JPS61198458A - 磁気光学的情報再生方法 - Google Patents
磁気光学的情報再生方法Info
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- JPS61198458A JPS61198458A JP3905285A JP3905285A JPS61198458A JP S61198458 A JPS61198458 A JP S61198458A JP 3905285 A JP3905285 A JP 3905285A JP 3905285 A JP3905285 A JP 3905285A JP S61198458 A JPS61198458 A JP S61198458A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は磁気光学効果を利用して高密度磁気記録情報を
再生する磁気光学的情報再生方法に関するものである。
再生する磁気光学的情報再生方法に関するものである。
近年、情報の高密度記録の分野において磁気光学効果を
用いた書き換え可能な光磁気方式が有望視されている。
用いた書き換え可能な光磁気方式が有望視されている。
従来、上述の如き光磁気記録の再生には、第6図に示す
ような読み取り光学系が使用されていた。ここで、半導
体レーザ等の光源1から出た光は、コリメータレンズ2
によって平行光束3となり、偏光子4を経である方位に
直線偏光した光忙なり、ビームスプリッタ5、対物レン
ズ6を経て光磁気ディスク7上忙スポツト状に入射する
。そして、この入射光は、光磁気ディスクの垂直磁化の
上向き、または下向きの方向の違いに対応し、光束の偏
光面が磁気光学カー効果により互いに反対方向の回転θ
kを受けて反射する。例えば、入射光束をP偏光とし、
その偏光面が上向き磁化に対し+θk、下向き磁化に対
し一〇にの変化を受けS偏光成分をもつようになるとす
ると、反射光は第7図のA、Hの如くなる。
ような読み取り光学系が使用されていた。ここで、半導
体レーザ等の光源1から出た光は、コリメータレンズ2
によって平行光束3となり、偏光子4を経である方位に
直線偏光した光忙なり、ビームスプリッタ5、対物レン
ズ6を経て光磁気ディスク7上忙スポツト状に入射する
。そして、この入射光は、光磁気ディスクの垂直磁化の
上向き、または下向きの方向の違いに対応し、光束の偏
光面が磁気光学カー効果により互いに反対方向の回転θ
kを受けて反射する。例えば、入射光束をP偏光とし、
その偏光面が上向き磁化に対し+θk、下向き磁化に対
し一〇にの変化を受けS偏光成分をもつようになるとす
ると、反射光は第7図のA、Hの如くなる。
前記反射光は再び対物レンズ6、ビームスプリッタを経
て平行光束8の方向に曲けられ、第7図のCの如くその
透過軸の方位が、入射光束の偏光方向に垂直な方向に対
し所定の角度ψをなすように配置された検光子9を通り
、光検出器10にいたる。この時検光子を通過する光の
強度は、第7図のCへの斜影成分に対応し、磁化の上向
きまたは下向きの違いによって強度の強弱として検出さ
れる。
て平行光束8の方向に曲けられ、第7図のCの如くその
透過軸の方位が、入射光束の偏光方向に垂直な方向に対
し所定の角度ψをなすように配置された検光子9を通り
、光検出器10にいたる。この時検光子を通過する光の
強度は、第7図のCへの斜影成分に対応し、磁化の上向
きまたは下向きの違いによって強度の強弱として検出さ
れる。
ところがこの磁気光学カー効果によるカー回転角θには
、0.1度オーダの微小な角度であるうえ、光検出器に
いたる絶対光量が少ないため、レーザ、光磁気ディスク
光検出器等の雑音成分が信号に大きく影響し、8N比の
劣化が問題となっていた。
、0.1度オーダの微小な角度であるうえ、光検出器に
いたる絶対光量が少ないため、レーザ、光磁気ディスク
光検出器等の雑音成分が信号に大きく影響し、8N比の
劣化が問題となっていた。
一方、上述した欠点を除去し、磁気光学的再生において
問題となる微小信号読み取シの8N比劣化に対して、従
来の再生方法忙比べて大きなSN比が得られるものとし
