JPH07182666A - 光ピックアップシステム - Google Patents
光ピックアップシステムInfo
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- JPH07182666A JPH07182666A JP6281981A JP28198194A JPH07182666A JP H07182666 A JPH07182666 A JP H07182666A JP 6281981 A JP6281981 A JP 6281981A JP 28198194 A JP28198194 A JP 28198194A JP H07182666 A JPH07182666 A JP H07182666A
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- knife edge
- light
- detector
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1381—Non-lens elements for altering the properties of the beam, e.g. knife edges, slits, filters or stops
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
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- G11B7/0916—Foucault or knife-edge methods
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0943—Methods and circuits for performing mathematical operations on individual detector segment outputs
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 光ビームの光効率を増大することができる改
善されたナイフエッジ法を用いる光ピックアップシステ
ムを提供する。 【構成】 本発明の光ピックアップシステムは、光源１
２と、記録面１８を有する光ディスク１９と、互いに対
して垂直関係にある第１および第２検出器３１、３７か
らなる光検出ユニット５０と、光ビームの反射のための
ビームスプリッター１４と、対物レンズ１６と、光ビー
ムを第１および第２検出器３１、３７の各々に投射する
ため裏面を有するナイフエッジ２０と、各検出器からの
出力信号を加算するための第１および第２加算器６０、
６２と、その加算結果を比較し焦点エラー信号を発生す
る差動増幅器２８とを含む。
善されたナイフエッジ法を用いる光ピックアップシステ
ムを提供する。 【構成】 本発明の光ピックアップシステムは、光源１
２と、記録面１８を有する光ディスク１９と、互いに対
して垂直関係にある第１および第２検出器３１、３７か
らなる光検出ユニット５０と、光ビームの反射のための
ビームスプリッター１４と、対物レンズ１６と、光ビー
ムを第１および第２検出器３１、３７の各々に投射する
ため裏面を有するナイフエッジ２０と、各検出器からの
出力信号を加算するための第１および第２加算器６０、
６２と、その加算結果を比較し焦点エラー信号を発生す
る差動増幅器２８とを含む。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光ピックアップシステム
に関し、とくに、光効率を増大することが可能なシステ
ムで用いられる改善されたナイフエッジ法に関する。
に関し、とくに、光効率を増大することが可能なシステ
ムで用いられる改善されたナイフエッジ法に関する。
【０００２】
【従来の技術】光情報記録用ディスク、例えば、レーザ
ディスクでの一般的な問題点の一つは、焦点エラーの発
生ということである。ナイフエッジ(Knife-edge)法はこ
のような問題点の解決を図るための方法の一つとして開
示された。
ディスクでの一般的な問題点の一つは、焦点エラーの発
生ということである。ナイフエッジ(Knife-edge)法はこ
のような問題点の解決を図るための方法の一つとして開
示された。
【０００３】図５は、ナイフエッジ法を用いる従来の光
