JPS6219856A - パタ−ン被形成基板の位置合わせ方法 - Google Patents

パタ−ン被形成基板の位置合わせ方法

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JPS6219856A
JPS6219856A JP60159444A JP15944485A JPS6219856A JP S6219856 A JPS6219856 A JP S6219856A JP 60159444 A JP60159444 A JP 60159444A JP 15944485 A JP15944485 A JP 15944485A JP S6219856 A JPS6219856 A JP S6219856A
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JP
Japan
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alignment
glaze
substrate
key
pattern
Prior art date
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Granted
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JP60159444A
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JPH0560584B2 (ja
Inventor
Takanari Nagahata
隆也 長畑
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Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS6219856A publication Critical patent/JPS6219856A/ja
Publication of JPH0560584B2 publication Critical patent/JPH0560584B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F9/00Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 この発明は、例えばサーマルプリントヘッド等のパター
ン被形成基板の位置合わせ方法に関する。
(ロ)従来の技術 サーマルプリントヘッドの製造過程において、グレーズ
層上に適性に電極パターンや発熱抵抗体パターンを形成
するのに、プリントヘッド基板をマスクに位置合わせす
る必要がある。この位置合わせは、従来、グレーズ層の
直交方向に対しては、マスクに設けたアライメントキー
とグレーズ層のピッチとで行い、グレーズ層の延長方向
に対しては、ピンアライメント装置に固設された複数本
のピンに基板の端辺を当接させて行っていた。しかしな
がら、基板寸法精度誤差のため、延長方向のアライメン
ト精度を向上させるには、一定の限界があった。
そこで、この問題を解決し、さらにアライメント精度を
向上させるために、この出願の出願人は、基板の対向す
る2辺の端部近傍に円形のアライメント用グレーズをグ
レーズ層と同時に形成し、この後、前記アライメント用
グレーズに対応して設けられた同心円のアライメントキ
ーを備えたマスクでもって前記基板との位置合わせを行
う方法を開発し、すでに出願した。
(ハ)発明が解決しようとする問題点 グレーズ層はガラス層であるため、基板に形成される円
形のアライメント用グレーズ層は、その形状や中心がわ
かりにくい。その上、上記先願に係るアライメントキー
15は、形状が第2図(a)に示すように、同心円に形
成されたものであるため、第2図(b)に示すように、
グレーズ層13のパターンがほぼアライメントキー15
の同心円と等しい場合、これを重ねると、第2図(C)
に示すように、グレーズ層13のパターンがアライメン
トキー15の同心円に隠れてしまい、非常に見にくく、
位置合わせに時間がかかるという問題があった。
この発明は、上記に鑑み、位置合わせが速く、正確にな
し得るパターン被形成基板の位置合わせ方法を提供する
ことを目的としている。
(ニ)問題点を解決するための手段及び作用この発明の
パターン被形成基板の位置合わせ方法は、パターン被形
成基板の対向する2辺の端部近傍に円形の位置合わせマ
ーク(アライメント用グレーズ層)を形成しておく一方
、マスクに前記位置合わせマークに対応するアライメン
トキーを設けておき、このアライメントキーに前記位置
合わせマークを合致させることにより位置合わせを行う
ものにおいて、前記アライメントキーの形状を、円の一
部を切除した切除部と部分内部とからなる部分同心円と
し、切除部から目視される前記位置合わせマークと部分
内部とにより位置合わせを行うようにしている。
(ホ)実施例 以下、実施例により、この発明をさらに詳細に説明する
第3図は、基板にグレーズ層とアライメント用のグレー
ズを形成した状態を示す説明図、第4図は、マスクに形
成されたアライメントキーを示す説明図である。
第3図において、セラミック等からなる基板1にスクリ
ーン印刷によって塗布・焼成されたグレーズN2が形成
され、このグレーズN2の形成と同時に、円形のアライ
メント用グレーズ3が形成されている。このアライメン
ト用グレーズ3は、グレーズN2の延長方向に相当する
対向した2辺の端部近傍に形成されている。
第4図において、ホトマスク4は超透明度なガラスより
成り、前記アライメント用グレーズ3の位置に対応して
、ホトマスク4の2辺の端部にアライメントキー5を形
成している。なお、図示していないが、ホトマスク4に
は基板1に所望のパターンを形成するためのマスクパタ
ーンを備えている。
この実施例では、アライメントキー5の形状に最も特徴
を有する。つまり、アライメントキー5は、第1図(a
lに示すように、同心円を456ずつ分解して、交互の
部分内部5aと切除部5bとから構成されている。
次に、上記基板1とホトマスク4の位置合わせ方法につ
いて説明する。
先ス、グレーズ層2及びアライメント用グレーズ3が形
成された基板1をビンアライメント装置にセットする。
次に、ホトマスク4を基板1に関連してセットする。
続いて、ビンアライメント装置により基板1を移動し、
アライメント用グレーズ3とアライメントキー5を照合
一致させて、位置合わせを行う。
この場合、アライメント用グレーズ3が円形であるため
に、基板1の対向する2辺にそれぞれ1個ずつ設けられ
るアライメント用グレーズ3によって、グレーズ層2の
延長方向及び直交方向の位置合わせがなされる。
また、アライメントキー5が部分内部5aと切除部5b
とから構成されているので、第1図(blに示すように
、円形のアライメント用グレーズ3の大きさがアライメ
ントキー5の大きさと略同じでも、第1図(C1に示す
ように、両者を重合わせた場合、切除部5bを通してア
ライメント用グレーズ3を目視することが出来、この目
視されるアライメント用グレーズ3とアライメントキー
5の部分内部5aとを合致させることにより、位置合わ
せを正確に行うことができる。
なお、上記実施例において、アライメントキ−の切除部
5bを45°きざみで設けているが、この切除部6bと
する角度及び部分同心内部5aとの比率は、適宜の値に
選定して使用すればよい。
また、上記実施例は、サーマルプリントヘッドを例に上
げて説明したが、この発明は、他のパターン被形成基板
にパターン形成する際の位置合わせにも広く適用できる
(へ)発明の効果 この発明によれば、アライメントキーの形状を円の一部
を切除した切除部と、部分内部とから成る部分同心円と
し、切除部から目視される円形の位置合わせマークと部
分内部とにより位置合わせを行うものであるから、アラ
イメントキーと位置合わせマークが完全に重なる場合で
も、切除部より位置合わせマークを目視して、正確に位
置合わせを行うことが出来、かつ位置合わせ時間を大幅
に短縮できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の位置合わせを説明するための図で
あり、第1図(a)はアライメントキーを、第1図(b
lはアライメント用グレーズのパターンを、第1図(C
)はアライメントキーとアライメント用グレーズを重合
わせた状態をそれぞれ示す図、第2図は、従来の位置合
わせを説明するための図であり、第2図fa)はアライ
メントキーを、第2図(telはアライメント用グレー
ズのパターンを、第2図1c)はアライメントキーとア
ライメント用グレーズを重合わせた状態を示す図、第3
図は、基板にグレーズ層とアライメント用のグレーズを
形成した状態を示す説明図、第4図は、マスクに形成さ
れたアライメントキーを示す説明図である。 工:基板、     2:グレーズ層、3:アライメン
ト用グレーズ、 4:ホトマスク、   5:アライメントキー、5a:
部分内部、5b:切除部。 特許出願人      ローム株式会社代理人    
弁理士 中 村 茂 信第1図 第2図 CC)            <b)<a) <a>

