の非点収差を補正で
きる反射型光学ディスクの読取り装置に関するものでお
る。

［従来の技術］ 従来より、光学ディスクと半導体レーザとの間に設けら
れたビームスプリッタを用いて半導体し−ザから光学デ
ィスクに照射された光の反射光路を変更し、その変更さ
れた光路上に円柱レンズ等の光学部品を設けて反射光に
非点収差を発生させ、これを光検出器で検出することに
より光学ディスク上での入射光の集光状態を表すフォー
カスエラー信号を１与るよう構成された反射型光学ディ
スクの読取り装置が知られている。

ところでこの種の装置に用いられる半導体レーザには、
半導体接合面とこれに垂直な面とで光の集束点が異なり
、照射するレーザ光が非点収差となるものがある。従っ
てこのような半導体レーザを用いた読取り装置では、光
学ディスク上での照射光のビーム形状が光学ディスクと
半導体レーザとの距離によって偏平な縦長もしくは横長
に変化し、照射光が隣接トラックにまたがって読取り能
力が低下するといった問題があった。

そこで近年特開昭５８−１４３４４３号により、半導体
レーザから光学ディスクへの照射光路上に所定の角度で
平行平面板を設け、これによって半導体レーザから照射
されるレーザ光の非点収差を補正することが提案されて
いる。

［発明が解決しようとする問題点］ ところがこの提案による装置では、光学ディスクに照射
されるレーザ光の非点収差は良好に補正することができ
るものの、精度よいフォーカスエラー信号を得るために
は上記従来と同様、ビームスプリッタにより光路変更さ
れた反射光路上に非点収差を発生するための光学部品を
設ける必要があり、平行平面板を利用して光学系を簡単
にするといったことはできなかった。即ち単に光学ディ
スクからの反射光に非点収差を発生させるだけであれば
、上記平行平面板を利用して反射光に半導体レーザの非
点収差分だけ非点収差を発生さぜることができるが、ノ
イズ等に影響されない良好なフォーカスエラー信号を１
ｑるためには反射光にできるだけ大きな非点収差を発生
させることが望ましく、このためには従来のように反射
光路上に非点収差発生のための光学部品を設ける必要が
あり、構成を簡単にすることができなかったのである。

そこで本発明は、ビームスプリッタにより形成される反
射光路上に非点収差発生のための光学部品を設けること
なく反射光に大きな非点収差を発生させることができ、
しかも半導体レーザから光学ディスクに照射されるレー
ザ光の非点収差を良好に補正することのできる反射型光
学ディスクの読取り装置を提供することを目的としてな
された。

［問題点を解決するための手段］ 即ら上記問題点を解決するための本発明の構成は、半導
体接合面とこれに垂直な面とではレーザ光の集束点が異
なり、非点収差となる半導体レーザと、該半導体レーザ
から入射されたレーザ光を反射型の光学ディスク上の所
定の領域に集光すると共に、該光学ディスクからの反射
光を入射方向へ戻す集光光学系と、該集光光学系を介し
て戻ってくる上記光学ディスクからの反射光を、上記半
導体レーザからの入射方向とは異なる方向に導く反射光
路変更手段と、上記反射光の光路上に設けられ、該反射
光に非点収差を生じさせる非点収差発生手段と、該非点
収差発生手段を介して伝速される上記反射光を受光し、
上記光学ディスク上でのレーザ光の集光状態を表すフォ
ーカスエラー信号を発生する受光手段と、を備えた反射
型光学ディスクの読取り装置において、上記半導体レー
ザと上記反射光路変更手段との間に、上記半導体レーザ
の有する非点収差を拡大するよう、第１の平行平面板を
配設すると共に、上記反射光路変更手段と上記集光光学
系との間に、上記第１の平行平面板にＪ、って拡大され
た非点収差を補正すると共に、上記非点収差発生手段と
して機能する第２の平行平面板を配設してなること、を
特徴とする反射型光学ディスクの読取り装置を要旨とし
ている。

［作用］ 以上のように構成された本発明の反射型光学ディスクの
読取り装置では、半導体レーザからのレーザ光の非点収
差が、第１の平行平面板により一且拡大され、その後筒
２の平行平面板によって補正される。このため集光光学
系を介して光学ディスクに集光されるレーザ光の非点収
差はなくなり、光学ディスクには常時所定形状の光ビー
ムが集光されることとなる。また光学ディスクからの反
射光には第２の平行平面板により非点収差が発生され、
反射光路変更手段を介して受光手段に伝達される。従っ
てこの反射光には、第１の平行平面板により発生される
非点収差と半導体レーザによる非点収差とを加算した量
の非点収差が発生され、受光手段で得られるフォーカス
エラー信号の検出精度が向上されることとなる。

［実施例］ 以下に本発明の実施例を図面と共に説明する。

第１図は本実施例の読取り装置の光学系全体の構成を表
し、（イ）はこれに用いられる半導体レーザ１の接合面
に沿った平面図、（ロ）はその右側面図である。

図に示すように半導体レーザ１の接合面とこれに直交す
る面とではレーザ光の集束点がａ、ｂと異なり、非点収
差となっている。このため本実施例では、半導体レーザ
１から光学ディスク２までの光路上に、その非点収差を
拡大するための第１の平行平面板３と平行平面板３を介
して入射されるレーデ光の非点収差を補正する第２の平
行平面板４とが設けられ、この２枚の平行平面板３，４
によって半導体レーザ１からのレーザ光の非点収差を完
全に補正した後、前記集光光学系としてのコリメートレ
ンズ５及び対物レンズ６を介して光学ディスク２上にレ
ーザ光を集光するようされている。ところで各平行平面
板３，４は、半導体レーザ１の接合面に対しては直交し
、接合面との直交面に対しては所定の角度α、βをなす
よう配設されている。これは上述したように平行平面板
３によって半導体レーザ１によるレーザ光の非点収差を
拡大し、平行平面板４によってその非点収差を補正する
ためであり、この角度α、βは、各平行平面板３，４の
板厚、及び拡大又は補正すべき非点収差の量によって決
定される。尚平行平面板を用いて非点収差を拡大又は補
正できる理由については、従来より周知であり、前述の
特開昭５８−１４３４４３号公報にも詳述されているの
でここでは説明を省略する。

