JPS62208135A - Testing method for computer system - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To shorten an operation time and to prevent the generation of misoperation by storing device recognizing information read out from a storage device in a storage part at the time of recognition of a certain device kept at driving waiting state and automatically forming a test information table. CONSTITUTION:A main storage device 3 of a computer system body 1 is divided into a processing program to be a main execution part of a test program, the test information table, a working area, and a buffer area. The number of devices 6a-6n to be tested, the model numbers of the devices, the identification marks of the devices, the addresses of the devices, and option information are formed in the test information table in respective devices 6. The device recognizing information of all the devices to be recognized by a CPU 2 is stored in the device 3 of the body 1. At the time of execution of a system test, a memory access signal is sent, a data I/O instruction to/from the devices is started and the device recognizing information read out from the memory is stored in another area of the memory to form the test information table.

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、計算機システムの試験方法に関し、特に計
算機システムにおける被試験装置を自動的に認識し得る
計算機システムの試験方法に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a method for testing a computer system, and more particularly to a method for testing a computer system that can automatically recognize a device under test in the computer system.

［従来の技術］ 第２図はシステム試験における計算機のシステム構成図
であり、図において、（１）は中央処理装置及び主記憶
装置などを含む本体装置、（２）は試験プログラムの実
行等を行なう中央処理装置、（３）はプログラムやデー
タを格納しておく主記憶装置、（４）は主記憶装置（３
）に既に格納されているテストプログラム、（５）は計
算機システム（１）と人間とのコミュニケーションとし
て使われるシステム制御卓、（８ａ）〜（６ｎ）は計算
機システム（１）に接続され試験される被試験装置群で
ある。[Prior Art] Figure 2 is a system configuration diagram of a computer used in a system test. (3) is the main memory that stores programs and data; (4) is the main memory (3) that stores the programs and data;
), (5) is a system control console used for communication between computer system (1) and humans, and (8a) to (6n) are connected to computer system (1) for testing. This is a group of devices under test.

次に動作について説明する０本体（１）はその主記憶装
置（３）に格納されているテストプログラム（４）を中
央処理装置（２）で逐次実行することでその動作が規定
されているわけだが、ここではその動作を本体（１）の
動作として説明を行なう。またシステム試験を行なうテ
ストプログラムが外部記憶装置からすでに主記憶装置（
３）内に格納されているものとして説明を行なう。The operation of the 0 body (1), which will be explained next, is determined by sequentially executing the test program (4) stored in its main memory (3) on the central processing unit (2). However, here, the operation will be explained as the operation of the main body (1). Also, the test program for system testing has already been transferred from the external storage device to the main storage (
3) The explanation will be given assuming that it is stored in .

テストプログラム（４）によってシステム試験を行なう
のに被試験装置の数、装置の種類、識別、装置アドレス
などプログラム実行に必要な情報がテストプログラムに
前もって知らされていなければならない。In order to perform a system test using the test program (4), the test program must be informed in advance of the information necessary for program execution, such as the number of devices under test, types of devices, identification, and device addresses.

第４図は主記憶装置（３）内の配置図を示したもので、
テストプログラムのメイン実行部である処理プログラム
、テスト情報テーブル（ｌＯ）、ワーキング領域またバ
ッファ領域にわけられる。この内でテスト情報テーブル
（ｌＯ）には第４図に示すように被テスト装置の数、装
置のモデル番−）、装置の識別標識、装置のアドレスま
たオプション情報が含まれ、それぞれの被試験装置毎に
持っていなければならない。またこの情報はテストプロ
グラムを実行する前、操作（１によって指定されテスト
情報テーブル（１０）に作成されていなければならない
。Figure 4 shows the layout inside the main storage device (3).
It is divided into a processing program which is the main execution part of the test program, a test information table (IO), a working area and a buffer area. As shown in Figure 4, the test information table (lO) includes the number of devices under test, device model number, device identification mark, device address, and option information, and includes information on each device under test. Each device must have one. Also, this information must be specified by operation (1) and created in the test information table (10) before executing the test program.

第３図はテスト情報テーブルが作成される過程を示した
フローチャートである。FIG. 3 is a flowchart showing the process of creating a test information table.