て、所謂光混合法を利用した磁気光学的情報再生方法が
提案されているl許出願公開昭59−135646 )
。
問題となる微小信号読み取シの8N比劣化に対して、従
来の再生方法忙比べて大きなSN比が得られるものとし
て、所謂光混合法を利用した磁気光学的情報再生方法が
提案されているl許出願公開昭59−135646 )
。
第8図はこのような光混合法を利用した磁気光学的情報
再生方法の説明図である。
再生方法の説明図である。
所定の方向に直線偏光した光束11Fi、ビームスプリ
ッタ12、対物レンズ13、を経て光磁気ディスク14
上にスポット状に入射する。
ッタ12、対物レンズ13、を経て光磁気ディスク14
上にスポット状に入射する。
そして、前述のように光磁気ディスクの上向き、または
下向きの磁化に応じて変調をうけた反射光束は、対物レ
ンズ13を経てビームスプリッタ12により曲げられ光
束15となりビームスプリッタ17により適当な方法で
光源より分割された参照光束16と光混合され検光子1
8を経て光検出器19で検出される。このとき、光束1
5と光束16の周波数が同じものをホモダイン法といい
、周波数が異なるものをヘテロダイン法という。両方と
も、光検出器のショットノイズリミット検出が可能で、
8N比を向上出来るものである。
下向きの磁化に応じて変調をうけた反射光束は、対物レ
ンズ13を経てビームスプリッタ12により曲げられ光
束15となりビームスプリッタ17により適当な方法で
光源より分割された参照光束16と光混合され検光子1
8を経て光検出器19で検出される。このとき、光束1
5と光束16の周波数が同じものをホモダイン法といい
、周波数が異なるものをヘテロダイン法という。両方と
も、光検出器のショットノイズリミット検出が可能で、
8N比を向上出来るものである。
しかしながら、このような光磁気ディスクの再生装置に
おいては通常ディスクの反シ等によって検出系に対して
ディスク面が上下してしまう。従って、前述のような光
混合法を用いた従来の方法では、ビームスプリッタ12
と光磁気ディスク14との距離が変化することによシ光
束15と16の光路長が変化し、そのため光磁気ディス
クの信号が読み増れない場合が生じた。
おいては通常ディスクの反シ等によって検出系に対して
ディスク面が上下してしまう。従って、前述のような光
混合法を用いた従来の方法では、ビームスプリッタ12
と光磁気ディスク14との距離が変化することによシ光
束15と16の光路長が変化し、そのため光磁気ディス
クの信号が読み増れない場合が生じた。
本発明の目的は、上述した従来技術の欠点を除去し、信
号読み取りのS/N比を向上させ、しかも記録媒体と検
出系との距離の変動忙よる影響を除去した磁気光学的情
報再生方法を提供することにある。
号読み取りのS/N比を向上させ、しかも記録媒体と検
出系との距離の変動忙よる影響を除去した磁気光学的情
報再生方法を提供することにある。
本発明の上記目的は、所定の方向に偏光した光束を磁気
的に情報が記録された記録媒体に照射し、前記情報に応
じて偏光方向の変化した光束を前記所定方向の偏光成分
から成る第10光束と所定方向と垂直な方向の偏光成分
から成る第2の光束とに分割した後、これら第1の光束
及び第2の光束を干渉させて前記情報を検出することに
よって達成される。
的に情報が記録された記録媒体に照射し、前記情報に応
じて偏光方向の変化した光束を前記所定方向の偏光成分
から成る第10光束と所定方向と垂直な方向の偏光成分
から成る第2の光束とに分割した後、これら第1の光束
及び第2の光束を干渉させて前記情報を検出することに
よって達成される。
以下1図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は、本発明の方法を用いた検出系の構成例を示す
概略図である。ここで、61は半導体レーザ等の光源、
62けコリメータレンズ、63はP偏光のみ透過する偏
光子、20はP偏光の直線偏光光束である。また、21
は光束を所定の割合で分割するビームスプリッタ、22
けS偏光が反射、P偏光が透過する(例えばS偏光の反
