JPS62248151A - 光磁気再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光磁気再生装置に係り、特に光磁気記録媒体に
複屈折が生じた場合にもこれを補正し、良好な信号が得
られる光学ヘッドに関するものである。

〔従来の技術〕

従来の光磁気再生装置は、第４６回応用物理学会学術講
演会、講演予稿集２ｐ−２Ｆ−３（昭ω−１０）に記載
のように、光磁気記録媒体からの反射制御手段によって
、ビームスプリッタおよび光磁気記録媒体等の位相差を
補正し、検光子へ直線偏光のレーザ光を入射させること
により、ｃｙｐｔ比の向上をはかるものであった。

また、光学ヘッドに位相板を設けたものの例として、他
に特開昭５９−１２９９５０号があるが、これに′は位
相板として１／４波長板が用いられ、レーザ光の往復に
よって、偏光方向を（社）°回転させるために用いてい
る。さらに同発明では、この位相板を光軸に対して一定
角度傾けて配置することにより、位相板１面の反射光が
、光源（レーザ）へ戻るのを防止する構成をとっている
。

さらにこの１／４波長板に関しては、特公昭５２−４９
４８号にて、波長板の構成と位相差の関係が述べられて
いる。同発明には、１７４波長板の厚み、光学軸の傾き
等を変えた場合の位相変化について記載されているが、
この波長板の具体的な応用については触れていない。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上記した従来技術のうち、第４６回応用物理学会学術講
演会、講演予稿集２ｐ−ｚＦ−３（昭ω−１０）では、
位相制御手段が光磁気記録媒体の反射光中にのみ設けら
れているため、該記録媒体にレーザ光が入射する際に生
ずる位相差については配慮がされておらず、さらに該記
録媒体で位相差を生じ、楕円偏光となったレーザ光が、
ビームスプリッタへ入射することにより生ずる、ビーム
スプリッタの偏光特性の変化についても配慮されていな
かった。

また、上記従来技術の他の２件においては、光磁気記録
媒体の位相差を補正するような配慮はなされておらず、
また光学ヘッドに位相板を用いたものでも、その目的と
する用途は、本発明とは異なるものであった。

本発明の目的は、光磁気記録媒体にレーザ光が入射およ
び反射する際に生じる位相差等の複屈折を、光学ヘッド
に複屈折補正機能をもたせることによって補正し、再生
信号振幅が最大に得られるようにて、ＣＩ比を向上させ
ることにある。

〔問題点を解決するための手段〕

この目的を達成するために、本発明では、波長板、また
はバビネ補正器およびソレイユ補正器等を用いた複屈折
補正手段を、レーザ光が光磁気記録媒体に入射および反
射する平行光路中に設けた。

さらに本発明では、検出した再生信号の振幅が最大とな
るように、あるいはレーザ光中のＤＣ光量が最大または
最小になるように、ウオブリング法などにより補正手段
を制御する。

〔作用〕

本発明では、レーザ光中の複屈折を補正して、再生信号
振幅を最大に得るため、複屈折が変化する方向に補正手
段を一定周波数でウオブリングし、まず信号振幅の包ｍ
ｓ検波出力から、バンドパスフィルタによりウオブリン
グ周波数成分を検出し、この信号とウオブリング信号と
の乗算結果を、ローパスフィルタを通して得た制御信号
にて、補正手段を動作させることにより複屈折補正を行
なう。

あるいは、光磁気記録媒体から反射されたレーザ光の一
部を、偏光子によって光検出器へ導き、光電変換した信
号からバンドパスフィルタによりウオブリング周波数成
分を検出し、この信号とウオブリング信号との乗算結果
を、ローパスフィルタを通して得た制御信号にて補正手
段を動作させること番こより、複屈折補正を行なう。

ここで、補正手段が波長板の場合には、光軸に対する波
長板の結晶軸の角度を変えたり、あるいは補正手段がバ
ビネ補正器またはソレイユ補正器のときは、複屈折結晶
の光軸上の厚みを変えることによって、光磁気記録媒体
の複屈折を補正する。

これにより、光磁気記録媒体にレーザ光が入射する際、
複屈折としてレーザ光へ加わるＰ偏光とＳ偏光の位相差
がδＤであったとき、補正手段によって、絶対値が等し
く符号の異なる一δＤという位相差を与えることによっ
て、結果的に光磁気記録媒体の記録膜へ入射するレーザ
光中の位相差δ！Ｎを、 δＩＮ”δＤ＋（−δＤ）＝０　　　　　　（１１とし
て補正する。また反射光では、入射と同じく記録媒体か
らレーザ光へは、同符号のδＤの位相差が加わるため、
再たび補正手段により、符号の異なる一δＤの位相差を
与えることによって、検出系へ入射するレーザ光中の位
相差δＯＵＴをδＯＵＴ　”δＤ＋（−δＤ）＝０　　
　　　＋ｚ＋として補正する。

その結果、光磁気記録媒体および検出系へは常に直線偏
光が入射し、再生信号振幅を最大に得ることができ、Ｃ
７Ｎ比を向上することができる。

〔実施例〕

以下、図面を参照して本発明の実施例につき説明する。

第１図は、本発明の第１の実施例である光磁気再生装置
を示したものである。本実施例は、検出した再生信号振
幅が最大になるように補正手段を制御し、複屈折（ここ
では位相差を例にとる）を補正するものである。この図
において、１は光反射性の磁気記録膜２、およびカバー
ガラス３を有する光磁気ディスクであり、モータ４によ
って回転する。記録信号の再生は、直線偏光光源である
半導体レーザ５から出るレーザ光が、コリメートレンズ
６により平行光とされ、ビーム整形プリズム７でほぼ円
形の光強度分布に整形されたのち、ビームスプリッタで
ある第１の偏光子８で、一部を反射し、残りを透過する
。このうちの透過レーザ光は、さらに補正手段９（ここ
では位相板）およびミラー１０を介して、対物レンズ１
１により集光され、カバーガラス３を透過して記録膜２
上に照射される。このとき、記録膜２に照射されたレー
ザ光は、カー効果によって、記録膜２の記録部および未
記録部の磁気モーメントの配向状態により偏光面が変化
する。（すなわちカー回転を生じる。）また、この第１
図において、位相板９から光磁気ディスク上側（紙面の
左側）の部分は、レーザ光の光軸まわりに９０°回転し
た状態を示している。

さらにこの記録膜２からの反射光は、再たびカバーガラ
ス３を透過したのち、対物レンズ１１で平行光に戻り、
ミラー１０および位相板９を介して、第１の偏光子８で
、カー効果による信号成分を含む偏光方向のレーザ光（
本実施例ではＳ偏光）がほぼ全て反射され、これと９０
°の位相差のある偏光成分（本実施例ではＰ偏光）は、
一部反射し残りを透過される。このＳ偏光およびＰ偏光
の反射レーザ光は、さらにビームスプリッタである第２
の偏光子１２により、偏光子８と同様にＳ偏光はほぼ全
てを反射、Ｐ偏光は一部を反射、残りを透過する。ここ
で透過したレーザ光は、凸レンズ１３で集光され、円柱
レンズ１４を介してサーボ用光検出器１５に入射する。

このサーボ用光検出器１５は、その検出方法に応じて複
数に分割されており、それらの出力信号を処理して、フ
ォーカス誤差信号およびトラック誤差信号（検出法は省
略）を得て、ディスク上上にレーザ光が正確に位置決め
されるように、対物レンズを制御する。一方、第２の偏
光子１２で反射したカー効果による信号成分を含むレー
ザ光は、凸レンズ１６で集光され、偏光ビームスプリッ
タ１７に入射して二分岐される。二分岐されたレーザ光
のうち、一方は、第１の光検出器１８ａに入射し、また
他方は、第２の光検出器１８　ｂに入射し、それぞれ電
気信号へ変換される。本実施例では、このレーザ光を二
分岐する手段として偏光ビームスプリッタを用いたので
、これらの二分岐されたレーザ光のそれぞれが、検光子
を通過したことになる。したがって、検光子１７と第１
の光検出器１８αは、第１の光電変換系１９を構成し、
また検光子１７と第２の光検出器１８　Ａは、ＷＪ２の
光電変換系加を構成することになる。さらにこれらの光
検出器１８α、１８ｂで検出された信号は、プリアンプ
２１および２２で増幅され、差動回路２３に入力される
。差動回路四では、プリアンプ２１または２２により入
力された各信号の同位相の成分が差し引かれ、同時に逆
位相の成分が加算されることから、再生信号の邊幅は２
倍となって出力２４される。

