JPS62264449A - ジツタ−量測定装置 - Google Patents
ジツタ−量測定装置Info
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- JPS62264449A JPS62264449A JP10817286A JP10817286A JPS62264449A JP S62264449 A JPS62264449 A JP S62264449A JP 10817286 A JP10817286 A JP 10817286A JP 10817286 A JP10817286 A JP 10817286A JP S62264449 A JPS62264449 A JP S62264449A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 8
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 21
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 101001098066 Naja melanoleuca Basic phospholipase A2 1 Proteins 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[−産業上の利用分野]
本発明はジッター<ik測定装置、特に光学式情記録I
r)主装置の光ディスクにより再生されたE F M信
号のある成分(一般に3T周期の信号成分)の時間的な
ゆらぎ量であるジッター量の測定装置に関するものであ
る。
r)主装置の光ディスクにより再生されたE F M信
号のある成分(一般に3T周期の信号成分)の時間的な
ゆらぎ量であるジッター量の測定装置に関するものであ
る。
[従来の技術]
一般に、光学式情報記録再生装置に用いる光ピックアッ
プの評価にはジッターが目安とされており、その測定は
従来オシロスコーウブで時間軸の振れ幅を71111定
するか又はタイムインターバルカウンタにより変動幅を
測定することにより行っていた。
プの評価にはジッターが目安とされており、その測定は
従来オシロスコーウブで時間軸の振れ幅を71111定
するか又はタイムインターバルカウンタにより変動幅を
測定することにより行っていた。
[発明が解決しようとする問題点]
かかる従来のジッターhχ測定において、これをオシ〔
1スコープで視覚にだよ−て行う場合には測定値の変動
を読取るのが困難であり読取りに個人差があり、従って
熟練を必要とし疲れる作業であった。更にジッター41
を標塾偏差値として測定することはできなかった。
1スコープで視覚にだよ−て行う場合には測定値の変動
を読取るのが困難であり読取りに個人差があり、従って
熟練を必要とし疲れる作業であった。更にジッター41
を標塾偏差値として測定することはできなかった。
又ジッター量のホ11定を時間幅測定器、例えば、タイ
11インターバルカウンタを用いて行う場合には申請な
繰返し信号或は発生タイミングがT期できる信号のジッ
ターでなければ測定が不i”J能であった。しかもかか
る測定値は高価であった。
11インターバルカウンタを用いて行う場合には申請な
繰返し信号或は発生タイミングがT期できる信号のジッ
ターでなければ測定が不i”J能であった。しかもかか
る測定値は高価であった。
本発明は符号化信号のジッターを、直接簡単に標準偏差
として迅速に且つ回路的に簡単に、しかも高精度に測定
し得るように構成配置したジッター量測定装置を提供す
ることを目的とする。
として迅速に且つ回路的に簡単に、しかも高精度に測定
し得るように構成配置したジッター量測定装置を提供す
ることを目的とする。
[問題点を解決するための手段及び作用]本発明は、時
間軸変動のジッター量を電圧変動値に変換し、この電圧
のRMS (自乗平均平方根)値を求めたところ、電圧
のRMS値の数式が標準偏差の計算式に一致する事実を
確かめて成したものであり、ジッター量をRMS値の算
出回路に通ずことによりジッター量の標準偏差値を、R
M S値の直流分に置換して簡単量っ連続量で測定する
ようにしたことを特徴とする。
間軸変動のジッター量を電圧変動値に変換し、この電圧
のRMS (自乗平均平方根)値を求めたところ、電圧
のRMS値の数式が標準偏差の計算式に一致する事実を
確かめて成したものであり、ジッター量をRMS値の算
出回路に通ずことによりジッター量の標準偏差値を、R
M S値の直流分に置換して簡単量っ連続量で測定する
ようにしたことを特徴とする。
本発明によればジッター量の標準偏差をRM S値の直
流分に単に置換するだけで回路的に簡単量つ高精度にジ
ッター量を測定することかできる。
流分に単に置換するだけで回路的に簡単量つ高精度にジ
ッター量を測定することかできる。
[実施例]
図面につき本発明を説明する。
第1図は本発明ジッター量測定装置の構成を示し第2図
はその種々の個所の信号の波形のタイムチャートを示す
。
はその種々の個所の信号の波形のタイムチャートを示す
。
第1図に示す本発明ジッター量測定装置は人力信号の周
期弁別を行うサンプリングパルス発生回路Iを備え、こ
れに、光ディスクから光ピックアップによってEFM変