射本99X、P偏光の透過基98N)偏光ビームスプリ
ッタ、23は対物レンズ、24け光磁気ディスク、25
は偏光ビームスプリッタにより分割された反射光束のS
偏光成分の光束、また26は偏光ビームスプリッタ22
によシ分割された反射光束のP偏光がさらにビームスプ
リッタ21により反射された光束、27け反射ミラー、
28は偏光方位をP偏光方向からS偏光方向に変える7
波長板、29は7波長板28を通った光束の位相を調整
する位相板、30は光束25と26を干渉させるための
ビームスプリッタ、31および32け集光レンズ、33
および34は光検出器である。
概略図である。ここで、61は半導体レーザ等の光源、
62けコリメータレンズ、63はP偏光のみ透過する偏
光子、20はP偏光の直線偏光光束である。また、21
は光束を所定の割合で分割するビームスプリッタ、22
けS偏光が反射、P偏光が透過する(例えばS偏光の反
射本99X、P偏光の透過基98N)偏光ビームスプリ
ッタ、23は対物レンズ、24け光磁気ディスク、25
は偏光ビームスプリッタにより分割された反射光束のS
偏光成分の光束、また26は偏光ビームスプリッタ22
によシ分割された反射光束のP偏光がさらにビームスプ
リッタ21により反射された光束、27け反射ミラー、
28は偏光方位をP偏光方向からS偏光方向に変える7
波長板、29は7波長板28を通った光束の位相を調整
する位相板、30は光束25と26を干渉させるための
ビームスプリッタ、31および32け集光レンズ、33
および34は光検出器である。
光源61から出射した光は、コリメータレンズ62によ
って平行光となり、偏光子63を通過してP偏光に直線
偏光した光束20となる。
って平行光となり、偏光子63を通過してP偏光に直線
偏光した光束20となる。
この光束20け、ビームスプリッタ21.[光ビームス
プリッタ22、対物レンズ23を経て光磁気ディスク2
,4上にスポット状に集光され、反射される。この際、
前述の如く磁性膜の垂直磁化の方位によって+θkまた
は一部にだけ反射光の偏光方位が回転することになり、
それによりS偏光成分が生じる。反射光の8偏光酸分は
対物レンズ23を経て偏光ビームスプリッタ22によシ
反射され、さらにミラー27によって曲げられほとんど
光量の損失なく光束25と々る。
プリッタ22、対物レンズ23を経て光磁気ディスク2
,4上にスポット状に集光され、反射される。この際、
前述の如く磁性膜の垂直磁化の方位によって+θkまた
は一部にだけ反射光の偏光方位が回転することになり、
それによりS偏光成分が生じる。反射光の8偏光酸分は
対物レンズ23を経て偏光ビームスプリッタ22によシ
反射され、さらにミラー27によって曲げられほとんど
光量の損失なく光束25と々る。
一方反射光のP偏光成分は対物レンズ23.偏光ビーム
スプリッタ22を透過して、ビームスプリッタ21によ
り反射され、光束26となる。
スプリッタ22を透過して、ビームスプリッタ21によ
り反射され、光束26となる。
光束26は、百波長板28によシ、偏光方位をP偏光方
向からS偏光方向に変えたのち、位相板29によシ、位
相が調整される。位相板29け、光束25と干渉させる
際干渉効果が最大になるように設定されている。光束2
5.26はビームスプリッタ30により干渉される。干
渉光は2方向に進み、それぞれ集光レンズ31゜32に
よって光検出器33.34上だ集光され、検出される。
向からS偏光方向に変えたのち、位相板29によシ、位
相が調整される。位相板29け、光束25と干渉させる
際干渉効果が最大になるように設定されている。光束2
5.26はビームスプリッタ30により干渉される。干
渉光は2方向に進み、それぞれ集光レンズ31゜32に
よって光検出器33.34上だ集光され、検出される。
次に、光束25と26の干渉により、光磁気ディスクの
情報を読み取る原理を第2図で説明する。第2図(A)
を光磁気ディスク24上の垂直磁化のモデルとすると、
(B)は光束25の強度、(C)は光束250位相であ
る。まだ(D)は光束26の強度、(E)は光束25の
位相である。
情報を読み取る原理を第2図で説明する。第2図(A)
