JPS62208135A - 計算機システムの試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、計算機システムの試験方法に関し、特に計
算機システムにおける被試験装置を自動的に認識し得る
計算機システムの試験方法に関するものである。

［従来の技術］ 第２図はシステム試験における計算機のシステム構成図
であり、図において、（１）は中央処理装置及び主記憶
装置などを含む本体装置、（２）は試験プログラムの実
行等を行なう中央処理装置、（３）はプログラムやデー
タを格納しておく主記憶装置、（４）は主記憶装置（３
）に既に格納されているテストプログラム、（５）は計
算機システム（１）と人間とのコミュニケーションとし
て使われるシステム制御卓、（８ａ）〜（６ｎ）は計算
機システム（１）に接続され試験される被試験装置群で
ある。

次に動作について説明する０本体（１）はその主記憶装
置（３）に格納されているテストプログラム（４）を中
央処理装置（２）で逐次実行することでその動作が規定
されているわけだが、ここではその動作を本体（１）の
動作として説明を行なう。またシステム試験を行なうテ
ストプログラムが外部記憶装置からすでに主記憶装置（
３）内に格納されているものとして説明を行なう。

テストプログラム（４）によってシステム試験を行なう
のに被試験装置の数、装置の種類、識別、装置アドレス
などプログラム実行に必要な情報がテストプログラムに
前もって知らされていなければならない。

第４図は主記憶装置（３）内の配置図を示したもので、
テストプログラムのメイン実行部である処理プログラム
、テスト情報テーブル（ｌＯ）、ワーキング領域またバ
ッファ領域にわけられる。この内でテスト情報テーブル
（ｌＯ）には第４図に示すように被テスト装置の数、装
置のモデル番−）、装置の識別標識、装置のアドレスま
たオプション情報が含まれ、それぞれの被試験装置毎に
持っていなければならない。またこの情報はテストプロ
グラムを実行する前、操作（１によって指定されテスト
情報テーブル（１０）に作成されていなければならない
。

第３図はテスト情報テーブルが作成される過程を示した
フローチャートである。

以下第３図のフローチャートについて説明する。テスト
プログラムが主記憶装置（３）上にロードされると、こ
のテストプログラムに制御が渡り先ず（ステップ１１１
）でメツセージをシステム制御卓（５）へ出力し、操作
員に対して（１２）に示す先頭のメツセージでメツセー
ジ入力を要求する。

次に（ステップ１ｌａ）テはＰＯＩＮＴＥＲと口ＥＶ（
：ＮＴをクリアする。このＰＯＩＮＴＥＲは各被試験装
置に対するテスト情報の位置を示すものである。　ＤＥ
ＶＣＮＴは被試験装置の数を示す。

次に（ステップｌ１ｍ）に移り、操作員はシステム制御
卓（５）から試験しようとする装置のモデル番号（ＭＯ
ＤＥＬ　Ｎｏ）、識別標識（ＤＥＶ−Ｉｎ）、装置アト
Ｌ／ス（ＤＥＶ　ＡＤＤＲＥＳＳ）を順次入力する０次
に（ステップ１　ｉｎ）へ移り、今人力された文字が終
了コート（ＥＮＤ）かどうか判定しもしそうならばメツ
セージ入力は終了し、テストプログラムはこれら入力さ
れたテスト情報に従って試験を開始する。（ステップ１
ｌｎ）でまだ終了コード（ＥＮＤ）が人力されなければ
その入力された各テスト情報が正しいかどうかチェック
し、間違えであるならば再び（ステップｌ　１ｍ）へ移
り再度メツセージ入力となる。

（ステップ１１Ｑ）では入力されたこれらの情報をＰＯ
ＩＮＴＥＲに従ってテスト情報テーブル（１Ｇ）に格納
する。テスト情報テーブル（ｌＯ）においてはＭＯＤＥ
Ｌは装置のモデル番号を示し、ＭＯＤＥＬＩＤは装置の
識別標識を示し、ＤＥＶＡＤＲは装置のアドレスを示す
。

１つの被試験装置に関する各テスト情報をテーブル（１
０）へ格納後（ステップ１１１）へ進み次の各テスト情
報収集の準ゼｎを行なうため、変数であるＰＯＩＮＴＥ
Ｒと口ＥＶＣＮ丁に“１″を加算しくステップ１ｉｅ）
へ進み以下同様に上記各ステップを実行し被試験装置の
テスト情報を操作員の入力によって得る。　（１２）は
先頭メツセージに応答して、被試験装置毎の各テスト情
報を人力したときの操作例を示したものである。このよ
うにＩ　ＥＮＩＩマークによってメツセージの人力が完
ｒするとテストプログラムは被試験装置のテストを開始
する。