ピックアップシステム１０が示されている。この光ピッ
クアップシステム１０は光源１２、ビームスプリッター
１４、対物レンズ１６、光情報記録用ディスク１９（以
下、光ディスクと称する）、ナイフエッジ２０、光検出
器２２および差動増幅器２８を含む。このシステムにお
いて、光ビーム１３は光源１２（例えば、レーザダイオ
ード）から発射されビームスプリッター１４に入射され
て、ビームスプリッターの内に取り付けた反射面１５に
より部分的に反射される。該反射面１５から反射された
光ビームは集束された光ビームとして光ディスク１９の
記録面１８上へ対物レンズ１６を通して放射される。光
ディスク１９から反射された集束光ビームは対物レンズ
１６によって集められ、ビームスプリッター１４を介し
て伝送される。しかるのち、光ビームはナイフエッジ２
０を通過して、その後、一対の光電セル２２からなる受
光面２７を備える光検出器２２に投射される。各々の光
電セルからの光強度測定の形の出力は、差動増幅器２８
の第１および第２入力端子２４、２６に各々に連結さ
れ、差動増幅器２８が各々の該光電セルからの出力を比
較し、関連する焦点エラーの検出を可能とする。焦点エ
ラーは二つの出力への単純な差である。受光面２７の該
受光部に入射される光ビームの強度は、光ディスク１９
の記録面１８と光ビームの集束点１７のあいだの位置関
係によって変化する。
ピックアップシステム１０が示されている。この光ピッ
クアップシステム１０は光源１２、ビームスプリッター
１４、対物レンズ１６、光情報記録用ディスク１９（以
下、光ディスクと称する）、ナイフエッジ２０、光検出
器２２および差動増幅器２８を含む。このシステムにお
いて、光ビーム１３は光源１２（例えば、レーザダイオ
ード）から発射されビームスプリッター１４に入射され
て、ビームスプリッターの内に取り付けた反射面１５に
より部分的に反射される。該反射面１５から反射された
光ビームは集束された光ビームとして光ディスク１９の
記録面１８上へ対物レンズ１６を通して放射される。光
ディスク１９から反射された集束光ビームは対物レンズ
１６によって集められ、ビームスプリッター１４を介し
て伝送される。しかるのち、光ビームはナイフエッジ２
０を通過して、その後、一対の光電セル２２からなる受
光面２７を備える光検出器２２に投射される。各々の光
電セルからの光強度測定の形の出力は、差動増幅器２８
の第１および第２入力端子２４、２６に各々に連結さ
れ、差動増幅器２８が各々の該光電セルからの出力を比
較し、関連する焦点エラーの検出を可能とする。焦点エ
ラーは二つの出力への単純な差である。受光面２７の該
受光部に入射される光ビームの強度は、光ディスク１９
の記録面１８と光ビームの集束点１７のあいだの位置関
係によって変化する。
【０００４】光ディスクの記録面１８および集束点１７
とが一致する場合、これは、「合焦(just focussed) 」
位置として知られており、このような場合、各々の光電
セル上に投射された光ビームの強度および出力は同一で
あって、差動増幅器の第１および第２入力端子２４、２
６に対しての入力は同一なのでゼロ焦点エラー信号が得
られる。もし、光ディスクの記録面１８が集束点１７と
一致しない場合は、各々の光電セル上に入射される光ビ
ームの強度が互いに異なるようになるので、システムは
変位の方向を示すゼロではない焦点エラー信号を得るこ
とができる。
とが一致する場合、これは、「合焦(just focussed) 」
位置として知られており、このような場合、各々の光電
セル上に投射された光ビームの強度および出力は同一で
あって、差動増幅器の第１および第２入力端子２４、２
６に対しての入力は同一なのでゼロ焦点エラー信号が得
られる。もし、光ディスクの記録面１８が集束点１７と
一致しない場合は、各々の光電セル上に入射される光ビ
ームの強度が互いに異なるようになるので、システムは
変位の方向を示すゼロではない焦点エラー信号を得るこ
とができる。
【０００５】このような従来のナイフエッジ法ではビー
ムスプリッター１４が光ビームの一部を遮断することに
なるので、光ビームの光効率が低減してしまう。
ムスプリッター１４が光ビームの一部を遮断することに
なるので、光ビームの光効率が低減してしまう。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明の
目的は、光ビームの光効率を増大することができる改善
