JPS62257066A - 回転式フレキシブルコンタクトプロ−ブ - Google Patents

回転式フレキシブルコンタクトプロ−ブ

Info

Publication number
JPS62257066A
JPS62257066A JP61099443A JP9944386A JPS62257066A JP S62257066 A JPS62257066 A JP S62257066A JP 61099443 A JP61099443 A JP 61099443A JP 9944386 A JP9944386 A JP 9944386A JP S62257066 A JPS62257066 A JP S62257066A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
probe
substrate
plunger
rotating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61099443A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeo Kiyota
茂男 清田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
YAMAICHI SEIKO KK
Kiyota Manufacturing Co
Original Assignee
YAMAICHI SEIKO KK
Kiyota Manufacturing Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by YAMAICHI SEIKO KK, Kiyota Manufacturing Co filed Critical YAMAICHI SEIKO KK
Priority to JP61099443A priority Critical patent/JPS62257066A/ja
Publication of JPS62257066A publication Critical patent/JPS62257066A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は、プリント配線基板(ベアボード、インサーキ
ット′¥−)の電気回路の断線、ショート等を点検する
プリント基板検査用のコンタクトプローブに関するもの
である。
「従来技術及びその問題点」 従来プリント配!Ia基板の電気回路の断線、ショート
等を検査するには、第3図に示すように、プローブカー
ドl上に取り付けられたタングステンプローブ2の先端
を少し曲げて、これを基板3の導電部に押し付けること
により行なっていた。
しかるに、L記方法によれば、プローブの接触部を検出
基板の導電部に押し付けるだけのため、接触状況が必ず
しも確実ではなく、不安定の場合が起り得る欠点があっ
た。そればかりか、上記方法はタングステンプローブの
極めて細い先端を少し曲げて接触させるものであるが、
このタングステンの曲げ加■二が極めて難しく手間がか
かり、しかも品質も安定しない欠点があると共にプロー
ブカードににタングステンプローブを取り付は回路を引
き出すセッテングが極めて面倒且つ不確実であるほか、
タングステンの先端が折れ易く、交換に手間がかかり、
無駄な工数が掛かる等のセ−・テングに於ける非常に多
くの難点があった。
この発明は、E配下安定な接触とかセツティングにおけ
る多くの問題点を解消し、確実な接触を可能とし、また
セツティングを非常に筒中にしたコンタクトグローブを
提供することを目的としている。
「問題点を解決するための手段」 上記の目的を達成するため、本発明にあっては、フレキ
シブルな針状接触子と、該接触子を嵌合するフレポジプ
ルなガイドチューブと、前記接触子を回転させる手段と
を具備してなり、前記接触子を回転させることにより被
測定面の耐化被膜を確実に剥ぎとり、接触子と基板とを
常に確実に接触し得るようにしたことを特徴とする。
「実施例」 以下に、本発明の望ましい実施例を図面を参照しながら
説明する。
第1図に示すように、本発明のコンタクトプローブ11
は、被測定面に接触するフレキシブルな細長い針状接触
f−17′と、該針状接触子!2を嵌合するフレキシブ