を光磁気ディスク24上の垂直磁化のモデルとすると、
(B)は光束25の強度、(C)は光束250位相であ
る。まだ(D)は光束26の強度、(E)は光束25の
位相である。
ここで横軸は(A)の光磁気ディスク上の位置に対応す
る。また、O<Is<< 1. IP>1である。図か
ら明らかなように、垂直磁化の上向き下向きの違いによ
り、光束25と26の位相は、同相か逆相(または逆相
か同相)になる。本発明は、ここに着目して干渉により
信号を読み取るものである。
る。また、O<Is<< 1. IP>1である。図か
ら明らかなように、垂直磁化の上向き下向きの違いによ
り、光束25と26の位相は、同相か逆相(または逆相
か同相)になる。本発明は、ここに着目して干渉により
信号を読み取るものである。
光束25.26は式であられすとそれぞれ(1)式と(
2)式になる。
2)式になる。
、//TF3e 1 (ωt + If)
(1)〆恥e’ (a+t・δ)(2) ただし、δ′は垂直磁化が上向き(又は下向き)のとき
、δ、垂直磁化が下向き(又は上向き)のときδ−πで
あり、ωけ光の周波数、tは時間変数である。
(1)〆恥e’ (a+t・δ)(2) ただし、δ′は垂直磁化が上向き(又は下向き)のとき
、δ、垂直磁化が下向き(又は上向き)のときδ−πで
あり、ωけ光の周波数、tは時間変数である。
故に、干渉光の強度は(3)式で表わされる。
l、’r’;el(ωt−δ’)+6eI(ωt−JT
= Is+Ip+24 cos (δ−δ’)
(3)(3)式において、第1項第2項は直流成分であ
る。
= Is+Ip+24 cos (δ−δ’)
(3)(3)式において、第1項第2項は直流成分であ
る。
また第3項は交流成分で、これが光磁気ディスクの信号
に対応する。つまり第3項は、垂直磁化上向き(又は下
向き)のときδ−δ’=oよ)2/Cnとなシ、垂直磁
化下向き(又は上向き)のときδ−J’=πより−24
となる。
に対応する。つまり第3項は、垂直磁化上向き(又は下
向き)のときδ−δ’=oよ)2/Cnとなシ、垂直磁
化下向き(又は上向き)のときδ−J’=πより−24
となる。
このように、干渉光の信号成分け、雑音の影響がほとん
どなく、全体の絶対光量を多くすることにより、S/N
比の向上した信号として検出できる。また、第1図の構
成で、光検出器33゜34により検出された信号を、更
に不図示の差動増幅器により差動検出すれば、より8/
N比が向上する。
どなく、全体の絶対光量を多くすることにより、S/N
比の向上した信号として検出できる。また、第1図の構
成で、光検出器33゜34により検出された信号を、更
に不図示の差動増幅器により差動検出すれば、より8/
N比が向上する。
本発明の方法によれば、診照光としてディスクからの反
射光の一部を用いるため、記録媒体と検出系との距離が
変化しても、干渉させる2光束の光路長は同じように変
化して光路差を生じず、安定した信号検出が可能である
。
射光の一部を用いるため、記録媒体と検出系との距離が
変化しても、干渉させる2光束の光路長は同じように変
化して光路差を生じず、安定した信号検出が可能である
。
第3図は、本発明の方法を用いた検出系の他の構成例を
示す部分概略図である。本例は、第1図の例の偏光子6
3から偏光ビームスプリッタ22までの間及び、ビーム
スプリッタ301C至る光路中の構成を変更したもので
、その他の構成は第1図と同様なので図示していない。
示す部分概略図である。本例は、第1図の例の偏光子6
3から偏光ビームスプリッタ22までの間及び、ビーム
スプリッタ301C至る光路中の構成を変更したもので
、その他の構成は第1図と同様なので図示していない。
図中、35はP偏光に直線偏光した入射光束、36けS
偏光を反射し、P偏光を透過する(例えば、S偏光反射
率99%、P偏光反射率98%)偏光ビームスプリッタ
、37Fi7アラデイ−効果を有する素子を用いたファ
ラディーローテータ、38は1波長板、39は光磁気デ
ィスりからの反射光束である。第3図の各光学素子での
偏光状態を第4図で示し、その特徴を説明する。
偏光を反射し、P偏光を透過する(例えば、S偏光反射