［発明が解決しようとする問題点］ 従来のテストプログラムによるシステム試験力υ：は被
試験装置のモデル番号、標識、装置アドレスなどの装置
認識情報でなるテスト情報を人間によってその都度シス
テム制御卓を介入して入力しなければならないので操作
ミスなどが入りやすい欠点があり、テスト情報入力後も
、人為的に内容チェックをするなど試験に入るまでに時
間を費やすなどの問題点があった。

この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、被試験装置のテスト情報を人為的に指定する
ことなく、テストプログラムによってこれらの情報を認
識しテスト情報テーブルを作成することを１゛１的とす
る。

［問題点を解決するための手段］ この発明に係る計算システムの試験方法は、予め計算機
システム中の記憶部へ中央処理装置が認識し得る全装置
の装置認識情報を記憶させ、システム試験実行時に上記
記憶部へメモリアクセス信号を送出すると共に、該アク
セス信号にノ、（づき装置に対してデータ入出力命令を
起動し、入出力命令を起動せしめたアクセス信５Ｊによ
って記憶部から構成される装置認識情報を記憶部の他の
領域へ格納しテスト情報テーブルを作成するものである
。

［作用］ この発明による計算機システムの試験方法によれば、記
憶装置より各装置認識情報を読み出す為のメモリアクセ
ス信号に基づいて、計算システム中で稼動待機状態にあ
る装置を認識し、該認識時に記憶装置より読み出された
装置のモデル番−）。

識別標識から成る装置認識情報を記憶部へ格納しシステ
ム試験に要するテスト情報テーブルを自動的に作成する
。

［実施例］ 以下、この発明の一実施例を図について説明する。シス
テム構成図は従来技術と同じで第２図となる。第２図の
各装置の説明については従来技術と同一・なので省略す
る。

また、主記憶装置１（３）の配置図（第４図）について
も従来技術と同一なので省略する。従来技術とソ４なる
ところは主記憶装置（３）に存在するテストプログラム
の処理プログラム部であり、この動作については第１図
に示しである。第１図の各ステップの説明については以
下に述べる。

次に動作について説明する。本体（１）はその主記憶装
置（３）に格納されているテストプログラム（４）を中
央処理装置（２）で逐次実行することでその動作が規定
されているわけだが、ここではその動作を本体（１）の
動作として説明を行なう、またシステム試験を行なうテ
ストプログラムが外部記憶装置からすでに主記憶装置（
３）内に格納されているものとして説明を行なう。

テストプログラム（４）によってシステム試験を行なう
のに被試験装置の数、装置の種類、識別。

装置アドレスなどプログラム実行に必要な情報がテスト
プログラムに前もって知らされていなければならない。

第４図は主記憶装置（３）内の配置図を示したもので、
テストプログラムのメイン実行部である処理プログラム
、テスト情報テーブル（１ｏ）、ワーキング領域またバ
ッファ領域にわけられる。この内でテスト情報テーブル
（ｌＯ）には第４図に示すように被テスト装置の数、装
置のモデル番号、装置の識別標識、装置のアドレスまた
オプション情報が含まれ、それぞれの被試験装置毎に持
っていなければならない、またこの情報はテストプログ
ラムを実行する前、操作員によって指定されテスト情報
テーブル（ｌＯ）に作成されていなければならない。

このテスト情報テーブルを作成するに当って。

先ず、予め計算機システム中の記憶部へ中央処理装置が
認識し得る全装置の装置認識情報を記憶させ、システム
試験実行時に上記記憶部へメモリアクセス信号を送出す
ると共に、該アクセス信号（以降センスコマンドと称す
る）に基づき装置（［］ＥＶ）に対してデータ入出力命
令を起動し、入出力命令を起動せしめたアクセス信号に
よって記憶部から構成される装置認識情報を記憶部の他
の領域へ格納しテスト情報テーブルを作成するものであ
る。

第１図はこのテーブルが自動作成される過程を示したフ
ローチャートである。

以下第１図のフローチャートについて説明する。テスト
プログラムが主記憶上にロードされると、このテストプ
ログラムに制御が渡り実行される。まず（ステップ１ｌ
ａ）ではＰＯＩＮＴＥＲとＤＥＶＣＮＴをクリアする。