ルなガイドチューブ13と、前記接触子の後端に嵌合す
るプランジャー14と、該プランジャー14に絶縁体1
5を介して嵌合させた歯+16とを具備している。
細長いガイドチューブ13の後端は、スリーブ17に嵌
合されており、該スリーブ17の後端は、第1取付板1
8に嵌合固定されている。
接触予後端を嵌合したプランジャー14の後部は、第2
取付板20に摺動自在に嵌合されている。
プランジャー14には、絶縁体15を介して歯車16が
嵌合されており、そして前記絶縁体15と第2取付扱2
0との間には、スプリング19が外嵌され、該スプリン
グ!9により、接触子12は、絶縁体15及びプランジ
ャー14を介してノ、(板に弾性当接している虜中16
は、例えばラックギヤを歯合させるとか或いは他の歯車
を歯合させるとかすることによって回転させる。このラ
ックギヤ若しくは他の歯巾は、モータ等によって駆動さ
せればよい、また、このような歯巾を使用することなく
、例えばマグネット方式等によって回転させてもよいの
は勿論である。
プランジャー14の後端部には、ネジ部が形成され、該
ネジ部には、内周面にネジ部を形成した円筒状の微調整
ネジ21が螺合され、該微調整ネジ21を回転させると
、プランジャー14が上下動するように構成されている
プランジャー14の後端には、径を若干小さくした中径
部25が一体的に連結され、該中径部25には更に径を
小さくした小径部22が一体的に連結されている。尚、
リード線は、この小径部22に接続される。
「作用」 次に、上記のように構成され九未発用の作用を説明する
第2図に示すように、基板26上面に配置した第1の取
付板18、第2の取付板2o及び第3の取付板23には
、コンタクトプローブ11を装着するための貫通孔が形
成されている。
未発1!1のコンタクトプローブ11は、この貫通孔に
挿入するだけで装着できる。この本発明のコンタクトプ
ローブは、 LSI 、I(1:等の回路及びプリント
基板」二の回路、シリコンウェハー上の微細回路等の所
要回路の検出用に使用される。
未発f!1のコンタクトプローブを使用して上記検査を
するには、まず、本発明のコンタクトプローブを図に示
すように装着させる。尚、第3図に於いては、コンタク
トプローブを3個配匠したところを示しているが、実際
には数十〜数百配置するものである。本発明のコンタク
トプローブは、接触子及び該接触子を嵌合するガイドチ
ューブがフレキシブルな材料から形成されているので、
図に示すように屈曲させてセツティングすることができ
る。
ついで、微調整ネジ21を回転させて、接触子12の先
端が基板26を押圧した後、ラックギヤ−24をモータ
等の動力手段によって、第3UgJに於いて左右に移動
させる。このようにして、ラックギヤー24に歯合する
歯+16が回転し、絶縁体15、プランジャー14を介
して、接触子12先端が回転する。この接触子12の回
転により、基板の導M1部の醇化被膜が確実に剥ぎとら
れ、被測定面と接触子との確実な接触を確保することが
できる。
「発明の効果」 以上述べた如く本発明によるときは、接触子とガイドチ
ューブとが、フレキシブルな材料から形成されているの
で、本発明のコンタクトプローブは、自在に屈曲させて
セツティングできるので、上方から中に取付板の貫通孔
に差し込むだけでセツティングができ、セツティングが
極めて簡略化されると共に、接触子が回転するため、回
転により接触面の酸化被膜を確実に剥ぎとり、被測定面
と接触子との確実な接触を確保することができるので、
プローブコンタクトには安定して電流が流れ、その為プ
リント配線基板の試験精度が飛躍的に向、ヒする。また
、接触子をフレキシブルに形成しているので、病むこと
がなく、永く安定した状態で使用することができる。
【図面の簡単な説明】
第114は、本発明の実施例を示す断面図、第2L4は
、本発明のプローブコンタクトの使用状態を示す概略図
、 第3図は、従来のプローブコンタクトの使用状Eを示す
概略図である。 図中。 11・・・コンタクトプローブ、12・・・接触子、1
3・・・ガイドチューブ、14・・・プランジャー、1
6・・・tJi1+、24・・・ラックギヤー 特許出願人   株式会社 山 −精工有限会社 清 
[H製作所 代理人 弁理士  稲 垣 仁 義 第 2 図 第3図 手続上91正書(方幻 昭和81年5月1口2日