率99%、P偏光反射率98%)偏光ビームスプリッタ
、37Fi7アラデイ−効果を有する素子を用いたファ
ラディーローテータ、38は1波長板、39は光磁気デ
ィスりからの反射光束である。第3図の各光学素子での
偏光状態を第4図で示し、その特徴を説明する。
入射光束35は第4図(A)のようにP偏光の直線偏光
である。光束35は、偏光ビームスプリッタ36をほと
んど透過し、ファラディーローテータ37により偏光方
位を(B)のように45°回転される。そして1波長板
38によって、(C)のように再びP偏光の直線偏光に
もどされ、fa1図の例と同様に光磁気ディスクに入射
する。
である。光束35は、偏光ビームスプリッタ36をほと
んど透過し、ファラディーローテータ37により偏光方
位を(B)のように45°回転される。そして1波長板
38によって、(C)のように再びP偏光の直線偏光に
もどされ、fa1図の例と同様に光磁気ディスクに入射
する。
一方、光磁気ディスクによる反射光束のP偏光成分は、
7波長板38を第3図の下から上へ通過しその偏光方位
は(E)のようになる。さらに7アラデイーローテータ
37を通り、(F)のようにS偏光の直線偏光に変光ら
れ、偏光ビームスプリッタ36によりほとんど反射され
光束39となる。
7波長板38を第3図の下から上へ通過しその偏光方位
は(E)のようになる。さらに7アラデイーローテータ
37を通り、(F)のようにS偏光の直線偏光に変光ら
れ、偏光ビームスプリッタ36によりほとんど反射され
光束39となる。
このように、第3図の構成とするととKよつで、つまり
第1図の検出系でΣ波長板28を取り除き、ビームスプ
リッタ21と偏光ビームスプリッタ36とを置換し、偏
光ビームスプリッタ36とビームスプリッタ22の間に
7アラデ−ローテータ37と7波長板を配置することに
より、光源からの光をほとんど損失々く利用出来ると同
時に、光アイソレータの機能を果して光源への戻り光を
防ぎ、更に87N比の高い検出が可能となる。
第1図の検出系でΣ波長板28を取り除き、ビームスプ
リッタ21と偏光ビームスプリッタ36とを置換し、偏
光ビームスプリッタ36とビームスプリッタ22の間に
7アラデ−ローテータ37と7波長板を配置することに
より、光源からの光をほとんど損失々く利用出来ると同
時に、光アイソレータの機能を果して光源への戻り光を
防ぎ、更に87N比の高い検出が可能となる。
第5図は、本発明の方法を用いた検出系の更に他の構成
例を示す概略図である。図中、40け半導体レーザ、4
1はコリメータレンズ、42は偏光子、43はビームス
プリッタ面、44は偏光ビームスプリッタ面、45け対
物レンズ、46は光磁気ディスク、47け1波長板、4
8はミラー面、49はビームスプリッタ面、50゜51
け集光レンズ、52.53は光検出器である。また、5
4.55は光磁気ディスクによる反射光束を示す。
例を示す概略図である。図中、40け半導体レーザ、4
1はコリメータレンズ、42は偏光子、43はビームス
プリッタ面、44は偏光ビームスプリッタ面、45け対
物レンズ、46は光磁気ディスク、47け1波長板、4
8はミラー面、49はビームスプリッタ面、50゜51
け集光レンズ、52.53は光検出器である。また、5
4.55は光磁気ディスクによる反射光束を示す。
半導体レーザ40から出射した光はコリメータレンズ4
1により、平行光束にされ、偏光子42によりP偏光の
直線偏光となり、ビーム整形を兼ねたビームスプリッタ
面43を透過する。さらに1偏光ビ一ムスプリツタ面4
4、対物レンズ45を経て、光磁気ディスク46に入射
する。
1により、平行光束にされ、偏光子42によりP偏光の
直線偏光となり、ビーム整形を兼ねたビームスプリッタ
面43を透過する。さらに1偏光ビ一ムスプリツタ面4
4、対物レンズ45を経て、光磁気ディスク46に入射
する。
前述のように光磁気ディスクの信号により変調された反
射光の8偏光成分とP偏光成分は偏光ビームスプリッタ
44によって分けられ、S偏光成分は光束54となり、
P偏光成分はビームスプリッタ43によって反射され、
光束55となる。光束54.55は、P偏光方向及びS