調方式により再生したE F M信号の2値化されたデ
ィジタルE F M信号Ql(第2図(a))を供給す
る。このサンプリングパルス発生回路Iをサンプリング
パルス補正回路2に接続しこれによりサンプリングパル
スがミスサンプリングを行うのを防IEシてパルス幅の
補償を行うようにする。
期弁別を行うサンプリングパルス発生回路Iを備え、こ
れに、光ディスクから光ピックアップによってEFM変
調方式により再生したE F M信号の2値化されたデ
ィジタルE F M信号Ql(第2図(a))を供給す
る。このサンプリングパルス発生回路Iをサンプリング
パルス補正回路2に接続しこれによりサンプリングパル
スがミスサンプリングを行うのを防IEシてパルス幅の
補償を行うようにする。
サンプリングパルス発生回路1によって人力DE I”
M信号Qlの周期3Tの信号成分のみを検出しサンプ
リングパルスQ14(第2図(n))を発生ずる。
M信号Qlの周期3Tの信号成分のみを検出しサンプ
リングパルスQ14(第2図(n))を発生ずる。
又サンプリングパルス発生回路1を鋸歯状波発生回路3
に接続しこれに駆動パルスQ9(第2図(i))を供給
する。鋸歯状態発生回路3の鋸歯状態出力パルスQ15
(第2図(0))をサンプルホールド回路4に供給する
と共に、これに前期サンプリングパルス補正回路2の補
正サンプリングパルスQ14(第2図(n))をも供給
し、これによって鋸歯状波をサンプルホールドして周期
3Tの信号成分の時間軸変動を電圧変動Q16(第2図
(p))に変換する。この電圧変動分Q16を低周波雑
音除去フィルタ5、増幅器6、高周波雑音除去フィルタ
7を経てRM S −D C変換器8に供給してR9M
値をDC(直流分)として取出し、このDC信号をロー
パスフィルタ9に供給して光ディスクの再生時の面ふれ
、偏心等の影響を除去し最終的にジッター晴として出力
する。
に接続しこれに駆動パルスQ9(第2図(i))を供給
する。鋸歯状態発生回路3の鋸歯状態出力パルスQ15
(第2図(0))をサンプルホールド回路4に供給する
と共に、これに前期サンプリングパルス補正回路2の補
正サンプリングパルスQ14(第2図(n))をも供給
し、これによって鋸歯状波をサンプルホールドして周期
3Tの信号成分の時間軸変動を電圧変動Q16(第2図
(p))に変換する。この電圧変動分Q16を低周波雑
音除去フィルタ5、増幅器6、高周波雑音除去フィルタ
7を経てRM S −D C変換器8に供給してR9M
値をDC(直流分)として取出し、このDC信号をロー
パスフィルタ9に供給して光ディスクの再生時の面ふれ
、偏心等の影響を除去し最終的にジッター晴として出力
する。
次に入力信号の周期弁別を行うサンプリングパルス発生
回路lの更に詳細な説明を行う。
回路lの更に詳細な説明を行う。
このサンプリングパルス発生回路lは第1図の点線内に
示すように排他的01Nゲート、禁止NANDゲートI
、2.ANDゲー ト、01退ゲート1゜2、N A
N Dゲート、遅延素子τI、τ2、τ3、τ4、モノ
ステ−ブルマルヂバイブレークMMI。
示すように排他的01Nゲート、禁止NANDゲートI
、2.ANDゲー ト、01退ゲート1゜2、N A
N Dゲート、遅延素子τI、τ2、τ3、τ4、モノ
ステ−ブルマルヂバイブレークMMI。
MM 2 、 MM 3 、を図示の如く接続配置して
構成し、各素子の出力パルスQ2〜Q+4のタイムア、
−トを第2図に゛示す。サンプリングパルス発生回路l
はEFM信号のD(ディジタル)EFM信号(RTi’
(A′号を符号化即ち2値化した信号)Qlを受けて
以下に示す動作を行ってサンプリングパルスを発生ずる
。即ちDEFMQIの立ち上がり、qちドがり両エツジ
でパルスQ3を生成し、そのパルス幅は遅延回路で1に
より決まる。遅延回路τ1はその遅延時間をτI=60
[n5cc]とするが、その理由は、モノステイブル
・マルチバイブレータMMの入力パルス幅が40nse
c以上なければMMが動作しないがらである。鋸歯状波
QI5をこのパルスQ3でサンプルするには、パルス幅
が広すぎて精度的に問題となるから、遅延回路τ2で、
サンプリングパルスQ+3を生成しなおしている。中央
付近のフリップフロップF1・’は、パルスQ4とQl
lとのパルスエツジが重なった場合の誤動作防止用のも
のである。サンプリングパルス補正回路2とは、サノブ
リングパノ1ノスQI3が3Tの時間窓Q8の両側に重
な−)た場合にサンプリングパルスQI4のパルス幅が
挟まり、その結果、ミスサンプリングを呈するようにな
るためこれをサンプリングパルス補正回路2によって補
償し、人力パルス幅が狭くなっても一定のパルス幅を出
力させるものである。
構成し、各素子の出力パルスQ2〜Q+4のタイムア、
−トを第2図に゛示す。サンプリングパルス発生回路l
はEFM信号のD(ディジタル)EFM信号(RTi’
(A′号を符号化即ち2値化した信号)Qlを受けて
以下に示す動作を行ってサンプリングパルスを発生ずる
。即ちDEFMQIの立ち上がり、qちドがり両エツジ
でパルスQ3を生成し、そのパルス幅は遅延回路で1に
より決まる。遅延回路τ1はその遅延時間をτI=60
[n5cc]とするが、その理由は、モノステイブル
・マルチバイブレータMMの入力パルス幅が40nse
c以上なければMMが動作しないがらである。鋸歯状波