次に、この光磁気ディスク１の記録膜２上、および第２
の光￥を変換系１９．２０にて検出される信号について
、第２図および第３図を用いて説明する。

第２図は、光磁気ディスク上の記録ＰＡ２．および検光
子１７に入射するレーザ光が直線偏光である場合の再生
信号を示したものである。この図においｒ−，１０１お
よび１０２は、レーザ光のＰ偏光およびＳ偏光方向、１
０３および１０４は、第１図の検光子１７におけるＰ偏
光またはＳ偏光の偏光方向を示している。図に示すよう
に、レーザ光が記録膜２に照射されると、その反射レー
ザ光は、記録部と未記録部にて、角度θにおよび一〇に
の偏光面の回転を生ずる。この現象がカー効果であり、
この回転角θＩはカー回転角と呼ばれる。さらに本実施
例では、？４１図に示すように差動検出の構成をとって
いるため、検光子１７のＰ偏光およびＳ偏光面に、同−
振幅の再生信号が得られるように、その偏光方向１０３
および１０４は、レーザ光の偏光方向１０１および１０
２に対して、約４５°に傾けである。この第２図におい
ては、入射レーザ光がＰ偏光の直線偏光であり、これに
カー回転が生じ、直線偏光１０５および１０６となるこ
とから、再生信号は蛋幅ｄ、およびｄ、にて検出される
。

欠番こｗ１３図は、光磁気ディスク上に位相差が存在し
、記録膜２および検光子１７番こ入射するレーザ光に、
この位相差が加わって楕円偏光となった場合の再生信号
を示したものである。この図において、第２図と同一番
号を付したものは、同一部分である。図のように、再生
信号が楕円偏光１０７および１０８の場合は、レーザ光
中に位相差が無い場にはＰ偏の直線偏光であったものが
、位相差により楕円偏光となるために、Ｐ偏乞成分が減
り、その分、新たにＳ偏光成分が生じる。このため、検
出される信号振幅４およびｄ≦が、第２図の直線偏光の
ときに検出される振＠ｄ１およびｄ、に比べて小さくな
る。この楕円偏光１０７および１０８は、光磁気ディス
ク１のカバーガラス３に、レーザ光が入射および反射す
る際に生ずる、Ｐ偏光とＳ偏光との位相差によるものが
王であり、カバーガラス３の材料として、ポリカーボネ
ート等のプラスチ。

りを用いた場合、特に大きな位相差を生じる。

上記したように、光磁気ディスク１で位相差が与えられ
たことにより、レーザ光が偏光子８へ入射する際に、す
でに楕円偏光１０７および１０８になっており、位相差
が零の直線偏光１０５および１０６に比べて、Ｐ偏光光
量が減少し、Ｓ偏光光量が増加している。したがって、
位相差を零と仮定して、光検出器１５および１８α、１
８ｈで得られるべきＰ偏光およびＳ偏光光量から、偏光
子８と臣のＰ偏光透過率および反射率、Ｓ偏光透過率お
よび反射率を設計すると、結果的に位相差が加わった場
合には、偏光子８へ入射するレーザ光のＰ、　　Ｓ偏光
光量が変わるため、上記各光検出器では設計値とは異な
る光量の信号が検出され、見かけ上、偏光子８および１
２の偏光特性が変化してしまうことになる。

本発明は、このように光磁気再生装置ｌこおいて多くの
整置をもたらすレーザ光中の位相差を、位相板９により
補正することにより、常に第２図に示すような直線偏光
とし、良好な再生信号を得ようとするものである。

そこで、この位相板９につき、より具体的に説明する。

第４因〜第６図は、−例として、結晶軸１０９が光軸４
１と平行な波長板９を、また第７図〜ｇ９図は、結晶軸
１１０が光軸４１に斜交する波長板９を、位相板として
用いた場合の偏光特性を示したものである。これらの図
において、第１図〜第３図と同一番号を付したものは、
同一部分である。

第４図に示す波長板９は、光軸４１に画面、すなわち第
５図においてθ＝ｏ’のとき、第６図における位相差δ
＝ｏ’であるが、Ｐ偏光方向１０１またはＳ偏光方向１
０２に角度θ傾けると、第６図の４２または招のごとく
、位相差δが変化する。また第７図に示す波長板９は、
第８図のように、傾きθをθ、〜θ、のように変えるこ
とにより、第９図の４２または４３のごとく、位相差δ
が変化する。したがって御１図に示すように、これらの
位相板９を、光磁気ディスク上ヘレーザ光が入射および
反射する光路中に設置し、光磁気ディスク上で生ずるＰ
偏光およびＳ偏光の位相差と逆の位相差（すなわち、光
磁気ディスク上にて位相が遅れた場合は、位相板９にて
位相すすみ要素を、または各々の逆）を与えることによ
り、位相補正がなされ、記録膜２および検光子１７への
入射光を直線偏光とし、良好な再生イｇ号が得られるも
のである。

ここで、第４図〜第９図に示した波長板９は、第６図お
よび第９図に示す位相差δの正負の中心値を、１８０°
の整数倍に選ぶことが望ましい。またここでは位相板と
して波長板を例に示したが、これ以外の位相制御手段、
例えばバビネ補正器およびソレイユ補正器、または単に
光弾性効果等を用いた位相板等を用いても、同様な効果
を得ることができる。

次ζこ、位相制御方法につき説明する。

第１図において、詔は、位相板９を動作させることによ
り位相差を生じせしめるアクチュエータ、また２５はウ
オブリング信号発生回路、２６は加振回路であり、アク
チュエータηを用いて、位相差を発生する方向に位相板
９をウオブリングする。２７は包絡線検波器であり、差
動回路Ｕの出力から再生信号の振幅、すなわち信号中の
ＡＣ成分を包絡線検波する。また詔はバンドパスフィル
タ、四は乗算器であり、バンドパスフィルタあの出方信
号と、ウオブリング信号発生回路５より出力されるウオ
ブリング信号をアナログ乗算する。さらに３０はローパ
スフィルタ、　３１は位相板駆動回路でありアクチュエ
ータ化を駆動することにより、第４図〜第９図に示した
ように、位相板９を傾けて位相補正を行なう。

これらの動作につき、さらに図面を用いて説明する。第
１０図は、再生信号振幅ｄ１すなわち信号中のＡＣ成分
と、レーザ光中の位相差σの関係を示したものである。

図の曲線材に示すように、レーザ光中の位相差δ＝０．
すなわちδＧのときは振幅ｄが最大値となるが、位相差
を生じたとき、すなわちδ、またはδ、のときには、振
幅ｄが減少する。

曲線４４がこのような軌跡をたどるとき、レーザ光中に
δ。〜δ、の位相差があると、アクチュエータηが、ウ
オブリング信号発生回路５および加振回路２６により発
生する。ウオブリング信号４５にて加振されると、再生
信号振幅中に４６〜４８のごときウオブリング周波数成
分を生ずる。すなわちレーザ光中の位相差がＯ（δ。）
のときには、ウオブリング信号４５の振幅中心で再生信
号撮＠ｄが最大となり、位相差ａが正、負のいずれに変
化しても、振幅ｄが低下するため、４６のような、ウオ
ブリング信号４５の２倍の周波数の信号が検出される。

これに対して、位相差がδ、およびδ、のときは、４７
および４８に示すように、ウオブリング信号４５と同一
周波数で、振幅および位相が変調された信号が検出され
る。この信号４７および刑は、曲線４４の傾きが異なる
位置、すなわち位相差δの符号が異なるときに検出され
た信号であるため、周期に一致しているが、位相が逆転
している。

ところで、実際に検出される再生信号蚕＠ｄの包絡線波
形は、第１１図（１）に示されるように、ウオブリング
周波数成分による変調を受ける。この図で、１１１は再
生信号振幅である信号中のＡＣ成分を示す。このＡＣ成
分１１１は、包絡線検波器２７で包絡線検波され、さら
にバンドパスフィルタあで、再生信号である高周波成分
、およびトラッキング、フォーカシング等の低周波成分
が除去されることにより、（ＩＩ）に示すような振幅と
位相が変調された信号１１２が検出される。したがって
、この信号にはウオブリング周波数成分が含まれており
、位相差δ＝０（δ０）で０となり、δの符号によって
位相が逆転している。この信号１１２は、さらに（１０
１ｉこ示すウオブリング信号発生回路５より出力される
ウオブリング信号１１３と、乗算器２９にてアナログ乗
算され、その結果、（転）に示す乗算出方、すなわち位
相検波出力１１４が得られる。そしてこの乗算出力１１
４から、さらにローパスフィルタ３ｏにより、ウオブリ
ング周波数成分を除去すると、（Ｖ）に示すような信号
１１５が得られる。この信号１１５は、出力Ｏで位相差
δ＝０（δ。）をよぎり、且つ位相差δが正または負の
場合には極性が異なり、位相差量に応じて出力が増加す
ることから、この信号１１５を用いて位相補正を行なう
ことができる。すなわち、この位相制御信号１１５が０
になるように、位相板駆動回路２９によりアクチュエー
タηを制御すれば、レーザ光中の位相差δをＯに補正す
ることができる。

このように本発明によれば、光磁気ディスク１の記録膜
２、および検光子１７へ入射するレーザ光を直線偏光に
補正するため、再生信号振幅ｄを最大に得ることができ
、φ比を向上することができる。さらに偏光子８にもほ
ぼ直線偏光に補正したレーザ光が入射するため、偏光子
８および１２において、所定の偏光特性を得ることがで
きる。