偏光方向に対して45°の角度をなす方位に結晶軸を配
置した1波長板47てよって、それぞれ円偏光となる。
射光の8偏光成分とP偏光成分は偏光ビームスプリッタ
44によって分けられ、S偏光成分は光束54となり、
P偏光成分はビームスプリッタ43によって反射され、
光束55となる。光束54.55は、P偏光方向及びS
偏光方向に対して45°の角度をなす方位に結晶軸を配
置した1波長板47てよって、それぞれ円偏光となる。
光束54けミラー面47を経てビームスプリッタ49上
で光束55と干渉する。
で光束55と干渉する。
干渉光け2方向に進み、それぞれ集光レンズ50゜51
で集光された後光検出器52.53で検出される。
で集光された後光検出器52.53で検出される。
本実施例においては、製作時忙44の面と49の面を同
一面上だし、この面と43の面および48面とのそれぞ
れの距離を同一にし、偏光ビームスプリッタ44で分け
られた光束が再びビームスプリッタ49で干渉させられ
るまでの2光束の光路差を零にしている。このようにす
れば、光学系の振動による悪影響や、光源として用いる
レーザの周波数のゆらぎによる悪影響を除くことができ
、安定した干渉効果が得られる。
一面上だし、この面と43の面および48面とのそれぞ
れの距離を同一にし、偏光ビームスプリッタ44で分け
られた光束が再びビームスプリッタ49で干渉させられ
るまでの2光束の光路差を零にしている。このようにす
れば、光学系の振動による悪影響や、光源として用いる
レーザの周波数のゆらぎによる悪影響を除くことができ
、安定した干渉効果が得られる。
本発明は以上の実施例に限らず、種々の応用が可能であ
る。例えば、前述の実施例は所謂ホそダイン法によるも
のであるが、光磁気ディスクに2つの異なる周波数のレ
ーザ光を入射し。
る。例えば、前述の実施例は所謂ホそダイン法によるも
のであるが、光磁気ディスクに2つの異なる周波数のレ
ーザ光を入射し。
光磁気ディスクからの反射光を2光束に分けた後、それ
ぞれの光路で互いに異なる周波数の光のみを選別し、こ
れらを、干渉させることにより、所謂ヘテロダイン法に
よる再生も行なうことが出来る。また、実施例では記録
媒体の反射光による信号読取シを示したが、本発明はフ
ァラデー効果を利用した記録媒体の透過光による光信号
読取りにも適用が可能である。
ぞれの光路で互いに異なる周波数の光のみを選別し、こ
れらを、干渉させることにより、所謂ヘテロダイン法に
よる再生も行なうことが出来る。また、実施例では記録
媒体の反射光による信号読取シを示したが、本発明はフ
ァラデー効果を利用した記録媒体の透過光による光信号
読取りにも適用が可能である。
以上説明したように、本発明は情報に応じて偏光方向が
変化した光を、2方向の偏向成分の光に分割し、これら
の光を干渉させて検出することにより、情報読み取りの
高い87N比を保ちつつ、記録媒体と検出系との距離の
変化による悪影響を除去する効果が得られるものである
。
変化した光を、2方向の偏向成分の光に分割し、これら
の光を干渉させて検出することにより、情報読み取りの
高い87N比を保ちつつ、記録媒体と検出系との距離の
変化による悪影響を除去する効果が得られるものである
。
第1図は本発明を用いた検出系の構成例を示す概略図、
@2図は本発明の再生原理を説明する図、第3図は本発
明を用いた検出系の他の構成例を示す部分概略図、第4
図は第3図の各光学素子における偏光状態を示す図、第
5図は本発明を用いた検出系の更に他の構成例を示す概
略図、第6図は従来の検出系の構成を示す概略図、!7
図は従来の方法による再生原理を説明する図、第8図は
従来の他の検出系の構成を示す概略図である。 21.30・・・ビームスプリッタ、22−偏光ビーム
スプリッタ、23・・・対物し7 X’、24・・・光
磁気ディスク、27・・・ミラー、28・・・1波長板
、29・・・位相板%31.32・・・集光レンズ、3
3.34・・・光検出器、61・・・光源、62・・・
コリメータレンズ%63・・・偏光子。 (A)
@2図は本発明の再生原理を説明する図、第3図は本発
明を用いた検出系の他の構成例を示す部分概略図、第4