されたナイフエッジ法を用いる光ピックアップシステム
を提供することである。
目的は、光ビームの光効率を増大することができる改善
されたナイフエッジ法を用いる光ピックアップシステム
を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を解決するため
に、本発明の焦点エラー検出用ナイフエッジ法による
と、焦点エラーを検出する光ピックアップシステムにお
いて、光ビームを発射するための光源と、第１および第
２検出器を有し、各々の検出器は光強度測定の形で出力
を可能とし、互いに対して垂直であって、各々の検出器
は等間隔で分けられ一対の第１および第２光電セルを備
え、ここで前記第１検出器と光ディスク上に位置した集
束点とが光軸を形成する光検出ユニットと、前記光源か
ら前記光ディスクの記録面まで前記光ビームを反射して
前記光ディスクの記録面から反射された光ビームを前記
光検出ユニットに向かって投射し、ここで前記記録面か
ら反射された光ビームの光軸に対し傾斜している反射面
を取り付けたビームスプリッターと、前記ビームスプリ
ッターおよび前記光ディスクとのあいだに取り付けら
れ、前記ビームスプリッターによって反射された光ビー
ムを前記記録面上に集束して、前記記録面から反射され
た前記光ビームを前記ビームスプリッターの前記反射面
へ集束するための対物レンズと、前記ビームスプリッタ
ーおよび前記第１検出器とのあいだに取り付けられた裏
面を有するナイフエッジであって、前記ビームスプリッ
ターの前記反射面を透過した前記光ビームの一部分が前
記ナイフエッジの前記裏面によって前記第２検出器に向
かうように反射し、前記ビームスプリッターを透過した
光ビームの残り部分が前記ナイフエッジを介して前記第
１検出器に入射するように配した前記ナイフエッジと、
前記第１および第２検出器の各々の第１光電セルに連結
される第１加算器と、前記第１および第２検出器の各々
の第２光電セルに連結される第２加算器と、前記第１お
よび第２加算器の各々の出力を比較して焦点エラー信号
を生成する差動増幅器とを備える光ピックアップシステ
ムが提供される。
に、本発明の焦点エラー検出用ナイフエッジ法による
と、焦点エラーを検出する光ピックアップシステムにお
いて、光ビームを発射するための光源と、第１および第
２検出器を有し、各々の検出器は光強度測定の形で出力
を可能とし、互いに対して垂直であって、各々の検出器
は等間隔で分けられ一対の第１および第２光電セルを備
え、ここで前記第１検出器と光ディスク上に位置した集
束点とが光軸を形成する光検出ユニットと、前記光源か
ら前記光ディスクの記録面まで前記光ビームを反射して
前記光ディスクの記録面から反射された光ビームを前記
光検出ユニットに向かって投射し、ここで前記記録面か
ら反射された光ビームの光軸に対し傾斜している反射面
を取り付けたビームスプリッターと、前記ビームスプリ
ッターおよび前記光ディスクとのあいだに取り付けら
れ、前記ビームスプリッターによって反射された光ビー
ムを前記記録面上に集束して、前記記録面から反射され
た前記光ビームを前記ビームスプリッターの前記反射面
へ集束するための対物レンズと、前記ビームスプリッタ
ーおよび前記第１検出器とのあいだに取り付けられた裏
面を有するナイフエッジであって、前記ビームスプリッ
ターの前記反射面を透過した前記光ビームの一部分が前
記ナイフエッジの前記裏面によって前記第２検出器に向
かうように反射し、前記ビームスプリッターを透過した
光ビームの残り部分が前記ナイフエッジを介して前記第
１検出器に入射するように配した前記ナイフエッジと、
前記第１および第２検出器の各々の第１光電セルに連結
される第１加算器と、前記第１および第２検出器の各々
の第２光電セルに連結される第２加算器と、前記第１お
よび第２加算器の各々の出力を比較して焦点エラー信号
を生成する差動増幅器とを備える光ピックアップシステ
ムが提供される。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の好ましい光ピックアップシス
テムを添付の図面を参照しながら詳細に説明する。
テムを添付の図面を参照しながら詳細に説明する。
【０００９】図１〜図４は本発明の好ましい実施例によ
るナイフエッジの多様な図面を示す。類似な部分は類似
の参照番号を用いている。
るナイフエッジの多様な図面を示す。類似な部分は類似
の参照番号を用いている。