次に、位相板９を駆動させるアクチュエータ非について
説明する。

第１２図は、このアクチュエータηの一実施例を示した
ものであり、また第１３図は、第１２図のＡＡ１１ｆ＋
［Ｉ￥ｒである。各図において同一番号を付したものは
同一部分であり、５１はプラスチック等の非磁性材料か
らできているアクチュエータ非全体のハウジング、５２
および５３は、共に鉄等の磁性材料からできている鉄心
であり、５２が内部に永久研石５７を含む固定鉄心、５
３は支持部材５５により、矢印１１６方向へ回転する可
動鉄心である。また５４は、可動鉄心５３の周囲に巻か
れたコイル、５６は、位相板９を可動鉄心郭へ固定する
ための部材である。

このように構成したことから、固定鉄心５２および可動
鉄心５３には、図中の破線矢印１１７に示すような磁界
が発生しており、さらにコイル８には、加部回路２６お
よび位相板駆動回路２９より、各制御信号に応じた電流
が流されるため、可動鉄心５３は矢印１１６方向へ回転
する。したがって位相板９は、その信号電流によってθ
方向に傾斜制御され、その結果、位相板９を透過するレ
ーザ光に位相差を与えてこれを補正することができる。

また、これまでに述べた位相差は、光磁気ディスク１以
外の光学素子、例えば対物レンズ１１、ミラー１０、偏
光子８，１２などにおいても発生する。

そこでこの場合も上述したのと同じ方法で、光磁気ディ
スク１およびその他の光学素子の位相差を合わせて、位
相板９で位相補正を行なえば、レーザ光を直線偏光とす
ることができ、Ｃ７Ｎ比を一層向上することができる。

さらに、これらの実施例では、光検出器１８αおよび１
８　ｈを用いた２個の検出系による差動検出法を示した
が、本発明はこのような差動検出ではなくて、１個の検
出系でもよく、プリアンプ２１または２２の出力を包絡
繊検波器ｎへ入力しても、同様の効果が得られる。

欠番こ、第１４図は本発明の第２の実施例である光磁気
再生装置を示したものである。本実施例は、レーザ光中
のＤＣ光量が最大または最小になるよう番こ補正手段を
制御し、複屈折（ここでは位相差を例にとる）を補正す
るものである。

上記第２図および第３図で述べたように、レーザ光中に
位相差が発生すると楕円偏光となるため化、Ｐ偏光成分
のＤＣ光量が減り、Ｓ偏光成分のＤＣ光量が増える。

まず、光磁気再生装置各部のＤＣ光量から説明する。

第１５図はこのＤＣ光量の変化を示したものである。す
なわち、第１５図（１）は第１４図におけるＸ点、また
（ＩＩ）はＹ点、（［ｌ）は２点におけるＰ偏光および
Ｓ偏光を含むＤＣ光量であり、これらの値は、光磁気デ
ィスク１より検出系へ反射された光量を１とする相対値
で表わしたものである。各図において、縦軸ｄは各Ｘ、
Ｙおよび２点におけるＤＣ光量、δはレーザ光中に含ま
れる位相差である。本実施例では、カー効果によりＳ偏
光側に信号成分が含まれる構成としたため、第２図およ
び第３図に示すように、Ｐ偏光のみの直線偏光であった
ものが、レーザ光中に位相差δを生じて、楕円偏光とな
り、Ｐ偏光のＤＣ光量が減り、その分析たにＳ偏光のＤ
Ｃ光量が発生する。したがって、第１４図のＸ点、すな
わち再生信号検出系では、偏光子８および１２で、発生
したＳ偏光成分がほぼ全て反射されることから、第１５
図（１）の曲線６１　Ｘのように、位相差δの増加に伴
いＤＣ光量ｄは増加する。また第１４図のＹ点、すなわ
ちサーボ信号検出系では、偏光子１２がＰ偏光の一部を
透過するのみであるから、第１５図（ＩＩ）の曲線６１
　Ｙのように、位相差δの増加によってＤＣＣ光量は減
少する。さらに第１４図の２点では、楕円偏光となった
ことにより新たに生ずるＳ偏光成分は、偏光子８にてほ
とんど全てが反射され、一方Ｐ偏光成分はＳ偏光成分が
発生しただけ減少しても、その一部しか反射されないた
め、結果として第１５図（Ｉｖ）の曲線６１　Ｚに示す
ように、位相差δの増加に伴いＤＣＣ光量は増加する。

ここでこの２点のＤＣ光量は、Ｘ点およびＹ点における
ＤＣ光量の和として得ることができる。

次に、本実施例における位相制御方法につき説明する。

第１４図において、第１図と同一番号を付したものは同
一部分である。さらに（資）は加算回路であり、光検出
器１８αおよび１８　ｂに検出される逆相成分であるＡ
Ｃ成分はキャンセルし、同相成分であるＤＣ成分を加算
出力する。したがってこの加算回路（資）から出力され
る信号は、図中のＸ点におけるＤＣ光量を表わすことに
なる。

これらの動作につき、さらに図面を用いて説明する。第
１６図は、第１４図のＸ点におけるレーザ光中のＤＣＣ
光量と、位相差δの関係を示したものである。第１５図
（１）に示したように、この図の曲線６１は、レーザ光
中の位相差δ＝０．すなわちδ。のときはＤＣＣ光量が
最小値となるが、位相差を生じたとき、すなわちδ１ま
たはａ、のときには、ＤＣ光ｉｌｄが増加する。曲線６
１がこのような軌跡をたどるとき、レーザ光中にδ。〜
δ、の位相差があると、アクチュエータηが、ウオブリ
ング信号発生回路５および加振回路２６により発生する
、ウオブリング信号６２にて加振されると、ＤＣ光中に
６３〜６５のごときウオブリング周波数成分を生ずる。

すなわちレーザ光中の位相差が０（δ。）のときには、
ウオブリング信号６２の振幅中心でＤＣＣ光量が最小と
なり、位相差δが正、負のいずれに変化してもＤＣ光量
が増加するため、６４のようなウオブリング信号６２の
２倍の周波図の信号が検出される。これに対して、位相
差がδ、およびδ、のときは、６３および６５に示すよ
うに、ウオブリング信号６２と同一周波数で、振幅およ
び位相が変調された信号が検出される。この信号６３お
よび６５は、曲線６１の傾きが異なる位置、すなわち位
相差δの符号が異なるときに検出された信号であるため
、周期は一致しているが、位相が逆転している。

ところで、実際に検出されるＤＣＣ光量の波形は、第１
７図（１）に示されるように、ウオブリング周波数成分
による変調を受ける。この図で槌は、ウオブリングをし
ながら位相差δを変化させたＤＣＣ光量の変化を示す。

この信号圀は、バンドパスフィルタあで再生信号等（ア
ドレス信号など）の高周波成分と、サーボ信号等の低周
波成分が除去されることにより、（ＩＩ）に示すような
振幅と位相が変潰された信号６７が検出される。したが
って、この信号にはウオブリング周波数成分が含まれて
おり、位相差δ＝０（４）で０となり、δの符号によっ
て位相が逆転している。この信号６７は、さらに（ｉｌ
ｌ）に示すウオブリング信号発生回路５より出力さ冶ス
ｒ′７．ブ１１ング償号６８七、乗算６四にてアナログ
乗算され、その結果、潤に示す乗算出力、すなわち位相
検波出力６９が得られる。そしてこの乗算出力６９から
、さらにローパスフィルタ３ｏにより、ウオブリング周
波数成分を除去すると、（■に示すような信号７０が得
られる。この信号７０は、出力０で位相差δ＝０（δ。

）をよぎり、且つ位相差δが正または負の場合には極性
が異なり、位相差量に応じて出力が増加することから、
この信号７ｏを用いて位相補正を行なうことができる。

すなわち、この位相制御信号７０が０になるように、位
相板駆動回路２６によりアクチュエータηを制御すれば
、レーザ光中の位相差δをＯに補正することができる。

このように本発明によれば、光磁気ディスク１の記録膜
２、および検光子１７へ入射するレーザ光を直線偏光に
補正するため、再生信号振幅を最大に得ることができ、
φ比を向上することができる。さらに偏光子８にもほぼ
直線偏光に補正したレーザ光が入射するため、偏光子８
および１２において、所定の偏光特性を得ることができ
る。

また、レーザ光中に位相差が無い場合には、差動画路ｎ
から出力されるＤＣ光量成分、すなわち光検出器１８α
および１８　ｂにて検出される各ＤＣ光量の差信号はほ
ぼ零となるが、レーザ光中に位相差が加わると、第１５
図に示すような、位相差Ｏで最大または最小となるよう
な変化を生ずる。したがってこの差動回路ｎの出力をバ
ンドパスフィルタあへ入力すれば、光検出器１８αおよ
び１８　ｂで検出したＤＣ光量の差信号により、上記と
同様にして位相差を補正することができる。