以下第３図のフローチャートについて説明する。テスト
プログラムが主記憶装置（３）上にロードされると、こ
のテストプログラムに制御が渡り先ず（ステップ１１１
）でメツセージをシステム制御卓（５）へ出力し、操作
員に対して（１２）に示す先頭のメツセージでメツセー
ジ入力を要求する。The flowchart shown in FIG. 3 will be explained below. When the test program is loaded onto the main memory (3), control is passed to this test program (step 111).
) outputs the message to the system control console (5) and requests the operator to input the message using the first message shown in (12).

次に（ステップ１ｌａ）テはＰＯＩＮＴＥＲと口ＥＶ（
：ＮＴをクリアする。このＰＯＩＮＴＥＲは各被試験装
置に対するテスト情報の位置を示すものである。　ＤＥ
ＶＣＮＴは被試験装置の数を示す。Next (step 1la) Te is POINTER and mouth EV (
: Clear NT. This POINTER indicates the location of test information for each device under test. D.E.
VCNT indicates the number of devices under test.

次に（ステップｌ１ｍ）に移り、操作員はシステム制御
卓（５）から試験しようとする装置のモデル番号（ＭＯ
ＤＥＬ　Ｎｏ）、識別標識（ＤＥＶ−Ｉｎ）、装置アト
Ｌ／ス（ＤＥＶ　ＡＤＤＲＥＳＳ）を順次入力する０次
に（ステップ１　ｉｎ）へ移り、今人力された文字が終
了コート（ＥＮＤ）かどうか判定しもしそうならばメツ
セージ入力は終了し、テストプログラムはこれら入力さ
れたテスト情報に従って試験を開始する。（ステップ１
ｌｎ）でまだ終了コード（ＥＮＤ）が人力されなければ
その入力された各テスト情報が正しいかどうかチェック
し、間違えであるならば再び（ステップｌ　１ｍ）へ移
り再度メツセージ入力となる。Next (step l1m), the operator enters the model number (MO) of the device to be tested from the system control console (5).
Enter DEL No.), identification mark (DEV-In), and device address L/S (DEV ADDRESS) in sequence. Move to the next step (step 1 in) and determine whether the character entered manually is the end code (END). If so, the message input ends and the test program starts testing according to these input test information. (Step 1
If the end code (END) has not yet been entered manually in step ln), each input test information is checked to see if it is correct, and if it is incorrect, the process returns to step l1m and the message is input again.

（ステップ１１Ｑ）では入力されたこれらの情報をＰＯ
ＩＮＴＥＲに従ってテスト情報テーブル（１Ｇ）に格納
する。テスト情報テーブル（ｌＯ）においてはＭＯＤＥ
Ｌは装置のモデル番号を示し、ＭＯＤＥＬＩＤは装置の
識別標識を示し、ＤＥＶＡＤＲは装置のアドレスを示す
。(Step 11Q), the input information is PO
Store in the test information table (1G) according to INTER. In the test information table (lO), MODE
L indicates the model number of the device, MODELID indicates the identification indicator of the device, and DEVADR indicates the address of the device.

１つの被試験装置に関する各テスト情報をテーブル（１
０）へ格納後（ステップ１１１）へ進み次の各テスト情
報収集の準ゼｎを行なうため、変数であるＰＯＩＮＴＥ
Ｒと口ＥＶＣＮ丁に“１″を加算しくステップ１ｉｅ）
へ進み以下同様に上記各ステップを実行し被試験装置の
テスト情報を操作員の入力によって得る。　（１２）は
先頭メツセージに応答して、被試験装置毎の各テスト情
報を人力したときの操作例を示したものである。このよ
うにＩ　ＥＮＩＩマークによってメツセージの人力が完
ｒするとテストプログラムは被試験装置のテストを開始
する。Each test information regarding one device under test is stored in a table (1
0) and then proceed to step 111 to perform the quasi-zen of collecting the next test information.
Add "1" to R and 口EVCN (Step 1ie)
The process proceeds to Step 3, and the steps described above are executed in the same manner, and test information of the device under test is obtained through input by the operator. (12) shows an example of operation when each test information for each device under test is input manually in response to the first message. Thus, when the message is completed by the IENII mark, the test program begins testing the device under test.