図は第3図の各光学素子における偏光状態を示す図、第
5図は本発明を用いた検出系の更に他の構成例を示す概
略図、第6図は従来の検出系の構成を示す概略図、!7
図は従来の方法による再生原理を説明する図、第8図は
従来の他の検出系の構成を示す概略図である。 21.30・・・ビームスプリッタ、22−偏光ビーム
スプリッタ、23・・・対物し7 X’、24・・・光
磁気ディスク、27・・・ミラー、28・・・1波長板
、29・・・位相板%31.32・・・集光レンズ、3
3.34・・・光検出器、61・・・光源、62・・・
コリメータレンズ%63・・・偏光子。 (A)
Claims (1)
- (1)所定の方向に偏光した光束を磁気的に情報が記録
された記録媒体に照射し、前記情報に応じて偏光方向の
変化した光束を前記所定方向の偏光成分から成る第1の
光束と所定方向と垂直な方向の偏光成分から成る第2の
光束とに分割した後、これら第1の光束及び第2の光束
を干渉させて前記情報を検出する磁気光学的情報再生方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3905285A JPH0610887B2 (ja) | 1985-02-28 | 1985-02-28 | 磁気光学的情報再生方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3905285A JPH0610887B2 (ja) | 1985-02-28 | 1985-02-28 | 磁気光学的情報再生方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61198458A true JPS61198458A (ja) | 1986-09-02 |
JPH0610887B2 JPH0610887B2 (ja) | 1994-02-09 |
Family
ID=12542355
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3905285A Expired - Lifetime JPH0610887B2 (ja) | 1985-02-28 | 1985-02-28 | 磁気光学的情報再生方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0610887B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01143044A (ja) * | 1987-11-16 | 1989-06-05 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 情報再生装置 |
US5610897A (en) * | 1992-08-31 | 1997-03-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical information reproducing apparatus |
-
1985
- 1985-02-28 JP JP3905285A patent/JPH0610887B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01143044A (ja) * | 1987-11-16 | 1989-06-05 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 情報再生装置 |
US5610897A (en) * | 1992-08-31 | 1997-03-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical information reproducing apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0610887B2 (ja) | 1994-02-09 |
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