また、これまでに述べた位相差は、光磁気ディスク１以
外の光学素子、例えば対物レンズ１１、ミラー１０、偏
光子８，１２などにおいても発生する。

そこでこの場合も上述したのと同じ方法で、光磁気ディ
スク１およびその他の光学素子の位相差を合わせて、位
相板９で位相補正を行なえば、レーザ光を直線偏光とす
ることができ、Ｃ７Ｎ比を一層向上することができる。

さらに上記実施例は、光検出器１８αおよび１８　Ａを
用いた２個の検出系による差動検出法を示したが１１本
発明はこのような差動検出ではなくて、１個の検出系で
もよく、プリアンプ２１または２２の出力ヲバンドパス
フィルタ四へ入力しても、同様の効果が得られる。

また上記実施例では、光磁気記録媒体（すなわち光磁気
ディスク１からの情報再生時の動作を主に述べたが、本
発明の光磁気装置は情報記録、および消去時にも同様に
して位相差補正を行なうことができる。

次に第１８図は、本発明の第２の実施例（第１４図）の
変形例を示したものである。本実施例では、図中のＹ点
におけるＤＣ光量から位相補正を行なう。

この第１８図において、第１４図と同一番号を付したも
のは同一部分であり、さらに７１および７２は、光検出
器１５から光電変換された信号を増幅するプリアンプで
あり、サーボ信号７３を出力する。７４は加算回路であ
り、プリアンプ７１および７２の出力を加算し、バンド
パスフィルタあへ出力する。ここでＹ点におけるレーザ
光は、はとんどが偏光子１２を透過したＰ偏光のＤＣ光
量成分である。このＤＣ光量は上記第１５図（ｎ）に示
したように、レーザ光中の位相差δの増加に伴なって減
少する。したがって第１６図および第１７図で説明した
、Ｘ点におけるＤＣ光量変化とは逆の特性となり、制御
の極性を反転させることにより、同様の位相補正が行え
るものである。

すなわち、第１９区およびｉ２０図はこの制御方法を示
すものであり、第１６図および第１７図と同一番号を付
したものは同一部分である。上記したように本実施例で
は、位相差δ＝０（δ。）でＤＣ光量ｄが最大となり、
レーザ光中に位相差が生じると減少する特性を示す。し
たがって、これらの図に示すように、各信号は先の第１
６図および第１７図とは逆の極性を示すが、本実施例に
おいても最終的に位相板駆動回路３１へ入力される位相
制御信号７０は、出力０で位相差δ＝０（δ。）をよぎ
り、且つ位相差δが正または負の場合には極性が異なり
、位相差量に応じて出力が増加することから、この信号
７０を用いて位相補正を行なうことができる。

さらに第２１図は、本発明の第２の実施例の別の変形例
を示したものであり、本実施例では図中の２点における
ＤＣ光量から位相補正を行なうものである。この図にお
いて、第１４図および第１８図と同一番号を付したもの
は同一部分である。また３７は加算回路であり、加算回
路印の出力（すなわちＸ点におけるＤＣ光量）と加算回
路７４の出力（すなわちＹ点におけるＤＣ光量）を加算
し、バンドパスフィルタあへ出力する。この加算回路７
５から出力される信号は、図中の２点におけるＤＣ光量
を表わすことになる。この２点のＤＣ光量は、第１５図
（ＩＩＩ）に示すように、レーザ光中の位相差δ＝Ｏに
て最小値をとり、位相差が加わることにより増加する特
性を示す。したがって、この位相差δに対するＤＣ元量
ｄの変化は、第１５図（１）に示すＸ点と同じ傾向番こ
あり、上記した第１４図および第１６図。

第１７図にて説明したのと同じ方法で、位相差を補正す
ることができる。

また本実施例のエラに、偏光子８の検出系側（２点）に
おけるＤＣ光量変化によって位相差を補正する方法は、
偏光子が１個（すなわち偏光子８のみ）で構成される光
学系においても、有効に用いることができる。

また上記した各’ｊ！Ｍ例中の補正手段９は、第４図〜
第９図にて説明した波長板であるが、これを特に第７−
〜第９図に示したような結晶ｆｉｌｌ　１１０が光軸４
１に斜交する１、／２波長版とし、第２２図に示すよう
に光軸４１に垂直な平面内において、且つ光軸４１まわ
りに角度φだけ回転して上述した制御を行えば、ディス
ク１等の位相差だけでなく、方位角の変動も合わせて補
正することができ、総合的な複屈折補正が可能となる。

この場合角度φ（ｄＣ！りは、 φ＝±（２２，５＋４５が）（３１ 但し、ルー０．　１．　２．・・・ に選ぶことが望ましい。

さらに本発明を用いれば、ディスク１以外の光学素子（
例えば対物レンズ１１など）に複屈折がある場合にも、
同様にして補正することができ、これらの部品が、複屈
折を多く生ずるプラスチック等で形成されても、　Ｃ７
Ｎ比の高い信号の再生が行なえる。