［発明が解決しようとする問題点］ 従来のテストプログラムによるシステム試験力υ：は被
試験装置のモデル番号、標識、装置アドレスなどの装置
認識情報でなるテスト情報を人間によってその都度シス
テム制御卓を介入して入力しなければならないので操作
ミスなどが入りやすい欠点があり、テスト情報入力後も
、人為的に内容チェックをするなど試験に入るまでに時
間を費やすなどの問題点があった。[Problems to be Solved by the Invention] System test ability υ by conventional test programs is that test information consisting of device recognition information such as the model number, label, and device address of the device under test is input to the system control console each time by a human. This method has the disadvantage that it is easy to make operational errors because it requires intervention, and even after inputting the test information, it takes time to manually check the content and take the test.

この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、被試験装置のテスト情報を人為的に指定する
ことなく、テストプログラムによってこれらの情報を認
識しテスト情報テーブルを作成することを１゛１的とす
る。This invention was made in order to solve the above-mentioned problems, and it is possible to recognize the test information of the device under test and create a test information table by using a test program without artificially specifying the test information of the device under test. Let be 1゛1 target.

［問題点を解決するための手段］ この発明に係る計算システムの試験方法は、予め計算機
システム中の記憶部へ中央処理装置が認識し得る全装置
の装置認識情報を記憶させ、システム試験実行時に上記
記憶部へメモリアクセス信号を送出すると共に、該アク
セス信号にノ、（づき装置に対してデータ入出力命令を
起動し、入出力命令を起動せしめたアクセス信５Ｊによ
って記憶部から構成される装置認識情報を記憶部の他の
領域へ格納しテスト情報テーブルを作成するものである
。[Means for Solving the Problems] A testing method for a computing system according to the present invention stores device recognition information of all devices that can be recognized by the central processing unit in a storage unit in the computer system in advance, and when executing a system test. A device constituted by a storage section that sends a memory access signal to the storage section, and also activates a data input/output command to the device in response to the access signal, and receives an access signal 5J that activates the input/output command. The recognition information is stored in another area of the storage section and a test information table is created.

［作用］ この発明による計算機システムの試験方法によれば、記
憶装置より各装置認識情報を読み出す為のメモリアクセ
ス信号に基づいて、計算システム中で稼動待機状態にあ
る装置を認識し、該認識時に記憶装置より読み出された
装置のモデル番−）。[Operation] According to the test method for a computer system according to the present invention, a device in a standby state in the computer system is recognized based on a memory access signal for reading each device recognition information from a storage device, and at the time of the recognition, Model number of the device read from the storage device.

識別標識から成る装置認識情報を記憶部へ格納しシステ
ム試験に要するテスト情報テーブルを自動的に作成する
。Device recognition information consisting of identification marks is stored in the storage unit, and a test information table required for system testing is automatically created.

［実施例］ 以下、この発明の一実施例を図について説明する。シス
テム構成図は従来技術と同じで第２図となる。第２図の
各装置の説明については従来技術と同一・なので省略す
る。[Example] Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to the drawings. The system configuration diagram is the same as the conventional technology and is shown in FIG. The description of each device in FIG. 2 is the same as that of the prior art, and will therefore be omitted.

また、主記憶装置１（３）の配置図（第４図）について
も従来技術と同一なので省略する。従来技術とソ４なる
ところは主記憶装置（３）に存在するテストプログラム
の処理プログラム部であり、この動作については第１図
に示しである。第１図の各ステップの説明については以
下に述べる。Furthermore, the layout diagram (FIG. 4) of the main storage device 1 (3) is also the same as that of the prior art, so a description thereof will be omitted. What is different from the prior art is the processing program section of the test program existing in the main storage device (3), and its operation is shown in FIG. A description of each step in FIG. 1 will be provided below.

次に動作について説明する。本体（１）はその主記憶装
置（３）に格納されているテストプログラム（４）を中
央処理装置（２）で逐次実行することでその動作が規定
されているわけだが、ここではその動作を本体（１）の
動作として説明を行なう、またシステム試験を行なうテ
ストプログラムが外部記憶装置からすでに主記憶装置（
３）内に格納されているものとして説明を行なう。Next, the operation will be explained. The operation of the main body (1) is determined by sequentially executing the test program (4) stored in its main memory (3) using the central processing unit (2). A test program that explains the operation of the main unit (1) and performs a system test has already been transferred from the external storage device to the main storage (
3) The explanation will be given assuming that it is stored in .