【００１０】図１では、焦点エラー検出用光ピックアッ
プシステム１０で用いる本発明のナイフエッジの斜視図
が示されている。この光ピックアップシステム１０は、
光源１２、ビームスプリッター１４、対物レンズ１６、
光ディスク１９、ナイフエッジ２０および第１および第
２検出器３１、３７を含む光検出ユニット５０とを含む
このようなシステムにおいて、光ビーム１３は光源１２
（例えば、レーザダイオード）から発射されビームスプ
リッター１４に入射されて、しかるのち、ビームスプリ
ッター１４の反射面１５により一部分が反射される。反
射面１５から反射された光ビームは、集束された光ビー
ムとして光ディスク１９の記録面１８上へ対物レンズ１
６を通して放射される。集束された光ビームは記録面１
８から反射されビームスプリッター１４を介して伝送さ
れる。その後、ビームスプリッター１４を介して伝送さ
れた光ビームはナイフエッジ２０によって二つの部分２
１、２３に分けられる。ナイフエッジ２０は、反射器と
して働く裏面３４が取り付けられている。集束光ビーム
中の部分２３は、ナイフエッジ２０の裏面３４から反射
され光検出ユニット５０の第２検出器３７に入射され、
残り部分２１はナイフエッジ２０を通過し第１検出器３
１に入射される。また、ナイフエッジ２０は、第２検出
器３７に垂直な第１光軸５７に対して予め定められた角
度θで傾斜した形態に取り付けられているが、その角度
θは４５度が望ましい。
プシステム１０で用いる本発明のナイフエッジの斜視図
が示されている。この光ピックアップシステム１０は、
光源１２、ビームスプリッター１４、対物レンズ１６、
光ディスク１９、ナイフエッジ２０および第１および第
２検出器３１、３７を含む光検出ユニット５０とを含む
このようなシステムにおいて、光ビーム１３は光源１２
（例えば、レーザダイオード）から発射されビームスプ
リッター１４に入射されて、しかるのち、ビームスプリ
ッター１４の反射面１５により一部分が反射される。反
射面１５から反射された光ビームは、集束された光ビー
ムとして光ディスク１９の記録面１８上へ対物レンズ１
６を通して放射される。集束された光ビームは記録面１
８から反射されビームスプリッター１４を介して伝送さ
れる。その後、ビームスプリッター１４を介して伝送さ
れた光ビームはナイフエッジ２０によって二つの部分２
１、２３に分けられる。ナイフエッジ２０は、反射器と
して働く裏面３４が取り付けられている。集束光ビーム
中の部分２３は、ナイフエッジ２０の裏面３４から反射
され光検出ユニット５０の第２検出器３７に入射され、
残り部分２１はナイフエッジ２０を通過し第１検出器３
１に入射される。また、ナイフエッジ２０は、第２検出
器３７に垂直な第１光軸５７に対して予め定められた角
度θで傾斜した形態に取り付けられているが、その角度
θは４５度が望ましい。
【００１１】図２に示されたように、光検出ユニット５
０は第１および第２検出器３１、３７、一対の加算器６
０、６２および差動増幅器２８とを含み、ここで第１お
よび第２検出器３１、３７は各々一対の光電セル３２、
３３と３８、３９とを含んでいる。各々の光電セルは光
ビーム強度測定の形で出力が可能である。このナイフエ
ッジ２０によって反射され、第２検出器３７に投射され
る集束光ビームの一部分２３の強度が、集束光ビームの
残り部分２１の光ビームの強度と同一であるようにナイ
フエッジ２０は第２検出器３７と垂直な第１光軸５７に
対し予め定められた角度で傾斜するように配される。第
１および第２光軸５７、５８は互いに垂直である。第１
および第２検出器３１、３７の第１光電セル３２、３８
からの出力は第１加算器６０へ入力され、第１および第
２検出器３１、３７の第２光電セル３３、３９からの出
力は第２加算器６２へ各々伝送される。この第１および
第２加算器６０、６２からの出力は二つの出力の差を発
生する差動増幅器２８へ伝送されることによって焦点エ
ラー信号が提供される。
０は第１および第２検出器３１、３７、一対の加算器６
０、６２および差動増幅器２８とを含み、ここで第１お
よび第２検出器３１、３７は各々一対の光電セル３２、
３３と３８、３９とを含んでいる。各々の光電セルは光
ビーム強度測定の形で出力が可能である。このナイフエ
ッジ２０によって反射され、第２検出器３７に投射され
る集束光ビームの一部分２３の強度が、集束光ビームの
残り部分２１の光ビームの強度と同一であるようにナイ