〔発明の効果〕

以上、詳細に説明したように、本発明によれば光磁気記
録媒体にレーザ光が入射および反射する際に生ずる、Ｐ
偏光と５偏との複屈折を補正することにより、光磁気記
録媒体および検光子に入射するレーザ光をほぼ直線偏光
とし、再生傷号撮幅が最大に得られるため、Ｃ７Ｎ比を
向上することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例を示す光磁気再生装置の
ブロック図、第２図〜第１３図は第１の実施例に関する
説明図、第１４図は本発明の第２の実施例を示す光磁気
再生装置のブロック図、第１５図〜第１７図は第２の実
施例に関する説明図、第１８図〜第２１図は本発明の第
２の実施例に関する変形例およびその説明図、また第２
２図は位相差と方位角の両方を補正する手段の説明図で
ある。 １・・・光磁気ディスク　　２・・・記録膜３・・・カ
バーガラス　　　５・・・半導体レーザ９・・・複屈折
補正手段　　Ω・・・アクチーエータ１０５・・・直線
偏光　　　　１０６・・・直線偏光１０７・・・楕円偏
光　　　　１０８・・・楕円偏光〒１図 Ｍ２図 党５又 陥４図　　　　　　　憤５図 罰３図 粥１０図　　　　　　　兜１１図 今り 兇１２図　　　　　　　桑１３図 仔 閉１４図 〒１５図 鋼ＩＧ霞　　　　　　　　　テ（７図 粥１８図 覗 コＩ　　　　　３１）　　　　　Ｚｊ　　　　　２８竺
１３図　　　　　　　　　兇２０図 〒２１図 手続補正書（自発） 事件の表示 昭和６１　年特許願第　８９９Ｌ６　　　号補正をする
者 ・匝との１鰻　特許出願人 名　称　　＋ｓ＋ｏ＋株式会ｉ！「１　　立　ラス　作
　折代　　　理　　　人 補正の対象　　明細書（全文）及び図面の第４図、第７
図。 補正の内容　１．　明ａＳの全文を別紙の通り補正する
。 ２、　第４図、第７図を別紙の辿り補正丁訂正　明　細
　書 一６発明の名称 光磁気再生装置 ２、特許請求の範囲 （１）直線偏光光源から出射される光を、光磁気記録媒
体に集光させる手段と、該光磁気記録媒体を反射または
透過した光の少なくとも一部を電気信号に変換する光電
変換系とを有する光磁気装置において、前記光磁気記録
媒体に入射および出射する光の複屈折補正手段と、該補
正手段を駆動、制御する制御手段とを設けたことを特徴
とする光磁気再生装置。 （２）該複屈折補正手段を、複屈折が変化する方向に一
定周波数でウオブリングし、一方、該光電変換系により
、該光磁気記録媒体を反射または透過して偏光面が変化
したＡＣ光量成分を検出し、この再威信号振幅の包路線
検波出力から、バンドパスフィルタにより前記ウオブリ
ング周波数成分を検出し、この信号と該ウオブリング信
号の乗算結果をローパスフィルタを通して得た制御信号
にて、該再生信号振幅が最大となるように、該複屈折補
正手段を駆動することを特徴とする特許請求の範囲第１
項記載の光磁気再生装置。 （３）該複屈折補正手段を用い、前記光磁気記録媒体お
よびその他の光学素子にて生ずる複屈折を補正すること
を特徴とする特許請求の範囲第１項または第２項記載の
光磁気再生装置。 （４）該複屈折補正手段を、複屈折が変化する方向に一
定周波数でウオブリング−し、一方、該光′正変換系に
よりＤＣ光量成分を検出し、この信号からバンドパスフ
ィルタにより前記ウオブ１ノング周波数成分を検出し、
この信号と該ウオブリング信号の乗算結果をローノ（ス
フイルタ番こ通して得た制御信号にて、該ＤＣ光量が最
大また番よ最小となるように該複屈折補正手段を１ψ動
することを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光磁
気再生装置。 （５）該複屈折補正手段を用い、前記光磁気記録媒体お
よびその他の光学素子にて生ずる複Ａｉｌ折を補正する
ことを特徴とする特許請求の範囲第４項記載の光磁気再
生装置。 ３、発明の詳細な説明 〔産業上の利用分野〕 本発明は光磁気再生装置に係り、特に光磁気記録媒体に
複屈折が生じた場合にもこれを補正し。 良好な信号が得られる光学ヘッドに関するものである。 〔従来の技術〕 従来の光磁気再生装置は、第４６回応用物理学会学術講
演会、講演予稿集２Ｐ−ＺＦ−３（昭和６Ｏ−１０）に
記載のように、光磁気記録媒体からの反射レーザ光中の
、ビームスプリッタと検光子のあいだに、位相制御手段
が設けられていた。 この位相制御手段によって、ビームスプリッタおよび光
磁気記録媒体等の位相差を補正し、検光子へ直線偏光の
レーザ光を入射させることにより、Ｃ／Ｎ比の向上をは
かるものであった。 また、光学ヘッドに位相板を設けたものの例として、他
に特開昭５９−１２９９５０号があるが、これには位相
板として１／４波長が用いられ、レーザ光の往復によっ
て、偏光方向を９０°回転させるために用いている。さ
らに同発明では、この位相板を光軸に対して一定角度傾
けて配置することにより、位相板端面の反射光が、光源
（レーザ）へ戻るのを防止する構成をとっている。 さらにこの１／４波長板に関しては、持分１１０５２−
４９４８号にて、波長板の構成と位相差の関係が述べら
れている。同発明には、１７４波長板の厚み、光学軸の
傾き等を変えた場合の位相変化について記載されている
が、この波長板の具体的な応用については触れていない
。 〔発明が解決しようとする問題点〕 上記した従来技術のうち、第４６回応用物理学会学術講
演会、講演予稿集２Ｐ−ＺＦ−３（昭和６０−１−０　
）では、位相制御手段が光磁気記録媒体の反射光中にの
み設けられているため、該記録媒体にレーザ光が入射す
る際に生ずる位相差については配慮がされておらず、さ
らに該記録媒体で位相差を生じ、楕円偏光となったレー
ザ光力１、ビームスプリッタへ入射することにより生ず
る。ビームスプリッタの偏光特性の変化についても配慮
されていなかった。 また、上記従来技術の他の２件においては、光磁気記録
媒体の位相差を補正するような配慮はなされておらず、
また光学ヘッドに位相板を用いたものでも、その目的と
する用途は、本発明とは異なるものであった。 本発明の目的は、光磁気記録媒体にレーザ光が入射およ
び反射する際に生じる位相差等の複屈折を、光学ヘッド
に複屈折補正機能をもたせることによって補正し、再生
信号振幅が最大に得られるようにして、ＣｌＮ比を向上
させることにある。 ［問題点を解決するための手段〕 この目的を達成するために、本発明では、波長板、また
はバビネ補正器およびソレイユ補正器等を用いた複屈折
補正手段を、レーザ光が光磁気記録媒体に入射および反
射する平行光路中に設けた。 さらに本発明では、検出した再生信号の振幅が最大とな
るように、あるいはレーザ光中のＤＣ光量が最大または
最小となるように、ウオブリング法などにより補正手段
を制御する６ 〔作用〕 本発明では、レーザ光中の複屈折を補正して。 再生信号振幅を最大に得るため、複屈折が変化する方向
に補正手段を一定周波数でウオブリングし、まず信号振
幅の包絡線検波出力から、バンドパスフィルタによりウ
オブリング周波数成分を検出し、この信号とウオブリン
グ信号との乗算結果を、ローパスフィルタを通して得た
制御信号にて、補正手段を動作させることにより複屈折
補正を行なう。 あるいは、光磁気記録媒体から反射されたレーザ光の一
部を、偏光子によって光検出器へ導き、光電変換した信
号からバンドパスフィルタによりウオブリング周波数成
分を検出し、この信号とウオブリング信号との乗算結果
を、ローパスフィルタを通して得た制御信号にて補正手
段を動作させることにより、複屈折補正を行なう。 ここで、補正手段が波長板の場合には、光軸に対する波
長板の結晶軸の角度を変えたり、あるいは補正手段がバ
ビネ補正器またはソレイユ補正器のときは、複屈折結晶
の光軸上の厚みを変えることによって、光磁気記録媒体
の複屈折を補正する。 これにより、光磁気記録媒体にレーザ光が入射する際、
複屈折としてレーザ光へ加わるＰ偏光とＳ偏光の位相差
がδ。であったとき、補正手段によって、δ８　という
位相差を与えることによって、総合的に位相差を１８０
°の整数倍として補正する。すなわち光磁気記録媒体の
記録膜へ入射するレーザ光中の位相差δＩＮ　　を、 δＩＮ　　”δＤ十δＢ：ｎ・１８０ （ｎ＝ｏ、±１．±２．・・・）　　　　　（１）とす
る。また反射光では、入射と同じく記録媒体からレーザ
光へは、同符号のδ、の位相差が加わるため、再び補正
手段により、δ８　の位相差を与えることによって、検
出系へ入射するレーザ光中の位相差δ。ＵＴ　　　を δＯＵＴ　　＝δＤ十δＢ：”ｎ・１８０（ｎ＝ｏ、±
１．±２．・・・）　　　（２）として補正する。 その結果、光磁気記録媒体および検出系へは常に直線偏
光が入射し、再生信号振幅を最大に得ることができ、Ｃ
’／Ｎ比を向上することができる・〔実施例〕 以下、図面を参照して本発明の実施例につき説明する。 第１図は、本発明の第１の実施例である光磁気再生装置
を示したものである。本実施例は、検出した再生信号振
幅が最大になるように補正手段を制御し、複屈折（ここ
では位相差を例にとる）を補正するものである。この図
において、上は光反射性の磁気は記録膜２．およびカバ
ーガラス３を有する光磁気ディスクであり、モータ４に
よって回転する。記録信号の再生は、直線偏光光源であ
る半導体レーザ５から出るレーザ光が、コリメートレン
ズ６により平行光とされ、ビーム整形プリズム７でほぼ
円形の光強度分布に整形されたのち、ビームスプリッタ
である第１の偏光子８で、一部を反射し、残りを透過す
る。このうちの透過レーザ光は、さらに補正手段９（こ
こでは位相板）およびミラー１０を介して、対物レンズ
１１により集光され、カバーガラス３を透過して記録膜
２上に照射される。このとき、記録膜２に照射されたレ
ーザ光は、カー効果によって、記録［２の記録部および
未記録部の磁気モーメントの配向状態により偏光面が変
化する。（すなわちカー回転を生じる。）また、この第
１図において、位相板９から光磁気ディスク上側（紙面
の左側）の部分は、レーザ光の光軸まわりに９０’回転
した状態を示している。 さらにこの記録１摸２からの反射光は、再びカバーガラ
ス３を透過したのち、対物レンズ１１で平行光に戻り、
ミラー１０および位相板９を介して。 第１の偏光子８で、カー効果による信号成分を含む偏光
方向のレーザ光（本実施例ではＳ偏光）がほぼ全て反射
され、これと９０°の位相差のある偏光成分（本実施例
ではＰ偏光）は、一部属射し残りを透過される。このＳ
偏光およびＰ偏光の反射レーザ光は、さらにビームスプ
リッタである第２の偏光子１２により、偏光子８と同様
にＳ偏光はほぼ全てを反射、Ｐ偏光は一部を反射、残り
を透過する。ここで透過したレーザ光は、凸レンズ１３
で集光され、円柱レンズ１４を介してサーボ用光検出器
１５に入射する。このサーボ用光検出器１５は、その検
出方法に応じて複数に分割されており、それらの出力信
号を処理して、フォーカス誤差信号およびトラック誤差
信号（検出法は省１１１８）を得て、ディスク上上にレ
ーザ光が正確に位置決めされるように、対物レンズを制
御する。一方、第２の偏光子１２で反射したカー効果に
よる信号成分を含むレーザ光は、凸レンズ１６で集光さ
れ、偏光ビームスプリッタ１７に入射して二分岐される
。二分岐されたレーザ光のうち、一方は、第１の光検出
器１８ａに入射し、また他方は、第２の光検出器１８ｂ
に入射し、それぞれ電気信号へ変換される。本実施例で
は、このレーザ光を二分岐する手段として偏光ビームス
プリッタを用いたので、これらの二分岐されたレーザ光
のそれぞれが、検光子を通過したことになる。したがっ
て、検光子１７と第１の光検出ｐＪ　１８　ａは、第１
の光電変換系１９を端成し、また検光子１７と第２の光
検出器１８ｂは、第２の光電変換系２０を構成すること
になる。さらにこれらの光検出器１８ａ。 １８ｂで検出された信号は、プリアンプ２１および２２