また本実施例では、上記各平行平面板３，４の間に前記
反射光路変更手段としてのビームスプリッタ７が設けら
れ、対物レンズ６、コリメートレンズ５．平行平面板４
を介して伝達される光学ディスク２からの反射光を、前
記受光手段としての光検出器８まで導くようにされてい
る。従って光検出器８に入射される光学ディスク２から
の反射光には平行平面板４で以て非点収差が発生される
こととなり、光検出器８を用いて光学ディスク２上での
レーザ光の集光状態を検出できるようになる。つまり第
２図に示す如く、光検出器８は４つのフォトダイオード
ＰＬＰ２．Ｐ３．Ｐ４からなる４分割フォトダイオード
を用いて構成され、この光検出器８には平行平面板４に
より発生された非点収差によって、光学ディスク２上で
のレーザ光の集光状態に応じて点線、実線、一点鎖線で
示すビーム形状の反射光が入射されることから、フォト
ダイオードＰＩ、Ｐ３及びＰ２．Ｐ４からの出力信号を
夫々差動増幅器９に入力することによってフを一力スエ
ラーイ言号か得られるのである。

このように本実施例の読取り装置では、半導体レーザ１
からのレーザ光の非点収差が２枚の平行平面板３及び４
によって補正され、光学ディスク２には非点収差のない
レーザ光か集光されることから、光学ディスク２上での
レー（ア光のビーム形状が変化することなく、読取り精
度が向上される。

また光学ディスク２からの反射光は平行平面板４によっ
て非点収差が発生された後光検出器８に入ｆＡされるの
で、ビームスプリッタ７から光検出器８までの光路上に
非点収差を発生するための光学部品を設けることなくフ
ォーカスエラー信号を（与ることができ、構成か簡単と
なる。更に平行平面板４により発生される反射光の非点
収着は半導体レーザ１と平行平面板３により生ずる非点
収差を加算した値となるので、反射光の非点収差量を大
ぎくすることができ、〕を−カスエラー信号の検出精度
を向上できる。また更に平行平面板３を半導体レーザ１
の保護ガラスとして半導体レーザ１に直接膜ければその
構成をより簡単にすることができる。

尚、上記実施例では、平行平面板４とビームスプリッタ
７とを各々別体に形成したが、第３図に示すように、２
枚のガラス板の間に誘電体等を蒸着させた板状のビーム
スプリッタ７′を用い、これによって非点収差を補正す
るよう構成すれば、平行平面板が不要となり、構成をよ
り簡単にすることができる。またこれによって平行平面
板を設けるスペースが不要となるので装置を小型化する
こともできる。

［発明の効果］ 以上詳述したように本発明の反射形光学ディスクの読取
り装置によれば、半導体レーザからのレーザ光の非点収
差を補正して、光学ディスクの読取り能力を向上できる
他、フォーカスエラー信号を１ｑるために光学ディスク
からの反射光に非点収差を発生ざぜるための光学部品を
設ける必要はなく、構成を簡単にすることができる。ま
た反射光に発生される非点収差は半導体レーザの非点収
差と第１の平行平面板による非点収差とを加えた値とな
るので、そのωは大きく、フォーカスエラー信号の検出
精度を向上することもできる。

【図面の簡単な説明】

第１図は実施例の読取り装置全体の光学系を表し、（イ
）は半導体レーザの接合面に沿った平面図、（口〉はそ
の右側面図、第２図は光検出器８の構成を表す説明図、
第３図は他の実施例の読取り装置仝休の光学系を表す平
面図、である。 １・・・半導体レーザ　　２・・・光学ディスク３．４
・・・平行平面板　５・・・コリメートレンズ６・・・
対物レンズ　　　７・・・ビームスプリッタ８・・・光
検出器

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 半導体接合面とこれに垂直な面とではレーザ光の集束点
   が異なり非点収差となる半導体レーザと、該半導体レー
   ザから入射されたレーザ光を反射型の光学ディスク上の
   所定の領域に集光すると共に、該光学ディスクからの反
   射光を入射方向へ戻す集光光学系と、 該集光光学系を介して戻つてくる上記光学ディスクから
   の反射光を、上記半導体レーザからの入射方向とは異な
   る方向に導く反射光路変更手段と、上記反射光の光路上
   に設けられ、該反射光に非点収差を生じさせる非点収差
   発生手段と、 該非点収差発生手段を介して伝達される上記反射光を受
   光し、上記光学ディスク上でのレーザ光の集光状態を表
   すフォーカスエラー信号を発生する受光手段と、 を備えた反射型光学ディスクの読取り装置において、 上記半導体レーザと上記反射光路変更手段との間に、上
   記半導体レーザの有する非点収差を拡大するよう、第１
   の平行平面板を配設すると共に、上記反射光路変更手段
   と上記集光光学系との間に、上記第１の平行平面板によ
   って拡大された非点収差を補正すると共に、上記非点収
   差発生手段として機能する第２の平行平面板を配設して
   なること、 を特徴とする反射型光学ディスクの読取り装置。