フエッジ２０は第２検出器３７と垂直な第１光軸５７に
対し予め定められた角度で傾斜するように配される。第
１および第２光軸５７、５８は互いに垂直である。第１
および第２検出器３１、３７の第１光電セル３２、３８
からの出力は第１加算器６０へ入力され、第１および第
２検出器３１、３７の第２光電セル３３、３９からの出
力は第２加算器６２へ各々伝送される。この第１および
第２加算器６０、６２からの出力は二つの出力の差を発
生する差動増幅器２８へ伝送されることによって焦点エ
ラー信号が提供される。
【００１２】図３のＡは光ディスク１９が合焦の位置に
ある場合、第１および第２検出器３１、３７の受光面の
中央上に入射する光ビームの強度分布の断面４０、４１
を示す。もし、光ディスク１９が合焦位置（即ち、対物
レンズ１６）から遠のくと、第１および第２検出器３
１、３７の受光面上に入射される光ビームの強度分布の
断面４４、４５は、図３のＢのように、各々の第１光電
セル３２、３８に向かって片寄る。光ディスク１９が対
物レンズ１６に向かって近づくと、検出器３１、３７の
受光面上に入射される光ビームの強度分布の断面４２、
４３は、図３のＣに示されるように、各々の第２光電セ
ル３３、３９に向かって片寄る。
ある場合、第１および第２検出器３１、３７の受光面の
中央上に入射する光ビームの強度分布の断面４０、４１
を示す。もし、光ディスク１９が合焦位置（即ち、対物
レンズ１６）から遠のくと、第１および第２検出器３
１、３７の受光面上に入射される光ビームの強度分布の
断面４４、４５は、図３のＢのように、各々の第１光電
セル３２、３８に向かって片寄る。光ディスク１９が対
物レンズ１６に向かって近づくと、検出器３１、３７の
受光面上に入射される光ビームの強度分布の断面４２、
４３は、図３のＣに示されるように、各々の第２光電セ
ル３３、３９に向かって片寄る。
【００１３】図４は、変位を電圧に対する関数として測
定した焦点エラー検出信号曲線７０を示す。同図で、矢
印７２は焦点調節が可能な距離を表す。このシステムで
焦点調節距離の範囲は１５μｍである。
定した焦点エラー検出信号曲線７０を示す。同図で、矢
印７２は焦点調節が可能な距離を表す。このシステムで
焦点調節距離の範囲は１５μｍである。
【００１４】本発明は特定の実施例について説明した
が、本発明の範囲を逸脱することなく、当業者は種々の
改変をなし得るであろう。
が、本発明の範囲を逸脱することなく、当業者は種々の
改変をなし得るであろう。
【００１５】
【発明の効果】したがって、本発明によれば、前記述べ
たように、本発明はナイフエッジの裏面から反射された
光ビームを用いるので、光ピックアップシステムにおい
て従来のナイフエッジ法の代りに本発明の改善されたナ
イフエッジ法を使用することによって光ビームの光効率
を増大させることができる。
たように、本発明はナイフエッジの裏面から反射された
光ビームを用いるので、光ピックアップシステムにおい
て従来のナイフエッジ法の代りに本発明の改善されたナ
イフエッジ法を使用することによって光ビームの光効率
を増大させることができる。
【図１】本発明の好ましい実施例によるナイフエッジ法
の斜視図である。
の斜視図である。
【図２】図１に示した本発明のナイフエッジと光検出ユ
ニットとのあいだの関係を示す詳細図である。
ニットとのあいだの関係を示す詳細図である。
【図３】本発明の検出器の受光面上に入射する光ビーム
の光強度分布の断面を示した図であり、Ａは光ディスク
が合焦の位置にある場合、Ｂは光ディスクが合焦の位置
から遠のいた場合、Ｃは光ディスクが合焦の位置から近
づいた場合を示す。
の光強度分布の断面を示した図であり、Ａは光ディスク
が合焦の位置にある場合、Ｂは光ディスクが合焦の位置
から遠のいた場合、Ｃは光ディスクが合焦の位置から近
づいた場合を示す。
【図４】光ディスクの変位と焦点エラー信号の電圧との
関係を示した図である。
関係を示した図である。
【図５】従来の光ピックアップシステムでナイフエッジ
法を用いた概略図である。
法を用いた概略図である。
１２ 光源 １３ 光ビーム １４ ビームスプリッター １６ 対物レンズ １８ 記録面 １９ 光ディスク ２０ ナイフエッジ ２４、２６ 第１および第２入力端子 ２８ 差動増幅器 ３１、３７ 第１および第２光検出器 ３２、３３、３８、３９ 第１および第２光電セル ３４ 反射面 ５０ 光検出ユニット ５７、５８ 光軸
Claims (4)