QI5をこのパルスQ3でサンプルするには、パルス幅
が広すぎて精度的に問題となるから、遅延回路τ2で、
サンプリングパルスQ+3を生成しなおしている。中央
付近のフリップフロップF1・’は、パルスQ4とQl
lとのパルスエツジが重なった場合の誤動作防止用のも
のである。サンプリングパルス補正回路2とは、サノブ
リングパノ1ノスQI3が3Tの時間窓Q8の両側に重
な−)た場合にサンプリングパルスQI4のパルス幅が
挟まり、その結果、ミスサンプリングを呈するようにな
るためこれをサンプリングパルス補正回路2によって補
償し、人力パルス幅が狭くなっても一定のパルス幅を出
力させるものである。
モノステイブル・マルチバイブレータMM3(10μ5
ec)は、鋸歯状波Q15の立ち下がり時゛。
ec)は、鋸歯状波Q15の立ち下がり時゛。
に負方向へのオーバーシュートかあり、この影響が次ぎ
の鋸歯状波のオフセットとならないように、10μSQ
C待つためのものである。
の鋸歯状波のオフセットとならないように、10μSQ
C待つためのものである。
鋸歯状波の傾斜は2.0 [v/μ5ecl、後段のア
ンプゲインは、10.0倍である。従って、測定値から
ジッター量への変換係数は、20.0[n5ec/V]
である。
ンプゲインは、10.0倍である。従って、測定値から
ジッター量への変換係数は、20.0[n5ec/V]
である。
次に、RMS−DC変換器を用いたジッター測定と従来
から行われているタイムインターバルカウンタによる標
準偏差σによるジッター量とを考察してみる。タイムイ
ンターバルカウンタによる標準偏差σの算出式は次式で
表される。
から行われているタイムインターバルカウンタによる標
準偏差σによるジッター量とを考察してみる。タイムイ
ンターバルカウンタによる標準偏差σの算出式は次式で
表される。
■
一■二式で、N[均値Tを零と考えて、更に、連続系で
の表現に書き直すと、次式で示すようになる。
の表現に書き直すと、次式で示すようになる。
σ−−iT’(i)di ’山 (2)]1式は、時間
軸変動を電圧変動f(L)に変更した本発明によるサン
プルホールド回路の次式で示す値と一致する。
軸変動を電圧変動f(L)に変更した本発明によるサン
プルホールド回路の次式で示す値と一致する。
V−” −5[f(t)] ’c+ t ・・・
(3)最後に、最終段に使用されている、2次のローパ
スフィルタによってディスクの再生時の面ブレ偏心等の
影響が測定値に表れるのを防止する。
(3)最後に、最終段に使用されている、2次のローパ
スフィルタによってディスクの再生時の面ブレ偏心等の
影響が測定値に表れるのを防止する。
」−述した例ではE F M信号のアイパターン中のn
T信号成分のうち周期3Tの信号成分のジッターへtを
測定する場合について説明したが、この周期は20 ’
I’周期以内であれば任意の周期に変更することかでき
る。
T信号成分のうち周期3Tの信号成分のジッターへtを
測定する場合について説明したが、この周期は20 ’
I’周期以内であれば任意の周期に変更することかでき
る。
「発明の効果コ
上述したように本発明によれば再生した信号の時間軸変
動を電圧変動に変換されたジッター量のRMS値を取出
すことにより簡単且つ迅速にジッター量の標準偏差を取
出すことができる。
動を電圧変動に変換されたジッター量のRMS値を取出
すことにより簡単且つ迅速にジッター量の標準偏差を取
出すことができる。
第1図は本発明ジッター量測定値の構成を示すブロック
図、 第2図は第1図の装置の種々の個所の信号波形を示すタ
イムチャート図である。 l・・サンプリングパルス発生回路 2・・・サンプリングパルス補正回路 3・・・鋸歯状波発生回路 4・・・サンプルホールド回路 5.7・・・フィルタ 6・・増幅器 8・・・RM S−D C変換器 9・・・ローパスフィルタ 第2図 1戸2
“ −手続補正書く自発
) 昭和61年9月5 日 l、事件の表示 昭和61年特許願第108172号 住 所 東京都渋谷区幡ケ谷2丁目43番2号4、代
理 人 6、補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明−」の欄 7、補正の内容 (1)明細書第8頁を別紙の通り補正する。 8、添付書類の目録 (1)別 紙 1通」一式で、
11均値Tを零と考えて、更に、連続系での表現に古き
直すと、次式で示すようになる。 」二人は、時間軸変動を電圧変動f (t)に変更した
本発明のサンプルホールドされた値をrLMS−D C
’&換する回路の次式で示す値と一致する。 最後に、最終段に使用されている、2次のローパスフィ
ルタによってディスクの再生時の面ブレ偏心等の影響が
測定値に表れるのを防止する。
図、 第2図は第1図の装置の種々の個所の信号波形を示すタ
イムチャート図である。 l・・サンプリングパルス発生回路 2・・・サンプリングパルス補正回路 3・・・鋸歯状波発生回路 4・・・サンプルホールド回路 5.7・・・フィルタ 6・・増幅器 8・・・RM S−D C変換器 9・・・ローパスフィルタ 第2図 1戸2
“ −手続補正書く自発
) 昭和61年9月5 日 l、事件の表示 昭和61年特許願第108172号 住 所 東京都渋谷区幡ケ谷2丁目43番2号4、代