テストプログラム（４）によってシステム試験を行なう
のに被試験装置の数、装置の種類、識別。The number, type, and identification of devices to be tested when performing a system test using the test program (4).

装置アドレスなどプログラム実行に必要な情報がテスト
プログラムに前もって知らされていなければならない。Information necessary for program execution, such as device addresses, must be known to the test program in advance.

第４図は主記憶装置（３）内の配置図を示したもので、
テストプログラムのメイン実行部である処理プログラム
、テスト情報テーブル（１ｏ）、ワーキング領域またバ
ッファ領域にわけられる。この内でテスト情報テーブル
（ｌＯ）には第４図に示すように被テスト装置の数、装
置のモデル番号、装置の識別標識、装置のアドレスまた
オプション情報が含まれ、それぞれの被試験装置毎に持
っていなければならない、またこの情報はテストプログ
ラムを実行する前、操作員によって指定されテスト情報
テーブル（ｌＯ）に作成されていなければならない。Figure 4 shows the layout inside the main storage device (3).
It is divided into a processing program which is the main execution part of the test program, a test information table (1o), a working area and a buffer area. As shown in Figure 4, the test information table (lO) includes the number of devices under test, model number of the device, identification mark of the device, address of the device, and option information for each device under test. This information must be specified by the operator and created in the test information table (IO) before running the test program.

このテスト情報テーブルを作成するに当って。In creating this test information table.

先ず、予め計算機システム中の記憶部へ中央処理装置が
認識し得る全装置の装置認識情報を記憶させ、システム
試験実行時に上記記憶部へメモリアクセス信号を送出す
ると共に、該アクセス信号（以降センスコマンドと称す
る）に基づき装置（［］ＥＶ）に対してデータ入出力命
令を起動し、入出力命令を起動せしめたアクセス信号に
よって記憶部から構成される装置認識情報を記憶部の他
の領域へ格納しテスト情報テーブルを作成するものであ
る。First, device recognition information of all the devices that can be recognized by the central processing unit is stored in advance in a storage unit in a computer system, and when a system test is executed, a memory access signal is sent to the storage unit, and the access signal (hereinafter referred to as a sense command) is sent to the storage unit. Activate a data input/output command to the device ([]EV) based on the data input/output command (referred to as EV), and store the device recognition information configured by the storage unit in another area of the storage unit based on the access signal that activated the input/output command. and create a test information table.

第１図はこのテーブルが自動作成される過程を示したフ
ローチャートである。FIG. 1 is a flowchart showing the process of automatically creating this table.

以下第１図のフローチャートについて説明する。テスト
プログラムが主記憶上にロードされると、このテストプ
ログラムに制御が渡り実行される。まず（ステップ１ｌ
ａ）ではＰＯＩＮＴＥＲとＤＥＶＣＮＴをクリアする。The flowchart shown in FIG. 1 will be explained below. When the test program is loaded onto the main memory, control is passed to this test program and it is executed. First (step 1l
In a), POINTER and DEVCNT are cleared.