で増幅され、差動回路２３に入力される。 差動回路２３では、プリアンプ２１または２２により入
力された各信号の同位相の成分が差し引かれ、同時に逆
位相の成分が加算されることから、再生信号の振幅は２
倍となって出力２４される。 次に、この光磁気ディスク上の記録膜２」二、および第
２の光電変換系１９．２０にて検出される信号について
、第２図および第３図を用いて説明する。 第２図は、光磁気ディスク上の記録膜２．および検光子
１７に入射するレーザ光が直線偏光である場合の再生信
号を示したものである。この図において、１０１および
１０２は、レーザ光のＰ偏光およびＳ偏光方向、１０３
および１０４は、第１図の検光子１７における透過軸を
示している。 図に示すように、レーザ光が記録膜２に照射されると、
その反射レーザ光は、記録部と未記録部にて、角度ＯＫ
　および−ＯＫ　　の偏光面の回転を生ずる。この現象
がカー効果であり、この回転角θにはカー回転角と呼ば
れる。さらに本実施例では、第１図に示すように差動検
出の構成をとっているため、同一振幅の再生信号が得ら
れるように、検光子１７の透過軸１０３および１０４は
、レーザ光の偏光方向１０１および１０２に対して、約
４５°に傾けである。この第２図においては、入射レー
ザ光がＰ偏光の直線偏光であり、これにカー回転が生じ
、直線偏光１０５および１０６となることから、再生信
号は振幅ｄ８およびｄ２にて検出される。 次に第３図は、光磁気ディスク上に位相差が存在し、記
録膜２および検光子１７に入射するレーザ光に、この位
相差が加わって楕円偏光となった場合の再生信号を示し
たものであるにの図において、第２図と同一番号を付し
たものは、同一部分である。図のように、再生信号が楕
円偏光１０７および１０８の場合は、レーザ光中に位相
差が無い場にはＰ偏の直線偏光であったものが、位相差
により楕円偏光となるため、Ｐ偏色成分が減り、その分
、新たにＳ偏光成分が生じる。このため、検出される信
号振幅ｄ　ｌ、およびｄ″２が、第２図の直線偏光のと
きに検出される振幅ｄ□およびｄ２に比べて小さくなる
。この楕円偏光１０７および１０８は、光磁気ディスク
上のカバーガラス３に。 レーザ光が入射および反射する際に生ずる、Ｐ偏光とＳ
偏光との位相差によるものが主であり、カバーガラス３
の材料として、ポリカーボネート等のプラスチックを用
いた場合、特に大きな位相差を生じる。 上記したように、光磁気ディスクユで位相差が与えられ
たことにより、レーザ光が偏光子８へ入射する際に、す
でに楕円偏光１０７および１０８になっており、位相差
が零の直線偏光１０５および１０６に比べて、Ｐ偏光光
量が減少し、Ｓ偏光光量が増加している。したがって、
位相差を零と仮定して、光検出器１５および１８ａ、１
８ｂで得られるべきＰ偏光およびＳ偏光光量から、偏光
子８と１２のＰ偏光透過率および反射率、Ｓ偏光透過率
および反射率を設計すると、結果的に位相差が加わった
場合には、偏光子８へ入射するレーザ光のＰ、Ｓ偏光光
量が変わるため、上記各光検出器では設計値とは異なる
光量の信号が検出され、見かけ上、偏光子８および１２
の偏光特性が変化してしまうことになる。 本発明は、このように光磁気再生装置において。 多くの弊害をもたらすレーザ光中の位相差を、位相板９
により補正することにより、常に第２図に示すような直
線偏光とし、良好な再生信号を得ようとするものである
。 そこで、この位相板９につき、より具体的に説明する。 第４図〜第６図は、−例として、結晶軸１０９が光軸４
１と平行な波長板９を、また第７図〜第９図は、結晶軸
１１０が光軸４１に斜交する波長板９を１位相板として
用いた場合の偏光特性を示したものである。これらの図
において、第１図〜第３図と同一番号を付したものは、
同一部分である。 第４図に示す波長板９は、光軸４１に垂直、すなわち第
５図においてθ＝０″のとき、第６図における位相差δ
＝ｏ°であるが、Ｐ偏光方向１゜１またはＳ偏光方向１
０２に角度。傾けると、第６図の４２のまたは４３のご
とく、位相差δが変化する。また第７図に示す波長板９
は、第８図のように、傾き０をθ□〜０．のように変え
ることにより、第９図の４２または４３のごとく、位相
差δが変化する。したがって第１図に示すように。 これらの位相板９を光磁気ディスク上ヘレーザ光が入射
および反射する光路中に設置し、光磁気ディスク上で生
ずるＰ偏光およびＳ偏光の位相差にさらに別の位相差を
与えることにより、総合的な位相差を１８０°の整数倍
として位相補正がなされ、記録膜２および検光子１７へ
の入射光を直線偏光とし、良好な再生信号が得られるも
のである。 ここで、第４図〜第９図に示した波長板９は。 第６図および第９図に示す位相差δの正負の中心値を、
１８０°の整数倍に選ぶことが望ましい。 またここでは位相板として波長板を例に示したが、これ
以外の位相制御手段、例えばバビネ補正器およびソレイ
ユ補正器、または端に光弾性効果等を用いた位相板等を
用いても、同様な効果を得ることができる。 さらに、補正後の総合的な位相差が１８ｏ°の奇数倍の
ときには、再生信号の１（１１７と＃　Ｏ＃＃の関係を
電気的、または光学的に反転してもよく、または“１″
と“０″の定義を反転してもよい。 次に、位相制御方法につき説明する。 第１図において、■は、位相板９を動作させることによ
り位相差を生じせしめるアクチュエータ、また２５はウ
オブリング信号発生回路、２６は加振回路であり、アク
チュエータユを用いて、位相差を発生する方向に位相板
９をウオブリングする。２７は包絡線検波器であり、差
動回路２３の出力から再生信号の振幅、すなわち信号中
のＡＣ成分を包絡線検波する。また２８はバンドパスフ
ィルタ、２９は乗算器であり、バンドパスフィルタ２８
の出力信号と、ウオブリング信号発生回路２５より出力
されるウオブリング信号をアナログ乗算する。さらに３
ｏはローパスフィルタ、３１は位相板駆動回路であり、
アクチュエータ３２を駆動することにより、第４図〜第
９図に示したように、位相板９を傾けて位相補正を行な
う。 これらの動作につき、さらに図面を用いて説明する。第
１０図は、再生信号振幅ｄ、すなわち信号中のＡＣ成分
と、レーザ光中の位相差δの関係を示したものである６
図の曲線４４に示すように、レーザ光中の位相差δ＝０
、すなわちδ。のときは振幅ｄが最大値となるが、位相
差を生じたとき、すなわちδ、またはδ２のときには、
振幅ｄが減少する。曲線４４がこのような軌跡をたどる
とき、レーザ光中にδ。〜δ２の位相差があると、アク
チュエータ３２が、ウオブリング信号発生回路２５およ
び加振回路２６により発生する。ウオブリング信号４５
にて加振されると、再生信号振幅中に４６〜４８のごと
きウオブリング周波数成分を生ずる。すなわちレーザ光
中の位相差が０（δ。）のときには、ウオブリング信号
４５の振幅中心で再生信号振幅ｄが最大となり、位相差
δが正、負のいずれに変化しても、振幅ｄが低下するた
め、４６のような、ウオブリング信号４５の２倍の周波
数の信号が検出される。これに対して１位相差が６１お
よびδ２のときは、４７および４８に示すように、ウオ
ブリング信号４Ｓと同一周波数で。 振幅および位相が変調された信号が検出される。 この信号４７および４８は１曲線４４の傾きが異なる位
置、すなわち位相差δの符号が異なるときに検出された
信号であるため、周期に一致しているが、位相が逆転し
ている。 ところで、実際に検出される再生信号振幅ｄの包絡線波
形は、第１１図（１）に示されるように、ウオブリング
周波数成分による変調を受ける。この図で、１１１は再
生信号振幅である信号中のＡＣ成分を示す。このＡＣ成
分１１１は、包絡線検波器２７で包絡線検波され、さら
にバンドパスフィルタ２８で、再生信号である高周波成
分、および１ヘランキング、フォーカシング等の低周波
成分が除去されることにより、（■）に示すような振幅
と位相が変調された信号１１２が検出される。 したがって、この信号にはウオブリング周波数成分が含
まれており、位相差δ＝０（δ。）で０となり、δの符
号によって位相が逆転している。この信号１１２は、さ
らに（ＩＩＩ）に示すウオブリング信号発生回路２５よ
り出力されるウオブリング信号１１３と、乗算器２９に
てアナログ乗算され、その結果、（ＩＶ）に示す乗算出
力、すなわち位相検波出力１１４が得られる。そしてこ
の乗算出力１１４から、さらにローパスフィルタ３ｏに
より、ウオブリング周波数成分を除去すると、（Ｖ）に
示すような信号１１５が得られる。この信号１１５は、
出力Ｏで位相差δ−＝Ｏ（δ。）をよぎり、且つ位相差
δが正または負の場合には極性が異なり、位相差量に応
じて出力が増加することから。 この信号１１５を用いて位相補正を行なうことができる
。ここで上記したδ。はＯｏとは限らず。 １８０’の整数倍、すなわち、ｎ・１８０°　（ｎ＝０
．±１．±２．・・・）であればよい。すなわち、この
位相制御信号１１５が０になるように、位相板駆動回路
２９によりアクチュエーター主を制御すれば、レーザ光
中の位相差δを１８ｏ°の整数倍に補正することができ
る。 このように本発明によれば、光磁気ディスク上の記録膜
２、および検光子１７へ入射するレーザ光を直線偏光に
補正するため、再生信号振幅ｄを最大に得ることができ
、Ｃ／Ｎ比を向上することができる。さらに偏光子８に
もほぼ直線偏光に補正したレーザ光が入射するため、偏
光子８および１２において、所定の偏光特性を得ること
ができる。 また補正する位相差の周波数が低い場合には。 バンドパスフィルタ２８をローパスフィルタとし、さら
に必要に応じ、ローパスフィルタ３０の後に、さらにも
う１個のローパスフィルタを設けてもよい。 次に、位相板９を駆動させるアクチュエーターｐ−１に
ついて説明する。 第１２図は、このアクチュエータ１又の一実施例を示し
たものであり、また第１３図は、第１２図のＡＡ断面で
ある。各図において同一番号を付したものは同一部分で
あり、５１はプラスチック等の非磁性材料からできてい
るアクチュエータ上１全体のハウジング、５２および５
３は、共に鉄等の磁性材料からできている鉄心であり、
５２が内部に永久磁石５７を含む固定鉄心、５３は支持
部材５５により、矢印１１６方向へ回転する可動鉄心で
ある。また５４は、可動鉄心５３の周囲に巻かれたコイ
ル、５６は、位相板９を可動鉄心５３へ固定するための
部材である。 このように構成したことから、固定鉄心５２および可動
鉄心５３には、図中の破線矢印１１７に示すような磁界
が発生しており、さらにコイル５４には、加振回路２６
および位相板駆動回路２９より、各制御信号に応じた電
流が流されるため、可動鉄心５３は矢印１１６方向へ回
転する。したがって位相板９は、その信号電流によって
θ方向に傾斜制御され、その結果、位相板９を透過する
レーザ光に位相差を与えてこれを補正することができる
。 また、これまでに述べた位相差は、光磁気ディスク上以
外の光学素子、例えば対物レンズ１１、ミラー１０．偏
光子８，１２などにおいても発生する。そこでこの場合
も」二連したのと同じ方法で、光磁気ディスク上および
その他の光学素子の位相差を合わせて１位相板９で位相
補正を行なえば、レーザ光を直線偏光とすることができ
、Ｃ／Ｎ比を一層向上することができる。 さらに、これらの実施例では、光検出器１８ａおよび１
８ｂを用いた２個の検出系による差動検出法を示したが
１本発明はこのような差動検出ではなくて、１個の検出
系でもよく、プリアンプ２１または２２の出力を包絡線
検波器２７へ入力しても、同様の効果が得られる。 なお、本発明は再生信号の改善に関するものであること
から、サーボ検出系は本実施例に限らず、他の方式を用
いてもよい。 次に、第１４図は本発明の第２の実施例である光磁気再
生装置を示したものである０本実施例は、レーザ光中の
ＤＣ光量が最大または最小になるように補正手段を制御
し、複屈折（ここでは位相差を例にとる）を補正するも
のである。 上記第２図および第３図で述べたように、レーザ光中に