- 【請求項１】 焦点エラーを検出する光ピックアップシ
ステムにおいて、 光ビームを発射するための光源と、 第１および第２検出器を有し、各々の検出器は光強度測
定の形で出力を可能とし、互いに対して垂直であって、
各々の検出器は等間隔で分けられ一対の第１および第２
光電セルを備え、ここで前記第１検出器と光ディスク上
に位置した集束点とが光軸を形成する光検出ユニット
と、 前記光源から前記光ディスクの記録面まで前記光ビーム
を反射して前記光ディスクの記録面から反射された光ビ
ームを前記光検出ユニットに向かって投射し、ここで前
記記録面から反射された光ビームの光軸に対し傾斜して
いる反射面を取り付けたビームスプリッターと、 前記ビームスプリッターおよび前記光ディスクとのあい
だに取り付けられ、前記ビームスプリッターによって反
射された光ビームを前記記録面上に集束して、前記記録
面から反射された前記光ビームを前記ビームスプリッタ
ーの前記反射面へ集束するための対物レンズと、 前記ビームスプリッターおよび前記第１検出器とのあい
だに取り付けられた裏面を有するナイフエッジであっ
て、前記ビームスプリッターの前記反射面を透過した前
記光ビームの一部分が前記ナイフエッジの前記裏面によ
って前記第２検出器に向かうように反射し、前記ビーム
スプリッターを透過した光ビームの残り部分が前記ナイ
フエッジを介して前記第１検出器に入射するように配し
た前記ナイフエッジと、 前記第１および第２検出器の各々の第１光電セルに連結
される第１加算器と、 前記第１および第２検出器の各々の第２光電セルに連結
される第２加算器と、 前記第１および第２加算器の各々の出力を比較して焦点
エラー信号を生成する差動増幅器とを備えることを特徴
とする光ピックアップシステム。 - 【請求項２】 前記ナイフエッジの前記裏面は、屈折物
質で形成することを特徴とする請求項１記載の光ピック
アップシステム。 - 【請求項３】 前記予め定められた角度は、４５度であ
ることを特徴とする請求項１記載の光ピックアップシス
テム。 - 【請求項４】 前記光ビームの強度を検出するために、
各々の前記検出器が一対の第１および第２光電セルを有
することを特徴とする請求項１記載の光ピックアップシ
ステム。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019930024390A KR950015241A (ko) | 1993-11-16 | 1993-11-16 | 광픽업의 포커스에러 검출방법 및 그 장치 |
| KR1993-24390 | 1993-11-16 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07182666A true JPH07182666A (ja) | 1995-07-21 |
Family
ID=19368214
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6281981A Pending JPH07182666A (ja) | 1993-11-16 | 1994-11-16 | 光ピックアップシステム |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5550368A (ja) |
| JP (1) | JPH07182666A (ja) |
| KR (1) | KR950015241A (ja) |
| CN (1) | CN1113338A (ja) |
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-
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- 1994-11-16 US US08/340,675 patent/US5550368A/en not_active Expired - Fee Related
- 1994-11-16 CN CN94120132A patent/CN1113338A/zh active Pending
Also Published As
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|---|---|
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