このＰＯＩＮＴＥＲは各被試験装置に対するテスト情報
の位置を示すものである。ＤＥＶＣＮＴは被試験装置の
数を示す０次に（ステップ１１ｂ）に移りＤＥＶを“０
”にセットする。これによってシステムが認識できる最
初の装置アドレスをセットする。（ステップ１１ｃ）で
はＤＥＶに対して５ＥＮＳＥコマンドを用いて入出力命
令を起動する。（テップ１ｉｄ）ではこの入出力命令実
行の結果、ＤＥＶにセットされた被試験装置の装置アド
レスが認識されたかどうか調べられる。もし認識されな
ければ（ステップｌ１ｊ）に進みこの装置は被試験装置
の対象からはずされる。認識されたなら　（ステップ１
ｉｅ）へ進む。　（ステップ１ｉｅ）ではこの入出力命
令の結果、入出力割込みが発生したからどうが調べられ
る。もし発生しなければ（ステップ１１ｊ）へ進みの装
置は被試験装置の対象からはずされる。発生したなら（
ステップ１ｌｆ）へ進む、（ステップ１ｌｆ）では入出
力命令実行の結果、異常が認められたかどうか調べられ
る。もし異常が認められると（ステップ１ｌｊ）へ進み
、この装置は被試験対象からはずされる。異常がなかっ
たなら（ステップ１１ｇ）へ進む。（ステップ１１ｇ）
では５ＥＮＳＥコマンドによって被試験装置の入出力命
令の起動が判定された際に記憶部から構成される装置の
モデル番号（ＭＯＤＥＬ）　、装置の識別標識（ＭＯＤ
ＥＬ　１０）をＰＯＩＮＴＥＲに従ってテスト情報テー
ブル（ｌＯ）に格納する。This POINTER indicates the location of test information for each device under test. DEVCNT indicates the number of devices under test. Move to the 0th order (step 11b) and set DEV to “0”.
". This sets the first device address that the system can recognize. (Step 11c) starts an input/output command using the 5ENSE command for the DEV. (Step 1id) As a result, it is checked whether the device address of the device under test set in DEV has been recognized. If not recognized, the process proceeds to (step l1j) and this device is removed from the list of devices under test. If recognized, then (Step 1
Proceed to ie). In step 1ie, it is checked whether an input/output interrupt has occurred as a result of this input/output instruction. If this does not occur, proceed to step 11j, and the device is removed from the list of devices under test. If it occurs (
The process proceeds to step 1lf), in which it is checked whether an abnormality is found as a result of the execution of the input/output command. If an abnormality is found, the process proceeds to step 1lj, and this device is removed from the test target. If there is no abnormality, proceed to step 11g. (Step 11g)
Then, when it is determined by the 5ENSE command that the input/output command of the device under test is started, the device model number (MODEL), which is composed of the storage section, and the device identification indicator (MOD) are displayed.
EL10) is stored in the test information table (lO) according to POINTER.

（ステップ１１ｈ）ではｐＥＶにセットされている装；
４アドレスをＰＯＩＮＴＥＲに従って装置アドレス（Ｄ
ＥＶＡＤＲ）にセットする０次に（ステップ１１１）へ
進み次のノ１（準を行なうためＰＯＩＮＴＥＲとＤＥＶ
ＣＮ↑を”　ｔ“増しくステップｌ１ｊ）へ進む。（ス
テップ１１」）では次の装置アドレスを作るためＤＥＶ
を”　ｌ　”　１曽す。（ステップＩ　Ｉｇ）と（ステ
ップ１１ｈ）で被試験対象装置の情報がセットされる。In (step 11h), the equipment set in pEV;
4 address to the device address (D
EVADR) to set 0 to the next step (step 111) and the next step (step 111) to set POINTER and DEV.
Increase CN↑ by "t" and proceed to step l1j). (Step 11) In order to create the next device address, DEV
``l'' 1 less. Information on the device under test is set in (Step I Ig) and (Step 11h).

（ステップ１ｌｋ）ではこのシステムで認識できる最後
の装置アドレスまで行ったかどうか調べられ、もし最後
のアドレスに到達していないなら再び（ステップＣ）へ
進み以下同様に実行される。最後のアドレスまで実行し
たなら被試験対象の構成情報のセットが終了する。In (step 1lk), it is checked whether or not the last device address recognized by this system has been reached. If the last address has not been reached, the process goes to (step C) again and the same steps are performed. When the execution reaches the last address, setting of configuration information for the object under test is completed.

なお、Ｌ記の実施例は計算機のうちで比較的規模の大き
いシステムについて説明したが、ミニコンさらにそれ以
下の計算機システムであってもよく上記実施例と同様か
あるいはそれ以上の効果を発揮することができる。Note that although the embodiment described in L has been described for a relatively large-scale computer system, it may be a minicomputer or even smaller computer system, and the same or better effects as in the above embodiment can be achieved. I can do it.