位相差が発生すると楕円偏光となるために、Ｐ偏光成分
のＤＣ光量が減り、Ｓ偏光成分のＤＣ光量が増える。 まず、光磁気再生装置各部のＤＣ光量から説明する。 第１５図はこのＤＣ光量の変化を示したものである。す
なわち、第１５図（１）は第１４図におけるＸ点、また
（ＩＩ）はＹ点、（ＩＩＩ）は２点におけるＰ偏光およ
びＳ偏光を含むＤＣ光量であり、これらの値は、光磁気
ディスク上より検出系へ反射された光量を１とする相対
値で表わしたものである。各回において、縦軸ｄは各Ｘ
、Ｙおよび２点におけるＤＣ光量、δはレーザ光中に含
まれる位相差である。本実施例では、カー効果によりＳ
偏光側に信号成分が含まれる構成としたため、第２図お
よび第３図に示すように、Ｐ偏光のみの直線偏光であっ
たものが、レーザ光中に位相差δを生じて、楕円偏光と
なり、Ｐ偏光のＤＣ光量が減り、その分断たにＳ偏光の
ＤＣ光量が発生する。 したがって、第１４図のＸ点、すなわち再生信号検出系
では、偏光子８および１２で、発生したＳ偏光成分がほ
ぼ全て反射されることから、第１５図（［）の曲線６１
Ｘのように、位相差δの増加に伴いＤＣＣ光ｉｄは増加
する。また第１４図のＹ点、すなわちサーボ信号検出系
では、偏光子１２がＰ偏光の一部を透過するのみである
から、第１５図（ＩＩ）の曲線６１Ｙのように１位相差
δの増加によってＤＣＣ光量上減少する。さらに第１４
図の２点では、楕円偏光となったことにより新たに生ず
るＳ偏光成分は、偏光子８にてほとんど全てが反射され
、一方Ｉ〕偏光成分はＳ偏光成分が発生しただけ減少し
ても、その一部しか反射されないため、結果として第１
５図（ＩＶ）の曲線６１２に示すように、位相差δの増
加に伴いＤＣＣ光量上増加する。ここでこの２点のＤＣ
＊ｉ量は、Ｘ点およびＹ点におけるＤＣ光量の和として
得ることができる。 次に１本実施例における位相制御方法につき説明する。 第１４図において、第１図と同一番号を付したものは同
一部分である。さらに６０は加算回路であり、光検出器
１８ａおよび１８ｂに検出される逆相成分であるＡＣ成
分はキャンセルし、同相成分であるＤＣ成分を加算出力
する。したがってこの加算回路６０から出力される信号
は１図中のＸ点におけるＤＣ光量を表わすことになる。 これらの動作につき、さらに図面を用いて説明する。第
１６図は、第１４図のＸ点におけるレーザ光中のＤＣＣ
光量上、位相差δの関係を示したものである。第１５図
（１）に示したように、この図の曲線６１は、レーザ光
中の位相差δ＝０、すなわちδ。のときはＤＣＣ光量上
最小値となるが、位相差を生じたとき、すなりちδ、ま
たはδ２のときには、ＤＣ光ｆｆ１ｄが増加する。曲線
６１がこのような軌跡をたどるとき、レーザ光中にδ。 〜δ２の位相差があると、アクチュエータ３２が。 ウオブリング信号発生回路２５および加振回路２６によ
り発生する。ウオブリング信号６２にて加振されると、
ＤＣ光中に６３〜６５のごときウオブリング周波数成分
を生ずる。すなわちレーザ光中の位相差が０（δ。）の
ときには、ウオブリング信号６２の振幅中心ＤＣで光Ｊ
ｆｄが最小となり、位相差δが正、負のいずれに変化し
てもＤＣ光量が増加するため、６４のようなウオブリン
グ信号６２の２倍の周波図の信号が検出される。これに
対して、位相差がδ、およびδ２のときは、６３および
６５に示すようにウオブリング信号６２と同一周波数で
、振幅および位相が変調された信号が検出されるにの信
号６３および６５は１曲線６１の傾きが異なる位置、す
なわち位相差δの符号が異なるときに検出された信号で
あるため、周期は一致しているが、位相が逆転している
。 ところで、実際に検出されるＤＣ光量ｄの波形は、第１
７図（１）に示されるように、ウオブリング周波数成分
による変調を受ける。この図で６６は、ウオブリングを
しながら位相差δを変化させたＤＣ光量ｄの変化を示す
。この１４号６６は、バンドパスフィルタ２８で再生信
号等（アドレス信号など）の高周波成分と、サーボ信号
等の低周波成分が除去されることにより、（■［）に示
すような振幅と位相が変調された信号６７が検出される
９したがって、この信号にはウオブリング周波数成分が
含まれており、位相差δ＝０（δ。）で０となり、δの
符号によって位相が逆転している。 この信号６７は、さらに（ｉｌｌ）に示すウオブリング
信号発生回路２５より出力されるウオブリング信号６８
と、乗算器２９にてアナログ乗算され、その結果、（Ｉ
Ｖ）に示す乗算出力、すなわち位相検波出力６９が得ら
れる。そしてこの乗算出力６９から、さらにローパスフ
ィルタ３０により、ウオブリング周波数成分を除去する
と、（■）に示すような信号７０が得られる。この信号
７０は、出力Ｏで位相差δ＝０（δＧ）をよぎり、且つ
位相差δが正または負の場合には極性が異なり、位相差
量に応じて出力が増加することから、この信号７０を用
いて位相補正を行なうことができる。 ここで、上記したδ。はＯｏとは限らず、１８００の整
数倍、すなわちｎ・１８０’　　（ｎ＝０．±１、±２
．・・・）であればよい。すなわち、この位相制御信号
７０がＯになるように５位相板駆動回路２６によりアク
チュエータ３２を制御すれば、レーザ光中の位相差δを
１８０°の整数倍に補正することができる。 このように本発明によれば、光磁気ディスク上の記録膜
２、および検光子１７へ入射するレーザ光を直線偏光に
補正するため、再生信号振幅を最大に得ることができ、
Ｃ／Ｎ比を向上することができる。さらに偏光子８にも
ほぼ直線偏光に補正したレーザ光が入射するため、偏光
子８および１２において、所定の偏光特性を得ることが
できる。 また、レーザ光中に位相差が無い場合には、差動回路２
３から出力されるＤＣ光量成分、すなわち光検出器１８
ａおよび１８ｂにて検出される各ＤＣ光量の差信号はほ
ぼ零となるが、レーザ光中に位相差が加わると、第１５
図に示すような、位相差ｏ”ｃ’最大または最小となる
ような変化を生ずる。したがってこの差動回路２３の出
力をノ（ンドバスフィルタ２８へ入力すれば、光検出器
１８ａおよび１８ｂで検出したＤＣ光量の差信号により
、上記と同様にして位相差を補正することができる。 また、これまでに述べた位相差は、光磁気ディスク１以
外の光学素子、例えば対物レンズ１１、ミラー１０、偏
光子８，１２などにおいても発生する。そこでこの場合
も上述したのと同じ方法で。 光磁気ディスクエおよびその他の光学素子の位相差を合
わせて９位相板９で位相補正を行なえば。 レーザ光を直線偏光とすることができ、Ｃ／Ｎ比を一層
向上することができる。 さらに、上記実施例は、光検出器１８ａおよび１８ｂを
用いた２個の検出系による差動検出法を示したが、本発
明はこのような差動検出ではなくて、１個の検出系でも
よく、プリアンプ２１または２２の、出力をバンドパス
フィルタ２８へ入力しても、同様の効果が得られる。ま
た、補正する位相差の周波数が低い場合には、バンドパ
スフィルタ２８をローパスフィルタとし、さらに必要に
応じ、ローパスフィルタ３０の後に、さらにもう−個の
ローパスフィルタを通してもよい。 また上記実施例では、光磁気記録媒体（すなわち光磁気
ディスク工がらの情報再生時の動作を主に述べたが１本
発明の光磁気装置は情報記録、および消去時にも同様に
して位相差補正を行なうことができる。 次に、第１８図は、本発明の第２の実施例（第１４図）
の変形例を示したものである。本実施例では、図中のＹ
点におけるＤＣ光量から位相補正を行なう。 この第１８図において、第１４図と同一番号を付したも
のは同一部分であり、さらに７１および７２は、光検出
器１５から光電変換された信号を増幅するプリアンプで
あり、サーボ信号７３を出力する。７４は加算回路であ
り、プリアンプ７１および７２の出力を加算し、バンド
パスフィルタ２８へ出力する。ここでＹ点におけるレー
ザ光は、はとんどが偏光子１２を透過したＰ偏光のＤＣ
光量成分である。このＤＣ光量は上記第１５図（ＩＩ）
に示したように、レーザ光中の位相差δの増加に伴って
減少する。したがって第１６図および第１７図で説明し
た、Ｘ点におけるＤＣ％；量変化とは逆の特性となり、
制御の極性を反転させることにより、同様の位相補正が
行えるものである。 すなわち、第１９図および第２０図はこの制御方法を示
すものであり、第１６図および第１７図と同一番号を付
したものは同一部分である。上記したように本実施例で
は、位相差δ＝０（δ。）でＤＣ光ｆｆ１ｄが最大とな
り、レーザ光中に位相差が生じると減少する特性を示す
、したがって、これらの図に示すように、各信号は先の
第１６図および第１７図とは逆の極性を示すが１本実施
例においても最終的に位相板駆動回路３１へ入力される
位相制御信号７０は、出力０で位相差δ＝０（δ。）を
よぎり、且つ位相差δが正または負の場合には極性が異
なり、位相差量に応じて出力が増加することから、この
信号７０を用いて位相補正を行なうことができる。 さらに第２１図は、本発明の第２の実施例の別の変形例
を示したものであり、本実施例では図中の２点における
ＤＣ光量から位相補正を行なうものである。この図にお
いて、第１４図および第１８図と同一番号を付したもの
は同一部分である・また３７は加算回路であり、加算回
路６０の出力（すなわちＸ点におけるＤＣ光量）と加算
回路７４の出力（すなわちＹ点におけるＤＣ光量）を加
算し、バンドパスフィルタ２８へ出力する。この加算回
路７５から出力される信号は、図中の２点におけるＤＣ
光量を表わすことになる。この２点のＤＣ光量は、第１
５図（ＩＩ）に示すように、レーザ光中の位相差δ＝Ｏ
にて最小値をとり、位相差が加わることにより増加する
特性を示す、したがって、この位相差δに対するＤＣ光
量ｄの変化は、第１５図（りに示すＸ点と同じ傾向にあ
り、上記した第１４図および第１６図、第１７図にて説
明したのと同じ方法で、位相差を補正することができる
。 また本実施例のように、偏光子８の検出系側（２点）に
おけるＤＣ光量変化によって位相差を補正する方法は、
偏光子が１個（すなわち偏光子８のみ）で構成される光
学系においても、有効に用いることができる。 また上記した各実施例中の補正手段９は、第４図〜第９
図にて説明した波長板であるが、これを特に第７図〜第
９図に示したような結晶軸１１０が光軸４１に斜交する
１／２波長板とし、第２２図に示すように光軸４１に垂
直な平面内において、且つ光軸４１まわりに角度φだけ
回転して上述した制御を行えば、ディスク上等の位相差
だけでなく、方位角の変動も合わせて補正することがで
き。 総合的な複屈折補正が可能となる。 さらに本発明を用いれば、ディスク上以外の光学素子（
例えば対物レンズ１１など）に複屈折がある場合にも、
同様にして補正することができ、これらの部品が、複屈
折を多く生ずるプラスチック等で形成されても、Ｃ／Ｎ
比の高い信号の再生が行なえる。 〔発明の効果〕 以上、詳細に説明したように、本発明によれば光磁気記
録媒体にレーザ光が入射および反射する際に生ずる、Ｐ
偏光とＳ偏との複屈折を補正することにより、光磁気記
録媒体および検光子に入射するレーザ光をほぼ直線偏光
とし、再生信号振幅が最大に得られるため、Ｃ／Ｎ比を
向」ニすることができる。 ４、図面の簡単な説明 第１図は本発明の第１の実施例を示す光磁気再生装置の
ブロック図、第２図〜第１３図は第１の実施例に関する
説明図、第１４図は本発明の第２の実施例を示す光磁気
再生装置のブロック図、第１５図〜第１７図は第２の実
施例に関する説明図、第１８図〜第２１図は本発明の第
２の実施例に関する変形例およびその説明図、また第２
２図は位相差と方位角の両方を補正する手段の説明図で
ある。 １・・・光磁気ディスク　２・・・記録膜　３・・・カ
バーガラス　５・・・半導体レーザ　９・・・複屈折補
正手段３２・・−アクチュエータ　１０５・・・直線偏
光　１０６・・・直線偏光　１０７・・・楕円偏光　１
０８・・・楕円偏光