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)フレキシブルな針状接触子と、該接触子を嵌合す
    るフレキシブルなガイドチューブと、前記接触子を回転
    させる手段とを具備してなり、前記接触子を回転させる
    ことにより被測定面の酸化被膜を剥ぎとり、被測定面と
    接触子との確実な接触を確保するようにしたことを特徴
    とする回転式フレキシブルコンタクトプローブ。
  2. (2)前記接触子を回転させる手段が、接触子の後端に
    嵌合させたプランジャーと、該プランジャーに嵌合させ
    た歯車とからなり、該歯車を回転させることにより、前
    記プランジャーを介して前記接触子を回転させる特許請
    求の範囲第1項に記載のコンタクトプローブ。
JP61099443A 1986-05-01 1986-05-01 回転式フレキシブルコンタクトプロ−ブ Pending JPS62257066A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61099443A JPS62257066A (ja) 1986-05-01 1986-05-01 回転式フレキシブルコンタクトプロ−ブ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61099443A JPS62257066A (ja) 1986-05-01 1986-05-01 回転式フレキシブルコンタクトプロ−ブ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62257066A true JPS62257066A (ja) 1987-11-09

Family

ID=14247529

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61099443A Pending JPS62257066A (ja) 1986-05-01 1986-05-01 回転式フレキシブルコンタクトプロ−ブ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62257066A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0195669U (ja) * 1987-12-18 1989-06-23
JPH01171367U (ja) * 1988-05-24 1989-12-05
JPH0451662U (ja) * 1990-09-06 1992-04-30
CN105954544A (zh) * 2016-05-24 2016-09-21 国家电网公司 一种电气试验棒

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4870153U (ja) * 1971-12-07 1973-09-04
JPS57162442A (en) * 1981-03-20 1982-10-06 Ibm Electric rpobe assembly
JPS5862275U (ja) * 1981-10-21 1983-04-26 株式会社フジクラ プリント回路板検査用プロ−ブピンソケツトの固定構造
JPS6033656U (ja) * 1983-08-12 1985-03-07 株式会社リコー コンタクトピン

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4870153U (ja) * 1971-12-07 1973-09-04
JPS57162442A (en) * 1981-03-20 1982-10-06 Ibm Electric rpobe assembly
JPS5862275U (ja) * 1981-10-21 1983-04-26 株式会社フジクラ プリント回路板検査用プロ−ブピンソケツトの固定構造
JPS6033656U (ja) * 1983-08-12 1985-03-07 株式会社リコー コンタクトピン

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0195669U (ja) * 1987-12-18 1989-06-23
JPH01171367U (ja) * 1988-05-24 1989-12-05
JPH0451662U (ja) * 1990-09-06 1992-04-30
CN105954544A (zh) * 2016-05-24 2016-09-21 国家电网公司 一种电气试验棒

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002090410A (ja) 基板検査用検査治具および該検査治具を備えた基板検査装置
EP0766829A2 (en) Method of cleaning probe tips of probe cards and apparatus for implementing the method
JPS62257066A (ja) 回転式フレキシブルコンタクトプロ−ブ
JP2008102070A (ja) 電子部品検査プローブ
JP2936569B2 (ja) 選別装置
JP3314703B2 (ja) プローブ装置のコンタクトピンクリーニング方法およびクリーニング装置
JP3458705B2 (ja) 高周波用プローブ装置
JP2759451B2 (ja) プリント基板検査治具
JP3076424B2 (ja) 回路基板検査方法と検査基板並びに回路基板検査装置
JP3230857B2 (ja) 印刷配線回路の検査方法
JPH08254569A (ja) 電子基板用検査治具
KR0162162B1 (ko) 실리콘 웨이퍼의 미소빔 형성장치
JP2004150981A (ja) 半導体装置の電気的特性測定装置及び電気的特性測定方法
JPH0729839U (ja) 垂直スプリング式プローブカード
JPH01263572A (ja) 半導体塔載基板試験装置
JPS59206776A (ja) プリント配線板の検査装置
KR100251869B1 (ko) 모듈의 신호측정용 패키지고정장치
JP2890180B2 (ja) 電子回路へのアクセスを提供するための給受電制御プローブの製造方法
JPH0513046U (ja) 半導体プローブボードの検査装置
JPS63168579A (ja) 電子回路の試験方法
JPH0749355A (ja) 検査・試験用プローブ装置とプローブ装置取付構造
JPS63142275A (ja) 導電パタ−ンの検査方法
JPH01254872A (ja) 電子部品実装基板の検査方法及び検査プローブ
JPH05232138A (ja) 回路基板検査用プローブ
JPH02310480A (ja) 測定用治具