［発明の効果］ 以」二のように、この発明によれば従来人間が被試験装
置を１つ１つ指定していたが、自動的に被試験装置を指
定することにより操作時間の短縮及び操作ミスを防ぐこ
とができるなどの効果がある。[Effects of the Invention] As described in Section 2 below, according to the present invention, human beings had to specify each device under test one by one, but by automatically specifying the devices under test, the operation time can be shortened and This has the effect of preventing operational errors.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第１図はこの発明の一実施例による計算機システムの試
験方法におけるテスト情報テーブルの作成方法を示すフ
ローチャート、第２図は計算機システムの概略構成図第
３図は従来のテスト情報テーブルの作成方法を示すフロ
ーチャート、第４図は主記憶装置のメモリマツプを示す
図である。 図において、 （１）は本体装置、　　（２）は中央処理装置、（３）
は主記憶’Ａ　ｍ、（４）はテストプログラム、（５）
システム制御卓。 （６ａ）〜（６ｎ）は被装置。 （１０）はテスト情報テーブル、 （ｌｌａ）〜（ＩＩＱ）は制御手順の各ステップ、（１
２）は従来の操作例である。 代　　理　　人　　　大　　岩　　増　　雄第１図 第２図 ３；主書ｔ）、搗象１ ６ａ〜６ｎ：幇１へ青蛸采１ 第３図 第４図 手続補正書（自発） 特許庁長官殿　　　　　　　　　　　　０１、事件の表
示　　　特願昭６１−０５１９０２号２、発明の名称 計算機システムの試験方法 ３、補正をする者 明細占の図面の簡単な説明の欄。 ”°へ ′ｉ ６、補正の内容 明細書第１３頁第１３行の「被装置」という記載をへ試
験装首」と補正する。 以　　土FIG. 1 is a flowchart showing a test information table creation method in a computer system testing method according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic diagram of the computer system, and FIG. 3 is a flowchart showing a conventional test information table creation method. The flowchart shown in FIG. 4 is a diagram showing a memory map of the main storage device. In the figure, (1) is the main unit, (2) is the central processing unit, and (3) is the main unit.
is the main memory 'A m, (4) is the test program, (5)
System control console. (6a) to (6n) are devices. (10) is a test information table, (lla) to (IIQ) are each step of the control procedure, (1
2) is an example of conventional operation. Agent Masuo Oiwa Figure 1 Figure 2 Figure 3; Principal author t), Bushō 1 6a-6n: To 幇1 Aotako 1 Figure 3 Figure 4 Procedural amendment (self-motivated) Dear Commissioner of the Japan Patent Office 01. Indication of the case Japanese Patent Application No. 61-051902 2. Title of the invention: Testing method for computer systems 3. Brief description of the drawings in the list of persons making amendments. 6. The statement ``device to be tested'' on page 13, line 13 of the specification of the contents of the amendment is amended to read ``examination neck.'' From then on

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 計算機システムの主記憶装置に記憶されているテストプ
ログラムを中央処理装置により実行することで計算機シ
ステムに付随する各装置の試験を行なう計算機システム
の試験方法において、計算機システムによって認識し得
る全装置に関するモデル番号、識別標識等の装置認識情
報を上記主記憶装置へ予め記憶させ、上記テストプログ
ラムによる計算機システムの試験実行時に、中央処理装
置より逐次更新されながら出力されるメモリアクセス信
号を主記憶装置へ出力すると共に、上記メモリアクセス
信号に基づいて被試験装置にデータ入出力命令を起動し
、入出力命令を起動せしめたメモリアクセス信号によっ
てのみ主記憶装置より読み出された装置認識情報を記憶
装置へ格納して被試験装置毎のテスト情報テーブルを作
成し、被試験装置を自動認識して指定することを特徴と
する計算機システムの試験方法。In a computer system testing method that tests each device attached to a computer system by executing a test program stored in the computer system's main memory by a central processing unit, a model for all devices that can be recognized by the computer system. Device recognition information such as a number, identification mark, etc. is stored in the main memory in advance, and when the computer system is tested by the test program, a memory access signal that is sequentially updated and output from the central processing unit is output to the main memory. At the same time, a data input/output command is activated in the device under test based on the memory access signal, and device recognition information read from the main storage device only by the memory access signal that activated the input/output command is stored in the storage device. A method for testing a computer system, comprising: creating a test information table for each device under test; and automatically recognizing and specifying the device under test.