理 人 6、補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明−」の欄 7、補正の内容 (1)明細書第8頁を別紙の通り補正する。 8、添付書類の目録 (1)別 紙 1通」一式で、
11均値Tを零と考えて、更に、連続系での表現に古き
直すと、次式で示すようになる。 」二人は、時間軸変動を電圧変動f (t)に変更した
本発明のサンプルホールドされた値をrLMS−D C
’&換する回路の次式で示す値と一致する。 最後に、最終段に使用されている、2次のローパスフィ
ルタによってディスクの再生時の面ブレ偏心等の影響が
測定値に表れるのを防止する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光学式情報記録再生装置の光ピックアップにより再
生された符号化信号のジッター量を測定するに当たり、
ジッター量の標準偏差をRMS値の直流分に置換する手
段を備えることを特徴とするジッター量測定装置。 2、符号化信号の標準偏差をRMS値の直流分に置換す
る手段は、符号化信号の時間軸変動を電圧変動分に変換
する手段と、この電圧変動分を受けてRMS値の直流分
に変換する手段とを備えることを特徴とする特許請求の
範囲第1項に記載のジッター量測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61108172A JP2533852B2 (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | ジツタ−量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61108172A JP2533852B2 (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | ジツタ−量測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62264449A true JPS62264449A (ja) | 1987-11-17 |
JP2533852B2 JP2533852B2 (ja) | 1996-09-11 |
Family
ID=14477810
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61108172A Expired - Lifetime JP2533852B2 (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | ジツタ−量測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2533852B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006227009A (ja) * | 2005-02-14 | 2006-08-31 | Advantest Corp | ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、試験装置、及び電子デバイス |
JP2007040742A (ja) * | 2005-08-01 | 2007-02-15 | Yokogawa Electric Corp | ジッタ測定装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5613884A (en) * | 1979-07-12 | 1981-02-10 | Pioneer Video Corp | Tangential servo control signal generator for recorded information reproducer |
-
1986
- 1986-05-12 JP JP61108172A patent/JP2533852B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5613884A (en) * | 1979-07-12 | 1981-02-10 | Pioneer Video Corp | Tangential servo control signal generator for recorded information reproducer |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006227009A (ja) * | 2005-02-14 | 2006-08-31 | Advantest Corp | ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、試験装置、及び電子デバイス |
JP2007040742A (ja) * | 2005-08-01 | 2007-02-15 | Yokogawa Electric Corp | ジッタ測定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2533852B2 (ja) | 1996-09-11 |
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