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. （１）直線偏光光源から出射される光を、光磁気記録媒
   体に集光させる手段と、該光磁気記録媒体を反射または
   透過した光の少なくとも一部を電気信号に変換する光電
   変換系とを有する光磁気装置において、前記光磁気記録
   媒体に入射および出射する光の複屈折補正手段と、該補
   正手段を駆動、制御する制御手段とを設けたことを特徴
   とする光磁気再生装置。
2. （２）該複屈折補正手段を、複屈折が変化する方向に一
   定周波数でウォブリングし、一方、該光電変換系により
   、該光磁気記録媒体を反射または透過して偏光面が変化
   したＡＣ光量成分を検出し、この再成信号振幅の包絡線
   検波出力から、バンドパスフィルタにより前記ウォブリ
   ング周波数成分を検出し、この信号と該ウォブリング信
   号の乗算結果をローパスフィルタを通して得た制御信号
   にて、該再生信号振幅が最大となるように、該複屈折補
   正手段を駆動することを特徴とする特許請求の範囲第１
   項記載の光磁気再生装置。
3. （３）該複屈折補正手段を用い、前記光磁気記録媒体お
   よびその他の光学素子にて生ずる複屈折を補正すること
   を特徴とする特許請求の範囲第１項または第２項記載の
   光磁気再生装置。
4. （４）該複屈折補正手段を、複屈折が変化する方向に一
   定周波数でウォブリングし、一方、該光電変換系により
   ＤＣ光量成分を検出し、この信号からバンドパスフィル
   タにより前記ウォブリング周波数成分を検出し、この信
   号と該ウォブリング信号の乗算結果をローパスフィルタ
   に通して得た制御信号にて、該ＤＣ光量が最大または最
   小になるように該複屈折補正手段を駆動することを特徴
   とする特許請求の範囲第１項記載の光磁気再生装置。
5. （５）該複屈折補正手段を用い、前記光磁気記録媒体お
   よびその他の光学素子にて生ずる複屈折を補正すること
   を特徴とする特許請求の範囲第４項記載の光磁気再生装
   置。