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)パターン被形成基板の対向する2辺の端部近傍に
    円形の位置合わせマークを形成しておく一方、マスクに
    前記位置合わせマークに対応するアライメントキーを設
    けておき、このアライメントキーに前記位置合わせマー
    クを合致させることにより位置合わせを行うパターン被
    形成基板の位置合わせ方法において、 前記アライメントキーの形状を、円の一部を切除した切
    除部と部分円部とからなる部分同心円とし、切除部から
    目視される前記位置合わせマークと部分内部とにより位
    置合わせを行うことを特徴とするパターン被形成基板の
    位置合わせ方法。
JP60159444A 1985-07-18 1985-07-18 パタ−ン被形成基板の位置合わせ方法 Granted JPS6219856A (ja)

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JPS6219856A true JPS6219856A (ja) 1987-01-28
JPH0560584B2 JPH0560584B2 (ja) 1993-09-02

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ID=15693885

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0246458A (ja) * 1988-08-08 1990-02-15 Nec Corp マスク目合せパターン
JPH0326230A (ja) * 1989-06-26 1991-02-04 Kanebo Ltd 皮膚特性チェック装置
JPWO2012133760A1 (ja) * 2011-03-30 2014-07-28 ボンドテック株式会社 電子部品実装方法、電子部品実装システムおよび基板
CN106004096A (zh) * 2016-05-13 2016-10-12 清华大学深圳研究生院 一种用于打印石英晶体传感器敏感层的喷墨打印托盘
CN109358475A (zh) * 2018-12-05 2019-02-19 全普光电科技(上海)有限公司 对准标记、掩膜版及其制备方法

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CN106004096A (zh) * 2016-05-13 2016-10-12 清华大学深圳研究生院 一种用于打印石英晶体传感器敏感层的喷墨打印托盘
CN109358475A (zh) * 2018-12-05 2019-02-19 全普光电科技(上海)有限公司 对准标记、掩膜版及其制备方法

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