このＰＯＩＮＴＥＲは各被試験装置に対するテスト情報
の位置を示すものである。ＤＥＶＣＮＴは被試験装置の
数を示す０次に（ステップ１１ｂ）に移りＤＥＶを“０
”にセットする。これによってシステムが認識できる最
初の装置アドレスをセットする。（ステップ１１ｃ）で
はＤＥＶに対して５ＥＮＳＥコマンドを用いて入出力命
令を起動する。（テップ１ｉｄ）ではこの入出力命令実
行の結果、ＤＥＶにセットされた被試験装置の装置アド
レスが認識されたかどうか調べられる。もし認識されな
ければ（ステップｌ１ｊ）に進みこの装置は被試験装置
の対象からはずされる。認識されたなら　（ステップ１
ｉｅ）へ進む。　（ステップ１ｉｅ）ではこの入出力命
令の結果、入出力割込みが発生したからどうが調べられ
る。もし発生しなければ（ステップ１１ｊ）へ進みの装
置は被試験装置の対象からはずされる。発生したなら（
ステップ１ｌｆ）へ進む、（ステップ１ｌｆ）では入出
力命令実行の結果、異常が認められたかどうか調べられ
る。もし異常が認められると（ステップ１ｌｊ）へ進み
、この装置は被試験対象からはずされる。異常がなかっ
たなら（ステップ１１ｇ）へ進む。（ステップ１１ｇ）
では５ＥＮＳＥコマンドによって被試験装置の入出力命
令の起動が判定された際に記憶部から構成される装置の
モデル番号（ＭＯＤＥＬ）　、装置の識別標識（ＭＯＤ
ＥＬ　１０）をＰＯＩＮＴＥＲに従ってテスト情報テー
ブル（ｌＯ）に格納する。

（ステップ１１ｈ）ではｐＥＶにセットされている装；
４アドレスをＰＯＩＮＴＥＲに従って装置アドレス（Ｄ
ＥＶＡＤＲ）にセットする０次に（ステップ１１１）へ
進み次のノ１（準を行なうためＰＯＩＮＴＥＲとＤＥＶ
ＣＮ↑を”　ｔ“増しくステップｌ１ｊ）へ進む。（ス
テップ１１」）では次の装置アドレスを作るためＤＥＶ
を”　ｌ　”　１曽す。（ステップＩ　Ｉｇ）と（ステ
ップ１１ｈ）で被試験対象装置の情報がセットされる。

（ステップ１ｌｋ）ではこのシステムで認識できる最後
の装置アドレスまで行ったかどうか調べられ、もし最後
のアドレスに到達していないなら再び（ステップＣ）へ
進み以下同様に実行される。最後のアドレスまで実行し
たなら被試験対象の構成情報のセットが終了する。

なお、Ｌ記の実施例は計算機のうちで比較的規模の大き
いシステムについて説明したが、ミニコンさらにそれ以
下の計算機システムであってもよく上記実施例と同様か
あるいはそれ以上の効果を発揮することができる。

［発明の効果］ 以」二のように、この発明によれば従来人間が被試験装
置を１つ１つ指定していたが、自動的に被試験装置を指
定することにより操作時間の短縮及び操作ミスを防ぐこ
とができるなどの効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例による計算機システムの試
験方法におけるテスト情報テーブルの作成方法を示すフ
ローチャート、第２図は計算機システムの概略構成図第
３図は従来のテスト情報テーブルの作成方法を示すフロ
ーチャート、第４図は主記憶装置のメモリマツプを示す
図である。 図において、 （１）は本体装置、　　（２）は中央処理装置、（３）
は主記憶’Ａ　ｍ、（４）はテストプログラム、（５）
システム制御卓。 （６ａ）〜（６ｎ）は被装置。 （１０）はテスト情報テーブル、 （ｌｌａ）〜（ＩＩＱ）は制御手順の各ステップ、（１
２）は従来の操作例である。 代　　理　　人　　　大　　岩　　増　　雄第１図 第２図 ３；主書ｔ）、搗象１ ６ａ〜６ｎ：幇１へ青蛸采１ 第３図 第４図 手続補正書（自発） 特許庁長官殿　　　　　　　　　　　　０１、事件の表
示　　　特願昭６１−０５１９０２号２、発明の名称 計算機システムの試験方法 ３、補正をする者 明細占の図面の簡単な説明の欄。 ”°へ ′ｉ ６、補正の内容 明細書第１３頁第１３行の「被装置」という記載をへ試
験装首」と補正する。 以　　土

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 計算機システムの主記憶装置に記憶されているテストプ
   ログラムを中央処理装置により実行することで計算機シ
   ステムに付随する各装置の試験を行なう計算機システム
   の試験方法において、計算機システムによって認識し得
   る全装置に関するモデル番号、識別標識等の装置認識情
   報を上記主記憶装置へ予め記憶させ、上記テストプログ
   ラムによる計算機システムの試験実行時に、中央処理装
   置より逐次更新されながら出力されるメモリアクセス信
   号を主記憶装置へ出力すると共に、上記メモリアクセス
   信号に基づいて被試験装置にデータ入出力命令を起動し
   、入出力命令を起動せしめたメモリアクセス信号によっ
   てのみ主記憶装置より読み出された装置認識情報を記憶
   装置へ格納して被試験装置毎のテスト情報テーブルを作
   成し、被試験装置を自動認識して指定することを特徴と
   する計算機システムの試験方法。